JPH0341340A - サンプリング前処理装置 - Google Patents
サンプリング前処理装置Info
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- JPH0341340A JPH0341340A JP17624189A JP17624189A JPH0341340A JP H0341340 A JPH0341340 A JP H0341340A JP 17624189 A JP17624189 A JP 17624189A JP 17624189 A JP17624189 A JP 17624189A JP H0341340 A JPH0341340 A JP H0341340A
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- sampling
- strainer
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- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 28
- 239000000706 filtrate Substances 0.000 claims abstract description 17
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 26
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- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 5
- 239000000428 dust Substances 0.000 abstract description 5
- 239000012488 sample solution Substances 0.000 abstract 2
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
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- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
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Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は、下水処理あるいは汚泥処理プラントにおける
水質分析装置のための試料サンプリングおよび前処理装
置に関する。
水質分析装置のための試料サンプリングおよび前処理装
置に関する。
(従来の技術)
下水処理あるいは汚泥処理プラントにおいては、その処
理状態を監視または制御するために水質の成分分析が行
なわれている。このようなプラントの被測定水槽から試
料液をサンプリングし、分析装置へ試料を供給するが、
被測定水には多くの固形分粒子が含まれており、これら
が分析装置にそのまま送り込まれると、分析装置内の細
い流路などが閉塞され、あるいはセンサーが汚れ、分析
動作が進行できなくなるという不都合が起る。
理状態を監視または制御するために水質の成分分析が行
なわれている。このようなプラントの被測定水槽から試
料液をサンプリングし、分析装置へ試料を供給するが、
被測定水には多くの固形分粒子が含まれており、これら
が分析装置にそのまま送り込まれると、分析装置内の細
い流路などが閉塞され、あるいはセンサーが汚れ、分析
動作が進行できなくなるという不都合が起る。
このような不都合をなくすためにサンプリングした試料
液から固形分粒子を除去する前処理を行なってから分析
装置に供給してやる必要がある。
液から固形分粒子を除去する前処理を行なってから分析
装置に供給してやる必要がある。
このような目的のためのサンプリグ前処理装置の従来例
を第2図に示す。被測定水槽(または流路)(1)内の
被測定水■はサンプリング配管(3)を通ってサンプリ
ングポンプ0によって吸引される。
を第2図に示す。被測定水槽(または流路)(1)内の
被測定水■はサンプリング配管(3)を通ってサンプリ
ングポンプ0によって吸引される。
サンプリング配管■とポンプ0の間には、ストレーナ(
粗目フィルタ)■を収納したス1〜レーナ部0)が設け
られており、サンプリングされた試料液中に含まれる粗
大な浮遊物(ごみ)は除去される。
粗目フィルタ)■を収納したス1〜レーナ部0)が設け
られており、サンプリングされた試料液中に含まれる粗
大な浮遊物(ごみ)は除去される。
ポンプ0を出た試料液はフィルタ部ωへ送られ、戻り配
管0を通って被測定水槽(1)へ戻されるか、あるいは
系外へ排出される。(1o)はバイパス弁で、サンプリ
ングした試料液のうちフィルタ部ωへ送る量を調節する
ためのものである。
