JPH0341317A - 電磁流量計用測定管およびその製造方法 - Google Patents
電磁流量計用測定管およびその製造方法Info
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- JPH0341317A JPH0341317A JP2139520A JP13952090A JPH0341317A JP H0341317 A JPH0341317 A JP H0341317A JP 2139520 A JP2139520 A JP 2139520A JP 13952090 A JP13952090 A JP 13952090A JP H0341317 A JPH0341317 A JP H0341317A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01F—MEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
- G01F1/00—Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow
- G01F1/56—Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow by using electric or magnetic effects
- G01F1/58—Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow by using electric or magnetic effects by electromagnetic flowmeters
- G01F1/584—Measuring the volume flow or mass flow of fluid or fluent solid material wherein the fluid passes through a meter in a continuous flow by using electric or magnetic effects by electromagnetic flowmeters constructions of electrodes, accessories therefor
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、ステンレススチールなどの非磁性金属の管部
材と、貫通路内に配置された金属電極と、溶融可能で、
非導電性の材料からなる管部材の内面および貫通路を覆
う連続したライニングを備えた電磁流量計用の測定管お
よびその製造方法に関するものである。
材と、貫通路内に配置された金属電極と、溶融可能で、
非導電性の材料からなる管部材の内面および貫通路を覆
う連続したライニングを備えた電磁流量計用の測定管お
よびその製造方法に関するものである。
先行技術
かかる測定管は、西独特許第２０６８１２２号明細書に
より知られている。この測定管においては、ライニング
は、貫通路の壁に沿って、厚みが減少する厚いガラス層
からなっている。また、金属電極は、管部材の中央部で
終わっている。管の内部への電気的接続は、ライニング
と同様の化学構造を有する導電性ガラスの溶融プラグを
用いてなされている。しかし、その製造方法については
、言及されては４“ｏらず、とくに、電気的挙動が異な
るだけの２種のガラス組成物が、合流して、混合してし
まうおそれがある。
より知られている。この測定管においては、ライニング
は、貫通路の壁に沿って、厚みが減少する厚いガラス層
からなっている。また、金属電極は、管部材の中央部で
終わっている。管の内部への電気的接続は、ライニング
と同様の化学構造を有する導電性ガラスの溶融プラグを
用いてなされている。しかし、その製造方法については
、言及されては４“ｏらず、とくに、電気的挙動が異な
るだけの２種のガラス組成物が、合流して、混合してし
まうおそれがある。
発明の目的
本発明は、簡易に、かつ、大量生産に適した方法で製造
することのできる前述のような連続した絶縁性ライニン
グを有する測定管およびその製造方法を提供することを
目的とするものである。
することのできる前述のような連続した絶縁性ライニン
グを有する測定管およびその製造方法を提供することを
目的とするものである。
発明の構成および作用
本発明のかかる目的は、管部材の内面から、内方に突出
するように、複数の電極を貫通路内に固定し、該管部材
の内面、および、各電極とこれに対応する貫通路との間
の間隙全体に、下塗り用エナメルスリップを供給し、各
電極の端表面から、下塗り用エナメルスリップを取除い
て、前記各電極の端表面を清浄化し、下塗り用エナメル
スリップを加熱して、溶融し、しかる後に、冷却するこ
とによって、達成される。
するように、複数の電極を貫通路内に固定し、該管部材
の内面、および、各電極とこれに対応する貫通路との間
の間隙全体に、下塗り用エナメルスリップを供給し、各
電極の端表面から、下塗り用エナメルスリップを取除い
て、前記各電極の端表面を清浄化し、下塗り用エナメル
スリップを加熱して、溶融し、しかる後に、冷却するこ
とによって、達成される。
下塗り用エナメルスリップを供給するときには、それに
より、少なくとも、電極の表面の一部が、覆われること
は避けがたいが、本発明によれば、清浄化ステップを備
