JPH03242565A - 直流／交流試験回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概　要〕 増幅器モジュール等の出荷試験において使用される直流
／交流試験回路に関し、 簡易な回路により増幅器モジュール等の交流試験を行う
ことができる直流／交流試験回路を提供することを目的
とし、 被試験物を試験する試験回路において、被試験物の人力
に接続され、所望の周波数の交流信号を発振して出力す
る交流信号発振器と、被試験物の出力に接続され、交流
信号発振器の出力を被試験物に加えて得られる被試験物
の交流信号出力を人力して直流信号に変換する交流／直
流変換部とを設け、所望の周波数における被試験物の交
流特性を得るように構成する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、増幅器モジュール等の出荷試験において使用
される直流／交流試験回路に関するものである。

増幅器モジュール等の出荷試験においては、その特性の
チエツクのために直流試験を行った後に交流試験を行う
。この場合、コスト、スペース等の点から試験設備はで
きるたけ簡単なものであることが必要である。このため
、簡易な回路により増幅器モジュール等の交流試験を行
うことができる直流／交流試験回路か要望されている。

引して、増幅器モジュールのような被試験物１の周波数
特性を測定していた。

尚、上記測定方法を第１０図にフローチャートで示す。

〔従来の技術〕

第９図は従来例の交流試験回路を示すブロック図である
。

第１Ｏ図は従来例の試験方法を示すフローチャートであ
る。

従来は第９図（ａ）に示すように、例えばパルスパター
ン発生器（以下ＰＰＧと称する）２の出力パルスを例え
ばハイブリッＩ”　Ｉ　Ｃで作られた増幅器モジュール
のような被試験物１に加え、被試験物ｌを通して得られ
る出力のパルスを例えばオッシロスコープ（又はサンプ
リンク・オッシロスコープ）３に加えて、被試験物Ｉの
パルス特性を測定していた。

又、同図（ｂ）に示すように、例えばネットワークアナ
ライザ４によりある２点間の周波数範囲を掃〔発明が解
決しようとする課題〕 しかしながら上述の回路構成においては、大がかりな測
定器が必要であり、交流特性確認後の不良検出において
試験工数がかかるという問題点があった。

したがって本発明の目的は、簡易な回路により増幅器モ
ジュール等の交流試験を行うことができる直流／交流試
験回路を提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

上記問題点は第１図に示す回路の構成によって解決され
る。

即ち第１図において、被試験物１００を試験する試験回
路において、 ５００は被試験物の人力に接続され、所望の周波数の交
流信号を発振して出力する交流信号発振器である。

６００は被試験物の出力に接続され、交流信号発振器の
出力を被試験物に加えて得られる被試験物の交流信号出
力を入力して直流信号に変換する交流／直流変換部であ
る。そして、所望の周波数における被試験物の交流特性
を得るように構成する。

〔作　用〕

例えば被試験物１００が第７図に示すような回路である
時、同回路のコンデンサＣ１の有無により第８図に示す
ような交流特性の変化が生じる。このため、第１図に示
す交流信号発振器５００から所望の周波数、例えば第８
図のｆｏの交流信号を発振して被試験物１００に出力す
る。

交流信号発振器５００の出力を被試験物１００に加えて
得られる被試験物の交流信号出力を交流／直流変換部６
００に入力して、交流／直流変換部６００において直流
信号に変換する。そして、この直流信号の値を測定して
、所望の周波数（例えば第８図のｆｏ）における被試験
物の交流特性を得るようにする。上記交流特性を、交流
信号発振器５００の出力周波数を変えて測定する。

この結果、簡易な回路により増幅器モジュール等の交流
試験を行うことができる。

〔実施例〕

第２図は本発明の実施例の直流／交流試験回路の構成を
示すブロック図である。

第３図は実施例で使用される正弦波発振器（以下Ｏ３Ｃ
と称する）の回路図の一例である。

第４図は実施例で使用される交流／直流変換回路図の一
例である。

第５図は実施例の交流／直流変換回路の出力波形を示す
図である。

第６図は実施例の試験方法を示すフローチャートである
。

全図を通じて同一符号は同一対象物を示す。

第２図において、それぞれ周波数ｆ１〜ｆｎの正弦波信
号を発振して出力するｎ個のＯ３Ｃ５−１〜５−ｎの出
力からスイッチ７により所望の１個、例えば第８図に示
すｆｏを選択して、被試験物（例えば増幅器モジュール
）ｌに加える。そして、被試験物ｌを通った交流信号出
力を交流／直流変換回路６に加えて直流成分を求め、直
流電圧器（図示しない）等により測定する。他の周波数
における交流特性を測定する場合も、同様にして行う。

尚、第２図に示すＯ２０５−１〜５−ｎは、例えば第３
図に示す周知の回路により低コストで作ることができる
。即ち、インバータ８．９を直列に接続し、その入出力
間をコンデンサＣ２、抵抗Ｒ３、Ｒ４による帰還ループ
で結合した回路により、インバータ９からは矩形波パル
スを出力する。この出力を、インピーダンス変換機能を
有しエミッタに抵抗Ｒ５を接続したエミッタホロア形の
トランジスタ（以下Ｔｒと称する）　１０からなるバッ
ファ回路を介して、抵抗Ｒ６、コンデンサＣ３からなる
フィルタ回路に加えることにより、コンデンサＣ３の両
端から正弦波出力が得られる。そして、帰還ループのコ
ンデンサＣ２、抵抗Ｒ３、Ｒ４の値を変えることにより
、出力周波数を変えることができる。

又、第２図に示す交流／直流変換回路６は、例えば第４
図に示すＴｒ　１１と、そのエミッタに接続した抵抗Ｒ
７、コンデンサＣ８からなる回路により、低コストで作
ることができる。そして、入力信号が第５図（ａ）に示
すような波形の時、抵抗Ｒ７の値か大きい時（例えば数
１０ＯＫΩ〜数ＭΩの時）には、同図（ｂ）に示すよう
なピーク値を検出して出力する。又、抵抗Ｒ７の値が比
較的小さい時（数１００Ω〜数にΩの時）には、同図（
Ｃ）に示すような平均値を検出して出力する。

上記交流特性を測定する方法を第６図にフローチャート
で示す。即ち、同図（ａ）では本発明による交流特性を
測定した後不良品か否かの判定を行い、不良品と判明す
ればこの被試験物を区別する。又、更に詳細な交流特性
の試験が必要な時には、従来例の場合と同様な試験を行
う。

又、同図（ｂｌでは本発明による交流特性を測定した後
不良品か否かの判定を行い不良品と判明すればこの被試
験物を区別する。そして、交流特性試験を省略する。こ
の結果、工数の削減が可能となる。

尚、正弦波発振器及び交流／直流変換回路は本実施例で
示した回路に限定するものではない。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明によれば、交流試験の簡素化
、あるいは省略が可能となる。この結果、工数の削減も
可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理図、 第２図は本発明の実施例の直流／交流試験回路の構成を
示すブロック図、 第３図は実施例で使用されるＯ２０の回路図の一例、 第４図は実施例で使用される交流／直流変換回路図の一
例、 第５図は実施例の交流／直流変換回路の出力波形を示す
図、 第６図は実施例の試験方法を示すフローチャート、 第７図は一例の被試験物の回路を示す図、第８図は第７
図に示す被試験物の回路の交流特性を示す図、 第９図は従来例の交流試験回路を示すブロック図、 第１Ｏ図は従来例の試験方法を示すフローチャートであ
る。 図において ５００は交流信号発振器、 ６００は交流／直流変換部 を示す。 直流／交流餓憩回託 不完明の原理図 第　１　図 実於例て便用ご六ろ交流／直流変埃回路図の第４　図 １１ 実梵伊ｊの交ンｉ／亘流ス換回路の七カニ７史形１示す
図？＋５　　図 実方色汐１７”便用フ７１するＯ３Ｃの回路図の一ダ１
ｊ第３図 「 −＠ｊのす及紘、験ケ勿の回デ各を示τ図第　７図 第７図に示Ｔネ免畝励す初の口開の交流費・膣と示す図
第３　図 （α） Ｚ （ｂ） 在米ｇ１１　（１交流試１映回冷を示すプロ１，７）間
第９　図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 被試験物（１００）を試験する試験回路において、該被
   試験物の入力に接続され、所望の周波数の交流信号を発
   振して出力する交流信号発振器（５００）と、 該被試験物の出力に接続され、該交流信号発振器の出力
   を該被試験物に加えて得られる該被試験物の交流信号出
   力を入力して直流信号に変換する交流／直流変換部（６
   ００）とを設け、所望の周波数における該被試験物の交
   流特性を得るようにしたことを特徴とする直流／交流試
   験回路。