管0を通って被測定水槽(1)へ戻されるか、あるいは
系外へ排出される。(1o)はバイパス弁で、サンプリ
ングした試料液のうちフィルタ部ωへ送る量を調節する
ためのものである。
フィルタ部ωの内部にはフィルタ(8)が収納されてい
る。フィルタ■は、試料液中に含まれる固形分粒子を除
去するためのもので、多孔質セラミックスや多孔質高分
子膜などが用いられる。試料液はフィルタ(8)の1次
側を通過する際に、その一部はフィルタ(8)を透過し
、固形分粒子を除去されてフィルタ(8)の2次側へ濾
過試料液となって出て来る。この濾過試料液は供給ポン
プ(11)によって吸引され、分析装置(12)へ供給
される。
る。フィルタ■は、試料液中に含まれる固形分粒子を除
去するためのもので、多孔質セラミックスや多孔質高分
子膜などが用いられる。試料液はフィルタ(8)の1次
側を通過する際に、その一部はフィルタ(8)を透過し
、固形分粒子を除去されてフィルタ(8)の2次側へ濾
過試料液となって出て来る。この濾過試料液は供給ポン
プ(11)によって吸引され、分析装置(12)へ供給
される。
(発明が解決しようとする課題)
このようなサンプリング前処理装置では、被測定水中に
粗大な浮遊物(ごみ)が多く含まれている場合には、サ
ンプリングポンプ0運転開始後短時間でストレーナ0が
閉塞してしまい、サンプリングができなくなってしまう
。すなわち、ス1〜レーナ部0)での線速が大きいため
ごみが吸い寄せられたちまちス]−レーナ0が閉塞して
しまうという問題がある。そこで本発明は、水質分析を
連続的に行なう必要がなく、成る時間おきに分析を行な
えばよい系を対象に、ストレーナが閉塞してサンプリン
グが不可能になる不具合を解消できるサンプリング前処
理装置を実現することを課題とし、本発明の目的もそこ
にある。
粗大な浮遊物(ごみ)が多く含まれている場合には、サ
ンプリングポンプ0運転開始後短時間でストレーナ0が
閉塞してしまい、サンプリングができなくなってしまう
。すなわち、ス1〜レーナ部0)での線速が大きいため
ごみが吸い寄せられたちまちス]−レーナ0が閉塞して
しまうという問題がある。そこで本発明は、水質分析を
連続的に行なう必要がなく、成る時間おきに分析を行な
えばよい系を対象に、ストレーナが閉塞してサンプリン
グが不可能になる不具合を解消できるサンプリング前処
理装置を実現することを課題とし、本発明の目的もそこ
にある。
(課題を解決するための手段および作用)本発明のサン
プリング前処理装置は、被測定水槽のサンプリング点に
、■回の分析に必要な濾過試料液量を得るためにフィル
タに流さなければならない試料液量を超える内容積を有
する頂面開放容器でその壁面が透過性を持つスI−レー
ナ容器をその開放頂部が水面より上にあるように被測定
水中に設置し、このストレーナ容器内に透過して来た1
次濾液をサンプリングポンプにより吸引してフィルタ部
に供給し、分析に必要な濾過試料液4 を得るように構成される。そして、サンプリングポンプ
の運転および分析装置への濾過試料液の供給はコントロ
ーラにより成る時間毎に行なわれるように制御する。
プリング前処理装置は、被測定水槽のサンプリング点に
、■回の分析に必要な濾過試料液量を得るためにフィル
タに流さなければならない試料液量を超える内容積を有
する頂面開放容器でその壁面が透過性を持つスI−レー
ナ容器をその開放頂部が水面より上にあるように被測定
水中に設置し、このストレーナ容器内に透過して来た1
次濾液をサンプリングポンプにより吸引してフィルタ部
に供給し、分析に必要な濾過試料液4 を得るように構成される。そして、サンプリングポンプ
の運転および分析装置への濾過試料液の供給はコントロ
ーラにより成る時間毎に行なわれるように制御する。
(実施例)
以下、図面に示した実施例に基いて本発明の詳細な説明
する。
する。
第1図に本発明一実施例のサンプリング前処理装置を示
す。第工図において、α)は被測定水槽、(2)は被測
定水、(21)はストレーナ容器で、1回の分析に必要
な濾過試料液量(SmQ)を得るためにフィルタに流さ
なければならない試料液量(TQ)を超える内容積を有
する頂面開放容器でその壁面が透過性を持っており、容
器の開放頂部が常に水面より上にあるように被測定水槽
α)のサンプリング点の被測定水中に設置されている。
す。第工図において、α)は被測定水槽、(2)は被測
定水、(21)はストレーナ容器で、1回の分析に必要
な濾過試料液量(SmQ)を得るためにフィルタに流さ
なければならない試料液量(TQ)を超える内容積を有
する頂面開放容器でその壁面が透過性を持っており、容
器の開放頂部が常に水面より上にあるように被測定水槽
α)のサンプリング点の被測定水中に設置されている。
このストレーナ容器(21)には、サンプリング配管■
の先端入口が容器壁に接しない状態で挿入設置されてお
り、また、戻り配管(9)の先端出口が容器の内壁に向
けて挿入設置されている。(22)はストレーナ容器(
21)の壁を透過して来ることにより粗大な浮遊物(ご
