JPH03295899A - CdTe単結晶の製造方法 - Google Patents
CdTe単結晶の製造方法Info
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- JPH03295899A JPH03295899A JP9322790A JP9322790A JPH03295899A JP H03295899 A JPH03295899 A JP H03295899A JP 9322790 A JP9322790 A JP 9322790A JP 9322790 A JP9322790 A JP 9322790A JP H03295899 A JPH03295899 A JP H03295899A
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- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
且里久孜景欠団
本発明は、放射線検出素子用等として有用なCdTe単
結晶の製造方法に関する。
結晶の製造方法に関する。
l米且東
CdTe単結晶は放射線検出素子等に有用であり、その
特性向上、特に高エネルギー分解能化をめざして従来か
らCdTe単結晶の製造方法が検討されている。
特性向上、特に高エネルギー分解能化をめざして従来か
らCdTe単結晶の製造方法が検討されている。
高エネルギー分解能を達成するための結晶特性としては
、主に次の2点が重要であることが判っている。
、主に次の2点が重要であることが判っている。
第1点は、高抵抗率であることである。抵抗率が低いと
放射線検出器の信号ノイズが増大するためであり、lX
l0“00m以上の値が必要である。好ましくは5×1
0“00m以上の値が必要である。
放射線検出器の信号ノイズが増大するためであり、lX
l0“00m以上の値が必要である。好ましくは5×1
0“00m以上の値が必要である。
第2点はキャリアライフタイムが大きいことである。キ
ャリアライフタイムが小さいと、結晶内部で放射線によ
って励起されたキャリアが結晶表面の電極に到達するま
でに、欠陥や不純物にトラップされるため、結晶内での
キャリアの励起位置(電極からの距離)によって電極で
取り出せる信号の大きさが異なってしまうため、エネル
ギー分解能が低下することになる。
ャリアライフタイムが小さいと、結晶内部で放射線によ
って励起されたキャリアが結晶表面の電極に到達するま
でに、欠陥や不純物にトラップされるため、結晶内での
キャリアの励起位置(電極からの距離)によって電極で
取り出せる信号の大きさが異なってしまうため、エネル
ギー分解能が低下することになる。
以上のことから、放射線検出素子用の結晶の製造条件の
検討は、高抵抗率化、キャリアライフタイムの増大の2
点に注目して行なわれてきた。
検討は、高抵抗率化、キャリアライフタイムの増大の2
点に注目して行なわれてきた。
第1魚目の高抵抗率化に対しては、結晶成長時にClあ
るいはIn等をドープして達成される事が報告されてい
る。
るいはIn等をドープして達成される事が報告されてい
る。
第2魚目のキャリアライフタイムの増大に関しては、結
晶の純度の向上によって達成される事が報告されている
。
晶の純度の向上によって達成される事が報告されている
。
が る 1、
しかしながら、従来報告されている技術では以下の問題
点があった。
点があった。
必ずしも報告されている条件の塩素化合物やInなどの
添加量で結晶成長しても、目標とする1×10°Ωcm
以上のものが得られるとは限らなかった。例えばClド
ープでは以下のようである。
添加量で結晶成長しても、目標とする1×10°Ωcm
以上のものが得られるとは限らなかった。例えばClド
ープでは以下のようである。
P、 Ho5chlらのREVUE DE PHYSI
QUE APPLIQUEE、T。
QUE APPLIQUEE、T。
ME +2.FEVRIER,+977、 p 229
−4(7)報告では、Cd、Teの全チャージ量の50
00ppmの01添加量で1.56xlO’Ωcmの抵
抗率が得られることになっている。一方、庄司忠良らが
東北工業大学紀要I理工掌編第7号p155〜で報告し
ているのでは、P、Ho5chlらとほぼ同じ結晶育成
法であるにも拘らず、Cd、Teの全チャージ量の22
0ppmのCI添加量で1 x 20”Ωcmの抵抗率
が得られることになっている。
−4(7)報告では、Cd、Teの全チャージ量の50
00ppmの01添加量で1.56xlO’Ωcmの抵
抗率が得られることになっている。一方、庄司忠良らが
東北工業大学紀要I理工掌編第7号p155〜で報告し
ているのでは、P、Ho5chlらとほぼ同じ結晶育成
法であるにも拘らず、Cd、Teの全チャージ量の22
0ppmのCI添加量で1 x 20”Ωcmの抵抗率
が得られることになっている。
上記のように従来から報告されているClチャージ量で
確認実験をすると、必ずしも再現性がなく、高抵抗を得
ることができない場合があった。
確認実験をすると、必ずしも再現性がなく、高抵抗を得
ることができない場合があった。
さらに報告の内容自体も、Clチャージ量と高抵抗化の
関係が不明確であった。
関係が不明確であった。
1nドープにおいても同様である。
さらに、CdとTeの組成比が1:1よりTe過剰な状
態にあるTe溶液よりCdTeを析出させる方法(トラ
ベリングヒーター法やTe過剰溶液からのブリッジマン
法等)で、Clなどのドビングを行なって、1×10°
Ωcm以上の抵抗率の結晶を得る方法がある。この方法
であっても原因は不明であるが、必ずしも良質の放射線
検出素子として優れた特性を示す結晶になるとは限らな
いという問題があった。
態にあるTe溶液よりCdTeを析出させる方法(トラ
ベリングヒーター法やTe過剰溶液からのブリッジマン
法等)で、Clなどのドビングを行なって、1×10°
Ωcm以上の抵抗率の結晶を得る方法がある。この方法
であっても原因は不明であるが、必ずしも良質の放射線
検出素子として優れた特性を示す結晶になるとは限らな
いという問題があった。
且豆五璽疾
本発明は、上記の問題点を解決したものであって、放射
線検出素子用のCclTe単結晶の製造方法であって、
CdとTeの組成比が1:1よりTe過剰の状態よりC
dTeを析出させる方法において、得られる単結晶中の
Cl濃度が6重量ppm以上10重量ppm以下となる
ように塩素源を添加し、単結晶の成長後、150℃/h
以上の速度で冷却することを特徴とするCdTe単結晶
の製造方法に関するものである。
線検出素子用のCclTe単結晶の製造方法であって、
CdとTeの組成比が1:1よりTe過剰の状態よりC
dTeを析出させる方法において、得られる単結晶中の
Cl濃度が6重量ppm以上10重量ppm以下となる
ように塩素源を添加し、単結晶の成長後、150℃/h
以上の速度で冷却することを特徴とするCdTe単結晶
の製造方法に関するものである。
点を る および
本発明は、CdとTeの組成比が1=1よりTe過剰な
状態よりCdTeを析出させる方法で行なわれる。その
方法としては、トラベリングビター法、Te過剰溶液か
らのブリッジマン法、Te過剰溶液からのグラジエント
フリージング法などがある。
状態よりCdTeを析出させる方法で行なわれる。その
方法としては、トラベリングビター法、Te過剰溶液か
らのブリッジマン法、Te過剰溶液からのグラジエント
フリージング法などがある。
CdTe結晶の抵抗率と結晶中のCl濃度の関係は第1
図に示す関係にある。即ち、放射線検出素子として使用
可能なI X 10”0cm以上の抵抗率を得るために
は、結晶中のCl濃度が6重量ppm以上であることが
必要である。
図に示す関係にある。即ち、放射線検出素子として使用
可能なI X 10”0cm以上の抵抗率を得るために
は、結晶中のCl濃度が6重量ppm以上であることが
必要である。
ここで重要なのは6重量ppmというのは成長してでき
た結晶中のCl濃度である。したがって、結晶成長を行
なう際にアンプル中に添加する塩素源(例えば、CdC
l,、TeCl,、TeCl,、Cl,等)の量でない
ことである。従来から高抵抗の結晶を得るための条件と
して報告されているのは、後者の添加量である。
た結晶中のCl濃度である。したがって、結晶成長を行
なう際にアンプル中に添加する塩素源(例えば、CdC
l,、TeCl,、TeCl,、Cl,等)の量でない
ことである。従来から高抵抗の結晶を得るための条件と
して報告されているのは、後者の添加量である。
発明者の検討によれば、ドーパントとなる塩素源は容易
に揮発して、アンプル低温部に付着してしまうために、
アンプルの大きさによってTe過剰溶液中のCI濃度が
大きく変わってしまうこと、また、トラベリングヒータ
ー法の場合では成長温度が異なると、Te溶液への原料
CdTeの溶解量が異なるためTe過剰溶液中のCl濃
度が大きく変わってしまうこと等が原因となって、アン
プル中への添加量を同一にしても、結晶中のCl濃度が
異なってしまうことが明らかとなった。
に揮発して、アンプル低温部に付着してしまうために、
アンプルの大きさによってTe過剰溶液中のCI濃度が
大きく変わってしまうこと、また、トラベリングヒータ
ー法の場合では成長温度が異なると、Te溶液への原料
CdTeの溶解量が異なるためTe過剰溶液中のCl濃
度が大きく変わってしまうこと等が原因となって、アン
プル中への添加量を同一にしても、結晶中のCl濃度が
異なってしまうことが明らかとなった。
結局、アンプル中への添加量や結晶成長条件が異なって
も、結晶中のCl濃度を6重量ppm以上の値になるよ
うに塩素源の添加量を調整することによって、放射線検
出素子に適するI X 10’Ωcm以上の抵抗率が得
られる。
も、結晶中のCl濃度を6重量ppm以上の値になるよ
うに塩素源の添加量を調整することによって、放射線検
出素子に適するI X 10’Ωcm以上の抵抗率が得
られる。
高ネルギー分解能の放射線検出素子を得るためには、更
にキャリアライフタイムが大きいことが重要である。
にキャリアライフタイムが大きいことが重要である。
キャリアライフタイムの大きさは、結晶中の塩素濃度及
び結晶成長後の冷却速度が影響する。
び結晶成長後の冷却速度が影響する。
第2図は結晶成長後、150℃/hで冷却した時の結晶
中のCI濃度とキャリアライフタイムの関係を示したも
のである。抵抗率がI×10“0cm以上となる01濃
度6ppm以上では、CI濃度が増加するとキャリアラ
イフタイムも減少する傾向がある。
中のCI濃度とキャリアライフタイムの関係を示したも
のである。抵抗率がI×10“0cm以上となる01濃
度6ppm以上では、CI濃度が増加するとキャリアラ
イフタイムも減少する傾向がある。
第3図は結晶中の抵抗率が8ppmの場合の結晶成長後
の冷却速度と、キャリアライフタイムの関係を示したも
のである。冷却速度が大きくなるとキャリアライフタイ
ムが大きくなる傾向がある。
の冷却速度と、キャリアライフタイムの関係を示したも
のである。冷却速度が大きくなるとキャリアライフタイ
ムが大きくなる傾向がある。
以上から、キャリアライフタイムの大きい結晶を得るた
めにはできるだけ01濃度を減少させ、かつ、冷却速度
を大きくすることが好ましい。
めにはできるだけ01濃度を減少させ、かつ、冷却速度
を大きくすることが好ましい。
本発明は、以上の実験で得られた知見を元になされた。
即ち、結晶中の塩素濃度は6重量ppm以上である必要
がある。6重量ppm未満では結晶の抵抗率が放射線検
出素子用結晶として適する値であるI X 10’Ωc
m以上とならないため不適である。また、10重量pp
mを超える場合はキャリアライフタイムが著しく低下す
るため放射線検出素子用結晶としては不適である。さら
に、結晶成長後の冷却速度は150℃/h以上であるこ
とが必要である。150℃/h未満ではキャリアライフ
タイムが著しく低下するため放射線検出素子用結晶とし
ては不適である。
がある。6重量ppm未満では結晶の抵抗率が放射線検
出素子用結晶として適する値であるI X 10’Ωc
m以上とならないため不適である。また、10重量pp
mを超える場合はキャリアライフタイムが著しく低下す
るため放射線検出素子用結晶としては不適である。さら
に、結晶成長後の冷却速度は150℃/h以上であるこ
とが必要である。150℃/h未満ではキャリアライフ
タイムが著しく低下するため放射線検出素子用結晶とし
ては不適である。
本発明は、以上のように放射線検出素子用のCdTe単
結晶を成長する条件として、結晶中の01濃度と結晶成
長後の冷却速度の両者がその性能に影響を与えるという
、新規な実験事実に基づいてなされ、良質の放射線検出
素子用のCdTe単結晶を再現良く得るための技術を提
供するものである。
結晶を成長する条件として、結晶中の01濃度と結晶成
長後の冷却速度の両者がその性能に影響を与えるという
、新規な実験事実に基づいてなされ、良質の放射線検出
素子用のCdTe単結晶を再現良く得るための技術を提
供するものである。
[実施例]
純度99.9999%のCdと99.99999%のT
eをモル比で1=1として石英アンプル中に真空封入し
て1110℃に加熱して、CdTeを合成したあと冷却
し、長さ10cm、直径31mmの円柱上のCdTe多
結晶棒を得た。
eをモル比で1=1として石英アンプル中に真空封入し
て1110℃に加熱して、CdTeを合成したあと冷却
し、長さ10cm、直径31mmの円柱上のCdTe多
結晶棒を得た。
次に内径32mmの石英アンプルに、純度99゜999
99%のTeを45gと、純度99.999%の無水C
dCl,を900mgいれた後、この上に上記のCdT
e多結晶棒をいれ、アンプル(Ar300Torrの雰
囲気として封入した。
99%のTeを45gと、純度99.999%の無水C
dCl,を900mgいれた後、この上に上記のCdT
e多結晶棒をいれ、アンプル(Ar300Torrの雰
囲気として封入した。
この時のアンプル長さは15cmである。これを第4図
に示すように山状の温度分布を有する電気炉へ、アンプ
ル先端のTe及び無水CdCl,が入っている部分が、
温度分布の最高温部に位置するようにセットした。この
後、電気炉の最高温部が920℃になるまで昇温した後
、アンプルを回転しながら3 m m 7日のゆっくり
とした速度で下方に移動させて結晶成長を行なった。
に示すように山状の温度分布を有する電気炉へ、アンプ
