JPH03239976A - バーンイン試験用印加電圧選択方式 - Google Patents
バーンイン試験用印加電圧選択方式Info
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- JPH03239976A JPH03239976A JP2036295A JP3629590A JPH03239976A JP H03239976 A JPH03239976 A JP H03239976A JP 2036295 A JP2036295 A JP 2036295A JP 3629590 A JP3629590 A JP 3629590A JP H03239976 A JPH03239976 A JP H03239976A
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- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 12
- 238000010187 selection method Methods 0.000 claims description 6
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
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- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 3
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- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
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- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(概要)
集積回路などのバーンイン試験における被試験体に対す
る印加電圧の選択を行なうバーンイン試験用印加電圧選
択方式に関し、 バーンイン試験における被試験体に対する電圧設定をバ
ーンイン試験装置が被試験体を識別して自動的に適切な
電圧設定をすることができるようにすることを目的とし
、 バーンインカードに搭載されて試験される電子回路部品
の型格に対応した電圧が供給できる電源を備えた電源群
と、選択された電圧をバーンインカード側へ印加する印
加電圧供給手段とを有するバーンイン試験装置において
、前記バーンインカードに搭載された電子回路部品の型
格を識別する型格認識手段と、識別した型格に対応した
電圧を選択させるための信号を出力する電圧選択信号発
生手段と、該電圧選択信号発生手段からの信号を受けて
印加すべき電圧を供給できる前記電源を選択する電圧選
択手段とを備え、前記バーンインカードの接続に従って
前記型格認識手段が前記バーンインカード毎に型格を識
別し、前記電圧選択信号発生手段からその型格に応じた
電圧選択信号を出力させ、前記電圧選択手段によって前
記電源群の中から必要な電圧を供給できる前記電源を選
択させて、前記印加電圧供給手段から前記バーンインカ
ード毎に適切な電圧を印加させるような構成としたもの
である。
る印加電圧の選択を行なうバーンイン試験用印加電圧選
択方式に関し、 バーンイン試験における被試験体に対する電圧設定をバ
ーンイン試験装置が被試験体を識別して自動的に適切な
電圧設定をすることができるようにすることを目的とし
、 バーンインカードに搭載されて試験される電子回路部品
の型格に対応した電圧が供給できる電源を備えた電源群
と、選択された電圧をバーンインカード側へ印加する印
加電圧供給手段とを有するバーンイン試験装置において
、前記バーンインカードに搭載された電子回路部品の型
格を識別する型格認識手段と、識別した型格に対応した
電圧を選択させるための信号を出力する電圧選択信号発
生手段と、該電圧選択信号発生手段からの信号を受けて
印加すべき電圧を供給できる前記電源を選択する電圧選
択手段とを備え、前記バーンインカードの接続に従って
前記型格認識手段が前記バーンインカード毎に型格を識
別し、前記電圧選択信号発生手段からその型格に応じた
電圧選択信号を出力させ、前記電圧選択手段によって前
記電源群の中から必要な電圧を供給できる前記電源を選
択させて、前記印加電圧供給手段から前記バーンインカ
ード毎に適切な電圧を印加させるような構成としたもの
である。
本発明は、集積回路などのバーンイン試験における被試
験体に対する印加電圧の選択を行なうバーンイン試験用
印加電圧選択方式に関する。