み)が除去された1次濾液である。また、(23)は上
次濾液(22)の所定レベルを検知するためのレベルセ
ンサである。
の先端入口が容器壁に接しない状態で挿入設置されてお
り、また、戻り配管(9)の先端出口が容器の内壁に向
けて挿入設置されている。(22)はストレーナ容器(
21)の壁を透過して来ることにより粗大な浮遊物(ご
み)が除去された1次濾液である。また、(23)は上
次濾液(22)の所定レベルを検知するためのレベルセ
ンサである。
ストレーナ容器(21)から出たサンプリング配管■は
サンプリングポンプ0の入口に接続され、このポンプ0
の出口はフィルタ部ωおよびバイパス弁(10)に配管
接続され、フィルタ部ωの上次側出口およびバイパス弁
(10)の出口はそれぞれ戻り配管0に接続されている
。
サンプリングポンプ0の入口に接続され、このポンプ0
の出口はフィルタ部ωおよびバイパス弁(10)に配管
接続され、フィルタ部ωの上次側出口およびバイパス弁
(10)の出口はそれぞれ戻り配管0に接続されている
。
フィルタ部ωの内部には、多孔質セラミックスや多孔質
高分子膜などのフィルタ(8)が収納されている。フィ
ルタ部ωの2次側出口には供給ポンプ(11)への配管
が接続され、供給ポンプ(11)の出口には分析装置(
12)への配管が接続されている。
高分子膜などのフィルタ(8)が収納されている。フィ
ルタ部ωの2次側出口には供給ポンプ(11)への配管
が接続され、供給ポンプ(11)の出口には分析装置(
12)への配管が接続されている。
(24)は、サンプリングポンプ(6)および供給ポン
プ(11)の運転を制御するコントローラで、レベルセ
ンサ(23)の出力が接続されている。このコントロー
ラ(24)は、タイマ機能、警報機能なども有している
。
プ(11)の運転を制御するコントローラで、レベルセ
ンサ(23)の出力が接続されている。このコントロー
ラ(24)は、タイマ機能、警報機能なども有している
。
上記のように構成された本発明一実施例のサンプリング
前処理装置においては、分析を行なう時刻以外でサンプ
リングポンプ0が停止している間に、ストレーナ容器(
2()内に1−次濾液(22)がレベルセンサ(23)
で設定された所定レベル以上溜る。
前処理装置においては、分析を行なう時刻以外でサンプ
リングポンプ0が停止している間に、ストレーナ容器(
2()内に1−次濾液(22)がレベルセンサ(23)
で設定された所定レベル以上溜る。
分析を行なう測定周期が来ると、コントローラ(24)
からサンプリングポンプ■および供給ポンプ(11)に
運転指令が出力され、1次濾液(22)はサンプリング
ポンプ0によりフィルタ部ωに供給され、フィルタ部ω
のフィルタ(8)の2次側に濾過試料液となって出て来
るので、これを供給ポンプ(11)によって分析装置(
12)に供給する。分析装置(12)として必要な濾過
試料液量(Smu)が供給されたら、サンプリングポン
プ(6)および供給ポンプ(11)を停止して待機状態
に入る。
からサンプリングポンプ■および供給ポンプ(11)に
運転指令が出力され、1次濾液(22)はサンプリング
ポンプ0によりフィルタ部ωに供給され、フィルタ部ω
のフィルタ(8)の2次側に濾過試料液となって出て来
るので、これを供給ポンプ(11)によって分析装置(
12)に供給する。分析装置(12)として必要な濾過
試料液量(Smu)が供給されたら、サンプリングポン
プ(6)および供給ポンプ(11)を停止して待機状態
に入る。
上記のように、本実施例のサンプリング前処理装置では
、分析が必要なときのみサンプリングポンプ(6)を運
転し、待機時間中に静かにストレーナ容器(21)を透
過して容器内に溜った1次濾液(22)をフィルタ部ω
に供給するので、吸い寄せられた7 ごみでストレーナ容器(21)が閉塞されてサンプリン
グが不可能になることが無い。また、戻り配管(9)の
先端出口はス1−レーナ容器(21)の内壁に向けられ
ているため、戻って来た1次濾液はストレーナ容器壁を
逆洗しながら被測定水槽側へ排出されることになり、ス
トレーナ容器(21)の保守周期を長くすることができ
る。
、分析が必要なときのみサンプリングポンプ(6)を運
転し、待機時間中に静かにストレーナ容器(21)を透
過して容器内に溜った1次濾液(22)をフィルタ部ω
に供給するので、吸い寄せられた7 ごみでストレーナ容器(21)が閉塞されてサンプリン
グが不可能になることが無い。また、戻り配管(9)の
先端出口はス1−レーナ容器(21)の内壁に向けられ
ているため、戻って来た1次濾液はストレーナ容器壁を
逆洗しながら被測定水槽側へ排出されることになり、ス
トレーナ容器(21)の保守周期を長くすることができ
る。
なお、第1図の構成のサンプリング前処理装置において
、サンプリングポンプ0および供給ポンプ(11)の運
転中にストレーナ容器(21)内の1次濾液(22)が
レベルセンサ(23)で設定されたレベル以下になった
場合には、コン1〜ローラ(24)により警報を発し、
