JPH03285154A - 示差熱・熱重量同時測定装置 - Google Patents
示差熱・熱重量同時測定装置Info
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- JPH03285154A JPH03285154A JP8723790A JP8723790A JPH03285154A JP H03285154 A JPH03285154 A JP H03285154A JP 8723790 A JP8723790 A JP 8723790A JP 8723790 A JP8723790 A JP 8723790A JP H03285154 A JPH03285154 A JP H03285154A
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は材料の物性を測定する熱分析装置に関し、特に
示差熱分析(以下、DTAという)又は示差走査熱量測
定(以下、DSCという)などの示差熱測定装置と熱重
量測定(以下、TGという)装置が示差熱測定とTGを
同時測定可能に組み合わされた示差熱・熱重量同時測定
装置に関するものである。
示差熱分析(以下、DTAという)又は示差走査熱量測
定(以下、DSCという)などの示差熱測定装置と熱重
量測定(以下、TGという)装置が示差熱測定とTGを
同時測定可能に組み合わされた示差熱・熱重量同時測定
装置に関するものである。
(従来の技術)
DTAでは試料と基準物質を同一の熱的条件で加熱又は
冷却し、両者の間に生じる温度差を試料温度に対して測
定する。DSCでは試料と基準物質を熱的に切り離し、
別々にエネルギーを与えて両者の温度を等しく保つため
に必要なエネルギー人力の差を計る。いずれの測定方法
でも、測定曲線とベースラインとの差の面積を測定した
り、ピークを測定することにより、比熱容量や熱量、転
移温度を測定する。そのため、ベースラインが安定する
ように測定条件が設定される。
冷却し、両者の間に生じる温度差を試料温度に対して測
定する。DSCでは試料と基準物質を熱的に切り離し、
別々にエネルギーを与えて両者の温度を等しく保つため
に必要なエネルギー人力の差を計る。いずれの測定方法
でも、測定曲線とベースラインとの差の面積を測定した
り、ピークを測定することにより、比熱容量や熱量、転
移温度を測定する。そのため、ベースラインが安定する
ように測定条件が設定される。
DTAとTGとを同一試料について同時に測定できるよ
うにした示差熱・熱重量同時測定装置は従来から存在し
ている。しかし、そのような同時測定装置でも、DTA
信号とTG倍信号は独立に取り出されて記録されている
。
うにした示差熱・熱重量同時測定装置は従来から存在し
ている。しかし、そのような同時測定装置でも、DTA
信号とTG倍信号は独立に取り出されて記録されている
。
(発明が解決しようとする課題)
試料温度を上昇又は下降させていったとき、試料の気化
、液化又は固化などによって試料量が変化することがあ
る。そのような場合は基準物質との熱容量差が生じ、た
とえ試料設定時に室温において熱容量を基準物質と試料
とで合わせておいたとしても、DTAやDSCのベース
ラインがドリフトし、測定結果が不正確になる。
、液化又は固化などによって試料量が変化することがあ
る。そのような場合は基準物質との熱容量差が生じ、た
とえ試料設定時に室温において熱容量を基準物質と試料
とで合わせておいたとしても、DTAやDSCのベース
ラインがドリフトし、測定結果が不正確になる。
本発明は測定中に試料量が変化する場合でも示差熱測定
信号を補正することにより正確な測定結果を得ることの
できる示差熱・熱重量同時測定装置を提供することを目
的とするものである。
信号を補正することにより正確な測定結果を得ることの
できる示差熱・熱重量同時測定装置を提供することを目
的とするものである。
(課題を解決するための手段)
本発明ではTGで測定される試料重量信号をDTA信号
又はDSC信号に反映させ、熱容量差によるベースライ
ンのドリフトを補正する。具体的には1重量倍号に比例
したTG倍信号DTA信号やDSC信号を割るような割
り算手段を設ける。
又はDSC信号に反映させ、熱容量差によるベースライ
ンのドリフトを補正する。具体的には1重量倍号に比例
したTG倍信号DTA信号やDSC信号を割るような割
り算手段を設ける。
(作用)
DTAにおけるベースラインの位置(ΔT)。
は次の(1)式で表現される。
(ΔT) 。=−aR(Cs−Cr) −−(1)こ
こで、αは昇温速度、Rは装置定数、C5は試料の熱容
量、Crは基準物質の熱容量である。試料の比熱をcs
とすると、熱容量O5=m−C3(mは試料質量)であ
るので、(1)式は(2)式のように変形される。
こで、αは昇温速度、Rは装置定数、C5は試料の熱容
量、Crは基準物質の熱容量である。試料の比熱をcs
とすると、熱容量O5=m−C3(mは試料質量)であ
るので、(1)式は(2)式のように変形される。
(ΔT)、=−aRm−cs+aRcr −(2)(
2)式を試料質量mで割ることにより、次の(3)式の
ように変形される。
2)式を試料質量mで割ることにより、次の(3)式の
ように変形される。
((ΔT)。−αRcr)/m=−czRcs −・
