JPH03224792A - Optical recording medium - Google Patents

Optical recording medium

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JPH03224792A
JPH03224792A JP2048435A JP4843590A JPH03224792A JP H03224792 A JPH03224792 A JP H03224792A JP 2048435 A JP2048435 A JP 2048435A JP 4843590 A JP4843590 A JP 4843590A JP H03224792 A JPH03224792 A JP H03224792A
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recording medium
substrate
optical recording
recording
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憲良 南波
Masahiro Shinkai
正博 新海
Tetsuji Inoue
鉄司 井上
Sumiko Kitagawa
寿美子 北川
Shinichi Tezuka
信一 手塚
Toshiki Aoi
利樹 青井
Masaru Takayama
勝 高山
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Abstract

PURPOSE:To improve a pit shape and to perform good recording and reproduction by forming a layer containing the decomposed substance of the material quality of a recording layer and not substantially containing the material quality of a substrate to the interface part of the substrate and recording layer of a pit part. CONSTITUTION:When recording is applied to an optical recording medium 1 or a postscript is added thereto, for example, the recording medium 1 is irradiated with recording light of 780nm in a pulse like state through a substrate 2. By this method, a recording layer 3 absorbs light to generate heat and the substrate 2 is also heated simultaneously. In this case, the decomposed substance layer 61 containing the molten or decomposed substance of the recording layer 3 remains in a shape so as to cover the bottom part and boundary of a usual group 23. In usual, a gap 63 is formed to the interface with a reflecting layer on the decomposed substance layer 61 and the decomposed substance layer 61 and the gap 63 are formed to a pit part 6. By this method, a layer not substantially containing the material quality of the substrate is formed to the interface part of the substrate 2 and recording layer 3 of the pit part 6. As a result, a pit shape becomes well and an S/N ratio is enhanced.

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、光記録媒体、特にコンパクトディスク対応の
ライト・ワンス型の光記録ディスクに関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION <Industrial Application Field> The present invention relates to an optical recording medium, and particularly to a write-once type optical recording disk compatible with a compact disk.

〈従来の技術〉 コンパクトディスク(以下、CDと略称する)規格に対
応して追記ないし記録を行うことのできる光記録ディス
クが提案されている(日経エレクトロニクス1989年
1月23日号。
<Prior Art> Optical recording discs capable of additional writing or recording have been proposed in accordance with the compact disc (hereinafter abbreviated as CD) standard (Nikkei Electronics January 23, 1989 issue).

N0.465.P2O3、社団法人近畿化学協会機能性
色素部会、1989年3月3日、大阪科学技術センター
、5PIE voL 10780pticalData
  Storage  Topical  Meeti
ng、  80 1989等)。
N0.465. P2O3, Functional Pigment Subcommittee, Kinki Chemical Society, March 3, 1989, Osaka Science and Technology Center, 5PIE voL 10780pticalData
Storage Topical Meeti
ng, 80 1989, etc.).

このものは、透明樹脂基板上に、色素層、Au反射層お
よび保護膜をこの順に設層して形成される。 すなわち
、反射層を色素層に密着して設けるものである。
This material is formed by depositing a dye layer, an Au reflective layer, and a protective film in this order on a transparent resin substrate. That is, the reflective layer is provided in close contact with the dye layer.

そして、この提案は、CD用途であり、CD用途では、
光記録ディスクの色素層に記録レーザー光を照射すると
、色素層が光を吸収し融解ないし分解するとともに基板
も軟化して、色素材料と、基板材料とが界面で混じり合
い、光の位相差により反射率が下がるピット部が基板と
色素層との界面に形成されるとされている。
This proposal is for CD use, and for CD use,
When the dye layer of an optical recording disk is irradiated with a recording laser beam, the dye layer absorbs the light and melts or decomposes, and the substrate also softens, and the dye material and substrate material mix at the interface, and due to the phase difference of the light, It is said that pits with reduced reflectance are formed at the interface between the substrate and the dye layer.

従来は、色素層にピットを形成するために色素層上に空
気層を設けていたが、この提案では、反射層を色素Mに
密着して設ける密着型であるので、CD規格のディスク
金厚1.2mmの構成が可能となっている。
Conventionally, an air layer was provided on the dye layer in order to form pits in the dye layer, but in this proposal, the reflective layer is provided in close contact with the dye M, so the disc metal thickness of the CD standard is achieved. A configuration of 1.2 mm is possible.

〈発明が解決しようとする課題〉 本発明者らは、このような光記録ディスクについて種々
追試を行った。
<Problems to be Solved by the Invention> The present inventors conducted various additional tests on such optical recording disks.

その結果、このような反射層と色素を含有する記録層と
を密着して設ける場合には、基板と記録層との界面に形
成されるピット部が色素等の記録層材質の分解物を含有
し、かつ基板材質を含有しない場合は、ピット形状が良
好で、記録・再生の際のノイズが小さく、十分なS/N
比が得られること等を見い出した。
As a result, when such a reflective layer and a recording layer containing a dye are provided in close contact with each other, the pits formed at the interface between the substrate and the recording layer contain decomposition products of the recording layer material such as the dye. However, if it does not contain any substrate material, the pit shape is good, the noise during recording and playback is small, and the S/N is sufficient.
It was discovered that the ratio can be obtained.

本発明の目的は、ピット形状が良好で、良好な記録と再
生を行うことができる密着型の光記録媒体を提供するこ
とにある。
An object of the present invention is to provide a contact type optical recording medium that has a good pit shape and can perform good recording and reproduction.

〈課題を解決するための手段〉 このような目的は下記(1)〜(17)の本発明によっ
て達成される。
<Means for Solving the Problems> Such objects are achieved by the following inventions (1) to (17).

(1)基板上に色素を含有する記録層を有し、この記録
層上に密着して反射層を積層して構成され、 記録光を前記記録層に照射してピット部を形成し、再生
光により再生を行う光記録媒体であって、 前記ピット部の前記基板と前記記録層の界面部には、記
録層材質の分解物を含有し、かつ基板材質を実質的に含
有しない層が存在していることを特徴とする光記録媒体
(1) A recording layer containing a dye is provided on a substrate, and a reflective layer is laminated in close contact with this recording layer. Recording light is irradiated onto the recording layer to form pits, and playback is performed. An optical recording medium that is reproduced by light, wherein a layer containing a decomposed product of a recording layer material and substantially not containing a substrate material is present at an interface between the substrate and the recording layer in the pit portion. An optical recording medium characterized by:

(2)前記ピット部には、空隙が形成されている上記(
1)に記載の光記録媒体。
(2) The pit portion has a void formed therein (
The optical recording medium according to 1).

(3)記録光および再生光の波長における前記記録層の
消衰係数kが0.03〜0.25である上記(1)また
は(2)に記載の光記録媒体。
(3) The optical recording medium according to (1) or (2) above, wherein the recording layer has an extinction coefficient k of 0.03 to 0.25 at the wavelengths of recording light and reproduction light.

(4)記録光および再生光の波長における前記記録層の
屈折率nが1.8〜4.0である上記(3)に記載の光
記録媒体。
(4) The optical recording medium according to (3) above, wherein the recording layer has a refractive index n of 1.8 to 4.0 at the wavelengths of recording light and reproduction light.

(5)記録光および再生光の波長が600〜900 n
mである上記(1)ないしく4)のいずれかに記載の光
記録媒体。
(5) The wavelength of recording light and reproduction light is 600 to 900 n
The optical recording medium according to any one of (1) to 4) above, which is m.

(6)前記記録層の厚さが500〜2000人である上
記(1)ないしく5)のいずれかに記載の光記録媒体。
(6) The optical recording medium according to any one of (1) to 5) above, wherein the recording layer has a thickness of 500 to 2,000 layers.

(7)基板側から再生光を照射したとき、未記録部分の
反射率が60%以上であり、記録部分の反射率が未記録
部分の反射率の60%以下である上記(1)ないしく6
)のいずれかに記載の光記録媒体。
(7) When the reproduction light is irradiated from the substrate side, the reflectance of the unrecorded part is 60% or more, and the reflectance of the recorded part is 60% or less of the reflectance of the unrecorded part. 6
).

(8)前記記録層が塗布膜である上記(1)ないしく7
)のいずれかに記載の光記録媒体。
(8) The above-mentioned (1) or 7, wherein the recording layer is a coating film.
).

(9)前記記録層が蒸着膜である上記(1)ないしく7
)のいずれかに記載の光記録媒体。
(9) The above-mentioned (1) or 7, wherein the recording layer is a vapor deposited film.
).

(10)前記記録層が2種以上の色素を含有する上記(
1)ないしく9)のいずれかに記載の光記録媒体。
(10) The above (wherein the recording layer contains two or more types of dyes)
The optical recording medium according to any one of 1) to 9).

(11)前記反射層上に保護膜を積層した上記(1)な
いしく10)のいずれかに記載の光記録媒体。
(11) The optical recording medium according to any one of (1) to 10 above, wherein a protective film is laminated on the reflective layer.

(12)前記保護膜が、放射線硬化型化合物を放射線硬
化したものである上記(1)ないしく11)のいずれか
に記載の光記録媒体。
(12) The optical recording medium according to any one of (1) to 11), wherein the protective film is made by radiation-curing a radiation-curable compound.

(13)前記保護膜の25℃における鉛筆硬度がH〜8
Hである上記(12)に記載の光記録媒体。
(13) The pencil hardness of the protective film at 25°C is H~8
The optical recording medium according to (12) above, which is H.

(14)前記保護膜の厚さが0.1pm以上である上記
(12)または(13)に記載の光記録媒体。
(14) The optical recording medium according to (12) or (13) above, wherein the protective film has a thickness of 0.1 pm or more.

(15)前記基板の25℃における酸素透過量が5X 
10−”cm”cm−”−s−’・(cmHg)−’以
下である上記(1)ないしく14)のいずれかに記載の
光記録媒体。
(15) The amount of oxygen permeation of the substrate at 25°C is 5X
The optical recording medium according to any one of (1) to 14) above, which has a temperature of 10-"cm"cm-"-s-'.(cmHg)-' or less.

(16)前記記録層と前記反射層との間に、接着層を有
する上記(1)ないしく15)のいずれかに記載の光記
録媒体。
(16) The optical recording medium according to any one of (1) to 15 above, comprising an adhesive layer between the recording layer and the reflective layer.

(17)前記反射層上または前記反射層と前記記録層と
の間に、ジッター防止膜を有する請求項1ないし16の
いずれかに記載の光記録媒体。
(17) The optical recording medium according to any one of claims 1 to 16, further comprising an anti-jitter film on the reflective layer or between the reflective layer and the recording layer.

〈作用〉 本発明の光記録媒体は、ピット部が、記録層材質の分解
物を含有し、かつ基板材質を含有しない材質で形成され
るので、ピット形状が良く、しかも記録・再生時に高い
S/N比が得られ、良好な記録・再生を行うことができ
る。
<Function> In the optical recording medium of the present invention, the pit portion is formed of a material that contains a decomposed product of the recording layer material and does not contain the substrate material, so the pit shape is good and the S is high during recording and reproduction. /N ratio can be obtained, and good recording and reproduction can be performed.

また、ピット部での大きな反射率低下を示すため、CD
プレーヤによる再生を行うことのできる良好な光記録が
可能となる。
In addition, CD
Good optical recording that can be reproduced by a player becomes possible.

〈具体的構成〉 以下、本発明の具体的構成について詳細に説明する。<Specific configuration> Hereinafter, a specific configuration of the present invention will be explained in detail.

第1図には、本発明の光記録媒体lの1例が示される。FIG. 1 shows an example of the optical recording medium l of the present invention.

この光記録媒体1は、基板2上に、色素を含有する記録
層3を有し、記録層3に密着して、反射層4、保護膜5
を形成した密着型のものである。
This optical recording medium 1 has a recording layer 3 containing a dye on a substrate 2, and in close contact with the recording layer 3, a reflective layer 4 and a protective film 5.
It is a close-contact type with a

基板2は、記録光および再生光(600〜900nm程
度、特に700〜800 nm程度の半導体レーザー光
、特に780 nm)に対し、実質的に透明(好ましく
は透過率80%以上)な樹脂あるいはガラスから形成さ
れる。 これにより、基板裏面側からの記録および再生
が可能となる。
The substrate 2 is made of resin or glass that is substantially transparent (preferably transmittance of 80% or more) to recording light and reproduction light (semiconductor laser light of about 600 to 900 nm, especially about 700 to 800 nm, especially 780 nm). formed from. This allows recording and reproduction from the back side of the substrate.

基板2は、通常のサイズのディスク状であって、CDと
して用いる場合、厚さは1.2mm程度、直径は80な
いし120mm程度とする。
The substrate 2 has a disk shape of a normal size, and when used as a CD, has a thickness of about 1.2 mm and a diameter of about 80 to 120 mm.

この場合、基板材質としては、樹脂を用いることが好ま
しく、ポリカーボネート樹脂、アクリル樹脂、アモルフ
ァスポリオレフィン、TPX等の熱可塑性樹脂が好適で
ある。
In this case, it is preferable to use resin as the substrate material, and thermoplastic resins such as polycarbonate resin, acrylic resin, amorphous polyolefin, and TPX are suitable.

これらのうち、25℃における酸素透過量が5x 10
−”cm3cm−2s−’・(cmHg)−’以下のも
のは、耐光性がきわめて高いものとなり好適である。
Of these, the amount of oxygen permeation at 25°C is 5x 10
-"cm3cm-2s-'.(cmHg)-' or less is suitable because it has extremely high light resistance.

このような場合、25℃における酸素透過量が4 x 
10− ” cm’ ・cm−2・s−’ (cmHg
)−以下となると、より一層好ましい結果を得る。 な
お、25℃における酸素透過量は、はぼ0から、上記の
値まで種々の値に設定することができる。
In such a case, the amount of oxygen permeation at 25°C is 4 x
10-” cm'・cm-2・s-' (cmHg
) - or less, even more favorable results are obtained. Note that the oxygen permeation amount at 25° C. can be set to various values from almost 0 to the above value.

酸素透過量は、JIS  Z  1707に準じて測定
すればよい。
The amount of oxygen permeation may be measured according to JIS Z 1707.

より具体的には、酸素透過量Q am”・am−”・S
−−(cmHg) −’および酸素透過係数cm”cm
・cm−”−s−1(cmHg) −’以下は以下によ
り測定される。
More specifically, the oxygen permeation amount Q am”・am−”・S
--(cmHg) −' and oxygen permeability coefficient cm”cm
-cm-"-s-1 (cmHg) -' is measured by the following.

P= (273/T)・(V/A)・jll/p)・(
1/760)・(dh/dt)Q= (273/T) 
(V/A) −(1/p) −(1/760) ・(d
h/dt)ここに、T=298に ■=低圧側の容積(cm″) A:試料透過面積(cIn″) i:基板厚さ(cm、一般にO,12cm)p:酸素圧
力(cmHg) dh/dt:透過曲線の直線部分の勾配(+nmHg−
5−’ )基板の酸素透過量Qを上記のように設定する
には、種々の方法が可能である。
P= (273/T)・(V/A)・jll/p)・(
1/760)・(dh/dt)Q= (273/T)
(V/A) −(1/p) −(1/760) ・(d
h/dt) where, T = 298 ■ = Volume on the low pressure side (cm'') A: Sample permeation area (cIn'') i: Substrate thickness (cm, generally O, 12 cm) p: Oxygen pressure (cmHg) dh/dt: slope of the straight line part of the transmission curve (+nmHg-
5-') Various methods can be used to set the oxygen permeation amount Q of the substrate as described above.

その第1は、基板材質を酸素遮断性のものとする方法で
ある。
The first method is to make the substrate material oxygen-blocking.

このような場合には、必要に応じ各種強化法によって強
化されたガラスを用いればよい。
In such a case, glass strengthened by various strengthening methods may be used as necessary.

