JPH0350608A - トラツキング方法 - Google Patents

トラツキング方法

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JPH0350608A
JPH0350608A JP18515489A JP18515489A JPH0350608A JP H0350608 A JPH0350608 A JP H0350608A JP 18515489 A JP18515489 A JP 18515489A JP 18515489 A JP18515489 A JP 18515489A JP H0350608 A JPH0350608 A JP H0350608A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔目 次〕 概要 産業上の利用分野゛ 従来の技術(第7図、第8図、第9図)発明が解決しよ
うとする課題 課題を解決するための手段 作用 実施例(第1図(a)、第1図(b)、第2図、第4図
、第5図、第6図) 発明の効果 第3図、 〔概 要〕 本発明は、プリント基板上に指定されたスルーホールの
位置を正確に検出するためのトラッキング方法に関し、
例えば、電話回線等の接続、切断を自動化することを目
的とし、外部指令によって動作するロボット機構(二次
元X−Y軸ロボロボットとそれに取りつけられた接続用
ピン及び−次元等のレーザセンサによって位置を計測す
る位置計測部から構成され、指定されたスルーホールの
位置を探索する際、レーザ光の反射光量よりレーザセン
サにおいて検出されるスルーホール信号とパターンから
の反射信号と基板面からの反射信号とによって探索位置
を計測し、探索経路をレーザ軌跡が離脱した場合にはロ
ボット機構が正しい位置にもどるようなフィードバック
機能を有するトラッキング方法に関する。
〔産業上の利用分野〕
本発明はプリント基板上の指定されたスルーホールの位
置を正確に検出するためのトラッキング方法に関し、さ
らに具体的には、ロボット機構と位置計測部とを組み合
わせて、決められた位置から指定されたスルーホール位
置を探索する際、探索経路を離脱したことを検出してロ
ボット機構が正しい位置にもどるようなフィードバック
をかけることを特徴とするトラッキング方法に関する。
〔従来の技術〕
従来のパターン探索のためのトラッキング方法は、対象
とするプリント基板上に位置ずれ検出用マーキングを行
ない、そのマークを検出することにより位置修正を行な
うのが一般的である。第7図は従来方式としてのマーキ
ング法によるトラッキング方法の原理説明図である。第
7図において1は所定のパターンであり、マトリックス
ポード(MB)上に印刷された金等による金属めっき層
である。3は穴の部分を示し、マトリックスポード(M
B)に対して貫通穴として形成されている。
2は検出用マーキングを示し、光に対する反射率の良い
白ペイント等がその上部に塗布されている。
第7図に図示されたように、マーキング法によるトラッ
キング方法では対象とするパターン1の上下両側にトラ
ッキング用の検出用マーキング2を印刷しておく。二次
元X−Y軸ロボロボットターン上を移動して半導体レー
ザよりのレーザ光線を照射しながら、パターン探索のた
めのトラッキングを行なうが、パターンよりのレーザ光
の反射光をセンサによって検出し、レーザの軌跡がどの
方向にずれたかを判断し、位置の修正を行なう。例えば
、第7図において、レーザの軌跡の内、(イ)の軌跡は
正しいレーザの軌跡を示しているが上方向にずれた場合
には例えば(ロ)に示す軌跡となり、下方向にずれた場
合には例えば(ハ)に示す軌跡となる。従って、(ロ)
及び(ハ)のような軌跡を通過した場合には検出用マー
キング2よりの反射光をセンサにより検出すると、どち
らの方向にずれているかの判断ができ、位置の修正を行
なうことができる。
ここでこのようなトラッキング方法を適用する技術につ
いて説明する。第8図は、エポキシもしくはセラミック
ス等の材質により形成されるマトリックスポード(MB
)上のマトリックスパターン1の形状を概略的に示して
いる。第8図中のパターンlは第7図に図示したパター
ン1或いは本発明のトラッキング方法を適用するパター
ンに対応している。第8図のマトリックスポードは例え
ば180mmx 105mmの寸法であり、その中に直
径約900μmの貫通穴(スルーホール)を有するパタ