i3)試料質量mは測定中に変化することもあるが、(
3)式のようにベースラインの示差熱測定信号(ΔT)
。から一定数αRCrを引いたものを試料質量mで割る
ことにより、試料質量変化にかかわらず一定値となる。
i3)試料質量mは測定中に変化することもあるが、(
3)式のようにベースラインの示差熱測定信号(ΔT)
。から一定数αRCrを引いたものを試料質量mで割る
ことにより、試料質量変化にかかわらず一定値となる。
したがって、これを新たなベースラインとすれば、DT
Aのベースラインが安定する。
Aのベースラインが安定する。
DSCの場合にも同様に考えることができる。
(実施例)
図はDTA−TG同時測定装置に本発明を適用した実施
例を表わしている。
例を表わしている。
1は加熱炉であり、加熱炉1内にはDTA検出器2が配
置されている。DTA検出器2には試料が入れられる試
料セル31と基準物質が入れられる基準物質セル32が
設けられている。DTA検出器2は重量測定部4の天秤
機構に取りつけら九でおり、天秤機構の重量測定のため
に従来から用いられている自動測定機構が備えられてい
る。そのような重量自動測定機構としては1例えば天秤
のビームの傾きを差動変圧器や光学的方法又は電気接点
により検出し、天秤系に取りつけられて永久磁石の磁場
中に位置するンレノイドコイルに電流を流して天秤のビ
ームの傾きを戻す、いわゆる零位法による重量測定系を
用いることができる。
置されている。DTA検出器2には試料が入れられる試
料セル31と基準物質が入れられる基準物質セル32が
設けられている。DTA検出器2は重量測定部4の天秤
機構に取りつけら九でおり、天秤機構の重量測定のため
に従来から用いられている自動測定機構が備えられてい
る。そのような重量自動測定機構としては1例えば天秤
のビームの傾きを差動変圧器や光学的方法又は電気接点
により検出し、天秤系に取りつけられて永久磁石の磁場
中に位置するンレノイドコイルに電流を流して天秤のビ
ームの傾きを戻す、いわゆる零位法による重量測定系を
用いることができる。
5は重量測定部4で検出される重量信号Wを増幅する重
量信号増幅回路であり、その増幅された重量信号は記録
計に出力される。
量信号増幅回路であり、その増幅された重量信号は記録
計に出力される。
DTA検呂器2では試料セル31と基準物質セル32の
真下にそれぞれ熱電対が設けられている。
真下にそれぞれ熱電対が設けられている。
6はDTA検出器2における熱電対により試料温度と基
準物質温度の温度差ΔTを検出し増幅する温度差信号増
幅回路である。7は割り算手段としての積算回路であり
、増幅された重量信号Wと増幅された温度差信号ΔTを
入力し、(3)式で表わされるように、ΔTと重量に対
応するWとの割り算を行なう機能を備えている。積算回
路7の出力はDTA信号の縦軸として記録計に送られる
。
準物質温度の温度差ΔTを検出し増幅する温度差信号増
幅回路である。7は割り算手段としての積算回路であり
、増幅された重量信号Wと増幅された温度差信号ΔTを
入力し、(3)式で表わされるように、ΔTと重量に対
応するWとの割り算を行なう機能を備えている。積算回
路7の出力はDTA信号の縦軸として記録計に送られる
。
したがって、このDTA信号の縦軸は1重量により規格
化された温度差になる。
化された温度差になる。
DTA検出器2の試料セル31側の熱電対からは試料温
度信号Tsが取り出される。加熱炉lにも熱電対が設け
られており、その熱電対からは加熱炉温度信号Tfが取
り出される。8は試料温度信号Tsと加熱炉温度信号T
fをそれぞれ検出し増幅する温度信号増幅回路である。
度信号Tsが取り出される。加熱炉lにも熱電対が設け
られており、その熱電対からは加熱炉温度信号Tfが取
り出される。8は試料温度信号Tsと加熱炉温度信号T
fをそれぞれ検出し増幅する温度信号増幅回路である。
温度信号増幅回路8で増幅された試料温度TsはDTA
曲線の横軸として記録計に送られる。
曲線の横軸として記録計に送られる。
9は加熱炉温度制御回路であり、温度信号1i1幅回路
8からの加熱炉温度信号Tfを入力し、加熱炉温度がプ
ログラムに従って上昇又は下降するように加熱炉1のヒ
ータに電力Pを供給する。
8からの加熱炉温度信号Tfを入力し、加熱炉温度がプ
ログラムに従って上昇又は下降するように加熱炉1のヒ
ータに電力Pを供給する。
次に、本実施例の動作について説明する。
DTA検出器2の試料セル31に試料を入れ、基準物質
セル32に一定量の基準物質を入れ、加熱炉温度制御回
路9により加熱炉1の温度をプログラムに従って例えば
上昇させる。
セル32に一定量の基準物質を入れ、加熱炉温度制御回
路9により加熱炉1の温度をプログラムに従って例えば
上昇させる。
TG装置においては、温度上昇に従って試料の重量変化
が重量信号増幅回路5を経て出力され、また試料温度T
sは温度信号増幅回路8から記録計に出力されて、記録
計には試料温度Tsに対する試料の重量変化Wが記録さ
れていく。
が重量信号増幅回路5を経て出力され、また試料温度T
sは温度信号増幅回路8から記録計に出力されて、記録
計には試料温度Tsに対する試料の重量変化Wが記録さ
れていく。
一方、DTA装置においては、試料と基準物質との温度
