JPH0327305U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0327305U JPH0327305U JP1989129176U JP12917689U JPH0327305U JP H0327305 U JPH0327305 U JP H0327305U JP 1989129176 U JP1989129176 U JP 1989129176U JP 12917689 U JP12917689 U JP 12917689U JP H0327305 U JPH0327305 U JP H0327305U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- exchange surface
- head
- temperature sensor
- measuring device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 24
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
- G01B5/0011—Arrangements for eliminating or compensation of measuring errors due to temperature or weight
- G01B5/0014—Arrangements for eliminating or compensation of measuring errors due to temperature or weight due to temperature
Description
図面は本考案の複数の実施例を示すものであつ
て、第1図は交換可能な探子ピンの側面図、第2
図は交換可能な探子ヘツドの交換面を示した図、
第3a図は交換可能な光学式の探子ヘツドの斜視
図、第3b図は第3a図の探子ヘツドの内部にお
ける主要コンポーネントの原理図である。 1……交換皿、2……溝、3……取付けダイス
、4……探子ピン、5……接触ピン、7……測定
抵抗、9a……円筒体、11……交換皿、12…
…延長部、13a,13b……キヤツプナツト、
14……探子ヘツド、17……温度センサ、18
……探子ピン、21……交換皿、24……ケーシ
ング、25……接点、27……測定抵抗、28…
…レーザダイオード、29……光学系、30……
ダイオードライン。
て、第1図は交換可能な探子ピンの側面図、第2
図は交換可能な探子ヘツドの交換面を示した図、
第3a図は交換可能な光学式の探子ヘツドの斜視
図、第3b図は第3a図の探子ヘツドの内部にお
ける主要コンポーネントの原理図である。 1……交換皿、2……溝、3……取付けダイス
、4……探子ピン、5……接触ピン、7……測定
抵抗、9a……円筒体、11……交換皿、12…
…延長部、13a,13b……キヤツプナツト、
14……探子ヘツド、17……温度センサ、18
……探子ピン、21……交換皿、24……ケーシ
ング、25……接点、27……測定抵抗、28…
…レーザダイオード、29……光学系、30……
ダイオードライン。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 1 座標測定装置の探子であつて、座標測定装置
に探子を交換可能に固定するために役立つ交換面
を有する形式のものにおいて、探子4,14,2
4が探子材料と熱的に接触する温度センサ7,1
7,27を有し、センサの接続部が交換面におけ
る接点5,15,25と接続されていることを特
徴とする、座標測定装置の探子。 2 探子が剛性の機械式の探子4である、請求項
1記載の探子。 3 探子が完全な探子ヘツド14,24である、
請求項1記載の探子。 4 交換面が探子の皿状の保持体1,11に設け
られており、温度センサ7,17が保持体内に配
置されている、請求項1から3までのいずれか1
項記載の探子。 5 探子が無接触で測定する光学式の探子ヘツド
24であり、温度センサ27が探子ヘツド24の
ケーシング内に配置されている、請求項3記載の
探子。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE8813875U DE8813875U1 (ja) | 1988-11-05 | 1988-11-05 | |
DE8813875.5 | 1988-11-05 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0327305U true JPH0327305U (ja) | 1991-03-19 |
JPH0729450Y2 JPH0729450Y2 (ja) | 1995-07-05 |
Family
ID=6829584
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1989129176U Expired - Fee Related JPH0729450Y2 (ja) | 1988-11-05 | 1989-11-06 | 座標測定装置の探子 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US5014444A (ja) |
EP (1) | EP0368040B1 (ja) |
JP (1) | JPH0729450Y2 (ja) |
DE (2) | DE8813875U1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012137498A (ja) * | 2004-12-16 | 2012-07-19 | Werth Messtechnik Gmbh | 座標測定装置ならびに座標測定装置を用いて加工物の幾何形状を測定する方法 |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5276976A (en) * | 1992-09-15 | 1994-01-11 | Hawkes Hollis D | Indicator tip turret |
DE4447904B4 (de) * | 1993-02-23 | 2004-12-30 | Faro Technologies, Inc., Lake Mary | Koordinatenmessmaschine zum Messen von dreidimensionalen Koordinaten |
US5410817A (en) * | 1993-05-18 | 1995-05-02 | Budd Co | Measuring tool with concentric point |
US5341574A (en) * | 1993-06-29 | 1994-08-30 | The United States Of America As Represented By The Department Of Energy | Coordinate measuring machine test standard apparatus and method |
GB9401692D0 (en) * | 1994-01-28 | 1994-03-23 | Renishaw Plc | Performing measurement or calibration on positioning machines |
GB9413194D0 (en) * | 1994-06-30 | 1994-08-24 | Renishaw Plc | Probe head |
IT1279210B1 (it) * | 1995-05-16 | 1997-12-04 | Dea Spa | Dispositivo e metodo di visione per la misura tridimensionale senza contatto. |
DE19915012A1 (de) * | 1999-04-01 | 2000-10-05 | Metronom Indvermessung Gmbh | Prüfkörper |
US6941669B2 (en) * | 2000-06-30 | 2005-09-13 | Magus Gmbh | Method for determining effective coefficient of thermal expansion |
DE10138138A1 (de) | 2001-08-09 | 2003-02-20 | Zeiss Carl | Korrektur des Temperaturfehlers bei einer Messung mit einem Koordinatenmessgerät |
US7077643B2 (en) * | 2001-11-07 | 2006-07-18 | Battelle Memorial Institute | Microcombustors, microreformers, and methods for combusting and for reforming fluids |
JP2004117161A (ja) * | 2002-09-26 | 2004-04-15 | Sharp Corp | 光学式変位センサ |
AU2003277133A1 (en) * | 2002-10-07 | 2004-05-04 | Metronom U.S., Inc. | Spatial reference system |
