JPH0347331Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0347331Y2
JPH0347331Y2 JP3559486U JP3559486U JPH0347331Y2 JP H0347331 Y2 JPH0347331 Y2 JP H0347331Y2 JP 3559486 U JP3559486 U JP 3559486U JP 3559486 U JP3559486 U JP 3559486U JP H0347331 Y2 JPH0347331 Y2 JP H0347331Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
hole
semiconductor
plate
socket
shorting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP3559486U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS62147350U (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP3559486U priority Critical patent/JPH0347331Y2/ja
Publication of JPS62147350U publication Critical patent/JPS62147350U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0347331Y2 publication Critical patent/JPH0347331Y2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 (a) 考案の技術分野 この考案は、半導体を測定器まで搬送し、半導
体のリード線と測定器のプローブを接続するまで
の間、半導体を静電電圧から保護するために使用
する静電防止用の短絡機構付き半導体キヤリアに
関するものである。
(b) 考案の目的 この考案は、半導体を測定器まで搬送する半導
体キヤリアにおいて、半導体のリード線と測定器
のプローブを接続するまではソケツトに挿入した
半導体のリード線を接地電位に保ち、リード線と
プローブを接続するときはリード線の接地電位を
開放するようにした静電防止用の短絡機構付き半
導体キヤリアの提供を目的とする。
(c) 考案の実施例 まず、この考案による実施例の構成図を第1図
に示す。
第1図の1は半導体、2はリード線、3はソケ
ツト、4は短絡機構である。
半導体1のリード線2に静電電圧が加わると、
その静電電圧が順電圧のときは半導体1に瞬間的
に大電流が流れて半導体1が破損し、その静電電
圧が逆電圧のときは、半導体1の逆耐圧は一般に
低いので、半導体1が破損する。
そこで、図示を省略した測定器に半導体1を接
続する前に、半導体1が静電電圧で破損されない
ように、第1図ではソケツト3に挿入された半導
体1が測定器に接続されるまで、半導体1に接地
電位を与え、半導体1を静電電圧から保護するよ
うにする。
第1図のソケツト3には短絡機構4が取り付け
られており、ソケツト3と短絡機構4で半導体キ
ヤリアを構成している。
次に、ソケツト3の外観図を第2図に示す。
第2図の3Aはリード線2を挿入するための
穴、3Bは切欠き、3Cは測定器のプローブを挿
入するための穴である。
穴3Cの形状は、挿入するプローブの形状に合
わせるようにする。プローブの形は、板状の場合
もあるので、このようなときは穴3Cを角状に構
成し、プローブが円滑に挿入できるようにする。
次に、第2図の断面図を第3図に示す。
第3図から明らかなように、穴3Aと切欠き3
Bの間、穴3Aと穴3Cの間はいずれも内部で通
じるように構成されている。
したがつて、リード線2を穴3Aに挿入したと
き、短絡機構4を切欠き3Bに入れることにより
リード線2と短絡機構4を接続することができ、
またプローブ5を穴3Cから挿入することにより
リード線2とプローブ5を接続することができ
る。
次に、短絡機構4の外観図を第4図に示す。
短絡機構4は駆動板4Aと駆動板4Bで構成さ
れており、駆動板4Aと駆動板4BはL字状に連
結されている。駆動板4Aには弾性をもつた材料
を使用し、駆動板4Aの一端はソケツト3に固定
される。
短絡機構4のアングル部分を押すと、駆動板4
Bがソケツト3の切欠き3Bに入つていき、短絡
機構4のアングル部分を離すと、駆動板4Aの弾
性で駆動板4Bが切欠き3Bから出ていくよう
に、ソケツト3と短絡機構4を連結する。
駆動板4Bの部分には、短絡板6Aと短絡板6
Bが切欠き7で形成される。短絡板6Aと短絡板
6Bの長さは、ソケツト3に半導体1のリード線
2を挿入したとき、短絡板6Aと短絡板6Bがリ
ード線2に接触できるように調節される。
第1図では、説明を分かりやすくするために、
2本のリード線2を示しているが、リード線2の
数は半導体の種類により異なり、通常は複数であ
る。したがつて、短絡板6A,6Bの数と形は各
半導体に合うように決められる。
次に、この考案による説明用部分断面図を第5
図に示す。
第5図は、説明を分かりやすくするため、1本
のリード線2をソケツト3に挿入したときの部分
断面図である。
第5図では、リード線2と短絡板6Aが接触し
ている。短絡板6Aは短絡機構4によつて接地電
位が与えられているので、リード線2にも接地電
位が与えられる。
次に、第5図の変化図を第6図に示す。
第6図は、第5図の状態から短絡機構4のアン
グル部分を押した場合の状態図である。
第6図では、短絡板6Aはリード線2から離れ
るようになり、リード線2は接地電位から開放さ
れる。
この状態で、プローブ5を穴3Cから挿入すれ
ば、プローブ5とリード線2を接続することがで
き、リード線2を通して半導体1の特性を測定す
ることができる。
第4図の短絡板6A,6Bの取付位置を反対側
にした場合は、第5図、第6図の駆動板4Aの駆
動方向を反対にする。すなわち、短絡機構4のア
ングル部分をソケツト3側に押すと、リード線2
と短絡板6Aが接触するようになり、短絡機構4
のアングル部分を離すと、短絡板6Aはリード線
2から離れるようになる。
短絡機構4のアングル部分は、手動でも機械的
手段でも駆動することができる。
第5図のように、ソケツト3に半導体1を挿入
した状態で半導体1を搬送する。この際、短絡機
構4は接地状態を続けるようにする。
(d) 考案の効果 この考案によれば、ソケツトに短絡機構とプロ
ーブ接続用の穴を取り付けた半導体キヤリアを採
用しているので、ソケツトに挿入した半導体を測
定器のプローブに接続するまでの間、半導体を静
電電圧から保護することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案による実施例の構成図、第2
図はソケツト3の外観図、第3図は第2図の断面
図、第4図は短絡機構4の外観図、第5図はこの
考案による説明用部分断面図、第6図は第5図の
変化図。 1……半導体、2……リード線、3……ソケツ
ト、3A……穴、3B……切欠き、3C……穴、
4……短絡機構、4A……駆動板、4B……駆動
板、5……プローブ、6A……短絡板、6B……
短絡板、7……切欠き。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 半導体のリード挿入用の第1の穴と、第1の穴
    と直角方向に明け、第1の穴と通ずるプローブ挿
    入用の第2の穴と、側面に第1の穴と通ずる切欠
    きとをもつソケツトと、 弾性をもち、前記切欠きに出入するL字状の駆
    動板と、前記駆動板の先端に取り付け、前記ソケ
    ツトに前記リードを挿入することにより、前記リ
    ードと接触する短絡板とをもつ短絡機構とを備
    え、 第1の穴に前記リードを挿入することにより、
    前記リードに前記短絡板が接触し、前記駆動板を
    駆動することにより、前記短絡板の前記リードへ
    の接触を開放し、第2の穴にプローブを挿入する
    ことにより、前記リードとプローブとを接触させ
    ることを特徴とする短絡機構付き半導体キヤリ
    ア。
JP3559486U 1986-03-12 1986-03-12 Expired JPH0347331Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3559486U JPH0347331Y2 (ja) 1986-03-12 1986-03-12

