JPH03167446A - レーザー気化装置の試料交換装置 - Google Patents

レーザー気化装置の試料交換装置

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JPH03167446A
JPH03167446A JP30842389A JP30842389A JPH03167446A JP H03167446 A JPH03167446 A JP H03167446A JP 30842389 A JP30842389 A JP 30842389A JP 30842389 A JP30842389 A JP 30842389A JP H03167446 A JPH03167446 A JP H03167446A
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JP
Japan
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sample
sample chamber
chamber
low
base
Prior art date
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Pending
Application number
JP30842389A
Other languages
English (en)
Inventor
Ryoji Takazawa
良治 高沢
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Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
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Publication date
Application filed by Seiko Instruments Inc filed Critical Seiko Instruments Inc
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Publication of JPH03167446A publication Critical patent/JPH03167446A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/02Devices for withdrawing samples
    • G01N1/04Devices for withdrawing samples in the solid state, e.g. by cutting
    • G01N2001/045Laser ablation; Microwave vaporisation

Landscapes

  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、分光分析装置などに用いるレーザー気化装
置における試料交換装置に関する.〔従来の技術〕 従来は第2図に示すように試料4を交換する場合に、フ
タどめリング2を緩め、フタ1を開放し試料4を試料室
5円から専用の治具7に取り上げるあるいは取り付ける
構成である。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし、従来の試料交換装置は、任意の位置に試料を設
置すること、あるいは試料室5内から試料4を取り上げ
る作業において、周囲のキャリアガス導入系Bあるいは
気化試料C等の頻雑な配管18. 19及び筺体15が
ある為に容易でないという欠点があった。
そこでこの発明は、従来のこのような欠点を解決する為
、脱着容易な試料室と試料室内への試料の脱着及び任意
の位置出しも容易に行えることを目的としている. 〔課題を解決するための手段〕 上記問題点を解決するためにこの発明は、試料室を分割
させ、試料室5はベース6に固定され、試料室(下)1
0はベース6の上面にある摺勤板9上を可動できる構威
とした。また試料室(下)10には回転軸13. ツマ
ミ14を設け試料4の位置を任意にできることと、試料
室(下)10を容易に可動できる構威とした。
(作用〕 上記のように構或された試料交換装置においてベース6
上面の摺動板9を介して試料室(下)10はツマ壽14
を引くことにより作業者の手前にスムーズに移動する。
その後、試料室(下) 10内に存在する試料4はネジ
構造を有している回転軸13の回転により上下動するの
で、回転軸13を操作して試料室(下) 10の上面よ
り突出すれば、交換容易になる。
〔実施例〕
以下にこの発明の実施例を図面に基づいて説明する.第
l図において、筐体l5にネジ1Gにてベース6は固定
されている.ベース6上部横にはキャリアガス用配管1
9.気化試料用配管18.そして中央部に試料室5が取
り付いている。試料室5の上には機密維持用“O″″リ
ング(l)3を介してフタlがフタどめリング2に固定
されている.試料室5の下部には試料室(下) 10と
の間で機密性を維持する″O”リング(2》8が取り付
いている.試料室5とベース6の間には前記“O′リン
グ(2)8と摺動板9を介して、第3図で示す構威品が
脱着される。試料室(下)10と回転軸l3の間にも機
密性を維持する為の“○”リング(3112が取りつい
ている.第4図は試料室(下)lOへの試料の脱着の実
施例を示す。
第3図は、可動できる試料室(下)10の縦断面図で、
ツマミ14は第1図において紙面手前にある。
このツマミ14を手前に引けば試料室(下)IOは摺動
仮上を滑り容易に試料室5の側方へ引き出せる.そこで
、試料室(下)10の底面に設けられた回転軸を回転す
れば試料4は上昇するので試料の交換を容易に行うこと
ができる。
以上のような実施例において、試料の交換の頻雑さは、
可動できる試料室(下)10と第3図、第4図に示す構
成をもって解決され、有効作用することが容易に理解で
きる。
〔発明の効果〕
この発明は以上説明したように、試料交ta装置におい
て、試料室を2分割にしたことにより、また上下動でき
る可動体をつけることにより、試料の交換作業を容易に
する効果がある.
【図面の簡単な説明】
第I図はこの発明にかかる試料交換装置の縦断面図、第
2図は従来の試料交換装置の縦断面図、第3図および第
4図はこの発明にかかる可動できる試料室の下半部の実
施例を示す縦断面図である.A・・・レーザー B・・・キャリアガス C・・・気化試料 4・・・試料 5・・・試料室(ベースに固定) 6・・・ベース 9・・・摺動抜 10・・・試料室(下)(可動できる)13・・・回転
軸 以上

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. レーザーの励起により固体試料を気化させ、分光分析装
    置内へ気化状態試料を供給するレーザー気化装置の試料
    室において、上記試料室の下半部を摺動可能に構成する
    とともに、その底部には試料上下動用外部操作部材を設
    けたことを特徴とするレーザ気化装置の試料交換装置。
JP30842389A 1989-11-27 1989-11-27 レーザー気化装置の試料交換装置 Pending JPH03167446A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2700852A1 (fr) * 1993-01-27 1994-07-29 Commissariat Energie Atomique Cellule d'ablation d'un échantillon au laser.
US5537206A (en) * 1993-11-02 1996-07-16 Nkk Corporation Method for analyzing steel and apparatus therefor
CN106516118A (zh) * 2016-12-29 2017-03-22 天津云端智航科技有限公司 一种多样地质采样无人机

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