JPH03285115A - 光電式リニアエンコーダ - Google Patents

光電式リニアエンコーダ

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Publication number
JPH03285115A
JPH03285115A JP8718290A JP8718290A JPH03285115A JP H03285115 A JPH03285115 A JP H03285115A JP 8718290 A JP8718290 A JP 8718290A JP 8718290 A JP8718290 A JP 8718290A JP H03285115 A JPH03285115 A JP H03285115A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
slit pattern
main scale
terminals
temperature
linear encoder
Prior art date
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Pending
Application number
JP8718290A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshikazu Koba
木葉 佳和
Takashi Nagase
喬 長瀬
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yaskawa Electric Corp
Original Assignee
Yaskawa Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Yaskawa Electric Corp filed Critical Yaskawa Electric Corp
Priority to JP8718290A priority Critical patent/JPH03285115A/ja
Publication of JPH03285115A publication Critical patent/JPH03285115A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は工作機械などで直線連動をする2つの物体の相
対位置を検出する光電式エンコーダに関するものである
[従来の技術] 従来、工作機械の中でとくに精密機械の精度は数μm単
位であるが、その長さを測定する光電式リニアエンコー
ダのメインスケールをガラス製(線膨張係数が9 x 
l O”mm/ ’C)としている。そのため、温度変
化±1”Cに対してメインスケールの単位長さ当り9 
X I O−’mmのオーダの変化をしているが、メイ
ンスケールの温度変化による測定精度に対する影響は無
視できるものであった。
しかし最近の精密機械や測定装置などの精度はサブミク
ロン単位の精度が要求され、スケールの精度に対する温
度変化の影響を考慮する必要が出てきた。そこで、メイ
ンスケールに温度センサを個別に付加する方法が開示さ
れている(例えば特開昭63−302311号)。
[発明が解決しようとする課題] ところが、上記方法ではメインスケールに金属薄膜から
なるスリットパターンを設ける蒸着工程と、白金抵抗体
やサーミスタなどの温度センサを設ける蒸着、エツチン
グ工程の2回の工程が必要であり、メインスケールの構
造が複維になるという欠点があった。
また、スリットパターンと温度センサとの間に所定の間
隙をとらなければならないし、メインスケール全体の温
度の測定値が必要となるので、測定長さが長い場合は複
数の温度センサを付加するか、またはスケール全長にわ
たる温度センサを用いることになり、スケール幅を広く
必要とし、スケールの小形化を妨げるなどの欠点があっ
た。
さらに、測定値に直接影響を与えるスリット部の温度を
検出するわけではないので、温度センサにより温度補正
しても測定値に誤差が生じるという欠点があった。
本発明は、スリットパターンの部分を温度センサとして
構成し、誤差の少ない、製造工程および構造の簡単な光
電式リニアエンコーダを提供することを目的とするもの
である。
[課題を解決するための手段] 本発明は、メインスケールの表面に金属薄膜を蒸着させ
て薄膜導体を形成し、前記薄膜導体にメインスケールの
幅方向に伸びる互いに平行なスリットをメインスケール
の長手方向に多数配列したスリットパターンを備えた光
電式リニアエンコーダにおいて、前記スリットパターン
の2か所に抵抗値測定用の端子を設け、前記両方の端子
の間に形成されたスリットパターンによって温度センサ
の抵抗体を形成し、前記抵抗体の抵抗値から前記メイン
スケールの温度変化を検出して、測定誤差を補正するも
のである。
また、複数個のスリットのグループに接する薄膜導体か
らなる部分スリットパターンの2か所に前記端子を設け
、前記両方の端子の間の前記部分スリットパターンによ
って温度センサの抵抗体を形成したものである。
[作用] メインスケールの表面に金属薄膜を蒸着させて薄膜導体
を形成し、前記薄膜導体に形成された所定のスリットパ
ターンの両端に端子を設け、両方の端子の間に形成され
た薄膜導体によって温度センサの抵抗体を形成しである
ので、前記抵抗体の抵抗値を測定することによって直接
メインスケールの表面の温度を測定できる。
また、部分的に複数個のスリットのグループを決めてそ
の回りの薄膜導体によって形成された部分スリットパタ
ーンの両端に端子を設けて端子間に温度センサの抵抗体
を形成し、部分スリットパターンを全体のスリットパタ
ーンの中に適宜配置するので、メインスケールの複数か
所のtitを測定することができる。
[実施例] 本発明を図に示す実施例について説明する。
第1図は本発明の実施例を示す平面図で、薄板ガラス基
材からなるメインスケールlの表面に白金を薄(蒸着さ
せて金属薄膜2を形成し、その金属薄膜2に所定のパタ
ーンにスリット3をエツチングにより設けたスリットパ
ターン4を設けている。スリットパターン4は第2図に
示すように、互いに平行な多数のス、リット3のうち、
数百本のスリット3を1グループとして、そのまわりの
金属薄膜2により部分スリットパターン5を形成してい
る。その部分スリンドパターン5を複数組直列に接続し
て全体のスリットパターン4を形成し、両端の部分スリ
ットパターン5.5゛に端子6.6゛を設けている。す
なわち、端子6と6′ との間に形成したスリットパタ
ーンが測定の対象となる温度センサの抵抗体としての役
割を果たすことになる。7は原点スリットである。
この端子6.6°から第3図に示すような3線式のブリ
ッジ回路へ接続すると、スリットパターン4で形成され
た抵抗体の抵抗R8が求められる。
白金の温度−抵抗特性は線形であるので、あらかじめ抵
抗−温度変換表を作成しておき抵抗値から温度を導くか
、または抵抗値R1から次の(1)式より温度tを演算
して求める。
Bt’+At+1−R1/R6=O・・・(1)ただし
、白金の抵抗温度係数A、Bは、A=0.3975xl
O−” B=0.59XIO−’ Roは温度1=0℃における抵抗値 以上よりメインスケール1の温度tを求めることができ
る。
したがって、メインスケールlのガラス基材の線膨張係
数とメインスケール1の温度変化から線膨張量が算出で
き、熱変形による測定値の誤差を直ちに補正できる。
また、第4図は第2の実施例で、前記実施例と同様に薄
板ガラス基材からなるメインスケールlの表面に白金を
薄く蒸着させて金属薄g2を形成し、はしご状にスリッ
ト3を設ける。そして、第5図に示すように、スリット
3の数十水を1グループとしてスリット3の回りの金属
薄膜2によって部分スリットパターン5を形成し、その
部分スリットパターン5の両端に端子6.6′を形成す
る。
端子6と6′の間に形成した部分スリットパターン5は
温度センサの抵抗体の役割を果たす。この部分スリット
パターン5を複数箇所に所望の間隔で全体のスリットパ
ターン4の中に配置することによって、メインスケール
lの複数の部分の温度を測定することができる。
また第6図は第3の実施例で、櫛形のスリット3を互い
に噛み合わせてジグザグ状に金属薄膜2上にスリットパ
ターン4を形成し1、第7図に示すように、スリット3
の数十水を1グループとしてスリット3のまわりの金属
薄膜2によって部分スリットパターン5を形成する。そ
の部分スリットパターン5の両端に端子6.6“を設け
て温度センサの抵抗体を形成し、部分スリットパターン
5を複数箇所に配置したものである。
なお、この場合、端子6.6゛ をスリットパターン4
の両端に設け、スリットパターン4全体を測定の対象と
なる抵抗体とした温度センサを形成してもよい。
また、上記複数の温度センサの抵抗体となる部分スリッ
トパターン5を直列または並列に接続して最適な抵抗値
の温度センサを形成してもよい。
また、被測定物の温度よりメインスケールlの温度が低
い場合、温度差によって測定値が不安定になる場合があ
る。このような場合は、スリットパターン4の両端に電
源を接続し、電流を流して発熱させ、メインスケールl
の温度を均一の状態に管理してから、温度変化によるメ
インスケール1の誤差補正をしてもよい。
なお、上記実施例は光透過式リニアエンコーダについて
述べたが、光反射式リニアエンコーダについても利用で
きる。
[発明の効果] 以上述べたように、本発明によれば光電式リニアエンコ
ーダのスリットパターンを形成した金属薄膜に端子を設
けて温度センサを形成しであるので、直接メインスケー
ルの温度を検出して正確な誤差補正ができる。また、ス
リットパターン自身が温度センサの役割を持っているの
で金属薄膜の蒸着、エツチング作業は1回で済み、メイ
ンスケールの製造1捏が簡単になる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示す平面図、第2図は要部拡
大図、第3図は抵抗値測定回路図、第4図は他の実施例
を示す平面図、第5図その要部拡大図、第6図は他の実
施例を示す平面図、第7図はその要部拡大図である。 1・・メインスケール、2・・・金属薄膜、3・・・ス
リット、4・・スリットパターン、5・・・部分スリッ
トパターン、6.6゛・・・端子 第 1 図 第 図 第 図 第 図 第 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、メインスケールの表面に金属薄膜を蒸着させて薄膜
    導体を形成し、前記薄膜導体にメインスケールの幅方向
    に伸びる互いに平行なスリットをメインスケールの長手
    方向に多数配列したスリットパターンを備えた光電式リ
    ニアエンコーダにおいて、前記スリットパターンの2か
    所に抵抗値測定用の端子を設け、 前記両方の端子の間に形成されたスリットパターンによ
    って温度センサの抵抗体を形成し、前記抵抗体の抵抗値
    から前記メインスケールの温度変化を検出して、測定誤
    差を補正することを特徴とする光電式リニアエンコーダ
    。 2、複数個のスリットのグループに接する薄膜導体から
    なる部分スリットパターンの2か所に前記端子を設け、
    前記両方の端子の間の部分スリットパターンによって温
    度センサの抵抗体を形成した請求項1記載の光電式リニ
    アエンコーダ。 3、前記部分スリットパターンを前記スリットパターン
    内に複数箇所配置した請求項2記載の光電式リニアエン
    コーダ。 4、複数の前記部分スリットパターンを直列または並列
    に接続した請求項3記載の光電式リニアエンコーダ。 5、前記スリットパターンの前記端子間に加熱用電源を
    接続した請求項1から4までのいずれか1項に記載の光
    電式リニアエンコーダ。
JP8718290A 1990-03-30 1990-03-30 光電式リニアエンコーダ Pending JPH03285115A (ja)

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JP8718290A JPH03285115A (ja) 1990-03-30 1990-03-30 光電式リニアエンコーダ

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JPH03285115A true JPH03285115A (ja) 1991-12-16

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JP (1) JPH03285115A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111750795A (zh) * 2020-06-18 2020-10-09 哈尔滨工程大学 一种分布式蠕变测量系统及测量方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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