JPH0346791A - エレクトロルミネッセンス表示素子 - Google Patents
エレクトロルミネッセンス表示素子Info
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- JPH0346791A JPH0346791A JP1182105A JP18210589A JPH0346791A JP H0346791 A JPH0346791 A JP H0346791A JP 1182105 A JP1182105 A JP 1182105A JP 18210589 A JP18210589 A JP 18210589A JP H0346791 A JPH0346791 A JP H0346791A
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Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、電気信号に応答して発光するエレクトロルミ
ネッセンス表示素子に関する。
ネッセンス表示素子に関する。
背景技術
電気信号に応答して多色表示するカラー表示装置として
はブラウン管が広く利用されている。装置の薄型化のた
めに液晶型表示素子も開発されている。更に、完全固体
型として高輝度の発光が得られるエレクトロルミネッセ
ンス(以下ELという)を用いた表示素子も開発されて
いる。
はブラウン管が広く利用されている。装置の薄型化のた
めに液晶型表示素子も開発されている。更に、完全固体
型として高輝度の発光が得られるエレクトロルミネッセ
ンス(以下ELという)を用いた表示素子も開発されて
いる。
かかるELL示素子は構造で分類すると、電極とEL層
との間に絶縁層又は誘電層をもたない直流形と、電極と
EL層との間に絶縁層をもつ交流形とに分類され、該゛
交流形のものはドツトマトリクスEL表示素子として適
している。
との間に絶縁層又は誘電層をもたない直流形と、電極と
EL層との間に絶縁層をもつ交流形とに分類され、該゛
交流形のものはドツトマトリクスEL表示素子として適
している。
また、ELL示素子を発光するEL層で分類すると、E
L層物質の微粒子をバインダで結合させ塗布形成した分
散形と、EL層物質で蒸着、スパッタ等の薄膜形成方法
で成膜した薄膜形とに分けられる。
L層物質の微粒子をバインダで結合させ塗布形成した分
散形と、EL層物質で蒸着、スパッタ等の薄膜形成方法
で成膜した薄膜形とに分けられる。
第10図にX、Yマトリクス型の二重絶縁形交流EL表
示素子の概略断面を示す。該ELL示素子は、ガラス透
明基板1上に、ITO等の複数の透明電極2、第1絶縁
層3.EL層4、第2絶縁層5、電極2に交差する複数
の背面電極6を順に積層、形成したものである。EL層
4はZnS。
示素子の概略断面を示す。該ELL示素子は、ガラス透
明基板1上に、ITO等の複数の透明電極2、第1絶縁
層3.EL層4、第2絶縁層5、電極2に交差する複数
の背面電極6を順に積層、形成したものである。EL層
4はZnS。
Zn5e、CaS、SrS等の■−■属金属化合物の半
導体物質を母体物質として数%の発光中心物質を含む層
である。
導体物質を母体物質として数%の発光中心物質を含む層
である。
かかるELL示素子の発光機構は、背面電極6と透明電
極2との間に電圧を印加して第1及び第2絶縁層5を介
してEL層4に電界が印加される。
極2との間に電圧を印加して第1及び第2絶縁層5を介
してEL層4に電界が印加される。
かかる印加電界によりEL層4の発光領域Aの母体物質
中に自由電子が発生し、電界での自由電子が加速されて
高エネルギー状態のホットエレクトロンになる。このホ
ットエレクトロンがEL層4の発光中心物質を励起して
、励起状態の緩和により所定スペクトル分布を有する発
光をする。発光色はEL層4の母体物質と発光中心物質
の組合せで決定される。例えば、ZnSを母体物質とす
る場合、発光中心物質がSmでは赤色発光を呈し、同様
にMnでは黄色発光、Tbでは緑色発光、Tmでは青色
発光を呈する。
中に自由電子が発生し、電界での自由電子が加速されて
高エネルギー状態のホットエレクトロンになる。このホ
ットエレクトロンがEL層4の発光中心物質を励起して
、励起状態の緩和により所定スペクトル分布を有する発