えているので、測定管の表面が、測定すべき流体と直接
電気的に接続されることが保証され、また、電極は、内
方に突出するように設けられているので、清浄化が容易
であり、また、生成した測定管において、エナメル層を
貫通ずるように形成することができる。
より、少なくとも、電極の表面の一部が、覆われること
は避けがたいが、本発明によれば、清浄化ステップを備
えているので、測定管の表面が、測定すべき流体と直接
電気的に接続されることが保証され、また、電極は、内
方に突出するように設けられているので、清浄化が容易
であり、また、生成した測定管において、エナメル層を
貫通ずるように形成することができる。
下塗り用エナメルは、管部材の材料と接着性が良く、温
度膨張に関しても、適合するという性質を有しているこ
とが望ましく、下塗り用エナメルのスリップの粘度は、
測定管の内面に供給されたときに、層を形威し、同時に
、各電極と対応する貫通路との間の間隙に、後者から再
び漏れることなく、入り込むように調整され得る。さら
に、スリップの比重量は、間隙に供給されるスリップの
容積が、溶融中に、許容される程度だけ、減少するよう
に調整され得る。このように形成された連続するエナメ
ル下塗り層により、高度な要求を満たす測定管を得るこ
とができる。
度膨張に関しても、適合するという性質を有しているこ
とが望ましく、下塗り用エナメルのスリップの粘度は、
測定管の内面に供給されたときに、層を形威し、同時に
、各電極と対応する貫通路との間の間隙に、後者から再
び漏れることなく、入り込むように調整され得る。さら
に、スリップの比重量は、間隙に供給されるスリップの
容積が、溶融中に、許容される程度だけ、減少するよう
に調整され得る。このように形成された連続するエナメ
ル下塗り層により、高度な要求を満たす測定管を得るこ
とができる。
本発明の好ましい実施態様においては、さらに、下塗り
用エナメルが被覆された管部材の内表面に、被覆用エナ
メルスリップを供給し、電極の表面から、被覆用エナメ
ルスリップを除去して、電極の表面を清浄化し、被覆用
エナメルスリップを加熱して、溶融し、しかる後に、冷
却するステップを備えている。
用エナメルが被覆された管部材の内表面に、被覆用エナ
メルスリップを供給し、電極の表面から、被覆用エナメ
ルスリップを除去して、電極の表面を清浄化し、被覆用
エナメルスリップを加熱して、溶融し、しかる後に、冷
却するステップを備えている。
被覆用エナメルは、連続した電気的絶縁を生じさせる下
塗りエナメルとは異なり、その目的に合致するように選
択される。したがって、それは、耐酸性あるいは基材に
対して耐性のある層を形成してもよい。それは、また、
測定すべき流体に影響を与えないように、選択するとよ
い。これは、例えば、食品工業においては重要なことで
ある。
塗りエナメルとは異なり、その目的に合致するように選
択される。したがって、それは、耐酸性あるいは基材に
対して耐性のある層を形成してもよい。それは、また、
測定すべき流体に影響を与えないように、選択するとよ
い。これは、例えば、食品工業においては重要なことで
ある。
さらに、被覆層は、エナメル下塗り層の粘度が、間隙内
に入り込む必要性から、低く、その厚みが小さいときに
、ライニングの厚みが所定値になるうに、補償するよう
に形成してもよい。
に入り込む必要性から、低く、その厚みが小さいときに
、ライニングの厚みが所定値になるうに、補償するよう
に形成してもよい。
管部材の内面、および、各電極と貫通路との間隙への下
塗り用エナメルスリップの供給、あるいは、下塗り用エ
ナメルが被覆された管部材の内面への被覆用エナメルス
リップの供給は、管部材の一端部を閉じ、閉じた端部を
底部に位置させて、管部材に、スリップを満たし、しか
る後に、管部０ 材に付着した部分を残して、スリップを流出させること
により、おこなうことが望ましい。こうすることにより
、スリップの均一な層を形成することができるとともに
、電極と貫通路との間の間隙に、スリップを確実に満た
すことが可能になる。
塗り用エナメルスリップの供給、あるいは、下塗り用エ
ナメルが被覆された管部材の内面への被覆用エナメルス
リップの供給は、管部材の一端部を閉じ、閉じた端部を
底部に位置させて、管部材に、スリップを満たし、しか
る後に、管部０ 材に付着した部分を残して、スリップを流出させること
により、おこなうことが望ましい。こうすることにより
、スリップの均一な層を形成することができるとともに
、電極と貫通路との間の間隙に、スリップを確実に満た
すことが可能になる。
上述のように、スリップを供給した後、スリップを乾燥
することが望ましい。１分に満たない短い時間の乾燥で
も、スリップの粘度および接着性を、引き続いておこな
われる清浄化ステップにおいて、好ましくない影響が生
じない程度に、改善することができる。
することが望ましい。１分に満たない短い時間の乾燥で
も、スリップの粘度および接着性を、引き続いておこな
われる清浄化ステップにおいて、好ましくない影響が生
じない程度に、改善することができる。
清浄化自体は、きわめて多数の方法によって、実施する
ことができる。とくに、ブラシ、または研磨材を備えた
キャリアを、管部材中に導入することによって、実施す
ることができる。
ことができる。とくに、ブラシ、または研磨材を備えた
キャリアを、管部材中に導入することによって、実施す
ることができる。
電極を貫通路内に固定する前に、エナメルにより被覆さ
