JPH03154815A - 測量装置 - Google Patents
測量装置Info
- Publication number
- JPH03154815A JPH03154815A JP29391689A JP29391689A JPH03154815A JP H03154815 A JPH03154815 A JP H03154815A JP 29391689 A JP29391689 A JP 29391689A JP 29391689 A JP29391689 A JP 29391689A JP H03154815 A JPH03154815 A JP H03154815A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 36
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 18
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 12
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims abstract description 5
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 241000272201 Columbiformes Species 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、建築物、橋梁等の大型構造物の長期間に亘る
上下方向の変形を計測する測量装置に関する。
上下方向の変形を計測する測量装置に関する。
(従来の技術)
建築物、橋梁等の大型構造物aの変形は、従来、第4図
に示すように、大型構造物aにおける計測点すの、近傍
に不動点Cを設け、その上にスケールdを立てて行なう
かあるいは、第5図に示すように、電気マイクロメータ
eを配設して行なう間接計測法と、第6図に示すように
、自動補正機構を内蔵した水準11ffi機5を大型構
造物aから離れた不動点C上に配置し、計測点すに配置
したスケールfの値を読んで行なう直接計測法とによっ
て計測されている。
に示すように、大型構造物aにおける計測点すの、近傍
に不動点Cを設け、その上にスケールdを立てて行なう
かあるいは、第5図に示すように、電気マイクロメータ
eを配設して行なう間接計測法と、第6図に示すように
、自動補正機構を内蔵した水準11ffi機5を大型構
造物aから離れた不動点C上に配置し、計測点すに配置
したスケールfの値を読んで行なう直接計測法とによっ
て計測されている。
(発明が解決しようとする課題)
上記した従来の間接計測法によれば、計測点の近傍に不
動点が必要であり、直接計測法によれば、観測要員が必
要で、また連続的に計測点の変位データを集録すること
が困難である。更に計測点が測定範囲を越えた位置とな
って測定できな゛い鳩舎5、′その校正が計測現場では
容易にことをその目的、とするものである。
動点が必要であり、直接計測法によれば、観測要員が必
要で、また連続的に計測点の変位データを集録すること
が困難である。更に計測点が測定範囲を越えた位置とな
って測定できな゛い鳩舎5、′その校正が計測現場では
容易にことをその目的、とするものである。
(課題を解決するための手段)
本発明は、上記の目的を達成するために、自動補正機構
を内蔵した水準測量機の規準光学系に被測定物の計測点
の位置を撮像するように撮像デバイスの撮像素子を配設
するとともに、該水準測量機の対物レンズの前方に光学
式マイクロメータを配設し、該光学式マイクロメータの
平行平面ガラスを傾けて計n1点を光学式マイクロメー
タによって焦点板の十字線の交点まで移動したときの光
学式マイクロメータの移動量とこのときの前記撮像素子
上に撮像される計測点の十字線の交点までの移動量との
比と、前記撮像素子上の被ml定物の計測点の変位によ
る移動量とを乗算して被測定物の計測点の実際の変位を
算出する演算手段を設けたことを特徴とする。
を内蔵した水準測量機の規準光学系に被測定物の計測点
の位置を撮像するように撮像デバイスの撮像素子を配設
するとともに、該水準測量機の対物レンズの前方に光学
式マイクロメータを配設し、該光学式マイクロメータの
平行平面ガラスを傾けて計n1点を光学式マイクロメー
タによって焦点板の十字線の交点まで移動したときの光
学式マイクロメータの移動量とこのときの前記撮像素子
上に撮像される計測点の十字線の交点までの移動量との
比と、前記撮像素子上の被ml定物の計測点の変位によ
る移動量とを乗算して被測定物の計測点の実際の変位を
算出する演算手段を設けたことを特徴とする。
(作 用)
第1図に示すように、光学式マイクロメータの平行平面
ガラス4aを破線のように傾けたときの計測点の移動量
1と、そのときの撮像素子5上に結像される計測点りの
水平規準線Xすなわち焦点板の十字線の交点までの移動
量りとの比kを測量に先立って求め、この比kを演算手
段例えばマイクロコンピュータに入力しておき、マイク
ロメータを水平状態にもどし、計測点の移動の観察を開
