JPH03289778A - センサマトリックスの電荷読取装置 - Google Patents

センサマトリックスの電荷読取装置

Info

Publication number
JPH03289778A
JPH03289778A JP2403181A JP40318190A JPH03289778A JP H03289778 A JPH03289778 A JP H03289778A JP 2403181 A JP2403181 A JP 2403181A JP 40318190 A JP40318190 A JP 40318190A JP H03289778 A JPH03289778 A JP H03289778A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sensor
line
read
column
partial
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2403181A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2994046B2 (ja
Inventor
Herfried Wieczorek
ヘルフリード ヴィーゾレック
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Gloeilampenfabrieken NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Gloeilampenfabrieken NV filed Critical Philips Gloeilampenfabrieken NV
Publication of JPH03289778A publication Critical patent/JPH03289778A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2994046B2 publication Critical patent/JP2994046B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14643Photodiode arrays; MOS imagers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
[0001]
【産業上の利用分野】
本発明は、マトリックスの行及び列に配置された幾つか
の光感類又はX線感知センサ素子の電荷を読取り薄膜ト
ランジスタは各電気的スイッチからなり、各センサ列に
対し共通読取りラインが設けられ、一方各センサ行に対
し、センサ素子のスイッチを介して活性化されうるスイ
ッチングラインが設けられ、これにより活
【従来の技術】
この種の装置は例えば西独公開特許明細書第35314
48号から公知である。引用明細書はX線映像装置用の
光電池の行列を示し、該光電池の電荷は各センサに関連
したスイッチが一行当たりに設けられたスイッチングラ
インを介して活性化されるよう読取られる。センサに蓄
積された電荷の読取りは各共通読取りラインを介して列
状に実行される。 [0003]
【発明が解決しようとする課題】
この種の装置では薄膜トランジスタの電荷が読取られる
読取りライン及びスイッチの寄生容量が読取り信号に逆
の効果を有する問題がある。 [0004]
【課題を解決するための手段】
本発明の目的は該問題に関して改良される上記種類の装
置を提供することである。 [0005] 本目的は各センサ列に対して、関連するスイッチを介し
てそれぞれが一列の少ないセンサ素子に接続されえ、別
な電気的スイッチを介してその列の共通読取りラインに
個々に接続されうる幾つかの部分読取ラインが設けられ
、センサ行の読取り動作に対しそのスイッチを介して活
性化されたセンサ行に接続される部分読取りライン各列
で共通読取りラインに接続可能である本発明により達成
される[00061
【作用] マトリックスのセンサ素子のそれぞれで、所定の時間の
期間中にセンサ素子への光又はX線入射の量に対応する
電荷が蓄積される。この蓄積された電荷は電気的スイッ
チを介して読取られ、その一つは各センサ素子に対して
設けられる。センサ素子行につき一つのスイッチングラ
インが設けられる。適切なスイッチング信号がこれらの
スイッチングラインの1つに発せられる時、この行のセ
ンサ素子のスイッチが活性化され、そのセンサ素子に蓄
積された電荷が読取られる。これは読取りラインを介し
て実現され、その一つのセンサ素子の各列に対して設け
られる。次に、−行のセンサ素子の読取り中、各列にお
いてそこに存在するセンサ素子の全スイッチが読取りラ
インに接続される問題が生ずる。丁度読取られたセンサ
行を除いて、全てのスイッチが閉成される時でも、それ
らは読取りライン自体のように寄生容量を示し、それに
より雑音は読取られた信号に重畳される。 [0007] 本発明による装置では、この問題は、共通読取りライン
以外にセンサマトリックスの各個々の列に対して多くの
部分読取りラインが設けられることにより緩和される。 部分読取りラインはスイッチからなり、それらを介して
共通読取りラインに接続される。関連した列の個々のセ
ンサ素子はもはや共通読取りラインに接続されず、部分
読取りラインに接続される。毎回−列のセンサの数個の
スイッチだけが、部分読取りラインに接続される。例え
ば、−列が9つのセンサ素子からなる時、3つの部分読
取りラインが設けられ、それに毎回3つのセンサ素子が
それらのスイッチを介して接続される。 [0008] 読取り動作に対して、−行のセンサ素子のスイッチは各
行に設けられたスイッチングラインを介して活性化され
る。読取り動作は、関連するセンサ行に存在するセンサ
素子が関連する部分読取りラインに接続されるよう実行
される。部分読取りライン自体は別な電気的スイッチを
介して共通読取りラインに接続される。 次に各部分読取りラインは一列のセンサ素子のスイッチ
の比較的小さい部分だけに接続されるので雑音の改善作
用が得られる。共通読取りラインは部分読取りラインが
あるのと同じ数だけのスイッチング素子が必要とされる
ので、比較的少ないスイッチング素子からなる。この装
置の雑音の改善作用はより多くのセンサ素子が一列に存
在するほどより明白になる。実用的装置は通常−列に千
以上のセンサ素子からなるので、かかる場合雑音は実質
的に減少される。 [0009] 部分読取りラインに必要とされる別な電気的スイッチの
製造は、本発明の別な実施例による如く、薄膜トランジ
スタの形の電気的スイッチが部分読取りラインスイッチ