験体に対する印加電圧の選択を行なうバーンイン試験用
印加電圧選択方式に関する。
近年、集積回路等を保証する手段として、バーンイン試
験が広く行われるようになった。
験が広く行われるようになった。
バーンイン試験装置は、第4図乃至第6図に示すように
、恒温槽1を備え、その恒温槽1の中に集積回路等の電
子回路部品を組み込んだプリント板(図示せず)を接続
するコネクタ2を多数個配設した試験室3a、3bを上
下2段に形成し、その試験室3a、3bに加熱機4で昇
温させた空気を送風機5により循環させて、プリント板
に搭載された電子回路部品を加熱できるようにした装置
で、試験室3a、3b内を規定時間につき高温に保持す
ることにより、プリント板に搭載された電子回路部品の
潜在不良を発見する試験(バーンイン試験)を行うもの
である。
、恒温槽1を備え、その恒温槽1の中に集積回路等の電
子回路部品を組み込んだプリント板(図示せず)を接続
するコネクタ2を多数個配設した試験室3a、3bを上
下2段に形成し、その試験室3a、3bに加熱機4で昇
温させた空気を送風機5により循環させて、プリント板
に搭載された電子回路部品を加熱できるようにした装置
で、試験室3a、3b内を規定時間につき高温に保持す
ることにより、プリント板に搭載された電子回路部品の
潜在不良を発見する試験(バーンイン試験)を行うもの
である。
バーンイン試験においては、試験室3a。
3b内を高温に保持するとともに、各電子回路部品に通
電され、各電子回路部品が通電状態で加熱試験される。
電され、各電子回路部品が通電状態で加熱試験される。
この各電子回路部品への通電は、加熱機4の制御とは独
立しており、バーンイン試験装置の制御盤6に設けられ
た電圧設定スイッチ類7,8゜9を操作して設定した電
圧を通電することによって行われる。
立しており、バーンイン試験装置の制御盤6に設けられ
た電圧設定スイッチ類7,8゜9を操作して設定した電
圧を通電することによって行われる。
例えば、IC(集積回路)をバーンイン試験する場合、
各ICの型格ごとにバイアス回路を組み込んだバーンイ
ンカード(プリント板)および印加電圧が異なる。その
ため試験条件の設定には、オペレータがバーンイン装置
の制御盤6に設けられている電圧選択スイッチ類7,8
.9を各型格に応じて選択している。
各ICの型格ごとにバイアス回路を組み込んだバーンイ
ンカード(プリント板)および印加電圧が異なる。その
ため試験条件の設定には、オペレータがバーンイン装置
の制御盤6に設けられている電圧選択スイッチ類7,8
.9を各型格に応じて選択している。
上記従来のバーンイン試験では、オペレータが試験すべ
き電子回路部品の各型格に対して、その型格に応じた電
圧を、電圧設定スイッチ類7゜8.9を選択して設定し
なければならない。このため、多数の電子回路部品を同
時に試験するには、複数の型格に対する電圧の設定をし
なければならず、複雑な手順書を用意して各手順を良く
チエツクしながら電圧設定スイッチ類7,8.9を操作
するようなことが行われており、準備作業時間が長くな
ること、および設定の過誤が起こり易く、印加電圧が正
しく選択されないと、異常電圧の印加により電子回路部
品が破壊されることカイ起こる等という問題点があった
。
き電子回路部品の各型格に対して、その型格に応じた電
圧を、電圧設定スイッチ類7゜8.9を選択して設定し
なければならない。このため、多数の電子回路部品を同
時に試験するには、複数の型格に対する電圧の設定をし
なければならず、複雑な手順書を用意して各手順を良く
チエツクしながら電圧設定スイッチ類7,8.9を操作
するようなことが行われており、準備作業時間が長くな
ること、および設定の過誤が起こり易く、印加電圧が正
しく選択されないと、異常電圧の印加により電子回路部
品が破壊されることカイ起こる等という問題点があった
。
本発明は、上記問題点に鑑みて成されたものであり、そ
の解決を目的として設定される技術的課題は、バーンイ
ン試験における被試験体に対する電圧設定なバーンイン
試験装置が被試験体を識別して自動的に適切な電圧設定
をすることができるようにした、バーンイン試験用印加
電圧選択方式を提供することにある。
の解決を目的として設定される技術的課題は、バーンイ
ン試験における被試験体に対する電圧設定なバーンイン
試験装置が被試験体を識別して自動的に適切な電圧設定
をすることができるようにした、バーンイン試験用印加
電圧選択方式を提供することにある。
本発明は、上記課題を解決するための具体的な手段とし
て、バーンイン試験用印加電圧選択方式を構成するにあ
たり、第1図に示すように、バーンインカード11に搭
載されて試験される電子回路部品の型格に対応した電圧
が供給できる電源12a、12b、・・・,12nを備
