JPH03172701A - コードの熱挙動解析装置並びに方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野］ 本発明は材料の熱的特性を求めるための手段に関する。

詳しくは、熱弾性を示す高強力の合成繊維、例えばポリ
アミドやポリエステル等の熱的特性を求めるための手段
に関する。更に詳しくは、これらの繊維が製造過程の種
々の段階において受ける長さの変化を自動的に求めるた
めの装置と方法に関する。

〔従来の技術とその問題点］ ナイロンやポリエステル等の熱可塑性繊維の長さが、熱
処理やこれに関連する製造工程において変化することは
よく知られている。これらの繊維が補強又は安定化のた
めのコードとしてタイヤ中に組み込まれる場合、この長
さの変化の正確な許容範囲を知ることが製造上重要であ
る。

このような長さの変化の大きさを量的に把握するために
、温度と荷重の連続変化がコードの長さに及ぼす影響を
測定する一部のコード用の熱処理膨張シミュレーション
（ＳＣ／ＰＣＩ）検査装置並びに方法が考案された。こ
のＳＣ／Ｐｃｔ装置は非常に筒車な構造で、垂直に配置
されたオーブンが、これと同じ方向に張られたコードの
一部を包み込むように設置されている。コードの上端は
この円筒列九゛オーブンの上方に固定され、直線状の目
盛りを指す荷重指針アセンブリがオーブンの下方のコー
ドの下端に取付けられている。このＳＣ／ＰＣＩ装置の
詳細な説明は、　ｋａｕ士５ｃｈｕｋ　Ｕｎｄ　Ｇｕｍ
ｍｉ　Ｋｕｎｓｔｓｔｏｆｆｅ誌、第２２巻、第１０号
、５６１〜５６５頁（１９６９年刊）に記載の「タイヤ
コード工程のシミュレーションと評価」（Ｃ，Ｚ、　Ｄ
ａｖｅｓ及びり、　５ｋｏｌｎｉｋ　）に出ている。

コードの収縮の測定に用いられるその他の方法と装置は
、英国特許１，２９９，１７１号に記載されている。こ
の手動で操作される装置は、英国のハリフ７”７スにあ
るＴｅ５ｔｒｉｔｅ　Ｌｉｍｌｔｅｄ社で製造され、通
称Ｔｅ５ｔｒｉｔｅコード収縮試験器と呼ばれている。

これによれば、コードは水平に張られ、１１１１記ＳＣ
／ＰＣＩ試験の場合と同じに試験されるコードの一部の
みが加熱される。コードの一端は固定され、他端は非線
型目盛りを有する円弧状のダイヤルの前面に指針を搭載
したドラムの周囲に巻き■トけられている。コードとド
ラムとの係合によって、ドラｌ、と指針とはコードの長
さの変化に応じて回転させらレル。このＴｅｓ　ｔｒ　
ｉ　ｔｅコード収縮試験器は、その設計によってテスト
されるコードに余り大きな引っ張り応力をかけることが
できず、従って、１１１Ｉ記ｓｃ／ＰＣＩの場合のよう
な機械的応力を必要とする収縮試験を行うことは不可能
である。

これらのＳＣ／ＰＣＩ並びにＴｅ５Ｌｒｉｔｅコード収
縮テスト方法並びにこれを実施する装置は、幾つかの欠
点を有する。ＳＣ／ＰＣＩテストの場合には長い（約４
０分にも及ぶ）処理時間を要するので、製造の際に試験
されるコードの数が限定される。装置自体に起因する誤
差も重大な問題である。この誤差の原因の一つは、検査
されるコードの一部しかオーブンの中に設置されないこ
とに起因して、試験の際にコードを一定の温度に維持す
ることができない点にある。Ｔｅｓ　ｔｒ　ｉ　ｔｅコ
ード収縮試験の場合には、非線型目盛りに起因して付加
的な誤差が生じる。

更に、両装置とも手動操作されるので、結果は個々の作
業者の熟練度に依存し、作業者に多大の注意力が要求さ
れる。

〔課題を解決するための手段〕

本発明の目的は、熱応力を受ける材料の寸法変化を迅速
且つ正確に求める方法と装置を提供することにある。

本発明の他の目的は、上述のように、熱応力を受ける材
料の寸法変化を、テストされるコードの全長を均一な温
度に維持することによって、測定誤差が最小となるよう
に測定する方法並びに装置を提供することにある。