あるいは、下記のような樹脂を用いればよい。 なお、
下記においては、代表的な重合度ないし組成での25℃
での酸素透過係数Pが併記される。 従って、これを通
常の厚さ0.12cmで除した値が基体の酸素透過量Q
となる。
Alternatively, the following resins may be used. In addition,
In the following, 25°C at typical polymerization degrees and compositions.
The oxygen permeability coefficient P at is also written. Therefore, the value obtained by dividing this by the normal thickness of 0.12 cm is the oxygen permeation amount Q of the base.
becomes.

1)アモルファスポリオレフィン 環状オレフィン成分と必要に応じエチレン性二重結合成
分との通常ランダム共重合体である環状オレフィン系重
合体(特開昭63−273655号、同63−1146
43号、同63−218727号、同63−24310
8号、同64−31844号等) P= 0.05x 10−”cm”−cm−c+n−”
−s−’1cmHg)−’程度 2)高密度ポリエチレン P=0.4x 10−”c+n”・cnrcm−2s−
” (cmHg) −程度 3)ポリビニルアルコール系 例えばポリビニルアルコール P=0.009x 1O−10cn+3・cmcm−2
−s−’1cmHg)−’程度 エチレン−ビニルアルコール共重合体 P=(10−”−10−’)x 10−”cm3cm−
cm−”s(cmHg) −’程度など 4)ポリ塩化ビニル P=0.05x 10−”cm3cm−cm−”s−’
−(cmHg)−程度 5)ポリ塩化ビニリデン P=0.005x 10− ”cm”−cm−cm−”
−s−’ −(cmHg) −程度 6)ポリアミド 例えばナイロン6 P=0.04X 10−”Cm”−cm−cm−”−s
−’−(cmHg)−’程度など 7)ポリエステル 例えばポリエチレンテレフタレート P=0.04X 10−10cm”−cm−cm−”s
−’・(cmHg)−程度など 8)エポキシ樹脂 等 なお、通常用いられる樹脂基板材質の酸素透過係数Pは
下記のような値である。
1) Cyclic olefin polymer, which is usually a random copolymer of an amorphous polyolefin cyclic olefin component and optionally an ethylenic double bond component (JP-A No. 63-273655, No. 63-1146)
No. 43, No. 63-218727, No. 63-24310
No. 8, No. 64-31844, etc.) P = 0.05x 10-”cm”-cm-c+n-”
-s-'1cmHg)-'degree 2) High-density polyethylene P=0.4x 10-"c+n"・cnrcm-2s-
” (cmHg) - degree 3) Polyvinyl alcohol type e.g. polyvinyl alcohol P=0.009x 1O-10cn+3・cmcm-2
-s-'1cmHg)-'degree ethylene-vinyl alcohol copolymer P=(10-"-10-')x 10-"cm3cm-
cm-"s (cmHg) -' degree etc. 4) Polyvinyl chloride P = 0.05x 10-"cm3cm-cm-"s-'
-(cmHg)-degree 5) Polyvinylidene chloride P=0.005x 10-"cm"-cm-cm-"
-s-' -(cmHg) -degree 6) Polyamide e.g. nylon 6 P=0.04X 10-"Cm"-cm-cm-"-s
-'-(cmHg)-' degree etc. 7) Polyester e.g. polyethylene terephthalate P=0.04X 10-10cm"-cm-cm-"s
8) Epoxy resin, etc. The oxygen permeability coefficient P of commonly used resin substrate materials is as follows.

アクリル樹脂 P=1.2X 10−”c+n3・cm・cm−2s−
”(cmHg)−’程度ポリカーボネート P=(1,5−3)X 10−”cm”cm−cm−”
s−”(cmHg)−’従って、これらでは、1.2m
m厚にて、Qは10x 10−”cm3cm−”s−’
 (cmHg)−’をこえ、耐光性が悪化する。
Acrylic resin P=1.2X 10-”c+n3・cm・cm-2s-
"(cmHg)-' Degree Polycarbonate P=(1,5-3)X 10-"cm"cm-cm-"
s-"(cmHg)-'Therefore, in these, 1.2 m
m thickness, Q is 10x 10-"cm3cm-"s-'
(cmHg)-', the light resistance deteriorates.

次に、第2の態様では、基板材質として、アクリル樹脂
や、ポリカーボネート等の酸素透過性のもを用いる。
Next, in the second embodiment, an oxygen permeable material such as acrylic resin or polycarbonate is used as the substrate material.

そして、外表面、内表面の少なくとも一方と、必要に応
じ、内・外周面に酸素遮断性の被膜を形成する。
Then, an oxygen-blocking film is formed on at least one of the outer surface, the inner surface, and, if necessary, the inner and outer peripheral surfaces.

酸素遮断性膜材質としては、前記の低酸素透過係数樹脂
材質の塗膜やスパッタ膜、プラズマ重合膜等が挙げられ
る。
Examples of the oxygen-blocking film material include coating films, sputtered films, and plasma polymerized films made of the aforementioned low oxygen permeability coefficient resin materials.

また、各種ガラス、透明無機材質等の気相成表膜も好適
である。
Further, vapor-phase surface films of various glasses, transparent inorganic materials, etc. are also suitable.

これら酸素遮断性膜は前記のQが得られるような膜厚に
設層される。
These oxygen-barrier films are formed to have a thickness such that the above-mentioned Q can be obtained.

基板2の記録1i3形成面には、トラッキング用のグル
ープが形成されることが好ましい。
It is preferable that a group for tracking is formed on the surface of the substrate 2 on which the recording 1i3 is formed.

グループは、スパイラル状の連続型グループであること
が好ましく、深さは250〜1800人、幅は0.3〜
1.1戸、特に0.4〜0.6−、ランド(隣り合うグ
ループ同士の間の部分)幅は0.5〜1.3−1特に1
.0〜1.2−であることが好ましい。
The group is preferably a continuous spiral group, with a depth of 250 to 1800 people and a width of 0.3 to 1,800 people.
1.1 house, especially 0.4 to 0.6-, land (the part between adjacent groups) width is 0.5 to 1.3-1, especially 1
.. It is preferably 0 to 1.2-.

グループをこのような構成とすることにより、グループ
部の反射レベルを下げることな(良好なトラッキング信
号を得ることができる。
By configuring the group in this way, it is possible to obtain a good tracking signal without lowering the reflection level of the group portion.

なお、グループには、アドレス信号用の凹凸を設けるこ
ともできる。
Incidentally, the group can also be provided with concavities and convexities for address signals.

本発明では、基板がグループを有する場合、記録光はグ
ループ内の記録層に照射されるよう構成されることが好
ましい。 すなわち、本発明の光記録媒体は、グループ
記録の光記録媒体として用いられることが好ましい。 
グループ記録とすることにより、記録層の有効厚さを大
きくすることができる。
In the present invention, when the substrate has groups, it is preferable that the recording light be configured to irradiate the recording layer within the group. That is, the optical recording medium of the present invention is preferably used as an optical recording medium for group recording.
By performing group recording, the effective thickness of the recording layer can be increased.

また、基板2上に図示しない樹脂層を例えば2P法によ
り設層して、樹脂層にトラッキング用の溝やアドレス信
号用の凹凸を設けてもよい。
Further, a resin layer (not shown) may be formed on the substrate 2 by, for example, the 2P method, and the resin layer may be provided with grooves for tracking and irregularities for address signals.

樹脂層を構成する樹脂材質に特に制限はなく、いわゆる
2P法に用いられる公知の樹脂から適宜に選択すればよ
いが、通常、放射線硬化型化合物が用いられる。
The resin material constituting the resin layer is not particularly limited and may be appropriately selected from known resins used in the so-called 2P method, but radiation-curable compounds are usually used.

記録層3は、1種あるいは2種以上の色素を相溶して形
成される。
The recording layer 3 is formed by mixing one or more types of dyes.

記録層3の記録光および再生光波長における消衰係数(
複素屈折率の虚部)kは、0.03〜0.25であるこ
とが好ましい。
Extinction coefficient (
The imaginary part (k) of the complex refractive index is preferably 0.03 to 0.25.

kが0.03未満となると記録層の吸収率が低下し、通
常の記録パワーで記録を行うことが困難である。
When k is less than 0.03, the absorption rate of the recording layer decreases, making it difficult to perform recording with normal recording power.

また、kが0.25をこえると、反射率が60%を下回
ってしまい、CD規格による再生を行うことが困難であ
る。
Furthermore, if k exceeds 0.25, the reflectance will fall below 60%, making it difficult to perform reproduction according to the CD standard.

この場合、kが0.04〜0.20、特に0.05〜0
.15であると、きわめて好ましい結果をつる。
In this case, k is 0.04 to 0.20, especially 0.05 to 0
.. A value of 15 gives extremely favorable results.

また、屈折率(複素屈折率の実部)nは、1.8〜4.
0、より好ましくは、2.2〜3.3であることが好ま
しい。
Further, the refractive index (real part of the complex refractive index) n is 1.8 to 4.
0, more preferably 2.2 to 3.3.

n<1.8では反射率が低下し、CD規格による再生が
困難となる傾向にある。 また、n>4.0とするため
には、原料色素の入手が難しい。
When n<1.8, the reflectance decreases and reproduction according to the CD standard tends to become difficult. Moreover, in order to make n>4.0, it is difficult to obtain raw material pigments.

用いる光吸収性の色素としては、吸収極大が600〜9
00nm、好ましくは600〜800nm、より好まし
くは650〜750nI11であれば、他に特に制限は
ないが、シアニン系、フタロシアニン系、ナフタロシア
ニン系、アントラキノン系、アゾ系、トリフェニルメタ
ン系、ビリリウムないしチアピリリウム塩系、スクワリ
ノウム系、クロコニウム系、金属錯体色素系等の1種な
いし2種以上が好ましい。
The light-absorbing dye used has an absorption maximum of 600 to 9
00nm, preferably 600 to 800nm, more preferably 650 to 750nI11, there are no particular limitations, but cyanine, phthalocyanine, naphthalocyanine, anthraquinone, azo, triphenylmethane, biryllium or thiapyrylium One or more of salt-based, squalinium-based, croconium-based, and metal complex dye-based dyes are preferred.

シアニン色素としては、インドレニン環、特にベンゾイ
ンドレニン環を有するシアニン色素であることが好まし
い。
The cyanine dye is preferably a cyanine dye having an indolenine ring, particularly a benzindolenine ring.

また、光吸収色素にクエンチャ−を混合してもよい。 
さらに、色素カチオンとクエンチャ−アニオンとのイオ
ン結合体を光吸収色素として用いてもよい。
Furthermore, a quencher may be mixed with the light-absorbing dye.
Furthermore, an ionic combination of a dye cation and a quencher anion may be used as a light-absorbing dye.

クエンチャ−としては、アセチルアセトナート系、ビス
ジチオ−α−ジケトン系やビスフエニルジチオール系な
どのビスジチオール系、チオカテコール系、サリチルア
ルデヒドオキシム系、チオビスフェルレート系等の金属
錯体が好ましい。
As the quencher, metal complexes such as acetylacetonate, bisdithiol such as bisdithio-α-diketone and bisphenyldithiol, thiocatechol, salicylaldehyde oxime, and thiobisferrate are preferred.

また、窒素のラジカルカチオンを有するアミン系化合物
やヒンダードアミン等のアミン系のクエンチャ−も好適
である。
Also suitable are amine quenchers such as amine compounds having nitrogen radical cations and hindered amines.

結合体を構成する色素としては、インドレニン環を有す
るシアニン色素が、またクエンチャ−としてはビスフエ
ニルジチオール金属錯体等の金属錯体色素が好ましい。
The dye constituting the bond is preferably a cyanine dye having an indolenine ring, and the quencher is preferably a metal complex dye such as a bisphenyldithiol metal complex.

好ましい色素、クエンチャ−1結合体の詳細については
特開昭59−24692号、同59−55794号、同
59−55795号、同59−81194号、同59−
83695号、同60−18387号、同60−19 
’586号、同60−19587号、同60−3505
4号、同60−36190号、同60−36191号、
同60−44554号、同60−44555号、同60
−44389号、同6〇−44390号、同60−47
069号、同60−20991号、同60−71294
号、同60−54892号、同60−71295号、同
60−71296号、同60−73891号、同60−
73892号、同60−73893号、同60−838
92号、同60−85449号、同60−92893号
、同60−159087号、同60−162691号、
同60−203488号、同60−201988号、同
60−234886号、同60−234892号、同6
1−16894号、同61−11292号、同61−1
1294号、同61−16891号、同61−8384
号、同61−14988号、同61−163243号、
同61−210539号、特願昭60−54013号、
特開昭62−30088号、同62−32132号、同
62−31792号、CMCMC出版機能性色素の化学
」P74〜76等に記載されている。
For details of preferred dyes and quencher-1 conjugates, see JP-A Nos. 59-24692, 59-55794, 59-55795, 59-81194, and 59-59.
No. 83695, No. 60-18387, No. 60-19
'586, '60-19587, '60-3505
No. 4, No. 60-36190, No. 60-36191,
No. 60-44554, No. 60-44555, No. 60
-44389, 60-44390, 60-47
No. 069, No. 60-20991, No. 60-71294
No. 60-54892, No. 60-71295, No. 60-71296, No. 60-73891, No. 60-
No. 73892, No. 60-73893, No. 60-838
No. 92, No. 60-85449, No. 60-92893, No. 60-159087, No. 60-162691,
No. 60-203488, No. 60-201988, No. 60-234886, No. 60-234892, No. 6
No. 1-16894, No. 61-11292, No. 61-1
No. 1294, No. 61-16891, No. 61-8384
No. 61-14988, No. 61-163243,
No. 61-210539, Japanese Patent Application No. 60-54013,
They are described in JP-A-62-30088, JP-A 62-32132, JP-A 62-31792, and ``Chemistry of Functional Dyes'' published by CMCMC, pages 74 to 76.

なお、クエンチャ−は、光吸収色素と別個に添加しても
、結合体の形で添加してもよいが、光吸収色素の総計の
1モルに対し1モル以下、特に0.05〜0.5モル程
度添加することが好ましい。
The quencher may be added separately from the light-absorbing dye or in the form of a conjugate, but the quencher may be added in an amount of 1 mol or less, particularly 0.05 to 0.05 mol, per 1 mol of the total light-absorbing dye. It is preferable to add about 5 mol.

これにより耐光性はより一層改善される。This further improves light resistance.

本発明では、上記のような光吸収性の色素、色素−クエ
ンチャ−混合物、色素−クエンチャ−結合体から上記範
囲のnおよびkを有するものを選択するか、あるいは新
たに分子設計を行ない合成することもできる。
In the present invention, a light-absorbing dye, a dye-quencher mixture, and a dye-quencher conjugate having n and k within the above range is selected from the above-mentioned light-absorbing dyes, dye-quencher mixtures, and dye-quencher conjugates, or a new molecular design is performed and synthesized. You can also do that.

なお、色素の記録光および再生光に対するkは、その骨
格や置換基によりO〜2程度まで種々変化しているため
、例えばkが0.03〜0.25の色素を選定するに際
しては、その骨格や置換基に制限がある。 このため、
塗布溶媒に制限を生じたり、基板材質によっては塗工で
きないこともある。 あるいは気相成膜できないことも
ある。 また、新たに分子設計を行なう場合、設計およ
び合成に大きな労力を必要とする。
Note that the k of dyes for recording light and reproduction light varies widely depending on their skeletons and substituents, ranging from about 0 to 2. For example, when selecting a dye with k of 0.03 to 0.25, it is important to There are restrictions on the skeleton and substituents. For this reason,
There may be restrictions on the coating solvent, or coating may not be possible depending on the substrate material. Alternatively, vapor phase film formation may not be possible. Furthermore, when designing a new molecule, a large amount of effort is required for design and synthesis.

一方、本発明者らの実験によれば、2種以上の色素を含
有する混合色素層のkは、用いる各色素単独から構成さ
れる色素層のkに応じ、その混合比にほぼ対応する値に
なることが判明した。 従って、本発明では、記録層3
は2種以上の色素を相溶して形成されてもよい。
On the other hand, according to the experiments conducted by the present inventors, the value k of a mixed dye layer containing two or more types of dyes corresponds to the k value of a dye layer composed of each dye used alone, and approximately corresponds to the mixing ratio thereof. It turned out to be. Therefore, in the present invention, the recording layer 3
may be formed by dissolving two or more types of dyes.

この際、はとんどの色素の混合系で混合比にほぼ比例し
たkがえられるものである。 すなわち、1種の色素の
混合分率およびkをそれぞれC1およびkiとしたとき
、kは、はぼΣC1kiとなる。 従って、kの異なる
色素同士を混合比を制御して混合することにより、k=
0.03〜0.25の色素Mを得ることができる。 こ
のため、きわめて広い範囲の色素群の中から用いる色素
を選択することができる。
At this time, in most dye mixing systems, k can be obtained that is approximately proportional to the mixing ratio. That is, when the mixing fraction of one type of dye and k are respectively C1 and ki, k becomes approximately ΣC1ki. Therefore, by mixing dyes with different k values by controlling the mixing ratio, k=
A dye M of 0.03 to 0.25 can be obtained. Therefore, the dye to be used can be selected from a very wide range of dye groups.

このことは、波長依存性の改善にも適用できる。 半導
体レーザーの波長は通常±10nmの範囲にあり、市販
のCDプレーヤにおいては、770から790nmの範
囲で反射率を70%以上に確保する必要がある。 一般
に色素のに値は大きな波長依存性をもつものが多く、7
80r+mでは適切な値であっても、770あるいは7
90 nmでは太き(はずれてしまう場合が多い。 こ
のような場合には、第二の色素を混合することによって
、780±10nmの範囲で常に適切なnおよびに値が
得られるように設定することができる。
This can also be applied to improving wavelength dependence. The wavelength of a semiconductor laser is usually in the range of ±10 nm, and in a commercially available CD player, it is necessary to ensure a reflectance of 70% or more in the range of 770 to 790 nm. In general, the value of dyes often has a strong wavelength dependence, and 7
Even if 80r+m is an appropriate value, 770 or 7
At 90 nm, it is too thick (it often deviates). In such cases, by mixing a second dye, set so that appropriate n and values are always obtained within the range of 780 ± 10 nm. be able to.

この結果、塗布溶媒等の制約など成膜法に制限はなくな
り、また、合成が容易で安価な色素の使用や、特性の良
好な色素の使用や、難溶性の色素の使用をも可能とする
ことができる。
As a result, there are no restrictions on film-forming methods such as restrictions on coating solvents, etc., and it is also possible to use dyes that are easy to synthesize and are inexpensive, dyes with good properties, and dyes that are poorly soluble. be able to.

記録層3を混合色素層とする場合、用いる色素は、n=
1.6〜6.5、k=0〜2の範囲内のものから選択す
ればよい。
When the recording layer 3 is a mixed dye layer, the dye used is n=
It may be selected from the ranges of 1.6 to 6.5 and k=0 to 2.

なお、nおよびkの測定に際しては、所定の透明基板上
に記録層を例えば400〜800人程度の厚さ度量際の
条件にて設層して、測定サンプルを作製する。 次いで
、基板を通しての、あるいは記録層側からの反射率を測
定する。 反射率は記録再生光波長を用いて鏡面反射(
5°程度)にて測定する。 また、サンプルの透過率を
測定する。 これらの測定値から、例えば、弁室全書「
光学」石黒浩三P168〜178に準じ、n、kを算出
すればよい。
In addition, when measuring n and k, a measurement sample is prepared by depositing a recording layer on a predetermined transparent substrate under the conditions of a thickness measurement of, for example, about 400 to 800 people. Next, the reflectance through the substrate or from the recording layer side is measured. The reflectance is measured by specular reflection (
5°). Also, measure the transmittance of the sample. From these measurements, for example, the Valve Chamber Complete Book “
n and k may be calculated according to "Optics" by Kozo Ishiguro, pp. 168-178.

このような記録層3の厚さは、500〜2000人とす
ることが好ましい。 この範囲外では反射率が低下して
、CD規格の再生を行うことが難しくなる。
The thickness of such a recording layer 3 is preferably 500 to 2000. Outside this range, the reflectance decreases, making it difficult to perform reproduction in accordance with the CD standard.

記録層3の設層方法に特に制限はないが、本発明では、
色素選択や、媒体設計や、製造上の自由度や容易さがよ
り拡大する点で、塗布によって設層することが好ましい
Although there is no particular restriction on the method of forming the recording layer 3, in the present invention,
It is preferable to apply the layer by coating, since the flexibility and ease of dye selection, medium design, and manufacturing are expanded.

記録層3の塗設には、ケトン系、エステル系、エーテル
系、芳香族系、ハロゲン化アルキル系、アルコール系等
の各種溶媒を用いることができ、溶媒選択の自由度も大
きい。 塗布には、スピンコード等を用いればよい。
For coating the recording layer 3, various solvents such as ketone, ester, ether, aromatic, halogenated alkyl, and alcohol solvents can be used, and there is a great degree of freedom in solvent selection. For application, a spin cord or the like may be used.

記録層3は、色素の蒸着膜によって形成されてもよい。The recording layer 3 may be formed of a dye deposited film.

この場合の色素は、フタロシアニン系、ナフタロシアニ
ン系、アントラキノン系、アゾ系、トリフェニルメタン
系、ビリリウムないしチアピリリウム塩系、スクワリリ
ウム系、クロコニウム系、金属錯体色素系等の昇華性の
色素を用いるのがよ(、特に、フタロシアニン系、ナフ
タロシアニン系の色素を用いることが好ましい。
In this case, sublimable dyes such as phthalocyanine-based, naphthalocyanine-based, anthraquinone-based, azo-based, triphenylmethane-based, biryllium or thiapyrylium salt-based, squarylium-based, croconium-based, and metal complex dyes are used. In particular, it is preferable to use phthalocyanine-based and naphthalocyanine-based dyes.

このような昇華性の色素を用いることによって、ピット
形状が良好となり、ジッターが減少することもある。
By using such a sublimable dye, the pit shape may be improved and jitter may be reduced.

このような記録層3には、直接密着して反射層4が設層
される。
A reflective layer 4 is provided in direct contact with such a recording layer 3.

反射層4としては、Au、A4Mg合金、A(2N i
合金、Ag、PtおよびCu等の高反射率金属を用いれ
ばよいが、これらのうちでは反射率が特に高いことから
Au、Al2Mg合金およびAj2N i合金のいずれ
かを用いることが好ましい。 なお、Al2Mg合金中
のMg含有率は3〜7wt%程度が好ましい。 また、
AρNi合金中のNi含有率は3〜4wt%程度が好ま
しい。
As the reflective layer 4, Au, A4Mg alloy, A(2N i
Although high reflectance metals such as alloys, Ag, Pt, and Cu may be used, it is preferable to use one of Au, Al2Mg alloy, and Aj2Ni alloy because the reflectance is particularly high among these metals. Note that the Mg content in the Al2Mg alloy is preferably about 3 to 7 wt%. Also,
The Ni content in the AρNi alloy is preferably about 3 to 4 wt%.

反射層4の厚さは500Å以上であることが好ましく、
蒸着、スパッタ等により設層すればよい。 また、厚さ
の上限に特に制限はないが、コスト、生産作業時間等を
考慮すると、1000人程度量下であることが好ましい
The thickness of the reflective layer 4 is preferably 500 Å or more,
The layer may be formed by vapor deposition, sputtering, or the like. There is no particular limit to the upper limit of the thickness, but in consideration of cost, production time, etc., it is preferably about 1000 people or less.

これにより、媒体の未記録部の基板をとおしての反射率
は、60%以上、特に70%以上かえられる。
As a result, the reflectance of the unrecorded portion of the medium through the substrate can be changed by 60% or more, particularly 70% or more.

反射層4上には、保護膜5が設層される。A protective film 5 is provided on the reflective layer 4 .

保護膜5は、例えば紫外線硬化樹脂等の各種樹脂材質か
ら、通常は、0.1〜100μ程度の厚さに設層すれば
よい。 保護膜5は、層状であってもシート状であって
もよい。
The protective film 5 may be formed of various resin materials such as ultraviolet curing resin, and usually has a thickness of about 0.1 to 100 μm. The protective film 5 may be in the form of a layer or a sheet.

保護膜5は、特に放射線硬化型化合物および光重合増感
剤を含有する塗膜を放射線硬化したものであることが好
ましい。
The protective film 5 is preferably one obtained by radiation-curing a coating film containing a radiation-curable compound and a photopolymerization sensitizer.

そして、保護膜5の硬度が、25℃における鉛筆硬度(
JIS  K−5400)で、H〜8H,特に2H〜7
Hであるように構成されることが好ましい。
The hardness of the protective film 5 is the pencil hardness at 25°C (
JIS K-5400), H~8H, especially 2H~7
Preferably, it is configured such that H.

このように構成することにより、ジッターが格段と減少
する。
With this configuration, jitter is significantly reduced.

また、高温・高温あるいは温湿度変化条件下の保存にお
いても、保護膜と反射層との剥離が生じない。
In addition, the protective film and the reflective layer do not peel off even when stored under high temperature/high temperature or changing temperature/humidity conditions.

より具体的には、保護膜の硬度がHより軟らかいとジッ
ターが増大し、8Hより硬くなると塗膜かもろ(なり膜
形成能が低下する他、反射層との接着力が低下する。
More specifically, if the hardness of the protective film is softer than H, the jitter will increase, and if it is harder than 8H, the coating will become brittle (film-forming ability will be reduced, and the adhesive force with the reflective layer will be reduced).

このような保護膜形成に用いる放射線硬化型化合物には
、オリゴエステルアクリレートが含まれることが好まし
い。
The radiation-curable compound used to form such a protective film preferably contains oligoester acrylate.

オリゴエステルアクリレートは、アクリレート基または
メタクリレート基を複数有するオリゴエステル化合物で
ある。 そして好ましいオリゴステルアクリレートとし
ては、分子量1000〜10000、好ましくは200
0〜7000であって、重合度2〜10、好ましくは、
3〜5のものが挙げられる。 また、これらのうちアク
リレート基またはメタクリレート基を2〜6個、好まし
くは3〜6個有する多官能オリゴエステルアクリレート
が好ましい。
Oligoester acrylate is an oligoester compound having multiple acrylate groups or methacrylate groups. The preferred oligoster acrylate has a molecular weight of 1,000 to 10,000, preferably 200
0 to 7000, and the degree of polymerization is 2 to 10, preferably
3 to 5 are listed. Among these, polyfunctional oligoester acrylates having 2 to 6, preferably 3 to 6 acrylate groups or methacrylate groups are preferred.

多官能オリゴエステルアクリレートとしてはアロニック
スM−7100、M−5400、M−5500、M−5
700、M−6250、M−6500、M−8030、
M−8060、M−8100等(東亜合成化学社製)と
して市販されているものを用いることができ、これらは
下記式(A)   (B)で示されるものである。
As polyfunctional oligoester acrylate, Aronix M-7100, M-5400, M-5500, M-5
700, M-6250, M-6500, M-8030,
Commercially available products such as M-8060 and M-8100 (manufactured by Toagosei Kagaku Co., Ltd.) can be used, and these are shown by the following formulas (A) and (B).

(A) (B) A−(−M−N−)−、−M−A Aニアクリレート基またはメタクリレート基、 M:2
価アルコール(例えば、エチレングリコール、ジエチレ
ングリコール、1.6−ヘキサングリコール、ビスフェ
ノールA等)残基、N:2塩基酸(例えば、テレフタル
酸、イソフタル酸、アジピン酸、コハク酸等)残基、n
:1〜IO1好ましくは2〜5 これらのうちでは、(A)で示されるものが好ましい。
(A) (B) A-(-M-N-)-, -M-A A near acrylate group or methacrylate group, M:2
alcohol (e.g., ethylene glycol, diethylene glycol, 1,6-hexane glycol, bisphenol A, etc.) residue, N: dibasic acid (e.g., terephthalic acid, isophthalic acid, adipic acid, succinic acid, etc.) residue, n
:1 to IO1, preferably 2 to 5 Among these, those represented by (A) are preferred.

このようなオリゴエステルアクリレートは単独で使用し
てもよい。
Such oligoester acrylates may be used alone.

また、他の放射線硬化型化合物を併用してもよい。 そ
のような場合、オリゴエステルアクリレートは、放射線
硬化型化合物中20wt%以上存在することが好ましい
Further, other radiation-curable compounds may be used in combination. In such a case, the oligoester acrylate is preferably present in an amount of 20 wt% or more in the radiation-curable compound.

上記のオリゴエステルアクリレートには、他の放射線硬
化型化合物を併用することができ、このようなものとし
ては、イオン化エネルギーに感応し、ラジカル重合性を
示す不飽和二重結合を有するアクリル酸、メタクリル酸
、あるいはそれらのエステル化合物のようなアクリル系
二重結合、ジアリルフタレートのようなアリル系二重結
合、マレイン酸、マレイン酸誘導体等の不飽和二重結合
等の放射線照射による架橋あるいは重合する基を分子中
に含有または導入したモノマー、オリゴマーおよびポリ
マー等を挙げることができる。 これらは多官能、特に
3官能以上であることが好ましい。
The above oligoester acrylate can be used in combination with other radiation-curable compounds, such as acrylic acid, methacrylic acid, which has an unsaturated double bond that is sensitive to ionization energy and exhibits radical polymerizability. Acrylic double bonds such as acids or their ester compounds, allylic double bonds such as diallyl phthalate, unsaturated double bonds such as maleic acid and maleic acid derivatives, and groups that can be crosslinked or polymerized by radiation irradiation. Examples include monomers, oligomers, and polymers containing or introducing into the molecule. These are preferably polyfunctional, particularly trifunctional or more functional.

放射線硬化型モノマーとしては、分子量2000未満の
化合物が、オリゴマーとしては分子量2000〜100
00のものが用いられる。
As a radiation-curable monomer, a compound with a molecular weight of less than 2000 is used, and as an oligomer, a compound with a molecular weight of 2000 to 100 is used.
00 is used.

これらはスチレン、エチルアクリレート、エチレングリ
コールジアクリレート、エチレングリコールジメタクリ
レート、ジエチレングリコールジアクリレート、ジエチ
レングリコールメタクリレート、1.6−ヘキサングリ
コールジアクリレート、1.6−ヘキサングリコールジ
アクリレート等も挙げられるが、特に好ましいものとし
ては、ペンタエリスリトールテトラアクリレート (メ
タクリレート)、ペンタエリスリトールアクリレート 
(メタクリレート)、トリメチロールプロパントリアク
リレート(メタクリレート)、トリメチロールプロパン
ジアクリレート(メタクリレート)、ウレタンエラスト
マーにツボラン4040)のアクリル変性体、あるいは
これらのものにC0OH等の官能基が導入されたもの、
フェノールエチレンオキシド付加物のアクリレート(メ
タクリレート)、下記一般式で示されるペンタエリスリ
トール縮合環にアクリル基(メタクリル基)またはε−
カプロラクトン−アクリル基のついた化合物、 ■) (CH,=CHC00H2)、−CCH,OH(特殊ア
クリレートA) 2) (CH2=CHCOOH2)s  CCH20Hs(特
殊アクリレートB) 3) [CH2=CH0C(OC3Ha)、 −0CH2] 
! −CCH2CH。
These include styrene, ethyl acrylate, ethylene glycol diacrylate, ethylene glycol dimethacrylate, diethylene glycol diacrylate, diethylene glycol methacrylate, 1,6-hexane glycol diacrylate, 1,6-hexane glycol diacrylate, etc., but particularly preferred ones are as pentaerythritol tetraacrylate (methacrylate), pentaerythritol acrylate
(methacrylate), trimethylolpropane triacrylate (methacrylate), trimethylolpropane diacrylate (methacrylate), acrylic modified products of urethane elastomer (Tuboran 4040), or those into which functional groups such as C0OH are introduced,
Acrylate (methacrylate) of phenol ethylene oxide adduct, an acrylic group (methacrylic group) or ε-
Caprolactone - Compound with acrylic group, ■) (CH,=CHC00H2), -CCH,OH (special acrylate A) 2) (CH2=CHCOOH2)s CCH20Hs (special acrylate B) 3) [CH2=CH0C(OC3Ha) , -0CH2]
! -CCH2CH.