ーンlが形成されており、かつこのパターンは金等によ
る金属層がめつきされている。
この第8図に図示されたマトリックスポード(MB)4
はさらに実際には第9図に図示される如(、約300枚
所定の間隔で同じくマトリックス状に配置されている。
即ち、第9図はマトリックスポードの配置構成図を図示
している。さらに二次元X−Y軸ロボロボット第9図内
に図示される如く配置され、X軸およびY軸方向に高速
で移動することができるようになされており、粗く所定
のマトリックスポード(MB)4を選択後、トラッキン
グ方法によりパターン1を照射されたレーザ光線の反射
をセンサで検出しながら追跡する。二次元X−Y軸ロボ
ロボットはピン6が取り付けられており、所定の指定穴
の探索が終了した時点で、その指定穴に対してピンを挿
入する動作を行なうことになる。このようなマトリック
スポードの配置構成はさらに具体的には二階層に構成さ
れていて、導電性のピン6を指定穴に挿入すると所望の
電話回線間が接続されることになり、このピン6を抜い
て別の指定穴に挿入すれば先の電話回線間は切断され、
別の電話回線間が接続されるという動作を行なうことに
なる。このように二次元X−Y軸ロボロボット使用して
正しく指定穴のトラッキングと中心位置の位置決めを行
なうわけであるが、マトリックスポード自体が経時変化
等の事情により撓んでしまったり、歪んでいたり或いは
傾いていたりすることがあり、一方指定穴の直径は約9
00μmであり、許容誤差は各単体の誤差を考えると、
±350μm程度であることから、パターン1上を正確
に連鋳するトラッキング方法及び中心位置の決定方法が
必要であった。従って、従来方式のトラッキング方法と
しては前述の如きマーキング法によるトラッキング方法
が実施されていた。
従来、電話回線の接続、切断のためのマトリックスポー
ド上におけるピンの抜き差しは人手を介して行なわれて
いること多かったが、従来のマーキング法、或いは本発
明によるトラッキング方法を適用することにより、二次
元X−Y軸ロボロボットーザセンサにより、自動化して
しかも正確に行なうことができる。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかるに、従来方式によるトラッキング方法では検出用
のマーキングパターンを予め所定のパターン上に印刷付
加する必要があった。しかも対象パターンの両側にマー
キングパターンを配置しなければならないためコスト高
になるという問題点があった。また、マーキングパター
ンを余分に配置するため、所望のパターン間隔にも制限
が生じ、パターン配置のための集積密度が制限されると
いう問題点があった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、レーザセンサの反射光量のデータに基づいて
パターンから離脱したことを判別し、パターン上の正し
い位置に修正を行なうトラッキング方法を提供すること
を目的とする。さらに具体的には、本発明は一次元等の
レーザセンサの距離信号及び光強度信号を用いて、穴の
位置並びにパターン上か、或いは基板上かを判定し、基
板上と判定された時に、パターン上から離脱した直前の
穴の位置まで戻り、パターン上の探索を再開することに
よりパターン上の正しい位置に修正を行なうトラッキン
グ方法を提供することを目的とする。
上記の目的は、外部指令によって動作するロボット機構
と、レーザセンサによって位置を計測する位置計測部か
ら構成され、所定のスルーホール列を有するプリント基
板上の指定されたスルーホールの位置を検出するトラッ
キング方法において、指定されたスルーホールの位置を
探索する際、レーザ光の反射光量よりレーザセンサにお
いて検出されるスルーホール信号とパターンからの反射
信号と基板面からの反射信号とによってプリント基板上
の探索位置を計測し、レーザ軌跡が前記所定のスルーホ
ール列上を離脱した場合には、ロボット機構が正しい位
置にもどるフィードバック機能を有することを特徴とす
るトラッキング方法によって達成される。
〔作 用〕
本発明はプリント基板上の指定されたスルーホールの位
置を正確に検出するためのトラッキング方法に関し、外
部指令によって動作するロボット(二次元X−Y軸ロボ
ロボット機構と一次元等のレーザセンサによって位置を
計測する位置計測部から構成され、指定されたスルーホ
ールの位置を探索する際、金属パターン上であるか、マ
