JPH0346544A - Automatic inspecting device for bandlike body - Google Patents

Automatic inspecting device for bandlike body

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Publication number
JPH0346544A
JPH0346544A JP18228289A JP18228289A JPH0346544A JP H0346544 A JPH0346544 A JP H0346544A JP 18228289 A JP18228289 A JP 18228289A JP 18228289 A JP18228289 A JP 18228289A JP H0346544 A JPH0346544 A JP H0346544A
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JP
Japan
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inspecting
inspection
defect
strip
tab tape
Prior art date
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Pending
Application number
JP18228289A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Naoharu Ohigata
大日方 直晴
Jiro Ono
二郎 大野
Toshiro Matsubara
松原 俊郎
Haruhiro Tokida
晴弘 常田
Takaaki Wada
和田 孝章
Yukio Fujimura
藤村 幸男
Hiroshi Kaneko
宏 金子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Steel Corp
Nidec Instruments Corp
Original Assignee
Nippon Steel Corp
Sankyo Seiki Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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  • Controlling Rewinding, Feeding, Winding, Or Abnormalities Of Webs (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
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Abstract

PURPOSE:To improve the work efficiency by guiding selectively a visual observation inspecting means and an image pickup means to a detected part of a defect of a bandlike body (TAB tape), based on information from an inspecting means. CONSTITUTION:While a bandlike body 3 is fed out of a supply reel 1 and wound to a take-up reel 11, whether its defect exists or not is inspected at every prescribed area by an automatic inspecting part 31. In this case, a verification part 41 for bringing the bandlike body 3 to image pickup and sending an image pickup signal to an image display means, and a visual observation inspecting part 51 for bringing the same bandlike body 3 to visual observation are guided selectively to a detected part of the defect of the bandlike body 3 by a moving means, for instance, a rack base using an XY table, based on information of the inspecting part 31. Accordingly, a worker observes a video signal of a defect part sent from a verification part 41 at all times, through an image display means, and can execute the observation directly by switching to a microscope of the inspecting part 51 by the moving means in accordance with necessity.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、帯状体の自動検査装置に関し、たとえばTA
B方式による集積回路(IC)の実装に用いられるTA
Bテープに損傷や欠落したパターン等の暇疵があるか否
かを自動検査するTABテープ検査装置において特に好
適な帯状体の自動検査装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an automatic strip inspection device, such as a TA
TA used for mounting integrated circuits (IC) using B method
The present invention relates to an automatic strip inspection device that is particularly suitable for use in a TAB tape inspection device that automatically inspects whether a B tape has defects such as damage or missing patterns.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

′rAB (Tape  Automated  B。 'rAB (Tape Automated B.

nding)方式はICチップの実装技術のひとつとし
て知られており、加工精度が高く、−括ボンディングが
可能という特徴故に広く使用されている。このTAB方
式に用いられるTABテープ(「フィルムキャリアテー
プ」とも呼ばれる。)は、たとえばボリイ稟ドよりなる
フィルム上にICをボンディングするための銅リードが
形成されたものであり、1つのICがボンディングされ
る1フレームが映画フィルムのコマの如く多数連続して
リールに巻回されている。
The nding method is known as one of the IC chip mounting techniques, and is widely used because of its high processing accuracy and ability to perform bulk bonding. The TAB tape (also called "film carrier tape") used in this TAB method is made of a film made of, for example, polygon, on which copper leads are formed for bonding ICs. Each frame is continuously wound around a reel like the frames of a movie film.