えた電源群12と、選択された電圧をバーンインカード
11側へ印加する印加電圧供給手段13とを有するバー
ンイン試験装置において、前記バーンインカード11に
搭載された電子回路部品の型格を識別する型格認識手段
14と、識別した型格に対応した電圧を選択させるため
の信号を出力する電圧選択信号発生手段15と、該電圧
選択信号発生手段15からの信号を受けて印加すべき電
圧を供給できる前記電源12a、12b、・・・、また
は12nを選択する電圧選択手段16とを備え、前記バ
ーンインカート11の接続に従って前記型格認識手段1
4が前記バーンインカード11毎に型格を識別し、前記
電圧選択信号発生手段15からその型格に応じた電圧選
択信号を出力させ、前記電圧選択手段16によって前記
電源群12の中から必要な電圧を供給できる前記電源1
2a。
て、バーンイン試験用印加電圧選択方式を構成するにあ
たり、第1図に示すように、バーンインカード11に搭
載されて試験される電子回路部品の型格に対応した電圧
が供給できる電源12a、12b、・・・,12nを備
えた電源群12と、選択された電圧をバーンインカード
11側へ印加する印加電圧供給手段13とを有するバー
ンイン試験装置において、前記バーンインカード11に
搭載された電子回路部品の型格を識別する型格認識手段
14と、識別した型格に対応した電圧を選択させるため
の信号を出力する電圧選択信号発生手段15と、該電圧
選択信号発生手段15からの信号を受けて印加すべき電
圧を供給できる前記電源12a、12b、・・・、また
は12nを選択する電圧選択手段16とを備え、前記バ
ーンインカート11の接続に従って前記型格認識手段1
4が前記バーンインカード11毎に型格を識別し、前記
電圧選択信号発生手段15からその型格に応じた電圧選
択信号を出力させ、前記電圧選択手段16によって前記
電源群12の中から必要な電圧を供給できる前記電源1
2a。
12b、・・・、または12nを選択させて、前記印加
電圧供給手段13から前記バーンインカード11毎に適
切な電圧を印加させるものである。
電圧供給手段13から前記バーンインカード11毎に適
切な電圧を印加させるものである。
本発明は上記構成により、バーンイン試験装置に設けら
れているコネクタ17ヘバーンインカード11を接続す
ると、型格認識手段14が各バーンインカード11毎に
そこに搭載された電子回路部品の型格を識別し、その識
別結果に従って電圧選択信号発生手段15から型格に応
じた電圧選択信号を出力させ、その信号を受けた電圧選
択手段16によって電源群12の中から必要な電圧を供
給できる電源12a、12b、・・・、または12nを
選択させて、印加電圧供給手段13からバーンインカー
ド11毎に適切な電圧を印加させるようにする。これに
より、作業者がバーンイン試験装置の操作盤より、各バ
ーンインカード11に搭載された電子回路部品の型格に
対して、供給電圧を設定する必要が無くなり、試験すべ
き電子回路部品の型格が複数前る場合であっても、準備
作業時間が短縮され、誤操作による異常電圧の印加等も
避けられるようになる。
れているコネクタ17ヘバーンインカード11を接続す
ると、型格認識手段14が各バーンインカード11毎に
そこに搭載された電子回路部品の型格を識別し、その識
別結果に従って電圧選択信号発生手段15から型格に応
じた電圧選択信号を出力させ、その信号を受けた電圧選
択手段16によって電源群12の中から必要な電圧を供
給できる電源12a、12b、・・・、または12nを
選択させて、印加電圧供給手段13からバーンインカー
ド11毎に適切な電圧を印加させるようにする。これに
より、作業者がバーンイン試験装置の操作盤より、各バ
ーンインカード11に搭載された電子回路部品の型格に
対して、供給電圧を設定する必要が無くなり、試験すべ
き電子回路部品の型格が複数前る場合であっても、準備
作業時間が短縮され、誤操作による異常電圧の印加等も
避けられるようになる。
以下、本発明の実施例としてバーンインカードに型格識
別用の端子を設ける場合について図示説明する。
別用の端子を設ける場合について図示説明する。
実施例のバーンイン試験装置20における印加電圧選択
方式20を第2図に示す。
方式20を第2図に示す。
ここで、21はバーンインカード(プリント板)であり
、各バーンインカード21毎に型格が同じIC,LSI
等の試験すべき電子回路部品を搭載する。このバーンイ
ンカード21の端子には、第3図(a)に示すように、
デバイス電源接続用端子21aと、型格認識用端子21
bを備え、搭載する電子回路部品の型格に対して、その
型格な識別させる特定の型格認識用端子21bについて
、接地部21cと接続させる。
、各バーンインカード21毎に型格が同じIC,LSI
