JPH0344525A - 光測定器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、測定対象、例えばコンビエータ用デイスプレ
ィやＴＶのホワイトバランスを測定する光測定器に係り
、特に測定データに温度補正を施すようにした光測定器
に関する。

〔従来の技術〕

近年、コンピュータ用デイスプレィやＴＶのホワイトバ
ランスを測定する光測定器には高精度のものが要求され
ている。ところが、この光測定器を構成する光センサと
該光センサの出力を増幅する増幅回路を含む光電変換部
は温度変化の影響を受は易く、このため要求される高精
度を維持するために種々の対策が講じられている。

第９図は光電変換部の入射光と出力ｖｏＵＴとの特性線
を温度をパラメータにして示したものである。この図よ
り、温度変化による受光部の出力変化はＬＩ　　Ｌ２、
Ｌ３で示すようにオフセットのレベル及び特性線の傾斜
として表われる。

従来、これに対する温度補償として、サーミスタ等の感
熱素子を使用して、回路上で補正することが一般的にな
されていた。第１０図はその一例を示す回路図である。

同図において、オペアンプＯＰの再入力端子間には光セ
ンサＰＣ１が接続されている。上記オペアンプＯＰの出
力端は次段ＡＤＣ２０に接続されるとともに、抵抗Ｒと
サーミスタＲＴＨからなる直列回路に接続されている。

また、この中点は抵抗ＲＦを介して非反転入力端子に接
続されている。

そして、上記出力ｖｏＵＴはＡＤＣ２０でデジタルデー
タに変換され、更にＣＰＵ３０に導かれて後述する温度
補正を施された後、表示装置４０に表示される。なお、
５０は受光部を覆うキャップである。

上記回路において、電圧ＶＲＦ及び出力ＶＯＵＴは、 ＶＲＦ−−（ＩＰ＋ＩＢ）　・Ｒｙ＋ＶｏｙＦ・・・・
・・（１） Ｖｏｕｒ＃　（Ｒ＋ＲＴＨ）／ＲＴＨＩＩＶＲｙ−（Ｒ
十ＲＴＨ）／ＲＴＨ（− （ＩＰ＋ＩＢ）　　・Ｒｐ＋Ｖｏｐｐ）・・・・・・〈
２） ここで、ＩＰは光電流、ＩＢはオペアンプの非反転入力
端子からの電流、ｖｏ　Ｆ　Ｆはオペアンプのオフセッ
ト電圧 となる。

以下、従来の温度補正の方法について説明する。

（１）オフセット変化の補正 受光部をキャップ５０で覆って入射光を遮ると、すなわ
ちＩＰ−０にする（以下、リセ・ソトという）と、（１
）　、（２）式は、 ＶＲＦ　／ｄａｒｋ　−−Ｉ　Ｂ　　ＩＩＲＦ　＋ＶＯ
ｙ　ｙＶｏｕＴ／ｄａｒｋ−（Ｒ＋ＲＴＨ）／ＲＴＨ・
（−１Ｂ　　−Ｒｐ＋Ｖｏｙｙ） となり、上記Ｖｏ　ｕ　Ｔ　／ｄａｒｋをＡＤＣ２０で
デジタルデータに変換してそのデータをＣＰＵ３０内の
メモリに記憶する。そして、光センサＰＣ１による測定
毎にこのデータを減算することで、補正を行う。

ところで、リセット時の温度が変化したときは、上記（
２〉式（７）Ｒ７Ｈ，ＩＢ、Ｖ□ｐｙに従って第９図に
示したＬＩ　　　Ｌ２　、Ｌ３のようにオフセットのレ
ベルＶｏυ７　／　ｄａｒｋのデータが変化するため、
測定時には再度前記の調整をして、正確な温度補正を行
う。

（２）傾斜変化の補正 感熱素子であるサーミスタＲＴＨは通常温度が高くなる
に従って抵抗値が減少するもので、前記電圧ＶＲＦは高
温になる程、第９図に示すようにその傾斜が小さくなる
。

