JPH03225210A - 部品認識装置 - Google Patents

部品認識装置

Info

Publication number
JPH03225210A
JPH03225210A JP2167690A JP2167690A JPH03225210A JP H03225210 A JPH03225210 A JP H03225210A JP 2167690 A JP2167690 A JP 2167690A JP 2167690 A JP2167690 A JP 2167690A JP H03225210 A JPH03225210 A JP H03225210A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
light source
component
turned
recognized
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2167690A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2596158B2 (ja
Inventor
Miwako Hirooka
広岡 美和子
Shinjiro Kawato
慎二郎 川戸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2167690A priority Critical patent/JP2596158B2/ja
Publication of JPH03225210A publication Critical patent/JPH03225210A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2596158B2 publication Critical patent/JP2596158B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野] この発明は1部品認識袋;r?に関し、特に画像信号°
を処理することによ−)で、撮像装置の視野内にある部
品の形状を抽出し、その部品の位置を認識する装置6に
関するものである。
[従来の技術] プリント基板に実装された電子部品の装着状態を検査す
るため、第5図に示すような装置が特開昭63− 11
1205号公t&Iに提案されている0図において、(
1)は基板で例えばプリント基板、(2)は辺部な有す
る被検部品で例えば電子部品、(3al 、 (3b)
は電子部品(2)に対して異なる辺部に影を形成するこ
とのできるように、2方向から光を照射する光源、(4
)は光源(3a)、 (3b)からの光照射による電子
部品の影像を撮像し電気(i3号に変換する光電変換器
で、例えばテレビカメラ、(5a)、 (5blは光電
変194器(4)で出力した画像信号を記憶する第1、
第2両像メモリ、(12)は画像処理する画像処理装置
であり、引算装置(■)、演算装置1ffi(61,判
定′:Aift(7)を補えている。光源(3a)、 
(3b)及び充電変換器(4ンは、光源(3a)、 (
3b)と光電変換器(4)とを結ぶ延長線が電f部品(
2)の配設方向に対して傾斜するように配設されている
従来のA置は上記のように構成され、得られた画像と基
準画像を比較する1fによって部品の位置や形状などを
検出するようになっている。即ち、先ず被検部品(2)
 を設置し、一方の光源(3a)を点灯し被検部品(2
)を照Q−fする。ついでこの光源射面の画像をテレビ
カメラ(4)で撮像し、電気信号に変換して第1画像メ
モリ(5a)に記憶させる0次に光源(3a)を消灯し
、もう一方の光源(3b)を点灯し、光源射面の画像を
テレビカメラ(4)で撮像する。これを゛・U気信号に
変換して第2画像メモリ(5b)に記憶させる。これら
に記憶された両画像に4号のそれぞれ対応する画素の出
力faの差を引算装置(11)で演算し、差画像とする
。この差画像からa4算装置Ff(61で部品(2)の
117置を求め、その結果を判定装置(7)シ二人力し
、tめ格納しであるハキJiffと比較判定する。
E発明が解決しようとする課題] 」−記の様な従来の部品認識装置では、差画像をとるた
めの2つの画像信号は、どの部品についても常に部品表
面が同じように反射した画像が得られることが必要であ
った。そうでない場合、例えば部品の表面が鏡面状で凹
凸があり、部分的に光−)たり影ができたときなど部品
ごとに異なる反射か起った場合等、差画像をとった後に
も部品上のムラ等が残り、辺部の影のみを精度良く抽出
することができなかった。そのため、部品の位置・形状
