JPH03295899A - CdTe単結晶の製造方法 - Google Patents

CdTe単結晶の製造方法

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JPH03295899A
JPH03295899A JP9322790A JP9322790A JPH03295899A JP H03295899 A JPH03295899 A JP H03295899A JP 9322790 A JP9322790 A JP 9322790A JP 9322790 A JP9322790 A JP 9322790A JP H03295899 A JPH03295899 A JP H03295899A
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JP
Japan
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crystal
cdte
single crystal
concentration
ampule
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JP9322790A
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English (en)
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Minoru Funaki
船木 稔
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Eneos Corp
Original Assignee
Nippon Mining Co Ltd
Nikko Kyodo Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 且里久孜景欠団 本発明は、放射線検出素子用等として有用なCdTe単
結晶の製造方法に関する。
l米且東 CdTe単結晶は放射線検出素子等に有用であり、その
特性向上、特に高エネルギー分解能化をめざして従来か
らCdTe単結晶の製造方法が検討されている。
高エネルギー分解能を達成するための結晶特性としては
、主に次の2点が重要であることが判っている。
第1点は、高抵抗率であることである。抵抗率が低いと
放射線検出器の信号ノイズが増大するためであり、lX
l0“00m以上の値が必要である。好ましくは5×1
0“00m以上の値が必要である。
第2点はキャリアライフタイムが大きいことである。キ
ャリアライフタイムが小さいと、結晶内部で放射線によ
って励起されたキャリアが結晶表面の電極に到達するま
でに、欠陥や不純物にトラップされるため、結晶内での
キャリアの励起位置(電極からの距離)によって電極で
取り出せる信号の大きさが異なってしまうため、エネル
ギー分解能が低下することになる。
以上のことから、放射線検出素子用の結晶の製造条件の
検討は、高抵抗率化、キャリアライフタイムの増大の2
点に注目して行なわれてきた。
第1魚目の高抵抗率化に対しては、結晶成長時にClあ
るいはIn等をドープして達成される事が報告されてい
る。
第2魚目のキャリアライフタイムの増大に関しては、結
晶の純度の向上によって達成される事が報告されている
が      る    1、 しかしながら、従来報告されている技術では以下の問題
点があった。
必ずしも報告されている条件の塩素化合物やInなどの
添加量で結晶成長しても、目標とする1×10°Ωcm
以上のものが得られるとは限らなかった。例えばClド
ープでは以下のようである。
P、 Ho5chlらのREVUE DE PHYSI
QUE APPLIQUEE、T。
ME +2.FEVRIER,+977、 p 229
−4(7)報告では、Cd、Teの全チャージ量の50
00ppmの01添加量で1.56xlO’Ωcmの抵
抗率が得られることになっている。一方、庄司忠良らが
東北工業大学紀要I理工掌編第7号p155〜で報告し
ているのでは、P、Ho5chlらとほぼ同じ結晶育成
法であるにも拘らず、Cd、Teの全チャージ量の22
0ppmのCI添加量で1 x 20”Ωcmの抵抗率
が得られることになっている。
上記のように従来から報告されているClチャージ量で
確認実験をすると、必ずしも再現性がなく、高抵抗を得
ることができない場合があった。
さらに報告の内容自体も、Clチャージ量と高抵抗化の
関係が不明確であった。
1nドープにおいても同様である。
さらに、CdとTeの組成比が1:1よりTe過剰な状
態にあるTe溶液よりCdTeを析出させる方法(トラ
ベリングヒーター法やTe過剰溶液からのブリッジマン
法等)で、Clなどのドビングを行なって、1×10°
Ωcm以上の抵抗率の結晶を得る方法がある。この方法
であっても原因は不明であるが、必ずしも良質の放射線
検出素子として優れた特性を示す結晶になるとは限らな
いという問題があった。
且豆五璽疾 本発明は、上記の問題点を解決したものであって、放射
線検出素子用のCclTe単結晶の製造方法であって、
CdとTeの組成比が1:1よりTe過剰の状態よりC
dTeを析出させる方法において、得られる単結晶中の
Cl濃度が6重量ppm以上10重量ppm以下となる
ように塩素源を添加し、単結晶の成長後、150℃/h
以上の速度で冷却することを特徴とするCdTe単結晶
の製造方法に関するものである。
点を   る  および 本発明は、CdとTeの組成比が1=1よりTe過剰な
状態よりCdTeを析出させる方法で行なわれる。その
方法としては、トラベリングビター法、Te過剰溶液か
らのブリッジマン法、Te過剰溶液からのグラジエント
フリージング法などがある。
CdTe結晶の抵抗率と結晶中のCl濃度の関係は第1
図に示す関係にある。即ち、放射線検出素子として使用
可能なI X 10”0cm以上の抵抗率を得るために
は、結晶中のCl濃度が6重量ppm以上であることが
必要である。
ここで重要なのは6重量ppmというのは成長してでき
た結晶中のCl濃度である。したがって、結晶成長を行
なう際にアンプル中に添加する塩素源(例えば、CdC
l,、TeCl,、TeCl,、Cl,等)の量でない
ことである。従来から高抵抗の結晶を得るための条件と
して報告されているのは、後者の添加量である。
発明者の検討によれば、ドーパントとなる塩素源は容易
に揮発して、アンプル低温部に付着してしまうために、
アンプルの大きさによってTe過剰溶液中のCI濃度が
大きく変わってしまうこと、また、トラベリングヒータ
ー法の場合では成長温度が異なると、Te溶液への原料
CdTeの溶解量が異なるためTe過剰溶液中のCl濃
度が大きく変わってしまうこと等が原因となって、アン
プル中への添加量を同一にしても、結晶中のCl濃度が
異なってしまうことが明らかとなった。
結局、アンプル中への添加量や結晶成長条件が異なって
も、結晶中のCl濃度を6重量ppm以上の値になるよ
うに塩素源の添加量を調整することによって、放射線検
出素子に適するI X 10’Ωcm以上の抵抗率が得
られる。
高ネルギー分解能の放射線検出素子を得るためには、更
にキャリアライフタイムが大きいことが重要である。
キャリアライフタイムの大きさは、結晶中の塩素濃度及
び結晶成長後の冷却速度が影響する。
第2図は結晶成長後、150℃/hで冷却した時の結晶
中のCI濃度とキャリアライフタイムの関係を示したも
のである。抵抗率がI×10“0cm以上となる01濃
度6ppm以上では、CI濃度が増加するとキャリアラ
イフタイムも減少する傾向がある。
第3図は結晶中の抵抗率が8ppmの場合の結晶成長後
の冷却速度と、キャリアライフタイムの関係を示したも
のである。冷却速度が大きくなるとキャリアライフタイ
ムが大きくなる傾向がある。
以上から、キャリアライフタイムの大きい結晶を得るた
めにはできるだけ01濃度を減少させ、かつ、冷却速度
を大きくすることが好ましい。
本発明は、以上の実験で得られた知見を元になされた。
即ち、結晶中の塩素濃度は6重量ppm以上である必要
がある。6重量ppm未満では結晶の抵抗率が放射線検
出素子用結晶として適する値であるI X 10’Ωc
m以上とならないため不適である。また、10重量pp
mを超える場合はキャリアライフタイムが著しく低下す
るため放射線検出素子用結晶としては不適である。さら
に、結晶成長後の冷却速度は150℃/h以上であるこ
とが必要である。150℃/h未満ではキャリアライフ
タイムが著しく低下するため放射線検出素子用結晶とし
ては不適である。
本発明は、以上のように放射線検出素子用のCdTe単
結晶を成長する条件として、結晶中の01濃度と結晶成
長後の冷却速度の両者がその性能に影響を与えるという
、新規な実験事実に基づいてなされ、良質の放射線検出
素子用のCdTe単結晶を再現良く得るための技術を提
供するものである。
[実施例] 純度99.9999%のCdと99.99999%のT
eをモル比で1=1として石英アンプル中に真空封入し
て1110℃に加熱して、CdTeを合成したあと冷却
し、長さ10cm、直径31mmの円柱上のCdTe多
結晶棒を得た。
次に内径32mmの石英アンプルに、純度99゜999
99%のTeを45gと、純度99.999%の無水C
dCl,を900mgいれた後、この上に上記のCdT
e多結晶棒をいれ、アンプル(Ar300Torrの雰
囲気として封入した。
この時のアンプル長さは15cmである。これを第4図
に示すように山状の温度分布を有する電気炉へ、アンプ
ル先端のTe及び無水CdCl,が入っている部分が、
温度分布の最高温部に位置するようにセットした。この
後、電気炉の最高温部が920℃になるまで昇温した後
、アンプルを回転しながら3 m m 7日のゆっくり
とした速度で下方に移動させて結晶成長を行なった。
25日間の結晶成長の後、電気炉のスイッチを切って、
結晶を冷却した。この時の冷却速度は約150℃/hで
あった。
結晶が室温になった後、これをアンプルから取η出して
ウェハー状に切断した。これを分析した結果、結晶中の
Cl濃度(イオンクロマトグラフ法により、Clを選択
的に回収し、吸光光度法による分析)は7〜9重量pp
mであり、結晶の抵抗率は5X10’Ωcm〜1×10
1Ωcmであった。このウェハーから2mm角、厚さ1
.3mmの結晶を切りだし、無電解めっきによって金電
極をつけて、放射線検出素子を作成した。この素子で°
”Amの放射線(エネルギー60keV)を測定したと
ころ、第5図に示すように60keVピークの半値幅で
8keVの分解能が、印加電圧30Vで得られた。
[比較例1] 実施例1と同様に結晶成長を行なった。但し、無水Cd
Cl,の添加量を250mgとした。この時の結晶中の
01濃度は4〜6重量ppmであり、抵抗率は1×lO
“Ωcm〜6X10“Ωcmであった。これから放射線
検出素子を作成したが放射線のピークが得られなかった
[比較例2コ 実施例1と同様に結晶成長を行なった。但し、無水Cd
Cl,の添加量を1.35gとした。この時の結晶中の
01濃度は8〜20重量ppmであり、抵抗率はI X
 10”Ωcm〜2XIO”ΩCmであった。このうち
の01濃度が20重量ppmのウェハーから放射線検出
素子を作成した。この素子で”41 Amの放射線(エ
ネルギー60keV)を測定したところ、60keVピ
ークの半値幅で12keVの分解能が、印加電圧150
vで得られた。実施例と比較して、エネルギー分解能も
実施例の8keVに対し上記12keVであり好ましい
値でなく、また、印加電圧も実施例の如<30Vでなく
150V必要となり、好ましいものでなかった。
[比較例3] 実施例1と同様に結晶成長を行なった。但し、無水Cd
Cl,の添加量を900mgとし、結晶成長後の冷却速
度を20℃/hとした。この時の結晶中のCl濃度は7
〜9重量ppmであり、抵抗率は6×lO°ΩCm〜2
X10”Ωcmであった。これから放射線検出素子を作
成した。この素子で41 A mの放射線(エネルギー
60keV)を測定したところ、60keVピークの半
値幅で12keVの分解能が、印加電圧130Vで得ら
れた。実施例と比較して、エネルギー分解能も実施例の
8keVに対し上記12keVであり好ましい値でなく
、また、印加電圧も実施例の如く30■でなく130V
必要となり、好ましいものでなかった。
且里圓立米 本発明により、抵抗率がI X 10”Ωcm以上、キ
ャリアライフタイムが0.5μsecと大きく、放射線
検出素子にしたときのエネルギー分解能が、印加電圧も
30Vと小さい値で60keVの放射線の半値幅が8k
eVと小さな値が得られ、放射線検出素子用として良好
なCdTe単結晶が再現性良く製造することができると
いう効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は結晶中の塩素濃度と抵抗率の関係を示したもの
である。第2図は冷却速度が150℃/hのときの結晶
中の塩素濃度とキャリアライフタイムの関係を示したも
のである。第3図は結晶中のCl濃度が8重量ppmの
ときの冷却速度とキャリアライフタイムの関係を示した
ものである。 第4図は実施例の結晶成長開始時の模式図である。 第5図は実施例で製造したCdTe単結晶を用いて放射
線検出素子を作成し、得られたエネルギー・−1 スペクトルの図である。 電気炉 ヒーター Te 無水CdCl゜ CdTe多結晶棒 石英アンプル 第1図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)放射線検出素子用のCdTe単結晶の製造方法で
    あって、CdとTeの組成比が1:1よりTe過剰の状
    態よりCdTeを析出させる方法において、得られる単
    結晶中のCl濃度が6重量ppm以上10重量ppm以
    下となるように塩素源を添加し、単結晶の成長後、15
    0℃/h以上の速度で冷却することを特徴とするCdT
    e単結晶の製造方法。
JP9322790A 1990-04-10 1990-04-10 CdTe単結晶の製造方法 Pending JPH03295899A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7211142B2 (en) 2002-03-19 2007-05-01 Nippon Mining & Metals Co., Ltd. CdTe single crystal and CdTe polycrystal, and method for preparation thereof

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7211142B2 (en) 2002-03-19 2007-05-01 Nippon Mining & Metals Co., Ltd. CdTe single crystal and CdTe polycrystal, and method for preparation thereof

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