本発明の更に他の目的は、上述のように、熱応力を受け
る材料の寸法変化を、該変化を直線的に測定することに
よって測定誤差が最小となるように測定する方法並びに
装置を提供することにある。

本発明の更に別の目的は、上述のように、熱応力を受け
る材料の寸法変化を、作業者に起因する誤差を最小にす
るように自動化して測定する方法並びに装置を提供する
ことにある。

本発明の更に他の目的は、上述のように、熱応力を受け
る材料の寸法変化を、熱損失が最小となり且つエネルギ
利用が改善されるようにして測定する方法並びに装置を
提供することにある。

これら本発明の目的と利点は、以下に図面に基づいて説
明する好適実施例によって更に明らかになるであろう。

本発明の概念を具体化した熱応力下の材料の寸法変化を
測定する装置は、材料の所定の長さ部分を受は入れてそ
の温度を制御するためのチャンバ、該チャンバ内に前記
材料の所定長さ部分を保持して予め定められた姿勢に位
置決めするためのグリップ、並びに材料の前記所定長さ
部分の寸法変化を測定するための手段を具えている。

熱応力の下での材料の寸法変化を求めるための方法は、
所定の長さの材料をグリップに挿入し、この所定長さの
材料の全長を位置決めし、該材料を把持したグリップの
一部をオーブンの中に入れ、該オーブン内の所定長さの
材料の温度を制御し、該材料の長さの変化を測定するス
テップを含んでいる。

〔実施例） 第１図は、本発明装置１０の前面から見た斜視図であり
、熱応力の下での材料の寸法変化を求めるための方法を
示している。詳しくは、この例はタイヤコードに生じる
このような寸法変化を測定するのに使用される装置と方
法を示している。

この装置１０は、被試験コードに制御された熱応力を加
えるためのオーブン１２等のチャンバ１１と、該被試験
コード１３を把持するグリップ１４．１５と、該被試験
コードに制御された機械的応力を加えて物理特性を測定
し、その結果から寸法変化を計算するための測定アセン
ブリ１６と、この装置ｌＯの作用を制御するための制御
袋Ｗ１７とを具え、これらの全てはフレーム２ｏ上に担
持されている。

この実施例のチャンバ１１は水平に配置された上下の断
熱カバー２３．２４内に同じ向きに設置された水平な上
下の加熱エレメント２１．２２’を具え、その間に実質
的に均一に加熱されている水平な加熱空間２７を有する
オーブン１２が形成されている。この機構はＴｅｓ　ｔ
ｒ　ｉ　ｔｅの前記英国特許に開示されているのと同じ
である。オーブン１２は支柱２８によって制御装置のハ
ウジング３ｏに支持され、該ハウジングは実質的に直方
体状をなすフレーム２０の上面に取付けられ、該フレー
ムは台足３１によって床に設置されている。

キャリッジ３２が制御ハウジング３０の上に取付けられ
、グリップ１４と１５の間に把持されたテストされるコ
ード１３を加熱空間２７に対して出し入れするように動
かすように構成されている。

このキャリッジ３２は、水平なプラットフォーム３３、
スライド３４，３５．並びにベルト８つを介してモータ
９０によって駆動されるイリノイ州シカゴ市のＢｏｄｉ
ｎ　Ｅｌｅｃｒｔｉｃ　Ｃｏｍｐａｎｙで作られている
Ｍｏｄｅｌ　７１５１ｎｓｔｒｔ＋ｍｅｎｔ　Ｍｏｔｏ
ｒ等の公知のスクリュー８８を具えている。

制御装置１７からの指令によって、モータ９０はキャリ
ッジ３２を駆動し、アクチュエータ４４が二つのスイッ
チ４５の一方（一方のみが図示されている）に係合する
まで、キャリッジ上に担持されているものを加熱空間２
７に出し入れする。

“入りパ位置において、テストコード１３全体は加熱空
間２７の制御された均一な温度領域内に入り、“出”位
置においてテストコード１３は第１図に示すように加熱
空間２７の外側に位置する。

グリップ１４は、プラットフォーム３３の一端に固定さ
れた垂直ブラケッｌ−３６Ａに取付けられている。グリ
ップ１５は、プラットフォーム３３上に固定されている
垂直ブラケンｌ−３６Ｂに取付けられ、横方向の自由運
動可能となっている。

第２図はグリップ１４の正面から見た拡大斜視図であり
、グリップ１４の全体形状は、互いに、謂れだ平行な二
つの脚３８．３９を具えた二股に分かれた実質的に角型
のブロックをなしている。脚３８．３９はそれぞれ一端
にテストコード１３の一端をしっかりと把持するための
刻みの付いた顎４０．４］を具え、他端にピンチブロッ
クアセンブリ４６の全高にわたって傾斜した肩部４２，
４３を具えている。このピンチブロックアセンブリ４６
はノブ付きのねし４７を具え、該ノブは時計方向に回さ
れると脚３９．４０を内向きに引っ張り、顎４０．４１
を強固に接触させる。第１図に示されているように、グ
リップ１５は、以下に１説明するように測定アセンブリ
１６との関係を除いて、すべての点でグリップ１５と鏡
像関係にある。

グリップ１４．１５の幾つかの特徴は、テストの際にコ
ード１３の全長を加熱空間２７内に挿入することを意図
したものである。先ず、脚３８３９の高さは加熱空間２
７の高さよりも低くなければならない。顎４０と４１の
長さを主体として選ばれている脚３日と３９の間の間隙
は、顎４０゜４１を越えて延びているテストコードの端
がその間に入るように充分に長くなければならない。そ
して、オフセット５０が脚３９の天面に形成され、これ
に前記肩部４３が接続されている。このオフセット５０
は、主として、顎が閉じられる前にテストコード１３を
確保してそれの取付けを容易にするものであるが、テス
トコートエ３の端を加熱空間２７の外に出しておくのに
も役立つ。

従来技術のテストコード固定手段に対する多くの改善が
なされている。先ず、テストされるコードの全長を加熱
空間２７内に入れることが可能な形状のグリップを提供
することにより、従来の測定技術における主たる誤差の
原因であるテストコードの温度勾配の変動が、少なくと
も減少する。

更にグリップ１４．１５を、従来のアルミに代えてグレ
ード３０３のステンレススチール等の熱容量の小さい材
料で作製し、脚３８．３９に円筒状の凹部４８，４９を
切削加工してその質贋を最小にすることによって、装置
１０は少ないエネルギで作動することができると共に、
テストコートを変えた場合に熱変動に速やかに追随する
ことができる。

熱打４失やエネルギ消費量並びに異なるコードのテスト
の間で安定温度に到達するのに要する時間等を最小にす
るために、オーブンＩ２は、加熱空間２７の開放部を遮
蔽する引っ込み可能な熱シールドを只え、テストコード
１３はこれを通じて挿入されるようにすることが望まし
い。この熱シールド５６．５７は両方共、適宜な断熱材
料で作製されたドアであり、加熱空間２７の開放側面と
前面を回動遮蔽するように構成されている。シールド５
６はオーブン１２に連結され、テストコード１３がオー
ブン１２の外に出ている時は、いつでも所定位置に下り
ているように構成されている。

（第１図において、テストコード１３は加熱空間２７の
外に出ているように図示されているが、加熱空間の内部
が見えるように熱シールド５６は引っ込み位置を占めて
いる。）熱シールド５７はキャリッジ３２に回動自在に
取付けられ、第１図に示すように、テストコード１３が
加熱空間２７の外側にある時には、作業者がテストコー
ド１３を交換する際にこれと干渉しないように手動又は
自動で引っ込むことができる。

ｉｊｔ＋Ｊ定アセングアセンブリ１６位変換器（ＡＤＴ
＞５１、重ｌ￥Ｉ５２．５３．ケーブル５４及び重錘プ
ラントフオームアセンブリ５５を具えている。このＡＤ
Ｔ５１は、例えばコネチカット州ニリントンのＴｒａｎ
ｓ−Ｔｅｋ　Ｉｎｃｏｒｐｏｒａｔｅｄで作られたＭｏ
ｄｅｌ　０６００−０００２　ＡＤＴ等の、シャフトの
角変位に正確に比例した信号を出力する変換器であれば
如何なるものでも構わない。