必要に応じてサンプリングポンプ0および供給ポンプ(
11)の運転を停止するようにコン1−〇−ラ(24)
で制御してもよい。
、サンプリングポンプ0および供給ポンプ(11)の運
転中にストレーナ容器(21)内の1次濾液(22)が
レベルセンサ(23)で設定されたレベル以下になった
場合には、コン1〜ローラ(24)により警報を発し、
必要に応じてサンプリングポンプ0および供給ポンプ(
11)の運転を停止するようにコン1−〇−ラ(24)
で制御してもよい。
以上詳述したように本発明によれば、1回の分析に必要
な濾過試料液量を得るためにフィルタに流さねばならな
い試料液量を超える内容積を有するストレーナ容器を被
測定水槽のサンプリング点で容器の開放頂部が水面上に
あるように被測定水中に設置し、このストレーナ容器内
に透過して来た1次濾液を所定のサンプリング周期毎に
サンプリングしてフィルタ部に供給し、そこから所定量
の濾過試料液を分析装置に供給するようにしたサンプリ
ング前処理装置を実現したことにより、待機時間中に静
かにストレーナ容器を透過して容器内に溜った1次濾液
をフィルタ部に供給するので、吸い寄せられたごみでス
トレーナ容器が閉塞することが無い。また、フィルタ部
を通過して戻って来た1次濾液によってストレーナ容器
を逆洗できるので、ストレーナ容器の保守周期を長くす
ることができる。
な濾過試料液量を得るためにフィルタに流さねばならな
い試料液量を超える内容積を有するストレーナ容器を被
測定水槽のサンプリング点で容器の開放頂部が水面上に
あるように被測定水中に設置し、このストレーナ容器内
に透過して来た1次濾液を所定のサンプリング周期毎に
サンプリングしてフィルタ部に供給し、そこから所定量
の濾過試料液を分析装置に供給するようにしたサンプリ
ング前処理装置を実現したことにより、待機時間中に静
かにストレーナ容器を透過して容器内に溜った1次濾液
をフィルタ部に供給するので、吸い寄せられたごみでス
トレーナ容器が閉塞することが無い。また、フィルタ部
を通過して戻って来た1次濾液によってストレーナ容器
を逆洗できるので、ストレーナ容器の保守周期を長くす
ることができる。
第1図は本発明一実施例のサンプリング前処理装置を示
す系統図、第2図は従来例のサンプリング前処理装置を
示す系統図である。 1・・被測定水槽、 2・・被測定水、6・・サンプ
リングポンプ、 7・・フィルタ部、 8・・フィルタ、9・戻り配
管、 12・・分析装置、 22・・・1次濾液、 24・・・コントローラ。 11・供給ポンプ、 2トス1ヘレーナ容器、 23・レベルセンサ、
す系統図、第2図は従来例のサンプリング前処理装置を
示す系統図である。 1・・被測定水槽、 2・・被測定水、6・・サンプ
リングポンプ、 7・・フィルタ部、 8・・フィルタ、9・戻り配
管、 12・・分析装置、 22・・・1次濾液、 24・・・コントローラ。 11・供給ポンプ、 2トス1ヘレーナ容器、 23・レベルセンサ、
Claims (1)
- 固形分粒子および粗大な浮遊物を含む被測定水をサン
プリングポンプによりサンプリングし、フィルタにより
濾過した後に濾過試料液を供給ポンプにより分析装置に
供給する装置において、1回の分析に必要な濾過試料液
量を得るために前記フィルタに流さねばならない試料液
量を超える内容積を有するストレーナ容器を被測定水中
に設置し、このストレーナ容器内に透過して来た1次濾
液をサンプリングするようにしたサンプリング前処理装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17624189A JPH0341340A (ja) | 1989-07-07 | 1989-07-07 | サンプリング前処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17624189A JPH0341340A (ja) | 1989-07-07 | 1989-07-07 | サンプリング前処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0341340A true JPH0341340A (ja) | 1991-02-21 |
Family
ID=16010111
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17624189A Pending JPH0341340A (ja) | 1989-07-07 | 1989-07-07 | サンプリング前処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0341340A (ja) |
-
1989
- 1989-07-07 JP JP17624189A patent/JPH0341340A/ja active Pending
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