JPH03217807A - 合焦点条件検出方法 - Google Patents

合焦点条件検出方法

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JPH03217807A
JPH03217807A JP2014600A JP1460090A JPH03217807A JP H03217807 A JPH03217807 A JP H03217807A JP 2014600 A JP2014600 A JP 2014600A JP 1460090 A JP1460090 A JP 1460090A JP H03217807 A JPH03217807 A JP H03217807A
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JP
Japan
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brightness
differences
image
processing
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JP2014600A
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English (en)
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Hidekazu Imamura
英一 今村
Hiroshi Okamoto
浩志 岡本
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、撮像光学装置を用いて得られた画像データ
に基いて、撮像光学装置の合焦点条件を検出する方法に
関する。
〔従来の技術〕
撮像光学装置の焦点を自動的に調節する方法としては、
例えば特開昭61−122617号公報に開示されてい
るものが知られている。この方法では、画像の隣接画素
間の輝度(または濃度)の差分を求め、その差分が最大
になるようにレンズと結像面との距離を制御している。
この方法は、画像内に輝度変化が大きな輪郭線が存在す
る場合に有効である。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし、従来の方法では、画像内の輝度の変化が緩やか
な場合には、レンズと結像面との距離を変えても隣接画
素間の輝度の差分に顕著な変化が見られないことがある
。従って、この場合には合焦点となる条件(ここではレ
ンズと結像面との距離)を見出すのが難しいという問題
があった。
また、輪郭線部分における隣接画素間の輝度の差分が大
きい場合でも、解像度を上げるために画素のサイズを小
さくすると、隣接画素間の輝度変化が緩やかとなってし
まい、この結果、合焦点条件を精度良く見出すのが難し
いという問題があった。
〔発明の目的〕
この発明は、従来技術における上述の課題を解決するた
めになされたものであり、隣接画素間の輝度変化が緩や
かな場合でも、合焦点条件を精度良く検出することので
きる合焦点条件検出方法を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕 上述の課題を解決するため、この発明は、撮像光学装置
が合焦点となる条件を検出する合焦点条件検出方法にお
いて、(a)前記撮像光学装置を用いて被観察物の画像
の輝度を画素ごとの画像データとして取得し、(b)前
記画像の少なくとも一部の処理領域内において所定の処
理ウィンドウを移動させつつ、前記処理ウィンドウ内に
おいて互いに隣接しない画素同士の画像データの差分を
所定の複数の方向に沿って求めるとともに、前記複数の
方向における前記差分のうちの最大値を前記処理ウィン
ドウの各位置で求め、(C)前記差分の最大値を前記処
理領域内で加算することによって差分和を求めるととも
に、(d)前記差分和が最大となる前記撮像光学装置の
焦点調整条件を、合焦点条件として検出する。なお、所
定の複数の方向は、45″おきに配置された第1ないし
第4の方向を含むようにしてもよい。
〔作用〕
処理ウィンドウ内の互いに隣接しない画素同士の画像デ
ータの差分に基いて差分和を求め、この差分和に基いて
合焦点条件を検出するので、輝度を表わす画像データの
変化が緩やかな場合にも差分和が大きな値となり、合焦
点条件を精度良く検出できる。
また、差分和は、複数の方向における差分の最大値を処
理領域内で加算することによって求められているので、
輪郭線の向きに係わらず、合焦点条件を精度良く検出で
きる。特に、複数の方向として前記第1ないし第4の方
向を含むようにすれば、この点でより好ましい。
〔実施例〕
A.装置の構成 第9図は、この発明の一実施例を適用する装置としての
測長装置を示す斜視図である。この測長装置の測定部1
は、4本の脚部11の上に図示しないエアパッド(空気
ばね)を介して基盤12が支持されており、この基盤1
2の上には測定テーブルl3がY方向に移動自在に設け
られている。
基盤12の後端部の上に立設された箱体14の前面には
レール板15が固定されている。レール板15には移動
体16がX方向に移動自在に取付けられており、この移
動体16に顕微鏡17と2次元CCDカメラ18とが固
定されている。基盤12の前面には、X軸移動ノブ19
aとY軸移動ノブ19bとが設けられている。オペレー
タがX Idl移動ノブ19aを回すことにより、移動
体16がX方向に移動し、Y軸移動ノブ19bを回すこ
とにより、測定テーブル13がY方向に移動するように
なっている。基盤12の下部には電装部10が設けられ
ている。この電装部10には、後述するマイクロコンピ
ュータなどの、測定部lを制御する装置が内蔵されてい
る。
この測定部1に隣接して、操作部2が設けられている。
操作部2のテーブル21の前部には操作バネル22が設
けられており、また後部にはCODカメラ18で撮像し
た画像を表示するためのモニター23とパーソナルコン
ピュータ24とが設置されている。操作バネル22は、
ジョイスティック22aやキーボード22bなどを有し
ている。
オペレータは、ジョイスティック22aを操作すること
により、移動体16をX方向に、また、測定テーブル1
3をY方向に図示しないモータによってそれぞれ移動さ
せることができる。また、キ−ボード22bを操作する
ことによって種々の測定モードや、測定データの統計処
理方法などを選択できるようになっている。また、オペ
レータはこのパーソナルコンピュータ24を用いて、測
定部10に自動的に測長を行なわせるための測定プログ
ラムの作成などを行なうことができる。なお、このパー
ソナルコンピュータ24には周辺機器としてキーボード
24a,マウス24b.プリンター24cなどが備えら
れている。
第1図は、上述した測長装置の電気的構成の一部を示す
ブロック図である。図において、電装部10には、A/
D変換器30と、画像メモリ40と、マイクロコンピュ
ータ50と、バルスモータドライブ回路60とか備えら
れている。CCDカメラ18で撮像して得られた被観察
物OBの画像データDiは、A/D変換器30でA/D
変換された後、画像メモリ40に格納される。そして、
マイクロコンピュータ50は、この画像メモリ40から
所要の画像データD1を読出して後述する処理を行う。
マイクロコンピュータ5oは、CPU51とRAM52
とを備えている。CPU51は、雑音成分除去手段51
aと、輝度差データ演算手段5lbと、輝度差データ加
算手段51cと判定手段51dとを備えている。これら
の手段51a〜51dは、いずれも制御プログラムによ
ってCPU51が行なう処理の内容を表わしたものであ
る。なお、これらの手段51a〜51dの処理内容につ
いてはさらに後述する。CPU51は、バルスモータド
ライブ回路6oにパルス信号S を与え、p パルスモータドライブ回路6oは、このパルス信号S,
に応じて顕微鏡17の上下位置を調整するためのパルス
モーター7aを駆動する。
B.実施例の手順 第2図は、この実施例の手順を示すフローチャートであ
る。
ステップS1では、被観察物OBを測定テーブル13の
上に載置するとともに、測定テーブル13と移動体16
とを動かすことにより、被観察物OB上の所望の測定位
置に顕微鏡17を位置決めする。なお、被観察物OBは
、例えば、ガラス基板の上に作成された液晶パネル用パ
ターンや、そのパターンの焼付けに使用されるマスクな
どである。
ステップS2では、顕微鏡17の高さを調整し、焦点が
ほほ合うようにする。なお、この調整は、顕微鏡17に
設けられているノブ(図示せず)を用いてオペレータが
手動で行う。
ステップS3では、2次元CCDカメラ18によって被
観察物OBの画像を撮像する。これによって、例えば5
12X485画素からなる画像が得られる。この画像の
輝度を表わす画像データD.は、前述したように、A/
D変換器30でAl /D変換された後、画像メモリ40に格納される。
ステップS4〜S7は、CPU51によって行なわれる
処理である。ステップS4では、画像メそり40に格納
されている画像データDIの中から、所定の処理領域内
の画像データD1がCPU51によって読出される。第
4図は処理領域PAの例を示す説明図である。この処理
領域PAは5OX50個の画素Pで構成されている。な
お、1つの画素Pの一辺の長さは例えば0.3〜0.4
μm程度である。処理領域PAとしては、例えば2次元
CCD18で撮像された画像の中心に存在する50X5
0画素の領域が選ばれる。
ステップS5では、雑音成分除去手段51aによって処
理領域PAの画像データD.のスムージ1 ング処理が行なわれる。このスムージング処理には、例
えば3×3画素で構成されてるメディアンフィルタ(中
央値フィルタ)を用いる。メディアンフィルタは、よく
知られているように、フィルタ内の画素の輝度値を小さ
い方から順番に並べて、その中央値(3×3画素のフィ
ルタの場合には5番目の値)をフィルタの中心画素にお
ける輝度値とするフィルタである。このようなスムージ
ング処理を行なうことによって、画像データDiの雑音
成分を除去することができる。この実施例では3×3画
素のメディアンフィルタを使用するので、処理領域PA
の中でスムージング処理を行った後の画像データD1a
が得られるのは、第4図に示す48X48画素の領域P
A1 (以下、「第1の有効領域」と呼ぶ。)内の画素
のみてある。
ステップS6では、雑音成分が除去された画像データD
1,が、雑音成分除去手段51aから輝度差データ演算
手段51bに与えられ、ここで輝度差データB (1,
j)が算出される。第5図は、輝度差データB (1.
