JPH0318935Y2 - - Google Patents
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- JPH0318935Y2 JPH0318935Y2 JP1986112208U JP11220886U JPH0318935Y2 JP H0318935 Y2 JPH0318935 Y2 JP H0318935Y2 JP 1986112208 U JP1986112208 U JP 1986112208U JP 11220886 U JP11220886 U JP 11220886U JP H0318935 Y2 JPH0318935 Y2 JP H0318935Y2
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、熱伝導度検出器に関し、更に詳しく
は、被測定ガス中の各成分ガスが有する熱伝導度
を検出することにより被測定ガスの定性若しくは
定量を行なう熱伝導度検出器に関するものであ
る。
は、被測定ガス中の各成分ガスが有する熱伝導度
を検出することにより被測定ガスの定性若しくは
定量を行なう熱伝導度検出器に関するものであ
る。
第1図は、熱伝導度検出器の従来例の回路説明
図であり、図中、1は定電流電源、2は純粋なキ
ヤリアガスが流れる参照ガス用流路、3はサンプ
ルガスを含むことのあるキヤリアガスが流れる測
定ガス用流路、4a,4cは比較用のタングステ
ンフイラメント、4b,4dは測定用のタングス
テンフイラメントであつてフイラメント4a,4
b,4c,4dはホイートストーンブリツジを構
成しており、5,6は差動増幅器、7は可変電圧
電源である。図において、定電流電源1から供給
された所定の電流が、フイラメント4a,4b,
4c,4dに流れジユールの法則に従つて各フイ
ラメントが発熱する。一方、比較ガス用流路2に
は、純粋なキヤリアガスが流れてフイラメント4
a,4bから熱を奪い、測定用ガス流路3にはサ
ンプルガスを含むことのあるキヤリアガスは流れ
てフイラメント4b,4dから熱を奪う。而し
て、サンプルガスの熱伝導度に応じて各フイラメ
ントの熱バランスが変化してホイートストーンブ
リツジに不平衡電圧が発生し、該不平衡電圧は差
動増幅器5により増幅されたのち、可変電圧電源
7と、差動増幅器6からなる減算回路でベース電
圧変動および不平衡電圧の初期値が減算されて出
力信号Eoutが与えられる。該出力Eoutは、サン
プルガスの熱伝導度に対応しており、該出力
Eoutからサンプルガスの定性若しくは定量が行
なわれる。
図であり、図中、1は定電流電源、2は純粋なキ
ヤリアガスが流れる参照ガス用流路、3はサンプ
ルガスを含むことのあるキヤリアガスが流れる測
定ガス用流路、4a,4cは比較用のタングステ
ンフイラメント、4b,4dは測定用のタングス
テンフイラメントであつてフイラメント4a,4
b,4c,4dはホイートストーンブリツジを構
成しており、5,6は差動増幅器、7は可変電圧
電源である。図において、定電流電源1から供給
された所定の電流が、フイラメント4a,4b,
4c,4dに流れジユールの法則に従つて各フイ
ラメントが発熱する。一方、比較ガス用流路2に
は、純粋なキヤリアガスが流れてフイラメント4
a,4bから熱を奪い、測定用ガス流路3にはサ
ンプルガスを含むことのあるキヤリアガスは流れ
てフイラメント4b,4dから熱を奪う。而し
て、サンプルガスの熱伝導度に応じて各フイラメ
ントの熱バランスが変化してホイートストーンブ
リツジに不平衡電圧が発生し、該不平衡電圧は差
動増幅器5により増幅されたのち、可変電圧電源
7と、差動増幅器6からなる減算回路でベース電
圧変動および不平衡電圧の初期値が減算されて出
力信号Eoutが与えられる。該出力Eoutは、サン
プルガスの熱伝導度に対応しており、該出力
Eoutからサンプルガスの定性若しくは定量が行
なわれる。
然し乍ら、上記従来例においては、フイラメン
ト4a,4b,4c,4dは製品価格が高価な
上、機械的振動にも弱く、またキヤリアガスの流
れが停止するとキヤリアガスによるフイラメント
の冷却が妨げられてフイラメントの発熱が暴走
し、フイラメントの絶縁が害されたり溶断したり
する等の欠点があつた。
ト4a,4b,4c,4dは製品価格が高価な
上、機械的振動にも弱く、またキヤリアガスの流
れが停止するとキヤリアガスによるフイラメント
の冷却が妨げられてフイラメントの発熱が暴走
し、フイラメントの絶縁が害されたり溶断したり
する等の欠点があつた。
本考案は、かかる欠点に鑑みてなされたもので
あり、その目的は、上記欠点を全て取り除いた新