始させると、それ以後演算手段は、この比にと撮像素子
上の被測定物の計測点の変位による移動量とを乗算して
被測定物の基準点の実際の変位を算出する。
ガラス4aを破線のように傾けたときの計測点の移動量
1と、そのときの撮像素子5上に結像される計測点りの
水平規準線Xすなわち焦点板の十字線の交点までの移動
量りとの比kを測量に先立って求め、この比kを演算手
段例えばマイクロコンピュータに入力しておき、マイク
ロメータを水平状態にもどし、計測点の移動の観察を開
始させると、それ以後演算手段は、この比にと撮像素子
上の被測定物の計測点の変位による移動量とを乗算して
被測定物の基準点の実際の変位を算出する。
前記比には、以上のように対物レンズから被測定物まで
の距離や合焦レンズの位置とは無関係に決定される。
の距離や合焦レンズの位置とは無関係に決定される。
(実施例)
以下本発明の実施例を図面につき説明する。
第1図、第2図及び第3図は、本発明の1実施例を示す
。同図において、1は自動補正機構を内蔵した水準測量
機すなわち自動レベルの本体である。この自動レベル本
体1は、第3図に示すように対物レンズ2及び接眼レン
ズ3と第1図に示すようにその間に配設された合焦レン
ズ12、自動補正機構13及び焦点板14を備えており
、このものは周知のものである。4は対物レン〜ズ2の
前方に取付けられた光学式マイクロメータ、5はアタッ
チメント6を介して接眼レンズ3に取付けられた撮像デ
バイスの撮像素子である。この撮像デバイスの撮′像素
子5としては例えばCCD撮像素子が使用され、制御装
置7を経て演算ユニット8に接続される。制御装置7は
、例えばCCD撮像素子の水平、高度駆動回路や増゛幅
回路、タイミングコントロール回路等を内蔵しており、
演算ユニット8にビデオ信号を出力するものである。演
算ユニット8は例えばマイクロコンピュータから成り、
制御装置7から出力したビデオ信号よりCCD撮像素子
に投影された視野から被測定物例えば大型構造物9に設
けたターゲット10の指標11を抽出し、指標11の位
置を前述のようにして演算する。演算結果は、内部記憶
装置に内蔵するかCRT上に表示するようになっている
。
。同図において、1は自動補正機構を内蔵した水準測量
機すなわち自動レベルの本体である。この自動レベル本
体1は、第3図に示すように対物レンズ2及び接眼レン
ズ3と第1図に示すようにその間に配設された合焦レン
ズ12、自動補正機構13及び焦点板14を備えており
、このものは周知のものである。4は対物レン〜ズ2の
前方に取付けられた光学式マイクロメータ、5はアタッ
チメント6を介して接眼レンズ3に取付けられた撮像デ
バイスの撮像素子である。この撮像デバイスの撮′像素
子5としては例えばCCD撮像素子が使用され、制御装
置7を経て演算ユニット8に接続される。制御装置7は
、例えばCCD撮像素子の水平、高度駆動回路や増゛幅
回路、タイミングコントロール回路等を内蔵しており、
演算ユニット8にビデオ信号を出力するものである。演
算ユニット8は例えばマイクロコンピュータから成り、
制御装置7から出力したビデオ信号よりCCD撮像素子
に投影された視野から被測定物例えば大型構造物9に設
けたターゲット10の指標11を抽出し、指標11の位
置を前述のようにして演算する。演算結果は、内部記憶
装置に内蔵するかCRT上に表示するようになっている
。
この実施例の装置を作動させるには、変位量を求めたい
例えば大型構造物9に対峙させて装置を据付ける。次に
大型構造物9のターゲットlOの計測点11が焦点板の
十字線の交点位置の近くになるように装置をセットする
。そしてこのときの計測点llの位置を撮像デバイス5
で撮像し、このときの計測点11の撮像素子5上の位置
を演算ユニット8に記憶させる。次に光学式マイクロメ
ータ4の平行平面ガラス(第1図)を―迷のように傾動
させて計測点を水平視準位・置(即ち十字線の交点)ま
で移動させる。即ち、マイクロメータの零目盛に合わせ
る。このときの水平規準位置までの計測点りの移動量に
対する撮影素子5上の計測点りの移動量を演算ユニット
9のデイスプレィ上で読みとる。これより計測点の水平
規準位置までの移動量と撮像素子s上の計#1点11の
移動量の比kが求まる。この比kを演算ユニット9に入
力し、記憶させておく。かくして演算ユニット8は所定
時間毎に撮像素子5上の計iH点11の像の位置からそ
の移動量を求め、その移動量に比kを乗じて計n1点1
1の移動量すなわち大型構造物9の所定位置の変位を算
出する。
例えば大型構造物9に対峙させて装置を据付ける。次に
大型構造物9のターゲットlOの計測点11が焦点板の
十字線の交点位置の近くになるように装置をセットする
。そしてこのときの計測点llの位置を撮像デバイス5
で撮像し、このときの計測点11の撮像素子5上の位置
を演算ユニット8に記憶させる。次に光学式マイクロメ
ータ4の平行平面ガラス(第1図)を―迷のように傾動
させて計測点を水平視準位・置(即ち十字線の交点)ま
で移動させる。即ち、マイクロメータの零目盛に合わせ
る。このときの水平規準位置までの計測点りの移動量に