j)を求めるための処理ウインドウWを示す説明図であ
る。この処理ウィンドウWは、3×3画素ブロックで構
成されている。この処理ウィンドウWの中心画素P .
の輝度をX(1とし,I・J その右隣りの画素P, .の輝度をx1とする。
1+1 . 3 そして、処理ウィンドウWの周辺部の他の画素の輝度を
、画素P  .から反時計回りにそれぞれ1+l.J x2〜x8であるとする。このとき、中心画素P .に
おける輝度差データB (i.j)は、次式でl・J 与えられる。
B (l.j) −MAX ( l Xk+4− Xk
+ )−(1)ここで、k−1〜4てある。
言い換えれば、4つの輝度差の絶対値lx5X 1〜l
x   x4lのうちで、最大のものを18 中心画素P  の輝度差データB (1,j)とするの
1.j である。なお、上記の4つの輝度差l X 5  X 
1〜lx   x4 1は、処理ウィンドウWの周辺8 に存在し、かつ、互いに向い合う画素同士の輝度の差で
ある。スデツプS6の処理は、第1の有効領域PAl内
で行なわれるが、ここでは処理ウィンドウWを用いて処
理しているので、輝度差データB (1.j)が得られ
るのは、第4図に示す46×46画素の領域PA2 (
以下、「第2の有効領域」と呼ぶ。)内の画素のみてあ
る。輝度差データB(1,j)は、このように、互いに
隣接しない2つの画素同士の輝度の差なので、輝度変化
が緩やかな場合にもその値が比較的大きくなるという利
点がある。
ステップS6では、さらに、第2の有効領域PA2内の
各画素に対する輝度差データB (i,j)が輝度差デ
ータ加算手段51Cによって加算され、次式のように、
コントラストデータCが得られる。
ここで座標(1.j)は処理領域PA内の画素について
定義されている。
このコントラストデータCは、顕微鏡17の高さを示す
データとともに、判定手段51dに与えられ、ここに格
納される。
以上の処理によって、ステップS2でセットされた顕微
鏡17の高さにおける処理が終了する。
次にステップS7において、判定手段51dにより合焦
点の判定を行なう。第8図は、合焦点位置付近における
、コントラストデータCと顕微鏡17の高さhとの関係
を示す図である。この図から明らかなように、コントラ
ストデータCは、顕微鏡の位置hにおける合焦点位置に
おいて最大値をとる曲線となる。
従って、顕微鏡17の高さhを、後述するステップS8
において、所定の昇降量だけ変化させ、それぞれの高さ
において前述したステップ83〜S6をくり返すことに
よりコントラストデータCを求め、このコントラストデ
ータCが最大となる点、すなわちこのコントラストデー
タCの変化量が増加から減少となる点をみつけ出すこと
により、合焦点位置を判定することができる。
第3図は、ステップS7における判定手段51dの判定
手順の一例を示すフローチャートであり、このフローチ
ャート においてC は顕微鏡17の高さがh のときのnn コントラストデータを示す。また、nはステップ83〜
S6の処理を実行した回数を示す。なお、ステップS8
においては、CPU51からパルスモータドライブ回路
60に、顕微鏡17の昇降量に相当するパルス数のパル
ス信号S を与えるこp とによって顕微鏡17の昇降が行なわれる。具体的には
、例えば、lμmだけ顕微鏡17の高さを上げるように
する。なお、適度な昇降量は顕微鏡17の倍率に応じた
焦点深度に依存する。通常は、顕微鏡17の1回の昇降
量を焦点深度よりも小さく設定しておけば、合焦点とな
る高さをうまく見出すことができる。
ステップS7において合焦点の判定ができるまてステッ
プ83〜S8の処理が繰返され、所定の回数の処理が行
なわれると、判定手段51aによって合焦点位置が判定
される。第6A図と第6B図とは、顕微鏡高さの異なる
2つの条件における画像の輝度D1a及び輝度差データ
Bの分布を示す説明図である。第6A図はピントが合っ
ていない状態に対応しており、第6B図はピントが合っ
た状態に対応している。なお、これらの図は、図示の便
宜上、1次元の輝度分布について示している。
また、参考のために、隣接画素同士の輝度の差分をとっ
た輝度差BBも併せて示している。これらの図からわか
るように、ピントが合った条件では、輝度差データBが
大きくなり、従って、コントラストデータCも大きくな
る。そこで、コントラストデータCの値が最大となる顕
微鏡高さを合焦点位置と決定することができる。なお、
図からわかるように、この実施例による輝度差データB
は、隣接画素同士の輝度差BBよりも大きな値となるの
で、合焦点位置をより正確に判定することができる。
ステップS7で合焦点位置が決定されると、スチップS
9において、CPU51がパルス信号S をパルスモー
タドライブ回路60に与えるこp とによって、顕微鏡17の高さを合焦点位置に合わせる
。こうして焦点合わせをしたあと、ステップS10にて
測長を行なえば、ピントが合った状態で精密な測長を行
なうことができる。
上述したように、コントラストデータCは、互いに隣接
しない2つの画素同士の輝度の差として求められた輝度
差データB (1.j)に基いて得られているので、顕
微鏡高さを変化させたときのコントラストデータCの変
化が従来の方法に比べて大きくなる。従って、合焦点位
置を容易に判定できるという利点がある。特に、偶然的
なノイズ成分によってコントラストデータCにピークが
発生するような場合にも、これを合焦点位置と誤認する
ことを防止することが容易である。また、輝度差データ
B (1.j)は、1方向に沿って配列された画素同士
の輝度の差のみでなく、複数の方向(上記の例では、i
方向1 j方向およびこれらと45°傾いた2つの方向
)に沿って配列された画素間の輝度の差に基いて得られ
ている。従って、輝度差の大きい輪郭線がi方向(また
はj方向)に平行な場合にも、輝度差データB (1.
j)の値が大きくなるので、合焦点位置を容易に見出す
ことかできるという利点がある。また、i方向やj方向
から45゜傾いた方向での輝度の差にも基いて輝度差デ
ータB (I,j)を求めているので、輪郭線がi方向
やj方向から傾いている場合にも、輝度差データB (
t,j)が大きな値に保たれる。従って、この場合も合
焦点位置を容易に見出すことができるという利点がある
C.変形例 なお、この発明は上記実施例に限られるものではなく、
例えば次のような変形も可能である。
■輝度差データB (1,j)を求めるための処理ウィ
ンドウWは、第5図に示すものに限らず、種々のちのが
考えらる。第7A図,第7B図は、それぞれ輝度差デー
タB (1,j)を求めるための他の処理ウィンドウW
,Wbを示す説明図である。
a 第7A図の処理ウィンドウW では、周辺の1a 2個の画素における輝度を反時計回りにx1〜x12で
あるとしている。このとき、輝度差データB は(1)
式のかわりに次式で与えられる。
a B  −MAX (l x   −x  I)   −
(3).        k+6   k ここで、k−1〜6てある。
なお、この輝度差データB は、前述の輝度差a データB(t.j)のように特定の画素に対応している
わけではなく、第1の有効領域PA1内における処理ウ
ィンドウW の位置に対応している。処a 理ウィンドウW は、第1の有効領域PA1の中a を移動しつつ、その各位置ごとに、輝度差データB を
求めていく。従って、第7A図の処理ウィa ンドウW を用いると、第1の有効領域PA1のa 中で、45X45個の輝度差データBaを得ることがで
きる。
第7B図の処理ウィンドウWbでは、中心の画素の輝度
をX ,周辺の16個の画素の輝度を0 x1=xlBとしている。このとき、輝度差データB5
を次式で与えることもできる。
B  −M A X ( l x kX O  l )
    =・(4)b ここて、k−1〜16てある。
この輝度差データB5は、(1)式で与えられる輝度差
データB (1.j)と同様に、互いに隣接しない画素
同士の輝度の差でる。但し、この処理ウィンドウW,を
使用した場合には、第1の有効領域P A 1の中で、
44X44個の輝度差データBbが得られる。
なお、以上の説明では、処理ウィンドウWの周辺画素の
輝度をすべて用いて輝度差データを求めていたが、その
一部の画素の輝度のみを用いて輝度差データを求めても
よい。すなわち、処理ウィンドウ内において互いに隣接
しない画素同士の輝度の差を複数の方向で求め、この輝
度の差の最大値を輝度差データとすればよい。
■上記実施例では、2次元CCD17によって画像の輝
度(または濃度)を表わす画像データが得られるものと
した。被観察物OBがカラーの場合には、フィルターを
かけて色分解することにより、R,G,B各色の輝度を
表わす画像データを得ることができる。この場合には、
R,G,Bのいずれかの1つの色の画像データに基いて
上述の処理を行ってもよく、また、これらの各色の画像
データ間の所定の和に基いて上述の処理を行ってもよい
■上記実施例では、顕微鏡17の高さを調整することに
よって、焦点を合わせるようにした。しかし、このよう
に、光学観察系と被観察物との距離を調整する装置のみ
でなく、光学観察系の焦点距離を変化させることによっ
て、焦点を合わせるような装置にも適用できる。この場
合には、光学観察系の焦点距離が合焦点条件となる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、この発明によれば、処理ウィンド
ウ内の互いに隣接しない画素同士の画像データの差分に
基いて差分和を求め、この差分和に基いて合焦点条件を
検出するので、輝度を表わす画像データの変化が緩やか
な場合にも差分和が大きな値となり、合焦点条件を精度
良く検出できるという効果がある。
また、差分和は、複数の方向における差分の最できると
いう効果がある。特に、複数の方向として、45°おき
に配置された第1ないし第4の方向を含むようにすれば
この効果がより大きくなる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明を適用した測長装置の電気的構成の
一部を示すブロック図、 第2図および第3図は、この発明に係る実施例の手順を
示すフローチャート、 第4図は、処理領域を示す概念図、 第5図は、処理ウィンドウを示す概念図、第6A図およ
び第6B図は、輝度と輝度差データとの分布を示す説明
図、 第7A図および第7B図は、他の処理ウィンドウの例を
示す概念図、 第8図は、コントラストデータと顕微鏡の位置との関係
を示す説明図、 第9図は、この発明の一実施例を適用する測長装置を示
す斜視図である。 17・・・顕微鏡、  18・・・2次元CCD,D1
a・・・輝度データ、B (1.j)・・・輝度差デー
タ、C・・・コントラストデータ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)撮像光学装置が合焦点となる条件を検出する合焦
    点条件検出方法であって、 (a)前記撮像光学装置を用いて被観察物の画像の輝度
    を画素ごとの画像データとして取得し、(b)前記画像
    の少なくとも一部の処理領域内において所定の処理ウィ
    ンドウを移動させつつ、前記処理ウィンドウ内において
    互いに隣接しない画素同士の画像データの差分を所定の
    複数の方向に沿って求めるとともに、前記複数の方向に
    おける前記差分のうちの最大値を前記処理ウィンドウの
    各位置で求め、 (c)前記差分の最大値を前記処理領域内で加算するこ
    とによって差分和を求めるとともに、(d)前記差分和
    が最大となる前記撮像光学装置の焦点調整条件を、合焦
    点条件として検出することを特徴とする合焦点条件検出
    方法。
  2. (2)所定の複数の方向は、45°おきに配置された第
    1ないし第4の方向を含む請求項1記載の合焦点条件検
    出方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107851382A (zh) * 2015-07-08 2018-03-27 日产自动车株式会社 灯具检测装置及灯具检测方法

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