ル先端のTe及び無水CdCl,が入っている部分が、
温度分布の最高温部に位置するようにセットした。この
後、電気炉の最高温部が920℃になるまで昇温した後
、アンプルを回転しながら3 m m 7日のゆっくり
とした速度で下方に移動させて結晶成長を行なった。
25日間の結晶成長の後、電気炉のスイッチを切って、
結晶を冷却した。この時の冷却速度は約150℃/hで
あった。
結晶を冷却した。この時の冷却速度は約150℃/hで
あった。
結晶が室温になった後、これをアンプルから取η出して
ウェハー状に切断した。これを分析した結果、結晶中の
Cl濃度(イオンクロマトグラフ法により、Clを選択
的に回収し、吸光光度法による分析)は7〜9重量pp
mであり、結晶の抵抗率は5X10’Ωcm〜1×10
1Ωcmであった。このウェハーから2mm角、厚さ1
.3mmの結晶を切りだし、無電解めっきによって金電
極をつけて、放射線検出素子を作成した。この素子で°
”Amの放射線(エネルギー60keV)を測定したと
ころ、第5図に示すように60keVピークの半値幅で
8keVの分解能が、印加電圧30Vで得られた。
ウェハー状に切断した。これを分析した結果、結晶中の
Cl濃度(イオンクロマトグラフ法により、Clを選択
的に回収し、吸光光度法による分析)は7〜9重量pp
mであり、結晶の抵抗率は5X10’Ωcm〜1×10
1Ωcmであった。このウェハーから2mm角、厚さ1
.3mmの結晶を切りだし、無電解めっきによって金電
極をつけて、放射線検出素子を作成した。この素子で°
”Amの放射線(エネルギー60keV)を測定したと
ころ、第5図に示すように60keVピークの半値幅で
8keVの分解能が、印加電圧30Vで得られた。
[比較例1]
実施例1と同様に結晶成長を行なった。但し、無水Cd
Cl,の添加量を250mgとした。この時の結晶中の
01濃度は4〜6重量ppmであり、抵抗率は1×lO
“Ωcm〜6X10“Ωcmであった。これから放射線
検出素子を作成したが放射線のピークが得られなかった
。
Cl,の添加量を250mgとした。この時の結晶中の
01濃度は4〜6重量ppmであり、抵抗率は1×lO
“Ωcm〜6X10“Ωcmであった。これから放射線
検出素子を作成したが放射線のピークが得られなかった
。
[比較例2コ
実施例1と同様に結晶成長を行なった。但し、無水Cd
Cl,の添加量を1.35gとした。この時の結晶中の
01濃度は8〜20重量ppmであり、抵抗率はI X
10”Ωcm〜2XIO”ΩCmであった。このうち
の01濃度が20重量ppmのウェハーから放射線検出
素子を作成した。この素子で”41 Amの放射線(エ
ネルギー60keV)を測定したところ、60keVピ
ークの半値幅で12keVの分解能が、印加電圧150
vで得られた。実施例と比較して、エネルギー分解能も
実施例の8keVに対し上記12keVであり好ましい
値でなく、また、印加電圧も実施例の如<30Vでなく
150V必要となり、好ましいものでなかった。
Cl,の添加量を1.35gとした。この時の結晶中の
01濃度は8〜20重量ppmであり、抵抗率はI X
10”Ωcm〜2XIO”ΩCmであった。このうち
の01濃度が20重量ppmのウェハーから放射線検出
素子を作成した。この素子で”41 Amの放射線(エ
ネルギー60keV)を測定したところ、60keVピ
ークの半値幅で12keVの分解能が、印加電圧150
vで得られた。実施例と比較して、エネルギー分解能も
実施例の8keVに対し上記12keVであり好ましい
値でなく、また、印加電圧も実施例の如<30Vでなく
150V必要となり、好ましいものでなかった。
[比較例3]
実施例1と同様に結晶成長を行なった。但し、無水Cd
Cl,の添加量を900mgとし、結晶成長後の冷却速
度を20℃/hとした。この時の結晶中のCl濃度は7
〜9重量ppmであり、抵抗率は6×lO°ΩCm〜2
X10”Ωcmであった。これから放射線検出素子を作
成した。この素子で41 A mの放射線(エネルギー
60keV)を測定したところ、60keVピークの半
値幅で12keVの分解能が、印加電圧130Vで得ら
れた。実施例と比較して、エネルギー分解能も実施例の
8keVに対し上記12keVであり好ましい値でなく
、また、印加電圧も実施例の如く30■でなく130V
必要となり、好ましいものでなかった。
Cl,の添加量を900mgとし、結晶成長後の冷却速
度を20℃/hとした。この時の結晶中のCl濃度は7
〜9重量ppmであり、抵抗率は6×lO°ΩCm〜2
X10”Ωcmであった。これから放射線検出素子を作
成した。この素子で41 A mの放射線(エネルギー
60keV)を測定したところ、60keVピークの半
値幅で12keVの分解能が、印加電圧130Vで得ら
れた。実施例と比較して、エネルギー分解能も実施例の
