JPH03230614A - Input circuit - Google Patents

Input circuit

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JPH03230614A
JPH03230614A JP2026818A JP2681890A JPH03230614A JP H03230614 A JPH03230614 A JP H03230614A JP 2026818 A JP2026818 A JP 2026818A JP 2681890 A JP2681890 A JP 2681890A JP H03230614 A JPH03230614 A JP H03230614A
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Masao Takiguchi
雅雄 瀧口
Satoshi Matsumoto
智 松本
Kazuharu Nishitani
西谷 一治
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Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

PURPOSE:To keep a signal level in the just preceding state even when no external signal is inputted to an input terminal and the input terminal reaches a high impedance state by holding the potential level of the input terminal with the self-holding function of 1st and 2nd logic inversion circuits. CONSTITUTION:The transition voltage VR2 of the 1st logic inversion circuit 2 is designed to be lower than the transition voltage VIT of an input buffer circuit 13 and higher than the low level input voltage criterion VIL of an input circuit 1. Then the transition voltage VR4 of the 2nd logic inversion circuit 4 is designed higher than the transition voltage VIT of the input buffer circuit 13 and lower than the high level input voltage VIN of the circuit 1. Thus, even when no signal is fed to the input terminal 11 and the input terminal 11 goes to a high impedance state, the potential level delivered from the output terminal 12 of the input buffer circuit 13 to the internal circuit is kept to the just preceding state.

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 この発明は、入力端子と出力端子との間に介挿された入
力バッファ回路を備え、この入力バッファ回路の入力側
にはプルアップトランジスタが接続された入力回路に関
するものである。
[Detailed Description of the Invention] <Industrial Application Field> The present invention includes an input buffer circuit inserted between an input terminal and an output terminal, and a pull-up transistor is provided on the input side of the input buffer circuit. It concerns connected input circuits.

〈従来の技術〉 第3図は従来のプルアップトランジスタ内蔵の入力回路
の一例を示す回路図である。
<Prior Art> FIG. 3 is a circuit diagram showing an example of a conventional input circuit incorporating a pull-up transistor.

第3図における符号(10)は外部信号ラインと集積回
路における内部回路(いずれも図示していない)との間
に構成された入力回路であり、この入力回路(10)は
、外部信号ラインに接続される入力端子(11)と、内
部回路に接続される出力端子(12)と、入力端子(1
1)と出力端子(12)との間に介挿された入力バッフ
ァ回路(13)と、この入力バッファ回路(13)に対
するプルアップトランジスタ(14)とから構成されて
いる。
Reference numeral (10) in FIG. 3 is an input circuit configured between an external signal line and an internal circuit (none of which is shown) in the integrated circuit. The input terminal (11) to be connected, the output terminal (12) to be connected to the internal circuit, and the input terminal (1
1) and an output terminal (12), and a pull-up transistor (14) for this input buffer circuit (13).

入カバ、ファ回路(13)は、Pチャネル型電界効果ト
ランジスタ(15)(以下、PMOSFET(15)と
いう)と、Nチャネル型電界効果トランジスタ(16)
(以下、NMOS−FET(16)という)とを備えて
いる。そして、2MO3−FET (15)(7)ゲー
ト端子(G)とNMOS−FET (16)(7)ゲー
ト端子(G)とは互いに接続されたうえ、入力端子(1
1)に接続されている。また、PMO5−FET (1
5)のドレイン端子(D)とNMO5−FET (16
)のドレイン端子(D)とは互いに接続されたうえ、出
力端子(12)に接続されている。一方、2MO3−F
ET(15)のソース端子(S)は高電位側電源(■D
ゎ)に、また、NMOS−FET(16)のソース端子
(S)は低電位側室tA(VGND )にそれぞれ接続
されている。
The input cover and F circuit (13) includes a P-channel field effect transistor (15) (hereinafter referred to as PMOSFET (15)) and an N-channel field effect transistor (16).
(hereinafter referred to as NMOS-FET (16)). The 2MO3-FET (15) (7) gate terminal (G) and the NMOS-FET (16) (7) gate terminal (G) are connected to each other, and the input terminal (1
1). In addition, PMO5-FET (1
5) drain terminal (D) and NMO5-FET (16
) are connected to each other and to the output terminal (12). On the other hand, 2MO3-F
The source terminal (S) of ET (15) is connected to the high potential side power supply (■D
In addition, the source terminal (S) of the NMOS-FET (16) is connected to the low potential side chamber tA (VGND).

さらに、プルアップトランジスタ(14)はPMOS 
−F ETによって構成されており、そのソース端子(
S)は高電位側電源(Vo)に接続される一方、ゲート
端子(G)は低電位側電源(VCHD )に接続されて
いる。そして、そのドレイン端子(D)は、入力端子(
11)と、入力パンファ回路(13)を構成するpyo
s−FET(15)およびNMOS−FET (16)
の各ゲート端子(G)とに接続されている。なお、以下
の説明では、このプルアップトランジスタ(14)をプ
ルアップ用PMOS−FET (14)と記載する。
Furthermore, the pull-up transistor (14) is a PMOS
-FET, whose source terminal (
S) is connected to a high potential power source (Vo), while the gate terminal (G) is connected to a low potential power source (VCHD). The drain terminal (D) is the input terminal (
11) and a pyo that constitutes the input amplifier circuit (13)
s-FET (15) and NMOS-FET (16)
are connected to each gate terminal (G) of. In the following description, this pull-up transistor (14) will be referred to as a pull-up PMOS-FET (14).

次ニ、この入力回路(10)の動作について説明する。Next, the operation of this input circuit (10) will be explained.

入力端子(11)に印加された信号レベル(V18)が
入力バッファ回路(13)の遷移電圧(V7)よりも高
いとき(VIN> VIT) 、入力バッファ回路(1
3)の2MO3−FET (15)が遮断状態となり、
NMOS−FET (16)が導通状態となる結果、出
力端子(12)は低電位側電源(VCHD)と接続され
て内部回路に低電位レベルを伝達する。また、逆に、入
力端子(11)に印加された信号レベル(VIM)が入
力バッファ回路(13)の遷移電圧(VIT)よりも低
いとき(V+s<Vat)には、2MO3−FET (
15)が導通状態となり、NMOS−FET (16)
が遮断状態となる結果、出力端子(12)は高電位側電
源(vDD)と接続されて内部回路に高電位レベルを伝
達する。
When the signal level (V18) applied to the input terminal (11) is higher than the transition voltage (V7) of the input buffer circuit (13) (VIN>VIT), the input buffer circuit (1
3) 2MO3-FET (15) becomes cut off,
As a result of the NMOS-FET (16) becoming conductive, the output terminal (12) is connected to the low potential side power supply (VCHD) and transmits a low potential level to the internal circuit. Conversely, when the signal level (VIM) applied to the input terminal (11) is lower than the transition voltage (VIT) of the input buffer circuit (13) (V+s<Vat), the 2MO3-FET (
15) becomes conductive, and NMOS-FET (16)
As a result, the output terminal (12) is connected to the high potential side power supply (vDD) and transmits the high potential level to the internal circuit.

すなわち、以上説明したように、この入力バッファ回路
(13)はインバータとして機能するが、この場合にお
けるプルアップ用PMOS−FET(14)は、そのゲ
ート端子(G)が低電位レベルに固定されているため、
常に導通状態となっている。したがって、入力端子(1
1)の電位は、これに対して外部信号ラインを介して信
号を供給する信号源の出力抵抗と、プルアップ用PMO
SFET (14)の導通状態での抵抗(オン抵抗)と
の抵抗分割によって定まることになる。
That is, as explained above, this input buffer circuit (13) functions as an inverter, but in this case, the pull-up PMOS-FET (14) has its gate terminal (G) fixed at a low potential level. Because there are
It is always in a conductive state. Therefore, the input terminal (1
The potential of 1) is determined by the output resistance of the signal source that supplies the signal via the external signal line and the pull-up PMO.
It is determined by resistance division with the resistance in the conductive state (on resistance) of SFET (14).

そこで、入力バッファ回路(13)をインバータとして
正常に機能させるべく入力回路(10)におけるハイレ
ベル入力電圧規格(VIM)とローレベル入力電圧規格
(VIL)とを考えた際には、外部から印加された信号
レベル(VIM)がハイレベル入力電圧規格(V□)以
上の高電位レベルであるときに入力端子(11)の電位
が遷移電圧(V+7)よりも高くなり、かつ、信号レベ
ル(VIN)がローレベル入力電圧規格(Vat)以下
の低電位レベルであるときに入力端子(11)の電位が
遷移電圧(Vat)よりも低くなるようにプルアップ用
PMOS−FET (14)のトランジスタサイズを設
計している。
Therefore, when considering the high level input voltage standard (VIM) and low level input voltage standard (VIL) in the input circuit (10) in order to make the input buffer circuit (13) function normally as an inverter, it is necessary to When the input signal level (VIM) is higher than the high-level input voltage standard (V□), the potential of the input terminal (11) becomes higher than the transition voltage (V+7), and the signal level (VIN ) is at a low potential level below the low-level input voltage standard (Vat), the transistor size of the pull-up PMOS-FET (14) is adjusted so that the potential of the input terminal (11) is lower than the transition voltage (Vat). is being designed.

さらに、インバータとしての入力バッファ回路(+3)
を構成しているPMOS−FET (15)およびNM
O5−FET (16)のトランジスタサイズは、前述
したように設計されたプルアップ用PMOS−FET 
(14)を接続した状態で、入力回路(10)のハイレ
ベル入力電圧規格(■、)およびローレベル入力電圧規
格(V +t)を満足するように設計されている。すな
わち、遷移電圧(■、T)、ハイレベル入力電圧規格(
VIM)およびローレベル入力端子規格(vIL)の関
係は、■1□〉VIT>VIL となっている。
Furthermore, the input buffer circuit (+3) as an inverter
PMOS-FET (15) and NM
The transistor size of O5-FET (16) is the pull-up PMOS-FET designed as described above.
(14) is designed to satisfy the high level input voltage standard (■, ) and low level input voltage standard (V +t) of the input circuit (10). That is, transition voltage (■, T), high level input voltage standard (
The relationship between VIM) and the low level input terminal standard (vIL) is: ■1□>VIT>VIL.

ところで、外部から入力端子(11)に信号が供給され
ずに入力端子(11)がハイインピーダンス状態になっ
たときには、プルアップ用PMOS−FET (+4)
が常に導通状態となっているため、入力バッファ回路(
13)におけるPMO5−FET (15)およびNM
OS−FET (16)のゲート端子(G)に対してプ
ルアップ用PMOS−FET (14)を介して高電位
レベルが供給されることになる結果、PMOS−FET
(15)が遮断状態となり、NMOS −F ET(1
6)が導通状態となって出力端子(12)は内部回路に
低電位レベルを伝達する。
By the way, when no signal is supplied to the input terminal (11) from the outside and the input terminal (11) becomes a high impedance state, the pull-up PMOS-FET (+4)
is always conductive, so the input buffer circuit (
13) PMO5-FET (15) and NM
As a result, a high potential level is supplied to the gate terminal (G) of the OS-FET (16) via the pull-up PMOS-FET (14).
(15) enters the cut-off state, and NMOS-FET (1
6) becomes conductive, and the output terminal (12) transmits a low potential level to the internal circuit.

もし、このプルアップ用PMOS−FET (14)が
ないとすると、入力端子(11)がハイインピーダンス
状態になったときに、入力バッファ回路(13)におけ
るPMOS−FET (15)およびNMOS−FET
 (16)がともに導通状態となり、これら両FET 
(15)、  (16)に多大な貫通電流が流れて両F
ET (15) 、  (16)が破壊されてしまう。
If this pull-up PMOS-FET (14) is not present, when the input terminal (11) becomes a high impedance state, the PMOS-FET (15) and NMOS-FET in the input buffer circuit (13)
(16) both become conductive, and both these FETs
A large through current flows through (15) and (16), causing both F
ET (15) and (16) are destroyed.

つまり、プルアップ用PMOS−’FET (14)は
、ハイインピーダンス状態のときに、入力端子(11)
の電位を強制的に高電位レベルとすることにより、NM
OS −FET(16)を導通状態とする一方、PMO
SFET (15)を遮断状態とすることによって貫通
電流を防止しているのである。
In other words, when the pull-up PMOS-'FET (14) is in a high impedance state, the input terminal (11)
By forcing the potential of NM to a high potential level, NM
While the OS-FET (16) is made conductive, the PMO
By cutting off SFET (15), through current is prevented.

〈発明が解決しようとする課題〉 従来のプルアップ用PMOS−FET (14)を内蔵
した入力回路(10)は、入力端子(11)に外部から
信号が印加されずに入力端子(11)がハイインピーダ
ンス状態となったとき、入力端子(11)の電位をプル
アップ用PMO5−FET(14)によって強制的に高
電位レベルとするように構成されているため、ハイイン
ピーダンス状態になったときには、その直前まで入力端
子(11)に印加されていた信号レベル(VIN)が高
電位レベルであっても低電位レベルであっても、内部回
路に伝達するレベルを低電位レベルに固定化してしまう
。したがって、このような入力回路(lO)を、例えば
、フリップフロップ回路のクロック入力やリセット入力
のように、ハイインピーダンス状態になったときでも状
態が変化してはならない内部回路に対して適用すること
はできないという不都合があった。
<Problems to be Solved by the Invention> The input circuit (10) incorporating the conventional pull-up PMOS-FET (14) has a problem in that the input terminal (11) is not applied with an external signal to the input terminal (11). When the high impedance state is entered, the potential of the input terminal (11) is forced to a high potential level by the pull-up PMO5-FET (14), so when the high impedance state is entered, Regardless of whether the signal level (VIN) applied to the input terminal (11) just before that is a high potential level or a low potential level, the level transmitted to the internal circuit is fixed at the low potential level. Therefore, such an input circuit (lO) cannot be applied to an internal circuit whose state must not change even when it is in a high impedance state, such as a clock input or reset input of a flip-flop circuit. The problem was that it was not possible.

この発明は、上記不都合を解消すべく創案されたもので
あって、入力端子に外部信号が入力されず、この入力端
子がハイインピーダンス状態となったとき、その直前に
おける信号レベルを保持しておくことができる入力回路
を提供することを目的としている。
This invention was devised to solve the above-mentioned inconvenience, and when an external signal is not input to the input terminal and the input terminal enters a high impedance state, the signal level immediately before this is maintained. The purpose is to provide an input circuit that can

く課題を解決するための手段〉 この発明に係る入力回路は、入力端子と出力端子との間
に介挿された入力バッファ回路と、この入力バッファ回
路の入力側と高電位側電源との間に接続されたプルアッ
プ用PMOS−FETと、前記入力バッファ回路の入力
側と低電位側電源との間に接続されたプルダウン用NM
OS −F ETと、前記入力端子と前記プルアップ用
PMOS−FETのゲート端子との間に接続された第1
の論理反転回路と、前記入力端子と前記プルダウン用N
MOS−FETのゲート端子との間に接続された第2の
論理反転回路とを備え、前記第1の論理反転回路の遷移
電圧が前記入力バッファ回路の遷移電圧よりも低く設定
され、かつ、前記第2の論理反転回路の遷移電圧が前記
入力バッファ回路の遷移電圧よりも高く設定されている
ことを特徴とするものである。
Means for Solving the Problems> An input circuit according to the present invention includes an input buffer circuit inserted between an input terminal and an output terminal, and a circuit between the input side of the input buffer circuit and a high potential side power supply. and a pull-down NM connected between the input side of the input buffer circuit and the low potential side power supply.
a first transistor connected between the OS-FET and the input terminal and the gate terminal of the pull-up PMOS-FET;
a logic inversion circuit, the input terminal and the pull-down N
a second logic inversion circuit connected between the gate terminal of the MOS-FET, and a transition voltage of the first logic inversion circuit is set lower than a transition voltage of the input buffer circuit; The present invention is characterized in that a transition voltage of the second logic inversion circuit is set higher than a transition voltage of the input buffer circuit.

〈作用〉 この発明に係る入力回路の上記構成による作用は、次の
とおりである。
<Function> The function of the above configuration of the input circuit according to the present invention is as follows.

入力バッファ回路を一方の状態へ遷移させるように設計
されたハイレベル入力電圧規格よりも入力端子に印加さ
れている信号レベルの方が高いとき、この印加された信
号レベルは当然に第1および第2の論理反転回路の各遷
移電圧よりも高くなる。そこで、第1および第2の論理
反転回路からプルアップ用PMO5−FETおよびプル
ダウン用NMOS−FETの各ゲート端子に対して供給
される電位は低電位レベルとなり、プルアップ用PMO
S−FETが導通状態となるのに対し、プルダウン用N
MO5−FETは遮断状態となる。
When the signal level applied to the input terminal is higher than the high-level input voltage standard designed to transition the input buffer circuit to one state, this applied signal level naturally It becomes higher than each transition voltage of the logic inversion circuit No. 2. Therefore, the potentials supplied from the first and second logic inverting circuits to the gate terminals of the pull-up PMO5-FET and the pull-down NMOS-FET become low potential levels, and the pull-up PMO
While the S-FET becomes conductive, the pull-down N
MO5-FET is in a cut-off state.

そして、この状態から信号が供給されなくなって入力端
子がハイインピーダンス状態となった場合には、その直
前における入力端子に印加された信号レベルがハイレベ
ル入力電圧規格よりも高い状態であったため、第1およ
び第2の論理反転回路は、その出力を直前における低電
位レベルのままで保つことになり、プルアップ用PMO
5−FETの導通状態およびプルダウン用NMOS −
F ETの遮断状態はそのまま維持されることになる。
If the signal is no longer supplied from this state and the input terminal becomes a high-impedance state, the signal level applied to the input terminal immediately before that was higher than the high-level input voltage standard, so The first and second logic inversion circuits keep their outputs at the previous low potential level, and the pull-up PMO
5-FET conduction state and pull-down NMOS -
The cut-off state of the FET will be maintained as it is.

また、逆に、入力端子に印加された信号レベルの方が入
力バッファ回路を他方の状態へ遷移させるように設計さ
れたローレベル入力電圧規格よりも低いとき、この印加
された信号レベルは当然に第1および第2の論理反転回
路の各遷移電圧よりも低いので、第1および第2の論理
反転回路からプルアップ用PMOS−FETおよびプル
ダウン用NMO5−FETの各ゲート端子に供給される
電位は高電位レベルとなり、プルアップ用PMOS−F
ETが遮断状態となるのに対し、プルダウン用NMO5
−FETは導通状態となる。そして、この状態から信号
が供給されなくなり、入力端子がハイインピーダンス状
態となった場合でも、その直前における入力端子に対し
て印加された信号レベルがローレベル入力電圧規格より
も低い状態であったため、第1および第2の論理反転回
路は、その出力を直前の高電位レベルで保つことになり
、プルアップ用PMO5−FETの遮断状態およびプル
ダウン用NMO5−FETの導通状態はそのまま維持さ
れることになる。
Conversely, when the signal level applied to the input terminal is lower than the low-level input voltage standard designed to transition the input buffer circuit to the other state, this applied signal level will naturally Since it is lower than each transition voltage of the first and second logic inversion circuits, the potential supplied from the first and second logic inversion circuits to each gate terminal of the pull-up PMOS-FET and the pull-down NMO5-FET is It becomes a high potential level, and PMOS-F for pull-up
While ET is in the cutoff state, NMO5 for pulldown
-FET becomes conductive. Even if the signal is no longer supplied from this state and the input terminal becomes a high-impedance state, the signal level applied to the input terminal immediately before that was lower than the low-level input voltage standard. The first and second logic inversion circuits maintain their outputs at the previous high potential level, and the cut-off state of the pull-up PMO5-FET and the conductive state of the pull-down NMO5-FET are maintained as they are. Become.

〈実施例〉 以下、この発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明す
る。
<Example> Hereinafter, an example of the present invention will be described in detail based on the drawings.

第1図は、本発明の一実施例に係る入力回路の回路図を
示している。
FIG. 1 shows a circuit diagram of an input circuit according to an embodiment of the present invention.

第1図における符号(1)は外部信号ラインと集積回路
における内部回路(いずれも図示していない)との間に
構成された入力回路、(11)は入力回路(1)が外部
信号ラインに接続される入力端子、(12)は入力回路
(1)が内部回路に接続される出力端子、(13)は入
力端子(11)と出力端子(12)との間に介挿された
入力バッファ回路である。そして、この入力バッファ回
路(13)は、PMOS−FET (15)とNMOS
−FET (16)とによってインバータ機能をもつも
のとして構成されている。なお、この入力バッファ回路
(13)の回路構成は第3図で説明した従来例と同様で
あるので、ここでは同一符号を付すにとどめ、その説明
は省略する。
In Fig. 1, the symbol (1) is an input circuit configured between an external signal line and an internal circuit (none of which is shown) in the integrated circuit, and (11) is an input circuit configured between the input circuit (1) and the external signal line. The input terminal to be connected, (12) is the output terminal to which the input circuit (1) is connected to the internal circuit, and (13) is the input buffer inserted between the input terminal (11) and the output terminal (12). It is a circuit. This input buffer circuit (13) consists of a PMOS-FET (15) and an NMOS
-FET (16), and is configured to have an inverter function. The circuit configuration of this input buffer circuit (13) is the same as that of the conventional example explained in FIG. 3, so the same reference numerals are given here and the explanation thereof will be omitted.

また、図中の符号(14)はプルアップ用PMOS−F
ETであり、そのソース端子(S)は高電位測量a(V
n++)に接続されるとともに、そのドレイン端子(D
)は入力端子(11)および入カバッファ回路(13)
を構成するPMO5−FET (15)とNMOS−F
ET (16)との各ゲート端子(G)にそれぞれ接続
されている。なお、このプルアップ用PMOS−FET
 (14)のゲート端子(G)は、従来例では低電位側
電源(Vcso )に接続されていたにも拘わらず、本
実施例においては、第1の論理反転回路(2)の出力端
子に接続されている。そして、この第1の論理反転回路
(2)の入力端子は、入力回路(1)の入力端子(11
)に接続されている。
In addition, the code (14) in the figure is a PMOS-F for pull-up.
ET, whose source terminal (S) is high potential measurement a(V
n++) and its drain terminal (D
) is the input terminal (11) and input buffer circuit (13)
PMO5-FET (15) and NMOS-F
ET (16) and each gate terminal (G). In addition, this pull-up PMOS-FET
Although the gate terminal (G) of (14) is connected to the low potential side power supply (Vcso) in the conventional example, in this example, it is connected to the output terminal of the first logic inverting circuit (2). It is connected. The input terminal of this first logic inversion circuit (2) is connected to the input terminal (11) of the input circuit (1).
)It is connected to the.

さらに、本実施例においては、プルダウン用NMOS−
FET (3)および第2の論理反転回路(4)が用い
られている。そして、このプルダウン用NMOS−FE
T (3)は、そのソース端子(S)が低電位側辺a 
(VcNo )に、また、そのドレイン端子(D)が入
力端子(11)および入カバッファ回路(13)におけ
る2MO3−FET(15)とNMOS−FET (1
6) の各ゲート端子(G)にそれぞれ接続されており
、そのゲート端子(G)は第2の論理反転回路(4)の
出力端子に接続されている。一方、この第2の論理反転
回路(4)の入力端子は、入力端子(11)に接続され
ている。
Furthermore, in this embodiment, the pull-down NMOS-
A FET (3) and a second logic inversion circuit (4) are used. And this NMOS-FE for pull-down
T (3) has its source terminal (S) on the low potential side a
(VcNo), and its drain terminal (D) is connected to the input terminal (11) and the 2MO3-FET (15) and NMOS-FET (1) in the input buffer circuit (13).
6), and the gate terminal (G) is connected to the output terminal of the second logic inversion circuit (4). On the other hand, the input terminal of this second logic inversion circuit (4) is connected to the input terminal (11).

第2図は、各遷移電圧の関係を示している。まず、本実
施例における第1の論理反転回路(2)の遷移電圧(V
R□)は、入力バッファ回路(13)の遷移電圧(VI
?)よりも低く、かつ、入力回路(1)のローレベル入
力電圧規格(Vat)よりも高く設計されている。そし
て、第2の論理反転回路(4)の遷移電圧(VR−)は
、人力ハフファ回路(13)の遷移電圧(VI?)より
も高く、しかも、入力回路(1)のハイレベル入力電圧
規格(VIN)よりも低く設計されている。すなわち、
Vlll>VI14>VI丁>VRz>VILとなって
いる。
FIG. 2 shows the relationship between each transition voltage. First, the transition voltage (V
R□) is the transition voltage (VI
? ) and higher than the low-level input voltage standard (Vat) of the input circuit (1). The transition voltage (VR-) of the second logic inverting circuit (4) is higher than the transition voltage (VI?) of the human-powered Huffa circuit (13), and also meets the high-level input voltage standard of the input circuit (1). (VIN). That is,
Vlll>VI14>VI ding>VRz>VIL.

ところで、−船釣に、2MO3−FETとNMOS−F
ETとからなるCMO3構造のインバータの遷移電圧は
、次の式で概略値を得ることかできる。
By the way, for boat fishing, 2MO3-FET and NMOS-F
The approximate value of the transition voltage of an inverter with a CMO3 structure consisting of ET can be obtained using the following equation.

1+に β9 に2= β。to 1+ β9 2 = β.

この式で、それぞれの記号の意味は、 VT)l:インバータの遷移電圧 ■。。:高電位側を源レベル VTMP  :2MO3FETの闇値電圧■7□ :N
MOS−FETの閾値電圧K : 2MO3−FETと
NMOS−FETのコンダクタンス比 βp  :PMO5FETのコンダクタンスβ、:NM
O5−FETのコンダクタンスなお、このとき、各電圧
については、低電位側電源レベルを基準にしている。
In this formula, the meaning of each symbol is: VT)l: Inverter transition voltage ■. . : High potential side is source level VTMP : Dark value voltage of 2MO3FET■7□ :N
Threshold voltage K of MOS-FET: Conductance ratio βp of 2MO3-FET and NMOS-FET: Conductance β of PMO5FET, :NM
Conductance of O5-FET At this time, each voltage is based on the low potential side power supply level.

そして、コンダクタンスβ7.β8は、それぞれのMO
S −F ETのゲート幅をW、ゲート長をLとすると
、W/Lにほぼ比例している。したがって、インバータ
を構成する2MO3−FET、NMOS−FETのトラ
ンジスタサイズ(ゲート幅、ゲート長)を適当に設計す
ることにより、インバータの遷移電圧を制御することが
可能となる。
And conductance β7. β8 is the respective MO
When the gate width of the S-FET is W and the gate length is L, it is approximately proportional to W/L. Therefore, by appropriately designing the transistor size (gate width, gate length) of the 2MO3-FET and NMOS-FET that constitute the inverter, it is possible to control the transition voltage of the inverter.

髪−詐 次に、本実施例に係る入力回路(1)の動作について説
明する。
Next, the operation of the input circuit (1) according to this embodiment will be explained.

まず、入力端子(11)に対して外部から信号が印加さ
れている場合の動作を説明する。
First, the operation when a signal is applied to the input terminal (11) from the outside will be described.

入力端子(11)に印加された信号レベル(VIN)が
入力回路(1)のハイレベル入力電圧規格(Vlll)
よりも高く、したがって、その信号レベル(V+s)が
入力バッファ回路(13)の遷移電圧(Vat)よりも
高いときには、入力バッファ回路(13)を構成する2
MO3−FET (15)が遮断状態となり、NMOS
−FET (16)が導通状態となる。そこで、出力端
子(12)は低電位側電源(■。HD )に接続される
ことになり、内部回路に対しては低電位レベルを伝達す
る。なお、この動作は従来例と同様である。
The signal level (VIN) applied to the input terminal (11) is the high level input voltage standard (Vllll) of the input circuit (1).
, and therefore, when its signal level (V+s) is higher than the transition voltage (Vat) of the input buffer circuit (13), the two constituting the input buffer circuit (13)
MO3-FET (15) is cut off and NMOS
-FET (16) becomes conductive. Therefore, the output terminal (12) is connected to the low potential power supply (■.HD), and transmits a low potential level to the internal circuit. Note that this operation is similar to the conventional example.

そして、この際には、入力端子(11)に印加された信
号レベル(■、)が第1の論理反転回路(2)の遷移電
圧(VRZ)および第2の論理反転回路(4)の遷移電
圧(V□4)よりも高いので、第1の論理反転回路(2
)からプルアップ用PMOS−FET (14)のゲー
ト端子(G)に供給される電位は低電位レベルとなる。
At this time, the signal level (■,) applied to the input terminal (11) is the transition voltage (VRZ) of the first logic inversion circuit (2) and the transition voltage of the second logic inversion circuit (4). Since the voltage is higher than the voltage (V□4), the first logic inverting circuit (2
) is supplied to the gate terminal (G) of the pull-up PMOS-FET (14) at a low potential level.

そこで、プルアップ用PMOS−FET (14)が導
通状態となり、第2の論理反転回路(4)からプルダウ
ン用NMOS−FET (3)のゲート端子(G)に供
給される電位も低電位レベルとなってプルダウン用NM
OS−FET (3)が遮断状態となる。
Therefore, the pull-up PMOS-FET (14) becomes conductive, and the potential supplied from the second logic inversion circuit (4) to the gate terminal (G) of the pull-down NMOS-FET (3) also becomes a low potential level. NM for pulldown
OS-FET (3) enters the cut-off state.

また、上記の場合とは逆に、入力端子(11)に印加さ
れた信号レベル(V’s)が入力回路(1)のローレベ
ル入力電圧規格(V IL)よりも低く、したがって、
その信号レベル(VIN)が入力バッファ回路(13)
の遷移電圧(VI?)よりも低いときには、入力バッフ
ァ回路(13)における2MO3−FET (15)が
導通状態となり、NM05−FET (16)が遮断状
態となる。そこで、出力端子(12)は高電位側辺fi
(voo)に接続され、内部回路に対して高電位レベル
を伝達する。
Also, contrary to the above case, the signal level (V's) applied to the input terminal (11) is lower than the low level input voltage standard (VIL) of the input circuit (1), and therefore,
The signal level (VIN) is the input buffer circuit (13)
When the transition voltage (VI?) is lower than the transition voltage (VI?), the 2MO3-FET (15) in the input buffer circuit (13) becomes conductive, and the NM05-FET (16) becomes cutoff. Therefore, the output terminal (12) is connected to the high potential side fi.
(voo) and transmits a high potential level to the internal circuitry.

なお、この動作も従来例と同様である。Note that this operation is also similar to the conventional example.

そして、このとき、入力端子(11)に印加された信号
レベル(■、)が第1の論理反転回路(2)の遷移電圧
(VR□)および第2の論理反転回路(4)の遷移電圧
(V□)よりも低いので、第1の論理反転回路(2)か
らプルアップ用PMOS−FET (14)のゲート端
子(G)に供給される電位は高電位レベルとなる。その
結果、プルアップ用PMOS−FET (14)が遮断
状態となり、第2の論理反転回路(4)からプルダウン
用NMO5−FET (3)のゲート端子(G)に供給
される電位も高電位レベルとなってプルダウン用NMO
S−FET (4)が導通状態となる。
At this time, the signal level (■,) applied to the input terminal (11) is the transition voltage (VR□) of the first logic inversion circuit (2) and the transition voltage of the second logic inversion circuit (4). (V□), the potential supplied from the first logic inversion circuit (2) to the gate terminal (G) of the pull-up PMOS-FET (14) becomes a high potential level. As a result, the pull-up PMOS-FET (14) is cut off, and the potential supplied from the second logic inversion circuit (4) to the gate terminal (G) of the pull-down NMO5-FET (3) is also at a high potential level. NMO for pulldown
S-FET (4) becomes conductive.

次に、外部から入力端子(11)に信号が供給されなく
なり、入力端子(11)がハイインピーダンス状態にな
った場合の動作について説明する。
Next, the operation when no signal is supplied from the outside to the input terminal (11) and the input terminal (11) enters a high impedance state will be described.

入力端子(11)に印加された信号レベル(Vll)が
ハイレベル入力電圧規格(VIM)よりも高い状S<こ
の状態における出力端子(12)の電位は低電位レベル
である)からハイインピーダンス状態になった際、第1
および第2の論理反転回路(2)、  (4)は、その
出力を直前の低電位レベルに保ち、プルアップ用PMO
S−FET (14)の導通状態およびプルダウン用N
MOS −FET (3)の遮断状態をそのまま維持す
ることとなる。
From a state where the signal level (Vll) applied to the input terminal (11) is higher than the high level input voltage standard (VIM) (S<the potential of the output terminal (12) in this state is a low potential level) to a high impedance state When the first
The second logic inverting circuits (2) and (4) keep their outputs at the previous low potential level, and the pull-up PMO
N for conduction state and pull-down of S-FET (14)
The cut-off state of MOS-FET (3) is maintained as it is.

すなわち、入力端子(11)はプルアップ用PMO5−
FET (t 4) を介しT高電位側is(■。、)
に接続されるため、入力バッファ回路(13)における
PMOS−FET (15)およびNMOS−FET 
(16)のゲート端子CG)に対しては引き続き高電位
レベルが供給され、PMOS−FET (15)の遮断
状態およびNMOS−FET (16)の導通状態が維
持される。そこで、出力端子(12)から内部回路へ伝
達される電位は、ハイインピーダンス状態になる前と同
し低電位レベルのままで維持されることになる。
In other words, the input terminal (11) is connected to the pull-up PMO5-
T high potential side is (■.,) through FET (t4)
PMOS-FET (15) and NMOS-FET in the input buffer circuit (13)
A high potential level is continuously supplied to the gate terminal CG of (16), and the PMOS-FET (15) is maintained in the cut-off state and the NMOS-FET (16) is maintained in the conductive state. Therefore, the potential transmitted from the output terminal (12) to the internal circuit is maintained at the same low potential level as before entering the high impedance state.

なお、上記のように、NMOS−FET (16)が導
通状態のときにPMOS−FET (15)が遮断状態
となることから、両FET (15)(16)に貫通電
流が流れることを防止するという本来の機能も発揮され
ることになる。
Furthermore, as mentioned above, when the NMOS-FET (16) is in the conductive state, the PMOS-FET (15) is in the cut-off state, so that a through current is prevented from flowing through both FETs (15) and (16). Its original function will also be demonstrated.

また、前記の場合とは逆に、入力端子(11)に印加さ
れた信号レベル(vIN)がローレベル入力電圧規格(
VIL)よりも低い状態(この状態における出力端子(
12)の電位は高電位レベルである)からハイインピー
ダンス状態になった際、第1および第2の論理反転回路
(2)、  (4)は、その出力を直前の高電位レベル
に保ち、プルアップ用PMO5−FET (14)の遮
断状態およびプルダウン用NMOS−FET (3)の
導通状態をそのまま維持することになる。
Also, contrary to the above case, the signal level (vIN) applied to the input terminal (11) is set to the low level input voltage standard (
VIL) is lower than the state (output terminal (in this state)
12) becomes a high impedance state from a high potential level), the first and second logic inverting circuits (2) and (4) keep their outputs at the previous high potential level and pull The cut-off state of the up PMO5-FET (14) and the conductive state of the pull-down NMOS-FET (3) are maintained as they are.

すなわち、入力端子(11)はプルダウン用NMOS−
FET (3)を介して低電位側電源(VGND )に
接続されるため、入力バッファ回路(13)におけるP
MO5−FET (15)およびNMOS−FET (
16)のゲート端子(G)に対しては引き続き低電位レ
ベルが供給され、PMOS−FET (15)の導通状
態およびNMOS−FET (16)の遮断状態が維持
されるので、出力端子(12)から内部回路へ伝達され
る電位は、ハイインピーダンス状態になる前と同じ高電
位レベルに維持されることになる。なお、この場合、P
MOS−FET (15)が導通状態のときにNMOS
−FET (16)が遮断状態となるから、両FET 
(15)、  (16)に貫通電流が流れることを防止
するという本来の機能も発揮されている。
That is, the input terminal (11) is a pull-down NMOS-
Since it is connected to the low potential side power supply (VGND) via FET (3), P in the input buffer circuit (13)
MO5-FET (15) and NMOS-FET (
A low potential level is continuously supplied to the gate terminal (G) of the output terminal (16), and the conduction state of the PMOS-FET (15) and the cut-off state of the NMOS-FET (16) are maintained, so that the output terminal (12) The potential transmitted from to the internal circuit will be maintained at the same high potential level as before entering the high impedance state. In addition, in this case, P
When MOS-FET (15) is conductive, NMOS
- Since FET (16) is in the cut-off state, both FETs
(15) and (16) also perform their original function of preventing through current from flowing.

以上のように、本実施例によれば、入力端子(11)に
外部信号が入力されなくなり、入力端子(11)がハイ
インピーダンス状態となった場合でも、プルアップ用P
MOS−FET (14)、プルダウン用NMOS−F
ET (3)およびこれらに接続された第1および第2
の論理反転回路(2)、  (4)の自己保持機能によ
って入力端子(11)の電位レベルを直前の信号レベル
に保持する結果、出力端子(12)から内部回路に伝達
する電位も直前と同一レベルで維持することができるの
である。
As described above, according to this embodiment, even when no external signal is input to the input terminal (11) and the input terminal (11) enters a high impedance state, the pull-up P
MOS-FET (14), NMOS-F for pulldown
ET (3) and the first and second connected to these
As a result, the potential level of the input terminal (11) is held at the previous signal level by the self-holding function of the logic inversion circuits (2) and (4), and as a result, the potential transmitted from the output terminal (12) to the internal circuit is also the same as the previous one. It is possible to maintain this level.

ところで、上記の動作説明においては、入力端子(11
)に外部信号が入力されなくなった場合の直前における
信号レベル(VIN)がハイレベル入力電圧規格(VI
M>よりも高いか、あるいは、ローレベル入力電圧規格
(Vat)よりも低い場合について説明したが、例外的
な動作として、入力端子(11)に信号が入力されてい
ない状態で、この入力回路(1)を含む集積回路の電源
が投入された場合などには、入力端子(11)の電位レ
ベル(VIN)が、 V穴4≧VIN≧Vat となる可能性がある。
By the way, in the above operation explanation, input terminal (11
), the signal level (VIN) immediately before the external signal is no longer input to the high-level input voltage standard (VI
M> or lower than the low-level input voltage standard (Vat) has been described, but as an exceptional operation, when no signal is input to the input terminal (11), this input circuit When the integrated circuit including (1) is powered on, the potential level (VIN) of the input terminal (11) may become V hole 4≧VIN≧Vat.

そして、このような状態が生じると、第1の論理反転回
路(2)の出力が低電位レベルとなってプルアップ用P
MOS−FET (14)が導通状態になると同時に、
第2の論理反転回路(4)の出力が高電位レベルとなっ
てプルダウン用NMOS−FET (3)も導通状態に
なり、両FET(14)、  (3)に多大な貫通1流
が流れて両FET (14)、  (3)が破壊される
恐れや出力端子(12)から内部回路に伝達される電位
が常に強制的に高電位レベルとされてしまうという恐れ
がある。しかし、プルアップ (14)およびプルダウン用NMOS−FET(3)の
導通状態における抵抗(オン抵抗)を適正に設計するこ
とにより、上記の問題を解決することができる。
When such a state occurs, the output of the first logic inversion circuit (2) becomes a low potential level and the pull-up P
At the same time as MOS-FET (14) becomes conductive,
The output of the second logic inversion circuit (4) becomes a high potential level, and the pull-down NMOS-FET (3) also becomes conductive, causing a large amount of current to flow through both FETs (14) and (3). There is a risk that both FETs (14) and (3) may be destroyed, or that the potential transmitted from the output terminal (12) to the internal circuit will always be forced to a high potential level. However, the above problem can be solved by appropriately designing the resistance (on resistance) in the conductive state of the pull-up (14) and pull-down NMOS-FET (3).

すなわち、両FET (1 4)、  (3)それぞれ
のオン抵抗を(R14) 、  (R3 )とすると、
入力端子(11)の電位レベル(VIN)は、R。
That is, if the on-resistances of both FETs (1 4) and (3) are (R14) and (R3),
The potential level (VIN) of the input terminal (11) is R.

VIN=VDD’ RI4+R3 で表される。VIN=VDD’ RI4+R3 It is expressed as

そこで、電源投入時などには、入力端子(11)の電位
レベル(VIN)が第1の論理反転回路(2)の遷移電
圧(Vat)よりも低く、すなわち、(V、N<V,、
)となるように、両FET (1 4)。
Therefore, when the power is turned on, the potential level (VIN) of the input terminal (11) is lower than the transition voltage (Vat) of the first logic inversion circuit (2), that is, (V, N<V, .
), both FETs (1 4).

(3)のオン抵抗(R.、)、  (Riを設計するこ
とにより、第1および第2の論理反転回路(2)、  
(4)の出力がともに高電位レベルとなってプルアップ
用PMOS−FET (1 4)を遮断状態に、プルダ
ウン用NMOS−FET (3)を導通状態にすること
ができる。
By designing the on-resistance (R., ) of (3), (Ri), the first and second logic inverting circuits (2),
The outputs of (4) are both at a high potential level, making it possible to turn off the pull-up PMOS-FET (14) and turn on the pull-down NMOS-FET (3).

また、電位レベル( V IN)が第2の論理反転回路
(4)の遷移電圧(Vat4)よりも高く、すなわち、
(VIN〉V114)となるように、プルアップ用PM
OS−FET (1 4)およびプルダウン用NMOS
−FET (3)のオン抵抗(RI4) 、  (R3
)を設計することにより、電源投入時などには、第1お
よび第2の論理反転回路(2)、  (4)の出力がと
もに低電位レベルとなってプルアップ用PMOS−FE
T (1 4)は導通状態に、プルダウン用NMOS−
FET (3)を遮断状態にすることができる。
Further, the potential level (V IN) is higher than the transition voltage (Vat4) of the second logic inversion circuit (4), that is,
PM for pull-up so that (VIN>V114)
OS-FET (1 4) and pull-down NMOS
-On resistance (RI4) of FET (3), (R3
), when the power is turned on, the outputs of the first and second logic inversion circuits (2) and (4) both become a low potential level, and the pull-up PMOS-FE
T (1 4) is in conductive state, NMOS- for pull-down
FET (3) can be turned off.

その結果、いずれの場合も、両FET (1 4)。As a result, in both cases, both FETs (1 and 4).

(4)に貫通電流が流れることを防止することができる
。そして、前者(V+s<V++t)の場合は、出力端
子(12)から内部回路に伝達される電位は強制的に高
電位レベルとされ、後者(VIN>V114)の場合は
、内部回路に伝達される電位が強制的に低電位レベルと
される。
(4) It is possible to prevent a through current from flowing. In the former case (V+s<V++t), the potential transmitted from the output terminal (12) to the internal circuit is forced to a high potential level, and in the latter case (VIN>V114), the potential transmitted to the internal circuit is forced to a high potential level. The potential at which the current occurs is forced to a low potential level.

〈発明の効果〉 以上説明したように、この発明においては、入力端子と
プルアップ用PMOS−FETのゲート端子との間に入
力バッファ回路の遷移電圧よりも低い遷移電圧を有する
第1の論理反転回路を接続し、入力端子とプルダウン用
NMOS−FETのゲート端子との間に入力バッファ回
路の遷移電圧よりも高い遷移電圧を有する第2の論理反
転回路を接続している。そこで、入力端子に信号が供給
されなくなって入力端子がハイインピーダンス状態とな
った場合でも、その直前における入力端子に印加された
信号レベルがハイレベル入力電圧規格よりも高い状態で
あるときには、プルアップ用PMOS−FETの導通状
態およびプルダウン用NMOS−FETの遮断状態をそ
のまま維持する一方、直前に印加された信号レベルがロ
ーレベル入力電圧規格よりも低い状態であるときには、
プルアツブ用PMOS−FETの遮断状態およびプルダ
ウン用NMO5−FETの導通状態をそのまま維持する
ことになる結果、人カバソファ回路の出力端子から内部
回路に伝達する電位レベルを直前の状態に保つことがで
きる。
<Effects of the Invention> As explained above, in the present invention, the first logical inversion having a transition voltage lower than the transition voltage of the input buffer circuit between the input terminal and the gate terminal of the pull-up PMOS-FET is provided. A second logic inversion circuit having a transition voltage higher than the transition voltage of the input buffer circuit is connected between the input terminal and the gate terminal of the pull-down NMOS-FET. Therefore, even if a signal is no longer supplied to the input terminal and the input terminal enters a high-impedance state, if the signal level applied to the input terminal immediately before that is higher than the high-level input voltage standard, the pull-up While the conduction state of the pull-down PMOS-FET and the cut-off state of the pull-down NMOS-FET are maintained, when the signal level applied immediately before is lower than the low-level input voltage standard,
As a result of maintaining the cut-off state of the pull-up PMOS-FET and the conductive state of the pull-down NMO5-FET, the potential level transmitted from the output terminal of the human cover sofa circuit to the internal circuit can be maintained at the previous state.

また、プルアップ用PMO5FETおよびプルダウン用
NMOS−FETのオン抵抗を、入力端子の電位レベル
が第1の論理反転回路の遷移電圧よりも低くなるように
設定した場合、あるいは、入力端子の電位レベルが第2
の論理反転回路の遷移電圧よりも高くなるように設定し
た場合には、信号が入力されていない状態で電源を投入
したときなどに、プルアップ用PMOS−FETおよび
プルダウン用NMO5−FETに貫通電流が流れること
を防止することができるという効果を奏する。
In addition, if the on-resistance of the pull-up PMO5FET and the pull-down NMOS-FET is set so that the potential level of the input terminal is lower than the transition voltage of the first logic inversion circuit, or if the potential level of the input terminal is Second
If the transition voltage is set to be higher than the transition voltage of the logic inversion circuit, a through current will be generated in the pull-up PMOS-FET and pull-down NMO5-FET when the power is turned on with no signal input. This has the effect of preventing the flow of water.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はこの発明の一実施例に係る入力回路の回路図、
第2図は各遷移電圧の関係を示す図、第3図は従来例に
係る入力回路の回路図である。 図における符号(1)は入力回路、(2)は第1の論理
反転回路、(3)はプルダウン用NMO5−FET、(
4)は第2の論理反転回路、(11)は入力端子、(1
2)は出力端子、(13)は入力バッファ回路、(14
)はプルアップ用PMO8−FET、(■。。)は高電
位側電源、(■GNゎ)は低電位側電源、(Vat)は
入力バッファ回路の遷移電圧、(V+o)は入力回路の
ハイレベル入力電圧規格、(VIL)は入力回路のロー
レベル入力電圧規格、(V++z)は第1の論理反転回
路の遷移電圧、(V□)は第2の論理反転回路の遷移電
圧である。 なお、図中の同一符号は、同一もしくは相当する部分を
示している。
FIG. 1 is a circuit diagram of an input circuit according to an embodiment of the present invention;
FIG. 2 is a diagram showing the relationship between each transition voltage, and FIG. 3 is a circuit diagram of a conventional input circuit. In the figure, (1) is an input circuit, (2) is a first logic inversion circuit, (3) is a pull-down NMO5-FET, (
4) is the second logic inversion circuit, (11) is the input terminal, (1
2) is the output terminal, (13) is the input buffer circuit, (14
) is the pull-up PMO8-FET, (■...) is the high potential side power supply, (■GNゎ) is the low potential side power supply, (Vat) is the transition voltage of the input buffer circuit, (V+o) is the high voltage of the input circuit. The level input voltage standard, (VIL) is the low level input voltage standard of the input circuit, (V++z) is the transition voltage of the first logic inversion circuit, and (V□) is the transition voltage of the second logic inversion circuit. Note that the same reference numerals in the figures indicate the same or corresponding parts.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)入力端子と出力端子との間に介挿された入力バッ
ファ回路と、この入力バッファ回路の入力側と高電位側
電源との間に接続されたPチャネル型電界効果トランジ
スタ(以下、プルアップ用PMOS−FETという)と
、前記入力バッファ回路の入力側と低電位側電源との間
に接続されたNチャネル型電界効果トランジスタ(以下
、プルダウン用NMOS−FETという)と、前記入力
端子と前記プルアップ用PMOS−FETのゲート端子
との間に接続された第1の論理反転回路と、前記入力端
子と前記プルダウン用NMOS−FETのゲート端子と
の間に接続された第2の論理反転回路とを備え、 前記第1の論理反転回路の遷移電圧を前記入力バッファ
回路の遷移電圧よりも低く設定し、かつ、前記第2の論
理反転回路の遷移電圧を前記入力バッファ回路の遷移電
圧よりも高く設定したことを特徴とする入力回路。
(1) An input buffer circuit inserted between the input terminal and the output terminal, and a P-channel field-effect transistor (hereinafter referred to as a pull-out transistor) connected between the input side of this input buffer circuit and the high-potential side power supply. an N-channel field effect transistor (hereinafter referred to as a pull-down NMOS-FET) connected between the input side of the input buffer circuit and the low potential side power supply; a first logic inversion circuit connected between the gate terminal of the pull-up PMOS-FET; and a second logic inversion circuit connected between the input terminal and the gate terminal of the pull-down NMOS-FET. a transition voltage of the first logic inversion circuit is set lower than a transition voltage of the input buffer circuit, and a transition voltage of the second logic inversion circuit is set lower than a transition voltage of the input buffer circuit. The input circuit is characterized in that the input voltage is also set high.
(2)前記プルアップ用PMOS−FETおよびプルダ
ウン用NMOS−FETのオン抵抗を、前記入力端子の
電位レベルが第1の論理反転回路の遷移電圧よりも低く
なるように設定したことを特徴とする請求項(1)記載
の入力回路。
(2) The on-resistance of the pull-up PMOS-FET and the pull-down NMOS-FET is set so that the potential level of the input terminal is lower than the transition voltage of the first logic inversion circuit. An input circuit according to claim (1).
(3)前記プルアップ用PMOS−FETおよびプルダ
ウン用NMOS−FETのオン抵抗を、前記入力端子の
電位レベルが第2の論理反転回路の遷移電圧よりも高く
なるように設定したことを特徴とする請求項(1)記載
の入力回路。
(3) The on-resistance of the pull-up PMOS-FET and pull-down NMOS-FET is set so that the potential level of the input terminal is higher than the transition voltage of the second logic inversion circuit. An input circuit according to claim (1).
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