JPH03295339A - プロトコル検証用試験方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、通信プロトコルに従って動作する通信制御処
理装置のプロトコルの検証を行うための試験方式に関す
るものである。

［従来の技術］ 一般に、通信プロトコル仕様に従って動作する通信制御
処理装置の機能は、状態遷移表で記述される。この状態
遷移表は、装置の状態と、その状態での入力イベントと
、それによって決められた処理手順と、次に遷移する状
態の組み合わせで表現される。

この状態遷移表を基にして、ある状態において入力され
たイヘントにより次の状態に遷移するまでの手順の検証
を行う場合、 （１）検証を実施するための試験条件を設定する手順（
以下、前手順と呼ぶ）と、 （２）その状態において人力されたイヘントによって決
められた処理手順の実施結果のチエ、りと、（３）遷移
した状態から初期状態に設定する手順（以下、後手順と
呼ぶ）との３つの手順が必要である。

このうち従来の前手順の方法としては、■初期状態から
試験条件までの基本的な状態設定手順（以下、基本状態
設定手順と呼ぶ）を試験装置側で予め一義的に用意して
おき、その基本状態設定手順を実行する方法、 ■あるいは、試験者が予め試験項目毎に基本状態設定手
順を作成しておき、その手順を実行する方法 のいずれかを採用していた。

また、後手順の方法についても、前手順と同様な方法で
実現していた。

［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、上記した■、■のプロトコル検証試験方
式では、共に基本状態設定手順が固定されてしまうため
、試験回数にかかわらず初期状態から試験条件の状態ま
では必ず同一手順で遷移することになる。このため、試
験条件の状態に至る経路は−通り以上存在するにもかか
わらず、試験条件がいつも一定であり、検証の確実性に
欠けるとともに、完全なプロトコル検証かできないとい
う欠点かあった。

この発明の目的は、前手順または後手順において、同一
の試験を複数回実行する場合に、初期状態から試験条件
の状態への遷移の手順を試験実施毎に変化させることに
よって、上述した従来方式の欠点を解消して、検証の確
実性を上げるとともに、完全なプロトコル検証の自動化
を可能とするプロトコル検証用試験方式を提供すること
にある。

［課題を解決するための手段］ 本発明のプロトコル検証用試験方式は、試験装置と被試
験装置との間で通信を行い、被試験装置のプロトコルの
検証を行うための試験方式において、被試験装置の初期
状態から検証すべき試験の現状態までの遷移の手順を自
動的かつランダムに作成する前手順作成機能と、検証す
べき試験の次状態から初期状態までの遷移の手順を自動
的かつランダムに作成する後手順作成機能とを備え、こ
れらの前手順作成機能と後手順作成機能とを利用して、
同一試験条件の状態においても同一試験実施毎に常に異
なった試験手順で実行するようにしたものである。

遷移の手順をランタムに作成するには、乱数発生器を用
いることか、簡易かつ確実である。

また、遷移の手順を自動的に作成するには、現状態また
は次状態から初期状態になるまでの経路をたと−）て行
けばよい。

［作用］ 検証すべき試験の現状態から一つつつ手前の状態に順次
遡って行けば、必ず初期状態に戻るはずである。また、
検証すべき試験の次状態から更に次の状態へと順次進め
て行けば、必ず初期状態に戻るはずである。

また、初期状態から試験条件の現状態に至る経路および
、試験条件の次状態から初期状態に戻る経路は共に−通
り以上存在する。

従って、前手順の作成に当たっては、上記経路の到着点
（検証すべき試験の現状態）の一つ手前の点を任意に選
択するようにすれば、後はそこから初期状態に至るまで
自動的に経路を遡っていくことが可能となる。

また、後手順の作成に当たっては、上記経路の出発点（
検証すべき試験の次状態）の一つ先の点を任意に選択す
るようにすれば、後はそこから初期状態になるまで、同
様にして自動的に経路をたとって行くことか可能となる
。

これらの選択は乱数によって容易に行える。また、経路
をたとっていくには、現状態と初期状態とを比較して、
一致するまＣ繰り返すことで行える。

し実施例； 以下、本発明の実施例を第１図〜第７図を用いて説明す
る。

第２図は本発明の一実施例におけるプロトコル検証用試
験装置の全体構成図である。

２１はプロトコルを検証するための試験装置、２４は試
験装置２１によってプロトコルの検証か行われる被試験
装置である。これらの装置は共にプロトコルを処理する
通信制御処理装置（プロトコル機械）であり、双方のプ
ロトコル機械か実際にプロトコル仕様に従って動作した
ときに提供されるサービスを、元の仕様に合っているか
どうかを調べることが、プロトコル検証と呼ばれる。

試験装置２１は、階層化されたシステムの下位層のフレ
ームをターケラトシステム（被試験装置）２４へ送る下
位インタフェース装置２０と、上位層のフレームを被試
験装置２４に送る上位インタフェース装置２２と、これ
ら下位、上位インタフェース装置２０．２２に指示情報
を出力してこれらを制御するマン・マシンインタフェー
ス部２３とから構成される。

第１図は、本発明の一実施例におけるプロトコル検証用
試験装置のブロック構成図である。プロトコル検証は、
通常、階層化された試験装置Ａと被試験装置Ｂとの同一
層において行われる。

同図において、試験装置Ａは次に述べる要素から構成さ
れている。

１０はプロトコル検証用の試験項目番号の入力および試
験結果の出力を制御する入出力制御部、１１は入力出力
制御部１０から出力されるプロトコル検証用の試験項目
番号に応じて前手順、後手順を含む試験手順（初期状態
から検証すべき状態を経て初期状態に至る手順をいう）
を作成する試験手順作成部である。

１２はプロトコル検証用に使用する試験タスクの集まり
である試験用タスクテーブルであり、試験タスクは試験
手順作成部１１で作成される手順の構成要素となる。１
３は前手順および後手順の作成時に使用する乱数を発生
する乱数発生部である。

１４は試験手順作成部１１で作成された試験手順を実行
する試験手順実行制御部、１５は試験装置Ａと被試験装
置Ｂとのイベントの送受信を制御するイベント送受信制
御部である。

１６はイベント送受信制御部１５を介して受は取った被
試験装置Ｂの試験実行結果の解析を行う試験実行結果解
析部、１７は入力出力制御部１０および試験手順作成部
１１に制御信号を送ることにより、同一の試験を複数回
実行するための制御を行う試験リトライ制御部である。

以上の構成要素から試験装置Ａは構成されている。

また、被試験装置Ｂはこれを制御する被試験装置用制御
プログラム１８を有している。

第３図はプロトコルの記述法の一つである状態遷移表の
一例を示したものである。プロトコル機械のすへての状
態と入力をそれぞれ横軸および縦軸にとり、各状態と入
力の対に当たる表の交点に対応する遷移先の状態と出力
を記述するものである。例えば、この状態遷移表はｌ５
ＤＮのユーザ・網インタフエースにおいても使用される
。

なお、上記状態遷移表において、最小の１区分を１タス
ク（以下、試験タスクと呼ぶ）とする。

次に、第１図のブロック構成図、第４図の前手順作成の
流れ図、第５図の後手順作成の流れ図第６図の作成され
た試験手順のタスク構成図、第７図の状態遷移図をもと
に本実施例の試験動作を説明する。

試験タスクの基本状態を現状態、入力イベント受信後に
遷移した状態を次状態とする。例えば、試験対象項目に
着目した状態遷移図を示す第７図においては、初期状態
７００に対して、試験前の状態７０１か現状態、人力イ
ベント受信後に遷移した状態７０２か次状態となる。

試験タスクは被試験装置Ｂの現状態、被試験装置Ｂの次
状態、被試験装置への送信イベント、および被試験装置
Ｂからの受信か期待される受信イベントを保有する。

プロトコル検証試験の単位を状態遷移表の最小の一区分
とすると、この−区分と１対ｌに対応する試験項目番号
を試験装置Ａの外部から入出力制御部１０を介して指定
することにより、この指定された試験項目番号により、
試験手順作成部１１では試験用タスクテーブル１２と乱
数発生部１３とを使用して、試験項目番号に対応する試
験タスク（以下、項目タスクと呼ぶ）から、試験手順の
作成を行う。

試験手順は、前手順、項目タスクおよび後手順で構成さ
れている。

第６図に示すように、前手順は初期状態から項目タスク
の現状態まで遷移する試験タスク１，２・・・ｉ、Ｊの
集合であり、後手順は項目タスクの次状態から初期状態
まで遷移する試験タスクｍ、　　ｎ・・・ｙ、ｚの集合
である。

ここで、前手順の作成の概略をのべると、第７図に示す
ように、タスクを選択しながら現状態７０１から初期状
態７００に至る経路を遡って行き、初期状態７００に至
った段階で、経路中にあるタスクの順序を逆順に並び換
えることにより、初期状態７００から現状態７０１に向
かう前手順が作成される。

同様に後手順の作成の概略は、タスクを選択しながら次
状態７０２から初期状態７００に戻る経路を流れに従っ
て行き、初期状態７００に至った段階で、経路中にある
タスクをそのままの順序に並べることにより、次状態７
０２から初期状態７００に向かう後手順が作成される。

以下、これらの詳細を述べる。

前手順の作成方法（第４図の流れ図） 試験手順作成部１１は、入力出力制御部１０から出力さ
れたプロトコル検証用の試験項目番号に応じた項目タス
クの現状態ＳＴＮ　ｉを検索用状態ＳＴＮとして取り出
す（ステップ１００）。

乱数発生部１３より乱数を生成しくステップ１０１）、
試験用タスクテーブル１２の中の、ＳＴＮを次状態とし
てもつ試験タスクの集合から、得られた乱数を使用して
試験タスクを一つ選択しくステップ１０２）、選択され
た試験タスクを試験手順作成部１１内のセーブエリアに
格納する（ステップ１０３）。

試験手順作成部１１は、選択された試験タスクの現状態
が初期状態か否か、即ち次状態の一つ手前の状態が初期
状態に戻っているか否かを判定しくステップ１０４）、
初期状態でなければ初期状態に遡るために、選択された
試験タスクの現状態をＳＴＮに設定しくステップ１０５
）、再度ステップ１０１に戻る。

選択された試験タスクの現状態が初期状態になるまで前
述した一連の処理を繰り返し、ステ、プ２０４て初期状
態になったら、選択された試験タスクをセーブエリアか
ら取り出し、選択された順番とは逆の順に並び換えて、
試験手順作成部１１内のタスク設定エリアに格納する（
ステップ１０６）。

後手順の作成方法（第５図の流れ図） 項目タスクの次状態５ＴＮｊを検索用状態ＳＴＮとして
取り出す（ステップ２００）。

乱数発生部１３より乱数を生成しくステップ２０１）、
ＳＴＮを次状態としてもつ試験タスクの集合から、得ら
れた乱数を使用して試験タスクを一つ選択しくステップ
２０２）、選択された試験タスクをタスク設定エリアに
直接格納する（ステップ２０３）。

選択された試験タスクの次状態か初期状態か否か判定し
くステップ２０４）、初期状態でなければ選択された試
験タスクの現状態をＳＴＮに設定しくステップ２０５）
、再度ステップ２０１に戻る。

選択され゛た試験タスクの次状態が初期状態になるまで
前記の処理を繰り返し、初期状態になったら、処理を終
了する。

前記に示す方法で作成した前手順および後手順を、第６
図に示すように項目タスクの前後に前手順−項目タスク
−後手順となるように一つに組み合わせ、試験項目番号
に対応する試験手順とする。

試験手順実行制御部１４では、試験手順作成部１１で作
成された試験手順を使用してイベント送受信制御部１５
を介し、被試験装置Ｂの被試験装置用制御プログラム１
８とイベントの送受信を行い、試験実行結果解析部１６
に受信したイベントを送出する。

試験実行結果解析部１６では、被試験装置Ｂがらの受信
イベントか期待値通りかを解析し、試験１／　トライ制
御部１７および入出力制御部１ｏを介して試験結果を表
示する。

試験リトライ制御部１７は、同一試験項目を複数回実施
する場合に試験手順作成部１１に対して再度試験手順の
作成を要求する。

以上述べたように本実施例によれば、−通り以上存在す
る試験条件の状態に至る経路を、試験を実行する毎に、
乱数によって選択するようにしたので、同一の試験を複
数回実行する場合であっても、初期状態から試験条件の
状態までは異なる手順で遷移することとなる。したがっ
て、試験条件がいつも一定となって検証の確実性に欠け
たり、不完全なプロトコル検証となることがない。

なお、本発明はプロトコルを処理する装置であれば、そ
の装置は通信制御処理装置に限定されるものではない。

「発明の効果」 以上、詳細に説明したようにこの発明によれば、初期状
態から試験条件の状態までの遷移の手順を、試験実施毎
に複数通り存在する試験タスクの中から乱数を使用して
自動的に、かつランタムに試験タスクを選択することに
より試験手順を作成するので、同一試験条件項目でも試
験を実施する毎に常に異なった試験手順となり、試験の
完全自動実行および検証の確実性を上げることができる
。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例におけるプロトコル検証用試
験装置のプロ、り構成図、第２図は本発明の一実施例に
おけるプロトコル検証用試験装置の全体構成図、第３図
は状態遷移表の一例を示す図、第４図は本実施例の前手
順の作成方法を示す流れ図、第５図は本実施例の後手順
の作成方法を示す流れ図、第６図は本実施例により作成
された試験手順のタスク構成図、第７図は本実施例の状
態遷移図である。 １０は入出力制御部、１１は前手順作成機能および後手
順作成機能を有する試験手順作成部、１２は試験用タス
クテーブル、１３は乱数発生部、１４は試験手順実行制
御部、１５はイベント送受信制御部、１６は試験実行結
果解析部、１７は試験Ｉ７　）ライ制御部、１８は被試
験装置用制御プログラム、Ａは試験装置、Ｂは被試験装
置である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 試験装置と被試験装置との間で通信を行い、被試験装置
   のプロトコルの検証を行うための試験方式において、 被試験装置の初期状態から検証すべき試験の現状態まで
   の遷移の手順を自動的かつランダムに作成する前手順作
   成機能と、 検証すべき試験の次状態から初期状態までの遷移の手順
   を自動的かつランダムに作成する後手順作成機能とを備
   え、 これら前手順作成機能と後手順作成機能とを利用して、
   同一試験条件の状態においても同一試験実施毎に異なっ
   た試験手順で実行するようにしたことを特徴とするプロ
   トコル検証用試験方式。