JPH03292786A - レーザダイオード出力制御装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、小型光磁気ディスク装置等の光デイスク装置
で使用されるレーザダイオード出力制御装置に関する。

（従来の技術） 光ディスクは、大容量記録媒体として広く利用されてい
る。近年、コンピュータの進歩に伴い、二ノ光ディスク
は、コンピュータデータ記録用、文書ファイル用等のデ
ータディスクとしても利用されて来ている。

このデータディスクとしての光ディスクには、再生専用
型のＣＤ−ＲＯＭ等、追記型（ＷＯ型）の追記型光ディ
スク等、書替型の光磁気（Ｎ１０型）ディスク等がある
。

この光磁気ディスクは、消去、書換えか自由に出来るも
ので、１２インチの大型のものから、５２５インチ、３
．５インチの小型のもの迄各種サイズかあり、いずれも
取扱いの簡便化、記録再生装置に対する着脱可能化等の
ため、樹脂製のカートノッジに入っている。近年、機器
の小型・軽量化傾向に伴い、この３．５インチタイプか
着目されている。

第２図は、従来の３．５インチ光磁気ディスクの例を示
す構成図で、同図（Ａ）は下面図、同図（Ｂ）は部分拡
大断面図、第３図は、第２図のディスクにおけるセクタ
構成を示すフォーマット図である。

第２図に示すように、従来例の３．５インチ光磁気ディ
スク１２は、ポリカーボネート等の透明樹脂製の円板で
ある基板１２ａの一表面上に、磁気光学効果によりデー
タの記録再生を行うための、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｔｂ、Ｇｄ等
からなる光磁気膜（ＭＯ膜）１２ｂが形成され、更にそ
の上に紫外線硬化樹脂等による保護膜１２Ｃが形成され
、中心部にこのディスク１２の駆動用の金属板製のノ＼
ブ１４が固定されたもので、このディスク１２は、前述
の如く、図示しない樹脂製のカートリ・ソジに収納され
、３，５インチ光磁気ディスクカートリ・ソジとなる。

このディスク１２の外径寸法はφ８６Ｉ１１であり、こ
の光磁気膜１２ｂのデータの記録再生を行う記録領域１
３の、外径寸法はφ８０　＋ａ＋＊であり、内径寸法は
φ４８龍であるから、この記録領域１３の径方向の幅で
ある記録領域幅は１６＋＋＋ｍである。この記録領域１
３には、スパイラル状又は同心円状に１．６μｍピッチ
の記録トラックが１０．０００本形成されている。

この記録領域１３は、情報の記録／再生か行われる情報
記録／再生領域１３ｂと、この情報記録／再生領域１．
３　ｂの外周部のリードイン領域に設けられた、この領
域１３ｂに情報の記録／再生を行う際に必要な記録／再
生制御情報、例えば、代替セクタ用テーブル等が記録／
再生される記録／再生制御情報記録領域１３Ｂとからな
る。

前記記録トラックは、第３図に示すように、１トラツク
当たりのセクタ数が２２．１セクタ当たりのブロック数
７６．１ブロツクはサーボ領域２バイト及びデータ領域
８バイトの計１０バイトであり、１セクタ当たりのユー
ザデータ容量は５１２バイトである。又、各セクタの最
初の２ブロツクは、あらかじめ管理情報が記録された、
後述するＬＤＰＣ領域を含む管理領域となっている。

この従来例の３．５インチ光磁気ディスク１２は、第４
図の３．５インチ光磁気ディスク装置に組み込まれ、使
用される。

第４図は、後述する第１図、第７図及び第８図の制御装
置を使用した３、５インチ光磁気ディスク装置の例の記
録再生動作説明図、第５図は、第４図のディスク装置の
ＬＤ出力制御装置によるＬＤ出力説明図である。

第４図に示すように、第１の従来例の３．５インチ光磁
気ディスク装置５１は、前記３．５インチ光磁気ディス
ク１２の他に、ベース１５、電磁石１６、レーザ記録再
生装置１７、フィード装置３１、第１の従来例のレーザ
ダイオード（以下ＬＤと略記する）出力制御装置４１等
から構成されている。