と二″ろで、例えば温度５０℃、２０℃、−１０℃のと
きの（２）式の（Ｒ十ＲＴＨ）／ＲＴＨが、Ｒ＋ＲＴＨ
１５０℃／ＲＴＨ１５０℃ ＞Ｒ十Ｒ７Ｈ／２０℃／ＲＴＨ／２０℃＞　Ｒ＋　Ｒ７
Ｈ７−ｔｏ℃／　ＲＴ　Ｈ／−１０℃の関係になる様、
サーミスタＲＴＨに直列、あるいは並列に抵抗を接続す
ることによって、上記（Ｒ＋ＲＴＨ）／ＲＴＨの温度に
対する変化を所望の変化率に設定することが可能である
。

従って、今ＶＲＦの温度変化率を１／Ｋ　（Ｔ）とおく
と、抵抗値ＲとＲＴＨを適当に選ぶことにより、 Ａ　−Ｋ　（Ｔ）＝　（Ｒ十ＲＴＨ）／ＲＴＨここで、
Ａは定数 が得られ、これを前記（２）式に代入すると、ｖＯＵＴ
−Ａ−Ｋ（Ｔ）・ｖＲＦ −Ａ　−Ｋ　（Ｔ）　　・Ｖ−ＲＦ　／Ｋ　（Ｔ）−Ａ
−Ｖ″ＲＦ となり、ｖｏｕＴは温度と無関係に一定の傾斜が得られ
る。なお、Ｖ−ＲＦは温度とは無関係で、入射光のみに
関与する関数である。

この温度変化率を一定にした状態の電圧ＶＲＦと入射光
との関係を第１１図に示す。このように、各特性線の傾
斜を平行になるように補正することにより、温度の変化
を考慮する必要がなくなる。

従って、このような補正回路を備えた光測定器では、先
ず、リセットによりオフセットのレベルＶｏ　ｕ　Ｔ　
／ｄａｒｋのデータＮＱを求め、次に測定時の測定レベ
ルＶｏＵＴのデータＮ１を求め、更にＣＰＵ３０でＮｔ
−ＮＱを演算することにより温度補正された測定データ
を求めることができる。

〔発明が解決しようとする課題〕

従来の温度補正技術では、光測定器の操作者には光セン
サの温度が不明であるために、いつリセットが必要か分
からず、従って精度の確保のため測定毎にリセットが要
求されるため測定作業に長時間を費やし、実用的でない
。一方、光センサの温度を監視する別の温度計を配設す
ると、操作者に測定毎に４度をチエツクすることが要求
され、測定作業が煩わしくなる。

また、サーミスタの抵抗値Ｒ１の温度特性は、Ｒ１−Ｒ
２８ＸＩ）　Ｂ　（１／Ｔｔ　−１／Ｔ２　）ここで、
Ｒ１は’ｒｉ　　（Ｋ）時の抵抗値Ｒ２はＴ２　　（Ｋ
）時の抵抗値 Ｂはサーミスタ定数 で示される。この場合、通常サーミスタの抵抗値の温度
特性と希望する抵抗値の特性は必ずしも一致しないため
、サーミスタと直列、並列に抵抗を接続して所望の抵抗
値の温度特性に合わしているが、サーミスタは上式の抵
抗値Ｒ２やサーミスタ定数Ｂが比較的大きなばらつきを
有するため、サーミスタ自体の抵抗値のばらつきが大き
くなる。

従って、正確な温度補償を行うためには、各サーミスタ
のばらつきに合った抵抗が選定されねばならないが、多
種類の抵抗を用意することは困難であるとともに、本装
置の生産作業を複雑にす°る。

一方、可変抵抗器を用いると、高価かつ大型化を招くこ
とになる。

また、サーミスタの特性が正確に把握できても全ての温
度について温度補償がされるものではなく、実際は数点
程度であり、充分とは言い難い。

本発明は上記に鑑みてなされたもので、温度センサを内
蔵するとともに光センサの温度特性をメモリに記憶して
、測定温度範囲内で正確に温度補償する光測定器を提供
することを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

本発明は、光センサを用いて測定する光ＡＮ定器におい
て、上記光センサで受光し、その光の強度に応じた電気
量を出力する光電変換部と、上記光電変換部の温度を測
定する温度センサと、上記光電変換部の温度特性を記憶
した第１のメモリと、所定の基準温度において入射光に
対して正しい測定値が得られるように校正する校正手段
と、上記校正時の温度を記憶する第２のメモリと、測定
時に上記光電変換部の出力と上記温度センサの出力及び
上記第１、第２のメモリの内容に基づいて温度補正され
たａＰＪ定値を演算する演算手段とを備えたものである
。

また、光センサを用いて測定する光測定器において、上
記光センサで受光し、その光の強度に応じた電気量を出
力する光電変換部と、上記光電変換部の温度を測定する
温度センサと、上記光電変換部のオフセット値を測定す
るオフセット値測定手段と、上記オフセット値を記憶す
る第３のメモリと、上記オフセット値測定時に上記温度
センサによって得られる温度を記憶する第４のメモリと
、測定時の測定値から上記第３のメモリに記憶されたオ
フセット値を減算する演算手段と、測定時の温度と上記
第４のメモリに記憶されたオフセット値測定時の温度と
の差が所定温度以上のとき警告を行う警告手段とを備え
たものである。

〔作用〕

本発明に係る光測定器によれば、予め光電変換部の温度
特性、及び校正時の温度を記憶しておき、測定時に得ら
れる測定値は、測定時と校正時の各温度及び温度特性に
よって温度補正が行われる。

また、測定時に、光センサによる測定時の測定データか
らオフセット値を減算して温度補正を行い、一方、この
ときの温度と上記オフセット値測定時の温度との差が所
定温度以上のときは警告を行う。

【実施例〕

本発明に係る光測定器の外観斜視図を第２図に示す。

図において、１は測定器本体、２はケーブルである。該
ケーブル２の一方端にはコネクタ３が、他端には光電変
換部４が接続されている。本体１の適所にはジャック５
が取付けられ、コネクタ３が着脱可能に接続できるよう
になされている。また、本体１の上面適所には載置台６
が形成され、不使用時に光電変換部４がＪＩＩｔ置可装
になされている。

第３図は第２図の■−■線断面図を示すもので、載置台
６の側断面を表わしたものである。図より分かるように
、本体１の一部に、その中心部６１を除いて所定の深さ
を有する円、筒孔６２が形成されている。そして、この
部分に光Ｔ１１変換部４の、後述する先端のフード４４
が嵌め込まれることにより、姿勢を安定させて載置でき
るようにしである。

第４図は受光部４の詳細な構成を示すもので、図（Ａ）
は正面図、図（Ｂ）は側断面図である。

４　Ｘ　ｓ　４　Ｙ及び４ｚは波長λｘ１λｙ及びλ２
の分光特性をそれぞれ有する３個の、例えばシリコンフ
ォトダイオード等の光センサで、セルホルダー４１面上
で、例えば正三角形の各頂点に配設されている。また、
該セルホルダー４１の適所、例えば中心位置には光電変
換部４の温度を測定するための温度センサ４２が設けで
ある。この温度センサ４２は温度、例えば絶対温度（Ｋ
）に比例した電流を出力するものが使用されている。こ
れらの光センサ４Ｘ、４Ｙ％　４Ｚ、温度センサ４２及
びこれらのセンサの出力を増幅する増幅回路（不図示）
は温度差のないように熱容量の大きな金属筒内に組み込
まれている。

上記セルホルダー４１の前面には入射光が各光センサ４
Ｘ％　４Ｙ％　４Ｚで均一に受光されるように拡散板４
３が取付けてあり、更に該拡散板４３の前面には所定長
を有するフード４４が取付けである。このフード４４は
光センサ４ｘ　（光センサ４Ｙ、４ｚについても同様で
ある）が光電変換部４の中心位置にないために、光電変
換部４を回転させた時に光センサ４ｘで受光される光量
変化の発生を出来るだけ抑えるためのものである。例え
ば、直径２１ｍ５のフード４４において、長さを２．５
冒−から１５．０−一にすると、光量変化による測定デ
ータの変化が１桁下がることを確認している。

次に、第１図及び第５図〜第７図を用いて、本発明に係
る温度補償の方法について、オフセット値変化の補正と
傾斜変化の補正とに分けて説明する。なお、説明は分光
感度λＸを持つ光センサ４Ｘについて行い、他の光セン
サ４Ｙ％４Ｚについては同様なため省略する。また、光
電変換部４の温度は温度センナの近くにあり、光センサ
と同一温度と見なせる。