初期角度を整合させるための円形角度位置目盛り５８が
、ボルト５９等の適宜な手段によってＡＤＴ５１に固定
されている。次に述べるように正確に角度を整合させる
ための指針６１を有するプーリ６０が、ＡＤＴ５１のシ
ャフト６２に取付けられている。ＡＤＴ５１．その目盛
り５８並びにプーリ６０はすべてブラケット６３に取付
けられ、該ブラケット自体は水平なプラットフォーム３
３に固定されて、測定アセンブリＩ６がテストコート川
３と間を隔てて加熱空間２７に対して常に近づいたり遠
ざかったりするように移動するように構成されている。

ケーブル５４はグリップ１５の近い方の側面に取付けら
れているアンカー６４を始点としてプーリ６０の周囲に
巻き掛けられ、水平プラットフォーム３３の孔６５を通
って重錘５２に達し、ここで該重錘５２にアイレット／
フック機構によって取り外し自在に連結されている。プ
ーリ５０はケーブル５４を受容可能なサイズを有し、該
ケーブル５４が横方向に変位するのに伴って回転する。

重錘５２，５３はテストコード１３に最小の張力を付与
すると共に、テストの際に付加的な応力が必要な場合に
はこれを付与する機能を有する。

従って、重錘５２，５３は、テストの必要性に応じて所
望の重量の重錘並びに所望の数の重錘を組み合わせるこ
とができる。

重錘プラットフォームアセンブリ５５は自動的に重錘５
３（並びに付加重錘）の付加／取り外しを行えるように
設計されている。重錘プラットフォームアセンブリ５５
は、重錘プラットフォーム７０、インデイアナ州プリン
ストンのＥｍｅｒｓｏｎ　Ｅｌｅｃｔｒｉｃ　Ｃｏｍｐ
ａｎｙの１ｌｕｒｓｔ製造部門で作られたスクリュード
ライブＭｏｄｅｌ　ＳＬ　４０１３−００１５ｙｎｃｈ
ｒｏｎｏｕｓＬｉｎｅａｒ　Ａｃｔｕａｔｏｒ等の適宜
な昇陣駆動モーク７１゜支持コラム７２．ガイドレール
７３．高低プラットフォーム停止スイッチ７４，７５．
及びアクチュエータ７６を具えている。

制御装置エフからの指令が発せられると、モータ７１は
アクチュエータ７６が指令された方向に対応して停止ス
イッチ７４．７５に接触するまで重錘プラットフォーム
７０を上昇又は下降させる。

下降位置即ち下部位置においては、両方の重錘は重錘プ
ラットフォーム７０で支持されない自由状態にあり、両
重錘５２，５３の重量はテストコード１３に応力として
付加される。上昇位置即ち上部位置においては、重錘５
３は重錘プラットフォーム７０に支えられ、重錘５２の
みがテストコード１３に負荷を与える。当業者であれば
、支持コラム７２の高さによってのみ制限され、ケーブ
ル５４に任意の数と組み合わせの重錘が順次に結合した
り、重錘プラットフォーム７０がこれらの重錘をテスト
コード１３に負荷Ｌ７たり外したりするように制御され
たりしてもよいことを理解するであろう。更に、図示の
例では同軸上に天面と底面に固定されたフックとアイレ
ット付の円柱形状をした重錘は、このような複数連結形
態を作り易い形をしている。

第３図は制御装置１７とこれに接続されている機器のブ
ロックダイヤグラムを示す。第３図の点線で囲まれたボ
ンクス内のすべての構成要素はハウジング３０内又は上
に取付けられている。これらの構成要素はマイクロプロ
セッサをベースにした中央処理装置（ＣＰＵ）８０．Ｃ
ＰＵサポート用周辺回路カード８１．スイッチ８２．８
３，８４、モータ制御装置８５．温度制御器８６．並び
にプリンタ／キーボード８７である。

本発明に使用されるのに適した一つのＣＰＵは、コロラ
ド州ウエストミンスクーのＯｃｔａｇｏｎ　Ｓｙｓｔｅ
ｍｓＣｏｒｐｏｒａ　ｔ　ｉｏｎで作られた、Ａ／Ｄデ
ジタルコンバータを含むＭｏｄｅｌ　５ＹＳ−２２であ
り、従来型のプロトコール人出力装置（Ｉｌｏ）が接続
可能である。