光をする。発光色はEL層4の母体物質と発光中心物質
の組合せで決定される。例えば、ZnSを母体物質とす
る場合、発光中心物質がSmでは赤色発光を呈し、同様
にMnでは黄色発光、Tbでは緑色発光、Tmでは青色
発光を呈する。
第11図の背面電極6側から見た平面図に示すように、
かかるELL示素子はX、Yマトリクスの構造なので、
交差した電極2.6間のEL層4に画素すなわち発光領
域Aが形成される。
かかるELL示素子はX、Yマトリクスの構造なので、
交差した電極2.6間のEL層4に画素すなわち発光領
域Aが形成される。
しかしながら、EL層の発光領域Aで生じた光のうち、
かなりの部分は第10図の星印から発する光の如くEL
層4、絶縁層3,5、ガラス基板1等の内部を横方向に
伝わり吸収されてしまい、外部へ取り出すことが出来な
い。これがELL示素子の効率が良くない(lj! m
/w程度)ことの原因のひとつとなっている。
かなりの部分は第10図の星印から発する光の如くEL
層4、絶縁層3,5、ガラス基板1等の内部を横方向に
伝わり吸収されてしまい、外部へ取り出すことが出来な
い。これがELL示素子の効率が良くない(lj! m
/w程度)ことの原因のひとつとなっている。
これは、現在主流である母材がZnSからなるEL層4
とY203からなる絶縁層3,5とを有するELL示素
子の場合、EL層4の屈折率が2゜3 (ZnS)とき
わめて大きく、絶縁層が屈折率1.8 (Y203
)のものではその界面で全反射をおこすためである。こ
の現象によって失われる光量は全体の172〜2/3と
いわれている。
とY203からなる絶縁層3,5とを有するELL示素
子の場合、EL層4の屈折率が2゜3 (ZnS)とき
わめて大きく、絶縁層が屈折率1.8 (Y203
)のものではその界面で全反射をおこすためである。こ
の現象によって失われる光量は全体の172〜2/3と
いわれている。
例えば、下記の第1表に各層の材質と屈折率を示した第
12図に示す積層構造のELL示素子における光路とそ
の表面から得られる光量を調べて試る。
12図に示す積層構造のELL示素子における光路とそ
の表面から得られる光量を調べて試る。
尚、絶縁層3.5は各々誘電体層Bと保護層Aとからな
っており、保護層SiO2は誘電体であるY2O3を外
部から保護するために設けられ、絶縁層は多層化されて
いる。
っており、保護層SiO2は誘電体であるY2O3を外
部から保護するために設けられ、絶縁層は多層化されて
いる。
第1表
外部に導出できる光は各層間の界面における臨界角に依
存するので、各界面についての光路を求める。第12図
の右に示すEL層層内内1点Pから発した光は入射角θ
に応じて図中のA−Dの光路に分類できる。
存するので、各界面についての光路を求める。第12図
の右に示すEL層層内内1点Pから発した光は入射角θ
に応じて図中のA−Dの光路に分類できる。
A)入射角51.50’以上の光AはEL層(ZnS)
/誘電体層(Y203 )の界面で全反射し、EL層内
に閉じ込められる。
/誘電体層(Y203 )の界面で全反射し、EL層内
に閉じ込められる。
B)入射角39.08°〜51.50 ’の範囲の光B
は誘電体層(Y203 ) /保護層(S i02 )
の界面で全反射し、両誘電体層(Y203 )及びEL
層(ZnS)内に閉じ込められる。
は誘電体層(Y203 ) /保護層(S i02 )
の界面で全反射し、両誘電体層(Y203 )及びEL
層(ZnS)内に閉じ込められる。
C)入射角25.77 @〜39.08°の範囲の光は
基板(S i 02 ) /外部(空気)界面で全反射
し、基板〜保護層及び背面電極(Agにより全反射)内
に閉じ込められる。
基板(S i 02 ) /外部(空気)界面で全反射
し、基板〜保護層及び背面電極(Agにより全反射)内
に閉じ込められる。
D)入射角06〜25.77 @の範囲の光りは外部へ
取り出される。
取り出される。
さらに、点Pから上方すなわち反射層6へ向かう点Pか
ら入射角θ−153,23’〜180 ’の範囲で放射
された光は、背面の保護層(StOz)/電極(1!
)の界面に達し、そこで反射されて入射角0〜25.7
7°の光として外部へ取り出される。
ら入射角θ−153,23’〜180 ’の範囲で放射
された光は、背面の保護層(StOz)/電極(1!
