JPH03252996A - Scan-in system - Google Patents

Scan-in system

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Publication number
JPH03252996A
JPH03252996A JP2050967A JP5096790A JPH03252996A JP H03252996 A JPH03252996 A JP H03252996A JP 2050967 A JP2050967 A JP 2050967A JP 5096790 A JP5096790 A JP 5096790A JP H03252996 A JPH03252996 A JP H03252996A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
flag
storage means
scan
address
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2050967A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hirobumi Kawazoe
博文 川添
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP2050967A priority Critical patent/JPH03252996A/en
Publication of JPH03252996A publication Critical patent/JPH03252996A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To increase the processing speed by providing a flag clear means which clears flags of a flag storage means and a flag set means which sets the flag of the flag storage means selected by a first address setting means at the time of writing data for scan-in. CONSTITUTION:When the scan operation is started, data corresponding to the scan address is outputted from a data memory 2 to a selector 3 bit by bit by the indication of an address counter 5. When a corresponding flag is '1', data from the data memory 2 is scanned into a circuit 1 by the selector 3; but otherwise, it is not scanned in and data scanned out from the circuit 1 is scanned in as it is. Consequently, it is unnecessary to preliminarily scan out all flip flops, and only one scan operation is required. Thus, the scan-in processing speed is increased.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、スキャン・イン方式、特にビット単位にアド
レスされている複数のフリップフロップをシフトクロッ
クによりシフトレジスタとして動作させて、データを書
き込むスキャン・イン方式%式% 〔従来の技術〕 従来のこの種のスキャン・イン方式では、1回のスキャ
ン・イン動作で複数のレジスタにスキャン・インするに
は、スキャン動作前に、すべてのフリップフロップをラ
ンダムにアクセスできる記憶装置にスキャン・アウトし
、その後に、対象のデータを書き換えスキャン・インし
ている。
[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention relates to a scan-in method, in particular, a scan method in which data is written by operating a plurality of flip-flops addressed in bit units as a shift register using a shift clock.・In method % expression % [Prior art] In this type of conventional scan-in method, in order to scan in multiple registers in one scan-in operation, all flip-flops must be The data is scanned out to a randomly accessible storage device, and then the target data is rewritten and scanned in.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上述した従来のスキャン・イン方式では、特に、装置動
作中に頻繁にスキャン・インを行う必要がある場合など
は、その都度、装置を停止状態にして、すべてのレジス
タをスキャン・アウトする必要があり、結果として最低
2回のスキャン動作を行う必要がある。これによりスキ
ャン動作に費やす処理時間の内、装置停止時間が多くな
るという問題がある。
In the conventional scan-in method described above, it is necessary to stop the device and scan out all registers each time, especially when it is necessary to perform scan-ins frequently while the device is operating. As a result, it is necessary to perform at least two scan operations. This poses a problem in that the apparatus stop time increases in the processing time spent on scanning operations.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明の方式は、ビット単位にアドレスされている複数
のフリップフロップをシフトクロックによりシフトレジ
スタとして動作させてデータを書キ込むスキャン・イン
方式に於て、 シフト動作実行前に、スキャン・インの為に入力された
ビット単位のデータを記憶するデータ記憶手段と、 該データ記憶手段に対して該データを記憶させる際のア
ドレスを与える第1のアドレス設定手段と、 シフト実行時に、ビット単位のシフト完了ごとにアドレ
ス更新を行い、前記データ記憶手段のスキャン・インを
行うべきデータのアドレスを与える第2のアドレス設定
手段と、 前記第1および第2のアドレス設定手段の指示によって
選択され、前記データ記憶手段と一対一で対応するフラ
グ記憶手段と、 シフト動作の際に該フラグ記憶手段のフラグの状態によ
って、最後のフリップフロップからシフトされたデータ
と前記データ記憶手段からのデータを切り換えスキャン
・イン・データとするデータ選択手段と、 該シフト動作時に、該データ選択手段に対して、前記デ
ータ記憶手段における前記第2アドレス設定手段によっ
て選択された領域のデータを出力後、該第2アドレス設
定手段によって選択された前記フラグ記憶手段のフラグ
をクリアするフラグクリア手段と、 前記データ記憶手段における前記第1アドレス設定手段
Iによって選択された領域に、前記スキャン・インの為
のデータを書き込む際、該第1アドレス設定手段によっ
て選択された前記フラグ記憶手段のフラグをセットする
フラグセット手段とを有する事を特徴とする。
The method of the present invention is a scan-in method in which a plurality of flip-flops addressed bit by bit are operated as a shift register using a shift clock to write data. data storage means for storing bit-by-bit data inputted for the purpose of the shift; first address setting means for giving an address for storing the data to the data storage means; a second address setting means which updates the address each time the data is completed and provides an address of the data to be scanned into the data storage means; A flag storage means corresponds one-to-one with the storage means, and during a shift operation, the data shifted from the last flip-flop and the data from the data storage means are switched and scanned according to the state of the flag of the flag storage means. - Data selection means to be data; and after outputting data of the area selected by the second address setting means in the data storage means to the data selection means during the shift operation, the second address setting means a flag clearing means for clearing the flag of the flag storage means selected by the flag storage means; and a flag clearing means for clearing the flag of the flag storage means selected by the flag storage means; It is characterized by comprising a flag setting means for setting the flag in the flag storage means selected by the first address setting means.