このＣＰＵ８０に接続される周辺カード８１は、通常の
ＴＴＬ論理Ｉ１０ライン、クロック、バックアンプバッ
テリ、リセット装置に情報を供給するＯｃｔａｇｏｎ　
Ｍｏｄｅｌ　５ＵＰ−８である。

３個の通常型トグルスイッチ８２，８３．８４がハウジ
ング３０の前面に設置され、電力の手動制御１重錘プラ
ットフォーム／キャリッジ位置制御をそれぞれ行う。こ
れらのスイッチ８２，８３゜８４は、すべての位置検出
スイッチ４５．７５゜７６と同様に周辺カード８１に電
気接続されている。モータ制御装置８５は、アーカンサ
ス州のロジャーのＧｏｒｄｏｓ　Ａｒｋａｎｓａｓ　Ｉ
ｎｃｏｒｐｏｒａｔｅｄでイ乍られたＭｏｄｅｌ　ＰＢ
４のような通常のインターフェースであり、ＣＰＵ８０
からの操作信号を受けて適宜なモータ７１や９０を駆動
するものである。

ハウジング３０の前面に設置されている温度制御器８６
は加熱空間２７内の温度を選定し精密に制御し、ｃｐｕ
ｓ　ｏに接続されている。加熱エレメント２１と２２は
温度制御器８６に接続され、これから電力を受は取る。

熱電対９５その他の適宜な精密温度センサーが加熱空間
２７内の温度を監視し、これに接続されている温度制御
器８６に温度に比例した一つの電気的特性を持った信号
を供給する。本発明に使用可能な温度制御器として、コ
ネチカント州スタンフォートのＯｍｅｇａ　ＥｎＩ！１
ｎｅｅｒｉＢ、　Ｉｎｃｏｒｐｏｒａｔｅｄで作られた
Ｍｏｄｅｌ　ＣＮ９１１１　Ｍｉｎｉａｔｕｒｅ　Ｍｉ
ｃｒｏｐｒｏｃｅｓｓｏｒ　Ｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ　
Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒが挙げられる。

テキサス州ダラスのＴｅｘａｓ　Ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔ
のＭｏｄｅ１７０３　Ｄａｔａ　Ｔｅｒｍｉｎａｌ等の
キーボードとプリンタ付きの従来型のコンピュータター
ミナル８７が制御Ｉｎ装置１７の一部を構成し、Ｒ５−
２３２プロトコールコミユニケーシヨンインタフエース
を介してＣＰＵ８０に接続され、ハウジング３０の下方
のフレーム２０に搭載されでいる。当業者であれば、装
置１０に適宜な形態のキーボードを設置すれば、制御装
置１７はデータ交換及び／又は制御のために他の離れた
コンピュータシステムに直接接続可能であることが判る
であろう。

ＡＤＴ５１は第３図に示すようにオンボードＡＤ変換器
を介してｃｐｕｓ　ｏに電気的に接続可能である。

この装置１０の作用は第４図のフローチャートによって
明らかである。ボンクス１００で示すように、テスト作
業の第１ステツプは、電源スィッチをオンにし、両重錘
５２，５３をケーブル５４から取り外し、重錘プラット
フォーム７０を上部位置にセットし、キャリッジ３２を
外部位置にセントし、熱シールド５７を降下させ、温度
制御器８６を所望のテスト温度設定点にセントすること
によって装置１０を初期化することから開始される。

次にＡＤＴ５１の電圧出力値とテストコード１３の直線
変位との相関関係が求められる。これは、指針６１が角
度整合目盛り５８上の第１基準マーク（例えば０°）に
整合するまでプーリ６０を回転させることによって行わ
れる。キーボード８７上の入カキ−が押され、ＣＰＵ８
０はＡＤＴ５１からのこの第１電圧を読み取る。この操
作は指針を第２基準マーク（例えば６０°）にセントす
ることによって繰り返される。次にＣＰＵ８０は、後で
読み取った電圧を最初に読み取った電圧から差引き、こ
の差を定数で除してブー１６９の角変位を直線変位に変
換することによって１ボルト当たりのインチ数で表され
た補正ファクタを計算する。