と共に実現されうる。 [0010] 【実施例】 以下図面と共に本発明による実施例を説明する。 [0011] 図は例えば全部で各列及び各行あたり2千のセンサ素子
からなるセンサマトリックス1の一部を示す。そのよう
なセンサマトリックスは例えば高解像放射線写真法に用
いられうる。 [0012] 図示されるセンサマトリックスの一部はセンサ素子12
,13,22,23゜…,73からなる。これらのセン
サ素子はマトリックスの行及び列で配置される。センサ
素子自体は図で概略的にのみ示される。そのようなセン
サマトリックスが例えば放射線写真法用に用いられる時
、センサ素子は図示されないセンサからなり薄膜トラン
ジスタに設けられるキャパシタンスに電荷を蓄積するの
に役立つX線感知素子である。蓄積電荷は所定の時間の
期間中に入射する放射の量に比例する。 図に示される
各センサ素子は例えば薄膜トランジスタである電気的ス
イッチ2からなる。 [0013] これらの薄膜トランジスタ2は共通製造工程でセンサ素
子12.…,73と共に実現されうる。 [0014] 図の切截した表示では、マトリックスの第1の行に対し
センサ素子12及び13だけを完全に示す。毎回2つの
センサ素子が示される他の行に対しても同じことがあて
はまる。更に、図は各列に対し7つのセンサ素子を示す
。例えば−列はセンサ素子12,22,32,42,5
2.62及び72からなる。 [0015] 一行のセンサ素子即ちより正確に言えば、それらの電気
的スイッチ2は関連した行と関係するスイッチングライ
ン19,29,39,49,59.69又は79を介し
て活性化されうる。従って、図示の実施例では2つのセ
ンサ素子12及び13のスイッチ2はこの行に対し設け
られたスイッチングライン19を介して活性化されうる
。別な行に対する別なスイッチングライン29,39,
49,59.69.及び79に対しても同じことがあて
はまる。 [0016] センサ素子の各列に対して、共通読取りラインが設けら
れる。センサ素子1222.32,42,52,62.
72の列に対してこれが共通読取りライン82である。 共通読取りライン83はセンサ素子13,23,33,
43,53゜63.73の列に対し設けられる。 [0017] しかし、各列に対し、幾つかの部分読取りラインが設け
られる。例えば、センサ素子12及び22は電子スイッ
チ2のような薄膜トランジスタでよい電子スイッチ4を
介してこの列の共通読取りライン82に接続されうる部
分読取りライン91に接続される。このために、部分読
取ライン91及び94のスイッチ4及び6を介して夫々
活性化されうるスイッチングライン8が設けられる。こ
の列に存在する別なセンサ素子32,42及び52は、
そのスイッチ2を介して電子スイッチ5を介してそれ自
体がこの列の共通読取りライン82に接続されうる部分
読取りライン92に接続されうる。このために、部分読
取りライン92の電気的スイッチ5及び部分読取りライ
ン95の電気的スイッチ7を介して活性化されうるスイ
ッチングライン9が設けられる。切截した図では、別な
部分読取りライン93はこの列の別なセンサ素子62及
び72用に示され、該部分読取りライン93は図示され
ない方法で共通読取りライン82にも接続される。図示
されてないがこの列に存在する別なセンサ素子は部分読
取りラインを介してこの列の共通読取りライン82に同
様に接続される。これは、部分読取りラインのスイッチ
を活性化できる別なスイッチングラインが設けられ、こ
れにより部分読取りラインが関連する共通読取りライン
に接続されうろことで実現される。 [0018] 例えば図の第3行のセンサ素子、即ちセンサ素子32及
び33から読取られる時、その電気的スイッチ2はスイ
ッチングライン39を介して活性化さるべきである。セ
ンサ素子32の電荷は次に部分読取りライン92を介し
て流れ、センサ素子33の電荷は部分読取りライン95
を介して流れる。スイッチングライン39だけが活性化
されるので、この場合、これらのセンサ素子に関連する
スイッチだけが活性化される。他の行のセンサ素子の他
の全てのスイッチは阻止される。 部分読取りライン92及び95は、スイッチングライン
9に対応するスイッチング信号を用いて、夫々その関連
した電気的スイッチ5及び7を介して読取り動作の為に
活性化され、これにより部分読取りライン92はこの列
の為に設けられた共通読取りライン82に接続される。 スイッチ7の活性化の後、この列に対し設けられた共通
読取りライン83に接続される部分読取りラインにも同
じことがあてはまる。従って、センサ素子32の電荷は
その電気的スイッチ2を介して部分読取りライン92に
流れ、更に電気的スイッチ5を介して共通読取りライン
82に流れる。この行に存在するセンサ素子33及び図
示されてないが他のセンサ素子にも同じことがあてはま
る。 [0019] 対応する読取り動作は全ての行で順次実行されえ;毎回
読取られるべき行に関連し、各列に対し設けられた読取
りラインは共通読取りラインに接続されなければならな
い。 [0020] 小さい寄生容量のため雑音作用の改善が、各列の共通読
取りラインが比較的少ない電気的スイッチを介して部分
読取りラインに接続されることで達成される。 各部分読取りライン自体は列の少ないセンサ素子とだけ
に接続される。その結果部分ライン及び共通読取りライ
ンを介する読取り動作中、2つのラインは関連する列に
存在するセンサ素子の数より実質的に少ない数の電気的
スイッチに接続される。この効果は、各列に存在するセ
ンサ素子がより多くあると、より明らかである。この効
果は図示されるマトリックスの一部から既に明らかであ
り、その理由は、この実施例では従来技術の装置の読取
りラインは7つのスイッチを介して一列の7つの素子に
接続される。しかし、本発明による解決策によれば、部
分読取りラインには3つのスイッチだけが設けられ、共
通読取りラインには2つのスイッチが設けられ、これに
よりこの比較的小さい装置に対し利点が得られる。 より大きい装置の場合には、例えば1列あたり2千のセ
ンサ素子からなり、略6から7の係数による各列の読取
りラインの容量の減少が本発明により達成される
【図面の簡単な説明】
【図1】 センサマトリックスの一部を示す図である。
【符号の説明】
1 センサマトリックス 2.3,4,5,6.7  電気的スイッチ8.9,1
9,29,39,49,59,69,79.  スイッ
チングライン12.13,22,23,32,33,4
2,43,52,53,62,6372.73  セン
サ素子 82.83  共通読取りライン 91.92,93,94,95.96  部分読取りラ
イン
【書類名】
図面
【図1】

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】マトリックスの行及び列に配置された幾つ
    かの光感知又はX線感知センサ素子(12,13,22
    ,23,…,72,73)の電荷を読取り、各センサ素
    子は各電気的スイッチ(2)からなり、各センサ列に対
    し共通読取りラインが設けられ、一方各センサ行に対し
    、センサ素子のスイッチ(2)を介して活性化されうる
    スイッチングラインが設けられ、これにより活性化され
    た行のセンサ素子の電荷は読取りライン(82,83)
    を介して出力される装置であって、各センサ列に対して
    、関連するスイッチ(2)を介してそれぞれが一列の少
    ないセンサ素子(12,22,…,72,…)に接続さ
    れえ、別な電気的スイッチ(4,5,…)を介してその
    列の共通読取りライン(82,83)に個々に接続され
    うる幾つかの部分読取ライン(91,92,93)が設
    けられ、センサ行の読取り動作に対しそのスイッチ(2
    )を介して活性化されたセンサ行に接続される部分読取
    りライン(91,92,…)が各列で共通読取りライン
    (82,83)に接続可能であることを特徴とするセン
    サマトリックスの電荷読取装置。
  2. 【請求項2】薄膜トランジスタは部分読取りライン(8
    2,83)の電気的スイッチと同様センサ素子(12,
    13,22,23,…,72,73)の電気素子(2,
    4,5,6,7)に用いられることを特徴とする請求項
    1の装置。
JP2403181A 1989-12-21 1990-12-18 センサマトリックスの電荷読取装置 Expired - Fee Related JP2994046B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3942200A DE3942200A1 (de) 1989-12-21 1989-12-21 Anordnung zum auslesen einer sensormatrix
DE39422003 1989-12-21