このTABテープは実際にICをボンディングする前に
、銅リードの損傷や欠落等の暇疵がないかどうかを検査
する必要がある。かかる検査を行うTABテープ検査装
置としモ、パターンマツチングなどの画像認識技術を用
いて各フレーム毎に自動的に検査を行うTABテープ検
査装置が知られている(たとえばTABフィルムキャリ
ア・リード検査システム、MV−5100、東し株式会
社製〉。しかし、上記装置による検査結果は認識精度の
問題から場合によっては必ずしも完全なものではないこ
とがあり、作業者がTABテープを実際に観察して瑕疵
の有無を判断しなければならない場合がある。このため
、通常のTABテープ検査装置では、自動検査部の後段
にテレビモニタに瑕疵がある部分を映しだすためのテレ
ビカメラを設けるか、或いは瑕疵がある部分を拡大して
直接人間が目視により観察するための顕微鏡を設けてい
る。
Before actually bonding an IC, this TAB tape must be inspected for defects such as damage or missing copper leads. TAB tape inspection devices that perform such inspections are known, such as TAB tape inspection devices that automatically inspect each frame using image recognition technology such as pattern matching (for example, TAB film carrier/lead inspection system). , MV-5100, manufactured by Toshi Co., Ltd.) However, the inspection results obtained by the above-mentioned device may not always be complete due to recognition accuracy issues, and the operator must actually observe the TAB tape to detect defects. For this reason, with normal TAB tape inspection equipment, a TV camera is installed after the automatic inspection unit to show the defective part on the TV monitor, or if there is a defect. A microscope is installed to magnify a certain area for direct visual observation by humans.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかしながら、テレビカメラは映像をテレビモニタに映
し出すために見易いという利点がある反面、細かい暇疵
を見分けるには解像度が不十分な場合がある。一方、顕
微鏡は瑕疵がある部分を拡大する機能は十分であっても
、目を接眼レンズに当てて観察しなければならず見易さ
の点でテレビモニタよりも劣るという問題点があった。
However, although television cameras have the advantage of being easy to view because they display images on a television monitor, the resolution may not be sufficient to discern small defects. On the other hand, although a microscope has a sufficient function to magnify a defective area, it has the problem that it is inferior to a television monitor in terms of ease of viewing because it requires placing the eye against the eyepiece for observation.

本発明は、上記課題を解決することができる帯状体の自
動検査装置を提供することを目的とするものである。
An object of the present invention is to provide an automatic strip inspection device that can solve the above problems.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

前記の目的を遠戚するための本発明は、帯状体が供給手
段から送出され巻取手段に巻き取られる間に、検査手段
により所定領域毎にその帯状体の瑕疵の有無を検査する
帯状体の自動検査装置において、 前記帯状体を撮像して画像表示手段に撮像信号を送る撮
像手段と、この撮像手段で撮像される前記帯状体を目視
観察するための目視検査手段と、この目視検査手段と前
記撮像手段とを前記検査手段からの情報に基づいて選択
的に前記帯状体上の暇疵の検出された箇所に案内する案
内手段とを設けたことを特徴とするものである。
To achieve the above-mentioned object, the present invention provides a belt-shaped body in which the presence or absence of defects in the belt-shaped body is inspected for each predetermined region by an inspection means while the belt-shaped body is sent out from a supplying means and wound up by a winding means. The automatic inspection device includes: an imaging means that images the strip and sends an imaging signal to an image display means; a visual inspection means for visually observing the strip imaged by the imaging means; and a visual inspection means. and a guide means for selectively guiding the imaging means to a location on the strip where a flaw is detected based on information from the inspection means.

〔作用〕[Effect]

本発明は前記の構成により、撮像手段と顕微鏡とは検査
手段からの情報に基づいて同一の移動手段、たとえばX
Yテーブルを用いた架台によりTABテープ上の瑕疵の
検出された箇所に選択的に案内されるので、作業者は、
常時は撮像手段から送られる暇疵部分の映像信号を画像
表示手段、たとえばテレビモニタを介して観察し、必要
に応じて同一の瑕疵部分を、移動手段により撮像手段か
ら顕微鏡に切り替えて直接観察することができる。
In the present invention, with the above configuration, the imaging means and the microscope are moved by the same moving means, for example, X
A stand using a Y table selectively guides the operator to the location where defects are detected on the TAB tape.
Normally, the video signal of the defective part sent from the imaging means is observed through an image display means, such as a television monitor, and if necessary, the same defective part is directly observed by switching from the imaging means to the microscope using the moving means. be able to.