第１図は、本発明に係る温度補償を行う回路図の一例を
示すもので、図中、オペアンプＯＰｊは光電流ｒｐｘを
電圧に変換して出力し、オペアンプＯＰ２は温度センサ
１０の出力電流を電圧に変換して出力するものである。

ＲＪ　　Ｒ，２は各々帰還抵抗である。ＡＤＣＩＩ、Ａ
ＤＣ１２は各オペアンプＯＰｊ　　ｏｐ２のアナログ出
力をデジタルデータに変換するものである。ＣＰＵＩ　
ＢはＡＤＣｌｌ、ＡＤＣ１２から送入されるＡＰＪ定デ
ータ、温度データ及びメモリ１４に予め記憶された後述
するデータとから上記測定データに温度補正を施すもの
である。補正後の測定値は表示部１５に表示される。ま
た、ＣＰＵ１３は後述するようにリセット時の温度と測
定時の温度とが予め定めた温度差を越えた時は警告信号
を出力し、表示部１５にその旨表示させ、あるいは音に
よる警報を発生させる。なお、キャップ１６は後述する
リセット時に光電変換部４を遮光するものである。

第５図は、光センサ４Ｘの光電流ＩＰＸと入射光の関係
を、温度をパラメータにして示した特性線図である。第
６図は温度Ｔｏを基準にして校正したときの該温度Ｔｏ
　　（’Ｃ）からの温度差に対する光電流ＩＰＸの変化
率を表わした相対変化率図である。そして、この相対変
化率図は予めメモリｌ４内（以下、便宜上メモリＭ１と
いう）にｉｃ！憶されている。

第７図は、温度と出力電流の関係を示す温度センサ４２
の特性図である。そして、この特性図は、温度Ｔ　（”
Ｃ）とＡＤＣ１２の出力データＭＴとの対照表として予
めメモリ１４内（以下、便宜上メモリＭ２という）に記
憶されている。

（１）オフセット値変化の補正 温度センサ１０の出力電流ＩＴは１７　＞　Ｉ　Ｂ　２
であり、帰還抵抗Ｒ２を適当な値に選ぶことで、Ｖ２Ｏ
ＦＦを無視することができる。従って、オペアンプｏｐ
２の出力Ｖ２０ｔＪＴは、Ｖ２０ＵＴ＝−（ＩＴ＋ＩＢ
２）　　・Ｒ２与−ＩＴ−Ｒ２ となる。

先ず、リセット処理を行う。この時の温度をＴ１とする
と、温度センサ１０の出力電流ＩＴＩから、オペアンプ
ＯＰ２の出力として、Ｖ２０ＵＴ”−ＩＴｌ　　°Ｒ２ を求め、この出力を更にＡＤＣ１２で変換してデジタル
データＭＴ１を求める。そして、これをリセット時の温
度データとしてメモリ１４にデータＭＴＩの形で記憶し
ておく。

また、このリセット時に光電変換部４にキャップ１６を
被せて、この時の光センサ４ｘからの出力電流をオペア
ンプＯＰ１で抽出し、ＶＩＯＵＴとして、 ＶＩ　０ｔＪＴ””　　ＩＢｌ　　”Ｒ１＋Ｖ１　ＯＦ
Ｆヲ得、これを、ＡＤＣｌｌで変換して、デジタルデー
タＮｏｏを求め、メモリ４に記憶する。

次に、測定時には、キャップ１６を外して通常の測定を
行い、この時に得られた光センサ４ｘからの光電流ＩＰ
Ｘを前記同様オペアンプＯＰ１で抽出し、Ｖ１０υＴと
して、 Ｖｔ　０ＵＴ＝−（ＩＰＸ＋ＩＢ１　）　　・Ｒ１＋ｖ
１ｏｙｐ を得、これを、ＡＤＣｌｌで変換して、デジタルデータ
ｒ’ＪＴｔを求め、ＣＰＵＩ　３に人力する。ＣＰＵ１
３は、 ＮＴ１−Ｎ０Ｏ−１ｐｘ−Ｒ１−−−−−−（３）の演
算を実行して、オフセット補正された測定値を求める。

ところで、周囲温度が上記Ｔ１から変化すると、オペア
ンプＯＰ１　　ｏｐ２の漏れ電流やオフセット電圧、ま
た複数レンジを有する場合に使用されるスイッチの漏れ
電流が変化し、上記のようにして求めた　（３〉式のオ
フセットのレベルが変化する。

このため、ＣＰＵ１３は温度センサ１０からの温度デー
タＭＴを測定毎に取り込み、リセット時に得られた温度
データＭＴＩ　と比較し、その差が予め定めた値を越え
たときは、オフセット誤差が許容範囲を越えたとして警
告信号を出力し、操作者に再度リセットが必要であるこ
とを通報するようにしている。従って、オフセット補正
は常に許容誤差範囲内のレベルで行われ、高精度かつ安
定したオフセット補正が期される。

（２）傾斜変化の補正 今、予め温度Ｔ２で入射光に対して正確な測定データが
得られるように校正が行われているとする。この校正は
、光電変換回路の出力であるアナログ信号を校正回路に
よって校正するようにしてもよいし、ＣＰＵ３０内でＡ
ＤＣ２０から入力されるデジタルデータに所定の係数を
掛けるようにしてもよい。

この校正時の温度Ｔ２はメモリ１４にデータＭＴ２の形
で記憶されている。そして、リセットの結果、オフセッ
トのレベルとして、ＮＱｏが得られている。

次に、測定時に温度センサ１ｏにより得られた温度がＴ
３　（データＭＴ３）であったとする。このとき、測定
時の温度はＴ３であるが、その測定値ＮＴ３は校正時の
温度Ｔ２における特性が加味されたものであり、温度変
化分の補正が必要である。ＣＰＵ１３は今回の測定時に
おける温度データＭＴ３、校正時の温度データＭＴ２及
びメモリＭ１の対照表から得られる相対変化率−８％（
温度Ｔ２のもの）、−ｂ％（温度Ｔ３のもの）とから、 ＮＴ３　　Ｎｏ　ｏ　　　（１−ａ／１００　）　／　
（１−ｂ／１００　）・・・・・・（４） の演算を実行する。すなわち、上記（４）式では傾斜変
化分が加味されているため受光部４の温度依存性を排除
した測定値が求められる。しかも、この補正方法は光セ
ンサの光電流の変化の割合に関係することなしに、高精
度の測定値が得られる。

なお、この本実施例では、光センサの温度特性として、
相対変化率を記憶するようにしたが、光電流と温度との
関係が特定可能なものであれば、記憶内容及び方法は特
に限定されるものではない。

次に、本発明に係る他の温度補償について説明する。こ
の実施例は光センサの出力電流の変化が温度の一次関数
になっている場合である。

この場合は、前実施例のように、第６図の表をそのまま
メモリに記憶する代わりに、計算式を記憶するようにし
たものである。

すなわち、第８図は温度２０℃を基準にして校正したと
きの該温度２０℃からの温度差に対する光電流ＩＰＸの
変化率を表わした相対変化率図で、この相対変化率γは
、 γ−−Ｃ（Ｔ−２０℃）　　　・・・・・・（５〉ここ
で、Ｃは変化率の係数 と表わされ、この　（５）式はメモリに記憶されている
。

さて、傾斜変化の補正において、今、校正を温度Ｔ２で
行ったとする。この時の温度データＭＴ２をメモリ１４
に記憶する。

また、リセット時にキャップ１６を被せて測定した測定
データから、オフセットのレベルＮ００が得られ、これ
を記憶する。

また、上記校正は通常、室温で行われることから、この
リセット時の温度Ｔ２は２０℃付近にあり、従って、上
記（５）式は、 γ４−　Ｃ（Ｔ　　Ｔ２　）　　　　　　・・・・・・
（６〉となる。

次に、温度Ｔ３において、キャップ１６を外して通常の
測定を行い、ＡＤＣｌｌで変換してデジタルデータＮＴ
３を求め、ＣＰＵ１３に入力する。

そして、ＣＰＵ１３は、 ＮＴ３−１’ＪＯＯ”ｔＰＸ”Ｒ１−−−−−−（７）
の演算を実行する。

更に、ＣＰＵ１３は温度センサ１０により得られた温度
Ｔ３と校正時の温度Ｔ２とを、上記（６〉式に代入する
とともに、上記〈７）式で割り算、すなわち、 （ＮＴ３　−Ｎｏ　　ａ　　）　　／　　（１−Ｃ（Ｔ
３−７２　　）　　）の演算を実行し、これにより傾斜
変化分を加味した測定値が求まる。

この、実施例によれば、相対変化率の係数Ｃの値のみを
メモリに記憶しておくだけで、温度補正が行える。

なお、以上の実施例では、温度センサとして絶対温度に
比例した電流を出力する素子で説明したが、例えばサー
ミスタを使用した場合でも、同様の補正を行うことが出
来、これによって温度センサの回路周辺に負担を掛ける
ことなく、簡単な回路構成で正確な温度を求めることが
できる。

この場合、使用するサーミスタの抵抗値と温度の関係を
求めて、予めメモリに記憶しておき、測定毎にこのメモ
リから温度を求めるようにする。

この方法によれば、サーミスタのれ性にばらつきがあっ
ても、演算プログラム内の一部の定数を書き換えるだけ
で対応できるため、温度センナの周辺回路に使用される
抵抗等の値をサーミスタの特性毎に対応させる必要がな
くなる。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明によれば、光センサの温度
特性（計算式も含む）をメモリに記憶し、このデータ（
あるいは式）を利用して温度補正を行うようにしたので
、温度に応じて特性の傾斜が変化しても、この変化分を
考慮した補正が行え、常に高精度の測定が可能となる。

また、温度センサの温度情報をリセット時の温度と常時
比較し、所定温度以上の差があるときは警告を行って操
作者に通報するようにしたので、測定毎に誤差の監視が
なされているとともに、常に誤差の許容範囲内での測定
が行える。そして、警告がないときは許容誤差内にある
と確認出来るので、リセット処理を行う手間が省け、測
定作業が正確、迅速に行える。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る温度補償を行う光測定器の一例を
示す回路図、第２図は光測定器の外観斜視図、第３図は
第２図の■−■線断面図、第４図は受光部の詳細な構成
を示すもので、図（Ａ）は正面図、図（Ｂ）は側断面図
、第５図は光センサ４ｘの光電流ｔｐｘと入射光の関係
を、温度をパラメータにして示した特性線図、第６図は
温度ＴＯで校正したときの温度Ｔｏ　（℃）からの温度
差に対する光電流■ｐｘの変化率を表わした相対変化率
図、′！Ｒ７図は温度と出力電流の関係を示す温度セン
サ４２の特性図、第８図は温度２０℃で校正したときの
温度２０℃からの温度差に対する光電流ｔｐｘの変化率
を表わした相対変化率図、第９図は従来技術を説明する
ための受光部の入射光と出力との特性線を温度をパラメ
ータにして示した図、第１０図は従来の温度補償回路、
第１１図は従来技術を説明するための温度変化率を一定
に補正した状態の電圧ＶＲＦと入射光との関係を示す図
である。 １０．４２・・・温度センサ、１１．１２・・・ＡＤＣ
（アナログデジタルコンバータ）、１３・・・ＣＰＵ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、光センサを用いて測定する光測定器において、上記
   光センサで受光し、その光の強度に応じた電気量を出力
   する光電変換部と、上記光電変換部の温度を測定する温
   度センサと、上記光電変換部の温度特性を記憶した第１
   のメモリと、所定の基準温度において入射光に対して正
   しい測定値が得られるように校正する校正手段と、上記
   校正時の温度を記憶する第２のメモリと、測定時に上記
   光電変換部の出力と上記温度センサの出力及び上記第１
   、第２のメモリの内容に基づいて温度補正された測定値
   を演算する演算手段とを備えたことを特徴とする光測定
   器。 ２、光センサを用いて測定する光測定器において、上記
   光センサで受光し、その光の強度に応じた電気量を出力
   する光電変換部と、上記光電変換部の温度を測定する温
   度センサと、上記光電変換部のオフセット値を測定する
   オフセット値測定手段と、上記オフセット値を記憶する
   第３のメモリと、上記オフセット値測定時に上記温度セ
   ンサによって得られる温度を記憶する第４のメモリと、
   測定時の測定値から上記第３のメモリに記憶されたオフ
   セット値を減算する演算手段と、測定時の温度と上記第
   ４のメモリに記憶されたオフセット値測定時の温度との
   差が所定温度以上のとき警告を行う警告手段とを備えた
   ことを特徴とする光測定器。