JPH0330457A - 半導体装置の冷却方法および半導体装置 - Google Patents

半導体装置の冷却方法および半導体装置

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JPH0330457A
JPH0330457A JP1163980A JP16398089A JPH0330457A JP H0330457 A JPH0330457 A JP H0330457A JP 1163980 A JP1163980 A JP 1163980A JP 16398089 A JP16398089 A JP 16398089A JP H0330457 A JPH0330457 A JP H0330457A
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semiconductor device
liquefied
liquid
cooling
heat
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JP1163980A
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Hiroshi Akasaki
赤崎 博
Takashi Ishida
尚 石田
Kanji Otsuka
寛治 大塚
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Hitachi ULSI Engineering Corp
Hitachi Ltd
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Hitachi ULSI Engineering Corp
Hitachi Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、半導体装置技術に関し、特に、半導体装置の
冷却技術に適用して有効な技術に関する。
[従来の技術〕 半導体装置の冷却技術としては、たとえば、半導体装置
に放熱フィンなどを設けて半導体装置を空気の自然対流
によって半導体装置を冷却する自然空冷式、あるいは冷
却水などの液体を強制循環させて半導体装置を冷却する
強制循環水冷式などの技術がある。
たとえば、その後者の強制循環水冷式による冷却技術と
しては、液体冷媒流路にノズルを配設し、このノズルか
ら水やフルオロカーボン液などの液体を半導体装置の伝
熱板などの発熱部に流して冷却するようにしたものなど
がある(特開昭60−160150号公報記載)。
[発明が解決しようとする課題] ところで、近年、LSIの高密度化、高集積化により、
消費電力密度の上昇1消費電力の増大などが急速化して
いるが、このような現状に対して、従来の自然空冷式や
強制循環水冷式などの冷却技術では、対応し得なくなっ
ている。
このため、従来の冷却技術に比べ、冷却効率の高い半導
体装置の冷却技術が要望されている。
また、前記した水やフルオロカーボン液を冷媒とした強
制循環水冷式の冷却技術(特開昭60−160150号
公報記載)においては、複雑な伝熱経路が必要とされる
など、構造が複雑化し大型化され、また冷媒による腐食
や汚染などの問題が生じる。
本発明の目的は、冷却効率や半導体装置の信頼性の向上
、冷却構造の簡易化や小型化、冷媒による腐食性や汚染
の防止を図ることができる半導体装置の冷却技術を提供
することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
[課題を解決するための手段] 本願において開示される発明のうち、代表的なものの概
要を簡単に説明すれば、以下のとおりである。
すなわち、本発明の半導体装置の冷却方法は、半導体装
置の発熱部に、たとえばCO2などの所定の液体を供給
して気化させ、その気化潜熱により前記発熱部を冷却す
るものである。
また、本発明の半導体装置は、半導体装置の発熱部に所
定の液体を供給して気化させ、その気化潜熱により前記
発熱部を冷却する液体供給用手段を備えているものであ
る。
[作用] 前記した半導体装置の冷却方法によれば、たとえば液化
CO2などの所定の液体を半導体装置の発熱部に供給し
て気化させ、その気化潜熱により発熱部が冷却されるの
で、冷却効率の向上や冷却構造の簡易化ないし小型化を
図ることができ、また冷媒による腐食や汚染の防止を図
ることができる。
また、前記した半導体装置の構造によれば、半導体装置
の発熱部に所定の液体を供給して気化させ、その気化潜
熱により前記発熱部を冷却する液体供給用手段を備えて
いることにより、その液体供給用手段によって、たとえ
ば液化CO2などの所定の液体が発熱部に供給されて気
化され、その気化潜熱により発熱部が冷却されるので、
冷却効率の向上や冷却構造の簡易化ないし小型化を図る
ことができ、また冷媒による腐食や汚染の防止を図るこ
とができる。
[実施例1〕 第1図は本発明の一実施例である半導体装置を示す断面
図、第2図はその冷却方法の一例を示す半導体装置の断
面図である。
第1図に右いて、LSIなどの半導体装置の配線基板l
上には、たとえば、はんだなどからなるフリップ・チッ
プバンブ2aを介して半導体チップ2が実装されている
半導体チップ2の上方には、耐圧性の液体供給用ノズル
3(液体供給用手段)が設けられ、この筏、5体供給用
バ/L、 3 O液体供給用03°“半導体チップ2の
上面に対向して位置されている。
液体供給用ノズル3内には、液化COa4が7−たされ
、その液体供給用口3aから液化CO24の微粒体が半
導体チップ2の裏面2b(発熱部)に向かって噴出され
るようになっている。
そして、半導体チップ2の裏面2bに均一に噴霧された
液化CO24の微粒体が気化する際に、半導体チップ2
の裏面2b上から潜熱を奪うことにより、界面での熱交
換が行われco2ガス5が発生して半導体チップ2の裏
面2bが直接的に冷却されて半導体装置が冷却される構
造とされている。
この液体供給用ノズル3から噴出される液化CO34は
、−56,6℃以下で、5.llatm以上の圧力を有
する。このため、前記液体供給用ノズル3は、極低温で
の耐圧性ノズルが用いられその液化CO24の高圧性に
より液体供給用ノズル3からの液化CO34の微粒体の
噴出が可能とされている。
そして、この液化CO24の飯粒化により、その気化表
面積の増大化と均一化とが図られている。
また、液化CO24はその気化熱がl 3 Qcal/
gであり、H20などの腐食性を有する液体以外では最
も大きく、気化後の体積膨張も0℃、latmで224
倍となるため、CO2ガス5は熱伝達の媒体となり得る
このような液化CCh4が噴出される液体供給用口3a
およびその液化CO24の供給により冷却される半導体
チップ2は、外壁6によって外部と遮断されている気化
室7に夫々位置されている。
気化室7には、排気口8が設けられ、気化室7において
気化したCO2ガス5が排気口8より強制的に排気され
、この排気口8からの強制的な排熱により排熱効率の向
上が図られている。
排気口8は、?!通用管9によってコンプレッサなどか
らなる圧縮液化機構10を介して液体供給用ノズル3に
接続されていて、排気口8より排気されたC O2ガス
5が圧縮液化機構10を通じて圧111!化されて液化
CO24に還元され、液体供ブ2の裏面2bに再び供給
されて循環される構造とされている。
したがって、本実施例によれば、圧縮液化機構10など
によって002が循環されて半導体装置が冷却されるた
め、新たな液化CCh4を外部から供給することなく、
半導体装置を冷却し続けることができる。この結果、冷
却システムの小型化ないし簡素化および冷却維持費の低
減化を図ることができる。
次に、本実施例の作用について説明する。
先ず、たとえば液体供給用ノズル3内の液化co、4は
その液体供給用口3aから半導体チップ2の裏面2bに
向かって噴出される。
液体供給用口3aから噴出された液化CO24は、半導
体チップ2の裏面2bに均一に噴霧され、この液化CC
h4の微粒体が気化する際に、半導体チップ2の裏面2
bから潜熱を奪うことにより、界面での熱交換が行われ
てCO2ガス5が発生して半導体チップ2が冷却される
この場合に、本発明においては、たとえば気化室7の雰
囲気中の所定圧の減圧やその外部雰囲気との熱の出入り
の遮断などにより、第2図に示すように液体供給用口3
aから噴出した液化CO24の微粒液体4aが断熱膨張
し、気化潜熱による自己冷却により雪状の微粒固体4b
(ドライアイス)となり、この微粒固体4bが半導体チ
ップ2の裏面2bに接触して昇華することにより、半導
体チップ2が、たとえば−80℃程度に冷却されるよう
にしても良い。
このような冷却方法によると、単位重量あたりの気化潜
熱が極大で、しかも無湿状態における半導体装置の冷却
を行うことができ、またその微粒固体4bのCO2は、
固体状態ではなく、液化CO24、すなわち液体状態の
液化CO34で供給されるため、この液体状態の供給に
より冷却システムの小型化を図ることができる。
次に、このようにして、液化cot4から気化した気化
室7内のCO2ガス5、すなわち、液化CO24の微粒
液体4aから直接的に、あるいはその微粒固体4bから
気化したCO,ガス5は、排気口8より排気され、循環
用管9を通じて圧縮液化機構IOに導入される。
そして、圧縮液化機構10に導入されたCO2ガス5は
、圧縮液化機構lOによって圧縮液化され、液体供給用
ノズル3内に還元される。
液体供給用ノズル3内に還元された液化CO24ガスは
、液体供給用口3aから半導体チップ2の裏面2bに向
かって再び噴出され、その液化CCh  4の微粒液体
4aないし微粒固体4bが気化してその気化潜熱により
半導体チップ2が冷却される。
本実施例においては、このように、半導体チップ2を液
化CCh4ガスの気化潜熱により半導体チップ2を直接
的に冷却するので、半導体装置を効率的に、しかも簡素
化ないし小型化された構造によって半導体装置を冷却す
ることができ、また水やフルオロカーボン液などを冷媒
とした冷却手段と異なり、冷媒による腐食や汚染を生じ
させることなく、クリーンな冷却を行うことができる。
024の供給量を所定の制御手段によって制御すること
により、半導体チップ2に対する冷却温度の制御が可能
となる。
また、圧縮液化機構10を介した循環機構により、新た
な液化CO24を外部から供給することなく、半導体装
置を冷却し続けることができるので、冷却化システムの
小型化ないし簡素化、および冷却維持費の低減化を図る
ことができる。
[実施例2] 第3図は本発明の他の実施例である半導体装置を示す要
部断面図である。
この実施例2においては、半導体チップ2がパッケージ
11によって保護され、このパッケージ11のキャップ
表面11a (発熱部)に液化CO,4が供給されて冷
却されるようにしたものである。
また、液体供給用ノズル3には、液体供給用口3aが複
数配設され、この複数の液体供給用口3aにより、液化
CO34の微粒体のパッケージ11のキャップ表面11
aに対する単位面積当りの供給量を増大させて半導体装
置の高発熱に対応できるようにしたものである。
[実施例3] 第4図は本発明の他の実施例である半導体装置を示す要
部断面図である。
この実施例3においては、単数の液体供給用ノズル3か
ら複数の半導体チップ2に液化CO24が供給されるこ
とにより、複数の半導体チップ2が冷却されるようにし
たものである。
[実施例4コ 第5図は本発明の他の実施例である半導体装置を示す要
部断面図である。
この実施例4においては、前記した液体供給用ノズル3
の他に、Heガス13の供給用ノズル12を備えていて
、液体供給用ノズル3からの液化COa4と、供給用ノ
ズル12からのHeガス13とが気化室7に共に供給さ
れて半導体チップ2が冷却される構造とされている。
この構造によれば、Heガス13の熱伝導度がCO2の
熱伝導度に比べ、約10倍高いので、このHeガス13
の添加によって冷却効率をより高めることができる。
なお、気化室7に供給されたHeガス13は、気化室7
からC(h ガス5とともに所定の排気口を通じて排出
されそのCO2ガス5と分離された後に、供給用ノズル
12に還元されてその供給用口から半導体チップ2の裏
面2bに再び供給される構造とされている。すなわち、
CO□と同様に、Heガス13も循環されて使用される
構造とされている。
以上、本発明者によってなされた発明を実施例に基づき
具体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。
たとえば、前記実施例1から実施例4においては、液体
供給用口3aから液化CO24が噴出されて半導体装置
の所定の発熱部に供給されるようになっているが、本発
明においては、たとえば液体供給用口3aから液化CO
14が滴下されて半導体装置の所定の発熱部に供給され
るようにしても良く、その液”化CO24の供給方法は
問わない。
また、前記実施例1から4においては、半導体装置の所
定の発熱部に供給される液体として液化CO24が用い
られているが、本発明においては、液化C(h4に限定
されるものではない。
[発明の効果] 本願において開示される発明のうち、代表的なものによ
って得られる効果を簡単に説明すれば、次のとおりであ
る。
すなわち、たとえば液化CO2などの所定の液体を半導
体装置の発熱部に供給して気化させ、その気化潜熱によ
り発熱部が冷却されるので、冷却効率の向上や冷却構造
の簡易化ないし小型化を図ることができ、また冷媒によ
る腐食や汚染の防止を図ることができる。
また、前記した半導体装置の構造によれば、半導体装置
の発熱部に所定の液体を供給して気化させ、その気化潜
熱により前言2発熱部を冷却する液体供給用手段を備え
ていることにより、その液体供給用手段によって、たと
えば液化CO24などの所定の液体が発熱部に供給され
て気化されその気化潜熱により発熱部が冷却されるので
、冷却効率の向上や冷却構造の簡易化ないし小型化を図
ることができ、また冷媒による腐食や汚染の防止を図る
ことができる。
また、前記実施例1,2、および4,5においては、半
導体チップ2の熱交換部として半導体チップの裏面2b
が用いられているが、本発明においては、半導体チップ
の裏面2bに限定されるものではなく、半導体チップ2
0表面あるいは側面を用いてもよい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例である半導体装置を示す断面
図、 第2図はその冷却方法の一例を示す半導体装置の断面図
、 第3図は本発明の他の実施例である半導体装置を示す要
部断面図、 第4図は本発明の他の実施例である半導体装置を示す要
部断面図、 第5図は本発明の他の実施例である半導体装置を示す要
部断面図である。 1・・・配線基板、2・・・半導体チップ、2a・・・
フリップ・チップバンブ、2b・・・半導体チップの裏
面(発熱部)、3・・・液体供給用ノズル(液体供給用
手段)、3a・・・液体供給用口、4・・・液化CO2
(1体)、4a・・・微粒液体、4b・・・ii!km
固体、5・・・CO、ガス、6・・・外壁、7・・・気
化室、8・・・排気口、9・・・mi用管、10・・・
圧縮液化機構、11・・・パッケージ、lla・・・パ
ッケージのキャップ表面(発熱部)、12・・・供給用
ノズル、13・・・Heガス。 第 2 図 第 図 第 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、半導体装置の発熱部に所定の液体を供給して気化さ
    せ、その気化潜熱により前記発熱部を冷却することを特
    徴とする半導体装置の冷却方法。 2、前記所定の液体が液化CO_2であることを特徴と
    する請求項1記載の半導体装置の冷却方法。 3、前記気化した気体を圧縮液化し、この液化した液体
    を前記発熱部に供給して循環させることを特徴とする請
    求項1、または2記載の半導体装置の冷却方法。 4、半導体装置の発熱部に所定の液体を供給して気化さ
    せ、その気化潜熱により前記半導体装置を冷却する液体
    供給用手段を備えていることを特徴とする半導体装置。 5、前記気化した気体を圧縮液化し、この液化した液体
    を前記液体供給用手段に供給して循環させる循環機構を
    備えていることを特徴とする請求項4記載の半導体装置
JP1163980A 1989-06-28 1989-06-28 半導体装置の冷却方法および半導体装置 Pending JPH0330457A (ja)

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