〔実施例〕〔Example〕

以下に本発明の一実施例を第1図及び第2図を参照して
説明する。第2図は本発明の一実施例であるTABテー
プ検査装置の基本構成図、第1図はそのベリフィケーシ
ョン部と目視検査部との概略構造図である。第1図及び
第2図において、本装置はTABテープ(帯状体)3を
供給する供給リール(供給手段)1と、TABテープ3
を巻き取る巻取リール(巻取手段〉 11とを有する。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 and 2. FIG. 2 is a basic configuration diagram of a TAB tape inspection device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 1 is a schematic diagram of its verification section and visual inspection section. 1 and 2, this device includes a supply reel (supply means) 1 that supplies a TAB tape (band-shaped body) 3, and a TAB tape 3.
It has a take-up reel (winding means) 11 for winding up.

また、供給リール1と巻取リール11との間には、位置
検出装fi21、自動検査部(検査手段〉31、ベリフ
ィケーション部41、目視検査部(目視検査手段)51
、パンチャ61及びスプライサ81等がTABテープ3
の供給側から順に設けられている。さらに、これらの装
置を手動で操作するための操作部71も有する。
Further, between the supply reel 1 and the take-up reel 11, there is a position detection device fi21, an automatic inspection section (inspection means) 31, a verification section 41, and a visual inspection section (visual inspection means) 51.
, the puncher 61, splicer 81, etc. are attached to the TAB tape 3.
are provided in order from the supply side. Furthermore, it also has an operation section 71 for manually operating these devices.

TABテープ3がS回されている供給リール1には、T
ABテープどうしの接触による損傷等を防ぐための保護
膜となるインタリーバ5も同時に巻回されている。リー
ル7はこのインタリーバ5をTABテープ3とは別に巻
き取るためのものである。逆に、検査が終了したTAB
テープ3を巻取リール11で巻き取る場合にはり−ル1
7から別のインタリーバ15が送り出され、再びTAB
テープ3と共に巻取リール11に巻回される。
The supply reel 1 on which the TAB tape 3 is being rotated has a T
An interleaver 5, which serves as a protective film to prevent damage caused by contact between the AB tapes, is also wound at the same time. The reel 7 is for winding the interleaver 5 separately from the TAB tape 3. On the other hand, the TAB that has been inspected
When winding tape 3 with take-up reel 11, reel 1
Another interleaver 15 is sent out from 7, and again TAB
It is wound together with the tape 3 onto a take-up reel 11.

位置検出装W21は2組の検出器23・25を含むもの
であり、検出器23・25は両者ともTABテープ3の
下側の発光手段から光を発し、TABテープ3の縁辺に
設けられたスプロケット穴を通過する光をTABテープ
3の上側の受光手段で受光することによりTABテープ
3の位置を検出する。検出器23は現在検査されている
TABテープ3のフレームの位置を知るため、及びTA
Bテープ3の終端部を検知するために用いられる。
The position detection device W21 includes two sets of detectors 23 and 25. Both of the detectors 23 and 25 emit light from light emitting means on the lower side of the TAB tape 3, and are provided at the edge of the TAB tape 3. The position of the TAB tape 3 is detected by receiving the light passing through the sprocket hole with the light receiving means on the upper side of the TAB tape 3. The detector 23 is used to know the position of the frame of the TAB tape 3 currently being inspected, and
It is used to detect the end of the B tape 3.

一方、検出器25は所定数のフレーム毎に搬送されるT
ABテープ3が自動検査部31の所定位置で停止してい
るか否かを検知し、停止位置にずれがある場合に、位置
を修正するために用いられる。
On the other hand, the detector 25 detects T
It is used to detect whether or not the AB tape 3 has stopped at a predetermined position in the automatic inspection section 31, and to correct the position if there is a deviation in the stopped position.