しい熱伝導度検出器を提供するにある。
あり、その目的は、上記欠点を全て取り除いた新
しい熱伝導度検出器を提供するにある。
本考案の特徴は、被測定ガス中の各成分ガスが
有する熱伝導度を検出することによつて、被測定
ガスの定性若しくは定量を行なう熱伝導度検出器
において、熱伝導性のよいヒートシンクに搭載さ
れた絶縁基板上に形成され抵抗温度係数の大きい
薄膜抵抗からなり、比較用ガスの流路におかれて
薄膜抵抗により構成される第1および第3の検出
素子と、熱伝導性のよいヒートシンクに搭載され
絶縁基板上に互いに近接して形成された抵抗温度
係数の大きい薄膜抵抗とヒータ抵抗とからなり、
測定用ガスの流路におかれて薄膜抵抗により構成
される第2および第4の検出素子とでホイートス
トーンブリツジを構成し、測定ガスに起因する前
記第2および第4の検出素子の熱量変化を前記第
1および第2のヒータ素子の発熱で補償し、該補
償熱量に対応する電力量から間接的に被測定ガス
の熱伝導度を検出することにある。
有する熱伝導度を検出することによつて、被測定
ガスの定性若しくは定量を行なう熱伝導度検出器
において、熱伝導性のよいヒートシンクに搭載さ
れた絶縁基板上に形成され抵抗温度係数の大きい
薄膜抵抗からなり、比較用ガスの流路におかれて
薄膜抵抗により構成される第1および第3の検出
素子と、熱伝導性のよいヒートシンクに搭載され
絶縁基板上に互いに近接して形成された抵抗温度
係数の大きい薄膜抵抗とヒータ抵抗とからなり、
測定用ガスの流路におかれて薄膜抵抗により構成
される第2および第4の検出素子とでホイートス
トーンブリツジを構成し、測定ガスに起因する前
記第2および第4の検出素子の熱量変化を前記第
1および第2のヒータ素子の発熱で補償し、該補
償熱量に対応する電力量から間接的に被測定ガス
の熱伝導度を検出することにある。
以下、本考案について図を用いて詳細に説明す
る。第2図は、本考案の実施例の構成説明図であ
り、図中、8は差動増幅器、9は乗演算器、10
a,10b,10c,10dは検出素子、11
a,11bはヒータ素子、13はトランジスタ、
12,15は定電圧電源、14は可変抵抗器であ
り、可変抵抗器14と定電圧電源15で初期値設
定回路を構成している。尚、第2図において、第
1図と同一記号は同一意味をもたせて使用し、こ
こでの説明は省略する。また、比較ガス用流路2
および測定ガス流路3における検出素子の収納部
は、第2図に例示した拡散型構造(キヤリアガス
等が拡散して薄膜素子に接する構造)に限定され
るものではなく、キヤリアガス等が検出素子に効
率よく接することができる構成の範囲内で種々の
変形は可能であり、例えばキヤリアガス等が検出
素子上を直接通過する直通型構造若しくは上記拡
散型と直通型を組合わせた半拡散型構造であつて
もよい。更に、第2図において、比較ガス用流路
2に設けられた検出素子10a,10cと測定用
ガス流路3に設けられた検出素子10b,10d
はホイートストーンブリツジを構成するととも
に、ヒータ素子11a,11bは夫々検出素子1
0b,10dと近接して設けられている。また、
ヒータ素子11a,11bは、定電圧電源12お
よびトランジスタ13とともにヒータ回路を構成
しており、該ヒータ回路の接続点CおよびDに接
続する差動増幅器6,8および2乗演算器9でヒ
ータ加熱電力の測定回路を構成している。
る。第2図は、本考案の実施例の構成説明図であ
り、図中、8は差動増幅器、9は乗演算器、10
a,10b,10c,10dは検出素子、11
a,11bはヒータ素子、13はトランジスタ、
12,15は定電圧電源、14は可変抵抗器であ
り、可変抵抗器14と定電圧電源15で初期値設
定回路を構成している。尚、第2図において、第
1図と同一記号は同一意味をもたせて使用し、こ
こでの説明は省略する。また、比較ガス用流路2
および測定ガス流路3における検出素子の収納部
は、第2図に例示した拡散型構造(キヤリアガス
等が拡散して薄膜素子に接する構造)に限定され
るものではなく、キヤリアガス等が検出素子に効
率よく接することができる構成の範囲内で種々の
変形は可能であり、例えばキヤリアガス等が検出
素子上を直接通過する直通型構造若しくは上記拡
散型と直通型を組合わせた半拡散型構造であつて
もよい。更に、第2図において、比較ガス用流路
2に設けられた検出素子10a,10cと測定用
ガス流路3に設けられた検出素子10b,10d
はホイートストーンブリツジを構成するととも
に、ヒータ素子11a,11bは夫々検出素子1
0b,10dと近接して設けられている。また、
ヒータ素子11a,11bは、定電圧電源12お
よびトランジスタ13とともにヒータ回路を構成
しており、該ヒータ回路の接続点CおよびDに接
続する差動増幅器6,8および2乗演算器9でヒ
ータ加熱電力の測定回路を構成している。
また、第3図は、本考案に係る検出素子周辺部
の一実施例を示す説明図であつてイは平面図、ロ
は側面図であり、図中、21は絶縁基板、22は
ヒータ素子、23は検出素子、24a,24bは
ヒータ素子の外部端子、25a,25bは検出素
子の外部端子、26はヒートシンクである。図に
おいて、ヒータ素子22と検出素子23は、例え
ば間隔数+ミクロンで近接し熱的に密な結合と電
気的絶縁を果している。尚、ヒータ素子22と検
出素子23は異なる材料で構成してもよいし同一
材料(例えば白金)で構成してもよい。
の一実施例を示す説明図であつてイは平面図、ロ
は側面図であり、図中、21は絶縁基板、22は
ヒータ素子、23は検出素子、24a,24bは
ヒータ素子の外部端子、25a,25bは検出素
子の外部端子、26はヒートシンクである。図に
おいて、ヒータ素子22と検出素子23は、例え
ば間隔数+ミクロンで近接し熱的に密な結合と電
気的絶縁を果している。尚、ヒータ素子22と検
出素子23は異なる材料で構成してもよいし同一
材料(例えば白金)で構成してもよい。
更に、第4図は、本考案に係る検出素子周辺部
に他の実施例を示す説明図であつてイは平面図、
ロは側面図であり、図中、27は厚さの十分薄い
絶縁被膜である。尚、第4図において、第3図と
同一記号は同一意味をもたせて使用しここでの説
明は省略する。また、第4図において、ヒータ素
子22と検出素子23は絶縁被膜27を介して基
板21上に積層されており、絶縁被膜27の厚さ
が十分薄い為ヒータ素子22と検出素子23は熱
的に密な結合と電気的絶縁を果している。尚、第
3図および第4図において、ヒートシンク26
は、検出素子23等における余剰の熱を放散させ
る役割を果している。
に他の実施例を示す説明図であつてイは平面図、
ロは側面図であり、図中、27は厚さの十分薄い
絶縁被膜である。尚、第4図において、第3図と
同一記号は同一意味をもたせて使用しここでの説
明は省略する。また、第4図において、ヒータ素
子22と検出素子23は絶縁被膜27を介して基
板21上に積層されており、絶縁被膜27の厚さ
が十分薄い為ヒータ素子22と検出素子23は熱
的に密な結合と電気的絶縁を果している。尚、第
3図および第4図において、ヒートシンク26
は、検出素子23等における余剰の熱を放散させ
る役割を果している。
以下、本考案の実施例の動作について説明す
る。初め 第2図における比較ガス用流路2およ
び測定ガス用流路3にともに純粋なキヤリアガス
が流れた状態で、定電圧電源12をオフとする。
また、あらかじめ比較ガス用流路2に流れるガス
流量よりも測定ガス用流路3に流れるガス流量が
少なくなるように調整する。尚、検出素子10
b,10dの抵抗値を検出素子10b,10dの
抵抗値よりも大きくしたり、検出素子10a,1
0cを専用ヒータ等で加熱したりすれば、比較ガ
ス用流路2と測定ガス用流路3に流れる流量が同
じであつても、比較ガス用流路2に流れるガス流
量が測定ガス用流路3に流れるガス流量よりも多
いときと同様の効果が得られる。而して、上記ガ
ス流量調節等により、検出素子10a,10cの
温度が検出素子10b,10dの温度より高くな
る。次に、定電圧電源12の電源をONとする
と、ホイートストーンブリツジに不平衡電圧が発
生し、該不平衡電圧が差動増幅器5へ供給され
る。而して、差動増幅器5の出力により、ヒータ
素子11a,11bに電流が流れ、ヒータ素子1
1a,11bの加熱によつて検出素子10a,1
0cの温度が検出素子10b,10dの温度と同
一となる。この状態で差動増幅器5の出力が零と
なるように初期値設定回路の可変抵抗器14を調
整する。また、差動増幅器6の出力が零となるよ
うに可変電圧電源7を設定する。
る。初め 第2図における比較ガス用流路2およ
び測定ガス用流路3にともに純粋なキヤリアガス
が流れた状態で、定電圧電源12をオフとする。
また、あらかじめ比較ガス用流路2に流れるガス
流量よりも測定ガス用流路3に流れるガス流量が
少なくなるように調整する。尚、検出素子10
b,10dの抵抗値を検出素子10b,10dの
抵抗値よりも大きくしたり、検出素子10a,1
0cを専用ヒータ等で加熱したりすれば、比較ガ
ス用流路2と測定ガス用流路3に流れる流量が同
じであつても、比較ガス用流路2に流れるガス流
量が測定ガス用流路3に流れるガス流量よりも多
いときと同様の効果が得られる。而して、上記ガ
ス流量調節等により、検出素子10a,10cの
温度が検出素子10b,10dの温度より高くな
る。次に、定電圧電源12の電源をONとする
と、ホイートストーンブリツジに不平衡電圧が発
生し、該不平衡電圧が差動増幅器5へ供給され
る。而して、差動増幅器5の出力により、ヒータ
素子11a,11bに電流が流れ、ヒータ素子1
1a,11bの加熱によつて検出素子10a,1
0cの温度が検出素子10b,10dの温度と同
一となる。この状態で差動増幅器5の出力が零と
なるように初期値設定回路の可変抵抗器14を調
整する。また、差動増幅器6の出力が零となるよ
うに可変電圧電源7を設定する。
次に、以下の動作により測定状態に入る。すな
わち、測定ガス用流路3に測定ガスを含むキヤリ
アガスが流れると、測定ガスの熱伝導度に応じて
検出素子10b,10dから奪われる熱量が増加
し、ホイートストーンブリツジのバランスがくず
れて不平衡電圧が発生し、該不平衡電圧が差動増
幅器5へ供給される。また、差動増幅器5の出力
は、トランジスタ13のベースに与えられてトラ
ンジスタ13の出力を制御し、奪われた熱量を補
給してブリツジのバランスを回復する。一方、ヒ
ータ回路の接続点CおよびDから出力される電位
差はヒータ素子11a,11bが補給した熱量に
対応しており、該電圧は差動増幅器8により増幅
されたのち、2乗演算器9で2乗され、その後可
変電圧電源7と差動増幅器6からなる減産回路で
ベース電圧変動および不均衡電圧の初期値が減産
され、出力信号Poutとして出力される。而して、
出力信号Poutは、電力量であつてヒータ素子1
1a,11bにおける消費熱量に対応し、該消費
熱量は検出素子10b,10dがサンプルガスに
よつて奪われた熱量相当する。従つて、出力信号
Poutからサンプルガスの熱伝導度が相対的に検
出され、サンプルガスの定性若しくは定量が行な
われる。
わち、測定ガス用流路3に測定ガスを含むキヤリ
アガスが流れると、測定ガスの熱伝導度に応じて
検出素子10b,10dから奪われる熱量が増加
し、ホイートストーンブリツジのバランスがくず
れて不平衡電圧が発生し、該不平衡電圧が差動増
幅器5へ供給される。また、差動増幅器5の出力
は、トランジスタ13のベースに与えられてトラ
ンジスタ13の出力を制御し、奪われた熱量を補
給してブリツジのバランスを回復する。一方、ヒ
ータ回路の接続点CおよびDから出力される電位
差はヒータ素子11a,11bが補給した熱量に
対応しており、該電圧は差動増幅器8により増幅
されたのち、2乗演算器9で2乗され、その後可
変電圧電源7と差動増幅器6からなる減産回路で
ベース電圧変動および不均衡電圧の初期値が減産
され、出力信号Poutとして出力される。而して、
出力信号Poutは、電力量であつてヒータ素子1
1a,11bにおける消費熱量に対応し、該消費
熱量は検出素子10b,10dがサンプルガスに
よつて奪われた熱量相当する。従つて、出力信号
Poutからサンプルガスの熱伝導度が相対的に検
出され、サンプルガスの定性若しくは定量が行な
われる。
以上、詳しく説明したような本考案の実施例に
よれば、前記従来例と異なり、検出素子における
余剰の熱は検出素子に基盤を介して付着されてい
るヒートシンクによつて放散されるために、検出
素子へ供給されているキヤリアガス等の流れが停
止しキヤリアガス等による放熱が妨げられても、
検出素子やヒータ素子における発熱が暴走し、検
出素子やヒータ素子の絶縁が害されたり溶断した
りすることはない。また、本考案に係る検出素子
やヒータ素子は、前記従来例のタングステンフイ
ラメントに比して、製品価格が安い上機械的振動
にも強いという利点も有している。
よれば、前記従来例と異なり、検出素子における
余剰の熱は検出素子に基盤を介して付着されてい
るヒートシンクによつて放散されるために、検出
素子へ供給されているキヤリアガス等の流れが停
止しキヤリアガス等による放熱が妨げられても、
検出素子やヒータ素子における発熱が暴走し、検
出素子やヒータ素子の絶縁が害されたり溶断した
りすることはない。また、本考案に係る検出素子
やヒータ素子は、前記従来例のタングステンフイ
ラメントに比して、製品価格が安い上機械的振動
にも強いという利点も有している。
第1図は熱伝導度検出器の従来例の回路説明
図、第2図は本考案の実施例の回路説明図、第3
図は本考案に係る検出素子周辺部の一実施例を示
す平面図および側面図、第4図は本考案に係る検
出素子周辺部の他の実施例を示す平面図および側
面図である。 1……定電流電源、4a,4b,4c,4d…
…タングステンフイラメント、5,6,8……差
動増幅器、7……可変電圧電源、9……2乗演算
器、10a,10b,10c,10d,23……
検出素子、11a,11b,22……ヒータ素
子、12,15……定電圧電源、14……可変抵
抗器、21……基板、24a,24b,25a,
25b……接続端子、26……ヒートシンク。
図、第2図は本考案の実施例の回路説明図、第3
図は本考案に係る検出素子周辺部の一実施例を示
す平面図および側面図、第4図は本考案に係る検
出素子周辺部の他の実施例を示す平面図および側
面図である。 1……定電流電源、4a,4b,4c,4d…
…タングステンフイラメント、5,6,8……差
動増幅器、7……可変電圧電源、9……2乗演算
器、10a,10b,10c,10d,23……
検出素子、11a,11b,22……ヒータ素
子、12,15……定電圧電源、14……可変抵
抗器、21……基板、24a,24b,25a,
25b……接続端子、26……ヒートシンク。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 比較用のガス流路におかれてホイートストー
ンブリツジの第1の対辺を構成する第1および
第3の検出素子と、前記ホイートストーンブリ
ツジの第2の対辺を構成するとともにヒータ抵
抗が近接して設けられている第2および第4の
検出素子と、前記ホイートストーンブリツジに
供電する手段と、前記ホイートストーンブリツ
ジの出力電圧に応じて前記第2および第4の検
出素子のヒータ抵抗に供電した前記ホイートス
トーンブリツジを平衡させる手段と、前記ヒー
タへの供電に基ずいて被測定ガスの熱伝導度を
求める手段とを具備する熱伝導度検出器におい
て、前記第1乃至第4の検出素子が、熱伝導性
のよいヒートシンクに搭載された絶縁基板上に
形成され且つ抵抗温度係数の大きい薄膜抵抗か
らなることを特徴とする熱伝導度検出器。 (2) 前記第2および第4の検出素子は、薄膜抵抗
とヒータ抵抗が絶縁被膜を介して積層されてい
ることを特徴とする実用新案登録請求の範囲第
1項記載の熱伝導度検出器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1986112208U JPH0318935Y2 (ja) | 1986-07-22 | 1986-07-22 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1986112208U JPH0318935Y2 (ja) | 1986-07-22 | 1986-07-22 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6246364U JPS6246364U (ja) | 1987-03-20 |
JPH0318935Y2 true JPH0318935Y2 (ja) | 1991-04-22 |
Family
ID=30992864
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1986112208U Expired JPH0318935Y2 (ja) | 1986-07-22 | 1986-07-22 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0318935Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5409076B2 (ja) * | 2009-03-27 | 2014-02-05 | 株式会社堀場製作所 | 熱伝導率センサ |
JP6658862B2 (ja) * | 2016-03-07 | 2020-03-04 | 株式会社島津製作所 | 熱伝導度検出器 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5492788A (en) * | 1977-12-30 | 1979-07-23 | Weber Guenther | Device for measuring heat transfer |
-
1986
- 1986-07-22 JP JP1986112208U patent/JPH0318935Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5492788A (en) * | 1977-12-30 | 1979-07-23 | Weber Guenther | Device for measuring heat transfer |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6246364U (ja) | 1987-03-20 |
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