JPH0355129A - 針状金属の電解研磨方法 - Google Patents

針状金属の電解研磨方法

Info

Publication number
JPH0355129A
JPH0355129A JP19083989A JP19083989A JPH0355129A JP H0355129 A JPH0355129 A JP H0355129A JP 19083989 A JP19083989 A JP 19083989A JP 19083989 A JP19083989 A JP 19083989A JP H0355129 A JPH0355129 A JP H0355129A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
needle
electrolytic polishing
metal
metal material
current
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP19083989A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaaki Takizawa
正明 滝沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP19083989A priority Critical patent/JPH0355129A/ja
Publication of JPH0355129A publication Critical patent/JPH0355129A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 以下の順序に従って本発明を説明する。
A、産業上の利用分野 B.発明の概要 C.従来技術[第6図] D.発明が解決しようとする問題点 [第7図、 E.問題点を解決するための手段 F.作用 G,実施例[第1図乃至第5図] H.発明の効果 第8図] (A.産業上の利用分野) 本発明は針状金属の電解研磨方法、特に針状金属材料を
電解液に浸してその針状金属材料の先端を尖鋭化させる
針状金属の電解研磨方法に関する。
(B.発明の概要) 本発明は、上記の針状金属の電解研磨方法において、 針状金属の先端の尖鋭度を高精度に再現性良く制御する
ため、 電圧を針状金属材料と電解液との間に印加し、流れる電
流が予め設定された所定値以下になったとき電解研磨を
終了させるものである。
(C.従来技術)[第6図] 金属微細ブローブは、接触式の計測器に不可欠であるば
かりでなく、走査型トンネル顕微鏡(STM)等非、接
触式の計測器にも必要であり、また、集束イオンビーム
装置のエミツターとしても用いられる。
ところで、金属微細プローブは、従来第6図に示すよう
な装置を用いての電解研磨により行なわれていた。
この装置は液槽aに電解液(エッチング液)bを所定の
高さに液面が位置するように入れ、更に該電解液b中に
負電極Cを入れ、そして、先端を尖鋭化すべき針状金属
材料dと上記負電極Cとの間に所定の電圧を加えるよう
にしてなるものである。
そして、針状金属材料dの先端を尖鋭化することは、針
状金属材料dの先端を電解液b中に浸漬することにより
行なう。即ち、針状金属材料dを電解液b中に浸漬する
と針状金属材料dの電解液b中に浸漬された部分は、針
状金属材料dと電解液bとの電気化学反応により電解研
磨(エッチング)され、エッチングが進行するにつれて
その針状金属材料のdの液面下の部分が破線で示すよう
に尖ってくる。
ところで、エッチングが進み過ぎると液面下の部分がな
くなってしまうので、エッチングを終了するタイミング
(終点)が適切でなければない。
従来においては、針状金属dを手動で上下して電解液b
につけたりそこから出したりして先端の状態を観察しな
がら作業者が適当と自己の勘により判断してエッチング
を終了させるという方法で針状金属材料先端の尖鋭化を
していた。
(D.発明が解決しようとする問題点)[第7図、第8
図] しかし、上述したような従来の電解研磨方法では針状金
属材料の先端形状の制御性、再現性に乏しいだけでなく
尖鋭度が悪かった。
というのは、針状金属材料dの先端の先鋭化は第7図に
示すように(a)〜(e)の順序で進み、従来において
は(e)の段階になってエッチングを終了させていたの
で、先端部は第8図に示すように曲率半径が大きかった
このように先端部の曲率半径が大きいと金属微細ブロー
ブの場合、金属微細プローブの被接触体fの表面との接
触箇所が第8図に示すように変化し、測定誤差が生じる
原因となるという問題があった。
そのため、パルス電圧を印加することとし、その際のパ
ルス波形をモニターしながら電解研磨を行なうことも考
えら,れた(特開昭64−36799号公報)。しかし
、波形観察により終点検出する場合、やはり作業員の勘
を必要とする等面倒であり、かならずしも再現性は良く
はなかった。
本発明はこのような問題点を解決すべく為されたもので
あり、針状金属の先端の尖鋭度を高精度に再現性良く制
御できるようにすることを目的とする。
(E、問題点を解決するための手段) 本発明針状金属の電解研磨方法は上記問題点を解決する
ため、電圧を針状金属材料と電解液との間に印加し、そ
れにより流れる電流が予め設定された所定値以下になっ
たとき電解研磨を終了させることを特徴とする。
(F.作用) 本発明針状金属の電解研磨方法によれば、エッチングの
進行に従って針状金属材料、電解液を流れる電流が減少
しその電流が針状電極先端の尖鋭度のバロメータとなる
ので、針状金属先端の希望する尖鋭度に応じて電解研磨
を終了するときの電流を設定しておき、流れる電流が設
定値以下になったとき電解研磨を終了させることとする
ことにより針状金属の尖鋭度を高精度で再現性良く制御
できる。
(G.実施例)[第1図乃至第5図] 以下、本発明針状金属の電解研磨方法を図示実施例に従
って詳細に説明する。
第1図は本発明針状金属の電解研磨方法の実施に用いる
電解研磨装置の一例を示す。
図面において、1は液槽、2は該液槽1内に入れられた
電解液(例えばNaOH).3は電解液2中に入れられ
た陰極板、4は先端を尖鋭化される針状金属材料(例え
ばタングステンW)、5は該針状金属材料4と上記陰極
板3との間に抵抗Rを介して印加する電圧を発生する電
源、6は電解液2と陰極板3との間の電圧及び針状金属
4を流れる電流を測定するモニター装置である。上記電
源5は本実施例においては所定の直流電圧(例えば3V
)を発生する。
第2図は第1図に示した電解研磨装置によりエッチング
をした場合の電流の変化を示すものである。電流はエッ
チング速度と略比例していると考えることができる。
電流は電源投入後■に示す程度までは激減するが、その
後、■に示す程度までは電流の低下は緩慢になり、■か
ら■までは再び激減する。そして、■に達したら電流は
ほとんど流れなくなる。
電流投入後■までの間電流が激減するのは被エッチング
物、本例では針状のタングステン4の表面に反応生成物
が生長しているからである。■から■までの間は反応生
成物が略飽和し、エッチングも進行している状態が続く
■から■の間では針状タングステン4の電解液2に浸漬
された部分の表面積が急激に減少するので電流ちそれに
応じて激減する。そして、■では針状タングステン4の
電解液2に浸漬された部分がほとんど電解液2に溶け込
んでしまっているので電流が流れなくなってしまうので
ある。
このように、モニター装置6により検出した電流は針状
金属材料4の先端の尖鋭度を反映するのである。そして
、その尖鋭度が高くなるのは電流が2mA (ミリアン
ペア)以下(特に■と■の間)においてである。従って
、電流が2mA以下(特に■と■の間)における適宜な
ある値まで低下したときにエッチングを終了することと
すれば、第3図に示すように金属微細プローブとして略
理想的な先端形状を有する針状金属4が得られる。4a
は針状金属4の柄部である。
この針状金属4は柄部4aの直径が数μm、長さが10
1.Lm以上、そして先端の曲率半径を非常に小さくす
ることができるため、走査型トンネル顕微鏡(STM)
等や集束イオンビーム装置に用いた場合、針状金属4に
印加する電圧が低くて済むし、測定精度等の向上を図る
ことができる。また、針状金属4を測定用金属微細プロ
ーブとして用いた場合における被測定面との接触位置の
変化が第3図に示すように少ないので測定精度を高くで
きる。
このように、電流をモニターしながらエッチングし、電
流が予め設定した値まで低下したときエッチングを停止
することとすれば、先端の尖鋭度の高い針状金属を得る
ことができる。
また、作業者の勘によってエッチングを終了するわけで
はなく電流の値によってエッチングの終了のタイミング
を決めるので、針状金属先端の尖鋭度の制御性が高くで
き、再現性を高くできる。
第4図は本発明針状金属の電解研磨方法の実施に用いる
電解研磨装置の別の例を示す断面図である。
本電解研磨装置は電解研磨の際の電流を検出すると共に
電流が予め設定した電流終了値にまで低下したとき自動
的に電源5を停止させて電解研磨を終了させるコントロ
ーラ7を備えたものであり、それ以外の点では第1図に
示した電解研磨を共通している。
尚、上述の各実施例は電源として直流電源を用いたもの
であった。しかし、直流電圧に代えてパルス電圧を加え
ることにより電解研磨を行なう電解研磨方法にも本発明
針状金属の電解研磨方法を適用することができる。その
場合、電解研磨はパルス電流をモニターしながら行ない
、そのパルス電流が予め設定した値にまで低下したら電
解研磨を終了することとなる。
第5図(A)乃至(D)は第1図に示す電解研磨装置の
電源5をパルス電源に置き換え、電圧波形及び電流波形
をモニターした場合における電圧波形及び電流波形を電
解研磨の進行順に示すものである。本図から明らかなよ
うに同図(A)から(B)へ、(B)から(C)へ、(
C)から(D)へと電解研磨が進行するに従って電流が
減少しており、電流をモニターして電解研磨の終了タイ
ミングを決定することが妥当であることが明らかである
(H.発明の効果) 以上に述べたように、本発明針状金属の電解研磨方法は
、針状金属材料を電解液に浸してその針状金属材料の先
端を尖鋭化させる針状金属の電解研磨方法において、電
解研磨の際に、電圧を針状金属材料と電解液との間に印
加すると共に針状金属材料を流れる電流をモニターし、
該針状金属材料を流れる電流が予め設定した値以下にな
ったときに電解研磨を終了させることを特徴とするもの
である。
従って、本発明針状金属の電解研磨方法によれば、エッ
チングの進行に従って針状金属材料、電解液を流れる電
流が減少するので、針状金属先端の希望する尖鋭度に応
じて電解研磨を終了するときの電流を設定しておき、流
れる電流が設定値以下になったとき電解研磨を終了させ
ることとすることにより針状金属の尖鋭度を高精度で再
現性良く制御できる。
【図面の簡単な説明】
第1図乃至第3図は本発明針状金属の電解研磨方法の一
つの実施例を説明するためのもので、第1図は使用する
電解研磨装置の断面図、第2図は電流の変化を示す変化
図、第3図は形成することのできる針状金属の先端部を
示す拡大断面図、第4図は本発明針状金属の電解研磨方
法の実施に用いることのできる電解研磨装置の別の例を
示す断面図、第5図(A)乃至(D)はパルス電源を用
いて電解研磨を行なった場合における電圧波形及び電流
波形を電解研磨の進行順に従って示す波形図、第6図は
従来例を示す電解研磨装置の断面図、第7図及び第8図
は発明が解決しようとする問題点を説明するためのもの
で、第7図は電解研磨中における針状金属の先端形状の
変化を示す断面図、第8図は針状金属の先端部の拡大断
面図である。 符号の説明 2・・・電解液、4・・・針状金属材料、5・・・電源
、 6、7・・・電流モニター装置。 駁置の断面図 第1図 第3図 τ一一一7 先端部拡大断面図 第8図 161 接触点 1

