JPH0318731A - 発光スペクトル測定装置 - Google Patents
発光スペクトル測定装置Info
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- JPH0318731A JPH0318731A JP15374189A JP15374189A JPH0318731A JP H0318731 A JPH0318731 A JP H0318731A JP 15374189 A JP15374189 A JP 15374189A JP 15374189 A JP15374189 A JP 15374189A JP H0318731 A JPH0318731 A JP H0318731A
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims 2
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は発光スペクトル測定装置、特に容器に入れた試
料自体を生物発光、化学発光させ、その発光スペクトル
(分光特性)を測定する発光スペクトル測定装置に関す
る。
料自体を生物発光、化学発光させ、その発光スペクトル
(分光特性)を測定する発光スペクトル測定装置に関す
る。
[従来の技術]
従来、この種の発光スペクトル測定装置としては、分光
に回折格子を用いて波長をスキャンする測定装置、光学
フィルタを手作業で交換して波長を選択する測定装置が
ある。
に回折格子を用いて波長をスキャンする測定装置、光学
フィルタを手作業で交換して波長を選択する測定装置が
ある。
[発明が解決しようとする課題]
上記従来の発光スペクトルDI定装置によれば、前者の
測定装置では波長をスキャンするのに時間が掛かり、光
損失が大きいため高感度測定(微弱発光測定)ができな
い。また、後者の測定装置では測定に時間(数十m1n
)が掛かる。
測定装置では波長をスキャンするのに時間が掛かり、光
損失が大きいため高感度測定(微弱発光測定)ができな
い。また、後者の測定装置では測定に時間(数十m1n
)が掛かる。
従って、発光時間が短く、短時間(数ms〜数win
)で発光が消滅したり、短時間で発光波長が変化するよ
うな発光現象の発光スペクトルを測定するには、上記従
来のいずれのal定装置も不十分であるという問題点が
あった。
)で発光が消滅したり、短時間で発光波長が変化するよ
うな発光現象の発光スペクトルを測定するには、上記従
来のいずれのal定装置も不十分であるという問題点が
あった。
発明の目的
本発明は上記のような問題点を解消することを課題にな
されたもので、その目的は発光体からの光の全ての発光
強度、つまり、発光スペクトルを短時間(数sec)に
高精度測定できる発光スペクトル測定装置を提供するこ
とにある。
されたもので、その目的は発光体からの光の全ての発光
強度、つまり、発光スペクトルを短時間(数sec)に
高精度測定できる発光スペクトル測定装置を提供するこ
とにある。
[課題を解決するための手段]
上記目的を達成するため、請求項(1)記載に係る発光
スペクトル測定装置は、中心に発光体を設置するリング
状支持手段にその直径上に対向させて多数の光ファイバ
を支持させ、この各光ファイバの光出射面に対向してそ
れぞれ波長の異なる光学フィルタを介して多数の光検出
器を配設し、前記各光検出器の検出信号を信号処理回路
で処理し、この信号処理回路の出力信号に基づいて表示
器に表示する測定データをデータ処理回路で得ることを
特徴とする。
スペクトル測定装置は、中心に発光体を設置するリング
状支持手段にその直径上に対向させて多数の光ファイバ
を支持させ、この各光ファイバの光出射面に対向してそ
れぞれ波長の異なる光学フィルタを介して多数の光検出
器を配設し、前記各光検出器の検出信号を信号処理回路
で処理し、この信号処理回路の出力信号に基づいて表示
器に表示する測定データをデータ処理回路で得ることを
特徴とする。
また、請求項(2)記載に係る発光スペクトル測定装置
は、中心に発光体を設置するリング状支持手段にその直
径上に対向させて多数の光ファイバヲ支持させ、この各
光ファイバの光出射面に対向して多数の光検出器を配置
し、それぞれ波長の異なる光学フィルタを有し該光学フ
ィルタを順次に光検出器に至る前記光ファイバの出射光
を横切って通過させる回転円板を各光ファイバの光出射
面と光検出器の間に回転自在に配設し、この各光検出器
の検出信号を信号処理回路で処理し、この信号処理回路
の出力信号に基づいて表示器に表示する測定データをデ
ータ処理回路で得ることを特徴とする。
は、中心に発光体を設置するリング状支持手段にその直
径上に対向させて多数の光ファイバヲ支持させ、この各
光ファイバの光出射面に対向して多数の光検出器を配置
し、それぞれ波長の異なる光学フィルタを有し該光学フ
ィルタを順次に光検出器に至る前記光ファイバの出射光
を横切って通過させる回転円板を各光ファイバの光出射
面と光検出器の間に回転自在に配設し、この各光検出器
の検出信号を信号処理回路で処理し、この信号処理回路
の出力信号に基づいて表示器に表示する測定データをデ
ータ処理回路で得ることを特徴とする。
[作用]
以上のような構成としたので、請求項(1)記載の発明
における発光スペクトル測定装置によれば、発光体の周
囲に放射状に配設した多数の光ファイバによって、発光
体から放射状に出射した全ての光を同時にそれぞれ波長
を異にする光学フィルタを通して光検出器に導き、この
光検出器の検出信号を処理して発光スペクトルを表示器
に表示させることにより、発光時間が短く、発光強度の
弱い発光体の発光スペクトルを短時間に高精度測定する
ことを可能とする。
における発光スペクトル測定装置によれば、発光体の周
囲に放射状に配設した多数の光ファイバによって、発光
体から放射状に出射した全ての光を同時にそれぞれ波長
を異にする光学フィルタを通して光検出器に導き、この
光検出器の検出信号を処理して発光スペクトルを表示器
に表示させることにより、発光時間が短く、発光強度の
弱い発光体の発光スペクトルを短時間に高精度測定する
ことを可能とする。
また、請求項(2)記載の発明における発光スペクトル
測定装置によれば、前記各光ファイバで導かれた光を、
それぞれ波長を異にする多数の光学フィルタを介して対
応する光検出器に入射させ、この光検出器の検出信号を
処理して発光スペクトルを表示器に表示させることによ
り、この発光スペクトルの測定点が増し、波長分解能が
より向上する。
測定装置によれば、前記各光ファイバで導かれた光を、
それぞれ波長を異にする多数の光学フィルタを介して対
応する光検出器に入射させ、この光検出器の検出信号を
処理して発光スペクトルを表示器に表示させることによ
り、この発光スペクトルの測定点が増し、波長分解能が
より向上する。
[実施例]
以下、本発明の実施例を図面について説明する。
第1図は請求項(1)記載の発明装置の概要図であり、
発光体10は試料容器12に発光物質14を入れたもの
で、この試料容器12は光を放射状に出すことができる
ように例えば透明部材で形成されている。
発光体10は試料容器12に発光物質14を入れたもの
で、この試料容器12は光を放射状に出すことができる
ように例えば透明部材で形成されている。
上記発光物質14としては、例えば血清のたんぱく質成
分、白血球などを分析する場合、ルミノールと該ルミノ
ールを入れると発光するように種々の物質を入れて前処
理した血清とから成る。
分、白血球などを分析する場合、ルミノールと該ルミノ
ールを入れると発光するように種々の物質を入れて前処
理した血清とから成る。
上記発光体10を中心に設置するリング状支持手段1G
は、直径上にそれぞれ対向して、例えば10〜100本
程度の光ファイバ18の端部が支持されている。
は、直径上にそれぞれ対向して、例えば10〜100本
程度の光ファイバ18の端部が支持されている。
この光ファイバ18の支持は、第2図、第3図に示すよ
うに例えば光ファイバ18の端部にコネクタとしてフエ
ルールなどの金属部20を設け、この金属部20をリン
グ状支持部材16の周面の同一平面上に直径上それぞれ
対向して設けた貫通孔22に挿入して接着固定する。
うに例えば光ファイバ18の端部にコネクタとしてフエ
ルールなどの金属部20を設け、この金属部20をリン
グ状支持部材16の周面の同一平面上に直径上それぞれ
対向して設けた貫通孔22に挿入して接着固定する。
そして、リング状支持部材16に放射状に支持された各
光ファイバ18の光入射端面ば、それぞれ発光体10に
同一距離、同一平面上で対向している。
光ファイバ18の光入射端面ば、それぞれ発光体10に
同一距離、同一平面上で対向している。
上記各光ファイバ18の光入射端面は、それぞれ発光体
10より離れた位置に配設された光検出器24a〜24
nにそれぞれ波長を異にする光学フィルタ26a〜26
nを介して対向支持されている。
10より離れた位置に配設された光検出器24a〜24
nにそれぞれ波長を異にする光学フィルタ26a〜26
nを介して対向支持されている。
光検出器24a〜24nとしては光電子増倍管(PMT
) 、フォトダイオード(PD) 、アバランシュフォ
トダイオード(A P D)などを用いる。
) 、フォトダイオード(PD) 、アバランシュフォ
トダイオード(A P D)などを用いる。
そして、この光検出器24a〜24nの検出信号を入力
する信号処理回路28は、その検出信号をパルス信号に
変換して出力するAD変換器と、このパルス信号を積算
するカウンタなとで構成されている。
する信号処理回路28は、その検出信号をパルス信号に
変換して出力するAD変換器と、このパルス信号を積算
するカウンタなとで構成されている。
この信号処理回路28の出力側には該信号処理回路の出
力信号に基づいて表示器に表示する測定データを得るデ
ータ処理回路30が接続されており、このデータ処理回
路30には波形整形回路などが含まれている。
力信号に基づいて表示器に表示する測定データを得るデ
ータ処理回路30が接続されており、このデータ処理回
路30には波形整形回路などが含まれている。
表示器としてはCRT,プリンタなどを用い、データ処
理回路30から出力されたaIl1定データ32に基づ
いて発光スペクトルを表示する。
理回路30から出力されたaIl1定データ32に基づ
いて発光スペクトルを表示する。
次に上記実施例の動作を説明する。まず、図示しない制
御回路によって各回路28.30を測定状態にセットす
る。このセット状態において、ルミノールが発光するよ
うに前処理された血清を試料容器12に入れ、次いでル
ミノールを入れて発光させる。この発光した光は試料容
器12から放射状に出射し、各光ファイバ18に同一条
件で入射する。
御回路によって各回路28.30を測定状態にセットす
る。このセット状態において、ルミノールが発光するよ
うに前処理された血清を試料容器12に入れ、次いでル
ミノールを入れて発光させる。この発光した光は試料容
器12から放射状に出射し、各光ファイバ18に同一条
件で入射する。
光ファイバ18に入射した光は該光ファイバ内を進行し
て光出射端面に至り、この光出射端而から出射してそれ
ぞれ波長の異なる光学フィルタ26a〜26nを通って
光検出器24a〜24nに入射する。
て光出射端面に至り、この光出射端而から出射してそれ
ぞれ波長の異なる光学フィルタ26a〜26nを通って
光検出器24a〜24nに入射する。
この入射光に基づく各光検出器24a〜24nの検出信
号は信号処理回路28で処理された後、この信号処理回
路28からデータ処理回路30に供給される。そして、
このデータ処理回路30で得られた測定データ32が図
示しない表示器に供給され、第4図に示すように発光ス
ペクトルを表示する。
号は信号処理回路28で処理された後、この信号処理回
路28からデータ処理回路30に供給される。そして、
このデータ処理回路30で得られた測定データ32が図
示しない表示器に供給され、第4図に示すように発光ス
ペクトルを表示する。
第5図は請求項(2)記載の発光スペクトル測定装置の
実施例を示す要部の概要図であり、前記第1図に示した
光ファイバ18のそれぞれの光出射端面と光検出器24
a〜24nの間に、光学フィルタ移動手段34によって
、それぞれ波長の異なる光学フィルタ36a〜36nを
通過させるように構成したものである。
実施例を示す要部の概要図であり、前記第1図に示した
光ファイバ18のそれぞれの光出射端面と光検出器24
a〜24nの間に、光学フィルタ移動手段34によって
、それぞれ波長の異なる光学フィルタ36a〜36nを
通過させるように構成したものである。
上記光学フィルタ移動手段34は、モータ38で駆動さ
れる軸38aに回転円板40を取り付け、この回転円板
40に同心円状に略等間隔に形成した透光部にそれぞれ
波長を異にする上記光学フィルタ36a〜36nを設け
た構成である。
れる軸38aに回転円板40を取り付け、この回転円板
40に同心円状に略等間隔に形成した透光部にそれぞれ
波長を異にする上記光学フィルタ36a〜36nを設け
た構成である。
次に、この実施例の動作について説明する。発光体10
からの光が各光ファイバ18の内部を伝わって光出射端
面から出射することは前記第1図の実施例と同じである
。
からの光が各光ファイバ18の内部を伝わって光出射端
面から出射することは前記第1図の実施例と同じである
。
そして、各光ファイバ18から出射した光は、それぞれ
回転円板上の光学フィルタ36a〜36nを通って対応
する光検出器24a〜24nに入射する。この結果、各
光検出器24a〜24nの検出信号に基づいて表示され
た発光スペクトルは、光学フィルタ移動手段34で交換
される光学フィルタの数だけ測定点が増し、それ結果、
波長分解能は光ファイバ18の本数×回転円板の光学フ
ェイルタ数に向上する。
回転円板上の光学フィルタ36a〜36nを通って対応
する光検出器24a〜24nに入射する。この結果、各
光検出器24a〜24nの検出信号に基づいて表示され
た発光スペクトルは、光学フィルタ移動手段34で交換
される光学フィルタの数だけ測定点が増し、それ結果、
波長分解能は光ファイバ18の本数×回転円板の光学フ
ェイルタ数に向上する。
なお、回転円板40には測定開始位置を検出するために
、例えば切込み、突起、光反射部材などの位置検出用マ
ーク42を設け、このマーク42を検出したトリが信号
で各光検出器24a〜24nに検出動作を開始させると
よい。
、例えば切込み、突起、光反射部材などの位置検出用マ
ーク42を設け、このマーク42を検出したトリが信号
で各光検出器24a〜24nに検出動作を開始させると
よい。
また、集光効率を上げるためには、各光ファイバをバン
ドルファイバとすればよい。
ドルファイバとすればよい。
[発明の効果]
以上のように、請求項(1)記載の発明によれば、発光
体からの光を全て同時にその周囲に放射状に設けた光フ
ァイバによって、それぞれ波長を異にする光学フィルタ
を介して光検出器に入射し、この光検出器の検出信号を
処理して発光スペクトルとして表示器に表示するように
構成したので、短時間に高精度に発光体の発光スペクト
ルを測定できる。この結果、生物発光、化学発光などの
発光時間が短く、短時間に波長が変化し、発光強度の弱
い発光物質の発光スペクトルの測定に極めて有効である
。
体からの光を全て同時にその周囲に放射状に設けた光フ
ァイバによって、それぞれ波長を異にする光学フィルタ
を介して光検出器に入射し、この光検出器の検出信号を
処理して発光スペクトルとして表示器に表示するように
構成したので、短時間に高精度に発光体の発光スペクト
ルを測定できる。この結果、生物発光、化学発光などの
発光時間が短く、短時間に波長が変化し、発光強度の弱
い発光物質の発光スペクトルの測定に極めて有効である
。
また、請求項(2)記載の発明は、多数の光ファイバの
それぞれの出射光を、それぞれ波長を異にする多数の光
学フィルタを介して対応する光検出器に入射するように
構或したので、光学フィルタ移動手段で交換される光学
フィルタの数だIj測定点が増し、波長分解能がより向
上する効果がある。
それぞれの出射光を、それぞれ波長を異にする多数の光
学フィルタを介して対応する光検出器に入射するように
構或したので、光学フィルタ移動手段で交換される光学
フィルタの数だIj測定点が増し、波長分解能がより向
上する効果がある。
第1図は請求項(1)記載の発明の実施例による発光ス
ペクトル測定装置を示す概要図、第2図はリング状支持
手段の一部の拡大縦断面図、 第3図は発光体の横断平面図、 第4図は測定結果を示す発光スペクトル図、第5図は請
求項(2)記載の発明の実施例を示す一部の概要図であ
る。 10 ・・・ 発光体 16 ・・・ リング状支持手段 18 ・・・ 光ファイバ 24a〜24n ・・・ 光検出器 26a〜26n ・・・ 光学フィルタ28 ・・・
信号処理回路 30 ・・・ データ処理回路 36a〜36n ・・・ 光学フィルタ40 ・・・
回転円板。
ペクトル測定装置を示す概要図、第2図はリング状支持
手段の一部の拡大縦断面図、 第3図は発光体の横断平面図、 第4図は測定結果を示す発光スペクトル図、第5図は請
求項(2)記載の発明の実施例を示す一部の概要図であ
る。 10 ・・・ 発光体 16 ・・・ リング状支持手段 18 ・・・ 光ファイバ 24a〜24n ・・・ 光検出器 26a〜26n ・・・ 光学フィルタ28 ・・・
信号処理回路 30 ・・・ データ処理回路 36a〜36n ・・・ 光学フィルタ40 ・・・
回転円板。
Claims (2)
- (1)中心に発光体を設置するリング状支持手段と、前
記リング状支持手段にその直径上に対向させて支持させ
た多数の光ファイバと、前記各光ファイバの光出射面に
対向してそれぞれ波長の異なる光学フィルタを介して配
設した多数の光検出器と、前記各光検出器の検出信号を
処理する信号処理回路と、前記信号処理回路の出力信号
に基づいて表示器に表示する測定データを得るデータ処
理回路とを備えた発光スペクトル測定装置。 - (2)中心に発光体を設置するリング状支持手段と、前
記リング状支持手段にその直径上に対向させて支持させ
た多数の光ファイバと、前記各光ファイバの光出射面に
対向して配置した多数の光検出器と、それぞれ波長の異
なる多数の光学フィルタを有し該光学フィルタを順次に
前記光検出器に至る前記光ファイバの出射光を横切って
通過させるように各光ファイバの光出射面と光検出器の
間に回転自在に配設した回転円板と、前記各光検出器の
検出信号を処理する信号処理回路と、前記信号処理回路
の出力信号に基づいて表示器に表示する測定データを得
るデータ処理回路とを備えた発光スペクトル測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15374189A JPH0318731A (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 発光スペクトル測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15374189A JPH0318731A (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 発光スペクトル測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0318731A true JPH0318731A (ja) | 1991-01-28 |
Family
ID=15569096
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15374189A Pending JPH0318731A (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 発光スペクトル測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0318731A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8441474B2 (en) | 2008-06-25 | 2013-05-14 | Aristocrat Technologies Australia Pty Limited | Method and system for setting display resolution |
JP2014044137A (ja) * | 2012-08-28 | 2014-03-13 | Suga Test Instr Co Ltd | 耐候光試験用受光器及び該受光器を搭載した耐候光試験機 |
-
1989
- 1989-06-16 JP JP15374189A patent/JPH0318731A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8441474B2 (en) | 2008-06-25 | 2013-05-14 | Aristocrat Technologies Australia Pty Limited | Method and system for setting display resolution |
JP2014044137A (ja) * | 2012-08-28 | 2014-03-13 | Suga Test Instr Co Ltd | 耐候光試験用受光器及び該受光器を搭載した耐候光試験機 |
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