(特殊アクリレートC) (特殊アクリレートD) (特殊アクリレートE) ■ CH2CHa COOCH=CH。(Special acrylate C) (Special acrylate D) (Special acrylate E) ■ CH2CHa COOCH=CH.

(特殊アクリレートF) 式中、m=1、a=2、b=4の化合物(以下、特殊ペ
ンタエリスリトール縮合物Aという)、 m=1、a=3、b=3の化合物(以下、特殊ペンタエ
リスリトール縮合物Bという)、m=1、a=6、b=
oの化合物(以下、特殊ペンタエリスリトール縮合物C
という)、m=2、a=6、b=oの化合物(以下、特
殊ペンタエリスリトール縮合物りという)、および下記
一般式で示される特殊アクリレート類等が挙げられる。
(Special acrylate F) In the formula, a compound where m = 1, a = 2, b = 4 (hereinafter referred to as special pentaerythritol condensate A), a compound where m = 1, a = 3, b = 3 (hereinafter referred to as special pentaerythritol condensate A), Pentaerythritol condensate B), m=1, a=6, b=
o compound (hereinafter referred to as special pentaerythritol condensate C
), m = 2, a = 6, b = o (hereinafter referred to as special pentaerythritol condensate), and special acrylates represented by the following general formula.

(n中16) CH2COOCH=CH2 (特殊アクリレートG) 8) CH2=CHCOO−(CH,CH,O) 4COCH
=CH2 (特殊アクリレートH) 9) CH,CH2COOCH=CH。
(16 in n) CH2COOCH=CH2 (Special Acrylate G) 8) CH2=CHCOO-(CH,CH,O) 4COCH
=CH2 (special acrylate H) 9) CH, CH2COOCH=CH.

(特殊アクリレートエ) 10) (特殊アクリレートJ) また、放射線硬化型オリゴマーとしては、ウレタンエラ
ストマーのアクリル変性体、あるいはこれらのものにC
0OH等の官能基が導入されたもの等が挙げられる。
(Special Acrylate J) 10) (Special Acrylate J) In addition, as radiation-curable oligomers, acrylic modified products of urethane elastomers or C
Examples include those into which a functional group such as 0OH is introduced.

また、上記の化合物に加えて、あるいはこれにかえで熱
可塑性樹脂を放射線感応変性することによって得られる
放射線硬化型化合物を用いてもよい。
Furthermore, in addition to or in place of the above-mentioned compounds, a radiation-curable compound obtained by radiation-sensitizing a thermoplastic resin may be used.

このような放射線硬化性樹脂の具体例としては、ラジカ
ル重合性を示す不飽和二重結合を有するアクリル酸、メ
タクリル酸、あるいはそれらのエステル化合物のような
アクリル系二重結合、ジアリルフタレートのようなアリ
ル系二重結合、マレイン酸、マレイン酸誘導体等の不飽
和結合等の、放射線照射による架橋あるいは重合する基
を熱可塑性樹脂の分子中に含有、または導入した樹脂で
ある。
Specific examples of such radiation-curable resins include acrylic acid, methacrylic acid, or acrylic double bonds such as ester compounds thereof, which have unsaturated double bonds exhibiting radical polymerizability, and diallylphthalate. It is a thermoplastic resin in which groups that can be crosslinked or polymerized by radiation irradiation, such as allylic double bonds and unsaturated bonds such as maleic acid and maleic acid derivatives, are contained or introduced into the molecule of the thermoplastic resin.

放射線硬化性樹脂に変性できる熱可塑性樹脂の例として
は、塩化ビニル系共重合体、飽和ポリニスルチル樹脂、
ポリビニルアルコール系樹脂、エポキシ系樹脂、フェノ
キシ系樹脂、繊維素誘導体等を挙げることができる。
Examples of thermoplastic resins that can be modified into radiation-curable resins include vinyl chloride copolymers, saturated polyvinyl sulfate resins,
Examples include polyvinyl alcohol resins, epoxy resins, phenoxy resins, cellulose derivatives, and the like.

その他、放射線感応変性に用いることのできる樹脂とし
ては、多官能ポリエステル樹脂、ポリエーテルエステル
樹脂、ポリビニルピロリドン樹脂および誘導体(PVP
オレフィン共重合体)、ポリアミド樹脂、ポリイミド樹
脂、フェノール樹脂、スピロアセタール樹脂、水酸基を
含有するアクリルエステルおよびメタクリルエステルを
重合成分として少くとも一種含むアクリル系樹脂等も有
効である。
Other resins that can be used for radiation sensitivity modification include polyfunctional polyester resins, polyether ester resins, polyvinylpyrrolidone resins, and derivatives (PVP
Also effective are acrylic resins containing at least one of olefin copolymers), polyamide resins, polyimide resins, phenol resins, spiroacetal resins, hydroxyl group-containing acrylic esters, and methacrylic esters as polymerization components.

このような放射線硬化型化合物の保護膜の膜厚は0.1
〜30μs、より好ましくは1〜10−である。
The thickness of the protective film of such a radiation-curable compound is 0.1
~30 μs, more preferably 1 to 10−.

この膜厚が0.1−未満になると、−様な膜を形成しに
く(、湿度が高い雰囲気中での防湿効果が十分でな(、
記録層の耐久性が下がる。
If the film thickness is less than 0.1, it will be difficult to form a -like film (and the moisture-proofing effect will not be sufficient in a humid atmosphere).
The durability of the recording layer decreases.

しかも、ジッター防止効果が低下する。Moreover, the jitter prevention effect is reduced.

また、30−をこえると、樹脂膜の硬化の際に伴う収縮
により記録媒体の反りや保護膜中のクラックが生じやす
い。
If it exceeds 30, the recording medium is likely to warp or cracks may occur in the protective film due to shrinkage during curing of the resin film.

このような塗膜は、通常、スピンナーコート、グラビア
塗布、スプレーコート、ディッピング等、種々の公知の
方法を組み合わせて設層すればよい。 この時の塗膜の
設層条件は、塗膜組成の混合物の粘度、目的とする塗膜
厚さ等を考慮して適宜決定すればよい。
Such a coating film may usually be formed by combining various known methods such as spinner coating, gravure coating, spray coating, and dipping. The conditions for forming the coating film at this time may be appropriately determined in consideration of the viscosity of the mixture of coating film composition, the intended coating thickness, etc.

本発明において塗膜に照射する放射線としては、紫外線
、電子線等が挙げられるが、紫外線が好ましい。
In the present invention, the radiation irradiated onto the coating film includes ultraviolet rays, electron beams, etc., but ultraviolet rays are preferred.

紫外線を用いる場合には、前述したような放射線硬化型
化合物の中には、通常、光重合増感剤が加えられる。
When ultraviolet rays are used, a photopolymerizable sensitizer is usually added to the radiation-curable compound as described above.

本発明に用いる光重合増感剤としては、下記一般式(I
)で表わされる化合物が好ましい。 このものを、多官
能オリゴエステルアクリレートと用いることにより、前
記の硬度が容易に得られ、膜物性も良好となる。
The photopolymerization sensitizer used in the present invention has the following general formula (I
) are preferred. By using this material with polyfunctional oligoester acrylate, the above-mentioned hardness can be easily obtained and the film properties can also be improved.

そして、接着剤層との剥離も少な(なり、耐久性、耐湿
性も良好となる。
Furthermore, there is less peeling from the adhesive layer, and durability and moisture resistance are also improved.

般式(I) n 上記一般式(I)において、Rは炭素数1〜4の置換も
しくは非置換のアルキル基、例えばメチル基、エチル基
、プロピル基、ブチル基等を表わし、なかでもメチル基
、エチル基等が好ましい。
General formula (I) n In the above general formula (I), R represents a substituted or unsubstituted alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, etc., especially a methyl group. , ethyl group, etc. are preferred.

Lは炭素数1〜3の置換もしくは非置換のアルキレン基
、例えば−CH2 H3 等を表わし、なかでも H3 一 H3 が好ましい。
L represents a substituted or unsubstituted alkylene group having 1 to 3 carbon atoms, such as -CH2H3, and H3-H3 is particularly preferred.

Yは、複素環基、例えばモルホリノ基、2モルホリニル
基、  ピペリジノ基、4−ピペリジニル基、2−ピリ
ジル基、2−キノリル基、■−ピロリジニル基、1−ピ
ロリル基、2−チエニル基、2−フリル基等を表わし、
なかでもモルホリノ基が好ましい。
Y is a heterocyclic group, such as a morpholino group, a 2-morpholinyl group, a piperidino group, a 4-piperidinyl group, a 2-pyridyl group, a 2-quinolyl group, a -pyrrolidinyl group, a 1-pyrrolyl group, a 2-thienyl group, a 2- Represents a furyl group, etc.
Among these, a morpholino group is preferred.

R3−は、一般式(I)中のベンゼン環の置換可能ない
ずれの位置でベンゼン環と結合してもよいが、 1 −L−Y の2位であることが好ましい。
Although R3- may be bonded to the benzene ring at any substitutable position of the benzene ring in general formula (I), it is preferably the 2-position of 1 -L-Y.

本発明において、一般式(I)で表わされる化合物のう
ちで、最も好ましいものは以下のものである。
In the present invention, among the compounds represented by general formula (I), the following are most preferred.

化合物A この化合物Aは、I RGACURE907(日本チバ
ガイギー社製)として市販されているものである。
Compound A This compound A is commercially available as I RGACURE907 (manufactured by Ciba Geigy, Japan).

一般式(I)で表わされる化合物は、放射線硬化の際光
重合開始剤ないし光重合増感剤として作用するものであ
る。
The compound represented by the general formula (I) acts as a photopolymerization initiator or photopolymerization sensitizer during radiation curing.

このような化合物の有機保護コート層における含有量は
、0.1〜20wt%、好ましくは1〜10wt%とす
るのがよい。
The content of such a compound in the organic protective coating layer is preferably 0.1 to 20 wt%, preferably 1 to 10 wt%.

0.1wt%未満では光重合開始剤ないし光重合増感剤
としての作用が十分ではないからであり、20wt%を
こえると残存する光重合開始剤ないし光重合増感剤が記
録層に浸透し、記録層に悪影響を与えるからである。
This is because if it is less than 0.1 wt%, its action as a photopolymerization initiator or photopolymerization sensitizer will not be sufficient, and if it exceeds 20 wt%, the remaining photopolymerization initiator or photopolymerization sensitizer will penetrate into the recording layer. This is because it adversely affects the recording layer.

また、光重合増感剤としては、必要に応じ前記の一般式
(I)で表わされる化合物の他に、次のような公知のも
のが併用できる。
Further, as the photopolymerization sensitizer, in addition to the compound represented by the above-mentioned general formula (I), the following known ones can be used in combination, if necessary.

例えばベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエ
ーテル、α−メチルベンゾイン、α−クロルデオキシベ
ンゾイン等のベンゾイン系、ベンゾフェノン、アセトフ
ェノン、ビスジアルキルアミノベンゾフェノン等のケト
ン類、アセドラキノン、フエナントラキノン等のキノン
類、ベンジルジスルフィド、テトラメチルチウラムモノ
スルフィド等のスルフィド類等を挙げることができる。
For example, benzoin series such as benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, α-methylbenzoin, and α-chlordeoxybenzoin, ketones such as benzophenone, acetophenone, and bisdialkylaminobenzophenone, quinones such as acedraquinone and phenanthraquinone, and benzyl disulfide. and sulfides such as tetramethylthiuram monosulfide.

そして、このような光重合増感剤と放射線硬化型化合物
を含有する塗膜を紫外線によって硬化させるには、公知
の種々の方法に従えばよい。
In order to cure a coating film containing such a photopolymerizable sensitizer and a radiation-curable compound using ultraviolet rays, various known methods may be used.

たとえば、キセノン放電管、水素放電管などの紫外線電
球等を用いればよい。
For example, an ultraviolet light bulb such as a xenon discharge tube or a hydrogen discharge tube may be used.

また、場合によっては電子線を用いることもできる。Moreover, an electron beam can also be used depending on the case.

このような保護膜5上には、さらに層状ないしシート状
の樹脂製の保護層が設けられていてもよい。
On such a protective film 5, a layered or sheet-like protective layer made of resin may be further provided.

反射層4上および/または記録層3・反射層4間には、
さらに他のジッター防止膜が設けられてもよい。
On the reflective layer 4 and/or between the recording layer 3 and the reflective layer 4,
Furthermore, other anti-jitter films may be provided.

このようなジッター防止膜としては、プラズマ重合膜ま
たは無機質薄膜があり、反射層4上に設けるときには、
それ自体保護膜として機能させでも、その上にさらに保
護膜を形成してもよい。
Such anti-jitter films include plasma polymerized films and inorganic thin films, and when provided on the reflective layer 4,
It may function as a protective film itself, or a protective film may be further formed thereon.

ジッター防止膜5は、0.05−以上、特に0.1〜1
0−の厚さであることが好ましい。
The anti-jitter film 5 has a thickness of 0.05- or more, particularly 0.1-1
Preferably, the thickness is 0-.

膜厚が薄すぎると、ジッター防止の効果が低下し、厚す
ぎると、CD規格からはずれたり、コスト高となり、膜
厚にみあった効果かえられない。
If the film thickness is too thin, the effect of preventing jitter will be reduced, and if it is too thick, it will deviate from the CD standard or increase the cost, making it impossible to change the effect commensurate with the film thickness.

用いるプラズマ重合膜としては、公知のプラズマ重合膜
いずれであってもよ(、Cを含み、これに加え、H,O
,Cρ、F等のハロゲン、Si、N等の種々の元素を含
むものであってよい。
The plasma polymerized membrane to be used may be any known plasma polymerized membrane (contains C, in addition to H, O
, Cρ, F, and various other elements such as Si and N.

これらのうちではC,Hと必要に応じSiおよびOの1
種以上とを含むものが好ましい。
Among these, 1 of C, H and Si and O as necessary.
Those containing more than one species are preferred.

この際ソースガスやプラズマ重合条件等は公知のものを
用いればよい。
At this time, known source gases, plasma polymerization conditions, etc. may be used.

これらプラズマ重合膜は実質的に透明であるので、反射
層の上層、下層いずれに設層してもよい。
Since these plasma polymerized films are substantially transparent, they may be provided either above or below the reflective layer.

一方、用いる無機質膜としても種々の無機化合物であっ
てよく、酸化物、窒化物、炭化物、ケイ化物等の1種以
上を含有するものであってさらに記録層3と反射層4と
の間には、密着して接着層を設けてもよい。
On the other hand, the inorganic film used may be made of various inorganic compounds, and may contain one or more of oxides, nitrides, carbides, silicides, etc. Alternatively, an adhesive layer may be provided in close contact.