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)針状金属材料を電解液に浸してその針状金属材料
    の先端を尖鋭化させる針状金属の電解研磨方法において
    、 電解研磨の際に、電圧を針状金属材料と電解液との間に
    印加すると共に針状金属材料を流れる電流をモニターし
    、 上記針状金属材料を流れる電流が予め設定した値以下に
    なったときに電解研磨を終了させることを特徴とする針
    状金属の電解研磨方法
JP19083989A 1989-07-24 1989-07-24 針状金属の電解研磨方法 Pending JPH0355129A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19083989A JPH0355129A (ja) 1989-07-24 1989-07-24 針状金属の電解研磨方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19083989A JPH0355129A (ja) 1989-07-24 1989-07-24 針状金属の電解研磨方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0355129A true JPH0355129A (ja) 1991-03-08

Family

ID=16264626

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP19083989A Pending JPH0355129A (ja) 1989-07-24 1989-07-24 針状金属の電解研磨方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0355129A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5267562A (en) * 1992-05-28 1993-12-07 Nihon Kohden Corporation Pulse oximeter with probe difference compensation
US5347256A (en) * 1991-04-26 1994-09-13 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Rotary transformer
US5935411A (en) * 1997-05-16 1999-08-10 Ethicon, Inc. Continuous process for electropolishing surgical needles
CN102586854A (zh) * 2012-02-24 2012-07-18 西安交通大学 一种高效率自动化钨针制备装置及方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5347256A (en) * 1991-04-26 1994-09-13 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Rotary transformer
US5267562A (en) * 1992-05-28 1993-12-07 Nihon Kohden Corporation Pulse oximeter with probe difference compensation
US5935411A (en) * 1997-05-16 1999-08-10 Ethicon, Inc. Continuous process for electropolishing surgical needles
CN102586854A (zh) * 2012-02-24 2012-07-18 西安交通大学 一种高效率自动化钨针制备装置及方法
CN102586854B (zh) * 2012-02-24 2014-11-05 西安交通大学 一种高效率自动化钨针制备装置及方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0355129A (ja) 針状金属の電解研磨方法
US3453545A (en) Probe assembly for testing semiconductor wafers including a wafer vibrator for effecting good test connections
JP3016129B2 (ja) 微細加工方法
US5085746A (en) Method of fabricating scanning tunneling microscope tips
US5286355A (en) Electrochemical wire sharpening device and method for the fabrication of tips
US5164595A (en) Scanning tunneling microscope tips
CN110026626B (zh) 一种快速原位放电修整加工stm探针的方法
US6632348B2 (en) Wire etching device and method
JP4705281B2 (ja) 散乱型近接場プローブ及びその製造方法
EP1501653B1 (en) A method to perform an automatic removal of cathode depositions during a bipolar electrochemical machining
JPH1010154A (ja) 探針ユニットの製造方法
Liu et al. Investigation of electrochemical nanostructuring with ultrashort pulses by using nanoscale electrode
JP3354890B2 (ja) 加工方法および加工装置
Aebersold et al. A rotating disk electropolishing technique for TEM sample preparation
JP6804758B2 (ja) 金属探針の製造方法、金属探針及びデバイス
JPH02274429A (ja) 微小プローブの製造方法および装置
Tafraouti et al. Fabrication of Tungsten high aspect ratio micro-tools by electrochemical etching, by controlling the immersed length and the etching charge
US6565734B2 (en) Electrochemical process using current density controlling techniques
JPH06128800A (ja) 走査型顕微鏡用金属探針の製造方法
JP3270416B2 (ja) 加工電極製作方法および加工電極製作装置
JPH05177451A (ja) 金属探針の作製方法
JPH0266402A (ja) 走査型トンネル顕微鏡の探針製作法
Kostrna et al. An automatic electropolishing system for needle-shaped specimens
JPH0666510A (ja) 探針走査形顕微鏡用探針部品
JPH0512724Y2 (ja)