)の界面に達し、そこで反射されて入射角0〜25.7
7°の光として外部へ取り出される。
同様に、入射角θ−α(90°くα<180’)で放射
された光は入射角θ−180”−αの光と同じふるまい
をする。
された光は入射角θ−180”−αの光と同じふるまい
をする。
従って、直接外部へ取り出される光量は、上記D)に分
類される光のみが外部へ取り出される。
類される光のみが外部へ取り出される。
A)〜C)に相当する光は、上述したようにEL層4、
絶縁層3,5、ガラス基板1等の内部を横方向に伝わり
吸収されてしまい、外部へ取り出すことが出来ない。た
だし、A)〜C)に相当する光が散乱により外部に取り
出され得ること、D)に相当する光でも膜界面で屈折率
差によって反射が生じたり、吸収が生じたりすることの
影響は考えない。またP点からの放射は等方的であると
している。
絶縁層3,5、ガラス基板1等の内部を横方向に伝わり
吸収されてしまい、外部へ取り出すことが出来ない。た
だし、A)〜C)に相当する光が散乱により外部に取り
出され得ること、D)に相当する光でも膜界面で屈折率
差によって反射が生じたり、吸収が生じたりすることの
影響は考えない。またP点からの放射は等方的であると
している。
1点Pから頂角δの円錐が作る立体角は4π5in2δ
/4である。従って上記D)に属する光量についてのP
点から等方的に放射する全発光量に対する割合は、δ−
2X 25.77 ’及び上方へ放出される光も取り出
されることから、 4π 従って、直接外部へ取り出し得る光量は、高々10%で
あることが判る。尚、この値は、EL層の屈折率2.3
と外界(空気)の屈折率1.0との相対屈折率で決まる
ものであるから、平面積層膜構造をとる限り、この値を
大きくすることはできない。
/4である。従って上記D)に属する光量についてのP
点から等方的に放射する全発光量に対する割合は、δ−
2X 25.77 ’及び上方へ放出される光も取り出
されることから、 4π 従って、直接外部へ取り出し得る光量は、高々10%で
あることが判る。尚、この値は、EL層の屈折率2.3
と外界(空気)の屈折率1.0との相対屈折率で決まる
ものであるから、平面積層膜構造をとる限り、この値を
大きくすることはできない。
発明の概要
[発明の目的]
本発明の目的は、EL表示素子の輝度の向上にある。
[発明の構成]
本発明のEL表示素子は、互いに対向する少なくとも一
対の電極と前記電極間に配置されかつ絶縁層により覆わ
れたEL層とを有し、前記EL層の前記電極によって挾
まれる部分を発光領域とし、前記EL層の屈折率が前記
絶縁層のそれより大であるEL表示素子であって、前記
EL層は前記発光領域毎に分離されかつその端面におい
ては前記EL層及び前記絶縁層の界面の法線方向に対し
て傾斜した傾斜面を有していることを特徴とする。
対の電極と前記電極間に配置されかつ絶縁層により覆わ
れたEL層とを有し、前記EL層の前記電極によって挾
まれる部分を発光領域とし、前記EL層の屈折率が前記
絶縁層のそれより大であるEL表示素子であって、前記
EL層は前記発光領域毎に分離されかつその端面におい
ては前記EL層及び前記絶縁層の界面の法線方向に対し
て傾斜した傾斜面を有していることを特徴とする。
[発明の作用]
発光領域毎に分離されたEL層の端面において前記EL
層及び前記絶縁層の界面の法線方向に対して傾斜した傾
斜面を設けることにより、横方向に進行する発光の部分
を傾斜面にて全反射させて外部に取り出し、素子全体と
して増光を達成する。
層及び前記絶縁層の界面の法線方向に対して傾斜した傾
斜面を設けることにより、横方向に進行する発光の部分
を傾斜面にて全反射させて外部に取り出し、素子全体と
して増光を達成する。
実施例
以下に、本発明による実施例を図面を参照しっ説明する
。
。
第1図及び第2図は本実施例におけるX、 Yマトリク
ス型のEL表示素子の部分断面図及び平面図である。第
2図は第1図のI−r線に沿った部分断面図である。図
示されるこのEL表示素子は、基板1上に透明電極2、
第1絶縁層3、EL層4、第2絶縁層5及び背面電極6
を順に形成したものであって、EL層4はその発光領域
毎に各々分離して設けられている。EL層4は0.3〜
1.0μmの膜厚に成膜することが好ましい。EL層4
は、母体物質として例えば硫化亜鉛Z n S s発光
中心物質として例えば上記したSm、Mn、Tt)及び
Tmなどから選ばれる。こうしたEL層4は良好な発光
特性を得るために発達した結晶構造を有するものである
ことが望ましい。また、予めZnSの母体層を形成して
おいてその上に発光中心物質を付着させて熱拡散法によ
って短波長の発光中心物質を含有するEL層を形成して
もよい。
ス型のEL表示素子の部分断面図及び平面図である。第
2図は第1図のI−r線に沿った部分断面図である。図
示されるこのEL表示素子は、基板1上に透明電極2、
第1絶縁層3、EL層4、第2絶縁層5及び背面電極6
を順に形成したものであって、EL層4はその発光領域
毎に各々分離して設けられている。EL層4は0.3〜
1.0μmの膜厚に成膜することが好ましい。EL層4
は、母体物質として例えば硫化亜鉛Z n S s発光
中心物質として例えば上記したSm、Mn、Tt)及び
Tmなどから選ばれる。こうしたEL層4は良好な発光
特性を得るために発達した結晶構造を有するものである
ことが望ましい。また、予めZnSの母体層を形成して
おいてその上に発光中心物質を付着させて熱拡散法によ
って短波長の発光中心物質を含有するEL層を形成して
もよい。
このように、X、Yマトリクスパネルにおいて、各発光
領域すなわち画素(1本のX電極と1本のY電極の交点
)毎にEL層が分離されている。また、第1及び第5絶
縁層3.5には、Y2O,。
領域すなわち画素(1本のX電極と1本のY電極の交点
)毎にEL層が分離されている。また、第1及び第5絶
縁層3.5には、Y2O,。
Ta205.SiN、Sm20.、Si、N4゜Ag2
0sからなる群から選ばれる物質からなる高い誘電率の
誘電体層を含めて多層化して、EL層にかかる電圧を大
きくする構造となすことが好ましい。これら絶縁層3.