検査手段となる自動検査部3工は画像認識技術を用いて
各フレーム毎に損傷やパターンの逸脱等の暇疵について
の検査を自動的に行う部分であり、具体的にはラインセ
ンサカメラ33により得られたフレーム画像を信号処理
装置35に送り、この画像と予め記憶した基準となる画
像とのパターンマツチングを行うことで瑕疵の有無を判
断する。
The automatic inspection section 3, which serves as the inspection means, is a section that uses image recognition technology to automatically inspect each frame for defects such as damage and pattern deviation. The obtained frame image is sent to the signal processing device 35, and the presence or absence of a defect is determined by performing pattern matching between this image and a reference image stored in advance.

TABテープ3上の烟疵があるフレームの位置はこの信
号処理装置35を介して記憶装置(図示せず)に記憶す
る。この自動検査部31に接続されているオフライン対
話システム101は、自動検査部31が損傷等を判断す
る基準を任意に変更可能とするものである。−口に損傷
や寸法のずれといってもその態様には種々のものがあり
、実装されるICに要求される精度の違い等によって不
良と判断すべき基準が異なる。したがって、このオフラ
イン対話システム101を設けることにより、TABテ
ープ3の用途や要求される品質に柔軟に対応することが
できる。
The position of the defective frame on the TAB tape 3 is stored in a storage device (not shown) via the signal processing device 35. The offline dialog system 101 connected to the automatic inspection section 31 allows the automatic inspection section 31 to arbitrarily change the criteria for determining damage and the like. - There are various types of damage and dimensional deviations, and the criteria for determining defects differ depending on the accuracy required for the IC to be mounted. Therefore, by providing this offline dialogue system 101, it is possible to flexibly respond to the uses and required quality of the TAB tape 3.

ベリフィケーション部41は自動検査部31によって検
査された暇疵のある部分を撮像手段であるテレビカメラ
45で捉え、テレビモニタ47に映しだすためのもので
あり、目視検査部51は同じく瑕疵がある部分を光学的
な顕微鏡53 (たとえば、実体顕微鏡〉によって拡大
し、直接観察できるようにしたものである。これらは自
動検査部31によって検出された服疵部分を作業者が実
際に見て確認することができると共に、自動検査部31
が故障したり、何らかの理由で使用できない場合に作業
者によるTABテープ3の検査を可能とする。
The verification section 41 captures the defective parts inspected by the automatic inspection section 31 with a television camera 45 serving as an imaging means and displays them on a television monitor 47, and the visual inspection section 51 similarly detects defects. A certain part is magnified with an optical microscope 53 (for example, a stereomicroscope) so that it can be directly observed.These are parts that allow an operator to actually see and confirm the clothing flaws detected by the automatic inspection section 31. In addition, the automatic inspection section 31
To enable an operator to inspect the TAB tape 3 when the TAB tape 3 is out of order or cannot be used for some reason.

移動手段(案内手段)は、テレビカメラ45と顕微鏡5
3とが取着された架台91と、架台91を移動自在に支
持するxyテーブル93と、架台91上でテレビカメラ
45と顕微鏡53との位置を切り替える切替部(図示せ
ず)とを含むものである。ベリフィケーション部41の
位置制御部43は移動手段の制御部をも含むものであり
、自動検査部31の信号処理語W35により検出された
TH疵部分の位置情報を受は取ると、架台91をXYテ
ーブル93上で2次元的に移動し、テレビカメラ45又
は顕微鏡53の対物レンズを瑞疵部分の位置に合わせる
。また、テレビカメラ45と顕微鏡53とは、TABテ
ープ3上の同−瑠疵部分を観察するために切替部により
架台91上で切り替え可能な構造となっている。たとえ
ば第3図(a)に示すように瑞疵部分が検出されたX点
上にテレビカメラ45が位置合わせされた状態で、テレ
ビカメラ45と顕微鏡53とを同時に摺動して、同図(
b)に示すように顕微鏡53の対物レンズがX点に自動
的に合うように構成されている。
The moving means (guiding means) is a television camera 45 and a microscope 5.
3, an xy table 93 that movably supports the pedestal 91, and a switching unit (not shown) that switches the positions of the television camera 45 and the microscope 53 on the pedestal 91. . The position control unit 43 of the verification unit 41 also includes a control unit for the moving means, and upon receiving the position information of the TH defect portion detected by the signal processing word W35 of the automatic inspection unit 31, the position control unit 43 of the verification unit 41 is moved two-dimensionally on the XY table 93, and the objective lens of the television camera 45 or microscope 53 is aligned with the position of the flawed portion. Furthermore, the television camera 45 and the microscope 53 are configured to be switchable on the pedestal 91 by a switching unit in order to observe the same scratched portion on the TAB tape 3. For example, as shown in FIG. 3(a), with the television camera 45 aligned on the point
As shown in b), the objective lens of the microscope 53 is configured to automatically align with the X point.

また、図示しないが、テレビカメラ45と顕微鏡53と
を90度又は180度回転することにより両者を切り替
えるようにしてもよい。このように移動手段に切替部を
設けることにより、テレビカメラ45と顕微鏡53とを
迅速に切り替えることができる。
Although not shown, the television camera 45 and the microscope 53 may be switched by rotating them by 90 degrees or 180 degrees. By providing the switching unit in the moving means in this way, it is possible to quickly switch between the television camera 45 and the microscope 53.

一般にテレビモニタ47に映し出される映像は見易いと
いう利点があるが、細かな瑕疵に対して解像度が不十分
な場合がある。一方、光学的な顕微鏡53は接眼レンズ
に目を当てて見なくてはならないので見にくいが、高い
解像度が得られるという利点がある。本実施例によれば
、作業者は操作部71のインプットボタン73によって
テレビカメラ45と顕微鏡53とを切り替えることによ
り、TABテープ3上の同−服疵部分を、必要に応して
どちらででも自由に観察することができる。
Generally, the video displayed on the television monitor 47 has the advantage of being easy to view, but the resolution may not be sufficient for small defects. On the other hand, the optical microscope 53 has the advantage of providing high resolution, although it is difficult to see because it requires placing your eye on the eyepiece. According to this embodiment, by switching between the television camera 45 and the microscope 53 using the input button 73 of the operation unit 71, the operator can inspect the same flawed part on the TAB tape 3 with either of them as necessary. It can be observed freely.

瑕疵が検出されたフレームにはICは実装されないので
、実質的にそのフレームは不要となる。
Since no IC is mounted on a frame in which a defect has been detected, the frame is essentially unnecessary.

しかし、瑕疵が連続する多数のフレームに亘って検出さ
れる場合を除き、暇疵のあるフレームは削除せず、IC
の実装段階でそのフレームを飛ばしてICを実装する。
However, unless a defect is detected over a large number of consecutive frames, frames with defects are not deleted and the IC
At the mounting stage, the frame is skipped and the IC is mounted.

パンチャ61は自動検査部31の信号処理装置35から
堰疵を検出した旨の情報を受は取ると、暇疵のあるフレ
ームがパンチャ61の位置に移送されるのを待って動作
し、TABテープ3に穿孔する。このとき設けられる孔
は人間が肉眼で容易にそれと分かる程度の直径、たとえ
ば5I11とする。
When the puncher 61 receives information that a weir flaw has been detected from the signal processing device 35 of the automatic inspection section 31, it waits until the frame with the flaw is transferred to the position of the puncher 61, and then operates to remove the TAB tape. Drill a hole in 3. The diameter of the hole provided at this time is such that it can be easily recognized with the naked eye, for example, 5I11.

また自動検査部31が単に瑕疵の有無だけでなく暇疵の
種類を特定する機能をも有する場合には、それに応じた
マーキングを行うようにしてもよい。
Furthermore, if the automatic inspection section 31 has a function of not only identifying the presence or absence of defects but also the type of defects, marking may be performed accordingly.

