JPH03230453A - 蛍光ランプの検査方法 - Google Patents
蛍光ランプの検査方法Info
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- JPH03230453A JPH03230453A JP2197990A JP2197990A JPH03230453A JP H03230453 A JPH03230453 A JP H03230453A JP 2197990 A JP2197990 A JP 2197990A JP 2197990 A JP2197990 A JP 2197990A JP H03230453 A JPH03230453 A JP H03230453A
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- lamp
- amplifier
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- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 9
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 11
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 claims abstract description 11
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 9
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 11
- 238000009826 distribution Methods 0.000 abstract description 7
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 6
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 abstract description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 3
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 8
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 8
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 5
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 4
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000007872 degassing Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000009877 rendering Methods 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は蛍光ランプのグロー放電における放射光の2波
長の強度比によって、ランプの良否を判定する検査方法
に関する。
長の強度比によって、ランプの良否を判定する検査方法
に関する。
蛍光ランプの製造工程において、バルブ管壁からの脱ガ
スの熱処理や、電極に塗布された熱電子放射物質の活性
化不足などによりランプ内に不純ガスが残留することが
ある。また封止部の溶着不良などにより空気が混入する
ことがある。これらのランプは、本来の動作や性能が損
われ、始動電圧が高い、発光強度不良などの原因となる
。上記不良ランプを製造工程中で発見し除去するため、
高周波電力をランプに印加してグロー放電を起こさせ、
ランプより放射された光の強さや放電色の色あいを肉眼
で観察し、正常晶との比較を行ない製品としての良否を
判断する方法が一般的に行なわれている。また他の方法
としては、特公昭6332213号公報記載の如く、水
銀のスペクトルと550nm以上の波長との光強比によ
る測定方法がある。前者は個人差が生じるため、始動性
などの再確認が必要である。後者は定量的に良否の判断
ができる利点があり、ある蛍光体によるランプの検査に
適しているが、蛍光体の種類によっては感度が低下する
ため、微量の不純ガス含有ランプの検出にはふされしく
ない。
スの熱処理や、電極に塗布された熱電子放射物質の活性
化不足などによりランプ内に不純ガスが残留することが
ある。また封止部の溶着不良などにより空気が混入する
ことがある。これらのランプは、本来の動作や性能が損
われ、始動電圧が高い、発光強度不良などの原因となる
。上記不良ランプを製造工程中で発見し除去するため、
高周波電力をランプに印加してグロー放電を起こさせ、
ランプより放射された光の強さや放電色の色あいを肉眼
で観察し、正常晶との比較を行ない製品としての良否を
判断する方法が一般的に行なわれている。また他の方法
としては、特公昭6332213号公報記載の如く、水
銀のスペクトルと550nm以上の波長との光強比によ
る測定方法がある。前者は個人差が生じるため、始動性
などの再確認が必要である。後者は定量的に良否の判断
ができる利点があり、ある蛍光体によるランプの検査に
適しているが、蛍光体の種類によっては感度が低下する
ため、微量の不純ガス含有ランプの検出にはふされしく
ない。
本発明は上記従来技術の欠点を除き、グロー放電の発光
色amによる判断では困難な微量の不純ガス混入ランプ
を検出できる高精度の検出が可能であり、且つ生産工程
における自動検査に応用でき、定量的に不純ガス濃度を
測定できる検査方法を提供することにある。
色amによる判断では困難な微量の不純ガス混入ランプ
を検出できる高精度の検出が可能であり、且つ生産工程
における自動検査に応用でき、定量的に不純ガス濃度を
測定できる検査方法を提供することにある。
蛍光ランプに含まれる不純ガスは、空気、炭酸ガス等が
あるが、はとんどの場合空気である。蛍光ランプに空気
が混入すると、ランプをグロー放電させた場合、発光ス
ペクトルに異常が生じる。
あるが、はとんどの場合空気である。蛍光ランプに空気
が混入すると、ランプをグロー放電させた場合、発光ス
ペクトルに異常が生じる。
従って、発光スペクトルの分光分布特性を取り、最も変
化が大きい波長の光強度と、水銀スペクトルの436n
mまたは405nmとの強度比を求め、その値と良品ラ
ンプとの比較によって良否の判定を行なう様にしたもの
である。
化が大きい波長の光強度と、水銀スペクトルの436n
mまたは405nmとの強度比を求め、その値と良品ラ
ンプとの比較によって良否の判定を行なう様にしたもの
である。
〔作用〕
蛍光ランプには数種類の蛍光体が用られ、各々の蛍光体
は特有の発光スペクトル分布(分光分布特性)を示す。
は特有の発光スペクトル分布(分光分布特性)を示す。
空気等の不純ガスが混入した場合、蛍光体特有の発光ス
ペクトル分布に変化が生ずる。
ペクトル分布に変化が生ずる。
従って、蛍光体の種類により最も高感度が得られる46
0〜510nmと水銀スペクトルの436nmまたは4
05nmの2波長の比を求めることで高感度の測定が可
能になる。
0〜510nmと水銀スペクトルの436nmまたは4
05nmの2波長の比を求めることで高感度の測定が可
能になる。
他の波長域について例えば、550nm以上の波長を用
いると上記波長を用いたときより、30〜50%感度が
低下する。
いると上記波長を用いたときより、30〜50%感度が
低下する。
第1図に昼光色蛍光体による水銀436nmを100%
としたときの分光分布特性を示す。図においてAは良品
ランプの特性を示し、Bは空気濃度がC)、08%含有
されている場合の特性である。
としたときの分光分布特性を示す。図においてAは良品
ランプの特性を示し、Bは空気濃度がC)、08%含有
されている場合の特性である。
またCは空気濃度が0.5%含有されている場合の特性
を示す。図の様に、空気が混入すると、その空気濃度に
よって水銀スペクトルが減衰し、相対的に連続光部に不
純ガスの発光等が重畳し増加する。特に昼光色蛍光体の
場合460〜510nmの増加が著しい。
を示す。図の様に、空気が混入すると、その空気濃度に
よって水銀スペクトルが減衰し、相対的に連続光部に不
純ガスの発光等が重畳し増加する。特に昼光色蛍光体の
場合460〜510nmの増加が著しい。
第2図は昼光色蛍光体ランプによる空気の含有濃度と2
波長の光強度比による検量線を示す。
波長の光強度比による検量線を示す。
(a)は本実施例で昼光色の場合、最も良好な結果が得
られた495nmと水銀436nmの強度比による検量
線である。(b)は従来良い方法とされていた他の波長
を用いた場合の検量線である。
られた495nmと水銀436nmの強度比による検量
線である。(b)は従来良い方法とされていた他の波長
を用いた場合の検量線である。
空気濃度0.03%以下では、蛍光体のゲッター作用に
より、空気等活性ガスは吸着され、良品ランプと全く同
じ光強度比となる。また本実施の検量線(a)は他の波
長を用いた検量線(b)に比べ1.8倍感度の向上が図
れる。また本検量線により空気含有濃度を定量的に求め
ることができる。
より、空気等活性ガスは吸着され、良品ランプと全く同
じ光強度比となる。また本実施の検量線(a)は他の波
長を用いた検量線(b)に比べ1.8倍感度の向上が図
れる。また本検量線により空気含有濃度を定量的に求め
ることができる。
上記2波長の測定を行なう装置を第3図に示す。
図において、1は蛍光ランプで直管形、環形あるいは小
型U字蛍光ランプなどを示す。2は高周波電源を示し、
高周波電源より発生した電力をランプ外壁に印加し、ラ
ンプをグロー放電させ、ランプをグロー発光させる。3
a、3bは半導体光検出器で、ランプの発光した光を検
出する。
型U字蛍光ランプなどを示す。2は高周波電源を示し、
高周波電源より発生した電力をランプ外壁に印加し、ラ
ンプをグロー放電させ、ランプをグロー発光させる。3
a、3bは半導体光検出器で、ランプの発光した光を検
出する。
検出器の窓部には不要波長の光をさえぎるため半値幅の
狭いバンドパスフィルタ4,5を取り付けである。フィ
ルタ4は水銀スペクトルの436nmに中心波長をもつ
フィルタであり、フィルタ5は各々の蛍光体に適したバ
ンドパスフィルタである。本実施では昼光色蛍光体の場
合、495nmを中心とするフィルタを使用した。
狭いバンドパスフィルタ4,5を取り付けである。フィ
ルタ4は水銀スペクトルの436nmに中心波長をもつ
フィルタであり、フィルタ5は各々の蛍光体に適したバ