次にテストコード１３がグリップ１４．’１５にセット
され、その初期長さが正確に求められる。

グリップ１４のねじ４７が緩められ、テストコード１３
の一端が顎４０と４１の間に通されて脚３８．３９の間
のチャンネルに垂れ下がり、必要に応してオフセット５
０を周回して外に出され、この時点でねじ４７が締めら
れてテストコード１３を顎４０と４１の間に把持する。

テストコード１３の初期長さを所定長に調節するために
、グリップ１５はテストコード１３の自由端がグリップ
１４に固定される前に、グリップ１４から所定の距離だ
け横方向に移動させられる。

この操作は第１図に示す整合ストッパ１０１を使用して
容易に実施される。この整合ストッパ１０１はチャンネ
ルブロック３７の天面に軸支され、第１図に示すチャン
ネルブロック３７の長手方向軸に直交する非干渉位置と
この軸に平行な整合位置の間を回動可能である。グリッ
プ１５は整合ストッパ１０１に当接するまでグリップ１
４から遠ざかる方向にスライドし、その位置に保持され
る。

テストコード１３は緊張され、その自由端はグリップ１
４の場合と同様にグリップ１５に固定される。整合スト
ッパ１０１の長さを適宜に選択することにより、テスト
コード１３の初期長さＬｌは任意に設定可能である。本
発明者は８インチが好適であることを見出した。

テストコード１３が一旦グリンプ１４に把持されると、
キーボード８７の入カキ−が押され、ステップ１０３に
示されているように、ＣＰＵはテストコード１３の補正
されていない“０％゛伸長伸長上、の値を読み取る。次
に、整合ストッパ１０１が非干渉位置に復帰し、熱シー
ルド５７が上昇し、重錘５２がケーブル５４に掛けられ
、入カキ−が押される。次にｃｐｕｓ　ｏはステップ１
０４を実行し、Ｌ２を読み、テストコード１３の実際の
長さを計算する。この例においては、実際の長さは８イ
ンチに最終長さと初期長さの差を加えたもの（８＋Ｌ２
−Ｌｌ）である。

ステップ１００〜１０５は、総合して必須の設定、初期
化、補正操作と見られる。ＣＰＵ８０がモータ９０を作
動させ、テストコード１３の全長が加熱空間２７内に包
み込まれるまでキャリンジ３２を移動させるステップ１
０７によって実際のテストが開始される。

テストコード１３が所定の設定温度で２分間加熱される
と、コード長（Ｌ３）が再び測定され（ステップ１０９
）メモリに記憶される。ステップ１２０において、ＣＰ
Ｕ８０は駆動装置７１を作動させて重錘プラットフォー
ム７０を下降させ、ケーブル５４に重錘５３を負荷する
。４分間の時間経過後（ステップ１２１）、コード長（
Ｌ４）が再び測定され、メモリに記憶される（ステップ
１２２）。

両テストが終了すると、収縮率と伸長率が計算され（ス
テップ１２３）、プリントされる（ステップ１２４）。

収縮率は（（Ｌ３　　Ｌｚ）／実際の初期長さ）ｘｌｏ
ｏで表され、ここで実際の初期長さはＢ＋（Ｌ２−Ｌｌ
　）である。伸長率はＣ（Ｌ４Ｌｚ　）　／　（Ｂ＋Ｌ
２　１ＬＪ”Ｊ　Ｘ　１００に等しい。

テスト手順の終了時において、ＣＰＵ８０はモータ９０
を作動させてキャリッジ３２を外側に移動させ、駆動装
置７１を作動させて重錘プラットフォーム７０を上昇さ
せる。テストコード１３はグリップ１４．１５から取り
外され、テストされる別のコードと取替えられるか、又
は電源スィッチ８２がオフにされる。

マイクロプロセッサによって操作される制御装置１７が
ある場合には、最後の収縮率や伸長率の他にも多くの補
助的データの収拾、記憶、解析を行うことができる。例
えば、ＣＰＵ８０はテストのサイクルを通して周期的に
コードの長さを読み取り、このデータを記憶・解析する
ことができる。

更に、当業者であれば、この装置１０は種々のテスト方
法を実行できることを理解するであろう。

例えば、ここで述べた例においては加熱空間２７の温度
が収縮と伸長の両者を通じて一定に維持されている。し
かし、加熱空間２７の温度はテスト期間中に容易に変更
可能である。荷重や遅れ時間等のテスト手順の他のパラ
メーータも容易に変更可能である。