接着層は、有機シリケート化合物、有機チタネート化合
物、有機アルミネート化合物もしくは有機ジルコネート
化合物の加水分解縮合物またはSi、Ti、Aj2もし
くはZrのハロゲン化物の加水分解縮合物を含有するこ
とが好ましい。
The adhesive layer preferably contains a hydrolyzed condensate of an organic silicate compound, an organic titanate compound, an organic aluminate compound, or an organic zirconate compound, or a hydrolyzed condensate of a halide of Si, Ti, Aj2, or Zr.

用いる有機チタネート化合物としては、公知の種々の化
合物が使用可能であるが、特にアルキルチタン酸エステ
ル、置換アルキルチタン酸エステル、アルケニルチタン
酸エステルまたは置換アルケニルチタン酸エステルが好
ましい。
Various known compounds can be used as the organic titanate compound, but alkyl titanates, substituted alkyl titanates, alkenyl titanates, and substituted alkenyl titanates are particularly preferred.

また、有機ジルコネート化合物としては、公知の種々の
化合物が使用可能であるが、特にアルキルジルコン酸エ
ステル、置換アルキルジルコン酸エステル、アルケニル
ジルコン酸エステルまたは置換アルケニルジルコン酸エ
ステルが好ましい。
Further, as the organic zirconate compound, various known compounds can be used, but particularly preferred are alkylzirconate, substituted alkylzirconate, alkenylzirconate, and substituted alkenylzirconate.

また、有機アルミネート化合物としては、アルミニウム
アルコキシド、アルミニウムキレート化合物が好ましい
Further, as the organic aluminate compound, aluminum alkoxide and aluminum chelate compound are preferable.

これらのうち、特に好適に使用できるのは、下記構造式
をもつものである。
Among these, those having the following structural formula can be particularly preferably used.

M (OR、)(OR,)(OR3)(OR4)AI2
(OR1)(OR2)(OR3)ここに、Mは、Tiま
たはZrを表わす。
M (OR,) (OR,) (OR3) (OR4) AI2
(OR1) (OR2) (OR3) Here, M represents Ti or Zr.

また、R1,R2,R3およびR4は、それぞれ、水素
原子、または置換もしくは非置換のアルキル基もしくは
アルケニル基を表わす。
Further, R1, R2, R3 and R4 each represent a hydrogen atom or a substituted or unsubstituted alkyl group or alkenyl group.

ただし、R5−R4のうち、少なくとも2個以上は、水
素原子ではなく、アルキル基またはアルケニル基である
ことが好ましい。
However, it is preferable that at least two or more of R5-R4 are not hydrogen atoms but are alkyl groups or alkenyl groups.

また、置換または非置換のアルキル基またはアルケニル
基の炭素原子数は、2〜18であることが好ましい。
Further, the number of carbon atoms in the substituted or unsubstituted alkyl group or alkenyl group is preferably 2 to 18.

なお、アルキル基またはアルケニル基を置換する基とし
ては、カルボキシル基、アルキルカルボキシ基、ジ(ヒ
ドロキシアルキル)アミノ基等の置換アミノ基、ヒドロ
キシル基、アルキルオキシカルボニル基などが好適であ
る。
In addition, as the group substituting the alkyl group or alkenyl group, a carboxyl group, an alkylcarboxy group, a substituted amino group such as a di(hydroxyalkyl)amino group, a hydroxyl group, an alkyloxycarbonyl group, etc. are suitable.

以下に、好ましい有機チタネート化合物の具体例を挙げ
る。
Specific examples of preferred organic titanate compounds are listed below.

T1 テトラエチルチタネート T2 テトラプロピルチタネート T3 テトライソプロピルチタネート T4 テトラ(n−ブチル)チタネートT5 テトラ(
イソブチル)チタネートT6 テトラ(5ec−ブチル
)チタネートT7 テトラ(tert−ブチル)チタネ
ートT8 テトラ(2−エチルヘキシル)チタネート T9 テトラステアリルチタネート TIOヒドロキシチタニウムステアレートTll  イ
ソプロポキシチタニウムステアレート T12  ヒドロキシチタニウムオレエートT13  
イソプロポキシチタニウムオレエート T14  ジ−ミープロポキシ・ビス(アセチルアセト
ン)チタネート T15  ジ−n−ブトキシ・ビス(トリエタノールア
ミン)チタネート T16  ジヒドロキシ・ビス(ラフティックアシド)
チタネート T17  テトラオクチレングリコールチタネート T18  ジ−ミープロポキシ・ビス(アセト酢酸エチ
ル)チタネート また、好ましい有機ジルコネート化合物の具体例を挙げ
る。
T1 Tetraethyl titanate T2 Tetrapropyl titanate T3 Tetraisopropyl titanate T4 Tetra (n-butyl) titanate T5 Tetra (
Isobutyl titanate T6 Tetra (5ec-butyl) titanate T7 Tetra (tert-butyl) titanate T8 Tetra (2-ethylhexyl) titanate T9 Tetrastearyl titanate TIO Hydroxy titanium stearate Tll Isopropoxy titanium stearate T12 Hydroxy titanium oleate T13
Isopropoxy titanium oleate T14 Di-propoxy bis(acetylacetone) titanate T15 Di-n-butoxy bis(triethanolamine) titanate T16 Dihydroxy bis(raftic acid)
Titanate T17 Tetraoctylene glycol titanate T18 Jimmy propoxy bis(ethyl acetoacetate) titanate Specific examples of preferred organic zirconate compounds are also listed.

テトラ−n−プロピルジルコネート、テトラ−1−プロ
ピルジルコネート、テトラ−n −ブチルジルコネート
、テトラ−1−ブチルジルコネート、ジルコニウムテト
ラアセチルアセトナート、ジルコニウム−2−エチルヘ
キソエート、ジルコニウムナフテン酸、ジアセテートジ
ルコン酸など。
Tetra-n-propyl zirconate, tetra-1-propyl zirconate, tetra-n-butyl zirconate, tetra-1-butyl zirconate, zirconium tetraacetylacetonate, zirconium-2-ethylhexoate, zirconium naphthenic acid , diacetate zirconate, etc.

また、好ましい有機アルミネート化合物の具体例を挙げ
る。
Further, specific examples of preferred organic aluminate compounds will be given.

アルミニウムーミープロピレート、モノ−5ec−ブト
キシアルミニウムジイソオビレート、アルミニウムー5
ec−ブチレート、エチルアセトアセテートアルミニウ
ムジイソプロピレート、アルミニウム(エチルアセトア
セテート)など。
Aluminum propylate, mono-5ec-butoxyaluminum diisoovirate, aluminum-5
ec-butyrate, ethyl acetoacetate aluminum diisopropylate, aluminum (ethylacetoacetate), etc.

有機シリケート化合物としては、アルキルケイ酸、特に
四低級アルキル(メチル、エチル)ケイ酸が好ましい。
Preferred organic silicate compounds are alkyl silicic acids, particularly tetra-lower alkyl (methyl, ethyl) silicic acids.

なお、有機チタネート化合物、有機ジルコネート化合物
、有機アルミネート化合物、有機シリケート化合物は、
塗布液中でオリゴマーやコロイド状縮合酸化物を形成し
ていてもよい。
In addition, organic titanate compounds, organic zirconate compounds, organic aluminate compounds, and organic silicate compounds are
An oligomer or colloidal condensed oxide may be formed in the coating liquid.

ハロゲン化物としては、ハロゲン化ケイ素、特に、四塩
化ケイ素が好ましい。
As the halide, silicon halide, particularly silicon tetrachloride, is preferred.

このような有機シリケート化合物、有機チタネート化合
物、有機アルミネート化合物、有機ジルコネート化合物
あるいはハロゲン化物を用いて接着層を形成するには、
これらを、水、アルコール、ヘキサン、ベンゼン等の溶
媒、あるいはこれらの混合溶媒で希釈し、これを色素層
上に塗布し、放置して加水分解を行ない、縮合物を得れ
ばよい。
To form an adhesive layer using such an organic silicate compound, organic titanate compound, organic aluminate compound, organic zirconate compound or halide,
These may be diluted with a solvent such as water, alcohol, hexane, benzene, etc., or a mixed solvent thereof, applied onto the dye layer, left to stand, and hydrolyzed to obtain a condensate.

接着層の塗布方法に特に制限はなく、スピンコード等を
用いればよい。
There are no particular restrictions on the method of applying the adhesive layer, and a spin cord or the like may be used.

接着層の厚さは、10〜300人、特に20〜100人
であることが好ましい。 厚さがこの範囲未満であると
光学的に不均一となる他、接着強度が不十分となる。 
また、この範囲を超えると光学特性が変化してしまい1
反射率、変調度ともに大きくとることができなくなる。
The thickness of the adhesive layer is preferably 10 to 300, particularly 20 to 100. If the thickness is less than this range, optical non-uniformity will occur and adhesive strength will be insufficient.
Moreover, if this range is exceeded, the optical properties will change and 1
It becomes impossible to increase both reflectance and modulation degree.

このような構成の光記録媒体1に記録ないし追記を行う
には、例えば780 nmの記録光を、基板2をとおし
てパルス状に照射する。
To perform recording or additional writing on the optical recording medium 1 having such a configuration, recording light of, for example, 780 nm is irradiated in a pulsed manner through the substrate 2.

これにより、記録層3が光を吸収して発熱し、同時に基
板2も加熱される。 この結果、基板2と記録層3との
界面近傍において、色素等の記録層材質の融解や分解が
生じ、記録層3と基板2との界面に圧力が加わり、グル
ープの底壁や側壁を変形させることがある。
As a result, the recording layer 3 absorbs light and generates heat, and the substrate 2 is also heated at the same time. As a result, the recording layer material such as the dye melts or decomposes near the interface between the substrate 2 and the recording layer 3, and pressure is applied to the interface between the recording layer 3 and the substrate 2, deforming the bottom wall and side wall of the group. Sometimes I let it happen.

この場合記録層3の融解物や分解物を含有する分解物M
61が、通常グループ23の底部および境界を覆うよう
な形状に残存する。
In this case, the decomposed product M containing the melted product and decomposed product of the recording layer 3
61 generally remains in a shape covering the bottom and border of group 23.

分解物層61の材質は、実質的に基板材質を含まない材
質であり、記録層材質の分解物あるいは記録層材質の分
解物と、記録層材質との混合物によって構成される。
The material of the decomposed product layer 61 is a material that does not substantially contain the substrate material, and is composed of a decomposed product of the recording layer material or a mixture of the decomposed product of the recording layer material and the recording layer material.

分解物層61は、記録層3の厚さの通常30〜90%程
度の厚さである。
The thickness of the decomposed product layer 61 is usually about 30 to 90% of the thickness of the recording layer 3.

そして、通常、分解物層61上には、反射層との界面に
空隙63が形成され、分解物層61と、空隙63とがピ
ット部6に形成される。
Generally, voids 63 are formed on the decomposed product layer 61 at the interface with the reflective layer, and the decomposed product layer 61 and the voids 63 are formed in the pit portions 6 .

空隙63は、記録層3の厚さの通常10〜70%程度の
厚さである。
The thickness of the void 63 is usually about 10 to 70% of the thickness of the recording layer 3.

また、このような記録過程において、基板2は変形しな
い場合もあるが、通常、基板2のピット部6は、加熱時
の圧力によって凹状にへこむことになる。 基板2のへ
こみ量は、ピット部6の寸法が大きい程太き(、通常0
〜300人程度の度量である。
Further, in such a recording process, although the substrate 2 may not be deformed, the pit portions 6 of the substrate 2 are usually depressed into a concave shape due to the pressure during heating. The amount of depression in the substrate 2 becomes thicker as the size of the pit portion 6 becomes larger (usually 0
The capacity is approximately 300 people.

また、空隙63上には、反射層4に密着して微少膜厚に
て記録層3ないしその分解物等が残存することもある。
Further, the recording layer 3 or its decomposition products may remain on the gap 63 in close contact with the reflective layer 4 with a very small thickness.

このように、ピット部6の基板2と記録層3との界面部
には、実質的に基板材質を含有しない層が形成される。
In this way, a layer containing substantially no substrate material is formed at the interface between the substrate 2 and the recording layer 3 in the pit portion 6.

本発明者らは、ピット部6の基板2と記録層3間に基板
材質が含まれていないことを下記のように確認した。
The present inventors confirmed as follows that no substrate material was included between the substrate 2 and the recording layer 3 in the pit portion 6.

まず、一定条件にて作製し、記録を行った1枚の光記録
媒体1から、いくつかのサンプル片を用意し、各サンプ
ルから保護膜5と、反射層4とを剥離した。
First, several sample pieces were prepared from one optical recording medium 1 that had been produced and recorded under certain conditions, and the protective film 5 and reflective layer 4 were peeled off from each sample.

次いで、基板2の表面をアルコール系の溶剤にて洗浄し
た。
Next, the surface of the substrate 2 was cleaned with an alcohol-based solvent.

この場合、洗浄条件は、アルコール系の溶剤中にて軽く
揺らす程度の弱い洗浄と、超音波をかけながら洗浄する
強い洗浄との2種類とした。
In this case, two types of cleaning conditions were used: weak cleaning in which the substrate was lightly shaken in an alcohol-based solvent, and strong cleaning in which cleaning was performed while applying ultrasonic waves.

そして、洗浄後の基板2の走査型トンネル顕微鏡(ST
M)出力画像から基板2のグループ内の厚みを求めた。
Then, the substrate 2 after cleaning is examined using a scanning tunneling microscope (ST).
M) The thickness within the group of substrate 2 was determined from the output image.

この結果、強い洗浄力を持つ超音波洗浄を行ったサンプ
ルの場合、基板2のピット部6は、平坦ないしへこんで
いた。
As a result, in the case of the sample subjected to ultrasonic cleaning with strong cleaning power, the pit portion 6 of the substrate 2 was flat or recessed.

これに対し、弱い洗浄力にて洗浄を行ったサンプルの基
板2のピット部6は盛り上がっていた。
In contrast, the pit portions 6 of the substrate 2 of the sample cleaned with weak cleaning power were raised.

これらの結果から、弱い洗浄力にて洗浄を行ったサンプ
ルの盛り上がって見える部分は、色素等の記録層材質が
熱を受けて分解したもの、つまり溶解度が低下した記録
層材質の分解物を含有する層であると考えられる。
From these results, the raised parts of the sample cleaned with weak cleaning power are the result of decomposition of the recording layer material such as dye due to heat, that is, it contains decomposed products of the recording layer material whose solubility has decreased. This layer is considered to be

実際、これら洗浄後の残存物を液体クロマトグラフィ、
吸収スペクトル、FTIR,MAS等により測定した結
果、弱い洗浄力の場合にはピット底には分解物の存在と
、基板材質が含まれていないことが確認されている。
In fact, liquid chromatography is used to collect the residue after washing.
As a result of measurements using absorption spectra, FTIR, MAS, etc., it has been confirmed that in the case of weak cleaning power, there are decomposed products and no substrate material is included at the bottom of the pit.

このように、本発明のメカニズムは、日経エレクトロニ
クス1989年1月23日号、No。
Thus, the mechanism of the present invention is described in Nikkei Electronics, January 23, 1989, No.

465、P2O3に開示されている提案、すなわち 「記録レーザ光を照射した際、色素層が融解ないし分解
するとともに基板も軟化して、色素材料と、基板材料と
が界面で混じり合い、ピット部が形成される。」 というメカニズムとは異なるものである。
465, the proposal disclosed in P2O3, namely, ``When the recording laser beam is irradiated, the dye layer melts or decomposes and the substrate also softens, and the dye material and substrate material mix at the interface, causing pits to form. This mechanism is different from that of ``formed.''

そして、その結果、ピット形状が良好となり、S/N比
が向上するものである。
As a result, the pit shape becomes good and the S/N ratio improves.

なお、記録光のパワーは5〜9mW程度、基板回転線速
度は1.2〜1.4m/s程度とする。
Note that the power of the recording light is approximately 5 to 9 mW, and the linear velocity of rotation of the substrate is approximately 1.2 to 1.4 m/s.

このようにしてピット部6を形成したのち、例えば78
0 nmの再生光を、基板2をとおして照射すると、ピ
ット部6により光の位相差を生じ、反射率が未飽和部分
の60%以下、特に50%以下、さらには40%以下に
低下する。
After forming the pit portion 6 in this way, for example, 78
When a reproduction light of 0 nm is irradiated through the substrate 2, a phase difference of the light occurs due to the pit portion 6, and the reflectance decreases to 60% or less, particularly 50% or less, and even 40% or less of the unsaturated portion. .

一方、未記録部では、60%以上、特に70%以上の高
反射率を示しているので、CD規格による再生が可能と
なる。
On the other hand, since the unrecorded portion shows a high reflectance of 60% or more, especially 70% or more, reproduction according to the CD standard is possible.

再生光のパワーは、0.1〜10mW程度とする。The power of the reproduction light is approximately 0.1 to 10 mW.

〈実施例〉 実施例1 連続グループを有する120mmφ、厚さ1.2mmの
ポリカーボネート樹脂基板上に色素を含有する記録層を
設層した。 この記録層上に、蒸着によりAuを100
0人厚定設層して反射層とし、さらに、オリゴエステル
アクリレートを含有する紫外線硬化型樹脂を塗布した後
紫外線硬化して10戸厚の保護膜とし、光記録ディスク
サンプルを得た。
<Examples> Example 1 A recording layer containing a dye was formed on a polycarbonate resin substrate having continuous groups and having a diameter of 120 mm and a thickness of 1.2 mm. On this recording layer, 100% of Au was deposited by vapor deposition.
A reflective layer was formed by forming a layer with a set thickness of 0. Further, an ultraviolet curable resin containing oligoester acrylate was coated and cured with ultraviolet rays to form a protective film having a thickness of 10 mm, thereby obtaining an optical recording disk sample.

各サンプルの記録層に含有される色素を下記に示す。The dyes contained in the recording layer of each sample are shown below.

1 1 CH3CH3 記録層の設層は、基板を500 rpmで回転させなが
らスピンコード塗布により行なった。
1 1 CH3CH3 The recording layer was formed by spin cord coating while rotating the substrate at 500 rpm.

塗布溶液としては、1.5wt%メタノール溶液を用い
た。 乾燥後の色素層の厚さは1300人であった。
A 1.5 wt % methanol solution was used as the coating solution. The thickness of the dye layer after drying was 1300.

各サンプルの記録層が含有する色素およびその含有量比
と、記録層の屈折率(n)および消衰係数(k)とを、
下記表1に示す。
The dye contained in the recording layer of each sample, its content ratio, the refractive index (n) and extinction coefficient (k) of the recording layer,
It is shown in Table 1 below.

nおよびkは、上記色素を含有する溶液を測定用基板上
に乾燥膜厚600人に成膜して被検記録Mとし、この被
検記録層のnおよびkを測定することにより求めた。 
なお、この測定は、「光学」 (石黒浩三著、弁室全書
)第168〜178ページの記載に準じて行なった。 
また、上記色素A1およびA2を含有する記録層の測定
に際しては、溶媒にメタノール、測定用基板にポリカー
ボネート基板を用いた。
n and k were determined by forming a film containing the above-mentioned dye on a measurement substrate to a dry film thickness of 600 mm to obtain a test record M, and measuring n and k of this test recording layer.
This measurement was carried out in accordance with the description in "Optics" (written by Kozo Ishiguro, Benshiro Zensho), pages 168 to 178.
Furthermore, when measuring the recording layer containing the dyes A1 and A2, methanol was used as the solvent, and a polycarbonate substrate was used as the measurement substrate.

表     1 N o 。Table 1 No.

■(本発明)  Al(90)+A2(10)   2
.4  0.10得られた各サンプルに対し、波長78
0nm、  7mWのレーザーにてコンパクトディスク
信号の記録を行ない、次いで市販のコンパクトディスク
プレーヤで再生を行なった。
■(This invention) Al(90)+A2(10) 2
.. 4 0.10 For each sample obtained, wavelength 78
Compact disc signals were recorded using a 0 nm, 7 mW laser, and then reproduced using a commercially available compact disc player.

この結果、サンプルN0.  1ではS/N比が高く、
良好な再生を行なうことができた。
As a result, sample No. 1 has a high S/N ratio,
Good playback was possible.

次いで前記のサンプルN0.  1から2枚のサンプル
片を得た。
Next, the sample No. 0. One to two sample pieces were obtained.

そして、保護膜と、反射層とを剥離した後、基板の表面
を、メタノールを用いてそれぞれ異なる条件にて2分間
洗浄した。
After peeling off the protective film and the reflective layer, the surface of the substrate was washed with methanol under different conditions for 2 minutes.

この場合、メタノール中にて軽(揺らす程度の弱い洗浄
を行ったものをサンプルN0.、 1−1とし、超音波
をかけながら強い洗浄を行ったものをサンプルN0.1
−2とする。
In this case, samples that were lightly washed in methanol (like shaking) are called samples No. 0. and 1-1, and samples that were washed strongly while applying ultrasound are called samples No. 0.1 and 1-1.
-2.

洗浄後、基板表面に、膜厚100人のAu膜をスパッタ
リングにて形成し、東洋テクニカ社から販売されている
走査型トンネル顕微鏡(STM)を用いて、両サンプル
の表面状態を画像化した。
After cleaning, an Au film with a thickness of 100 nm was formed on the substrate surface by sputtering, and the surface conditions of both samples were imaged using a scanning tunneling microscope (STM) sold by Toyo Technica.

サンプルN0.1−1の37M画像は第2図、サンプル
N0.1−2の37M画像は第3図に示されるとおりで
ある。
The 37M image of sample No. 1-1 is shown in FIG. 2, and the 37M image of sample No. 0.1-2 is shown in FIG. 3.

第2図および第3図から、弱い洗浄を行ったサンプルN
0.1−1は、グループ内はピット部の膜厚が厚(、強
い洗浄を行ったサンプルN011−2は、グループ内の
膜厚がほぼ一定であることが確認できる。
From Figures 2 and 3, sample N was subjected to mild washing.
0.1-1 indicates that the film thickness at the pit portion is thick within the group (it can be confirmed that sample No. 011-2, which was subjected to strong cleaning, has a substantially constant film thickness within the group).

また、グループ内の膜厚をより正確に確認するため、グ
ループに沿った断面における表面状態を示すグラフを作
製した。 サンプルNo。
In addition, in order to more accurately confirm the film thickness within a group, a graph showing the surface condition in a cross section along the group was created. Sample no.

1−1のグラフを第4図、サンプルN0.1−2のグラ
フを第5図に示す。
The graph of sample No. 1-1 is shown in FIG. 4, and the graph of sample No. 1-2 is shown in FIG.

グラフの縦軸は基準面からの基板厚さ方向の高さであり
、横軸はグループ方向の距離である。 また、図中、矢
印aはピット部、矢印すはピット部外の位置を示す。
The vertical axis of the graph is the height in the substrate thickness direction from the reference plane, and the horizontal axis is the distance in the group direction. Further, in the figure, arrow a indicates a pit portion, and arrow s indicates a position outside the pit portion.

第4図から明らかなように弱い洗浄を行ったサンプルN
0.1−1は、記号aで示されるようにピット部が盛り
上がっている。
As is clear from Figure 4, sample N was lightly washed.
0.1-1 has a raised pit portion as shown by symbol a.

これに対し、第5図から明らかなように強い洗浄を行っ
たサンプルN0.1−2は、記号aで示されるようにピ
ット部が少しへこんでいる。
On the other hand, as is clear from FIG. 5, in sample No. 1-2 which was subjected to strong cleaning, the pit portion was slightly depressed as indicated by symbol a.

これらの事からサンプルN0.1−1の盛り上がって見
える部分は、色素が熱を受けて分解したもの、つまり溶
解度が低下した色素の分解物を含有する分解物層と考え
られる。
From these facts, it is thought that the raised portion of sample No. 1-1 is a layer of decomposition products containing decomposed products of the dye whose solubility has decreased, that is, the dye has been decomposed by heat.

そして、このピット部の記録層と、基板との界面部に形
成された層を超音波にて剥離した後、分析を行った結果
、分解物が存在することおよび実質的に基板材質が含有
されていないことが確認できた。
Then, after peeling off the recording layer in the pit area and the layer formed at the interface with the substrate using ultrasonic waves, analysis revealed that there were decomposed products and that substantially no substrate material was contained. I was able to confirm that this was not the case.

これらの結果から、本発明の効果が明らかである。From these results, the effects of the present invention are clear.

さらに、上記色素A1、A2を用い、下記表2に示され
るような記録層を設層した。
Furthermore, recording layers as shown in Table 2 below were formed using the dyes A1 and A2.

表 サンプル No。table sample No.

色素 (wt%) 1−3(比較)   At(100)      2.
4  0.021           Al(90)
+A2(10)   2.4   0.101−4(比
較)   A2(100)      2.3  1.
35得られた各サンプルに対し、上記と同様に、波長7
80 nm、7mWのレーザーにてコンパクトディスク
信号の配録を行ない、次いで市販のコンパクトディスク
プレーヤで再生を行なったところ、この結果、サンプル
N0.  1では上記のとおり良好な再生を行なうこと
ができたが、その他のサンプルN0.1−3では色素層
の吸収が不十分であり、記録が不可能であった。 また
、N0.1−4では反射が小さく、再生が不可能であっ
た。
Dye (wt%) 1-3 (comparison) At (100) 2.
4 0.021 Al(90)
+A2 (10) 2.4 0.101-4 (comparison) A2 (100) 2.3 1.
35 For each sample obtained, wavelength 7
A compact disc signal was recorded using an 80 nm, 7 mW laser, and then played back using a commercially available compact disc player.As a result, sample No. In Sample No. 1, good reproduction was possible as described above, but in the other samples No. 1-3, the absorption of the dye layer was insufficient and recording was impossible. Further, in the case of No. 0.1-4, the reflection was small and reproduction was impossible.

実施例2 連続グループを有する120mmφ、厚さ1.2mmの
アモルファスポリオレフィン樹脂基板上に、下記の色素
を含有する記録層を設層した。 この記録層上に、蒸着
によりAuを1000人厚に設層して反射層とし、さら
に、オリゴエステルアクリレートを含有する紫外線硬化
型樹脂を塗布した後紫外線硬化して10鱗厚の保護膜と
し、光記録ディスクサンプルを得た。
Example 2 A recording layer containing the following dye was formed on an amorphous polyolefin resin substrate of 120 mm diameter and 1.2 mm thickness having continuous groups. On this recording layer, Au is deposited to a thickness of 1000 mm by vapor deposition to form a reflective layer, and then an ultraviolet curable resin containing oligoester acrylate is coated and cured by ultraviolet light to form a protective film of 10 scale thickness. An optical recording disk sample was obtained.

各サンプルの記録層に含有される色素を下記に示す。 
また、下記色素Blの透過および反射スペクトルを第6
図に、下記色素B2の透過および反射スペクトルを第7
図に示す。
The dyes contained in the recording layer of each sample are shown below.
In addition, the transmission and reflection spectra of the dye Bl below are shown in the sixth column.
The figure shows the transmission and reflection spectra of dye B2 below.
As shown in the figure.

2 記録層の設層は、基板を50 Orpmで回転させなが
らスピンコード塗布により行なった。
2. The recording layer was formed by spin cord coating while rotating the substrate at 50 rpm.

塗布溶液としては、ジクロロエタンの1.5wt%溶液
を用いた。 乾燥後の色素層の厚さは1300人であっ
た。
A 1.5 wt % solution of dichloroethane was used as the coating solution. The thickness of the dye layer after drying was 1300.

各サンプルの記録層が含有する色素およびその含有量比
と、記録層の屈折率(n)および消衰係数(k)とを、
下記表3に示す。
The dye contained in the recording layer of each sample, its content ratio, the refractive index (n) and extinction coefficient (k) of the recording layer,
It is shown in Table 3 below.

記録層のn、にの測定に際しては、溶媒にジクロロエタ
ン、測定用基板にガラス基板を用いた。
When measuring n of the recording layer, dichloroethane was used as the solvent and a glass substrate was used as the measurement substrate.

表 3 サンプル No。table 3 sample No.

色素 (wt%) 2−1(比較)   Bl(100)      2.
6  0.032−2         Bl(90)
+82(10)   2.4   0.102−3(比
較)   Bl(50)+B2(50)   2.0 
 0.752−4(比較)   B2(100)   
   1.9  1.15得られた各サンプルに対し、
実施例1と同様に、波長780nm、7mWのレーザー
にてコンパクトディスク信号の記録を行ない、次いで市
販のコンパクトディスクプレーヤで再生を行なったとこ
ろ、この結果、サンプルN0.2−2は良好な再生を行
なうことができたが、その他のサンプルN0.2−1で
は色素層の吸収が低く、記録感度が低下した。 また、
No。
Dye (wt%) 2-1 (comparison) Bl (100) 2.
6 0.032-2 Bl(90)
+82 (10) 2.4 0.102-3 (comparison) Bl (50) + B2 (50) 2.0
0.752-4 (comparison) B2 (100)
1.9 1.15 For each sample obtained,
As in Example 1, a compact disc signal was recorded using a laser with a wavelength of 780 nm and a power of 7 mW, and then reproduced using a commercially available compact disc player. As a result, sample No. 0.2-2 was reproduced well. However, in the other sample No. 0.2-1, the absorption of the dye layer was low and the recording sensitivity was lowered. Also,
No.

2−3.2−4では反射が小さく、再生が不可能であっ
た。
In samples 2-3 and 2-4, the reflection was small and reproduction was impossible.

実施例3 連続グループを有する120mmφ、厚さ1.2mmの
ポリカーボネート樹脂基板上に、下記の色素層を設層し
た。 グループは、深さ900人、幅0.5−とし、ラ
ンド幅は1.1−とした。
Example 3 The following dye layer was formed on a polycarbonate resin substrate having a diameter of 120 mm and a thickness of 1.2 mm and having continuous groups. The group had a depth of 900 people, a width of 0.5-, and a land width of 1.1-.

色素層は下記C196wt%とC24wt%の相溶膜と
した。
The dye layer was a compatible film containing 196 wt% of C and 24 wt% of C as described below.

cI20.− 色素層の設層は、基板を50 Orpmで回転させなが
らスピンコード塗布により行なった。
cI20. - The dye layer was applied by spin cord coating while rotating the substrate at 50 Orpm.

塗布溶液としては、上記色素CIを含有する色素層には
セロソルブの3wt%溶液を用いた。 乾燥後の色素層
の厚さは1000人程度度量った。 なお、色素層の厚
さの測定は、走査型電子顕微鏡を利用した断面測定装置
(エリオニクス■製PMS−1)により行なった。
As a coating solution, a 3 wt % solution of cellosolve was used for the dye layer containing the dye CI. The thickness of the dye layer after drying was measured by about 1,000 people. The thickness of the dye layer was measured using a cross-sectional measuring device (PMS-1 manufactured by Elionix ■) using a scanning electron microscope.

780 nmにおける色素層の屈折率nは2.3、およ
び消衰係数には0.08であった。
The refractive index n of the dye layer at 780 nm was 2.3, and the extinction coefficient was 0.08.

この色素層上に、蒸着によりAuを1000人厚に設層
して反射層とし、さらに、下記の塗布組成物を塗布した
後紫外線硬化して保護膜とし、光記録ディスクサンプル
を得た。
On this dye layer, Au was deposited to a thickness of 1000 nm by vapor deposition to form a reflective layer, and the following coating composition was applied and cured with ultraviolet light to form a protective film, thereby obtaining an optical recording disk sample.

なお、保護膜は、下記の放射線硬化型化合物および光重
合増感剤を含む塗布組成物をスピンナーコートで設層し
た。
The protective film was formed by spinner coating a coating composition containing the following radiation-curable compound and photopolymerizable sensitizer.

(塗布組成物) 多官能オリゴエステルアクリレート[オリゴエステルア
クリレート(3官能以上)30重量%、トリメチルプロ
パンアクリレート70重量%、商品名アロニックスM−
8030;東亜合成社製] 100重量部 光重合増感剤(前記化合物A:商品名 I RGACURE907 、日本チバガイギー社製)
              5重量部このような塗布
組成物を設層後、120 W/cmの紫外線を15se
c照射し架橋硬化させ、硬化膜とした。
(Coating composition) Multifunctional oligoester acrylate [oligoester acrylate (trifunctional or higher) 30% by weight, trimethylpropane acrylate 70% by weight, trade name Aronix M-
8030; manufactured by Toagosei Co., Ltd.] 100 parts by weight of photopolymerization sensitizer (said compound A: trade name I RGACURE907, manufactured by Nippon Ciba Geigy Co., Ltd.)
After applying 5 parts by weight of such a coating composition, 15 se of 120 W/cm ultraviolet rays were applied.
c irradiation to crosslink and cure the film to form a cured film.

この時の膜厚は5−であった。The film thickness at this time was 5-.

これをサンプルN0.11とする。This is designated as sample No. 0.11.

サンプルN0.11の保護膜に用いた100重量部の多
官能オリゴエステルアクリレートのアロエックスM−8
030をアロエックスM−400(6官能以上のモノマ
ー)50重量部およびアロエックスM−309(3官能
モノマー)50重量部に替えた他はサンプルNo。
100 parts by weight of polyfunctional oligoester acrylate Aroex M-8 used in the protective film of sample No. 11
Sample No. 030 was replaced with 50 parts by weight of Aroex M-400 (monomer with six or more functional functions) and 50 parts by weight of Aroex M-309 (a trifunctional monomer).

11と同様にしてサンプルN0.12を作製した。Sample No. 12 was prepared in the same manner as No. 11.

また、サンプルN0.11の100重量部のアロエック
スM−8030のうち50重量部をアロエックスM−1
11(単官能モノマー)に替え、接着剤層として合成ゴ
ム系ホットメルト型接着剤HM−1275(HBフーラ
ージャパン社製)をロールコータ−で30−厚に設層し
た他はサンプルN0.11と同様にしてサンプルN0.
13を作製した。
In addition, 50 parts by weight of 100 parts by weight of Aloex M-8030 of sample No. 11 was added to Aloex M-1.
Sample No. 11 (monofunctional monomer) was replaced with sample No. 11, except that a synthetic rubber hot-melt adhesive HM-1275 (manufactured by HB Fuller Japan Co., Ltd.) was applied as an adhesive layer to a thickness of 30 mm using a roll coater. Similarly, sample No.
No. 13 was prepared.

さらに、サンプルN0.11のアロエックスM−803
0(100重量部)を、アロエックスM−6100(2
官能オリゴエステルアクリレート)50重量部と上記ア
ロエックスM−11150重量部とに替え、その他はサ
ンプルN0.11と同様にしてサンプルN0.14を作
製した。
Furthermore, sample No. 11 Aloex M-803
0 (100 parts by weight), Aloex M-6100 (2
Sample No. 0.14 was prepared in the same manner as Sample No. 11 except that 50 parts by weight of functional oligoester acrylate) and 150 parts by weight of the above Aloex M-11 were used.

得られた各サンプルに対し、波長780 nmのレーザ
ーにてCD信号(190〜720 kHzの9種類のパ
ルス、デユーティ−50%)の記録を行なった。 記録
パワーは7mW、記録時の線速は1.3m/sとした。
A CD signal (9 types of pulses from 190 to 720 kHz, duty: 50%) was recorded on each sample obtained using a laser having a wavelength of 780 nm. The recording power was 7 mW, and the linear velocity during recording was 1.3 m/s.

 なお、記録はグループ部に行なった。 また、記録時
のトラッキングはプッシュプルトラックエラー制御によ
り行なった。
Note that recording was done in the group section. Tracking during recording was performed using push-pull track error control.

次いで市販のコンパクトディスクプレーヤで再生を行な
った。 再生パワーは0.2mWとした。
Then, it was played back on a commercially available compact disc player. The reproduction power was 0.2 mW.

この結果、これら各サンプルでは、未記録部で70%以
上の反射率が得られ、CD信号の11Tパルスの記録部
の反射率は未記録部の反射率の40%以下であった。 
また、これらのサンプルでは、実施例1と同様のピット
が形成されていた。
As a result, in each of these samples, a reflectance of 70% or more was obtained in the unrecorded portion, and the reflectance of the recorded portion of the 11T pulse of the CD signal was 40% or less of the reflectance of the unrecorded portion.
Furthermore, pits similar to those in Example 1 were formed in these samples.

次に各サンプルにつき、ジッターを測定した。Next, jitter was measured for each sample.

ジッターは、MEGURO社製CDジッターメーターM
JM−631で測定した。
Jitter is measured using MEGURO CD Jitter Meter M.
Measured with JM-631.

結果を表4に示す。The results are shown in Table 4.

表 N0.    鉛筆硬度    (ns)11    
2H100 124H90 13B      >200 14    4B     >200 表4に示される結果から、鉛筆硬度が高くなると、ジッ
ターが格段と減少することがわかる。
Table No. Pencil hardness (ns) 11
2H100 124H90 13B >200 14 4B >200 From the results shown in Table 4, it can be seen that as the pencil hardness increases, the jitter decreases significantly.

なお、サンプルN0.11.12の耐候性、耐食性、耐
久性は良好なものであった。
Note that sample No. 11.12 had good weather resistance, corrosion resistance, and durability.

実施例4 実施例3のサンプルN0.11において、色素を下記表
5のように変更した。
Example 4 In sample No. 11 of Example 3, the dye was changed as shown in Table 5 below.

用いた色素D1クエンチャ−Q1は下記のとおりである
The dye D1 quencher Q1 used is as follows.

2 CH3 CH3 クエンチャ−0ま ただし、色素層の設層には、ジアセトンアルコール溶液
を用いた。
2 CH3 CH3 Quencher 0 However, a diacetone alcohol solution was used to form the dye layer.

これらの770.780.790nmにおけるnおよび
kを表5に示す。
These n and k at 770.780.790 nm are shown in Table 5.

表5に示される結果から、色素の混合により、770〜
790nmにおいて、良好なnおよびkかえられること
がわかる。
From the results shown in Table 5, 770~
It can be seen that good n and k changes are obtained at 790 nm.

得られた各サンプルに対し、実施例1と同様に780 
nmにて記録を行い、再生波長を770.780.79
0 nmにかえて、再生を行った。
For each sample obtained, 780
Recording was performed at nm, and the reproduction wavelength was set to 770.780.79.
The wavelength was changed to 0 nm and regeneration was performed.

この結果、サンプルN0.31.32では、いずれの波
長でも良好な記録再生を行なうことができた。 これら
のサンプルでは、未記録部で70%以上の反射率が得ら
れ、CD信号の11Tパルスの記録部の反射率は未記録
部の反射率の40%以下であった。 また、これらのサ
ンプルでは、信号記録部分の基板と記録層との界面に実
施例1と同様にピットが形成されていた。
As a result, with samples No. 0.31 and 32, good recording and reproduction could be performed at any wavelength. In these samples, a reflectance of 70% or more was obtained in the unrecorded portion, and the reflectance of the recorded portion of the 11T pulse of the CD signal was 40% or less of the reflectance of the unrecorded portion. In addition, in these samples, pits were formed at the interface between the substrate and the recording layer in the signal recording portion, as in Example 1.

また、サンプルN0.33では、780.790 nm
では再生を行うことができたが、770 nmでは再生
を行うことができなかった。
In addition, in sample No.33, 780.790 nm
However, regeneration could not be performed at 770 nm.

また、サンプルN0.34では記録ができなかった。Furthermore, recording could not be made with sample No. 0.34.

次に上記サンプルのそれぞれにおいて、グループ部での
色素層の厚さを500人未満としたサンプルおよび15
00人を超える厚さとしたサンプルを作製し、上記と同
様な記録再生試験を行なった。 この結果、500人未
満および1500人を超えるサンプルではグループ部の
反射率が60%未満となり、再生に必要な十分な反射率
およびピットが得られなかった。
Next, in each of the above samples, the thickness of the dye layer in the group part was less than 500 and
A sample having a thickness exceeding 0.00 mm was prepared, and a recording/reproducing test similar to that described above was conducted. As a result, in samples with less than 500 people and more than 1500 people, the reflectance of the group portion was less than 60%, and sufficient reflectance and pits required for reproduction could not be obtained.

実施例5 連続グループを有する120mmφ、厚さ1.2mmの
アモルファスポリオレフィン基板上に、色素層を設層し
た。 グループは、深さ1200人、幅0.5μとし、
ランド幅は1゜1)111とし、た。
Example 5 A dye layer was formed on an amorphous polyolefin substrate having continuous groups and having a diameter of 120 mm and a thickness of 1.2 mm. The group has a depth of 1200 people and a width of 0.5μ.
The land width was 1°1)111.

アモルファスポリオレフィンとしては、環状オレフィン
とエチレンのランダム共重合体を用いた。
A random copolymer of cyclic olefin and ethylene was used as the amorphous polyolefin.

この基板の酸素透過量Qは 0.4X  10−”cm”cIll−”s−・(cm
Hg)− であっ た。
The oxygen permeation amount Q of this substrate is 0.4X 10-"cm"cIll-"s-(cm
Hg)-.

色素層は下記E 1を用いた。The pigment layer is E below. 1 was used.

色素層の設層は、基板を500 rpmで回転させなが
らスピンコード塗布により行なった。
The dye layer was applied by spin cord coating while rotating the substrate at 500 rpm.

塗布溶液としては、色素層にはシクロヘキサノンの2w
t%溶液を用いた。 乾燥後の色素層の厚さは1300
人程度度量った。 なお、色素層の厚さの測定は、走査
型電子顕微鏡を利用した断面測定装置(エリオニクス■
製PMS−1)により行なった。
As a coating solution, 2W of cyclohexanone was used for the pigment layer.
A t% solution was used. The thickness of the dye layer after drying is 1300
It was about the size of a person. The thickness of the dye layer was measured using a cross-sectional measuring device (Elionix ■) using a scanning electron microscope.
The test was carried out using PMS-1) manufactured by Kogyo Co., Ltd.

780 nmにおける色素層の屈折率nは2.6、およ
び消衰係数には0.1であった。
The refractive index n of the dye layer at 780 nm was 2.6, and the extinction coefficient was 0.1.

この色素層上に、蒸着によりAuを1000人厚に設層
して反射層とし、さらに、下言己の塗布組成物を塗布し
た後紫外線硬化して保護膜とし、光記録ディスクサンプ
ルを得た。
On this dye layer, Au was deposited to a thickness of 1000 nm by vapor deposition to form a reflective layer, and a coating composition of the present invention was applied and cured with ultraviolet light to form a protective film, thereby obtaining an optical recording disk sample. .

なお、保護膜は、実施例2のN0.11の放射線硬化型
化合物および光重合増感剤を含む塗布組成物をスピンナ
ーコートで設層した。
The protective film was formed by spinner coating the coating composition of Example 2 containing the radiation-curable compound of N0.11 and a photopolymerizable sensitizer.

このような塗布組成物を設層後、120 W/cmの紫
外線を15sec照射し架橋硬化させ、硬イヒ膜とした
After coating such a coating composition, it was cross-linked and cured by irradiation with ultraviolet rays of 120 W/cm for 15 seconds to form a hardened film.

この時の膜厚は5−であった。The film thickness at this time was 5-.

これをサンプルN0.41とする。This is designated as sample No. 0.41.

次に、サンプルN0.41において、基板材質をポリカ
ーボネー・トにかえ、色素層の塗布溶液をエチルセルソ
ルブの3wt%溶液とした他は、上記と全く同様にして
サンプルN0.42をえた。
Next, Sample No. 0.42 was obtained in exactly the same manner as above except that the substrate material in Sample No. 0.41 was changed to polycarbonate and the coating solution for the dye layer was a 3 wt % solution of ethyl cellosolve.

ポリカーボネート基板の酸素透過量Qは25x 10−
10cm”−cm−”s−’・(cmHg)−’であっ
た。
The oxygen permeability Q of the polycarbonate substrate is 25x 10-
It was 10cm"-cm-"s-'.(cmHg)-'.

さらに、サンプルN0. 41. N0. 42におい
て、色素D1に10重量%の下記クエンチャ−Qlを添
加した他、上記と全く同様にしてサンプルN0.43、
N0.44をえた。
Furthermore, sample No. 41. N0. In Sample No. 42, 10% by weight of the following quencher Ql was added to dye D1, and in the same manner as above, sample No. 43,
I got N0.44.

クエンチャ−Ql これら各サンプルN0.41〜44につき1.5kwの
Xeランプを20cmの距離から基板をとおして照射し
、色素残有率を照射時間に対してプロットした。
Quencher-Ql Each of these samples No. 41 to 44 was irradiated with a 1.5 kW Xe lamp through the substrate from a distance of 20 cm, and the dye residual rate was plotted against the irradiation time.

色素残有率は(100−R)/(100−RO)(ただ
し、RおよびRoは、それぞれ、所期および照射後の7
80 nmでの反射率)により求めた。
The dye residual rate is (100-R)/(100-RO) (where R and Ro are the initial and 7% after irradiation, respectively)
Reflectance at 80 nm).

結果を第8図に示す。The results are shown in FIG.

第8図に示される結果から、クエンチャ−を使用しなく
とも、サンプルN0.41では、格段と耐光性が向上し
ていることがわかる。
From the results shown in FIG. 8, it can be seen that the light resistance of sample No. 0.41 is significantly improved even without using a quencher.

なお、これらのサンプルでは、前記同様のピットが形成
されており、良好な記録再生を行うことができた。
In addition, in these samples, pits similar to those described above were formed, and good recording and reproduction could be performed.

実施例6 連続グループを有する120mmφ、厚さ1.2mmの
アモルファスポリオレフィン基板上に下記の色素を用い
て色素層蒸着により設層した。 グループは、深さ80
0人、幅0. 4−とし、ランド幅は1.2μとした。
Example 6 On an amorphous polyolefin substrate of 120 mm diameter and 1.2 mm thickness having continuous groups, a dye layer was formed by vapor deposition using the following dye. The group is 80 deep
0 people, width 0. 4-, and the land width was 1.2μ.

この基板上に、以下の中心金属を有するフタロシアニン
を用いて色素層を蒸着した。
A dye layer was deposited on this substrate using a phthalocyanine having the following central metal.

Jyヱー E I   Si[03i(CHx)s]zE 2  
   Cu E3    RuCjt なお、色素の蒸着は抵抗加熱法により、蒸着条件は、以
下のようにした。
JYE I Si[03i(CHx)s]zE 2
Cu E3 RuCjt Note that the dye was vapor-deposited by a resistance heating method, and the vapor-deposition conditions were as follows.

■作業圧力    I X 10−’Torr■基板温
度    20℃ ■蒸着速度    600人/分 このようにして設層した色素層のグループ内における厚
さは1200人であった。
■Working pressure: I x 10-'Torr ■Substrate temperature: 20° C. ■Vapor deposition rate: 600 layers/min The thickness of the dye layer deposited in this way within the group was 1,200 layers.

この場合、色素層の厚さの測定は、走査型電子顕微鏡を
利用した断面測定装置(エリオニクス■製PMS−1)
により行なった。
In this case, the thickness of the dye layer was measured using a cross-sectional measuring device (PMS-1 manufactured by Elionix ■) using a scanning electron microscope.
This was done by

780nmにおけるnおよびkの値を表6に示す。Table 6 shows the values of n and k at 780 nm.

この色素層上に、実施例4と全く同様に、反射層および
保護膜を形成し、光記録ディスクサンプルを得た。
A reflective layer and a protective film were formed on this dye layer in exactly the same manner as in Example 4 to obtain an optical recording disk sample.

この時の膜厚は5−であった。The film thickness at this time was 5-.

このようにして得られたサンプルを用いた色素に応じて
サンプルN0.51.52.53とする。
The samples obtained in this manner are referred to as samples No. 0.51, 52, and 53 depending on the dyes used.

これらのサンプルに対し、波長780 nmのレーザー
にてCD信号(190〜720kHzの9種類のパルス
、デユーティ−50%)の記録を行なった。 記録パワ
ーは10mW、記録時の線速は1.3m/sとした。 
なお、記録はグループ部に行なった。 また、記録時の
トラッキングはプッシュプルトラックエラー制御により
行なった。
CD signals (9 types of pulses from 190 to 720 kHz, duty: 50%) were recorded on these samples using a laser with a wavelength of 780 nm. The recording power was 10 mW, and the linear velocity during recording was 1.3 m/s.
Note that recording was done in the group section. Tracking during recording was performed using push-pull track error control.

次いで市販のコンパクトディスクプレーヤで再生を行な
った。 再生パワーは0.2mWとした。
Then, it was played back on a commercially available compact disc player. The reproduction power was 0.2 mW.

これらの各サンプルについて、未記録部での反射率(%
)と、この未記録部の反射率に対するCD信号の11T
パルスの記録部の反射率の割合(%)を求めた。
For each of these samples, the reflectance in the unrecorded area (%
) and 11T of the CD signal with respect to the reflectance of this unrecorded area.
The reflectance ratio (%) of the pulse recording area was determined.

これらの結果を表6に示す。These results are shown in Table 6.

なお、これら各サンプルとも、実施例1と同様のピット
が形成されており、ジッターも低いものであった。
In addition, in each of these samples, pits similar to those in Example 1 were formed, and the jitter was also low.

実施例7 実施例2のサンプルN0.11において、下記表7のよ
うにジッター防止膜を形成した。
Example 7 In sample No. 11 of Example 2, an anti-jitter film was formed as shown in Table 7 below.

表        7 N0.    反射層下  反射層上 1 2 63          C 64D 5 6 67          G 68          H ジッター防止膜A プラズマ重合膜 モノマーガス テトラメトキシシラン キャリヤーガス r 動作圧力 パワー 周波数 膜厚(エリプソメータで測定) ジッター防止膜B プラズマ重合膜 モノマーガス メチルメタクリレート キャリヤーガス r 動作圧力 パワー 周波数 膜厚 05CCM 5CCM O,07Torr 50W 13.56MHz 0.5− 05CCM 5CCM O,05Torr 50W 13.56MHz 一 ジッター防止膜C プラズマ重合膜 モノマーガス テトラメトキシシラン キャリヤーガス r 動作圧力 パワー 周波数 膜厚 ジッター防止膜D プラズマ重合膜 モノマーガス トリエチルシラン キャリヤーガス r 動作圧力 パワー 周波数 膜厚 05CCM CCM O,05Torr 50W 13.56MHz 0.3− 05CCM CCM O,06Torr 50W 13.56MHz 0.5− ジッター防止膜E スパッタ膜 S i O2 膜厚     0.5− ジッター防止膜F スパッタ膜 iOz 膜厚     0.3− ジッター防止膜G スパッタ膜 O3 膜厚     0.3戸 ジッター防止膜H スパッタ膜 1AnON 膜厚     0.5μ これらサンプル61〜68では、 低減がみられた。Table 7 N0. Below reflective layer Above reflective layer 1 2 63      C 64D 5 6 67 G 68 H Jitter prevention film A plasma polymerized membrane monomer gas Tetramethoxysilane carrier gas r operating pressure power frequency Film thickness (measured with an ellipsometer) Jitter prevention film B plasma polymerized membrane monomer gas Methyl methacrylate carrier gas r operating pressure power frequency Film thickness 05CCM 5CCM 0.07 Torr 50W 13.56MHz 0.5- 05CCM 5CCM 0.05 Torr 50W 13.56MHz one Jitter prevention film C plasma polymerized membrane monomer gas Tetramethoxysilane carrier gas r operating pressure power frequency Film thickness Jitter prevention film D plasma polymerized membrane monomer gas triethylsilane carrier gas r operating pressure power frequency Film thickness 05CCM CCM 0.05 Torr 50W 13.56MHz 0.3- 05CCM CCM O,06 Torr 50W 13.56MHz 0.5- Jitter prevention film E sputtered film S i O2 Film thickness 0.5- Jitter prevention film F sputtered film iOz Film thickness 0.3- Jitter prevention film G sputtered film O3 Film thickness 0.3 units Jitter prevention film H sputtered film 1AnON Film thickness 0.5μ In these samples 61 to 68, A decrease was seen.

ジッターの 実施例8 実施例2のサンプルN0.11において、記録層3と反
射層4との間に、下記の接着層N0.  1〜4を設層
した。
Jitter Example 8 In sample No. 11 of Example 2, the following adhesive layer No. 1 was provided between the recording layer 3 and the reflective layer 4. 1 to 4 were installed.

[接着層N0.l] 酢酸エチルとエチルアルコールをIQ:11の割合で混
合し、撹拌しながら徐々に5i(QC2H5) 4を酢
酸エチルに対し2/25の割合で添加し、3〜4日間放
置した溶液をn−プロパツールでさらに10倍希釈して
塗布溶液を得た。 この溶液を色素層上にスピンコード
し、60℃にて30分間乾燥して形成した。
[Adhesive layer N0. l] Ethyl acetate and ethyl alcohol were mixed at a ratio of IQ: 11, and while stirring, 5i (QC2H5) 4 was gradually added at a ratio of 2/25 to ethyl acetate, and the solution was left to stand for 3 to 4 days. - A coating solution was obtained by further diluting 10 times with propatool. This solution was spin-coded onto the dye layer and dried at 60° C. for 30 minutes.

[接着層N0.2] 上記化合物T14を、i−プロパノ−ルー水の1:1混
合溶媒で30倍に希釈して、色素層上にスピンコードし
、乾燥して形成した。
[Adhesive Layer No. 2] Compound T14 was diluted 30 times with a 1:1 mixed solvent of i-propanol and water, spin-coded onto the dye layer, and dried.

[接着層N0.3] エチルアセトアセテートアルミニウムジイソプロピレー
トを、i−プロパツール:水の3:1混合溶媒で30倍
に希釈して色素層上にスピンコードし、乾燥して形成し
た。
[Adhesive Layer No. 3] Ethyl acetoacetate aluminum diisopropylate was diluted 30 times with a 3:1 mixed solvent of i-propatool:water, spin-coded onto the dye layer, and dried.

[接着層N0.4] テトラエチルアセトアセテートZr (オキシ塩化Zr
  1モルとアセト酢酸エチル 4モルとを炭酸ナトリ
ウムの存在下で反応させて合成したもの)の2%n−プ
ロパツール溶液を色素層上にスピンコードし、乾燥して
形成した。
[Adhesive layer N0.4] Tetraethyl acetoacetate Zr (oxychloride Zr
A 2% n-propertool solution (synthesized by reacting 1 mole of ethyl acetoacetate with 4 moles of ethyl acetoacetate in the presence of sodium carbonate) was spin-coded onto the dye layer and dried.

なお、上記各接着層の乾燥後の厚さは、50人であった
The thickness of each adhesive layer after drying was 50 people.

これらのサンプルについて、保護膜上に粘着テープを貼
りつけた後に剥がす実験を行なったところ、接着層を有
しないサンプルでは反射層の剥離が観察されたが、接着
層を有するサンプルでは、剥離は観察されなかった。
When we conducted an experiment on these samples in which adhesive tape was pasted on the protective film and then peeled off, peeling of the reflective layer was observed in the samples without an adhesive layer, but no peeling was observed in the samples with an adhesive layer. It wasn't done.

〈発明の効果〉 本発明によれば、高反射率で、しかもピット部での大き
な反射率低下を示すので、CD規格による再生を行うこ
とのできる良好な光記録が可能となる。
<Effects of the Invention> According to the present invention, since the reflectance is high and the reflectance is greatly reduced at the pit portion, good optical recording that can be reproduced according to the CD standard is possible.

そして、ピット形状が良好で、しかも高いS/N比が得
られ、良好な記録・再生を行うことができる光記録媒体
が実現する。
Then, an optical recording medium with a good pit shape, a high S/N ratio, and which can perform good recording and reproduction is realized.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、本発明の光記録媒体を示す部分断面図である
。 第2図および第3図は、それぞれ、本発明の光記録媒体
の記録層を洗浄除去した後の基板表面の走査型トンネル
顕微鏡の出力画像の写真である。 第4図および第5図は、それぞれ本発明の光記録媒体の
基板表面のグループに沿った断面における表面状態が示
されるグラフである。 第6図および第7図は、それぞれ、本発明に用いる色素
の透過および反射スペクトルを示すグラフである。 第8図は、光耐光性の結果を示すグラフである。 符号の説明 1・・・光記録媒体 2・・・基板 21・・・ランド部 23・・・グループ 3・・・記録層 4・・・反射層 5・・・保護膜 6・・・ピット部 61・・・分解物層 63・・・空隙 出 願 人 ティーデイ−ケイ株式会社代  理  人
  弁理士   石  井  隔間     弁理士 
  増  1) 達  哉F ■ G。 ブ 基堕?rJめうの島ごrnm) 償 長(/nm) ■ G 。 攬 長(/nm) エ G− 0 2゜ 0 4゜ 0 照射時間/hr
FIG. 1 is a partial cross-sectional view showing the optical recording medium of the present invention. FIGS. 2 and 3 are photographs of output images from a scanning tunneling microscope of the substrate surface after the recording layer of the optical recording medium of the present invention has been washed and removed. FIGS. 4 and 5 are graphs showing the surface condition in a cross section along a group of substrate surfaces of the optical recording medium of the present invention, respectively. FIGS. 6 and 7 are graphs showing the transmission and reflection spectra of the dye used in the present invention, respectively. FIG. 8 is a graph showing the results of light resistance. Explanation of symbols 1... Optical recording medium 2... Substrate 21... Land portion 23... Group 3... Recording layer 4... Reflective layer 5... Protective film 6... Pit portion 61...Degraded product layer 63...Void application Person: TDT-K Co., Ltd., agent Patent attorney, Seika Ishii, patent attorney
Increase 1) Tatsuya F ■ G. Buki fallen? rJ Meunoshima Gornm) Akichou (/nm) ■G. Length (/nm) G- 0 2゜0 4゜0 Irradiation time/hr

Claims (17)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)基板上に色素を含有する記録層を有し、この記録
層上に密着して反射層を積層して構成され、 記録光を前記記録層に照射してピット部を形成し、再生
光により再生を行う光記録媒体であって、 前記ピット部の前記基板と前記記録層の界面部には、記
録層材質の分解物を含有し、かつ基板材質を実質的に含
有しない層が存在していることを特徴とする光記録媒体
(1) A recording layer containing a dye is provided on a substrate, and a reflective layer is laminated in close contact with this recording layer. Recording light is irradiated onto the recording layer to form pits, and playback is performed. An optical recording medium that is reproduced by light, wherein a layer containing a decomposed product of a recording layer material and substantially not containing a substrate material is present at an interface between the substrate and the recording layer in the pit portion. An optical recording medium characterized by:
(2)前記ピット部には、空隙が形成されている請求項
1に記載の光記録媒体。
(2) The optical recording medium according to claim 1, wherein a void is formed in the pit portion.
(3)記録光および再生光の波長における前記記録層の
消衰係数kが0.03〜0.25である請求項1または
2に記載の光記録媒体。
(3) The optical recording medium according to claim 1 or 2, wherein the recording layer has an extinction coefficient k of 0.03 to 0.25 at the wavelengths of recording light and reproduction light.
(4)記録光および再生光の波長における前記記録層の
屈折率nが1.8〜4.0である請求項3に記載の光記
録媒体。
(4) The optical recording medium according to claim 3, wherein the recording layer has a refractive index n of 1.8 to 4.0 at the wavelengths of recording light and reproduction light.
(5)記録光および再生光の波長が600〜900nm
である請求項1ないし4のいずれかに記載の光記録媒体
(5) The wavelength of recording light and reproduction light is 600 to 900 nm.
The optical recording medium according to any one of claims 1 to 4.
(6)前記記録層の厚さが500〜2000Åである請
求項1ないし5のいずれかに記載の光記録媒体。
(6) The optical recording medium according to any one of claims 1 to 5, wherein the recording layer has a thickness of 500 to 2000 Å.
(7)基板側から再生光を照射したとき、未記録部分の
反射率が60%以上であり、記録部分の反射率が未記録
部分の反射率の60%以下である請求項1ないし6のい
ずれかに記載の光記録媒体。
(7) When the reproduction light is irradiated from the substrate side, the reflectance of the unrecorded portion is 60% or more, and the reflectance of the recorded portion is 60% or less of the reflectance of the unrecorded portion. The optical recording medium according to any one of the above.
(8)前記記録層が塗布膜である請求項1ないし7のい
ずれかに記載の光記録媒体。
(8) The optical recording medium according to any one of claims 1 to 7, wherein the recording layer is a coating film.
(9)前記記録層が蒸着膜である請求項1ないし7のい
ずれかに記載の光記録媒体。
(9) The optical recording medium according to any one of claims 1 to 7, wherein the recording layer is a vapor deposited film.
(10)前記記録層が2種以上の色素を含有する請求項
1ないし9のいずれかに記載の光記録媒体。
(10) The optical recording medium according to any one of claims 1 to 9, wherein the recording layer contains two or more types of dyes.
(11)前記反射層上に保護膜を積層した請求項1ない
し10のいずれかに記載の光記録媒体。
(11) The optical recording medium according to any one of claims 1 to 10, further comprising a protective film laminated on the reflective layer.
(12)前記保護膜が、放射線硬化型化合物を放射線硬
化したものである請求項1ないし11のいずれかに記載
の光記録媒体。
(12) The optical recording medium according to any one of claims 1 to 11, wherein the protective film is made by radiation-curing a radiation-curable compound.
(13)前記保護膜の25℃における鉛筆硬度がH〜8
Hである請求項12に記載の光記録媒体。
(13) The pencil hardness of the protective film at 25°C is H~8
The optical recording medium according to claim 12, which is H.
(14)前記保護膜の厚さが0.1μm以上である請求
項12または13に記載の光記録媒体。
(14) The optical recording medium according to claim 12 or 13, wherein the protective film has a thickness of 0.1 μm or more.
(15)前記基板の25℃における酸素透過量が5×1
0^−^1^0cm^3・cm^−^2・s^−^1・
(cmHg)^−^1以下である請求項1ないし14の
いずれかに記載の光記録媒体。
(15) The amount of oxygen permeation of the substrate at 25°C is 5×1
0^-^1^0cm^3・cm^-^2・s^-^1・
(cmHg)^-^1 or less.
(16)前記記録層と前記反射層との間に、接着層を有
する請求項1ないし15のいずれかに記載の光記録媒体
(16) The optical recording medium according to any one of claims 1 to 15, further comprising an adhesive layer between the recording layer and the reflective layer.
(17)前記反射層上または前記反射層と前記記録層と
の間に、ジッター防止膜を有する請求項1ないし16の
いずれかに記載の光記録媒体。
(17) The optical recording medium according to any one of claims 1 to 16, further comprising an anti-jitter film on the reflective layer or between the reflective layer and the recording layer.
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