JPH03156935A - 混成集積回路におけるダイボンディング方法 - Google Patents

混成集積回路におけるダイボンディング方法

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JPH03156935A
JPH03156935A JP29679989A JP29679989A JPH03156935A JP H03156935 A JPH03156935 A JP H03156935A JP 29679989 A JP29679989 A JP 29679989A JP 29679989 A JP29679989 A JP 29679989A JP H03156935 A JPH03156935 A JP H03156935A
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JP
Japan
Prior art keywords
metal substrate
die bonding
brazing material
integrated circuit
hybrid integrated
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Pending
Application number
JP29679989A
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English (en)
Inventor
Takumi Ito
巧 伊藤
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Die Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 混成集積回路におけるダイボンディング方法に関し、 位置ずれが少ないダイボンディング方法の提供を目的と
し、 金属パッケージの金属基板上に、チップ部品、IC基板
をダイボンディングし、各部品の端子パッド間をワイヤ
ボンディング接続して成る混成集積回路において、薄い
シート状で表面に実装格子を明示して設けた鑞材を、金
属基板上に載置し、鑞材の実装格子に合わせて所定位置
に、チップ部品、rc基板を載せ、全体を加熱さセて、
金属基板上に鑞付は固着させるように構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、混成集積回路におけるダイボンディング方法
に関する。
部品の小形化に伴い、構成回路も益々小形化、高密度実
装化が図られている。
この回路モジュールは、同一絶縁基板上に全構成部品を
作成、配線構成するり、STから、チップ部品のトラン
ジスタやコンデンサと膜構成の集積回路基板とを金属基
板に固着させて配線接続を行う混成集積回路、等各種の
形態がある。
高周波無線回路や電源回路は後者で構成され、論理回路
や低周波回路は前者が多く用いられる。
後者は、構成部品を金属基板にダイボンディングし、複
数個の部品の端子間をワイヤホンディングする組立工程
を伴う。
〔従来の技術〕
第2図に混成集積回路の一例の斜視図、第3図に従来の
一例のダイボンディング方法を示す。
混成集積回路の一例は、第2図に示す如く、3個に分か
れた薄膜集積回路のIC基板92と、2個のトランジス
タのFETベアチップや、2個のマイクロチップコンデ
ンサのデツプ部品91とが、金属パッケージ1の金属基
板2上に固着され、端子パッド間及び外部接続端子と相
互に金細線6で短くワイヤボンディングし、最後に11
1を被せて密閉封じを行っている。
ここで、金属基板2上にチップ部品91及びIC基板9
2を固着させるダイボンディングについて、一般的な従
来の一例は第3図(al〜(blに示す如くで、先に各
部品の固着位置に所定量の金錫鑞材45のチップを置い
ておき、酸化を防止するために不活性ガス雰囲気中で金
属基板2を加熱し、図Talのように鑞材45が溶解状
態に達してから、先ずIC基板92を載せて多少押力を
加えてスクラブして止め、続いてチップ部品91を載せ
、同様に止め、冷却させて図(blのようにその位置に
固着させている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、 ■ 生産的に自動機械化困難で人手作業による場合は、
部品相互間に位置ずれを生じてしまう。
例えば、各部品間の主要間隔を、図(blに示すaNC
l a′〜C′とし、a=a ’、b=b’c=c ’
を条件としても、位置ずれにより程度の差こそあれah
a’、b≠b′、c#c ’とならざるを得ない。
■ これにより、ワイヤボンディングされた金線線6の
長さにばらつきを生じ、高周波回路では特性に著しく影
響を与えて、特性のばらつきを生じてしまう。
等の問題点がある。
本発明は、かかる問題点に鑑みて、位置ずれが少ないダ
イボンディング方法の提供を目的とする。
〔課題を解決するだめの手段〕
上記問題点は、第1図に示す如く、 金属パッケージ1の金属基板2上に、チップ部品91、
rcg板92をダイボンディングし、各部品の端子パッ
ド間をワイヤボンディング接続して成る混成集積回路3
において、薄いシート状で表面に実装格子5を明示して
設けた鑞材4を、金属基板2上に載置し、鑞材4の実装
格子5に合わせて所定位置に、チップ部品91、IC基
板92を載せ、全体を加熱させて、金属基板2上に鑞付
は固着させる、本発明の混成集積回路におけるダイボン
ディング方法により解決される。
〔作 用〕
即ち、シート状の鑞材4を置き、その実装格子5上に、
実装位置に合わせてチップ部品91やIC部品92を配
置させ、全体を加熱して鑞材4が溶解したら、各部品を
上から押力を加えスクラブして止めるので、スクラブ時
の動きで多少の位置ずれは生じるが、前述の従来例の如
き、目盛りも無い目測による位置決めに比べれば かに
高精度に配設固着出来る。
これにより、高周波回路においても十分に特性のばらつ
きを抑えることが出来る。
薄いシート状の鑞材4にこの実装格子5を設けるのは、
例えば、ダイスイングツ−で表面に所定ピッチで縦横に
刻線したり、押し型を押し当て筋目を付ける等により行
える。
かくして、位置ずれが少ないダイボンディング方法の提
供が可能となる。
〔実施例〕 以下図面に示す実施例によって本発明を具体的に説明す
る。全図を通し同一符号は同一対象物を示す。第1図(
alに本発明の一実施例のダイボンディング方法の鑞材
、同図fb)に同載置状態図を示す。
本実施例は、マイクロ波回路モジュールで、2個のFE
Tヘアチップと2個のマイクロチップコンデンサのチッ
プ部品91と、3個の薄膜構成のIC基板92とから成
り、金属パンケージlの金属基板2の上に部品が金錫の
鑞材4でダイボンディングされ、端子バンド聞及び外部
接続端子と金細線6にてワイヤボンディングして回路構
成され、最後にIllを被せて密封対じを行っている。
ここで部品のダイボンディングは、図(a)の如く、片
面にダイスイングツ−で0.5龍ピツチに刻線して実装
格子5を設けた、10X6.5 龍の四角形で0゜1龍
厚のシー1〜状の金錫鑞材4を用い、図(blのように
、鑞材4を金属パッケージ1の金属基板2の上に実装格
子5が見えるように敷き、この実装格子5に合わせてチ
ップ部品91及びIC基板92を正確に配置させてから
、全体を窒素ガス噴射雰囲気に置き、金属基板2を反対
面から加熱させ、鑞材4が溶解し始めたら、各部品を順
に上から少し押力を加えてスクラブして止めてから、冷
却し固着させる。
」−記実施例は一例を示し、各部の個数、形状、寸法は
上記のものに限定することはない。
又、鑞材4の材料も金錫に限らず他の適切な材料で差支
えなく、実装格子5の設は方も他のスクライバ−を用い
たり、押し型の押し付けによっても差支えない。
〔発明の効果〕
以上の如く、本発明のダイボンディング方法により、部
品の位置ずれを少なく抑えることが出来、これによりワ
イヤボンディングの金細線の長さのばらつきが抑えられ
、高周波での特性のばらつきを十分に小さく抑えること
が出来ると共に、@置作業が多少短縮出来、生産効果は
大である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のダイボンディング方法・ 第2図は混成集積回路の一例の斜視図、第3図は従来の
一例のダイボンディング方法である。 図において、 1は金属パッケージ、2は金属基板、 3は混成集積回路、 4.45は鑞材、5は実装格子、
    6は金細線、 11は蓋、      91はチ・ノブ部品、92はy
c基板である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 金属パッケージ(1)の金属基板(2)上に、チップ部
    品口(91)、IC基板艶をダイボンディングし、各部
    品の端子パッド間をワイヤボンディング接続して成る混
    成集積回路(3)において、 薄いシート状で表面に実装格子(5)を明示して設けた
    鑞材(4)を、該金属基板(2)上に載置し、該鑞材(
    4)の実装格子(5)に合わせて所定位置に、該チップ
    部品(91)、IC基板(92)を載せ、全体を加熱さ
    せて、該金属基板(2)上に鑞付け固着させることを特
    徴とする混成集積回路におけるダイボンディング方法。
JP29679989A 1989-11-15 1989-11-15 混成集積回路におけるダイボンディング方法 Pending JPH03156935A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003077311A1 (en) * 2002-03-14 2003-09-18 Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation Method and resulting structure for manufacturing semiconductor substrate
US6960490B2 (en) 2002-03-14 2005-11-01 Epitactix Pty Ltd. Method and resulting structure for manufacturing semiconductor substrates

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WO2003077311A1 (en) * 2002-03-14 2003-09-18 Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation Method and resulting structure for manufacturing semiconductor substrate
US6919261B2 (en) 2002-03-14 2005-07-19 Epitactix Pty Ltd Method and resulting structure for manufacturing semiconductor substrates
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