本発明は細かい部分で多くの改変、変化、修正を行うこ
とができると共に、明細３中で説明し、図面に示された
すべての事項は例示であり、本発明はこれらに限定され
るものではない。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の装置を前面から見た斜視閃
、 第２図はテスト材料を把持するためのグリップの一例の
斜視図、 第３図は第１図の装置の制御回路のブロックダイアグラ
ム、 第４図は第１図の装置の作用を示すフローチャートであ
る。 １０−−熱応力テスト装置、 １１−チャンバ、 １２−オーブン、 １３−テストコート、 １４．１５＋−−グリップ、 １６−測定アセンブリ、 １７−制御装置、 ２１．２２−・−加熱エレメント、 ２３．２４−断熱被覆、 ２７−加熱空間、 ３２　キャリッジ、 ８０−ＣＰ　Ｕ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、所定の長さの材料を収容し、その温度を制御するた
   めのチャンバと、 前記チャンバ内に前記所定長さの材料の全長を保持し、
   これを位置決めするためのグリップと、前記所定長さの
   材料の長さの変化を測定するための手段とを具えた、材
   料の熱応力下の寸法変化を求めるための熱応力の下での
   材料の寸法変化試験装置。 ２、前記グリップに把持された材料が全体として前記チ
   ャンバ内に入るように前記グリップを自動的且つ選択的
   に移動させ、前記チャンバを所定の時間サイクルの間作
   動させ、前記所定長さの材料の変化を監視し、寸法変化
   を計算する制御装置を具えている請求項１に記載の寸法
   変化試験装置。 ３、前記チャンバが加熱空間を具えたオーブンであり、
   前記グリップが材料の一端を把持するための複数の脚を
   具え、材料の端部を把持した前記脚の端が前記加熱空間
   内に入ることが可能である請求項１に記載の寸法変化試
   験装置。 ４、前記チャンバがその内部の温度の制御を行う温度制
   御手段を具えている請求項２に記載の寸法変化試験装置
   。 ５、変化を測定する前記手段が、前記グリップと連携し
   て作動して寸法変化を測定する変換器と、材料に選択的
   に機械的応力を付与するための重錘手段とを具え、前記
   制御手段が前記重錘手段を前記グリップに連結する操作
   を自動的且つ選択的に制御するように構成されている請
   求項３に記載の寸法変化試験装置。 ６、変化を測定する前記手段が、前記重錘手段と連携し
   て作動するプラットフォーム手段を具え、前記重錘を前
   記グリップに対して係合・離脱させる請求項５に記載の
   寸法変化試験装置。 ７、前記材料がタイヤコードであり、前記重錘手段が複
   数の重錘である請求項６に記載の寸法変化試験装置。 ８、長く狭い加熱空間を有する温度制御されたチャンバ
   内に挿入されて熱応力下での長さの変化を測定される材
   料片を固定するために、前記材料片の一端を把持する第
   １部分と該第１部分と連携作用を行う第２部分とを有し
   、前記第１部分は前記材料片の全長が前記加熱空間内に
   挿入されるような形状に作られているグリップ。 ９、前記第１部分が材料片を把持する顎を有する複数の
   脚を具え、それぞれの脚はその質量を少なくするために
   孔を設けられている請求項８に記載のグリップ。 １０、前記脚の一方が、前記顎を越えて延びる材料片の
   端を保持するためのオフセット手段を具えている請求項
   ９に記載のグリップ。 １１、所定の長さの材料片をグリップに挿入し、該材料
   を保持する前記グリップの部分を含む前記所定長さの材
   料片の全長をオーブン中に位置せしめ、 前記オーブン中での前記材料片の温度を制御し、前記材
   料片の長さの変化を測定する各ステップからなる熱応力
   下での材料の寸法変化を測定するための方法。 １２、前記グリップを自動的且つ選択的に動かして、該
   グリップによって把持されている材料全体を前記オーブ
   ン中に位置せしめ、前記オーブンを予定された時間サイ
   クルの間作動させる各ステップを含む請求項１１に記載
   の方法。 １３、前記材料に機械的応力を選択的に負荷するステッ
   プを含む請求項１１に記載の方法。