差ΔTが積算回路7により重量で規格化されて記録計に
出力される。その結果、記録計には温度信号増幅回路8
から出力される試料温度TSを横軸とし、重量で規格化
された温度差を縦軸とするDTA曲線が得られる。
差ΔTが積算回路7により重量で規格化されて記録計に
出力される。その結果、記録計には温度信号増幅回路8
から出力される試料温度TSを横軸とし、重量で規格化
された温度差を縦軸とするDTA曲線が得られる。
(発明の効果)
DTA装置やDSC装置においては、厳密には試料セル
を密閉セルにしない限り試料量の変化は必ず伴うもので
あるが、試料の重量が変化した場合でも本発明によれば
DTA信号やDS’C信号が重量で補正されるので、D
TA#線やDSC曲線のベースラインが安定し、転移温
度の温度読取りや熱量測定の定量性が高まる。
を密閉セルにしない限り試料量の変化は必ず伴うもので
あるが、試料の重量が変化した場合でも本発明によれば
DTA信号やDS’C信号が重量で補正されるので、D
TA#線やDSC曲線のベースラインが安定し、転移温
度の温度読取りや熱量測定の定量性が高まる。
試料量の変化の激しい試料、例えば熱分解を伴う試料な
どの場合は、従来のDTA単機能機やDTA−TG同時
測定装置ではDTA測定が困難であったが、本発明を適
用す九ばそのような試料に対してもDTA測定を行なう
ことができる。
どの場合は、従来のDTA単機能機やDTA−TG同時
測定装置ではDTA測定が困難であったが、本発明を適
用す九ばそのような試料に対してもDTA測定を行なう
ことができる。
本発明により出力されるDTA信号やDSC信号は重量
で規格化されているため、試料量の異なるデータ間の比
較が容易になる。
で規格化されているため、試料量の異なるデータ間の比
較が容易になる。
図は一実施例を示す概略構成図である。
1・・・・・・加熱炉、2・・・・・・DTA検出器、
4・・・・・・重量測定部、5・・・・・・重量信号増
幅回路、6・・・・・・温度差信号増幅回路、7・・・
・・・割り算手段としての積算回路、8・・・・・・温
度信号増幅回路、9・・・・・・加熱炉温度制御回路、
31・・・・・・試料セル、32・・・・・・基準物質
セル。
4・・・・・・重量測定部、5・・・・・・重量信号増
幅回路、6・・・・・・温度差信号増幅回路、7・・・
・・・割り算手段としての積算回路、8・・・・・・温
度信号増幅回路、9・・・・・・加熱炉温度制御回路、
31・・・・・・試料セル、32・・・・・・基準物質
セル。
Claims (1)
- (1)示差熱分析又は示差走査熱量測定などの示差熱測
定装置と熱重量測定装置が示差熱測定と熱重量測定を同
時測定可能に組み合わされて一台の測定装置となり、示
差熱測定信号を熱重量測定信号で割り算して新たな示差
熱測定信号として出力する割り算手段が設けられている
示差熱・熱重量同時測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8723790A JP2836177B2 (ja) | 1990-03-30 | 1990-03-30 | 示差熱・熱重量同時測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8723790A JP2836177B2 (ja) | 1990-03-30 | 1990-03-30 | 示差熱・熱重量同時測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03285154A true JPH03285154A (ja) | 1991-12-16 |
JP2836177B2 JP2836177B2 (ja) | 1998-12-14 |
Family
ID=13909222
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8723790A Expired - Lifetime JP2836177B2 (ja) | 1990-03-30 | 1990-03-30 | 示差熱・熱重量同時測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2836177B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6709153B2 (en) * | 2001-10-23 | 2004-03-23 | Sii Nanotechnology Inc. | Thermogravimetry apparatus |
-
1990
- 1990-03-30 JP JP8723790A patent/JP2836177B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6709153B2 (en) * | 2001-10-23 | 2004-03-23 | Sii Nanotechnology Inc. | Thermogravimetry apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2836177B2 (ja) | 1998-12-14 |
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