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3559486U JPH0347331Y2 (ja) 1986-03-12 1986-03-12

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62147350U JPS62147350U (ja) 1987-09-17
JPH0347331Y2 true JPH0347331Y2 (ja) 1991-10-08

Family

ID=30845229

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3559486U Expired JPH0347331Y2 (ja) 1986-03-12 1986-03-12

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0347331Y2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS62147350U (ja) 1987-09-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4420216A (en) Connecting device
EP0284820A3 (en) Electrically connecting member, and electric circuit member and electric circuit device with the connecting member
EP0905833A3 (en) Optical device structure and fabrication method thereof
EP0294882A3 (en) High voltage semiconductor with integrated low voltage circuitry
US7336471B2 (en) Charge eliminating mechanism for stage and testing apparatus
EP0721209A3 (en) Method of testing semiconductor devices and conductive adhesive thereby used
JPH0347331Y2 (ja)
IT1291144B1 (it) Linea di alimentazione per veicolo elettrico
JPS56148848A (en) Beam lead type semiconductor device
JPS5873297A (ja) 通信ラインのタ−ミナル構造
EP0406192B1 (en) A connecting device for coaxial conductors
US4906918A (en) Temperature detector having a pyroelectric device and impedance conversion
JPS6225433A (ja) 半導体素子特性測定装置
KR0126872B1 (ko) 정전방전회로
EP0905521A3 (en) Burn-in testing device
JPS5844551Y2 (ja) カ−ドエツヂコネクタ
KR200151982Y1 (ko) 릴레이
KR930009141B1 (ko) 반도체장치의 정전파괴 방지방법
JPS6311732Y2 (ja)
JPS6138227Y2 (ja)
EP0333446A3 (en) Connecting structure for connecting conductors in an electronic apparatus
JPH05135229A (ja) メモリカード用コネクタ
FR2472863B1 (ja)
JPH0428159B2 (ja)
KR970025311A (ko) 노운 굿 다이(known good die) 검사용 장치