JPH0350790A - リフロー装置 - Google Patents

リフロー装置

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JPH0350790A
JPH0350790A JP18555489A JP18555489A JPH0350790A JP H0350790 A JPH0350790 A JP H0350790A JP 18555489 A JP18555489 A JP 18555489A JP 18555489 A JP18555489 A JP 18555489A JP H0350790 A JPH0350790 A JP H0350790A
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広野 友英
Susumu Saito
進 斎藤
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は電子機器等に用いられる回路基板を製造する工
程におけるリフローはんだ付けに使用するリフロー装置
に関するものである。
従来の技術 表面実装回路基板は通常次の工程で製造される。
1)基板へのはんだ材料(クリームはんだ)印刷、2)
部品のマウント、 3)リフローはんだ付け。
この工程で使用される従来のリフローはんだ付は装置は
、第4図に示すようにトンネル状の炉体1と、加熱され
る回路基板2を搬送するコンベア3と、ヒータ4と、冷
却ファン5を有する。回路基板2はコンベア3上に載置
されAからA′の方向に炉体1内を搬送される。搬送過
程で基板2はヒータ4からの輻射熱及びヒータ4で加熱
された炉体1内の空気の熱伝達により加熱され、回路基
板2の温度上昇に伴い基板に印刷されたクリームはんだ
は溶融したのち冷却ファンで室温に近い空気を当てられ
冷却され、はんだが固まり、はんだ付けが完了する。こ
の時の温度変化はおおよそ第5図に示す形となる。通常
基板の温度を単純に上昇させるのではなく、基板の温度
を一度B−C間のように保持し加熱を行う。このためリ
フロー装置は複数のヒータを持ち、加熱ゾーンを複数に
分けている。
はんだが溶融するためには第5図におけるピーク点りの
温度を200℃前後の温度に加熱することが必要で、リ
フロー装置の加熱条件を適正にする方法として従来から
回路基板に熱電対等の温度センサを取り付は回路基板の
温度上昇を実測し、所望とする温度になるまで繰り返し
温度設定値を変更する方法が取られてきた。
発明が解決しようとする課題 しかしながら回路基板上には多種多様な部品が載置され
ているので、加熱条件を最適に設定するためには多数の
熱電対を回路基板上に取り付け、温度状態を測定するこ
とが必要とされていた。この作業は複雑でありかつ最適
な設定値を決定するには多くの時間と作業者の熟練を要
した。
また加熱ヒータが複数系統あるため、ヒータ設定値を変
更することによって、ヒータ設定値を変更したゾーンの
炉内空気温度はもとより、ヒータ設定値を変更したゾー
ンの周辺ゾーンの炉内空気温度も変化してしまうため、
全体の加熱状態が変化してしまうことがあった。
そこで本発明は、回路基板の温度を実測することなしに
加熱条件設定を決定することが可能なリフロー装置を提
供することを目的とする。
また本発明の第2の目的は各ゾーンのヒータ設定値変更
が周辺ゾーンに与える影響を考慮し、適正なヒータ設定
値を与えるリフロー装置を提供するものである。
課題を解決するための手段 上記課題を解決するための本発明の第1の発明のリフロ
ー装置は、リフロー装置の加熱特性データと被加熱物の
被加熱特性データを入力として持ち、被加熱物の温度が
所望の温度になるヒータ設定値を自動的に算出する計算
機構と、前記計算機構の計算結果を目標入力としてヒー
タの制御を行うヒータ制御器を有するものである。
また本発明の第2の発明のリフロー装置は加熱機構の被
加熱物に対する加熱の影響を、リフロー装置の有する複
数のヒータの温度もしくはヒータの出力電力を独立変数
とする関数の形式で持つ加熱特性データを有し、被加熱
物の温度が所望の温度になるヒータ設定値を自動的に算
出する計算機構と、前記計算機構の計算結果を目標入力
としてヒータの制御を行うヒータ制御器を有するもので
ある。
作   用 本発明の第1の発明による作用は以下のようになる。
リフロー装置内における加熱は輻射と伝達によって行わ
れる。輻反射熱量は熱源であるヒータと回路基板・部品
の温度及び輻射率によって決定され、また伝達熱量は炉
内の空気と回路基板・部品の温度及び熱伝達係数で決定
される。この計算方式に基づいて加熱途中のある時点に
おける温度許容範囲を1時点以上について設定すると、
予め与えた第1の加熱条件における回路基板の温度計算
の結果から基板温度が前記温度許容範囲条件を満足して
いるか否かの判断を下すことが可能である。判断の結果
、前記回路基板に対する温度許容範囲条件を満足しない
場合リフロー装置のヒータ設定温度を変更、第2の設定
温度を決定し、回路基板第2の温度計算を行い前記許容
温度範囲条件に対する第2の評価を下すことが可能であ
る。このヒータ温度設定・評価の過程を繰り返し行うこ
とで、回路基板に対するヒータ設定条件を計算により自
動的に求めることが可能となる。この計算結果であるヒ
ータ設定値を目標値としてリフロー装置のヒータの制御
を行うことによって実際の温度測定を行わずに、また熟
練技能を持たないものにも適正な加熱を行うことが可能
となる。
次に第2の発明による作用について説明する。
各ゾーンの空気温度は当該ゾーンに取り付けられたヒー
タの温度と、その周辺ゾーンのヒータの温度によって決
定される。ヒータの設定温度は独立な変数と考えること
ができるので、空気温度はヒータ設定温度に従属な変数
であり、各ゾーンのヒータ設定値と各ゾーンの空気の温
度の関係を関数の形でデータとし、て持たせることがで
きる。加熱量は前述のようにヒータと回路基板・部品の
温度及び輻射率、炉内の空気と回路基板・部品の温度及
び熱伝達係数で決定されるので、各ヒータの設定値と炉
内空気温度の関係を関数の形で持つことによって、各ヒ
ータの設定値を変更した場合における炉内空気温度を正
確に把握することができるので、ヒータの設定値の自動
決定をより正確に行うことが可能となる。
なおヒータ設定温度の代わりにヒータの設定出力電力を
独立変数とみなすことも可能である。
実施例 以下本発明の一実施例について、図面を参照して説明す
る。尚、第4図で説明した構成要素と同一のものについ
ては同一参照番号を付して説明を省略する。
第1図は同実施例におけるリフロー装置の構成を示すブ
ロック図及び断面図である。同図において11はリフロ
ー装置の加熱特性データ、12は被加熱物の被加熱特性
データ、13は計算機構、14はヒータ制御器である。
また、17は基板の許容温度範囲として与えられるデー
タである。
計算機構13はリフロー装置の加熱特性データ11と被
加熱物の被加熱特性データ12がら温度計算を行い、許
容温度範囲データ17を満足するヒータ設定条件を求め
る。求められたヒータ設定値は計算機構からヒータ制御
器14へ送られ、ヒータ制御器はこのヒータ設定値を目
標値としてヒータの温度制御を行う。
第2図は同実施例における計算機構13の計算の流れを
示す流れ図で、ステップ#21では計算のためのヒータ
の初期設定値を決定し、ステップ#22ではヒータの設
定値から炉内の空気温度を計算し、さらにステップ#2
3では温度決定されたヒータ設定値から回路基板の温度
を計算する。
ステップ#24では与えられた許容温度範囲を満足する
か否かを判定し、判定の結果満足していれば計算を終了
し設定値はヒータ制御器へ送られる。許容温度範囲を満
足していなければステップ#25で設定値変更を行った
のちステップ#22の空気温度計算へ送られステップ#
23の回路基板温度計算、ステップ#24の判断と繰り
返し計算が行われる。
第1図に示す3つの独立なヒータ加熱ゾーンを持つリフ
ロー装置では、各ゾーンにおいて温度許容範囲を設定す
るのが適切で、この場合第3図の流れ図のように、ステ
ップ#31でヒータ初期設定を行った後、ステップ#3
2では許容温度範囲を判定するゾーンを第1ゾーンと指
定し、ステップ#33で炉内の空気温度を決定する。ス
テップ#34で指定されたゾーンまでの温度計算を行っ
た後、ステップ#35で指定されたゾーンでの温度許容
範囲と基板温度との関係を判定し、判定の結果温度許容
範囲を満足していなければステップ#36でヒータの温
度設定値を変更し、再度ステップ#32で判定ゾーンを
1に設定し、ステップ#33の空気温度決定へ戻り、繰
り返し計算が行われる。ステップ#35で温度許容範囲
を満足していれば、ステップ#37で全ゾーンの評価を
満足したかどうかを判定し、全ゾーン評価が終了してい
れば計算を終了し、評価が終了していなければステップ
#38で評価ゾーンを次のゾーンに移し次のゾーンでの
回路基板温度計算を行う。
第2図におけるステップ#22及び第3図におけるステ
ップ#33の炉内空気温度決定では、各ヒータの設定値
と炉内の各ゾーンの空気温度の関係を代表点における複
数の線形関数の形式で持っており、次の(1)式で表さ
れるものである。
nX1     nxn     nX1      
 nX1(1i   n、1   j   n)   
       (1)(1)式においてTaiはiゾー
ンにおける空気の温度、T、はiゾーンにおけるヒータ
の設定温度、T51はiゾーンのヒータの基準となる温
度、T、3゜は基準となるヒータ温度をとったときのi
ゾーンの空気の温度、fiJはjゾーンのヒータ温度が
基準温度から変動した時に、iゾーンの空気温度に与え
る影響係数である。ただしT1の設定が大きく変動する
場合にはfIJ及びT a s iを複数組持つもので
ある。第1図に示す3つの加熱ゾーンを持つリフロー装
置においてはi、jともに1から3の値をとる。
発明の効果 以上のように本発明の第1の発明によれば、回路基板に
直接熱電対を取り付けることなしにヒータの温度設定を
自動的に行うことができると同時に、作業者の熟練も必
要としない。また同時に、回路基板の設計時点でリフロ
ー装置の設定条件が見いだせるので、新規に生産を開始
する場合、円滑な生産の開始を行うことが可能である。
また第2の発明によれば、複数のヒータの設定値を変更
した場合でも、炉内の温度が正確に把握することが可能
となり、第1の発明で計算されるヒータ設定値がより正
確に求められるようになる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例におけるリフロー装置の制御
ブロック図を合わせて示したリフロー装置の断面図、第
2図、第3図は同実施例における計算の流れ図、第4図
は従来のリフロー装置の断面図、第5図はリフローを行
う際の基板の温度変化を示すグラフである。 1・・・・・・炉体、2・・・・・・回路基板、3・・
・・・・搬送装置、4・・・・・・ヒータ、5・・・・
・・冷却ファン、11・・・・・・リフロー装置の加熱
特性データ、12・・・・・・被加熱物の被加熱特性デ
ータ、13・・・・・・計算機構、14・・・・・・ヒ
ータ制御器、15・・・・・・許容温度範囲データ。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)電子部品が装着された回路基板等の被加熱物を搬
    送する機構と、被加熱物を加熱する複数組の加熱機構を
    有するリフロー装置において、リフロー装置の加熱特性
    データと被加熱物の被加熱特性データを入力として持ち
    被加熱物の温度が所望の温度になるヒータ設定値を自動
    的に算出する計算機構と、前記計算機構の計算結果を目
    標入力としてヒータの制御を行うヒータ制御器を有する
    ことを特徴とするリフロー装置。
  2. (2)電子部品が装着された回路基板等の被加熱物を搬
    送する機構と、被加熱物を加熱する複数組の加熱機構を
    リフロー装置において、前記加熱機構の被加熱物に対す
    る加熱の影響を、リフロー装置の有する複数のヒータの
    温度もしくはヒータの出力電力を独立変数とする関数の
    形式で持つ加熱特性データと、被加熱物の被加熱特性デ
    ータを入力として持ち被加熱物の温度が所望の温度にな
    るヒータ設定値を自動的に算出する計算機構と、前記計
    算機構の計算結果を目標入力としてヒータの制御を行う
    ヒータ制御器を有することを特徴とするリフロー装置。
JP18555489A 1989-07-18 1989-07-18 リフロー装置 Expired - Lifetime JP2676927B2 (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6882902B2 (en) 2001-02-02 2005-04-19 The Furukawa Electric Co., Ltd. Method of and apparatus for thermal analysis, method of and apparatus for calculating thermal conditions, computer product
JP2010058152A (ja) * 2008-09-05 2010-03-18 Omron Corp 加熱条件決定装置、加熱条件決定方法、温度プロファイル予測装置およびプログラム

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6882902B2 (en) 2001-02-02 2005-04-19 The Furukawa Electric Co., Ltd. Method of and apparatus for thermal analysis, method of and apparatus for calculating thermal conditions, computer product
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