US8141264B2 (en) * | 2007-05-31 | 2012-03-27 | Brunson Instrument Company | Length reference bar system and method |
US8402668B2 (en) * | 2008-01-07 | 2013-03-26 | Q-Mark Manufacturing, Inc. | Coordinate measuring apparatus |
US8832953B2 (en) * | 2008-01-07 | 2014-09-16 | Q-Mark Manufacturing, Inc. | Coordinate measuring apparatus |
DE102009060784A1 (de) * | 2009-12-22 | 2011-06-30 | Carl Zeiss 3D Automation GmbH, 73447 | Taststift und Tastkopf für ein Koordinatenmessgerät |
IT1402715B1 (it) * | 2010-10-29 | 2013-09-18 | Marposs Spa | Sonda di tastaggio |
CN102175146B (zh) * | 2010-12-31 | 2012-06-27 | 南京工业大学 | 基于具有触觉功能测量笔的自动三维视觉测量系统 |
PL3259096T3 (pl) * | 2015-02-19 | 2020-05-18 | Kuka Systems Gmbh | Instalacja do wytwarzania oraz sposób wytwarzania |
US10254105B2 (en) | 2016-12-05 | 2019-04-09 | Quality Vision International, Inc. | Exchangeable lens module system for probes of optical measuring machines |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CH382451A (fr) * | 1961-09-30 | 1964-09-30 | Genevoise Instr Physique | Machine à mesurer ou machine-outil de précision |
US3332153A (en) * | 1964-08-31 | 1967-07-25 | Bausch & Lomb | Temperature compensating system |
DE2234146C2 (de) * | 1972-07-12 | 1984-03-29 | Hommelwerke GmbH, 7730 Villingen-Schwenningen | Elektrische Längenmeßeinrichtung |
US3775655A (en) * | 1972-09-15 | 1973-11-27 | Xerox Corp | Method and apparatus for transducer temperature compensation |
US3921300A (en) * | 1974-08-16 | 1975-11-25 | Us Navy | Temperature compensated measuring gauge |
JPS54103367A (en) * | 1978-02-01 | 1979-08-14 | Olympus Optical Co Ltd | Thermal expansion correcting method of probe |
DD152853A1 (de) * | 1980-09-01 | 1981-12-09 | Horst Donat | Wechseleinrichtung fuer messeinsatztraeger bei tastkoepfen |
DE3320127C2 (de) * | 1983-06-03 | 1994-09-08 | Zeiss Carl Fa | Taststiftwechselhalter |
DE3425476A1 (de) * | 1983-07-15 | 1985-01-24 | WERO oHG Röth & Co, 6490 Schlüchtern | Laengenmessvorrichtung nach dem zweistrahl-laser-interferometerprinzip |
JPS6117011A (ja) * | 1984-07-03 | 1986-01-25 | Komatsu Ltd | 門型工作機械における寸法測定方法 |
US4956606A (en) * | 1984-10-17 | 1990-09-11 | Mine Safety Appliances Company | Non-contact inductive distance measuring system with temperature compensation |
GB8522984D0 (en) * | 1985-09-17 | 1985-10-23 | Renishaw Plc | Tool change apparatus |
DE3620118C2 (de) * | 1986-06-14 | 1998-11-05 | Zeiss Carl Fa | Verfahren zur Bestimmung bzw. Korrektur des Temperaturfehlers bei Längenmessungen |
DE3631825A1 (de) * | 1986-09-19 | 1988-03-31 | Zeiss Carl Fa | Verfahren zur reduzierung von temperatureinfluessen auf koordinatenmessgeraete |
GB8624191D0 (en) * | 1986-10-08 | 1986-11-12 | Renishaw Plc | Datuming of analogue measurement probes |
DE3706610A1 (de) * | 1987-02-28 | 1988-09-08 | Mauser Werke Oberndorf | Mess-signalverarbeitung fuer koordinatenmessmaschinen und bearbeitungsmaschinen |
DE3715627A1 (de) * | 1987-05-11 | 1988-12-08 | Hommelwerke Gmbh | Vorrichtung zur messung des abstandes zwischen der vorrichtung und einer messflaeche |
DE3729644C2 (de) * | 1987-09-04 | 1997-09-11 | Zeiss Carl Fa | Verfahren zur Bestimmung der Temperatur von Werkstücken in flexiblen Fertigungssystemen |
-
1988
- 1988-11-05 DE DE8813875U patent/DE8813875U1/de not_active Expired
-
1989
- 1989-10-17 EP EP89119244A patent/EP0368040B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1989-10-17 DE DE8989119244T patent/DE58903523D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1989-11-03 US US07/431,570 patent/US5014444A/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-11-06 JP JP1989129176U patent/JPH0729450Y2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-03-18 US US07/670,865 patent/US5065526A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012137498A (ja) * | 2004-12-16 | 2012-07-19 | Werth Messtechnik Gmbh | 座標測定装置ならびに座標測定装置を用いて加工物の幾何形状を測定する方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5014444A (en) | 1991-05-14 |
EP0368040A3 (en) | 1990-11-07 |
US5065526A (en) | 1991-11-19 |
EP0368040A2 (de) | 1990-05-16 |
JPH0729450Y2 (ja) | 1995-07-05 |
EP0368040B1 (de) | 1993-02-10 |
DE8813875U1 (ja) | 1988-12-22 |
DE58903523D1 (de) | 1993-03-25 |
Similar Documents
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |