JPH0347242A - 眼軸長測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、被検眼の角膜に超音波探触子を接触させて超
音波信号を発射し、その超音波反射信号によって被検眼
の眼軸長を測定する眼軸長測定装置に関するものである
。

［従来の技術］ 一般に、超音波眼軸長針によって被検眼の眼軸長を測定
する場合には、被検眼を点眼薬で知覚麻痺させた後に、
角膜表面に超音波探触子の先端を押し当て、この状態で
眼球内に超音波信号を発射し、その超音波反射信号を検
出することにより角膜表面から網膜までの長さである眼
軸長を計測している。この場合に、眼球内に超音波信号
を安定的に伝播させるためには１、超音波探触子を角膜
表面に所定の圧力で押し付けることが必要である。

しかし、この押し付けによって角膜表面は若干凹むため
、従来の超音波眼軸長針ではこの凹みが計測値に誤差を
介入する原因になっている。実際の臨床現場で眼軸長を
測定する場合には、正しい眼軸長測定信号波形が検出し
難いため、被検眼の角膜に超音波探触子を当てながら微
調整することがあり、超音波探触子を所定圧力で押し付
けたとき以上に角膜が凹んでしまう虞れがある。

［発明が解決しようとする課題］ 超音波探触子の押し付けによって生ずる角膜表面の凹み
量は、たとえ押し付は圧力を一定にしても眼圧等の個人
差によって異なるために、角膜表面の凹みによる計測値
の誤差は単純に一定の補正値で補正できるものではなく
、実際の臨床上からも無視できない問題となっている。

本発明の目的は、このような従来の問題を改善するため
、測定ごとに角膜表面の凹み量を検出してその凹み量か
ら正確な補正値を求め、この補正値を用いて眼軸長計測
値が高精度に得られるようにした眼軸長測定装置を提供
することにある。

［課題を解決するための手段］ 上記の目的を達成するために、本発明に係る眼軸長測定
装置においては、被検眼の角膜に超音波探触子を所定圧
力で押し当てて眼球内の超音波反射信号を基に眼軸長を
検出する眼軸長計測手段と、該眼軸長計測手段により超
音波反射信号を検出した後に超音波探触子を角膜から離
れる方向に後退させながら該超音波探触子が被検眼の角
膜から離れる時までの移動量を検出して角膜の凹み量を
検知する検知手段と、該検知手段によって求められた凹
み量を基に前記眼軸長計測手段によって得られた眼軸長
を補正する手段とを備えたことを特徴とするものである
。

［作用］ 上記の構成を有する眼軸長測定装置は、超音波探触子が
被検眼の角膜に接触している状態での超音波反射信号波
形と、超音波探触子が角膜から離れた時の超音波反射信
号波形の切換わりを検出することによって、超音波探触
子の押圧による被検眼の角膜の凹み量を計測し、この凹
み量を用いて眼軸長計測値を正確に補正する。

［実施例］ 本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する。

第１図は本発明に係る眼軸長測定装置の一実施例を示す
ものである。基台１上には可動台２が載置され、可動台
２は操作桿３を操作することによって前後左右に移動可
能であり、また可動台２には操作桿３の基部のハンドル
４を廻すことによって上下動される載物台５が備えられ
、この載物台５には摺動案内＄ｔ！６を介して超音波探
触子７を保持しているホルダ８が取り付けられている。

ホルダ８は第２図に示すようにストロークベアリング等
の摺動部材９により極めて小さな摩擦力で前後方向に移
動できるよう支持されており、スプリング１０による微
弱な所定圧力で前方に押圧されている。このホルダ８は
眼軸長測定信号が検出されると、速やかにモータ１１及
びこれと連結した大プーリ１２、小プーリ１３．１４、
ワイヤベルト１５等から成る駆動機構によって後退させ
られると共に、その移動量は適当な検出手段例えば直線
型ポテンショメータ１６によって検知されるようになっ
ている。第２図に示すように、ワイヤベルト１５はホル
ダ８の軽い動きを妨げないように、通常はホルダ８に接
触しない状態となっているが、眼軸長測定信号が検出さ
れてモータ１１が駆動する際には、ワイヤベルト１５は
電磁チャック１７に挟まれて、ホルダ８を後方の所定位
置まで移動させるようになっている。また、基台１には
被検者の顔Ｆを固定するための顔固定台１８が設けられ
、操作桿３の頂部には測定スイッチ１９が取り付けられ
、基台ｌの前面には表示器２０が設けられている。なお
、基台１の内部には後述する電気回路部が収納されてお
り、また基台ｌの前面には図示しなん１プリンタ等が配
置されている。

第３図は被検眼Ｅの角膜Ｅｃに超音波探触子７の先端を
押し当てた状態とその場合の超音波反射信号波形を示し
、Ｅｌは水晶体、　Ｅｒは網膜であり、Ｓｌは超音波探
触子７により得られる角膜Ｅｃの表面からの超音波反射
信号波形、同様にＳ２は水晶体Ｅ１の前面からの反射信
号波形、　Ｓ３は水晶体Ｅｌの後面からの反射信号波形
、　Ｓ４は網膜Ｅｒからの反射信号波形をそれぞれ表し
ている。角膜Ｅｃの表面は超音波探触子７により一定の
圧力で押圧されて若干凹んでしまうため、角膜Ｅｃの表
面から水晶体Ｅｌの前面までの長さ、即ち第３図におい
て反射信号波形Ｓ１から８２までの間隔が短く測定され
て測定誤差を生する、この誤差は超音波探触子７の押圧
が強いほど、又は被検眼Ｅの型内圧力が低いほど大きく
なる。この状態から超音波探触子７を徐々に後退させて
ゆくと、角膜Ｅｃは固有の弾力によって膨らんでゆくた
め、第３図に示す超音波反射信号波形Ｓ１からＳ２まで
の間隔は徐々に長くなり、超音波探触子７が角膜Ｅｃか
ら離れると、第４図に示すように超音波反射信号波形５
ｌ−５４はなくなり、空気との界面信号波形ＳＯのみが
現れる。従って、これらの超音波反射信号波形の変化に
より、超音波探触子７の先端が角膜Ｅｃの表面から離れ
たことを容易に検知することができる。

第５図は電気回路部のブロック回路構成図を示し、超音
波探触子７と電気的に接続された超音波送受信部２１に
は測定スイッチ１９の出力が接続されている。また、送
受信部２１の出力は信号処理演算部２２と波形判別部２
３に接続され、更に波形判別部２３の出力は信号処理演
算部２２と移動量検出部２４に接続されている。信号処
理演算部２２の出力は移動量検出部２４、チャック・モ
ータ制御部２５、補正演算部２６にそれぞれ接続されて
いる。移動量検出部２４の出力はポテンショメータ１６
に、チャック・モータ制御部２５の出力はモータ１１及
び電磁チャック１７に、補正演算部２６の出力は表示器
２０及びプリンタ２７にそれぞれ接続されている。

測定スイッチ１９からの指令により超音波送受信部２１
は、超音波探触子７内の超音波送受信子７ａに対して所
定周期で超音波駆動信号を送信する。すると、超音波送
受信子７ａは被検眼Ｅの眼球内に超音波を発射すると共
に、眼球内の媒質の界面によって生ずる超音波エコーの
反射信号Ｓ１〜Ｓ４を受信する。ここで、受信された反
射信号Ｓ１〜Ｓ４は超音波送受信部２１を介して信号処
理演算部２２に送られ、眼軸長の計測演算が行われる。

信号処理演算部２２は眼軸長測定信号を取り込んだ時点
で、チャック・モータ制御部２５に指令を送り、電磁チ
ャック１７を駆動してワイヤベルトエ５を挟ませ、更に
モータ１１を回転させる。同時に、ポテンショメータ１
６の初期設定位置を移動量検出部２４で検知して超音波
探触子７を被検眼Ｅから離れる方向に移動させる。そし
て、波形判別部２３によって超音波反射信号が第３図に
示すような眼軸長側で信号波形Ｓ１〜Ｓ４が得られてい
る状態から、第４図に示すような信号波形ＳＯに切換わ
る時点までの超音波探触子７の移動量を検出することに
より角膜Ｅｃの凹み量を計測する。

このようにして、求められた角膜Ｅｃの凹み量と前述の
計測演算で得られた眼軸長計測値を補正演算部２６に送
り、ここで被検眼Ｅの角膜Ｅｃの凹み量を用いて眼軸長
計測値を補正演算し、その結果得られた正確な眼軸長の
値を基台１の前面に設けられた表示器２０に表示したり
、必要に応じて基台１の前面に設けたプリンタ２７に出
力する。

次に、上述の実施例の操作手順を説明すると、第１図に
示すように被検者の顔Ｆを顔固定台１８に固定した後に
、可動台２を動かして大略の位置合わせを行い、次に操
作桿３の傾動とハンドル４の回動操作により、超音波探
触子７の先端が被検眼Ｅの視軸と合致するように微調位
置合わせを行う、その後に、操作桿３を前方に傾けて超
音波探触子７の先端を被検眼Ｅの角膜Ｅｃに押し付けぎ
みに接触させる。すると、超音波探触子７のホルダ８は
若干後方に戻されるが、スプリング１０によって所定圧
力で押し付けられているため、角膜Ｅｃの表面は第３図
に示すように若干凹まされた状態になるが、超音波探触
子７の先端は角膜Ｅｃの表面に空気層を介在させること
なく確実に接触される。この状態で測定スイッチ１９を
押すと、超音波探触子７の先端から被検眼Ｅの眼球内に
超音波が発射され、第３図に示すような反射信号波形８
１〜Ｓ４が得られる。ここで、角膜Ｅｃは少し凹んでい
るため、眼軸長即ち第３図のＳｌかも８４までの距離は
若干短めになってはいるが、−旦は眼軸長測定信号波形
として取り込む、この眼軸長測定信号波形の検出時に、
超音波探触子７を保持しているホルダ８の位置を直線型
ポテンショメータ１６によって検知しておくと共に、電
磁チャック１７に通電してワイヤベルト１５を挟み付け
る０次に、超音波反射信号波形の様子を連続的に検出し
ながら、モータ１１を駆動して超音波探触子７を徐々に
後退させてゆくと、角膜Ｅｃは固有の弾性力によって超
音波探触子７と接触したまま元の球面形状に戻り始め、
やがて超音波探触子７が角膜Ｅｃの表面から離れると、
超音波反射信号波形は第４図に示すように切換わる。こ
のような超音波反射信号波形の切換わりを検知し、その
ときの超音波探触子７の移動量をポテンショメータ１６
で検出することによって、眼軸長測定信号波形を一旦取
り込んだ位置から、角膜Ｅｃが元の球面形状に戻った位
置までの長さ、つまり角膜Ｅｃの凹み量を検出すること
ができる。その後は、超音波探触子７を角膜Ｅｃに押し
当てた状態で測定した暦軸長の計測値を、前述の凹み量
を使用して補正演算することにより正確な眼軸長の値を
求めることができる。

上述の説明ではは１回の測定のみについて述べたが、複
数回繰り返して測定を行う方式にすることも可能である
０例えば、超音波探触子７を被検眼Ｅの角膜Ｅｃに押し
当てて測定を行い、次に超音波探触子７を所定位置まで
後退させながら角膜Ｅｃの凹み量を計測した値により眼
軸長値を補正演算した後に、第２図に示す電磁チャック
１７への通電を断にし、ワイヤベルト１５を解放して再
び超音波探触子７をスプリング１０の圧力で、被検眼Ｅ
の角膜Ｅｃに押し当てて測定を繰り返すことにより眼軸
長を一層正確に求めることができる。

［発明の効果］ 以上説明したように本発明に係る眼軸長測定装置は、眼
軸長を測定するごとに、超音波探触子の押圧によって生
ずる被検眼の角膜の凹み量を求め、この凹み量を使用し
て眼軸長計測値を補正するため、超音波探触子の押圧力
や眼圧の個人差等に影響されることなく、常に正確な眼
軸長値が得られるという利点がある。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明に係る眼軸長測定装置の一実施例を示し、
第１図は全体の構成図、第２図は電磁チャック部の平面
図、第３図は眼軸長測定状態の説明図と超音波反射信号
波形の波形図、第４図は超音波探触子が角膜から離れた
時の超音波反射信号波形の波形図、第５図は電気回路部
のブロック回路構成図である。 符号７は超音波探触子、８はホルダ、９は摺動部材、１
０はスプリング、１１はモータ、１５はワイヤベルト、
１６はポテンショメータ、１７は電磁チャック、２１は
超音波送受信部、２２は信号処理演算部、２３は波形判
別部、２４は移動量検出部、２５はチャック・モータ制
御部、２６は補正演算部である。 第４図 第５図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、被検眼の角膜に超音波探触子を所定圧力で押し当て
   て眼球内の超音波反射信号を基に眼軸長を検出する眼軸
   長計測手段と、該眼軸長計測手段により超音波反射信号
   を検出した後に超音波探触子を角膜から離れる方向に後
   退させながら該超音波探触子が被検眼の角膜から離れる
   時までの移動量を検出して角膜の凹み量を検知する検知
   手段と、該検知手段によって求められた凹み量を基に前
   記眼軸長計測手段によって得られた眼軸長を補正する手
   段とを備えたことを特徴とする眼軸長測定装置。