などを誤認識するという問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解決するためになされ
たもので、部品の形状や位1斤を精度良く認識できる8
1(品認識′装置を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段J この発明による部品認識装置は、辺部を有する部品の異
なる辺部に影を形成することのできる3個以上の光源、
光源の照射による部品の辺部の影像を撮像して電気信号
に変換する光電変換器、充電変換器で出力した画像信号
を記憶する画像メモリ、部品の辺部のうち被認識辺部以
外の影像の画像信号を2つ選び、その画像信号のそれぞ
れ対応する画素の出力(tQを比較して輝度の大きいh
を残すことによって最大11へ画像(a号を得る最大値
画像演算装置、被認識辺部の画像18号と最大値画像信
シー;との輝度の差をIIA′S]して差画像を得て被
認識辺部を認λする差画像an−¥2置、及び演算装置
の演p、結果から部品の形状を認識する判定装置を備え
たものである。
[作用] この発明においては、被認識辺部以外の辺部の影を1!
多ることのできる光源を順次点灯して(qた画f象2つ
から、大きい輝度の画素で構成される最大値画像を作る
ことによって、部品表面の凹凸による画像値のムラをな
くした画像を得ることができる。さらにこの最大値画像
と部品の被認識辺部に対して斜めから照射した画像との
差をとることによって、部品の被認識辺部な精度良く計
測することができる。
[実施例] 以下、この発明の一実施例を第1図に基いて説明する。
第1図はこの発明の一実施例による部品認識装置の構成
を示すブロック図である。この装;rtはプリント基板
に取り付けられた部品を認識する装着状態検査装置であ
る0図において、(1)はプリント基板、(2)は辺部
を有する被検部品で、プリント基板(りに実装されてい
る。(3)は被検部品(2)を照11する光源であり、
(3al 、  (3b) 、  t3cl、  (3
d)はプリント基ff1(1)上をそれぞれ別の角度、
例えば光源(3a)と光源(3C)は被検部品(2)を
挾んで対称になるように斜めに設置してあり、光源(3
b)は光源(3a)と光源(3C)からそれぞれ水平方
向に90°の方向で、かつ部品(2)に対する角度と距
離は等しい位置に設置する。同様に光源(3d)は被検
部品(2)を挟んで光源(3b)と対称になるように斜
めに設置してあり、光源(3d)と光源(3C)からそ
れぞれ水平方向に90”の方向で、かつ部品(2)に対
する角度と距離は等しい位置に設置している。即ち4つ
の光源(3a)、 (3b)、 (3c)、 (3d)
は部品(2)の異なる辺部に影を形成することのできる
ように配置され、これらを部品(2)の真上から見ると
、お互いに90′″をなし、部品(2) を挟んで2組
の対向する位置に設置しである。(4)は光源(3a)
、  (3b)、 (3c)、 (3d)の照射による
部品(2)の辺部の影像を撮像して電気信号に変換する
光電変換器で、例えばテレビカメラである。(5)は光
電f換器(4)で出力された画像信号、例えば光源(3
a)を照射した時の画像信号を記憶する第1画像メモリ
(5a)、光源(3b)を照射した時の画像信号を記憶
する第2画像メモリ(5b)、光源(3c)を照射した
時の画像信号を記憶する第3画像メモリ(5c)、光源
(3d)を照射した時の画像信号を記憶する第4画像メ
モリ(5d)である、(6)は最大f+fi画像、及び
差画像を演算して部品(2)の辺゛部を認識する演算装
置、(7)は演算装[i’Z (63で計算された形状
信号から判定信号を出力表示する判定装置である。
」、記のように構成された部品認識装置における動作に
ついて説明する。まずプリント基板(1)を光電変換器
(4)で撮像できる位置に設置し光源(3a)を点灯し
プリント基板(+)を照射する。この照射面の影像な光
電変換器(4)で撮像し第1画像メモリ(5a)に記憶
させる。この時の影像を第2図(a)に示す、この光源
(3a)は部品(2)に向かって左側から照射するもの
であり、部品の影(8a)は図中別線で示すようになる
。この部品(2)は4つの辺部(2a1.  (2b)
、  (2c)、  (2d)を有するものとする。
次に光tA(3a)を消灯し、部品(2)に向かって下
方から光源(3b)を点灯した状態で照射面の影像な光
電変換器(4)で撮像し、第2画像メモリ(5b)に記
憶する。この時の影像を第2図(b)に示す0次に光1
1A(3b)を消灯し、部品(2)に向かって右から光
源(3c)を点灯した状態で照射面の影像を光電変換器
(4)で撮像し、第3画像メモリ(5c)に記憶させる
。この時の影像を第2図(c)に示す0次に光源(3c
)を消灯し、部品(2)に向かって土から光源(3d)
を点灯した状態で照射面の影像を光電変換器(4)で撮
像し第4画像メモリ(5d)に記憶させる。この時の影
像を第2図(d)に示す。
次に部品(2)の辺部(2b)を認識する場合について
説明する。演p、装置(6)で辺部(2b)以外の辺部
についての画像信号を2つ選ぶ0例えば第1画像メモリ
(5a)、第3画像メモリ(5c)に記憶された画像に
おける各画素に対応する信号値を比べて、輝度を表わす
信号レベルの大きな方をとる計算を行ない、最大値画像
を作る。これを第3図fa)に示す、この最大f+fi
画像では、光源(3a)によっ、て部品(2) を照射
した影像において部品の影(8a)ができた部分及び光
源(3C)によって部品(2)を照射した影像において
部品の影(8C)ができた部分は消去され、処理画像(
13)内において影の無い部品画像を得ることができる
0部品(2)上にできるムラもこの時に落とすことがで
きる1次にその最大値画像の信号値と、肢認識辺部(2
b)における影の影像である第2画像メモリ(5b)に
記憶された信号値との差を求め、差画像とする。これを
第3図(b)に示す。
即ち、第2図の影像について光源(3a)で光照射した
ときの画像信号ra (x、 y)と光源(3c)で光
照射したときの画像信号fc (x、 y)の最大値を
演算装置fi(6)で求める。つぎにその最大値と光源
(3b)で照射したときの画像信号rb (x、 y)
との差を演算装置(6)で求める。これを g(x、y) = ll1ax(fa(x、y)、[c
(x、y)) −1b(x、y)とする。
ここで、第3図(b)に示す差画像g (x、 ylを
吟味すると、第3図(alに示す最大値画像における谷
画素の信号値と比較した場合、光源(3b)によって部
品(2)を照射した画像において部品の影(8b)がで
きた部分は暗くなっている。従って、その該当する画素
における信号値は小さくなっており、g(x、 ylの
I+iは正の値となり、影(8e)として残る。しかし
、光源(3a)によって部品(2)を照射した画像にお
いて部品の影(8a)ができた部分、及び光源(3C)
によって部品(2)を照射した画像において部品の影(
8c)ができた部分は最大値画像を求める際に消去され
るので、処理画像03)内において影の無い部品画像を
得ることができる0部品上にできるムラもこの時に落と
すことができる。また光源(3b)によって部品(2)
を照射した画像(第2図(b))において部品上にラン
ダムな鏡面反射を起こしている部分は、光源(3a)に
よって部品(2)を照射した画像(第2図(a))又は
光源(3C)によって部品(2)を照射した画像(第2
図(C)〕のいずれかにおいても同様の鏡面反射を起こ
しているので、最大f+fi画像(第3図(a))に残
っている。故に、差画像(第3図(b))を求めると鏡
面反射部分は消されている。このようにして部品の辺部
(2b)の影の部分(8e)のみを抽出することができ
る。
次に、この影(8e)における部品側の境界線を、例え
ば画像を211へ化して求める0例えば第:3図(b)
では、図の1方からF方に向かって垂直方向に走査した
時に黒から白へ変化する点を抽出する。
即ち、g (x、 y)をy軸に沿って図の上半分で黒
から白に変化する点を抽出すると、第4図(alの境界
線(9)のようになる。
次に第4図(il)の境界線(9)にハフ変換を施すこ
とによって直線化する。これを第4図(b)に示す0図
において、(10)は直線化された境界線であり、この
境界線(lO)が部品の辺部(2b)に相当すると認識
する。
同様に1部品(2)の右側辺部(2a)、左υIII辺
部(2C)、下側辺部(2d)の各辺部な演算装置(6
)によって認識すれば、部品(2)の位置や中心位置又
は回転角を求めることができる。この結果を判定装置(
7)に人力して、演算装置(6)で演算された位置又は
回転角その他の信号及びハフ変換による辺部と点列の−
・成度などのデータは予め設定しである基準値と比較さ
れ良否判定され、その判定結果が表示される。なお、こ
の判定装置(7)に予め格納されている基準f+aは、
例えば部品位置の許容ずれIit、許容回転m、部品稜
線限界位置等である。
このように、最大値画像により、部品(2)表面の凹凸
による画像値のムラをなくした画像を得ることができ、
最大ha両画像部品の被認識辺部に対して斜めから照射
した画像との差をとることによって1部品の被認識辺■
tの影を精度良く計測することができる。この影から部
品の位置、形状、又はその他の幾何学的特徴を認識する
ので、部品を確実かつ高精度に認識することができる。
なお、上記実施例では差画像を演p、装置(6)で2油
化して2値化画像を得、2値化画像の部品側のエツジの
みに対してハフ変換を施し、部品(2)の辺部(2d)
