JPH0321808A - プリント基板のフィルムパターン検査装置 - Google Patents

プリント基板のフィルムパターン検査装置

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JPH0321808A
JPH0321808A JP1156351A JP15635189A JPH0321808A JP H0321808 A JPH0321808 A JP H0321808A JP 1156351 A JP1156351 A JP 1156351A JP 15635189 A JP15635189 A JP 15635189A JP H0321808 A JPH0321808 A JP H0321808A
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JP
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JP1156351A
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English (en)
Inventor
Hitoshi Kogori
古郡 仁
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Meidensha Corp
Meidensha Electric Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Meidensha Corp
Meidensha Electric Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0321808A publication Critical patent/JPH0321808A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 A.産業上の利用分野 本発明はプリント基板のフィルムパターンを自動的に検
査するための装置に関するものである。
I3  発明の概要 本発明はプリント基板のフイルムパターンを検査する装
置において、 フィルムパターンの輪郭画素を追跡し、この追跡結果に
基づいて電流路の線幅情報、電流路間の離間距離情報及
びンンボルの情報を抽出し、参照データと比較すること
によって、 迅速な自動検査を実現できるようにしたものである。
C 従来の技術及び発明か解決しようとする課題和子回
路を組むベースとなるプリント基板を製作する代表的手
順は次の通りである。
(1)基板パターンを設計する (2)フィルムパターンを製作する (3)フィルムパターンをチェックする(4)基板を製
作する (5)基板をヂエツクする 近年はコンピュータ技術の発達により、上記(+).(
2),(3),(4),(5)はかなり自動化されてき
た。しかし、(3)は今だに人間の目を頼りにチェック
を行っており、なかなか自動化できない分野である。
本発明の目的は、フィルムパターンの検査を自動でかつ
高速に実行することにある。
D.課題を解決するための手段及び作用本発明は、プリ
ント基板のフィルムパターンの2値化画像に対して、図
形部分を左右のうちの一方側にみながら背景部分との境
界に相当する画素群を追跡し、これら画素群を追跡方向
に結んで得られた輪郭ベクトル群を抽出する手段と、前
記輪郭ベクトル群の方向に対して前記一方flll+に
近接して存在する輪郭ベクトル群を探査し、その探査結
果に基づいて基板の電流路に相当する接続パターンの線
幅情報を抽出する線幅抽出部と、前記輪郭ベクトル群の
方向に対して左右のうちの他方の側に近接して存在する
輪郭ベクトル群を探査し、その探査結果に基づいて互い
に隣接する接続パターン間の離間距離情報を抽出する離
間距離抽出部と、前記線幅抽出部で探査した結果に基づ
いて部品の取付部分及び/または位置合わせ部分に田当
するシンボルの情報を抽出するシンボル抽出部とを備え
たパターン情報抽出部と、前記パターン情報抽出部より
のデータと接続パターンの線幅情報、接続パターン間の
離間距離情報及びシンボルの情報に関する参照データと
を比較して比較結果を出力する手段とを有してなること
を特徴とする。従って検査対象のフィルムパターンにつ
いて、電流路の幅が規定範囲から外れている、電流路か
切断している、電流路同士が接触している等の検査結果
が得られる。
E.実施例 第I図1は画像読込部であり、プリント基板のフィルム
パターンの画像をスキャナやカメラ等から取り込み、図
形部分に相当する黒画素、背景部分に相当する白画素を
抽出する。
2は輪郭抽出部であり、画像読込部Iで抽出した白画素
、黒画素の画像情報を受け取って、図形の輪郭に相当す
る輪郭画素系列を抽出する。輪郭画素系列は、黒白の境
界をなす画素のうち例えば第2図に示すように図形(斜
線部分)を右に見ながら境界を追跡していき、その追跡
結果により得られた画素群のうち、I輪郭部分の輪郭画
素群(P,−P,)、(Q,−Qn)に相当するもので
ある。
3はヘクトル化部であり、前記輪郭画素群を追跡方向に
順に結んでベクトル化し、各ベクトルP+,Pt、Px
.Pz・・・の始点及び終点をベクトルデータとして取
り出し、直線近似による情報の圧縮を行ってから輪郭ベ
クトル記憶郎4に出力する。
この例では、l輪郭をなすベクトル群の各ベクトルにつ
いてみると、始点から終点をみたとき必ず右側に図形が
存在する。
5,は線幅抽出部であり、基板の電流路に相当する接続
パターンの線幅情報、例えば接続パターンの線幅(接続
パターンの両縁間の距離)の最大値、最小値及び平均値
を抽出する。線幅情報の抽出について述べると、先ず接
続パターンの輪郭ベクトル群を探査する。この探査は、
第3図に示すように接続パターンの一縁側のベクトルA
と他縁側のベクトルBとは互いに距離が近いこと、かつ
互いになす角度が180度に近いこと、更にペアベクト
ルA,Bは互いにベクトルの向きに対して右側に存在す
ることを111用して行われる。具体的にはあるベクト
ルの右側に小さな領域を設定し、この領域に含まれるベ
クl・ルてあってかつ互いに180度をなずヘクトルを
検出し、これらベクトル同士をペアベクトルとして捉え
る。ベクトルAの所属するベクトル群とベクトルBの所
属ずるヘクトル群とを第Iのペアベクトル群と称すると
、線幅情報はこの第1のベアベクトル群の探査結果に基
づいて抽出される。第3図はこの様子を示す図であり、
例えばベクトルAの終点と相手側のベクトル群上の点と
の距離を求め、この試行を第1のペアベクトル群の各ベ
ク1・ルについて実行して線幅データd1・・d1・・
を抽出し、これに基づいて線幅の最大値等が得られる。
5,は離間距離抽出部であり、第1のペアベクトル群に
基づいて、互いに隣接ずろ接続パターンのうち一方の接
続パターンの一縁側の輪郭ベクトル群と他方の接続パタ
ーンの他縁側の輪郭ベクトル群とよりなる第2のペアベ
クトル群を抽出し、この第2のペアベクトル群を探査し
て接続パターン同士の離間距離情報を抽出する。第4図
はこの様子を示す図であり、ベクトルBを含む輪郭ベク
トル群とベクトルCを含む輪郭ベクトル群とが第2のペ
アベクトル群に相当し、gは離間距離を示す。この離間
距離の抽出については接続パターンの線幅の抽出と同様
にして行われ、得られたデータに基づいて離間距離の最
大値、最小値及び平均値を求める。
5,は、プリント基板における部品のハンダ付け部分に
相当する取付用シンボルを抽出するンンボル抽出部であ
り、前記第lのベアベクトル群に基づいてシンボルの位
置、形状、大きさ及び接続パターンとの接続状態等の情
報を求める。ノンボルを抽出する方法については、接続
パターンの終端部分、あるいは接続パターンの途中で急
激に線幅か増加している部分をシンボルとして捉えるこ
とにより実行される。また前記シンボルや接続パターン
等に分類されなかった残輪郭ベクトルに対して、位置合
わせ用シンボル等の抽出を行う。なおプリント基板に表
れろノンポルは丸や四角等の単純な形状かはとんである
ことから、ンンボル認識は公知の手法で充分実現可能で
ある。
以七において、これら抽出部5,〜53は全体でパター
ン情報抽出部5を構成している。
6は参照データ人力部であって、検査対象のフィルムパ
ターンの参照データ、即ち許容されるフィルムパターン
のデータを取り込むためのものであり、例えばI”{S
232Cシリアル人力、フロッピーディスクあるいは固
定ディスク等で構成される。ここに格納されているデー
タは、接続パターンの線幅の規定値範囲、接続パターン
の配置関係、取付用や位置合わせ用のシンボルの大きさ
、形、及び取付用シンボルと接続パターンとの接続情報
等が含まれる。
7は比較部であり、プリント基板情報抽出部5よりのデ
ータと参照データ人力部6よりのデータとを比較し、そ
の結果をRS232シリアル出力、フロッピーディスク
、固定ディスクあるいは端末等よりなる比較結果出力部
8に与える。
次に上述実施例の作用について述べる。検査対象となる
プリント基板のフィルムパターンを画像読込部1に画像
情報として入力し、その後図形の輪郭に相当する輪郭ベ
クトルを抽出し、これに基づいて接続パターンの線幅情
報、互いに隣接する接続パターン間の離間距離情報及び
上記のシンボル情報を作成する。これらを情報を比較部
7で参照データと比較し、検査対象であるフィルムパタ
ーンの接続パターンの線幅か規定値範囲に入っているか
否か、接続パターンが接触しているか否か、ノンポルの
形状、大きさが適合しているか否か、ノンポルが指定の
接続パターンと接続しているか否か、ノンポルが断定外
の接続パターンと接続されていないか否か等を稠べ、そ
の結果を比較結果出力部8に与える。例えば比較結果出
力郎8かフロッピーディスクの場合、一連のフィルl8
パターンの結果が格納され、その後一括して結果を読み
出し、対処する。
F.発明の効果 本発明によれば、フィルムパターンの輪郭画素を追跡し
、この追跡結果に基づいて電流路の線幅情報、電流路間
の離間距離情報及びシンボルの情報を抽出し、参照デー
タと比較ずろようにしているため、フィルムパターン検
杏を自動的に行うことができると共に、輪郭ベクトルを
抽出してこれに基づいて線幅情報等を得ていろため、情
報の取得が容易であり、従ってフィルムパターンの検存
を自動でかつ高速に実行することかできる。この結果大
幅な効率化、人2′)的なヂエックミスの防ILがなさ
れる。
【図面の簡単な説明】
第l図は本発明の実施例を示す構成図、第2図は輪郭画
素を示す説明図、第3図は接続パターンの線幅を示す説
明図、第4図は接紘パターンの離間距離を示す説明図で
ある。 1・・・画像読込部、2・・・輪郭抽出部、3・・・ベ
ク1・ル化部、4・・・輪郭ベクトル記憶部、5・・・
パターン情報抽出部、7・・・比較部。 第3図 接続パターンの線幅の説明図 A 第4図 接続パターンの恕間距離の説明図 A

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)プリント基板のフィルムパターンの2値化画像に
    対して、図形部分を左右のうちの一方側にみながら背景
    部分との境界に相当する画素群を追跡し、これら画素群
    を追跡方向に結んで得られた輪郭ベクトル群を抽出する
    手段と、 前記輪郭ベクトル群の方向に対して前記一方側に近接し
    て存在する輪郭ベクトル群を探査し、その探査結果に基
    づいて基板の電流路に相当する接続パターンの線幅情報
    を抽出する線幅抽出部と、前記輪郭ベクトル群の方向に
    対して左右のうちの他方の側に近接して存在する輪郭ベ
    クトル群を探査し、その探査結果に基づいて互いに隣接
    する接続パターン間の離間距離情報を抽出する離間距離
    抽出部と、前記線幅抽出部で探査した結果に基づいて部
    品の取付部分及び/または位置合わせ部分に相当するシ
    ンボルの情報を抽出するシンボル抽出部とを備えたパタ
    ーン情報抽出部と、 前記パターン情報抽出部よりのデータと接続パターンの
    線幅情報、接続パターン間の離間距離情報及びシンボル
    の情報に関する参照データとを比較して比較結果を出力
    する手段とを有してなることを特徴とするプリント基板
    のフィルムパターン検査装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002202586A (ja) * 2000-12-28 2002-07-19 Toppan Printing Co Ltd マスクパターン形状計測装置及びマスクパターン形状計測方法並びに記録媒体
JP2004185019A (ja) * 1999-08-26 2004-07-02 Nano Geometry Kenkyusho:Kk パターン検査装置、パターン検査方法および記録媒体
JP2010054289A (ja) * 2008-08-27 2010-03-11 Omron Corp 視覚検査装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004185019A (ja) * 1999-08-26 2004-07-02 Nano Geometry Kenkyusho:Kk パターン検査装置、パターン検査方法および記録媒体
JP4597509B2 (ja) * 1999-08-26 2010-12-15 株式会社ナノジオメトリ研究所 パターン検査装置およびパターン検査方法
JP2002202586A (ja) * 2000-12-28 2002-07-19 Toppan Printing Co Ltd マスクパターン形状計測装置及びマスクパターン形状計測方法並びに記録媒体
JP4714989B2 (ja) * 2000-12-28 2011-07-06 凸版印刷株式会社 マスクパターン形状計測装置及びマスクパターン形状計測方法並びに記録媒体
JP2010054289A (ja) * 2008-08-27 2010-03-11 Omron Corp 視覚検査装置

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