8keVに対し上記12keVであり好ましい値でなく
、また、印加電圧も実施例の如く30■でなく130V
必要となり、好ましいものでなかった。
且里圓立米
本発明により、抵抗率がI X 10”Ωcm以上、キ
ャリアライフタイムが0.5μsecと大きく、放射線
検出素子にしたときのエネルギー分解能が、印加電圧も
30Vと小さい値で60keVの放射線の半値幅が8k
eVと小さな値が得られ、放射線検出素子用として良好
なCdTe単結晶が再現性良く製造することができると
いう効果がある。
ャリアライフタイムが0.5μsecと大きく、放射線
検出素子にしたときのエネルギー分解能が、印加電圧も
30Vと小さい値で60keVの放射線の半値幅が8k
eVと小さな値が得られ、放射線検出素子用として良好
なCdTe単結晶が再現性良く製造することができると
いう効果がある。
第1図は結晶中の塩素濃度と抵抗率の関係を示したもの
である。第2図は冷却速度が150℃/hのときの結晶
中の塩素濃度とキャリアライフタイムの関係を示したも
のである。第3図は結晶中のCl濃度が8重量ppmの
ときの冷却速度とキャリアライフタイムの関係を示した
ものである。 第4図は実施例の結晶成長開始時の模式図である。 第5図は実施例で製造したCdTe単結晶を用いて放射
線検出素子を作成し、得られたエネルギー・−1 スペクトルの図である。 電気炉 ヒーター Te 無水CdCl゜ CdTe多結晶棒 石英アンプル 第1図
である。第2図は冷却速度が150℃/hのときの結晶
中の塩素濃度とキャリアライフタイムの関係を示したも
のである。第3図は結晶中のCl濃度が8重量ppmの
ときの冷却速度とキャリアライフタイムの関係を示した
ものである。 第4図は実施例の結晶成長開始時の模式図である。 第5図は実施例で製造したCdTe単結晶を用いて放射
線検出素子を作成し、得られたエネルギー・−1 スペクトルの図である。 電気炉 ヒーター Te 無水CdCl゜ CdTe多結晶棒 石英アンプル 第1図
Claims (1)
- (1)放射線検出素子用のCdTe単結晶の製造方法で
あって、CdとTeの組成比が1:1よりTe過剰の状
態よりCdTeを析出させる方法において、得られる単
結晶中のCl濃度が6重量ppm以上10重量ppm以
下となるように塩素源を添加し、単結晶の成長後、15
0℃/h以上の速度で冷却することを特徴とするCdT
e単結晶の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9322790A JPH03295899A (ja) | 1990-04-10 | 1990-04-10 | CdTe単結晶の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9322790A JPH03295899A (ja) | 1990-04-10 | 1990-04-10 | CdTe単結晶の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03295899A true JPH03295899A (ja) | 1991-12-26 |
Family
ID=14076659
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9322790A Pending JPH03295899A (ja) | 1990-04-10 | 1990-04-10 | CdTe単結晶の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03295899A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7211142B2 (en) | 2002-03-19 | 2007-05-01 | Nippon Mining & Metals Co., Ltd. | CdTe single crystal and CdTe polycrystal, and method for preparation thereof |
-
1990
- 1990-04-10 JP JP9322790A patent/JPH03295899A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7211142B2 (en) | 2002-03-19 | 2007-05-01 | Nippon Mining & Metals Co., Ltd. | CdTe single crystal and CdTe polycrystal, and method for preparation thereof |
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