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH03289778A true JPH03289778A (ja) 1991-12-19
JP2994046B2 JP2994046B2 (ja) 1999-12-27

Family

ID=6395950

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2403181A Expired - Fee Related JP2994046B2 (ja) 1989-12-21 1990-12-18 センサマトリックスの電荷読取装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5120964A (ja)
EP (1) EP0434154B1 (ja)
JP (1) JP2994046B2 (ja)
DE (2) DE3942200A1 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5604347A (en) * 1995-07-13 1997-02-18 General Electric Company Method and means for compensating for row variable offsets in a large area solid state x-ray detector
WO1998031141A2 (en) * 1997-01-06 1998-07-16 Koninklijke Philips Electronics N.V. Device for reading an imaging sensor matrix
US6310594B1 (en) 1998-11-04 2001-10-30 International Business Machines Corporation Driving method and circuit for pixel multiplexing circuits
US6414665B2 (en) 1998-11-04 2002-07-02 International Business Machines Corporation Multiplexing pixel circuits
US6476787B1 (en) 1998-11-04 2002-11-05 International Business Machines Corporation Multiplexing pixel circuits
DE10106221A1 (de) 2001-02-10 2002-08-14 Philips Corp Intellectual Pty Röntgendetektor mit großem Dynamikbereich

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5853830B2 (ja) * 1977-07-13 1983-12-01 株式会社日立製作所 カラ−固体撮像装置
FR2469805A1 (fr) * 1979-11-09 1981-05-22 Thomson Csf Matrice de detection d'un rayonnement electromagnetique et intensificateur d'images radiologiques comportant une telle matrice
FR2554999B1 (fr) * 1983-11-15 1986-01-17 Thomson Csf Dispositif photosensible pour l'infrarouge
US4689487A (en) * 1984-09-03 1987-08-25 Kabushiki Kaisha Toshiba Radiographic image detection apparatus
FR2585183B1 (fr) * 1985-07-19 1987-10-09 Thomson Csf Procede de fabrication d'un detecteur d'image lumineuse et detecteur matriciel bidimensionnel obtenu par ce procede
JP2559465B2 (ja) * 1987-07-02 1996-12-04 株式会社日立製作所 固体撮像装置

Also Published As

Publication number Publication date
US5120964A (en) 1992-06-09
EP0434154B1 (de) 1995-03-15
DE3942200A1 (de) 1991-06-27
EP0434154A2 (de) 1991-06-26
DE59008716D1 (de) 1995-04-20
JP2994046B2 (ja) 1999-12-27
EP0434154A3 (en) 1992-03-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0809300B1 (en) Active pixel sensor with single pixel reset
JP3141033B2 (ja) 光感知又はx線感知センサよりなる装置
US6300977B1 (en) Read-out circuit for active matrix imaging arrays
US5220170A (en) X-ray imaging system and solid state detector therefor
JP3313375B2 (ja) センサマトリックス
EP0897597B1 (en) High resolution flat panel for radiation imaging
EP0898312A2 (en) Active pixel image sensor with shared amplifier read-out
JP3285083B2 (ja) 二次元アレイ型赤外線検出素子とその製造方法
EP0825763A2 (en) High sensitivity image sensor arrays
JP4719201B2 (ja) 固体撮像装置
JP3890297B2 (ja) イメージセンサ
JPH03289778A (ja) センサマトリックスの電荷読取装置
US5381013A (en) X-ray imaging system and solid state detector therefor
US6137151A (en) Amorphous silicon sensor array with reduced number of address lines
EP1596578B1 (en) Column current source
JP4066531B2 (ja) 放射線検出器
JP4768978B2 (ja) 放射線検出器
EP1412947B1 (en) Random access decoder
JPH05121713A (ja) 増幅型光素子を用いた3次元集積回路装置
JPS6231161A (ja) 固体撮像素子
JPH0376072B2 (ja)
JPH04174559A (ja) 固体撮像素子とその駆動方法
JPS6473964A (en) Linear image sensor
JP2003188369A (ja) Ccd固体撮像素子
JPS63306654A (ja) 固体撮像素子

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees