JPH03203084A - 磁性半導体装置 - Google Patents

磁性半導体装置

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JPH03203084A
JPH03203084A JP1338762A JP33876289A JPH03203084A JP H03203084 A JPH03203084 A JP H03203084A JP 1338762 A JP1338762 A JP 1338762A JP 33876289 A JP33876289 A JP 33876289A JP H03203084 A JPH03203084 A JP H03203084A
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JP
Japan
Prior art keywords
layer
magnetic semiconductor
semiconductor layer
electrode
magnetic
Prior art date
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Pending
Application number
JP1338762A
Other languages
English (en)
Inventor
Koji Takeda
恒治 竹田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Casio Computer Co Ltd
Original Assignee
Casio Computer Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Casio Computer Co Ltd filed Critical Casio Computer Co Ltd
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Publication of JPH03203084A publication Critical patent/JPH03203084A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/02Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements
    • G11C11/14Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using thin-film elements
    • G11C11/15Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using thin-film elements using multiple magnetic layers

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、IOGビット/cri2という超高密度メ
モリを実現することができる磁性半導体装置に関する。
[従来の技術及び発明が解決しようとする課8]従来、
メモリとして半導体(Si等)を利用したもの、薄膜磁
性体を利用したもの(FD、HD、MT、光ディスク、
光磁気ディスク等)がある。
これらのうち、前者は素子加工精度の限界から、素子当
りの占有面積は10μm2 (約10Mビット/cab
2)オーダーである。
また、後者において、光ディスク、光磁気ディスク等で
は、グループの加工の精度によりメモリの稠密度は半導
体利用のものと同程度となり、FD等はマクロな磁化の
揺らぎを用いているため、メモリの稠密度は半導体利用
のものの10乃至100倍程度である。
しかし、これら従来のメモリの記録密度は十分なものと
はいえず、更に高密度のメモリが望まれている。
この発明は上記のような実情に鑑みてなされたものであ
って、現存するメモリの限界を大きく超えた超高密度メ
モリを実現することが可能な磁性半導体装置を提供する
ことを目的とする。
[課題を解決するための手段] この発明に係る磁性半導体装置は、有限温度に強磁性−
パラ磁性転位温度を有し、不純物濃度又は格子欠陥密度
を制御された磁性半導体層と、この磁性半導体層の電位
を一定に保つための電極と、前記磁性半導体層の表面近
傍の局所的電子濃度を制御するための微細電極とを具備
することを特徴とする。
[作用コ この発明においては、磁性半導体中の伝導電子と局在磁
気能率との間の強い相互作用(〜0. 1eV)に着目
している。すなわち、この相互作用により不純物又は格
子欠陥に束縛された伝導電子がその周りに巨大磁気能率
を発生させ、この伝導電子が安定に存在し得る。この現
象をメモリとして利用することにより、極めて高密度の
メモリを得ることができる。
[実施例] 以下、この発明について詳細に説明する。
第2図は磁性半導体において、電子の束縛中心(r−0
)からの距離「の関数としてエネルギを図示したもので
あり、この発明の原理を示すための図である。図中E−
0は伝導帯の底を意味する。
第2図(a)は束縛電子が存在しない場合であり、−e
 2/rは束縛中心からのクーロンポテンシャルを表わ
す。
第2図(b)は束縛電子が存在する場合を示し、ポテン
シャルとしては、上記クーロンポテンシャルに巨大磁気
能率S (r)による負のポテンシャル−1・5(r)
(ここで、■は伝導電子と局在磁気能率との相互作用で
あり、局在磁気能率とは不純物の位置に局在している磁
気能率をいう)が付加されている。
いま、第2図(a)及び(b)の状態の自由エネルギを
夫々F、、F、と表わすと、強磁性−パラ磁性転位温度
(キュリー温度Tc)の近傍でFi、<F、となること
、すなわち電子の束縛された状態がより安定になること
が知られている。
このとき形成された巨大磁気能率に寄与する局在磁気能
率の個数は103〜10’個であり、その広がりの大き
さは、格子間隔(散大程度)を単位として10〜20で
ある。すなわちその広がりの半径は100〜200人程
度であり、長さ1cmあたり5X105個、単位面積(
1c112)あたり2.5X10”個の局在磁気能率が
存在し得ることとなる。
メモリ状態を実現するためには、所望の位置に束縛電子
を形成させ、これにより巨大磁気能率を誘起させてメモ
リとする。このメモリ状態は安定であり、上述の計算に
よりメモリの集積度として少なくともIOCビット/c
m2 (10”ビット/ctx2)を実現することがで
きる。
なお、束縛電子により誘起された巨大磁気能率を消失さ
せてメモリを消去するためには、外部から負の直流電界
又はパルス状電界を印加して、束縛された電子を解放す
ればよい。
次に、このような原理を応用した具体的な素子について
第1図を参照しながら説明する。
第1図中、参照番号1は素子形成用基板であり、この基
板l上に電極層2、磁性半導体層3がその順に形成され
ている。電極層2は磁性半導体層3の電位を一定に保持
するものである。磁性半導体層3を構成する材料として
は、希土類カルコゲナイド、スピネル、Cd−Mn−T
eのような稀薄磁性半導体等がある。
磁性半導体層3の上には絶縁体層4が設けられており、
その上に上部電極層5が形成されている。
絶縁体層4の所望の位置にはテーパエツチングが施され
ており、磁性半導体層3に局所的に外部電界を印加でき
るように微細電極6が形成されている。
電源7は電極層2と電極層5とに接続されており、これ
らの間に電圧を印加するようになっている。
このように構成された素子においては、上部電極層5を
磁性半導体層3に対し十にし、その大きさを調節するこ
とにより、電子の束縛状態を実現する位置を指定するこ
とができる。そして、これにより巨大磁気能率が誘起さ
れてメモリ状態が実現される。
また、上部電極層5を磁性半導体層3に対し−にするか
、又は上部電極層5にパルス状電圧を印加することによ
り、束縛電子を解放することができ、これによりメモリ
を消去することができる。
なお、この発明の磁性半導体装置は、上記素子の形態に
限定されることなく、上述のような原理を利用している
限り種々の変形が可能である。
[発明の効果] この発明によれば、局所的な磁化をメモリとして用いる
ことができる磁性半導体装置を提供することができる。
このため、10Gビツト/c112という超高密度を実
現することができ、種々の補助記憶装置に適用すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の実施例に係る磁性半導体装置を示す
断面図、第2図はこの発明の詳細な説明するための図で
ある。 1;基板、2.5;電極層、3;磁性半導体層、4:絶
縁体層、6;微細電極、7;電源。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 有限温度に強磁性−パラ磁性転位温度を有し、不純物濃
    度又は格子欠陥密度を制御された磁性半導体層と、この
    磁性半導体層の電位を一定に保つための電極と、前記磁
    性半導体層の表面近傍の局所的電子濃度を制御するため
    の微細電極とを具備することを特徴とする磁性半導体装
    置。
JP1338762A 1989-12-28 1989-12-28 磁性半導体装置 Pending JPH03203084A (ja)

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JPH03203084A true JPH03203084A (ja) 1991-09-04

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JP (1) JPH03203084A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5373176A (en) * 1991-08-16 1994-12-13 Rohm Co., Ltd. Structurally matched ferroelectric device
WO2005101420A1 (en) * 2004-04-16 2005-10-27 Matsushita Electric Industrial Co. Ltd. Thin film memory device having a variable resistance

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WO2005101420A1 (en) * 2004-04-16 2005-10-27 Matsushita Electric Industrial Co. Ltd. Thin film memory device having a variable resistance
US8263961B2 (en) 2004-04-16 2012-09-11 Panasonic Corporation Thin film memory device having a variable resistance

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