れたすべての部品および少なくとも管部材の内面を粗面
化すると、接着性が改善され、好ましい。３．２μｍ以
上に粗面化することが、とくに望ましい。
れたすべての部品および少なくとも管部材の内面を粗面
化すると、接着性が改善され、好ましい。３．２μｍ以
上に粗面化することが、とくに望ましい。
■
また、電極を貫通路内に固定する前に、管部材をアニー
ル処理して、応力を除去することが望ましい。こうする
ことによって、温度の影響により生じた応力のために、
後に、エナメル層が破壊することを防止することができ
る。
ル処理して、応力を除去することが望ましい。こうする
ことによって、温度の影響により生じた応力のために、
後に、エナメル層が破壊することを防止することができ
る。
好ましくは、下塗り用エナメルスリップは、その粘度が
、被覆用エナメルスリップの粘度より、ずっと低くなる
ように調整される。このように調整することによって、
下塗り用エナメルスリップが、確実に、電極と貫通路と
の間の間隙に入り込み、かつ、あらゆる部分に、適当な
厚さのエナメル層が形成されることが保証される。
、被覆用エナメルスリップの粘度より、ずっと低くなる
ように調整される。このように調整することによって、
下塗り用エナメルスリップが、確実に、電極と貫通路と
の間の間隙に入り込み、かつ、あらゆる部分に、適当な
厚さのエナメル層が形成されることが保証される。
本発明によれば、ステンレススチールなどの非磁性金属
の管部材と、貫通路内に配置された金属電極と、溶融可
能で、非導電性の材料からなる管部材の内面および貫通
路を覆う連続したライニングを備えた電磁流量計用の測
定管は、前記ライニングが、前記管部材の内面、および
、各電極と対応する前記貫通路との間の間隙全体を覆う
連続したエナメル下塗り層と、該エナメル下塗り層の内
面を覆うエナメル被覆層からなり、前記各電極が、前記
管部材の内面から、前記エナメル下塗り層および前記エ
ナメル被覆層を貫通して、突出するとともに、エナメル
により被覆されていない端部を備えていることを特徴と
している。
の管部材と、貫通路内に配置された金属電極と、溶融可
能で、非導電性の材料からなる管部材の内面および貫通
路を覆う連続したライニングを備えた電磁流量計用の測
定管は、前記ライニングが、前記管部材の内面、および
、各電極と対応する前記貫通路との間の間隙全体を覆う
連続したエナメル下塗り層と、該エナメル下塗り層の内
面を覆うエナメル被覆層からなり、前記各電極が、前記
管部材の内面から、前記エナメル下塗り層および前記エ
ナメル被覆層を貫通して、突出するとともに、エナメル
により被覆されていない端部を備えていることを特徴と
している。
かかる測定管は、連続した電気的絶縁と、あらゆる部分
に、適当な厚さのエナメル層と、金属電極と測定すべき
媒体との間の好ましい接触性と、管部材の材料と測定す
べき媒体との間の好ましい適合性を備えている。
に、適当な厚さのエナメル層と、金属電極と測定すべき
媒体との間の好ましい接触性と、管部材の材料と測定す
べき媒体との間の好ましい適合性を備えている。
とくに、電極が、エナメル層から、半径方向に対して、
内方に、突出するように配置されているとよい。こうす
ることによって、各電極の端表面を、確実に清浄化して
、スリップの悪影響を防止することが可能になる。
内方に、突出するように配置されているとよい。こうす
ることによって、各電極の端表面を、確実に清浄化して
、スリップの悪影響を防止することが可能になる。
好ましい実施態様においては、エナメル下塗り層は、間
隙の幅とエナメル被覆層の厚さに対し、ごくわずかな厚
さを有するにすぎない。このように、エナメル下塗り層
の厚さが小さいのは、下塗り用エナメルが、間隙内に入
り込むのに必要な粘３ 度を有していなければならず、また、エナメル被覆層の
厚さとバランスがとる必要があるためである。
隙の幅とエナメル被覆層の厚さに対し、ごくわずかな厚
さを有するにすぎない。このように、エナメル下塗り層
の厚さが小さいのは、下塗り用エナメルが、間隙内に入
り込むのに必要な粘３ 度を有していなければならず、また、エナメル被覆層の
厚さとバランスがとる必要があるためである。
また、管部材の内面の両端部に、それぞれ、内方に突出
し、その半径方向の高さが、エナメル下塗り層およびエ
ナメル被覆層の厚さと実質的に等しい環状リブが設けら
れることが望ましい。このように構成することにより、
エナメル層が、管部材の端部まで、均一な厚さを有する
ことを保証することができる。
し、その半径方向の高さが、エナメル下塗り層およびエ
ナメル被覆層の厚さと実質的に等しい環状リブが設けら
れることが望ましい。このように構成することにより、
エナメル層が、管部材の端部まで、均一な厚さを有する
ことを保証することができる。
測定管の製造の際に必要な電極のホルダーは、製造後に
、取り除くことができる。しかしながら、ホルダーを測
定管上に残しておくことは、しばしば、取り扱いを容易
することがある。
、取り除くことができる。しかしながら、ホルダーを測
定管上に残しておくことは、しばしば、取り扱いを容易
することがある。
電極を、管部材に取付けたスリーブ内に挿入した非導電
性プラクに保持させる構造を採用することも可能である
。
性プラクに保持させる構造を採用することも可能である
。
この場合には、スチールよりなるスリーブを、管部材内
に、溶接により形成し、それによって、貫通路を形成す
るようにすることが望ましい。耐４ 酸性のスチールを用いると、すべての要求を満たすこと
ができ、好ましい。
に、溶接により形成し、それによって、貫通路を形成す
るようにすることが望ましい。耐４ 酸性のスチールを用いると、すべての要求を満たすこと
ができ、好ましい。
このプラグは、セラミックにより形成するとよい。シー
ルは、電極を囲む間隙内のエナメルによってなされるた
め、セラミックプラクは、電極を機械的に保持するだけ
十分である。
ルは、電極を囲む間隙内のエナメルによってなされるた
め、セラミックプラクは、電極を機械的に保持するだけ
十分である。
実施例
以下、添付図面に基づいて、本発明の実施例につき、詳
細に説明を加える。
細に説明を加える。
第１図は、本発明の実施例に係る測定管の略縦断面図で
あり、第２図は、第１図のＡで示される部分の略拡犬図
である。
あり、第２図は、第１図のＡで示される部分の略拡犬図
である。
第↓図および第２図において、測定管１は、非磁性のス
テンレススチールからなる管部材２を備えており、その
両端部には、それぞれ、接続フランジ３．４が設けられ
ている。さらに、内側に位置するフランジ５．６により
、測定管１は、外側のスリーブと挿入されたサドルスプ
ールに取付けられている。
テンレススチールからなる管部材２を備えており、その
両端部には、それぞれ、接続フランジ３．４が設けられ
ている。さらに、内側に位置するフランジ５．６により
、測定管１は、外側のスリーブと挿入されたサドルスプ
ールに取付けられている。
測定管２の対向する位置に設けられた電極手段７．８は
、同一の構成を有しており、その詳細は、第２図に示さ
れている。棒状の金属電極９は、貫通路１０を貫通して
おり、その中央部において、ホルダー（１により、２つ
の部分で、同心の間隙１２が、電極９と貫通路１０の内
面との間に形成されるように、支持されている。電極９
の端表面１３は、管部材２の内面１４から、半径方向に
、内方に突出している。
、同一の構成を有しており、その詳細は、第２図に示さ
れている。棒状の金属電極９は、貫通路１０を貫通して
おり、その中央部において、ホルダー（１により、２つ
の部分で、同心の間隙１２が、電極９と貫通路１０の内
面との間に形成されるように、支持されている。電極９
の端表面１３は、管部材２の内面１４から、半径方向に
、内方に突出している。
ライニング１５は、エナメル下塗り層１６と、これより
厚いエナメル被覆層１７からなっている。
厚いエナメル被覆層１７からなっている。
間隙１２内には、エナメル下塗り層１６と連続するエナ
メル下塗り層１８が形成されている。
メル下塗り層１８が形成されている。
これらのエナメルの層は、電気的に絶縁性を有している
。エナメル下塗り層１６．１８は、温度膨張に関して、
測定管２の材料と適合するとともに、測定管２の材料と
十分な接着性を有している。
。エナメル下塗り層１６．１８は、温度膨張に関して、
測定管２の材料と適合するとともに、測定管２の材料と
十分な接着性を有している。
また、エナメル被覆層１７は、所望のエナメルからなっ
ている。
ている。
本実施例によれば、かかる測定管２は、以下のステップ
により製造される。
により製造される。
工６
（］）ステンレススチールの測定管２を、応力を取り除
くために、アニールする。
くために、アニールする。
（２）すべての部品を脱脂し、その表面を、サンドブラ
ストまたはエツチングによって、粗面化する。管部材２
の内面１４は、３．２μｍより大きい粗さを有している
ことが望ましい。
ストまたはエツチングによって、粗面化する。管部材２
の内面１４は、３．２μｍより大きい粗さを有している
ことが望ましい。
（３）複数の電極９を、ホルダー１１により、管部材２
に、それらが、管部材２の内面１４から、内方に突出す
るように、取付ける。
に、それらが、管部材２の内面１４から、内方に突出す
るように、取付ける。
（４）下塗り用エナメルスリップの粘度を、供給したと
きに、間隙１２内に入り込み得るように調整する。これ
により、エナメル下塗り層１６の厚みが決定される。
きに、間隙１２内に入り込み得るように調整する。これ
により、エナメル下塗り層１６の厚みが決定される。
（５）下塗り用エナメルを、管部材２の内面１４に供給
し、間隙工２を満たす。これは、例えば、管部材２を、
そのフランジ３の部分で閉じ、下塗り用エナメルスリッ
プが完全に満たし、その後、下塗り用エナメルスリップ
を、最終的に流出させるなどの方法により、おこなうこ
とができる。こうして、管部材２の内面１４上および７ 間隙１２内には、所望の量の下塗り用エナメルスリップ
が残ることになる。
し、間隙工２を満たす。これは、例えば、管部材２を、
そのフランジ３の部分で閉じ、下塗り用エナメルスリッ
プが完全に満たし、その後、下塗り用エナメルスリップ
を、最終的に流出させるなどの方法により、おこなうこ
とができる。こうして、管部材２の内面１４上および７ 間隙１２内には、所望の量の下塗り用エナメルスリップ
が残ることになる。
（６）下塗り用エナメルスリップを、空気乾燥器内で、
例えば、２０分間、乾燥する。こうすることにより、ス
リップの粘度は高ま：つ、それに対応して、管部材２と
の接着性も高くなる。
例えば、２０分間、乾燥する。こうすることにより、ス
リップの粘度は高ま：つ、それに対応して、管部材２と
の接着性も高くなる。
（７）電極９の端表面１３に付着している下塗り用エナ
メルスリップを取り除き、清浄化する。これは、例えば