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明の一実施例について、図面を参照して具体
的に説明する。
Next, one embodiment of the present invention will be specifically described with reference to the drawings.

第1図は、本発明の一実施例の構成を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention.

第1図に於て、回路1は、シリアルスキャン機能を持つ
ものである。データ・メモリ2は回路1に対するスキャ
ンインの為の更新すべきデータを格納するものである。
In FIG. 1, a circuit 1 has a serial scan function. Data memory 2 stores data to be updated for scan-in to circuit 1.

セレクタ3には回路1からスキャン・アウトされたデー
タ及びデータメモリ2からの出力を入力し、セレクタ3
の出力は回路1にスキャン・インする構成とする。
The data scanned out from the circuit 1 and the output from the data memory 2 are input to the selector 3.
The output is scanned into circuit 1.

シフトクロック4は、スキャン動作時に1ビツトシフト
毎に出力される。アドレスカウンタ5はスキャン動作時
にデータ・メモリ2及びフラグ・メモリ6ヘアドレスを
出力し、1ビツトシフト毎にセレクタ3に入力されたデ
ータに対応するスキャンアドレスを示す構成とする。
Shift clock 4 is output for every 1 bit shift during scan operation. The address counter 5 outputs an address to the data memory 2 and flag memory 6 during a scan operation, and is configured to indicate the scan address corresponding to the data input to the selector 3 every 1 bit shift.

フラグ・メモリ6は、データ・メモリ2内のデータとl
対1に対応するフラグを持ち同じアドレスによって常時
アクセスされるよう構成し、セレクタ10によって、ス
キャン動作時のデータ・メモリ2のデータ出力時には0
”を、セットデータ8書き込み時には“l”をフラグ・
メモリ6に書き込むように動作する。
The flag memory 6 is connected to the data in the data memory 2.
It has a flag corresponding to pair 1 and is configured so that it is always accessed by the same address.
”, and when writing set data 8, set “l” as a flag.
It operates to write to the memory 6.

セレクタ7は、スキャン動作時には、アドレスカウンタ
5の出力を、又スキャン・インを行うデータであるセッ
トデータ8の書き込み時には、更新データのスキャンア
ドレスに対応したセットアドレス9を、データ・メモリ
2及びフラグ・メモリ6のアドレスと成るように動作す
る。
The selector 7 outputs the output of the address counter 5 during the scan operation, and outputs the set address 9 corresponding to the scan address of the update data to the data memory 2 and the flag when writing the set data 8, which is data to be scanned in. - Operates to match the address of memory 6.

セレクタ3はフラグメモリ10からの出力が“0”の時
は回路1からスキャン・アウトされたデータを、又“1
”の時は、データメモリ2からの出力を回路1に対して
送出する。
When the output from the flag memory 10 is "0", the selector 3 selects the data scanned out from the circuit 1, and when the output from the flag memory 10 is "1".
”, the output from the data memory 2 is sent to the circuit 1.

上記構成において、まず、複数のセットデータ8が入力
されると、スキャン動作開始によってデータ更新の対象
となるスキャンアドレスに対応したフラグがそれぞれセ
ットされる。(ただし、初期状態として、フラグはすべ
てクリアされているものとする。) 次に、スキャン動作を開始すると1ビツト毎にアドレス
カウンタ5の指示によって、スキャンアドレスに対応し
たデータがデータ・メモリ2よりセレクタ3に対して出
力される。データ・メモリ2よりの該データは、前記ア
ドレスに対応するフラグが“1″の時はセレクタ3によ
って、回路1ヘスキヤン・インされるが、0”の時は該
データはスキャン・インされず、代わりに、回路1から
スキャン・アウトされたデータがそのままスキャン・イ
ンされる。
In the above configuration, first, when a plurality of set data 8 are input, flags corresponding to scan addresses to be data updated are set by starting a scan operation. (However, it is assumed that all flags are cleared in the initial state.) Next, when the scan operation is started, the data corresponding to the scan address is transferred from the data memory 2 by the instruction of the address counter 5 bit by bit. It is output to selector 3. When the flag corresponding to the address is "1", the data from the data memory 2 is scanned in to the circuit 1 by the selector 3, but when it is "0", the data is not scanned in. Instead, the data scanned out from circuit 1 is scanned in as is.

又、この時、該当フラグはセレクタ3より、1ビツトの
データがスキャン・インされる毎に“0”にされる。こ
れらの動作によりスキャン動作終了時には、フラグが1
”であったデータに対応するフリップフロップのみ更新
されフラグはすべて“0”にクリアされる。
Also, at this time, the corresponding flag is set to "0" by the selector 3 every time one bit of data is scanned in. Due to these operations, the flag is set to 1 at the end of the scan operation.
” only the flip-flop corresponding to the data is updated and all flags are cleared to “0”.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、本発明によれば、複数のフリップ
フロップに対してスキャン・インを行う際、前もってす
べてのフリップフロップをスキャン・アウトする必要が
無くなり、結果として1回のスキャン動作のみで済む。
As explained above, according to the present invention, when performing scan-in to multiple flip-flops, there is no need to scan out all flip-flops in advance, and as a result, only one scan operation is required. .

これによってスキャン・イン処理の処理速度向上を実施
できるという効果が得られる。
This has the effect of improving the processing speed of scan-in processing.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の る。 実施例の構成を示す図であ 1・・・・・・回路、2・・・・・・データ・メモリ、
3,7゜10・・・・・・セレクタ、4・・・・・・シ
フトクロック、5・・・・・・アドレスカウンタ、6・
・・・・・フラグ・メモリ、8・・・・・・セットデー
タ、9・・・・・・セットアドレス。
FIG. 1 shows the present invention. 1 is a diagram showing the configuration of an embodiment; 1... circuit; 2... data memory;
3,7゜10... Selector, 4... Shift clock, 5... Address counter, 6...
... Flag memory, 8 ... Set data, 9 ... Set address.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 ビット単位にアドレスされている複数のフリップフロッ
プをシフトクロックによりシフトレジスタとして動作さ
せてデータを書き込むスキャン・イン方式に於て、 シフト動作実行前に、スキャン・インの為に入力された
ビット単位のデータを記憶するデータ記憶手段と、 該データ記憶手段に対して該データを記憶させる際のア
ドレスを与える第1のアドレス設定手段と、 シフト実行時に、ビット単位のシフト完了ごとにアドレ
ス更新を行い、前記データ記憶手段のスキャン・インを
行うべきデータのアドレスを与える第2のアドレス設定
手段と、 前記第1および第2のアドレス設定手段の指示によって
選択され、前記データ記憶手段と一対一で対応するフラ
グ記憶手段と、 シフト動作の際に該フラグ記憶手段のフラグの状態によ
って、最後のフリップフロップからシフトされたデータ
と前記データ記憶手段からのデータを切り換えスキャン
・イン・データとするデータ選択手段と、 該シフト動作時に、該データ選択手段に対して、前記デ
ータ記憶手段における前記第2アドレス設定手段によっ
て選択された領域のデータを出力後、該第2アドレス設
定手段によって選択された前記フラグ記憶手段のフラグ
をクリアするフラグクリア手段と、 前記データ記憶手段における前記第1アドレス設定手段
Iによって選択された領域に、前記スキャン・インの為
のデータを書き込む際、該第1アドレス設定手段によっ
て選択された前記フラグ記憶手段のフラグをセットする
フラグセット手段とを有する事を特徴とするスキャン・
イン方式。
[Claims] In a scan-in method in which a plurality of flip-flops addressed in bits are operated as a shift register using a shift clock and data is written, for scan-in before the shift operation is executed, a data storage means for storing input bit-by-bit data; a first address setting means for giving an address for storing the data to the data storage means; and a first address setting means for giving an address for storing the data to the data storage means; a second address setting means for updating an address in the data storage means and providing an address of data to be scanned into the data storage means; a flag storage means having a one-to-one correspondence with the flag storage means; and scan-in data for switching the data shifted from the last flip-flop and the data from the data storage means according to the state of the flag of the flag storage means during a shift operation. data selection means for outputting data in an area selected by the second address setting means in the data storage means to the data selection means during the shift operation; a flag clearing means for clearing a flag of the flag storage means that has been set, and a flag clearing means for clearing a flag of the flag storage means that has been set in the flag storage means; and a flag setting means for setting the flag in the flag storage means selected by the address setting means.
In method.
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