5は、0.3〜0.6μ−の膜厚で形成される。
0sからなる群から選ばれる物質からなる高い誘電率の
誘電体層を含めて多層化して、EL層にかかる電圧を大
きくする構造となすことが好ましい。これら絶縁層3.
5は、0.3〜0.6μ−の膜厚で形成される。
かかるELL示素子の製造においては、まず、基板1上
に、従来方法例えばスパッタリング法等を用いて、透明
電極2、絶縁層3、EL層4を順に形成し、その後、所
定の画素すなわち発光領域の周囲をエツチングすること
によってEL層4の分割を行う。EL層4の分割時のエ
ツチングは湿式あるいは乾式の等方性エツチング又は等
方性プラズマエツチングを使用することが好ましく、こ
れによって、分割されたEL層4の端面には第1図に示
す如き各層の界面の法線方向(W)に対して傾斜した傾
斜面10(テーバ部)を形成する。
に、従来方法例えばスパッタリング法等を用いて、透明
電極2、絶縁層3、EL層4を順に形成し、その後、所
定の画素すなわち発光領域の周囲をエツチングすること
によってEL層4の分割を行う。EL層4の分割時のエ
ツチングは湿式あるいは乾式の等方性エツチング又は等
方性プラズマエツチングを使用することが好ましく、こ
れによって、分割されたEL層4の端面には第1図に示
す如き各層の界面の法線方向(W)に対して傾斜した傾
斜面10(テーバ部)を形成する。
この後に、分離した複数のEL層層上上絶縁層5を積層
し、対応する背面電極6も形成する。
し、対応する背面電極6も形成する。
このようにすれば、第3図に示すように、分離したEL
層4中のある発光中心(星印A)から生じた光は、EL
層内を横方向へ伝わった後に、この傾斜面10(テーパ
部)で反射し、外部へ取り出せる。
層4中のある発光中心(星印A)から生じた光は、EL
層内を横方向へ伝わった後に、この傾斜面10(テーパ
部)で反射し、外部へ取り出せる。
さらに、他の実施例においては、各画素が大きい場合、
更に光量を大きくすることができる。すなわち、第4図
に示すように、星印A点がら左へ進む光はテーパ部10
で反射されA′点で外部へ取り出されるが、右へ進む光
は対向するテーパ部へとどく前に内部で吸収される(破
線矢印)。これはEL層にも光吸収率があるためである
。そこで、第5図に示すように、この画素すなわち発光
領域をV字断面溝11によって更に分割することにより
テーパ部を画素中で増加させることもできる。例えば、
第6図の平面図に示すように、画素を4分割してテーパ
部を倍にすることができる。
更に光量を大きくすることができる。すなわち、第4図
に示すように、星印A点がら左へ進む光はテーパ部10
で反射されA′点で外部へ取り出されるが、右へ進む光
は対向するテーパ部へとどく前に内部で吸収される(破
線矢印)。これはEL層にも光吸収率があるためである
。そこで、第5図に示すように、この画素すなわち発光
領域をV字断面溝11によって更に分割することにより
テーパ部を画素中で増加させることもできる。例えば、
第6図の平面図に示すように、画素を4分割してテーパ
部を倍にすることができる。
このとき、横方向の光が取り出せる(増光)けれども、
分割構分の発光面積が減る(減光)ことになる。しかし
、どれくらいの面積を越えた場合に分割した方が良いか
という点については、「横方向へ進行する光量の全体光
量に対する割合」。
分割構分の発光面積が減る(減光)ことになる。しかし
、どれくらいの面積を越えた場合に分割した方が良いか
という点については、「横方向へ進行する光量の全体光
量に対する割合」。
rEL層内の吸収率」、「テーパ部を設けることによる
改善率」のパラメータを得ることによって解消できる。
改善率」のパラメータを得ることによって解消できる。
このように、本発明の特徴は、EL層が発光領域毎に分
離されかつその端面においてはEL層及び絶縁層の界面
の法線方向に対して傾斜した傾斜面を有していることで
ある。
離されかつその端面においてはEL層及び絶縁層の界面
の法線方向に対して傾斜した傾斜面を有していることで
ある。
そこで、本来EL層中に閉じ込められ無効となる発光が
テーパ部によって取り出せることに関して、具体的に、
EL層の横方向への伝播における各層の界面の法線方向
(W)に対して傾斜したテーパ部の角度OL(以下テー
バ角αという)に対する光取り出しによる増加光量の依
存性を調べてみる。
テーパ部によって取り出せることに関して、具体的に、
EL層の横方向への伝播における各層の界面の法線方向
(W)に対して傾斜したテーパ部の角度OL(以下テー
バ角αという)に対する光取り出しによる増加光量の依
存性を調べてみる。
第7図に示すように、EL層4の一部にテーパ部10を
設け、そのまわりをY2O3の誘電体層3B、5Bで被
った構造であって、第1表に掲げた素子の各層の材質と
屈折率と同様のものを作成する。テーパ部がEL層4/
誘電体層5Bの界面をなすので、点Pから入射角θで進
んだ光がテーパ部AB上の0点で反射されOQ力方向進
んでテーパ部10のEL層4/誘電体層3Bの界面から
外部に取り出される条件を求める。
設け、そのまわりをY2O3の誘電体層3B、5Bで被
った構造であって、第1表に掲げた素子の各層の材質と
屈折率と同様のものを作成する。テーパ部がEL層4/
誘電体層5Bの界面をなすので、点Pから入射角θで進
んだ光がテーパ部AB上の0点で反射されOQ力方向進
んでテーパ部10のEL層4/誘電体層3Bの界面から
外部に取り出される条件を求める。
点Oにおける反射面であるテーパ部ABへの入射角βは
簡単な計算により、 β−180°−α−θ で与えられる。同様に反射後のEL層4/誘電体層3B
の界面への入射角γは、 γ−180”−2α−θ である。あるテーバ角αの値に対しである入射角θの範
囲にある光のみが、テーパ部によって新たに外部へ取り
出されるはずである。以下[1]〜[3コにおいて、新
たに外部へ光を取り出すために入射角θが満すべき条件
を求める。
簡単な計算により、 β−180°−α−θ で与えられる。同様に反射後のEL層4/誘電体層3B
の界面への入射角γは、 γ−180”−2α−θ である。あるテーバ角αの値に対しである入射角θの範
囲にある光のみが、テーパ部によって新たに外部へ取り
出されるはずである。以下[1]〜[3コにおいて、新
たに外部へ光を取り出すために入射角θが満すべき条件
を求める。
[11EL層の平行界面間に光を閉じ込める条件=EL
EL層内光の閉じ込め条件は次の如くである。
EL層内光の閉じ込め条件は次の如くである。
EL層4をZnS、その周囲の誘電体層3B。
5BをY2O3とした場合、両者の界面で全反射が生じ
る条件は、ZnS (n−2j )、Y203(n=1
.8)の臨界角が51.50°であることから、51.
50°くθ<180°−51,50’、’、51.50
”<θ< 128.50’・・・・・・I)である。尚
、最終的には立体角で考えるために、入射角θは0〜1
80’の角度間で考える。この範囲にない入射角θを持
つ光は誘電体層(Y203 )より外へ進むためにテー
バ部に達する可能性は小さいので考慮しない。
る条件は、ZnS (n−2j )、Y203(n=1
.8)の臨界角が51.50°であることから、51.
50°くθ<180°−51,50’、’、51.50
”<θ< 128.50’・・・・・・I)である。尚
、最終的には立体角で考えるために、入射角θは0〜1
80’の角度間で考える。この範囲にない入射角θを持
つ光は誘電体層(Y203 )より外へ進むためにテー
バ部に達する可能性は小さいので考慮しない。
[2]テ一バ部ABで全反射する条件:テーバ部ABで
全反射する条件は次の如くである。
全反射する条件は次の如くである。
テーバ部ABに対する入射角βがβ> 51.50’で
あればPO力方向進む光はOQ力方向全反射する。また
入射角βは90@より小さい。従って、51.50@<
180 @−α−θく90@、’、90°−αくθ<
128.50−α・・・・・・If−1)である。
あればPO力方向進む光はOQ力方向全反射する。また
入射角βは90@より小さい。従って、51.50@<
180 @−α−θく90@、’、90°−αくθ<
128.50−α・・・・・・If−1)である。
しかし、ここで1つの考慮が必要である。EL層内のあ
る点(例えば第7図左のP′)から、角度δで放射され
た光は全反射を繰返す毎にδ又は180’−δのどちか
らの角度でテーバ部に入射する。式1l−1)において
、例えばα−45°とした時に得られる入射角θの範囲
は45°〜83,5°であるが、例えばδ−too ”
で発した光が奇数回の反射の後にテーバ部に達したとす
れば、入射時の入射角θは80° (−180@−10
0’ )であり、全反射条件を満たす。以上の様に第8
図に示す如く、式1l−1)より得られた入射角θ1く
θくθ2 (これを範囲lとする)に対して180°−
θ2くθく180 ”・−θI (これを範囲+1とす
る)を追加する必要がある。
る点(例えば第7図左のP′)から、角度δで放射され
た光は全反射を繰返す毎にδ又は180’−δのどちか
らの角度でテーバ部に入射する。式1l−1)において
、例えばα−45°とした時に得られる入射角θの範囲
は45°〜83,5°であるが、例えばδ−too ”
で発した光が奇数回の反射の後にテーバ部に達したとす
れば、入射時の入射角θは80° (−180@−10
0’ )であり、全反射条件を満たす。以上の様に第8
図に示す如く、式1l−1)より得られた入射角θ1く
θくθ2 (これを範囲lとする)に対して180°−
θ2くθく180 ”・−θI (これを範囲+1とす
る)を追加する必要がある。
第8図左のある点Pからの範囲lあるいは範囲ifに含
まれる角度で放射された光が、何回かEL層の中で全反
射をくり返した後にテーバ部A B l;l:入射する
時、その角度が全反射条件である範囲1にある確率を考
える。すなわち、範囲1.11がオーバーラツプしない
場合(第8図左)は確率1/2と考えてよいであろう。
まれる角度で放射された光が、何回かEL層の中で全反
射をくり返した後にテーバ部A B l;l:入射する
時、その角度が全反射条件である範囲1にある確率を考
える。すなわち、範囲1.11がオーバーラツプしない
場合(第8図左)は確率1/2と考えてよいであろう。
オーバーラツプする場合(第8図左)はオーバーラツプ
する範囲の光は必ずテーバ部ABで全反射する。これら
を統合して考えるためには範囲1.1iの各々に対して
、その範囲に含まれる光の1/2がテーバ部ABで全反
射すると考えれば良いことがわかる。
する範囲の光は必ずテーバ部ABで全反射する。これら
を統合して考えるためには範囲1.1iの各々に対して
、その範囲に含まれる光の1/2がテーバ部ABで全反
射すると考えれば良いことがわかる。
すなわち、以下の条件を得る。
90−αくθ< 128.50−α ・・・・・・Il
−1)51.50+αくθく90+α ・・・・・・1
i−11)ただし、各々の範囲について光量を1/2と
して算出し、最後に加算する。
−1)51.50+αくθく90+α ・・・・・・1
i−11)ただし、各々の範囲について光量を1/2と
して算出し、最後に加算する。
尚、全反射しない場合(上記入射角θの範囲外)でも、
界面での反射はある。例えばβが50″で54%、45
°で14%が反射し、取り出し得る光を増加させるが、
ここでは無視する。
界面での反射はある。例えばβが50″で54%、45
°で14%が反射し、取り出し得る光を増加させるが、
ここでは無視する。
[3]テ一パ部ABで反射した光が外部へ取り出される
条件: テーバ部ABで反射した光が外部へ取り出される条件は
次の如くである。最終的に空気中に光が取り出されるた
めには、第7図の入射角γはγ−180@−2r−θで
示されEL層(Z n S)の屈折率2.3と空気の屈
折率1.0により、±25.77゜の範囲にあることが
必要である。
条件: テーバ部ABで反射した光が外部へ取り出される条件は
次の如くである。最終的に空気中に光が取り出されるた
めには、第7図の入射角γはγ−180@−2r−θで
示されEL層(Z n S)の屈折率2.3と空気の屈
折率1.0により、±25.77゜の範囲にあることが
必要である。
従って、−25,77” <γ< 25.77’、°、
154.23” −2αくθ<205.77’ −2α
・・・・・・111)の条件を得る。
154.23” −2αくθ<205.77’ −2α
・・・・・・111)の条件を得る。
以上の[1]〜[3]の条件をまとめると以下の如くに
なる。
なる。
EL層(Z n S)内に角度テーバ角αのテーバ部を
設けることで、以下の光を更に取り出すことができる光
は、光の進行方向が、 51.50 @<θ< 128.50’ −α。
設けることで、以下の光を更に取り出すことができる光
は、光の進行方向が、 51.50 @<θ< 128.50’ −α。
90°−αくθ< 128.50’−α、及び154.
23’ −2αくθ<205.77’ −2αを同時に
満す光の1/2、 または、51.50 ’ +a<θ< 128.50”
51.50 ” + a <θ<90’ +a、及び1
54.23@−2αくθ<205.77@−2αを同時
に満す光の1/2である。
23’ −2αくθ<205.77’ −2αを同時に
満す光の1/2、 または、51.50 ’ +a<θ< 128.50”
51.50 ” + a <θ<90’ +a、及び1
54.23@−2αくθ<205.77@−2αを同時
に満す光の1/2である。
具体的にテーパ部の角度を得るためには、テーパ角αの
値によって入射角θの範囲に場合分けが生じる。その結
果を以下の第2表に示す。
値によって入射角θの範囲に場合分けが生じる。その結
果を以下の第2表に示す。
各テーパ角αに対応する入射角θの範囲より立体角を求
めることで新たに取り出し得る増加光量をもとめた。こ
の場合、発光は等方的に放射しているとしてその光量を
100%とした。得られた増加光量を第9図に示した。
めることで新たに取り出し得る増加光量をもとめた。こ
の場合、発光は等方的に放射しているとしてその光量を
100%とした。得られた増加光量を第9図に示した。
以上の如く、周囲に定屈折率絶縁層を有さないEL層の
横方向へ進行する光の取り出しに対するテーパ角αの最
適条件はα〜37″程度であり、このとき、全光量の2
0%以上を更に取り出すことが可能である。テーパ部を
設けない平面積層構造場合の取り出し効率が約10%で
あることを考えると、この方法により3倍の光量が得ら
れることが判る。
横方向へ進行する光の取り出しに対するテーパ角αの最
適条件はα〜37″程度であり、このとき、全光量の2
0%以上を更に取り出すことが可能である。テーパ部を
設けない平面積層構造場合の取り出し効率が約10%で
あることを考えると、この方法により3倍の光量が得ら
れることが判る。
このように、EL層において増光となる条件は、EL層
とまわりの絶縁層またはその誘電体層との臨界角を、 として、EL層と空気との臨界角を、 と各々定義する角度とすると、 上記l)式から、 ψ1くθ<180”−ψ1・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・■上記11−1)及び1l−1
1)式から、90@−αくθ< 180°−ψ鵞−α・
・・・・・・・・■ψ!+α〈θ〈9011+α・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・■′上記111
)式から、 180 ” −ψ2−211< θく180°
+ψ2−2α・・・・・・■ が得られる。これにおいて、■、■、■を同時にみたす
か、又は■、■′、■を同時にみたすθがあるテーパ角
α(0″≦α≦90”)に対して存在するときに光量増
大が得られる。
とまわりの絶縁層またはその誘電体層との臨界角を、 として、EL層と空気との臨界角を、 と各々定義する角度とすると、 上記l)式から、 ψ1くθ<180”−ψ1・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・■上記11−1)及び1l−1
1)式から、90@−αくθ< 180°−ψ鵞−α・
・・・・・・・・■ψ!+α〈θ〈9011+α・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・■′上記111
)式から、 180 ” −ψ2−211< θく180°
+ψ2−2α・・・・・・■ が得られる。これにおいて、■、■、■を同時にみたす
か、又は■、■′、■を同時にみたすθがあるテーパ角
α(0″≦α≦90”)に対して存在するときに光量増
大が得られる。
例えば、EL層をZnS (屈折率2.30) 、ソ1
7)まわりの絶縁層すなわち誘電体層をY2O3(屈折
率1.80)とした場合には、取り出せる光量の増大が
得られ、テーパ角αの範囲は、21.4度〜77.0度
となる。
7)まわりの絶縁層すなわち誘電体層をY2O3(屈折
率1.80)とした場合には、取り出せる光量の増大が
得られ、テーパ角αの範囲は、21.4度〜77.0度
となる。
以上の如く、EL層内にテーバ部付の溝を設けることに
より、無効となる光の取り出しは次の■〜■の条件に支
配されることが判る。
より、無効となる光の取り出しは次の■〜■の条件に支
配されることが判る。
■EL層(Z n S)内への光の閉じ込め条件はEL
層とその周囲の層の物質との屈折率比で決定される。
層とその周囲の層の物質との屈折率比で決定される。
■テーバ部における全反射条件も同様にEL層とその周
囲の物質との屈折率比に支配される。
囲の物質との屈折率比に支配される。
■発光の直接取り出し条件は、EL層と空気との屈折率
比で決定される。
比で決定される。
発明の効果
以上の如く、本発明のEL表示素子によれば、発光領域
毎に分離されたEL層の端面において、EL層及び絶縁
層の界面の法線方向に対して傾斜した傾斜面を有した構
造としているので、そのEL層の傾斜面から発光の層方
向に進行する部分光をより多く取り出すことができEL
表示素子の輝度の向上が達成される。
毎に分離されたEL層の端面において、EL層及び絶縁
層の界面の法線方向に対して傾斜した傾斜面を有した構
造としているので、そのEL層の傾斜面から発光の層方
向に進行する部分光をより多く取り出すことができEL
表示素子の輝度の向上が達成される。
第1図及び第2図は本発明のEL表示素子の部分断面図
及び部分平面図、第3図、第4図、第5図、第7図及び
第8図は本発明のEL表示素子のEL層の部分拡大断面
図、第6図は本発明の他の実施例のEL表示素子の部分
平面図、第9図は本発明のEL表示素子の増加光量を示
すグラフ、第10図は従来のEL表示素子の部分断面図
、第11図は従来のEL表示素子の部分平面図、第12
図は従来のEL表示素子の部分拡大断面図である。 主要部分の符号の説明 1・・・・・・基板 2・・・・・・透明電極 3.5・・・・・・絶縁層 4・・・・・・EL層 6・・・・・・電極 10・・・・・・傾斜面 A・・・・・・発光領域
及び部分平面図、第3図、第4図、第5図、第7図及び