ンドパスフィルタである。本実施では昼光色蛍光体の場
合、495nmを中心とするフィルタを使用した。
6a、6bは検出器で光電変換された信号の増巾器であ
る。7は増巾器6a、6bからの出力を入力し、割算し
、その結果の信号を増巾する回路、8は基準値発生器で
ある。基準値発生器8の出力と増巾器7の出力を各々9
の比較増巾器に入力する。10は7の増巾器からの出力
を読み取る表示器である。
る。7は増巾器6a、6bからの出力を入力し、割算し
、その結果の信号を増巾する回路、8は基準値発生器で
ある。基準値発生器8の出力と増巾器7の出力を各々9
の比較増巾器に入力する。10は7の増巾器からの出力
を読み取る表示器である。
比較増巾器9にて基準値を越えたランプは、ランプ摘出
装置11に信号が送られ、不良ランプを摘出する。上記
構成の2波長測定装置により、−瞬にて良否の判定が行
なえると共に第2図の検量線を記憶させることで空気含
有濃度も定量的に測定できる。
装置11に信号が送られ、不良ランプを摘出する。上記
構成の2波長測定装置により、−瞬にて良否の判定が行
なえると共に第2図の検量線を記憶させることで空気含
有濃度も定量的に測定できる。
本発明によれば、特に昼光色、昼白色、高演色蛍光体ラ
ンプの測定にはきわめて測定精度の向上が図れる。また
従来判断が難かしい程度のランプについても容易に判断
可能となる。
ンプの測定にはきわめて測定精度の向上が図れる。また
従来判断が難かしい程度のランプについても容易に判断
可能となる。
また従来良い方法とされていた550nm以上の波長を
用いた場合と比較すると約1.8倍感度が向上する。
用いた場合と比較すると約1.8倍感度が向上する。
第1図は昼光色蛍光体の分光分布特性図、第2図は2波
長の光強度比測定による空気濃度の検量線を示す図、第
3図は本発明の検査方法の測定器を示すブロック図であ
る。 1・・・ランプ、2・・・高周波電源、3a、3b・・
・光検出器、4,5・・・バントパスフィルタ、6a、
6b・増巾器、7・・増巾器、8・・基準値発生器、9
・・比較増巾器、11・・・不良摘出装置、A・・・良
品ラン゛−亡し′ 第 舅 戸先ts、度(恒
長の光強度比測定による空気濃度の検量線を示す図、第
3図は本発明の検査方法の測定器を示すブロック図であ
る。 1・・・ランプ、2・・・高周波電源、3a、3b・・
・光検出器、4,5・・・バントパスフィルタ、6a、
6b・増巾器、7・・増巾器、8・・基準値発生器、9
・・比較増巾器、11・・・不良摘出装置、A・・・良
品ラン゛−亡し′ 第 舅 戸先ts、度(恒
Claims (1)
- 1、蛍光ランプに高周波等の電力を印加し、蛍光ランプ
内にグロー放電を生じさせ、ランプ外に放射された光の
うち、水銀スペクトルの405nmまたは436nmの
波長と、460〜510nmの波長の光強度比を求め、
光強度比を所定値との比較を行ない、その大小によつて
蛍光ランプの良否を判定することを特徴とする蛍光ラン
プの検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2197990A JPH03230453A (ja) | 1990-02-02 | 1990-02-02 | 蛍光ランプの検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2197990A JPH03230453A (ja) | 1990-02-02 | 1990-02-02 | 蛍光ランプの検査方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03230453A true JPH03230453A (ja) | 1991-10-14 |
Family
ID=12070143
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2197990A Pending JPH03230453A (ja) | 1990-02-02 | 1990-02-02 | 蛍光ランプの検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03230453A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100502799B1 (ko) * | 1997-12-31 | 2005-10-25 | 삼성전자주식회사 | 액정 표시 장치의 제조 방법 |
KR100530979B1 (ko) * | 1998-05-20 | 2006-02-28 | 삼성전자주식회사 | 액정표시장치의 백라이트용 램프 불량 선별방법 |
-
1990
- 1990-02-02 JP JP2197990A patent/JPH03230453A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100502799B1 (ko) * | 1997-12-31 | 2005-10-25 | 삼성전자주식회사 | 액정 표시 장치의 제조 방법 |
KR100530979B1 (ko) * | 1998-05-20 | 2006-02-28 | 삼성전자주식회사 | 액정표시장치의 백라이트용 램프 불량 선별방법 |
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