、ブラシまたはスポンジなどの研磨材を備えたキャリア
などを用いて、おこなわれる。
メルスリップを取り除き、清浄化する。これは、例えば
、ブラシまたはスポンジなどの研磨材を備えたキャリア
などを用いて、おこなわれる。
（８）全体を、オーブン内で加熱し、下塗り用エナメル
を合流させる。本実施例におけるテストでは、加熱は、
８分間おこない、温度は、８２０℃まで上昇させた。
を合流させる。本実施例におけるテストでは、加熱は、
８分間おこない、温度は、８２０℃まで上昇させた。
（９）被覆用エナメルスリップの粘度を、所望の厚みの
層が形成し得るように調整する。
層が形成し得るように調整する。
住Ｏ被覆用エナメルスリップを、下塗り用エナメルスリ
ップに供給する。これも、管部材２の端を閉じ、被覆用
エナメルスリップにより、管８ 部材２を満たし、その後、被覆用エナメルスリップを流
出させることによって、実施することができる。
ップに供給する。これも、管部材２の端を閉じ、被覆用
エナメルスリップにより、管８ 部材２を満たし、その後、被覆用エナメルスリップを流
出させることによって、実施することができる。
Ｑｌ） 被覆用エナメルスリップを、空気乾燥器内で
乾燥する。
乾燥する。
０２）電極９の端表面１３から、過剰の被覆用エナメル
スリップを取り除く。
スリップを取り除く。
（１２） 全体を、再び、オーブン内で加熱し、被覆用
エナメルスリップを合流させる。
エナメルスリップを合流させる。
（１０） ホルダー１１を取り除く。
（１２） こうして製造された測定管（の耐漏れ性を、
漏れ試験により、テストする。
漏れ試験により、テストする。
一実施例においては、エナメル下塗り層１６の厚さは、
０．０６ないし０．０７ ｍｍであり、間隙１２は、０
．５ ｍｍであった。また、エナメル被覆層１７の厚さ
は、０．２３ないし０．２４ ｍｍであり、その結果、
ライニング１５の総厚は、０．３ ｍｍであった。
０．０６ないし０．０７ ｍｍであり、間隙１２は、０
．５ ｍｍであった。また、エナメル被覆層１７の厚さ
は、０．２３ないし０．２４ ｍｍであり、その結果、
ライニング１５の総厚は、０．３ ｍｍであった。
さらに、電極９は、管部材２の内面１４から０．７ｍｍ
だけ、したがって、ライニング１５からは、０、４ ｍ
ｍだけ、突出していた。
だけ、したがって、ライニング１５からは、０、４ ｍ
ｍだけ、突出していた。
■
ライニング１５の厚さは、両端部では、小さくなってい
るが、第３図に示される本発明の別の実施例に係る測定
管１おいては、管部材１０２は、そのフランジ１０３に
おいて、環状のリブ１２０を備えており、このように構
成した場合には、ライニング１１５は、両端部まで、均
一の厚さに形成することができる。このようにすること
によって、ゴミが蓄積する可能性のあるポケットなどが
形成されるのを防止することが可能になる。このことは
、食品工業において、重要なことである。
るが、第３図に示される本発明の別の実施例に係る測定
管１おいては、管部材１０２は、そのフランジ１０３に
おいて、環状のリブ１２０を備えており、このように構
成した場合には、ライニング１１５は、両端部まで、均
一の厚さに形成することができる。このようにすること
によって、ゴミが蓄積する可能性のあるポケットなどが
形成されるのを防止することが可能になる。このことは
、食品工業において、重要なことである。
なお、第３図において、１１４は、管部材１０２の内面
、１１６は、エナメル下塗り層、１１７は、エナメル被
覆層である。
、１１６は、エナメル下塗り層、１１７は、エナメル被
覆層である。
第４図に示された本発明の他の実施例に係る測定管１に
おいては、耐酸性のスチールからなるスリーブ２２１が
、溶接によって、管部材２０２内に形成されている。こ
のスリーブ２２１は、電極２０９のホルダーとして機能
するセラミックプラグ２２２を保持している。間隙２１
２は、ここでは、電極２０９とスリーブ２２１の内面と
の間に０ 形成されている。エナメル下塗り層２１６、間隙２１２
内に形成されるエナメル下塗り層２１８およびエナメル
被覆層２１７の形成方法は、第１図および第２図に示さ
れた実施例と同一である。
おいては、耐酸性のスチールからなるスリーブ２２１が
、溶接によって、管部材２０２内に形成されている。こ
のスリーブ２２１は、電極２０９のホルダーとして機能
するセラミックプラグ２２２を保持している。間隙２１
２は、ここでは、電極２０９とスリーブ２２１の内面と
の間に０ 形成されている。エナメル下塗り層２１６、間隙２１２
内に形成されるエナメル下塗り層２１８およびエナメル
被覆層２１７の形成方法は、第１図および第２図に示さ
れた実施例と同一である。
一実施例においては、下塗り用エナメルは、ガラスエナ
メルで、被覆用エナメルは、酸化クロト顔料を含んだガ
ラスエナメルであった。これらのエナメルは、商業的に
一般的なものである３、下塗り用エナメルの温度膨張係
数は、加熱中に、エナメルが脱離することを防止するた
めに、管部材の温度膨張係数と被覆用エナメルの温度膨
張係数との間に設定された。
メルで、被覆用エナメルは、酸化クロト顔料を含んだガ
ラスエナメルであった。これらのエナメルは、商業的に
一般的なものである３、下塗り用エナメルの温度膨張係
数は、加熱中に、エナメルが脱離することを防止するた
めに、管部材の温度膨張係数と被覆用エナメルの温度膨
張係数との間に設定された。
本発明は、以上の実施例に限定されることなく特許請求
の範囲に記載された発明の範囲内で、種々の変更が可能
であり、それらも本発明の範囲内に包含されるものであ
ることはいうまでもない。
の範囲に記載された発明の範囲内で、種々の変更が可能
であり、それらも本発明の範囲内に包含されるものであ
ることはいうまでもない。
発明の効果
本発明によれば、簡易に、かつ、大量生産に適した方法
で製造することのできる連続した絶縁性ライニングを有
する電磁流量計用測定管およびそ１ の製造方法を提供することが可能になる。
で製造することのできる連続した絶縁性ライニングを有
する電磁流量計用測定管およびそ１ の製造方法を提供することが可能になる。
第１図は、本発明の実施例に係る測定管の略縦断面図で
あり、第２図は、第１図のΔで示される電極部分の略拡
大断面図である。第３図は、本発明の別の実施例に係る
測定管の管部材の端部の構造を示ず略縦断面図であり、
第４図は、本発明の他の実施例に係る測定管の電極部分
の略拡大断面図である。 １・・・・・・測定管、 ２．１０２．２０２・・・・・・管部材、９．２０９・
・・・・・電極、 １０・・・・・・貫通路、 １１・・・・・・ホ
ルダー１２．２１２・・・・・・間隙、 １３・・・・・・電極の端表面、 １４．１１４・・・・・・管部祠の内面、１５．１１５
・・・・・・ライニング、１６．１１６．２１６・・・
・・・エナメル下塗り層、１７．１１７．２１７・・・
・・・エナメル被覆層、１２０・・・・・・リブ、 ２ ２２１・・・・・・スリ ブ、 ２２２・・・・・・セラミックプラグ。
あり、第２図は、第１図のΔで示される電極部分の略拡
大断面図である。第３図は、本発明の別の実施例に係る
測定管の管部材の端部の構造を示ず略縦断面図であり、
第４図は、本発明の他の実施例に係る測定管の電極部分
の略拡大断面図である。 １・・・・・・測定管、 ２．１０２．２０２・・・・・・管部材、９．２０９・
・・・・・電極、 １０・・・・・・貫通路、 １１・・・・・・ホ
ルダー１２．２１２・・・・・・間隙、 １３・・・・・・電極の端表面、 １４．１１４・・・・・・管部祠の内面、１５．１１５
・・・・・・ライニング、１６．１１６．２１６・・・
・・・エナメル下塗り層、１７．１１７．２１７・・・
・・・エナメル被覆層、１２０・・・・・・リブ、 ２ ２２１・・・・・・スリ ブ、 ２２２・・・・・・セラミックプラグ。
Claims (16)
- （１） ステンレススチールなどの非磁性金属の管部材
と、貫通路内に配置された金属電極と、溶融可能で、非
導電性の材料からなる前記管部材の内面および前記貫通
路を覆う連続したライニングを備えた電磁流量計用の測
定管の製造方法において、前記管部材の内面から、内方
に突出するように、複数の電極を貫通路内に固定し、前
記管部材の内面、および、各電極とこれに対応する前記
貫通路との間の間隙全体に、下塗り用エナメルスリップ
を供給し、前記各電極の端表面から、前記下塗り用エナ
メルスリップを取除いて、前記各電極の端表面を清浄化
し、前記下塗り用エナメルスリップを加熱して、溶融し
、しかる後に、冷却することを特徴とする電磁流量計用
の測定管の製造方法。 - （２）さらに、前記下塗り用エナメルスリップが被覆さ
れた前記管部材の内表面に、被覆用エナメルスリップを
供給し、前記各電極の表面から、前記被覆用エナメルス
リップを除去して、前記各電極の表面を清浄化し、前記
被覆用エナメルスリップを加熱して、溶融し、しかる後
に、冷却することを特徴とする請求項（１）に記載の電
磁流量計用の測定管の製造方法。 - （３）前記管部材の内面、および、前記各電極と前記貫
通路との間隙への前記下塗り用エナメルスリップの供給
、あるいは、前記下塗り用エナメルスリップが被覆され
た前記管部材の内面への前記被覆用エナメルスリップの
供給が、前記管部材の一端部を閉じ、閉じた前記端部を
底部に位置させ、前記管部材に、前記下塗り用エナメル
スリップまたは前記被覆用エナメルスリップを満たし、
しかる後に、前記管部材に付着した部分を残して、前記
下塗り用エナメルスリップまたは前記被覆用エナメルな
されることを特徴とする請求項（１）または（２）に記
載の電磁流量計用の測定管の製造方法。 - （４）前記管部材の内面、および、前記各電極と前記貫
通路との間隙への前記下塗り用エナメルスリップの供給
、あるいは、前記下塗り用エナメルスリップが被覆され
た前記管部材の内面への前記被覆用エナメルスリップの
供給がなされた後に、前記下塗り用エナメルスリップま
たは前記被覆用エナメルスリップが乾燥されることを特
徴とする請求項（１）ないし（３）のいずれか１項に記
載の電磁流量計用の測定管の製造方法。 - （５）ブラシを前記管部材内に導入して、前記各電極の
端表面から、前記下塗り用エナメルスリップまたは前記
被覆用エナメルスリップを取除いて、前記各電極の端表
面を清浄化することを特徴とする請求項（１）ないし（
４）のいずれか１項に記載の電磁流量計用の測定管の製
造方法。 - （６）研磨材を備えたキャリアを前記管部材内に導入し
て、前記各電極の端表面から、前記下塗り用エナメルス
リップまたは前記被覆用エナメルスリップを取除いて、
前記各電極の端表面を清浄化することを特徴とする請求
項（１）ないし（４）のいずれか１項に記載の電磁流量
計用の測定管の製造方法。 - （７）前記複数の電極を前記貫通路内に固定するのに先
立って、前記管部材の少なくとも前記内面が、粗面化さ
れることを特徴とする請求項（１）ないし（６）のいず
れか１項に記載の電磁流量計用の測定管の製造方法。 - （８）前記複数の電極を前記貫通路内に固定するのに先
立って、前記管部材が、アニール処理されて、応力が除
去されることを特徴とする請求項（１）ないし（７）の
いずれか１項に記載の電磁流量計用の測定管の製造方法
。 - （９）前記下塗り用エナメルスリップの粘度が、前記被
覆用エナメルスリップの粘度より、低くなるように調整
されたことを特徴とする請求項（２）ないし（８）のい
ずれか１項に記載の電磁流量計用の測定管の製造方法。 - （１０）ステンレススチールなどの非磁性金属の管部材
と、貫通路内に配置された金属電極と、溶融可能で、非
導電性の材料からなる前記管部材の内面および前記貫通
路を覆う連続したライニングを備えた電磁流量計用の測
定管において、前記ライニングが、前記管部材の内面、
および、前記各電極と対応する前記貫通路との間の間隙
全体を覆う連続したエナメル下塗り層と、該エナメル下
塗り層の内面を覆うエナメル被覆層からなり、前記各電
極が、前記管部材の内面から、前記エナメル下塗り層お
よび前記エナメル被覆層を貫通して、突出するように配
置されるとともに、エナメルにより被覆されていない端
部を備えていることを特徴とする電磁流量計用の測定管
。 - （１１）前記各電極が、前記エナメル下塗り層および前
記エナメル被覆層から、半径方向に対して、内方に、突
出するように配置されていることを特徴とする請求項（
１０）に記載の電磁流量計用の測定管。 - （１２）前記エナメル下塗り層が、前記間隙の幅と前記
エナメル被覆層の厚さに対し、ごくわずかな厚さしか有
していないことを特徴とする請求項（１０）または（１
１）に記載の電磁流量計用の測定管。 - （１３）前記管部材の前記内面の各端部に、内方に突出
し、その半径方向の高さが、前記エナメル下塗り層およ
び前記エナメル被覆層の厚さに実質的に対応する環状の
リブが設けられたことを特徴とする請求項（１０）ない
し（１２）のいずれか１項に記載の電磁流量計用の測定
管。 - （１４）前記電極が、前記管部材に取付けられたスリー
ブ内に挿入された非導電性のプラグにより保持されてい
ることを特徴とする請求項（１０）ないし（１３）のい
ずれか１項に記載の電磁流量計用の測定管。 - （１５）前記スリーブが、スチールよりなり、溶接によ
って、前記管部材内に形成され、前記貫通路を形成する
ことを特徴とする請求項（１４）に記載の電磁流量計用
の測定管。 - （１６）前記プラグが、セラミック材料よりなることを
特徴とする請求項（１４）または（１５）に記載の電磁
流量計用の測定管。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3917975.3 | 1989-06-02 | ||
| DE3917975A DE3917975A1 (de) | 1989-06-02 | 1989-06-02 | Verfahren zum herstellen eines messrohres fuer einen elektromagnetischen durchflussmesser und messrohr |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0341317A true JPH0341317A (ja) | 1991-02-21 |
| JPH0781889B2 JPH0781889B2 (ja) | 1995-09-06 |
Family
ID=6381899
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2139520A Expired - Lifetime JPH0781889B2 (ja) | 1989-06-02 | 1990-05-29 | 電磁流量計用測定管およびその製造方法 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5062305A (ja) |
| JP (1) | JPH0781889B2 (ja) |
| CA (1) | CA2017048C (ja) |
| CH (1) | CH680387A5 (ja) |
| DE (1) | DE3917975A1 (ja) |
| DK (1) | DK99290A (ja) |
| GB (1) | GB2232257B (ja) |
Families Citing this family (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5289725A (en) * | 1991-07-31 | 1994-03-01 | The Foxboro Company | Monolithic flow tube with improved dielectric properties for use with a magnetic flowmeter |
| DE4302158C2 (de) * | 1993-01-27 | 1996-07-11 | Turbo Werk Messtechnik Gmbh | Magnetisch-induktiver Durchflußmesser |
| DE4327876C2 (de) * | 1993-08-19 | 2002-10-10 | Danfoss As | Meßstrecke für einen elektromagnetischen Durchflußmesser und Verfahren zu ihrer Herstellung |
| EP0762084A3 (de) * | 1995-09-12 | 1998-04-22 | Georg Fischer Rohrleitungssysteme AG | Magnetisch-induktiver Durchflussmesser |
| US5773723A (en) * | 1995-09-29 | 1998-06-30 | Lewis; Peter B. | Flow tube liner |
| US6973711B1 (en) * | 2000-05-24 | 2005-12-13 | Fonar Corporation | Method for making pieces for a magnetic resonance imaging magnet |
| DE10045583B4 (de) * | 2000-09-15 | 2013-07-25 | Knick Elektronische Messgeräte GmbH & Co. KG | Induktive Leitfähigkeitsmeßzelle |
| US20060260415A1 (en) * | 2005-04-26 | 2006-11-23 | Severn Trent Metering Services Limited | Meter |
| US7827870B2 (en) * | 2005-04-26 | 2010-11-09 | Severn Trent Metering Services Limited | Meter |
| DE102006004757A1 (de) * | 2005-12-23 | 2007-07-05 | Abb Patent Gmbh | Wirbeldurchflussmesseinrichtung |
| DE102007009050A1 (de) * | 2007-02-21 | 2008-08-28 | Endress + Hauser Flowtec Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Montage einer Messelektrode bei einem magnetisch-induktiven Durchflussmessgerät |
| DE102010032270B4 (de) * | 2010-07-26 | 2016-02-18 | Krohne Ag | Magnetisch-induktives Durchflussmessgerät |
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| DE102013107895A1 (de) * | 2013-07-24 | 2015-01-29 | Endress + Hauser Flowtec Ag | Durchflussmessgerät |
| DE102016123123A1 (de) * | 2016-11-30 | 2018-05-30 | Endress+Hauser Flowtec Ag | Magnetisch-induktives Durchflussmessgerät |
| WO2019072345A1 (en) * | 2017-10-12 | 2019-04-18 | Apator Miitors Aps | MAGNETO-INDUCTIVE FLOWMETER AND MEASURING TUBE THEREFOR |
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- 1989-06-02 DE DE3917975A patent/DE3917975A1/de active Granted
-
1990
- 1990-04-23 DK DK099290A patent/DK99290A/da not_active Application Discontinuation
- 1990-05-07 CH CH1543/90A patent/CH680387A5/de not_active IP Right Cessation
- 1990-05-17 CA CA002017048A patent/CA2017048C/en not_active Expired - Fee Related
- 1990-05-29 US US07/530,907 patent/US5062305A/en not_active Expired - Fee Related
- 1990-05-29 JP JP2139520A patent/JPH0781889B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1990-05-30 GB GB9011982A patent/GB2232257B/en not_active Expired - Fee Related
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| GB9011982D0 (en) | 1990-07-18 |
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