トリックスポード等の基板上であるか或いは穴の位置で
あるかをレーザ光の反射光量よりレーザセンサにおいて
検出される距離信号と光強度信号によって判別し、基板
上であるという中間レベルの光強度信号が検出された場
合には、直ちにパターン上からずれたものと判断し、直
前の穴の位置に戻り、かつその穴の中心位置の位置計測
を、レーザ光を穴の中心と思われる位置でX軸、Y軸方
向に移動し、エツジを検出することで中間点を穴の中心
位置として検出し、ロボット機構が正しい位置にもどり
再びこの穴の中心位置からパターン上の探索を再開する
というフィードバック機能を有するトラッキング方法と
しての動作を行なっている。
〔実施例〕
第1図に本発明によるトラッキング方法の動作説明図を
図示する。ここで、第1図(alは所定のパターンl上
をレーザ軌跡7が、所定の穴3の中心点を通過しながら
正常にトラッキングしている状態、即ち二次元X−Y軸
ロボロボットロボット機構が正しい移動を行なっている
状態における、位置計測部におけるレーザセンサにおい
て検出された距離信号波形8と光強度信号波形9を図示
している。レーザの軌跡7が第1図(a)に図示した如
く、パターン上か穴の位置にあるかによって、レーザ光
の反射率が異なるため、レーザセンサによって受信され
る2つの信号、即ち距離信号8と光強度信号9が得られ
るわけである。穴3はプリント基板上に貫通穴(スルー
ホール)等として形成され、その周辺に金等の金属層を
めっきされたパターン1が構成されており、レーザ光に
よってパターン上を探索しながら目的とする指定穴(基
準穴、指定差点穴)を抽出できるわけである。従って、
レーザの軌跡7が正確にパターンと穴の上を通れば、第
1図(a)に図示されたような距離信号8及び光強度信
号9が抽出できることになる。
一方、第1図世)はレーザ軌跡71がパターン1上でず
れた時の移動状態について、それぞれ同様にレーザセン
サにおける距離信号波形81と光強度信号波形91とを
図示している。第1図(b)において11.12.13
.14.15は所定のパターンにおける特に穴とその周
辺部の金属パターン部分を指示する参照番号であるが、
第1図(b)において図示されるように、レーザの軌跡
71はパターン部分11.12を通過している時は正常
な移動となっているが、パターン部分13では既に穴の
中心位置かられずかにずれており、パターン部分14で
は大きくずれ、ついにパターン部分14を通過した直後
には金属パターン上を離脱してしまい、レーザの軌跡7
1は基板部分上を移動し、パターン部分15では穴の中
を通過できず対応する距離信号81はハイレベルを維持
し、同様に光強度信号も穴の位置情報を完全に失なって
いる。
ここで特に注目してみたいのはレーザの軌跡71が基板
上をトラッキングしている時である。即ち対応する距離
信号は、レーザの軌跡が基板上の場合はハイレベルであ
り、一方の光強度信号は中間レベルとして表示されるこ
とになるわけである。
このように第1図(b)では、何らかの経時変化等の理
由でマトリックスポード(MB)が変形したり、撓んだ
り、曲げられていたりした場合において、レーザの軌跡
がずれた場合のレーザの軌跡71に対応する2つの信号
波形を示している。第1図(blに図示するよ・うに、
レーザ光の軌跡が上方向にずれと距離信号81及び光強
度信号91に変化が現われる。第1図(b)に示す距離
信号波形81により穴の位置を計測し、光強度信号波形
91により穴、パターン、或いは基板上にいるかの判別
を行なう。
距離信号波形81によってレベルが低い部分(ローレベ
ル)が穴であると判断し、しかもその中間点の座標を計
算すると、その中間点を通ってX軸と直角なY軸方向に
移動ずれは必ず穴の中心位置を計測できることになる。
一方、光強度信号波形91の中で高レベル(ハイレベル
)がパターン上、中間レベルが基板上、低レベル(ロー
レベル)が穴と判別されるわけである。次に第2図を参
照して、本発明によるトラッキング方法におけるレーザ
軌跡71の修正方法を説明する。即ち、第2図は本発明
によるレーザ軌跡の修正方法の説明図である。第2図に
おいて、それぞれ第1図(blの各部分と対応する部分
には同一の参照番号を付している。第2図においてずれ
たレーザ軌跡71がパターン部分14を通過して基板上
を移動することによって光強度信号波形91において、
図示されるように、中間レベルが検出された時、パター