前述の３．５インチ光磁気ディスク１２は、ベース１５
に固定された図示しないスピンドルモータにより、ＣＡ
　Ｖ　３，６００ｒｐ１１で回転駆動されると共に、前
記保護膜１２ｃ側に空隙を介して配置された電磁石１６
により、前記光磁気膜１２ｂに対して、必要に応して所
定の極性の、垂直方向のバイアス磁界か印加される。又
、前記基板１２ａ側から、この光磁気膜１２ｂに対して
、前記レーザ記録再生装置１７からのレーザ光２６Ｂに
より、データの記録再生が行われる。

起動時、最初に、前記リートイン領域の記録／再生制御
情報記録領域１３ａの再生か行われ、前記記録／再生制
御情報に基づき、記録／再生系の調整が行われる。

前記レーザ記録再生装置１７は、レーザ発振器１８、コ
リメータレンズ１９、ビームスプリッタ２０、立上げプ
リズム２１、対物レンズ２２、偏光ビームスプリッタ２
３、集光レンズ２４Ａ。

２４Ｂ、フォトダイオード２５Ａ、２５Ｂ等から構成さ
れている。

そして、このレーザ発振器１８のＬＤから出射されたＩ
／−ザ光は、コリメータレンズ１９によって平行光にさ
れた後、図示しないビーム整形プリズムによって、ビー
ム断面形状か所定形状に整形され、このビームスプリッ
タ２０を通過した光束２６Ａか立上げプリズム２１に入
射される。この立上げプリズム２１で反射されたレーザ
光は、前記＆ｌ物レンズ２２により収束され、この収束
されたレーザ光２６Ｂは、微小な径の先スポット２７と
して、前記ディスク１２の記録領域１３の記録トラック
上の、前記光磁気膜１２ｂの表面Ｆに照射される。

この光磁気膜１２ｂの表面上に照射される光スポット２
７は、第５図に示すように、前記ディスク装置５１が、
記録モードで動作している場合は記録に、再生モードで
動作している場合は再生に、消去モードで動作している
場合は消去に、それぞれ適する光強度を有するものとな
るように、前記レーザ発振器１８のＬＤの出力を制御す
る、前記ＬＤ出力制御装置４１により制御される。

この記録モードの場合は、記録データに応じたディジタ
ル信号に基づき、前記記録トラック上の光磁気膜１２ｂ
の垂直磁化方向は、光スポット２７が照射された部分だ
けが、キューり温度付近に加熱されることによって、前
記電磁石１６によるバイアス磁界により反転させられ、
これによりこのディジタル信号の記録が行われる。

前記再生モードの場合は、この光磁気膜の表面上で反射
されたレーザ光は、前記磁気光学効果により、光磁気膜
１２ｂの垂直磁化方向によって、偏光面の回転方向が異
なったものとなり、前記対物レンズ２２、立上げプリズ
ム２１を介して前記ビームスプリッタ２０で反射され、
図示しない１／２波長板を介して前記偏光ビームスプリ
ッタ２３に入射される。この偏光ビームスプリッタ２３
を透過したレーザ光は、前記集光レンズ２４Ａで集光さ
れて前記フォトダイオード２５Ａで電気信号に変換され
て、検出信号として出力され、又、この偏光ビームスプ
リンタ２３で反射されたレーザ光は、前記集光レンズ２
４Ｂで集光されて前記フォトダイオード２５Ｂで電気信
号に変換されて、検出信号として出力される。

この際、この雨検出信号の大きさは、この偏光ビームス
プリッタ２３の働きで、前述の偏光面の回転方向により
それぞれ反対方向に変化するから、この雨検出信号出力
の差から、前記ディジタル信号の再生か行われる。

前記レーザ記録再生装置１７の内、前記レーザ発振器１
８、コリメータレンズ１９、ビームスプリッタ２０、偏
光ビームスプリッタ２３、集光レンズ２４Ａ、２４Ｂ、
フォトダイオード２５Ａ。

２５Ｂ等からなる固定部ユニット１７−１は、前記ベー
ス１５に固定されており、前記立上げプリズム２１、対
物レンズ２２、フォーカス及びトラックキングサーボア
クチュエータ２８等からなる可動部ユニット１７−２は
、前記フィード装置３１の可動部３１ｂに搭載されてい
る。

このフィード装置３１は、その可動部３１ｂを、ベース
１５に固定されたこの装置３１のリニアモータ３１ａの
駆動力により、軸受３１ｃを介して図示しないガイドレ
ールに沿って前記ディスク１２の径方向に移動させ、前
記光スポッート２７を前記記録トラックのサーチ時に、
ディスク１２の前記記録領域１３の外径から内径迄の範
囲内の所望の位置に可及的速やかに移動させる、いわゆ
るアクセス動作と、この光スポット２７を前述の記録再
生動作時に、記録トラックに沿って順次トレースさせる
、いわゆる順送り動作とからなる、フィード動作を行わ
せるものである。

又、このディスク１２の面振れ等に対して、光スポット
２７の焦点を前記磁気膜１２ｂの表面上に自動的に追従
させる、いわゆるフォーカスサーボ動作は、前記検出信
号に基づき、前記対物レンズ２２の上下位置を、フォー
カスサーボアクチュエータ２つによって制御することに
より行われる。

又、このディスク１２の偏心等に対して、光スポｙ　ｔ
・２７を前記記録トラック上に自動的に追従させる、い
わゆるトラッキングサーボ動作は、前記サーボ鎖酸から
の検出信号出力に基づき、対物レンズ２２及び前記立上
げプリズム２１のディスク１２の径方向の位置を、トラ
ッキングサーボアク１ニエータ３０によって制御するこ
とにより行われる。このトラッキングサーボによる光ス
ポット２７のディスク１２の径方向の移動範囲は、通常
±１１程度か限界値であるから、この光スポット２７の
ディスク１２の径方向の位置決めは、精密位置決めがこ
のトラッキングサーボ動作、粗位置決めか前記フィード
動作という分担になっている。

なお、前記フォーカスサーボアクチュエータ２９とトラ
ッキングサーボアクチュエータ３０とは、前記フォーカ
ス及びトラッキングサーボアクチュエータ２８として一
体的に構成されており、両アクチュエータ２９及び３０
の固定部は、前記フィード装置３１の可動部３１ｂに固
定されている。

以上説明した第１め従来例の光磁気ディスク装置５１の
動作は、その動作原理の説明のため概略を述べたもので
あるが、実際の動作においては、前記記録モードは、消
去（イレース）、記録（ライト）、照合（ベリファイ）
という一連の動作を含んでいる。

即ち、前述の従来例の光磁気ディスク１２においては、
前記光磁気膜１２ｂが、磁気テープ、磁気ディスク等で
は可能な重ね書き（オーツくライト）の出来ないもので
あるから、記録動作に先立ち、まず記録区間の消去動作
が行われ、次に記録動作が行われる。又、この光磁気膜
１２ｂが信頼性に欠けるから、この記録動作の次に、照
合動作か行われる。即ち、この記録区間の再生（リード
）が行われ、記録信号と再生信号とか照合され、合致の
場合は、次の動作に移る。非合致の場合は、あらかじめ
設けられている代替領域にこの部分の記録信号が再度記
録され、その後、照合及び記録番地の変更が行われる、
いわゆる代替処理が行われる。

前記光磁気ディスク装置５１の制御は、この装置５１と
ホストコンピュータとの間に接続されたコントローラに
より行われる。このコントローラは、各構成要素の動作
の制御を行うマイクロコンピュータ（以下マイコンと略
記する）、機構系制御用マイコンを内蔵した機構系制御
装置を含むものであり、マイコンの指令に基づき、この
機構系制御装置によって、前述のディスク装置ｆｆ５１
の各動作の制御が行われる。

次に、前記ＬＤ出力制御装置４１の詳細について説明す
る。

第６図は、ＬＤの温度特性及び経時変化特性の説明図で
、同図（Ａ）は温度特性、同図（Ｂ）は経時変化特性で
あり、第７図は、従来のＬＤ出力制御装置の第１の例を
示すブロック図である。

第７図に示すように、前記レーサ発振器１８は、駆動電
流値により光出力強度が制御されるＬＤ１８ａと、この
ＬＤ１８ａの背面側に配置され光出力強度のモニタを行
うフォトダイオード（以下ＰＤと略記する）１８ｂとか
、ケース中に収納された構成となっている。

このＬＤ１８ａは、第６図に示すように、温度変化及び
使用時間の経過と共に、８力・駆動電流カーブが大幅に
変動するものであるから、前記ＬＤ出力制御装置４１に
より、この補正か行われる。