対する撮影素子5上の計測点りの移動量を演算ユニット
9のデイスプレィ上で読みとる。これより計測点の水平
規準位置までの移動量と撮像素子s上の計#1点11の
移動量の比kが求まる。この比kを演算ユニット9に入
力し、記憶させておく。かくして演算ユニット8は所定
時間毎に撮像素子5上の計iH点11の像の位置からそ
の移動量を求め、その移動量に比kを乗じて計n1点1
1の移動量すなわち大型構造物9の所定位置の変位を算
出する。
(発明の効果)
本発明は、上述の通りに構成されているから、計nj点
から離れた不動点から常時観測要員を必要としないで、
計測点の変位データを長時間に亘って集録することが可
能であり、また対物レンズから被測定物までの距離や合
焦レンズの位置に無関係に測定できるので測定作業が簡
単である。更に計測点が所定の長さ以上に移動しても、
装置の校正が容易にできる。
から離れた不動点から常時観測要員を必要としないで、
計測点の変位データを長時間に亘って集録することが可
能であり、また対物レンズから被測定物までの距離や合
焦レンズの位置に無関係に測定できるので測定作業が簡
単である。更に計測点が所定の長さ以上に移動しても、
装置の校正が容易にできる。
第1図は本発明の1実施例の光学系を示す図、第2図は
その1実施例の斜面図、第3図はその要部の分解側面図
、第4図、第5図及び第6図はいずれも従゛来の計測法
の説明図である。 1・・・自動レベル本体 2・・・対物レンズ
4・・・光学式マイクロメータ 5・・・演算ユニット 5・・・影像素子 9・・・大型構造物 第1図 第4図 第5図 第6図 77
その1実施例の斜面図、第3図はその要部の分解側面図
、第4図、第5図及び第6図はいずれも従゛来の計測法
の説明図である。 1・・・自動レベル本体 2・・・対物レンズ
4・・・光学式マイクロメータ 5・・・演算ユニット 5・・・影像素子 9・・・大型構造物 第1図 第4図 第5図 第6図 77
Claims (1)
- 自動補正機構を内蔵した水準測量機の規準光学系に被測
定物の計測点の位置を撮像するように撮像デバイスの撮
像素子を配設するとともに、該水準測量機の対物レンズ
の前方に光学式マイクロメータを配設し、該光学式マイ
クロメータの平行平面ガラスを傾けて計測点を光学式マ
イクロメータによって焦点板の十字線の交点まで移動し
たときの光学式マイクロメータの移動量とこのときの前
記撮像素子上に撮像される計測点の十字線の交点までの
移動量との比と、前記撮像素子上の被測定物の計測点の
変位による移動量とを乗算して被測定物の計測点の実際
の変位を算出する演算手段を設けたことを特徴とする計
測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1293916A JP2920391B2 (ja) | 1989-11-14 | 1989-11-14 | 測量装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1293916A JP2920391B2 (ja) | 1989-11-14 | 1989-11-14 | 測量装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03154815A true JPH03154815A (ja) | 1991-07-02 |
JP2920391B2 JP2920391B2 (ja) | 1999-07-19 |
Family
ID=17800818
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1293916A Expired - Fee Related JP2920391B2 (ja) | 1989-11-14 | 1989-11-14 | 測量装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2920391B2 (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6156511U (ja) * | 1984-09-19 | 1986-04-16 | ||
JPS63252216A (ja) * | 1987-04-08 | 1988-10-19 | Opt:Kk | 比高測定用水準儀 |
-
1989
- 1989-11-14 JP JP1293916A patent/JP2920391B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6156511U (ja) * | 1984-09-19 | 1986-04-16 | ||
JPS63252216A (ja) * | 1987-04-08 | 1988-10-19 | Opt:Kk | 比高測定用水準儀 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2920391B2 (ja) | 1999-07-19 |
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