ン上からずれたと判断して、直前の穴、即ち第2図にお
いてパターン部分14の穴の位置に戻ることになる。そ
して穴14の位置において、レーザ光をX軸及びY軸方
向に移動して、円形穴のエツジの位置を検出することで
、中心点の位置を計測する。
計測された穴の中心位置より再びパターン上を修正され
たレーザ軌跡72に図示されるように探索する。このよ
うに、−度パターンを離脱してレーザ軌跡がずれた場合
には直ちにその位置情報を2つの信号から検出して、直
前の穴の位置にもどるというフィードバック動作を行な
い、常に穴の中心位置を検知しながら、二次元X−Y軸
ロボロボットロボット機構を移動させる、トラッキング
方法である。
第3図は上記のフィードバック動作によって戻った穴の
中心位置の計測方法の説明図である。フィードバックに
よって戻った穴の中心と思われる位置でX軸方向にまず
レーザ軌跡を移動し、パターンとの境界となる穴のエツ
ジ位置を座標X1゜X2として計測する。このXi、X
2の座標の中心を計算して、次にその中心座標位置(X
1+X2)/2においてY軸方向にレーザ軌跡を移動す
る。同様にエツジ位置Yl、Y2を計測する。このYl
、Y2の座標の中心を計算して、(Y1+Y2)/2と
して求める0以上のようにX軸9Y軸方向のエツジを検
出することから、穴の中心ことになる。このように計測
することによってほぼ円形に近い穴の中心位置は決定さ
れる。
第4図はこのようにしてフィードバックにより戻った穴
の中心位置決定の動作フローチャート図である。
(11において、第3図の穴のX十方向に移動し、MB
間の距離を測定し、X軸方向(MBに対して垂直方向)
に移動してレーザのフォーカスを合わせる。
(2)において、穴のX+側から一方向に移動し、穴の
エツジ部分を検出し、大幅の確認を行なう。
(3)において、穴のY十方向の中心位置を計算する。
(4)において、穴のY十方向に移動してY一方向に移
動しながら穴のエツジ部分を検出し、大幅の確認を行な
う。
(5)穴のY方向の中心位置を計算する。
以上の動作フローによって穴の中心位置を見出すことが
できる。第2図のパターン部分14の穴において具体的
に上記のようなプロセスを用いて穴の中心を割出してい
る。
第5図は本発明によるトラッキング方法において使用さ
れる位置計測部の構成図である。即ち、第5図において
は所定のパターン及び穴3を有するマトリックスポード
(MB)4に対して、半導体レーザ40より、コリメー
トレンズ41°、アナモルフィックプリズムペア42、
片凸レンズ43、ビームスプリッタ44を通してレーザ
光を照射する。一方パターン、穴3、及びマトリックス
ポード4からのレーザ光の反射光の位置情報即ち、距離
信号及び光強度信号はビームスプリッタ44内のミラー
により反射されて、両凸ンズ45を介して4分割ホトダ
イオード46によって検出されるように構成されている
。二次元X−Y軸ロボロボットパターン上を探索移動す
るロボットのヘッド部分等にこのような半導体レーザ4
0及び4分割ホトダイオード46等のレーザセンサを含
む位置計測部が取り付けられている。
第6図は、第5図の4分割ホトダイオード46による指
定穴の中心位置を正確に計測する原理図である。第6図
においてA、 B、  C,Dはそれぞれ同一特性で同
一面積のホトダイオードであり、全体として4分割ホト
ダイオードを構成している。
このようなA、 B、 C,Dの4分割ホトダイオード
パターン上に穴のパターン形状30が影として映し出さ
れている。各ホトダイオードには照射されたパターン或
いはその補数としての光の照射量に比例した信号量が計
測されることから、差動増幅器50.51により、それ
ぞれのY軸方向及びX軸方向のずれを、各ホトダイオー
ドに照射された光の照射量に対応する信号量の和と差か
ら演算することにより求めることができる。従って、X
軸方向、Y軸方向のずれを修正することで正確に穴の中
心位置を求めることができ、逆に中心点からどのくらい
ずれた位置にいるかも精度良く把握することができる。
例えばこの位置合わせの精度は約10μm程度である。
従って、このようにして指定穴の中心位置がわかれば、
前述の如く電話回線間の接続等の目的のためのピンを正
確に挿入することができる。
本発明の実施態様を述べると以下の通りである。
即ち、本発明は外部指令によって動作するロボット機構
と、レーザセンサによって位置を計測する位置計測部か
ら構成され、所定のスルーホール列を有するプリント基
板上の指定されたスルーホールの位置を検出するトラッ
キング方法において、指定されたスルーホールの位置を
探索する際、レーザ光の反射光量よりレーザセンサにお
いて検出されるスルーホール信号とパターンからの反射
信号と基板面からの反射信号とによって基板上の探索位
置を計測し、レーザ軌跡が前記所定のスルーホール列上
を離脱した場合には、ロボット機構が正しい位置にもど
るフィードバック機能を有することを特徴とするトラッ
キング方法に関するものである。
〔発明の効果〕
本発明のトラッキング方法によれば、レーザセンサによ
って検出される、距離信号と光強度信号の2つ信号だけ
で穴の位置、並びにパターン上から離脱したという情報
を抽出することができ、レーザ軌跡を正しい位置にフィ
ードバック法により修正可能となり、常に穴の中心位置
を確認しながらパターン上を正確に探索できるという利
点が存在する。従って従来方式においてマトリックスポ
ード(MB)等の基板上に設けられていた特殊な光学的
反射率を高めた検出用マーキングも不要となり、パター
ンの集積密度も高めることができるという利点が存在し
、しかも低コストで実現できるという利点が存在する。
従来、電話回線の接続、切断のためのマトリックスポー
ド上におけるビンの抜き差しは人手を介して行なわれる
ことが多かったが、本発明によるロボット機構と位置計
測部の構成で行なわれるフィードバック機能を有するト
ラッキング方法によって、正確にパターン上をトラッキ
ングして指定穴を探索しピンを精度良く抜き差しでき、
このような局の完全自動化による無人局化も計ることが
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるトラッキング方法の動作説明図で
あり、特に第1図(a)は正常な移動状態についてレー
ザ軌跡に対する距離信号と光強度信号の波形を図示して
おり、第1図(b)はレーザ軌跡がパターン上でずれた
時の移動状態についてそれぞれ同様に距離信号と光強度
信号波形を図示している。 第2図は本発明によるトラッキング方法におけるレーザ
の軌跡の修正方法を説明するための図面であり、第3図
はフィードバックで戻った穴の中心の位置を計測するた
めの方法の説明図であり、第4図はフィードバックによ
り戻った穴の中心位置決定の動作フローを示すフローチ
ャート図であり、第5図は本発明によるトラッキング方
法におけるレーザ軌跡の位置計測部の構成例である。第
6図は4分割ホトダイオードによる指定穴の中心位置を
計測する原理図であり、第7図は従来例としてのマーキ
ング法によるトラッキング法の原理説明図であり、第8
図はマトリックスポード(MB)上のパターン配置の概
略図を示し、第9図はマトリックスポードの配置構成図
を示している。 1・・・パターン、 2・・・検出用マーキング、 3・・・穴(指定穴、基準穴、スルーホール)4・・・
マトリックスポード(MB) 5・・・二次元X−Y軸ロボロボ ット・・ビン 7・・・レーザ軌跡 8.81・・・距離信号(波形) 9.91・・・光強度信号(波形) 11.12.13,14.15・・・穴及びその周辺の
金属パターンのパターン部分 30・・・映し出された穴のパターン 71・・・ずれたレーザ軌跡 72・・・修正されたレーザ軌跡 ン     ン X2    Xl フィードバラクで戻った穴の中ノご位置の計測方法の説
明図 笥 3 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 外部指令によつて動作するロボット機構と、レーザセン
    サによつて位置を計測する位置計測部から構成され、所
    定のスルーホール列を有するプリント基板上の指定され
    たスルーホールの位置を検出するトラッキング方法にお
    いて、指定されたスルーホールの位置を探索する際、レ
    ーザ光の反射光量よりレーザセンサにおいて検出される
    スルーホール信号とパターンからの反射信号と基板面か
    らの反射信号とによつてプリント基板上の探索位置を計
    測し、レーザ軌跡が前記所定のスルーホール列上を離脱
    した場合には、ロボット機構が正しい位置にもどるフィ
    ードバック機能を有することを特徴とするトラッキング
    方法。
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