即ち、同図（Ａ）に示すように、このＬＤ１８ａの温度
特性は、出力・駆動電流カーブが、温度変化と共に左右
にほぼ平行移動するものであるから、ＬＤ１８ａの低出
力状態である再生時出力レベルに対応した駆動電流値を
、この温度変化に応じて制御する。なお、高出力状態で
ある記録・消去時出力レベルに対応した駆動電流値の温
度による変化率は、再生時出力レベルに対応したそれと
ほぼ同様であるから、再生・記録・消去時を通して、こ
の制御か行われる。又、同図（Ｂ）に示すように、この
ＬＤ１８ａの経時変化特性は、出力・駆動電流カーブの
傾斜が、使用時間の経過と共に大きくなるものであるか
ら、記録・消去時出力レベルに対応した駆動電流値を、
この経時変化に応じて制御する。

第７図に示すように、第１の従来例のＬＤ出力制御装置
４１は、上述の補正回路を含むすべての回路をアナログ
回路により構成したもので、出力経時変化検出回路２、
出力温度変化検出回路３、温度特性補正回路７、基準信
号発生回路８、ＬＤ電流駆動回路９、高周波重畳回路１
０、経時変化？＋（ｉ正回路４５、基準信号発生回路４
６等から構成されている。

前記ＰＤ１８ｂの出力信号は、出力経時変化検出回路２
及び出力温度変化検出回路３に供給される。

この出力経時変化検出回路２において、ＰＤ出力信号か
ら、この回路２に供給される検出タイミング信号のタイ
ミングで、前記データ領域記録時に対応した出力信号が
識別され、この信号に応じて経時変化検出信号が生成さ
れ、この検出信号は前記経時変化補正回路４５に供給さ
れる。又、この経時変化補正回路４５には、工場出荷前
にＬＤ１８ａの初期状態に対応して調整された前記基準
信号発生回路４６から、基準信号が供給される。

この基準信号は、経時変化前の初期値を表わすデータと
して使用される。即ち、前記経時変化補正回路４５にお
いて、この基準信号と前記経時変化検出信号との差から
、経時変化補正信号が生成され、この補正信号は前記Ｌ
Ｊ）電流駆動回路９に供給される。

一方、前記出力温度変化検出回路３において、前記ＦＤ
出力信号から、この回路３に供給される検出タイミング
信号の検出タイミングで、前記サーボ領域再生時に対応
した出力信号が識別され、この信号に応じて温度変化検
出信号が生成され、この検出信号は前記温度特性補正回
路７に供給される。又、この温度特性補正回路７には、
前記基準信号発生回路８から、標準温度状態における再
生時ＬＤ駆動電流値に対応した基準信号が供給される。

この温度特性補正回路７において、この基準信号と前記
温度変化検圧信号とから、温度特性補正信号が生成され
、この補正信号は前記ＬＤ電流駆動回路９に供給される
。

このＬＤ電流駆動回路９において、この回路９に供給さ
れるモード切替信号か再生モードの場合は、この温度特
性補正信号に基づき、再生時ＬＤ出力レベルに対応した
、温度特性補正の行われた駆動電流が出力され、前記高
周波重畳回路１０において、この電流にノイズ低減のた
めの高周波重畳が行われ、前記ＬＤ１８ａが駆動される
。又、このモード切替信号が記録モードの場合は、ＬＤ
電流駆動回路９において、記録時ＬＤ比出力・ベルに対
応した、上述の温度特性補正の行われた駆動電流が出力
され、この回路９に供給される記録信号により駆動電流
が変調されると共に、前記経時変化補正信号に基づき、
この駆動電流の経時変化補正か行われる。

従って、第１の従来例のＬＤ出力制御装置４１により制
御される、前記レーザ発振器１８のＬＤ出力光強度は、
上述の動作により、第６図により前述した、前記ＬＤ１
８ａの温度特性及び紅時変化特性に対して、補正された
ものとなる。

なお、この制御装置４１において、前記出力経時変化検
出回路２、出力温度変化検出回路３、ＬＤ電流駆動回路
９は集積回路（以下ＩＣと略記する）ＩＣ（１）４１ａ
に、温度特性補正回路７、標準信号発生回路８、経時変
化補正回路４５、基準信号発生回路４６からなるアナロ
グ補正回路はＩＣ（２）４１ｂに収納さ壮ている。

以上説明した第１の従来例のＬＤ出力制御装置４１にお
いて、経時変化補正か前述の如く初期データとの比較補
正であるから、制御精度か悪いという問題点があった。

この対策として、近年のＩＣ技術の発達によるディジタ
ルＩＣの低価格化に伴い、上述のアナログ補正回路をデ
ィジタル補正回路に置き換え、記憶回路のメモリ機能を
利用して、上記問題点の解決をはかったＬＤ出力制御装
置か提案されている。

又、第３図に示すような、前記管理領域に設けられたＬ
Ｄ出力補正（ＬＤ　　Ｐｏｗｅｒ　Ｃｏｍｐｅｎｓａｔ
ｉｏｎ。

以下ＬＤＰＣと略記する）領域を利用した、ＬＤ出力補
正か行われている。これは、このＬＤＰＣ領域に対して
、前記ＬＤ１８ａを記録時出力レベルで発光させ、この
時の前記ＰＤ１８ｂの出力信号から、経時変化補正を行
うものである。

上述のアナログ補正回路においては、データの保持か難
しいから、緩やかな変化である経時変化の補正に、記録
時の連続的な出力信号を利用したか、前記ディジタル補
正回路においては、メモリ機能によるデータの保持か容
易であるから、このＬＤＰＣ領域による経時変化補正は
、例えば、前記ディスク装置の起動時、前記リードイン
領域の記録／再生制御情報記録領域１３ａの再生時に、
１回だけ行えばよい。

第８図は、従来のＬＤ出力制御装置の第２の例を示すブ
ロック図である。

図に示すように、第２の従来例のＬＤ出力制御装置６１
は、出力経時変化検出回路２、出力温度変化検出回路３
、Ａ−Ｄ変換器４　Ａ　−１，４Ａ　−２、Ｄ−Ａ変換
器４Ｂ−１，４Ｂ−２、経時変化補正回路５、記憶回路
６、ＬＤ電流駆動回路９、高周波重畳回路１０、温度特
性補正回路６７、基準信号発生回路６８等から構成され
ている。

この制御装置６１におけるＩＣは、前記ＩＣ（１）４１
ａと、Ａ−Ｄ変換器４Ａ　　１，４Ａ　　２、Ｄ−Ａ変
換器４Ｂ−１，４Ｂ−２、経時変化補正回路５、記憶回
路６、温度特性補正回路６７、基準信号発生回路６８か
らなるディジタル補正回路が収納されたＩＣ（２）６１
ｂとから構成されている。

第２の従来例のＬＤ出力制御装置６１は、前述の第１の
従来例の制御装置４１に比して、上述の如く、前記アナ
ログ補正回路をディジタル補正回路に置き換えたもので
あるから、第１の従来例と同様部分については、その説
明を省略する。又、第４図に示すように、第２の従来例
の制御装置６１が使用された第２の従来例の３．５イン
チ光磁気ディスク装置７１の構成及び動作は、前述の第
１の従来例のディスク装置５１に比して、この制御装置
６１のみが異なるものであるから、その説明を省略する
。

このＬＤ出力制御装置６１において、前記ディジタル補
正回路内の動作はディジタル動作であるから、経時変化
補正ループ及び温度特性補正ループの、ディジタル補正
回路の入口及び出口に、それぞれ、アナログ・ディジタ
ル変換を行うＡ−Ｄ変換器４Ａ−１，４Ａ−２及びディ
ジタル・アナログ変換を行うＤ−Ａ変換器４Ｂ−１，４
Ｂ−２か配置されている。

前述のＬＤＰＣ領域記録モード時出力信号に応じた経時
変化検出信号は、Ａ−Ｄ変換器４Ａ−１を介して、前記
経時変化補正回路５及び記憶回路６に供給される。この
記憶回路６において、常に最新の経時変化検出信号が更
新記憶されると共に、前回の経時変化検出信号が経時変
化補正回路５に供給される。この経時変化補正回路５に
おいて、前回及び今回の経時変化検出信号の差から、経
時変化補正信号が生成され、この補正信号は、経時変化
補正回路５において保持されると共に、前記Ｄ・Ａ変換
器４Ｂ−１を介して、前記ＬＤ電流駆動回路９に供給さ
れる。