の候補点を直線化し、部品(2)と背B(どの境界を求
めることによって部品(2)の位置、形状またはその他
の幾何学的特徴を認識するように構成したが、ハフ変換
しなくても認識できるものは、これに限るものではない
又、光源の数は4つに限るものではなく、その設置する
位置も上記実施例のように、各々が9()°に成るよう
にしなくてもよい、これは、被検部品の形状によって、
その辺部を認識しやすいように配置すればよい。
[発明の効□果] 以上のように、この発明によれば、辺部な有する部品の
異なる辺部に影を形成することのできる3個以上の光源
、光源からの照射による部品の辺部の影像を撮像して電
気信号に変換する光電変換器、光電変換器で出力した画
像fエリを記憶する画像メモリ、部品の辺部のうち被認
識辺部以外の影像の画像Cj号を2つ選び、その画像信
号のそれぞれ対応する画素の出力値を比較して輝度の大
きい方を夕、(すことによって最大値画像信号を得る最
大f+ri画像演算′:A置、装認識辺部の画像fg号
と最大値画像IK号との綽度の差を演算して差画像を得
て被認識辺部な認識する差画像演算装置、及び演算装置
の演算結果から部品の形状を認識する判定装置を備えた
ことにより、部品表面の凹凸による画像値のムラをなく
した画像をi【Iることができ、部品の影を積度良く計
測することができ、さらにこの影から部品の位置、形状
、又はその他の幾何学的特徴を認識するので、部品を確
実かつ高精度に認識できる部品認識装置を得ることがで
きる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による部品認識装置の構成
を示すブロック図、第2図(a)〜(d)はこの発明の
一実施例に係り、各光源で部品を照射した時の画像を示
す説明図、即ち第2図(a)は光源(3a)で部品を照
射した時の影像、第2図(b)は光源(3b)で部品を
照射した時の影像、第2図(C)は光1TA(3c)で
部品を照射した時の影像、第2図(d)は光1jQ(3
d)で部品を照射した時の影像を示す説明図である。第
3図(a)はこの実施例に係る最大値画像を示す説明図
、第3図(blは差画像を示す説明図、第4図1a)は
この実施例に係る部品の辺部を抽出した説明図、第4図
(b)は第4図(a)の辺部な直線化した説明図、第5
図は従来の部品認識装置の構成を示すブロック図である
。 (21・・・部品、(2a1. (2b1. (2c1
. (2dl ・・・辺部、(3a)、 (3b)、 
(3c)、 (3d) ・・・光源、 (4)−−−光
電変換器、(5a)、 (5b)、 (5c)、 (5
dl・・画像メモリ、(6)・・・演算装置、(7)・
・・判定装置、 (8a1. (8b1. (8c1.
 (8d)、 (8e)−・・部品の彰、 (9)・・
・部品の辺部、(10)・・・直線化した部品の辺部。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 辺部を有する部品の異なる辺部に影を形成することので
    きる3個以上の光源、上記光源の照射による上記部品の
    辺部の影像を撮像して電気信号に変換する光電変換器、
    上記光電変換器で出力した画像信号を記憶する画像メモ
    リ、上記部品の辺部のうち被認識辺部以外の影像の画像
    信号を2つ選び、その画像信号のそれぞれ対応する画素
    の出力値を比較して輝度の大きい方を残すことによって
    最大値画像信号を得る最大値画像演算装置、上記被認識
    辺部の画像信号と上記最大値画像信号との輝度の差を演
    算して差画像を得て上記被認識辺部を認識する差画像演
    算装置、及び上記演算装置の演算結果から上記部品の形
    状を認識する判定装置を備えた部品認識装置。
JP2167690A 1990-01-30 1990-01-30 部品認識装置 Expired - Fee Related JP2596158B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2167690A JP2596158B2 (ja) 1990-01-30 1990-01-30 部品認識装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2167690A JP2596158B2 (ja) 1990-01-30 1990-01-30 部品認識装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH03225210A true JPH03225210A (ja) 1991-10-04
JP2596158B2 JP2596158B2 (ja) 1997-04-02