パンチャ61は、上記のように信号処理装置35の制御
の下で動作させる代わりに、操作部71のインプットボ
タン73によって穿孔を中止させることもできる。この
ようにすれば自動検査部31が瑕疵と判断した部分であ
っても、作業者がへりフィケーション部41又は目視検
査部51で確認した結果、ICの実装が可能であると最
終的に判断した場合には、そのフレームに穿孔すること
を回避できる。この場合にも退疵の種類に応じて、複数
種類のマーキングが可能である。本実施例ではパンチャ
61を用いたが、肉眼で認識できるものであればその他
のものでもよく、たとえば瑕疵のあるフレームに特別の
文字や記号を付着するこ1 となどが考えられる。
Instead of operating the puncher 61 under the control of the signal processing device 35 as described above, punching can also be stopped by the input button 73 of the operation unit 71. In this way, even if the automatic inspection section 31 determines that the part is defective, the operator can check it in the helification section 41 or the visual inspection section 51 and ultimately determine that it is possible to mount the IC. If so, it is possible to avoid drilling holes in the frame. In this case as well, multiple types of markings are possible depending on the type of scratch. Although the puncher 61 is used in this embodiment, other punches may be used as long as they can be recognized with the naked eye.For example, special characters or symbols may be attached to a defective frame.

スプライサ81はTABテープ3の連続するフレームに
亘って瑕疵が多数検出された場合にその連続するいくつ
かのフレームを切除し、その部分の前後を再び接合する
装置である。第4図はこのスプライサ81の概略斜視図
である。TABテープ3に所定数以上のフレーム(たと
えば、lOフレーム以上)に亘って連続して暇疵が検出
されたときは、瑕疵のあるフレームについての情報が自
動検査部31の信号処理装置35からスプライサ81に
送られる。スプライサ81はこの情報に基づいて連続し
て服疵のある部分を専用のカッタ83でカットするとと
もに、この切除した部分の前部3aの端面と後部3bの
端面とを第4図に示すように突き合わせてスプライシン
グテープ85で接合する。この後、成形カッタ87を第
4図の矢印Y方向に回動して倒すことにより、スプライ
シングテープ83のTABテープ3からはみ出した部分
をカントすると同時に、スプライシングテープ83にス
プロケット孔をあける。このようにし2 て、検査されたTABテープ3から所定数以上連続して
MTKがあるフレームを取り除くことができる。
The splicer 81 is a device that, when a large number of defects are detected across consecutive frames of the TAB tape 3, cuts out several consecutive frames and rejoins the front and back of the part. FIG. 4 is a schematic perspective view of this splicer 81. When a defect is continuously detected on the TAB tape 3 over a predetermined number of frames or more (for example, 10 frames or more), information about the defective frames is transmitted from the signal processing device 35 of the automatic inspection section 31 to the splicer. Sent to 81. Based on this information, the splicer 81 continuously cuts the flawed part using a special cutter 83, and cuts the end face of the front part 3a and the end face of the rear part 3b of this cut part as shown in FIG. They are butted together and spliced with splicing tape 85. Thereafter, by rotating and tilting the forming cutter 87 in the direction of arrow Y in FIG. 4, the portion of the splicing tape 83 protruding from the TAB tape 3 is canted, and at the same time, a sprocket hole is made in the splicing tape 83. In this way, it is possible to remove a predetermined number or more consecutive frames with MTK from the inspected TAB tape 3.

尚、上記の実施例では、移動手段に切替部を設けた場合
について説明したが、移動手段は切替部を用いずに、架
台とXYテーブルとでテレビカメラとIJ微鏡とを切り
替えるようにしてもよい。
In the above embodiment, a case was explained in which the switching unit is provided in the moving means, but the moving means does not use a switching unit and switches between the television camera and the IJ microscope using a mount and an XY table. Good too.

