JPH03242875A - Inspection device for disk device - Google Patents

Inspection device for disk device

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Publication number
JPH03242875A
JPH03242875A JP4015790A JP4015790A JPH03242875A JP H03242875 A JPH03242875 A JP H03242875A JP 4015790 A JP4015790 A JP 4015790A JP 4015790 A JP4015790 A JP 4015790A JP H03242875 A JPH03242875 A JP H03242875A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
error
read
section
storage section
Prior art date
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Pending
Application number
JP4015790A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Nobuo Nakamura
信雄 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP4015790A priority Critical patent/JPH03242875A/en
Publication of JPH03242875A publication Critical patent/JPH03242875A/en
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Abstract

PURPOSE:To easily detect error generation distribution by securing the address area of each storage part so as to be large, and storing altogether even a read error generated continuously or generated by plural pieces at a time. CONSTITUTION:A data position counter 6 inputs a byte pulse (b) as a clock, and outputs always its position as a count value while synchronizing with read data (a) to be always inputted. Since an error signal pulse (d) from a comparing part 3 is inputted to a second counter 5 as the clock, and simultaneously, it is inputted to an error position storage part 7 as a latch signal, the error position storage part 7 comes to store the position of error data at that time in an address corresponding to prescribed error counting sequence. Accordingly, a data processing part 8 can inspect a disk device by using data stored in a data storage part 4 and the error position storage part 7. Thus, the analysis of the read error becomes possible.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、磁気ディスク装置の検査を行なう検査装置に
関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an inspection device for inspecting a magnetic disk device.

[従来の技術] 従来、この種の検査装置は1情報分のデータラッチ回路
と、表示部とを備えているだけであった。データラッチ
回路は、リードエラーを検出した時点でのリードデータ
と発生位置とを保持し、表示部はデータラッチ回路で保
持したデータを表示する。
[Prior Art] Conventionally, this type of inspection apparatus has only included a data latch circuit for one piece of information and a display section. The data latch circuit holds the read data and the occurrence position at the time when the read error is detected, and the display section displays the data held by the data latch circuit.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上述した従来のディスク検査装置は、1情報分のリード
エラーデータしか保持しないから、リードエラーが連続
したり複数個発生すると、データラッチ回路の保持デー
タは前のデータは消滅し最後に発生したリードエラーデ
ータとなり、それ以前のリードエラーデータが判読でき
ない。このためリードエラーの発生分布も認識できない
という欠点がある。
The conventional disk inspection device described above only holds read error data for one piece of information, so if read errors occur consecutively or multiple times, the data held by the data latch circuit will erase the previous data and replace it with the read error data that occurred last. This becomes error data, and the previous read error data cannot be read. Therefore, there is a drawback that the distribution of occurrence of read errors cannot be recognized.

また、この従来装置は、リードエラーが発生する前のデ
ータ及び後のデータを保持できないから、リードエラー
のデータ内容とその前後データとの相関関係を知ること
ができない。そのためリードエラーの発生原因を知るた
めの正確なリードエラー情報が不足しているという欠点
がある。
Further, since this conventional device cannot retain data before and after the read error occurs, it is not possible to know the correlation between the data content of the read error and the data before and after the read error. Therefore, there is a drawback that accurate read error information to know the cause of read error occurrence is insufficient.

本発明の目的は、上記の欠点を除去し、ある一定範囲内
のデータを保持し、リードエラーの解析を行なうこと・
を可能とする検査装置を提供することにある。
The purpose of the present invention is to eliminate the above-mentioned drawbacks, retain data within a certain range, and analyze read errors.
The purpose of the present invention is to provide an inspection device that enables the following.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明の検査装置は、被検査ディスク装置のリードデー
タに同期して生起するバイトパルスを一定の範囲ごとに
順に計数した計数値を、前記範囲のデータ位置情報とし
て出力するデータ位置カウンタと、バイトパルスをアド
レス更新パルスとして入力し、所定のアドレスに前記範
囲のリードデータを記憶しておくデータ記憶部と、バイ
トパルスを入力し、入力ごとにあらかじめ記憶しておい
たデータを再生するライトデータ再生部と、リードデー
タとライトデータ再生部の再生データとを比較し、リー
ドデータに誤りがあるときにエラー信号パルスを生起す
る比較部と、前記比較部の出力をカウントして、その計
数値をアドレスとして、データ位置カウンタの出力をエ
ラー信号パルスの生起ごとにラッチし、記憶しておくエ
ラー位置記憶部とを含んで構成されていて、ディスク装
置の検査のためのデータ処理は、データ処理部が前記デ
ータ記憶部およびエラー位置記憶部に保持しているデー
タを適宜読出して行なうことができる。
The inspection device of the present invention includes a data position counter that sequentially counts byte pulses generated in synchronization with read data of a disk device to be inspected in a certain range, and outputs a count value as data position information of the range, and a byte A data storage section that inputs a pulse as an address update pulse and stores the read data in the range at a predetermined address, and a write data reproduction section that inputs a byte pulse and reproduces pre-stored data for each input. a comparison section that compares the read data with the reproduction data of the write data reproduction section and generates an error signal pulse when there is an error in the read data; and a comparison section that counts the output of the comparison section and calculates the counted value. It is configured to include an error position storage section that latches and stores the output of the data position counter every time an error signal pulse occurs as an address, and the data processing section performs data processing for testing the disk device. can read out the data held in the data storage section and the error position storage section as appropriate.

C作  用  J 定の範囲として、例えば1トラツク分のデータを取扱う
ようにすれば、このトラック内に生ずるエラーデータが
複数個あっても、すべてのエラー位置情報をエラー位置
記憶部から読出し、またそのときのエラーデータをデー
タ記憶部から知ることができる。さらに、リードデータ
は1トラツク分記憶されているから、エラー位置の前後
のリードデータを知ることもできる。
C Effect J For example, if data for one track is handled as a fixed range, even if there are multiple pieces of error data that occur within this track, all error position information can be read out from the error position storage section, and The error data at that time can be known from the data storage section. Furthermore, since the read data is stored for one track, it is also possible to know the read data before and after the error position.

[実施例〕 以下、本発明の一実施例について、図面を参照して説明
する。第1図は一実施例のブロック図、第2図、第3図
は各部の信号のタイミング波形図である。図において、
4がデータ記憶部、7がエラー位置記憶部で、このデー
タ記憶部4.エラー位置記憶部7からデータを読出し、
データ処理部8でデータ処理を行なう。
[Example] Hereinafter, an example of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram of one embodiment, and FIGS. 2 and 3 are timing waveform diagrams of signals in each part. In the figure,
4 is a data storage section, 7 is an error position storage section, and this data storage section 4. Read data from error position storage section 7,
Data processing section 8 performs data processing.

リードデータaは、第2図、第3図に示すように8ビツ
トを1つのデータとして、また8ビツトごとにバイトパ
ルスbがこの検査装置に入力される。この実施例では、
■トラック分の転送データを所定の検査範囲とする。し
たがって、データ位置情報もこの範囲内で定め、またデ
ータ記憶部4に記憶するデータも、この範囲のデータと
する。そのため、データ記憶部4および後述するライト
データ再生部2.データ位置カウンタ6は1トラツクご
とにクリア信号Cによりクリアされる。このクリア信号
Cは、第1図、第3図に示すようにバイトパルスbを第
1カウンタ1に入力してn個(1トラツク分の転送デー
タ数)カウントしたときに発生される。
As for the read data a, as shown in FIGS. 2 and 3, 8 bits are treated as one data, and a byte pulse b is input to this inspection device for every 8 bits. In this example,
(2) Set a track's worth of transferred data as a predetermined inspection range. Therefore, the data position information is also determined within this range, and the data stored in the data storage section 4 is also determined to be within this range. Therefore, the data storage section 4 and the write data reproducing section 2, which will be described later. The data position counter 6 is cleared by a clear signal C every track. This clear signal C is generated when the byte pulse b is input to the first counter 1 and counted by n pieces (the number of transferred data for one track) as shown in FIGS. 1 and 3.

リードデータaは、データ記憶部4に入力して記憶され
るが、このときのアドレスはバイトパルスbをアドレス
更新パルスとして入力して、所定のアドレスに記憶され
る。そして、バイトパルスbがライトデータ再生部2に
入力するごとにあらかじめ記憶された正しいライトデー
タを再生して出力する。ライトデータ再生部2には、ト
ラックごとにライトデータが配列して記・臆され、クリ
ア信号Cがくるごとに、ライトデータが変わり、トラッ
クの先頭の位置からライトデータが再生して出力される
。リードデ−タaとライトデータ再生部2の出力データ
とは相応する位置のデータである(第2図参照)。そし
て、両方のデータが比較部3で比較され、両出力が異な
る(すなわちリードデータに誤りがある)と、論理ハイ
の信号が生ずる。
The read data a is input and stored in the data storage section 4, and the address at this time is stored at a predetermined address by inputting the byte pulse b as an address update pulse. Then, every time the byte pulse b is input to the write data reproducing section 2, the correct write data stored in advance is reproduced and output. In the write data reproducing section 2, write data is arranged and recorded for each track, and each time a clear signal C is received, the write data changes, and the write data is reproduced and output from the beginning position of the track. . The read data a and the output data of the write data reproducing section 2 are data at corresponding positions (see FIG. 2). Then, both data are compared by the comparator 3, and if the two outputs are different (that is, there is an error in the read data), a logic high signal is generated.

この論理ハイのエラー信号パルスdを第2カウンタ5で
計測し、計数出力(第2図の・・j、j+1゜・・・・
)をデータ処理部8に送り、またエラー位置記憶部7の
アドレス入力として送出する。
This logic high error signal pulse d is measured by the second counter 5, and the count output (...j, j+1°...
) is sent to the data processing unit 8 and also sent as an address input to the error position storage unit 7.

一方、データ位置カウンタ6は、バイトパルスbをクロ
ックとして入力し、常に入力されるリードデータaに同
期してその位置を計数値として出力している。比較部3
からのエラー信号パルスdは第2カウンタ5にクロック
として入力するとともに、エラー位置記憶部7にラッチ
信号として入力しているから、エラー位置記憶部7はそ
のときのエラーデータの位置を、所定のエラー計数順序
に相応するアドレスに格納することになる。
On the other hand, the data position counter 6 inputs the byte pulse b as a clock and outputs the position as a count value in synchronization with the input read data a. Comparison part 3
Since the error signal pulse d is inputted to the second counter 5 as a clock and also inputted to the error position storage unit 7 as a latch signal, the error position storage unit 7 stores the position of the error data at that time in a predetermined manner. It will be stored at an address corresponding to the error counting order.

上記のように、エラーデータのすべての位置情報がエラ
ー位置記憶部7に格納され、またすべてのデータ位置に
応じて、データ記憶部4にリードデータが格納されるこ
とになる。したがってデータ処理部8が上記のデータ記
憶部4゜エラー位置記憶部7に格納されるデータを利用
して、ディスク装置の検査を行なうことができる。
As described above, all positional information of error data is stored in the error position storage section 7, and read data is stored in the data storage section 4 according to all data positions. Therefore, the data processing unit 8 can inspect the disk device using the data stored in the data storage unit 4° error position storage unit 7.

[発明の効果1 以上説明したように本発明は、各記憶部のアドレス領域
を大きく確保し、連続で発生したり複数個発生したリー
ドエラーも全て格納するのでエラー発生分布を容易に検
出できる。またデータ処理部にデータを表示するように
すれば、発生した全てのり=ドエラーデータ、エラー発
生位置を一見して判読できるようにすることができる。
[Advantageous Effects of the Invention 1] As explained above, the present invention secures a large address area for each storage section and stores all read errors that occur consecutively or in multiple numbers, so that the error occurrence distribution can be easily detected. Furthermore, by displaying the data on the data processing section, it is possible to read all the error data and error occurrence positions at a glance.

また、その前後バイトのデータを記憶部のデータ内容か
ら認識してワードエラーデータとの相関関係を知ること
もできる。リードデタ、エラー位置データを各記憶部に
保持しているので品質管理上正確な情報が任意の時に迅
れるという効果もある。
Further, it is also possible to recognize the data of the preceding and following bytes from the data contents of the storage section and find out the correlation with the word error data. Since read data and error position data are held in each storage section, accurate information can be obtained at any time for quality control purposes.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例の回路ブロック図、第2図、
第3図は実施例の各部のタイミング波形図である。 ■・・・第1カウンタ、 2・・・ライトデータ再生部、 3・・・比較部、    4・・・データ記憶部、5・
・・第2カウンタ、 6・・・データ位置カウンタ、 7・・・エラー位置記憶部、 8・・・データ処理部、  a・・・リードデータ、b
・・・バイトパルス、  C・・・クリア信号、d・・
・エラー信号パルス。
FIG. 1 is a circuit block diagram of an embodiment of the present invention, FIG.
FIG. 3 is a timing waveform diagram of each part of the embodiment. ■...First counter, 2...Write data reproducing section, 3...Comparing section, 4...Data storage section, 5.
...Second counter, 6.Data position counter, 7.Error position storage section, 8.Data processing section, a..Read data, b.
...Bite pulse, C...Clear signal, d...
・Error signal pulse.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 被検査ディスク装置のリードデータに同期して生起する
バイトパルスを一定の範囲ごとに順に計数した計数値を
、前記範囲のデータ位置情報として出力するデータ位置
カウンタと、バイトパルスをアドレス更新パルスとして
入力し、所定のアドレスに前記範囲のリードデータを記
憶しておくデータ記憶部と、バイトパルスを入力し、入
力ごとにあらかじめ記憶しておいたデータを再生するラ
イトデータ再生部と、リードデータとライトデータ再生
部の再生データとを比較し、リードデータに誤りがある
ときにエラー信号パルスを生起する比較部と、前記比較
部の出力をカウントして、その計数値をアドレスとして
、データ位置カウンタの出力をエラー信号パルスの生起
ごとにラッチし、記憶しておくエラー位置記憶部とを含
み、前記データ記憶部およびエラー位置記憶部に保持し
ているデータを適宜読出し、ディスク装置の検査のため
のデータ処理を行なうデータ処理部を有することを特徴
とするディスク装置の検査装置。
A data position counter that sequentially counts the byte pulses that occur in synchronization with the read data of the disk device under test in a certain range and outputs them as data position information for the range, and inputs the byte pulses as address update pulses. a data storage section that stores the read data in the range at a predetermined address; a write data reproducing section that inputs byte pulses and reproduces pre-stored data for each input; A comparison section that compares the reproduced data of the data reproduction section and generates an error signal pulse when there is an error in the read data, and a comparison section that counts the output of the comparison section and uses the counted value as an address to control the data position counter. and an error position storage section that latches and stores the output every time an error signal pulse occurs, and reads out the data held in the data storage section and the error position storage section as appropriate for inspection of the disk device. An inspection device for a disk device, comprising a data processing section that performs data processing.
JP4015790A 1990-02-20 1990-02-20 Inspection device for disk device Pending JPH03242875A (en)

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