Family

ID=12061662

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2167690A Expired - Fee Related JP2596158B2 (ja) 1990-01-30 1990-01-30 部品認識装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2596158B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006329659A (ja) * 2005-05-23 2006-12-07 Universal Shipbuilding Corp 鋼材の形状認識方法及び装置
JP2011013220A (ja) * 2009-07-03 2011-01-20 Koh Young Technology Inc 測定対象物の検査方法
JP2012026767A (ja) * 2010-07-20 2012-02-09 Sumitomo Metal Ind Ltd エッジ検出方法及び検出システム、帯材の走行状況測定方法及び測定システム、帯材の走行制御方法及び制御システム、並びに、帯材の製造方法及び製造システム

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006329659A (ja) * 2005-05-23 2006-12-07 Universal Shipbuilding Corp 鋼材の形状認識方法及び装置
JP4711401B2 (ja) * 2005-05-23 2011-06-29 ユニバーサル造船株式会社 鋼材の形状認識方法及び装置
JP2011013220A (ja) * 2009-07-03 2011-01-20 Koh Young Technology Inc 測定対象物の検査方法
JP2012026767A (ja) * 2010-07-20 2012-02-09 Sumitomo Metal Ind Ltd エッジ検出方法及び検出システム、帯材の走行状況測定方法及び測定システム、帯材の走行制御方法及び制御システム、並びに、帯材の製造方法及び製造システム

Also Published As

Publication number Publication date
JP2596158B2 (ja) 1997-04-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI432699B (zh) 用於檢查測量物件之方法
US7978903B2 (en) Defect detecting method and defect detecting device
TWI313576B (en) Board inspecting apparatus, its parameter setting method and parameter setting apparatus
US20110228052A1 (en) Three-dimensional measurement apparatus and method
JP6791631B2 (ja) 画像生成方法及び検査装置
US10533952B2 (en) Method of inspecting a terminal of a component mounted on a substrate and substrate inspection apparatus
JP2016122010A (ja) オブジェクト領域とグラウンド領域とを区別する方法及び3次元形状測定方法。
KR101884556B1 (ko) 머신 비전을 활용한 와이어 하네스 케이블의 터미널 크림핑 검사 장치
JP2003202214A (ja) 形状計測装置および形状計測方法
KR101884557B1 (ko) 머신 비전을 활용한 와이어 하네스 케이블의 터미널 크림핑 검사 방법
JPH10221035A (ja) 実装部品検査装置
JPH03225210A (ja) 部品認識装置
TWI427263B (zh) 突起之高度測定方法、突起之高度測定裝置、程式
KR101133641B1 (ko) 3차원 형상 검사방법
JP2009079934A (ja) 三次元計測方法
JPH03225211A (ja) 部品認識装置
JP3657028B2 (ja) 外観検査装置
JPS63229311A (ja) 断面形状検知方法
US20240062401A1 (en) Measurement system, inspection system, measurement device, measurement method, inspection method, and program
JPH05332746A (ja) はんだペースト形状認識装置
JPH03225212A (ja) 部品認識装置
JP2819696B2 (ja) はんだ付検査装置
JP3721847B2 (ja) ハンダボールの検出方法
KR101311255B1 (ko) 측정대상물 검사방법
CN117524024A (zh) 用于显示装置的光晕测量方法及系统

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees