JPH0320724Y2 - - Google Patents
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- JPH0320724Y2 JPH0320724Y2 JP7460584U JP7460584U JPH0320724Y2 JP H0320724 Y2 JPH0320724 Y2 JP H0320724Y2 JP 7460584 U JP7460584 U JP 7460584U JP 7460584 U JP7460584 U JP 7460584U JP H0320724 Y2 JPH0320724 Y2 JP H0320724Y2
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- metal
- standard sample
- holder
- metal piece
- film thickness
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- Expired
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Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この標準サンプル板は螢光X線膜厚計に関し、
膜厚測定用検量線作成に用いる標準サンプル板に
関するものである。[Detailed explanation of the invention] This standard sample plate is related to a fluorescent X-ray film thickness meter.
This relates to a standard sample plate used for creating a calibration curve for measuring film thickness.
従来、膜厚測定用検量線作成に金属箔標準サン
プルを用いる場合、金属箔標準サンプルの取扱い
は素手又はピンセツトで直接金属箔標準サンプル
を素材又は金属箔標準サンプル上にのせて膜厚測
定用検量線を作成していた。しかし、従来のこの
構成では、金属箔標準サンプルが熱や外力により
変形したり、金属箔標準サンプルを重ね合せた場
合、金属箔標準サンプルが位置ずれをおこしたり
するため精度の高い膜厚測定用検量線作成が難し
かつた。 Conventionally, when using a metal foil standard sample to create a calibration curve for film thickness measurement, the metal foil standard sample was handled by placing the metal foil standard sample directly on the material or metal foil standard sample with bare hands or with tweezers. I was creating a line. However, with this conventional configuration, the metal foil standard sample is deformed by heat or external force, and when the metal foil standard samples are overlapped, the metal foil standard sample may become misaligned. It was difficult to create a calibration curve.
この考案は以上の欠点をすみやかに除去するた
めの極めて効果的な手段を提供することを目的と
するために極めて効果的な手段を提供することを
目的とするもので、素材の第1金属片を埋設して
いる非金属材でほぼ板状に構成された保持体と、
金属箔標準サンプルを両面からはさみこみ前記第
1金属片と対応する位置に金属箔標準サンプルが
位置するようにした保持板と、前記保持体と保持
板を固定する枠体からなる構成である。 The purpose of this invention is to provide an extremely effective means for quickly eliminating the above-mentioned defects, and the object of this invention is to provide an extremely effective means for quickly eliminating the above defects. a holder made of a non-metallic material that is buried in a substantially plate-like shape;
The structure consists of a holding plate into which a metal foil standard sample is sandwiched from both sides so that the metal foil standard sample is located at a position corresponding to the first metal piece, and a frame for fixing the holding body and the holding plate.
以下、図面と共にこの考案による螢光X線膜厚
計用標準サンプル板の好適な実施例について説明
すると、第1図は螢光X線膜厚計用標準サンプル
板の組み立て実施図である。図中、符号1で示さ
れるものは非金属でほぼ板状に構成された第1の
保持体であり、前記第1の保持体の一面に素材金
属である第1金属片が埋設されている。符号2で
示されるものは前記第1の保持体の前記一面上に
おいて前記第1金属片と対応する位置に第2金属
片を有する第2の保持体であり、符号3で示され
るものは前記第1の保持体の前記一面上に設けら
れ開口を有する枠体であり、前記第1の保持体と
第2の保持体を固定する作用をもつ。第2図は第
1の保持体を示す図であり、aは平面図、bは縦
断面図である。図中、符号4で示されるものは前
記第1の保持体の一面に埋設された素材金属であ
る第1金属片である。第3図は第2の保持体を示
す図であり、aは平面図、bは側面図である。図
中、符号5で示されるものは検量線作成に用いる
厚み既知の金属箔標準サンプルであるところの第
2金属片であり、符号6で示されるものは第1金
属片と対応する位置にくりぬき穴を有し前記第2
金属片を接着し固定するための金属板である。 Hereinafter, a preferred embodiment of the standard sample plate for a fluorescent X-ray film thickness meter according to this invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is an assembly diagram of the standard sample plate for a fluorescent X-ray film thickness meter. In the figure, the reference numeral 1 indicates a first holder made of non-metal and formed into a substantially plate shape, and a first metal piece, which is a raw metal, is embedded in one surface of the first holder. . What is denoted by numeral 2 is a second holder having a second metal piece at a position corresponding to the first metal piece on the one surface of the first holder, and what is denoted by numeral 3 is the second holder. The frame body is provided on the one surface of the first holder and has an opening, and has the function of fixing the first holder and the second holder. FIG. 2 is a diagram showing the first holder, in which a is a plan view and b is a longitudinal sectional view. In the figure, what is indicated by the reference numeral 4 is a first metal piece that is a raw metal embedded in one surface of the first holder. FIG. 3 is a diagram showing the second holding body, in which a is a plan view and b is a side view. In the figure, the reference numeral 5 is a second metal foil standard sample of known thickness used for creating a calibration curve, and the reference numeral 6 is a hollowed-out metal foil at a position corresponding to the first metal foil. said second hole having a hole;
A metal plate for gluing and fixing metal pieces.
第2の保持体は、前記第2金属片を、前記金属板
で両側からはさみこみ、接着し、固定した構造で
ある。第4図は枠体を示す図であり、aは平面
図、bは横断面図である。前記枠体は、前記第1
の保持体と第2の保持体を固定し、第2金属片の
位置ずれを防ぎ、正確な検量線作成を容易にする
作用をもつ。The second holder has a structure in which the second metal piece is sandwiched between the metal plates from both sides and bonded and fixed. FIG. 4 is a diagram showing the frame, in which a is a plan view and b is a cross-sectional view. The frame body includes the first
It has the function of fixing the holder and the second holder, preventing the second metal piece from shifting, and facilitating the creation of an accurate calibration curve.
次に操作について説明すれば、検量線作成に用
いる素材金属(前記第1金属片)を埋設した前記
第1の保持体上に、検量線作成に必要な、厚み既
知の金属箔標準サンプル(前記第2金属片)をは
さみこんだ前記第2の保持体を第1及び第2金属
片の位置が対応するようにのせ、その上から前記
枠体をかぶせ、第1金属片と第2金属片の位置が
ずれないように固定し、螢光X線膜厚計用標準サ
ンプル板を形成する。螢光X線膜厚計の一次X線
照射ポイントに、前記螢光X線膜厚計用標準サン
プル板内の第2金属片を位置させ螢光X線膜厚計
によつて膜厚測定用検量線を作成する。これによ
り、金属箔標準サンプルを用いて膜厚測定用検量
線を作成する場合、金属箔標準サンプルの熱や外
力による変形や位置ずれを防ぐことができ、精度
の高い膜厚測定用検量線が作成できる。 Next, to explain the operation, a metal foil standard sample of known thickness (the above-mentioned The second holding body sandwiching the second metal piece) is placed so that the positions of the first and second metal pieces correspond, and the frame body is placed over it, and the first metal piece and the second metal piece The sample plate is fixed so as not to shift in position to form a standard sample plate for a fluorescent X-ray film thickness meter. The second metal piece in the standard sample plate for the fluorescent X-ray film thickness meter is positioned at the primary X-ray irradiation point of the fluorescent X-ray film thickness meter, and the film thickness is measured by the fluorescent X-ray film thickness meter. Create a calibration curve. As a result, when creating a calibration curve for film thickness measurement using a metal foil standard sample, it is possible to prevent the metal foil standard sample from deforming or positioning due to heat or external force, and to create a highly accurate calibration curve for film thickness measurement. Can be created.
以上述べたように、この考案による螢光X線膜
厚計用標準サンプル板は、金属箔標準サンプルの
取扱い操作性を向上させると共に、金属箔標準サ
ンプルが熱や外力により変形したり、一次X線照
射ポイントから位置ずれをおこすことを防ぐ機能
を備えているので、精度の高い膜厚測定用検量線
が作成できる優れた効果を有する。 As mentioned above, the standard sample plate for fluorescent Since it has a function to prevent positional deviation from the ray irradiation point, it has the excellent effect of creating a highly accurate calibration curve for film thickness measurement.
図面は本考案に関わる螢光X線膜厚計用標準サ
ンプル板を示す図面であり、第1図は本考案の組
み立て斜視図であり、第2図a,bは保持体を示
す正面図および断面図、第3図a,bは保持板を
示す正面図および側面図、第4図a,bは枠体を
示す正面図及び断面図である。
1……第1の保持体、2……第2の保持体、3
……枠体、4……第1金属片、5……第2金属
片、6……金属板。
The drawings are drawings showing a standard sample plate for a fluorescent X-ray film thickness meter related to the present invention, FIG. 1 is an assembled perspective view of the present invention, and FIGS. 3A and 3B are a front view and a side view showing the holding plate, and FIGS. 4A and 4B are a front view and a sectional view showing the frame. 1...First holding body, 2...Second holding body, 3
...Frame body, 4...First metal piece, 5...Second metal piece, 6...Metal plate.
Claims (1)
と、前記第1の保持体の一面に埋設された第1金
属片と、前記第1金属片と対応する位置にくりぬ
き穴を有する2枚の金属板を張りつけた第2の保
持板と、前記第2の保持板を構成する2枚の金属
板の間に少なくとも前記くりぬき穴の部分に挟み
込まれ且つ固定された第2の金属片と、少なくと
も前記くりぬき穴に開口部を有し前記第2の保持
体を前記第1の保持体とで挟み込み且つ固定する
枠体とを備え、前記各金属片にX線を照射するこ
とができるようにしたことを特徴とする螢光X線
膜厚計用標準サンプル板。 A first holder made of a non-metallic material and configured in a substantially plate shape, a first metal piece embedded in one surface of the first holder, and a hollow hole located at a position corresponding to the first metal piece. a second holding plate made of two metal plates pasted together; a second metal piece sandwiched and fixed at least in the hollow hole between the two metal plates constituting the second holding plate; a frame body having at least an opening in the hollow hole and sandwiching and fixing the second holding body with the first holding body, so that each of the metal pieces can be irradiated with X-rays; Standard sample plate for fluorescent X-ray film thickness meter.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7460584U JPS60188310U (en) | 1984-05-22 | 1984-05-22 | Standard sample plate for fluorescent X-ray film thickness meter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7460584U JPS60188310U (en) | 1984-05-22 | 1984-05-22 | Standard sample plate for fluorescent X-ray film thickness meter |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60188310U JPS60188310U (en) | 1985-12-13 |
JPH0320724Y2 true JPH0320724Y2 (en) | 1991-05-07 |
Family
ID=30615057
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7460584U Granted JPS60188310U (en) | 1984-05-22 | 1984-05-22 | Standard sample plate for fluorescent X-ray film thickness meter |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60188310U (en) |
-
1984
- 1984-05-22 JP JP7460584U patent/JPS60188310U/en active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS60188310U (en) | 1985-12-13 |
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