等の試験すべき電子回路部品を搭載する。このバーンイ
ンカード21の端子には、第3図(a)に示すように、
デバイス電源接続用端子21aと、型格認識用端子21
bを備え、搭載する電子回路部品の型格に対して、その
型格な識別させる特定の型格認識用端子21bについて
、接地部21cと接続させる。
20aは試験室(図示せず)内に設けられるコネクタで
あり、バーンインカード21の端子を挿入させた場合に
、試験室内にバーンインカード21を固定させる。この
コネクタ20aには、第3図(b)に示すように、バー
ンインカード21に対応させて、デバイス電源接続用端
子20a−aと、型格認識用端子20a−bを備える。
あり、バーンインカード21の端子を挿入させた場合に
、試験室内にバーンインカード21を固定させる。この
コネクタ20aには、第3図(b)に示すように、バー
ンインカード21に対応させて、デバイス電源接続用端
子20a−aと、型格認識用端子20a−bを備える。
22は電源群であり、電圧V□をバーンインカード21
側に印加できる電源22aと、電圧v2をバーンインカ
ード21側に印加できる電源22bと、・・・、電圧■
。をバーンインカード21側に印加できる電源22nと
の、n個の電源22a、22b、 ・・・、22nを備
える。
側に印加できる電源22aと、電圧v2をバーンインカ
ード21側に印加できる電源22bと、・・・、電圧■
。をバーンインカード21側に印加できる電源22nと
の、n個の電源22a、22b、 ・・・、22nを備
える。
23は印加電圧供給手段として機能させる電圧印加用の
電磁スイッチであって、電源22a。
電磁スイッチであって、電源22a。
22b、・・・、または22nとコネクタ20aとの間
を接続または断絶するスイッチとして動作させ、必要と
する電力をバーンインカード21側に供給できるように
する。
を接続または断絶するスイッチとして動作させ、必要と
する電力をバーンインカード21側に供給できるように
する。
24は型格認識回路であり、バーンインカード21側に
コネクタ20aの型格認識用端子20a−bを介して型
格検出用電圧を供給し、バーンインカード21の接地部
21cに接続している型格認識用端子21bを探り出し
、その接地されている端子の位置を出力する。
コネクタ20aの型格認識用端子20a−bを介して型
格検出用電圧を供給し、バーンインカード21の接地部
21cに接続している型格認識用端子21bを探り出し
、その接地されている端子の位置を出力する。
25は電圧選択信号発生回路であり、型格認識回路24
から入力した信号に基づき、接地されている端子の位置
によって規定された型格に対応する電圧選択信号を出力
する。
から入力した信号に基づき、接地されている端子の位置
によって規定された型格に対応する電圧選択信号を出力
する。
26は電圧選択回路であり、電圧選択信号発生回路25
から入力した電圧選択信号に基づいて、型格に対応して
印加すべき電圧を供給する電源22a、22b、 ・・
・ 22nを選択し、電磁スイッチ23がオンになった
場合にバーンインカード21側に必要な電圧を印加てき
るようにする。
から入力した電圧選択信号に基づいて、型格に対応して
印加すべき電圧を供給する電源22a、22b、 ・・
・ 22nを選択し、電磁スイッチ23がオンになった
場合にバーンインカード21側に必要な電圧を印加てき
るようにする。
このように構成した実施例を用いてバーンイン試験をす
る時、バーンインカード21がコネクタ20に接続され
ると、型格認識回路24がノ\−ンインカード21側に
、例えば5V(ボルト)の型格検出用電圧を供給し、バ
ーンインカート21の型格認識用端子21bにおける電
圧が何V(ボルト)になっているか調べる。第3図の例
によればバーンインカード21の型格認識用端子21b
(こおける第3番目の端子が接地部21cに接続してい
るから、この端子については型格検出用電圧力くOvに
なり、他の端子との違いが明確になる。この電圧の違い
を型格認識回路24が識別して、型格に対応させた識別
信号を出力する。
る時、バーンインカード21がコネクタ20に接続され
ると、型格認識回路24がノ\−ンインカード21側に
、例えば5V(ボルト)の型格検出用電圧を供給し、バ
ーンインカート21の型格認識用端子21bにおける電
圧が何V(ボルト)になっているか調べる。第3図の例
によればバーンインカード21の型格認識用端子21b
(こおける第3番目の端子が接地部21cに接続してい
るから、この端子については型格検出用電圧力くOvに
なり、他の端子との違いが明確になる。この電圧の違い
を型格認識回路24が識別して、型格に対応させた識別
信号を出力する。
型格認識回路24から識別信号を入力した電圧選択信号