また、上記の実施例ではTABテープの検査装置を例に
して説明したが、本発明は上記実施例に限らず、一般の
長尺状物品の検査装置に広く応用することが可能である
Furthermore, although the above embodiments have been described using an inspection apparatus for TAB tape as an example, the present invention is not limited to the above embodiments, but can be widely applied to inspection apparatuses for general long articles.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明によれば、検査手段によって
暇疵が検出された帯状体上の瑕疵部分を、画像表示手段
及び目視検査手段の何れでも観察に適した方を任意に選
択して観察することができるので、作業能率の向上を図
ることができる帯状体の自動検査装置を提供することが
できる。また、本発明によれば、画像表示手段と目視検
査手段とを設けているので、たとえ一方が故障等の理由
で使用不可能となった場合でも、検査ラインを停止する
ことなく瑕疵がある部分を観察することができる帯状体
の自動検査装置を提供することができる。
As explained above, according to the present invention, a defective portion on a strip where a defect has been detected by the inspection means is observed by arbitrarily selecting either the image display means or the visual inspection means, whichever is suitable for observation. Therefore, it is possible to provide an automatic strip inspection device that can improve work efficiency. Further, according to the present invention, since the image display means and the visual inspection means are provided, even if one of them becomes unusable due to a failure or the like, the defective part can be inspected without stopping the inspection line. It is possible to provide an automatic strip inspection device that can observe the following.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はべりフィケーション部と目視検査部との概略構
造図、第2図は本発明の一実施例を示す装置の概略構成
図、第3図はテレビカメラと顕微鏡とを切り替えた状態
を示す動作説明図、第4図はスプライサの概略を示す斜
視図である。 1・・・供給リール、3・・・TABテープ、5・15
・・・インタリーバ、 7・17・・・リール、11・・・巻取リール、21・
・・位置検出装置、23・25・・・検出器、31・・
・自動検査部・ 41・・・ベリフィケーション部、 51・・、目視検査部、53・・・顕微鏡、61・・・
パンチャ、71・・・操作部、81・・・スプライサ、
91・・・架台、93・・・XYテーブル、 0 オフライン対話システム。
Fig. 1 is a schematic structural diagram of a verification section and a visual inspection section, Fig. 2 is a schematic structural diagram of an apparatus showing an embodiment of the present invention, and Fig. 3 shows a state in which a television camera and a microscope are switched. FIG. 4 is a perspective view schematically showing the splicer. 1... Supply reel, 3... TAB tape, 5.15
...Interleaver, 7.17..Reel, 11..Take-up reel, 21..
...Position detection device, 23, 25...Detector, 31...
・Automatic inspection section・ 41... Verification section, 51... Visual inspection section, 53... Microscope, 61...
Puncher, 71... operation unit, 81... splicer,
91... Frame, 93... XY table, 0 Offline dialogue system.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 帯状体が供給手段から送出され巻取手段に巻き取られる
間に、検査手段により所定領域毎にその帯状体の瑕疵の
有無を検査する帯状体の自動検査装置において、 前記帯状体を撮像して画像表示手段に撮像信号を送る撮
像手段と、この撮像手段で撮像される前記帯状体を目視
観察するための目視検査手段と、この目視検査手段と前
記撮像手段とを前記検査手段からの情報に基づいて選択
的に前記帯状体上の瑕疵の検出された箇所に案内する案
内手段とを設けたことを特徴とする帯状体の自動検査装
置。
[Scope of Claims] In an automatic strip inspection device for inspecting the presence or absence of defects in the strip in each predetermined area by inspection means while the strip is sent out from the supply means and wound up by the winding means, an imaging means for imaging a strip and sending an imaging signal to an image display means; a visual inspection means for visually observing the strip imaged by the imaging means; and the visual inspection means and the imaging means 1. An automatic inspection device for a strip, comprising a guide means for selectively guiding the guide to a location where a defect is detected on the strip based on information from the inspection means.
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