第8図は本発明のEL表示素子のEL層の部分拡大断面
図、第6図は本発明の他の実施例のEL表示素子の部分
平面図、第9図は本発明のEL表示素子の増加光量を示
すグラフ、第10図は従来のEL表示素子の部分断面図
、第11図は従来のEL表示素子の部分平面図、第12
図は従来のEL表示素子の部分拡大断面図である。 主要部分の符号の説明 1・・・・・・基板 2・・・・・・透明電極 3.5・・・・・・絶縁層 4・・・・・・EL層 6・・・・・・電極 10・・・・・・傾斜面 A・・・・・・発光領域
Claims (4)
- (1)互いに対向する少なくとも一対の電極と前記電極
間に配置されかつ絶縁層により覆われたエレクトロルミ
ネッセンス層とを有し、前記エレクトロルミネッセンス
層の前記電極によって挾まれる部分を発光領域とし、前
記エレクトロルミネッセンス層の屈折率が前記絶縁層の
それより大であるエレクトロルミネッセンス表示素子で
あって、前記エレクトロルミネッセンス層は、前記発光
領域毎に分離されかつその端面においては前記エレクト
ロルミネッセンス層及び前記絶縁層の界面の法線方向に
対して傾斜した傾斜面を有していることを特徴とするエ
レクトロルミネッセンス表示素子。 - (2)前記エレクトロルミネッセンス層は母体物質及び
発光中心物質からなり、前記母体物質はZnSであり、
前記発光中心物質はSm、Mn、Tb及びTmからなる
群から選ばれる物質であることを特徴とする請求項1記
載のエレクトロルミネッセンス表示素子。 - (3)前記絶縁層は、Y_2O_3,Ta_2O_5,
SiN,Sm_2O_3,Si_3_4N,Al_2O
_3からなる群から選ばれる物質からなる誘電体層を含
むことを特徴とする請求項1記載のエレクトロルミネッ
センス表示素子。 - (4)前記絶縁層は、前記誘電体層を保護するSiO_
2からなる保護層を含むことを特徴とする請求項1記載
のエレクトロルミネッセンス表示素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1182105A JPH0346791A (ja) | 1989-07-14 | 1989-07-14 | エレクトロルミネッセンス表示素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1182105A JPH0346791A (ja) | 1989-07-14 | 1989-07-14 | エレクトロルミネッセンス表示素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0346791A true JPH0346791A (ja) | 1991-02-28 |
Family
ID=16112426
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1182105A Pending JPH0346791A (ja) | 1989-07-14 | 1989-07-14 | エレクトロルミネッセンス表示素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0346791A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001067018A (ja) * | 1999-06-21 | 2001-03-16 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | El表示装置およびその駆動方法並びに電子装置 |
KR101110136B1 (ko) * | 2009-09-08 | 2012-01-31 | 주식회사 케이피엠테크 | 습식 피부미용팩용 전류인가장치 |
US9837451B2 (en) | 1999-04-27 | 2017-12-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electronic device and electronic apparatus |
-
1989
- 1989-07-14 JP JP1182105A patent/JPH0346791A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9837451B2 (en) | 1999-04-27 | 2017-12-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electronic device and electronic apparatus |
JP2001067018A (ja) * | 1999-06-21 | 2001-03-16 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | El表示装置およびその駆動方法並びに電子装置 |
US8941565B2 (en) | 1999-06-21 | 2015-01-27 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | EL display device, driving method thereof, and electronic equipment provided with the EL display device |
US9659524B2 (en) | 1999-06-21 | 2017-05-23 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device including substrate having cavity, and method for fabricating the light-emitting device |
KR101110136B1 (ko) * | 2009-09-08 | 2012-01-31 | 주식회사 케이피엠테크 | 습식 피부미용팩용 전류인가장치 |
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