発生回路25ては、識別された型格に対して印加すべき
電圧を選んで、電圧選択信号を出力する。
発生回路25ては、識別された型格に対して印加すべき
電圧を選んで、電圧選択信号を出力する。
電圧選択信号が電圧選択信号発生回路25から電圧選択
回路26に入力されると、電圧選択回路26では選択さ
れた電圧を供給する電源22a。
回路26に入力されると、電圧選択回路26では選択さ
れた電圧を供給する電源22a。
22b、・・・、または22nを電源群22の中から選
択し、電磁スイッチ23がオンになった場合にバーンイ
ンカード21側に必要な電圧を印加できるように、電磁
スイッチ23と選択された電源22a、22b、・・・
、または22nとの間の配線を接続する。
択し、電磁スイッチ23がオンになった場合にバーンイ
ンカード21側に必要な電圧を印加できるように、電磁
スイッチ23と選択された電源22a、22b、・・・
、または22nとの間の配線を接続する。
その後は、電圧印加用の電磁スイ・ンチ23が、操作パ
ネル(図示せず)側からパワーオンの指示がくるまでは
、バーイン試験の準備作業の進展に合せて待機状態にな
って作動せず、装置全体の制御手順のワンステップとし
て組み込まれている回路電源オンの指示が出され、電磁
スイッチ23の電磁コイルが励磁された時に作動して、
バーンインカード21側に通電し、バーンインカード2
1に搭載されている各電子回路部品に必要な電圧を印加
する。
ネル(図示せず)側からパワーオンの指示がくるまでは
、バーイン試験の準備作業の進展に合せて待機状態にな
って作動せず、装置全体の制御手順のワンステップとし
て組み込まれている回路電源オンの指示が出され、電磁
スイッチ23の電磁コイルが励磁された時に作動して、
バーンインカード21側に通電し、バーンインカード2
1に搭載されている各電子回路部品に必要な電圧を印加
する。
そしてその後に、環境温度を所定の試験温度にして規定
時間保持し、各電子回路部品の潜在不良の有無をチエツ
クする。
時間保持し、各電子回路部品の潜在不良の有無をチエツ
クする。
このように実施例では、バーンインカード21に搭載さ
れた電子回路部品の型格を、試験装置側が自動的に識別
して適正な電圧な印加できるようにしたことによって、
作業が簡素化され、オペレーションミスが防止でき、高
価で稀少な電子回路部品を不必要に破壊することが避け
られて、経費が削減できる。
れた電子回路部品の型格を、試験装置側が自動的に識別
して適正な電圧な印加できるようにしたことによって、
作業が簡素化され、オペレーションミスが防止でき、高
価で稀少な電子回路部品を不必要に破壊することが避け
られて、経費が削減できる。
以上のように本発明では、バーンイン試験装置にバーン
インカード11を接続することによって型格認識手段1
4がバーンインカード11毎に型格を識別し、電圧選択
信号発生手段15からその型格に応じた電圧選択信号を
出力させ、電圧選択手段16によって電源群12の中か
ら必要な電圧を供給できる電源12a、12b、・・・
、または12nを選択させて、印加電圧供給手段13か
らバーンインカード11毎に適切な電圧を印加させるこ
とができるようにしたことによって、作業者がバーンイ
ン試験装置の操作盤より、バーンインカード11に搭載
された電子回路部品の型格に対して、供給電圧を設定す
る作業が無くなり、準備作業時間が短縮でき、試験すべ
き電子回路部品の型格が複数有る場合でも、誤操作によ
る異常電圧の印加等が防止でき、高価で稀少な集積回路
等の電子回路部品の破損を回避することができて、バー
ンイン試験のコスト低減に寄与できる。
インカード11を接続することによって型格認識手段1
4がバーンインカード11毎に型格を識別し、電圧選択
信号発生手段15からその型格に応じた電圧選択信号を
出力させ、電圧選択手段16によって電源群12の中か
ら必要な電圧を供給できる電源12a、12b、・・・
、または12nを選択させて、印加電圧供給手段13か
らバーンインカード11毎に適切な電圧を印加させるこ
とができるようにしたことによって、作業者がバーンイ
ン試験装置の操作盤より、バーンインカード11に搭載
された電子回路部品の型格に対して、供給電圧を設定す
る作業が無くなり、準備作業時間が短縮でき、試験すべ
き電子回路部品の型格が複数有る場合でも、誤操作によ
る異常電圧の印加等が防止でき、高価で稀少な集積回路
等の電子回路部品の破損を回避することができて、バー
ンイン試験のコスト低減に寄与できる。
第1図は、本発明による原理構成説明図、第2図は、実
施例によるバーンイン試験用印加電圧選択方式を示す構
成説明図、 第3図は、実施例の接続端子近傍を示す構成説明図で、 (a)は、バーンインカード(プリント板)、(b)は
、コネクタを示す、 第4図は、従来例のバーンイン試験装置を示す斜視図、 第5図は、従来例の恒温槽内部を示す部分拡大斜視図、 第6図は、従来例の恒温槽を示す構成図。 1・・・バーンインカード 2・・・電源群 2a、12b、・・・,12n・・°電源3・・・印加
電圧供給手段 4・・・型格認識手段 5・・・電圧選択信号発生手段 6・・・電圧選択手段
施例によるバーンイン試験用印加電圧選択方式を示す構
成説明図、 第3図は、実施例の接続端子近傍を示す構成説明図で、 (a)は、バーンインカード(プリント板)、(b)は
、コネクタを示す、 第4図は、従来例のバーンイン試験装置を示す斜視図、 第5図は、従来例の恒温槽内部を示す部分拡大斜視図、 第6図は、従来例の恒温槽を示す構成図。 1・・・バーンインカード 2・・・電源群 2a、12b、・・・,12n・・°電源3・・・印加
電圧供給手段 4・・・型格認識手段 5・・・電圧選択信号発生手段 6・・・電圧選択手段
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 バーンインカード(11)に搭載されて試験される電子
回路部品の型格に対応した電圧が供給できる電源(12
a、12b、・・・、12n)を備えた電源群(12)
と、選択された電圧をバーンインカード(11)側へ印
加する印加電圧供給手段(13)とを有するバーンイン
試験装置において、 前記バーンインカード(11)に搭載された電子回路部
品の型格を識別する型格認識手段(14)と、 識別した型格に対応した電圧を選択させるための信号を
出力する電圧選択信号発生手段(15)と、 該電圧選択信号発生手段(15)からの信号を受けて印
加すべき電圧を供給できる前記電源(12a、12b、
・・・、または12n)を選択する電圧選択手段(16
)とを備え、 前記バーンインカード(11)の接続に従って前記型格
認識手段(14)が前記バーンインカード(11)毎に
型格を識別し、前記電圧選択信号発生手段(15)から
その型格に応じた電圧選択信号を出力させ、前記電圧選
択手段(16)によって前記電源群(12)の中から必
要な電圧を供給できる前記電源(12a、12b、・・
・、または12n)を選択させて、前記印加電圧供給手
段(13)から前記バーンインカード(11)毎に適切
な電圧を印加させることを特徴とするバーンイン試験用
印加電圧選択方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2036295A JPH03239976A (ja) | 1990-02-19 | 1990-02-19 | バーンイン試験用印加電圧選択方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2036295A JPH03239976A (ja) | 1990-02-19 | 1990-02-19 | バーンイン試験用印加電圧選択方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03239976A true JPH03239976A (ja) | 1991-10-25 |
Family
ID=12465821
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2036295A Pending JPH03239976A (ja) | 1990-02-19 | 1990-02-19 | バーンイン試験用印加電圧選択方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03239976A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07159494A (ja) * | 1993-12-10 | 1995-06-23 | Nec Corp | モニタバーイン装置 |
JP2014102200A (ja) * | 2012-11-21 | 2014-06-05 | Fujitsu Ltd | 試験装置 |
-
1990
- 1990-02-19 JP JP2036295A patent/JPH03239976A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07159494A (ja) * | 1993-12-10 | 1995-06-23 | Nec Corp | モニタバーイン装置 |
JP2014102200A (ja) * | 2012-11-21 | 2014-06-05 | Fujitsu Ltd | 試験装置 |
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