一方、前述の温度変化検出信号は、前記Ａ−Ｄ変換器４
八−２を介して、前記温度特性補正回路６７に供給され
る。この温度特性補正回路６７において、前記基準信号
発生回路６８からの基準信号と温度変化検出信号とから
、温度特性補正信号か生成され、この補正信号は、前記
Ｄ−Ａ変換器４Ｂ−２を介して、前記ＬＤ電流駆動回路
９に供給さる。

このＬＤ電流駆動回路９において、前記経時変化補正信
号及び温度特性補正信号に基づき、前述の第１の従来例
の場合と同様に、経時変化補正及び温度特性補正の行わ
れたＬＤ駆動電流が出力され、これにより、前記レーザ
発振器１８のＬＤ出力光強度は、経時変化特性及び温度
特性に対して、補正されたものとなる。

（発明が解決しようとする課題） 以上のような構成よりなる第１の従来例のＬＤ出力制御
装置４１において、前述の如く、経時変化補正が初期デ
ータとの比較補正であるから、この補正の安定性及び精
度が悪いという問題点があった。又、第２の従来例のＬ
Ｄ出力制御装置６１において、前述の如く、比較的急激
な変化である温度特性に対する補正がディジタル補正で
あるから、この補正の精度及び安定性が悪いという問題
点かあった。この第１及び第２の従来例の制御装置４１
及び６１共、経時変化補正ループ及び温度特性補正ルー
プの安定性及び精度の悪い方で、全体の制御精度か決ま
るから、制御精度か悪いという問題点かあった。

本発明は上記の点に着目してなされたもので、ＬＤの経
時変化及び温度特性に対する高精度な補正か行われる、
高精度なＬＤ出力制御装置を提供することを目的とする
ものである。

（課題を解決するための手段） 本発明のレーザダイオード出力制御装置は、レーザダイ
オードの出力先強度をモニタするフォトディテクタの出
力信号に基づき、このレーサダイオードの出力光強度の
経時変化及び温度特性の補正を行うレーザダイオード出
力制御装置において、前記経時変化の補正はディジタル
補正回路で、前記温度特性の補正はアナログ補正回路で
行うよう構成したものである。

（実施例） 本発明のＬＤ出力制御装置は、前述のようなＬＤ出力制
御装置において、前記経時変化の補正はディジタル補正
回路で、前記温度特性の補正はアナログ補正回路で行う
ことにより、前述の目的を達成するものである。

本発明の一実施例について、前述の従来例の場合と同様
条件で、比較説明する。

第１図は、本発明のＬＤ出力制御装置の一実施例を示す
ブロック図である。

図に示すように、本発明の一実施例のＬＤ出力制御装置
１は、出力経時変化検出回路２、出力温度変化検出回路
３、Ａ−Ｄ変換器４Ａ−１、Ｄ・Ａ変換器４Ｂ−１、経
時変化補正回路５、記憶回路６、温度特性補正回路７、
基準信号発生回路８、ＬＤ電流駆動回路９、高周波重畳
回路１０等から構成されている。

この制御装置１におけるＩＣは、出力経時変化検出回路
２、出力温度変化検出回路３、温度特性補正回路７と基
準信号発生回路８とからなるアナログ補正回路１ａ−１
、ＬＤ電流駆動回路９が収納されたＩＣ（１）ｌａと、
Ａ−Ｄ変換器４Ａ１、Ｄ−Ａ変換器４Ｂ−１、経時変化
補正回路５、記憶回路６からなるデイジル補正回路１ｂ
−１が収納されたＩＣ（２）ｌｂとから構成されている
。

本発明の一実施例のＬＤ出力制御装置１は、前述の第１
及び第２の従来例の制御装置４１及び６１に比して、上
述の如く、前記経時変化の補正はディジタル補正回路１
ｂ−１で、前記温度特性の補正はアナログ補正回路１ａ
−１で行うものであるから、第１及び第２の従来例と同
様部分については、その説明を省略する。又、第４図に
示すように、この制御装置１が使用された本発明の一実
施例の３．５インチ光磁気ディスク装置１１の構成及び
動作は、前述の第１及び第２の従来例のディスク装置５
１及び７１に比して、この制御装置１のみか異なるもの
であるから、その説明を省略する。

この制御装置１の動作は、前述の第１及び第２の従来例
の場合の動作説明から明らかな如く、前記ＬＤ電流駆動
回路９において、前記ディジタル補正回路１ｂ−１から
の経時変化補正信号に基づき、前述の第２の従来例の場
合と同様に経時変化補正の行われた、前記アナログ補正
回路１ａ−１からの温度特性補正信号に基づき、前述の
第１の従来例の場合と同様に温度特性補正の行われたＬ
Ｄ駆動電流が出力され、これにより、前記レザ発振器１
８のＬＤ出力光強度が、前記ＬＤ１８ａの経時変化特性
及び温度特性に対して、補正されるものである。

以上のような構成よりなる本発明の一実施例のＬＤ出力
制御装置１は、前述の如く、経時変化補正かディジタル
補正回路１ｂ−１のメモリ機能を利用した前回経時変化
検出信号との比較補正であるから、この補正か高安定性
及び高精度なものとなり、又、温度特性かアナログ補正
回路１ａ−１による補正であるから、この補正か高精度
ｔよものとなり、この両補正精度で決まる全体の制御精
度か高精度なものとなる。又、本発明の一実施例におけ
るＩＣ（１）１ａ及びＩＣ（２）ｌｂのパッテ２・の大
きさは、第１の従来例におけるＩＣ（１）４１ａ及びＩ
Ｃ（２）４１ｂの場合とほぼ同程度であり、第２の従来
例におけるＩＣ（１，）４１．ａ及びＩｃ（２）６］ｂ
の場合に比して、このＩｃ（２）ｌｂかＩＣ（２）６１
ｂより小さいから、小さなものとなる。

又、本発明の一実施例の制御装置１は、このＩｃ　（２
）ｌｂを前述のコントローラの機構系制御装置のＩＣと
共用化することか可能であるから、第１の従来例の制御
装置４１に比して、ＩＣ（２）４１ｂの分たけ、大幅に
コストダウンか可能であり、第２の従来例の制御装置６
１に比して、デインタル補正回路の簡１ｉな分だけ、多
少のコストダウンか可能である。

なお、上述の一実施例の説明においては、前記ＬＤ１８
Ｈの光出力強度のモニタは、このＬＤ１８ａの背面側に
配置された、同一ケース中に収納された前記ＰＤ１８ｂ
の出力信号を利用する例について述べたが、このモニタ
用ＰＤ１８ｂを、光学系中の他の位置に配置してもよい
のは勿論である。

（発明の効果） 以上のような構成によりなる本発明のレーザダイオード
出力制御装置は、コストの割りに高精度で小型・軽量な
ものとなるから、この制御装置か使用された光デイスク
装置の機能が向上すると共に、機能対コスト比が向上す
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のＬＤＤ力制御装置の一実施例を示すブ
ロック図、第２図は従来の３．５インチ光磁気ディスク
の例を示す構成図、第３図は第２図のディスクにおける
セクタ構成を示すフォーマット図、第４図は第１図、第
７図及び第８図の制御装置を使用した３、５インチ光磁
気ディスク装置の例の記録再生動作説明図、第５図は第
４図のディスク装置のＬＤＤ力制御装置によるＬＤ比カ
説明図、第６図はＬＤの温度特性及び経時変化特性の説
明図、第７図は従来のＬＤ出出側制御装置第１の例を示
すブロック図、第８図は従来のＬＤＤ力制御装置の第２
の例を示すブロック図である。 １・・−ＬＤＤ力制御装置（レーザダイオード出力制御
装置）、 １ａ−１・・・アナログ補正回路、 １ｂ−１・・・ディジタル補正回路、 １１・・・３．５インチ光磁気ディスク装置（光デイス
ク装置）、 １２・・・３．５インチ光磁気ディスク、１８ａ・・・
Ｌ、Ｄ（レーザダイオード）、１８ｂ・・・ＰＤ（フォ
トディテクタ）。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. レーザダイオードの出力光強度をモニタするフォトディ
   テクタの出力信号に基づき、このレーザダイオードの出
   力光強度の経時変化及び温度特性の補正を行うレーザダ
   イオード出力制御装置において、前記経時変化の補正は
   ディジタル補正回路で、前記温度特性の補正はアナログ
   補正回路で行うことを特徴とするレーザダイオード出力
   制御装置。