JPH03154815A - 測量装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、建築物、橋梁等の大型構造物の長期間に亘る
上下方向の変形を計測する測量装置に関する。

（従来の技術） 建築物、橋梁等の大型構造物ａの変形は、従来、第４図
に示すように、大型構造物ａにおける計測点すの、近傍
に不動点Ｃを設け、その上にスケールｄを立てて行なう
かあるいは、第５図に示すように、電気マイクロメータ
ｅを配設して行なう間接計測法と、第６図に示すように
、自動補正機構を内蔵した水準１１ｆｆｉ機５を大型構
造物ａから離れた不動点Ｃ上に配置し、計測点すに配置
したスケールｆの値を読んで行なう直接計測法とによっ
て計測されている。

（発明が解決しようとする課題） 上記した従来の間接計測法によれば、計測点の近傍に不
動点が必要であり、直接計測法によれば、観測要員が必
要で、また連続的に計測点の変位データを集録すること
が困難である。更に計測点が測定範囲を越えた位置とな
って測定できな゛い鳩舎５、′その校正が計測現場では
容易にことをその目的、とするものである。

（課題を解決するための手段） 本発明は、上記の目的を達成するために、自動補正機構
を内蔵した水準測量機の規準光学系に被測定物の計測点
の位置を撮像するように撮像デバイスの撮像素子を配設
するとともに、該水準測量機の対物レンズの前方に光学
式マイクロメータを配設し、該光学式マイクロメータの
平行平面ガラスを傾けて計ｎ１点を光学式マイクロメー
タによって焦点板の十字線の交点まで移動したときの光
学式マイクロメータの移動量とこのときの前記撮像素子
上に撮像される計測点の十字線の交点までの移動量との
比と、前記撮像素子上の被ｍｌ定物の計測点の変位によ
る移動量とを乗算して被測定物の計測点の実際の変位を
算出する演算手段を設けたことを特徴とする。

（作　用） 第１図に示すように、光学式マイクロメータの平行平面
ガラス４ａを破線のように傾けたときの計測点の移動量
１と、そのときの撮像素子５上に結像される計測点りの
水平規準線Ｘすなわち焦点板の十字線の交点までの移動
量りとの比ｋを測量に先立って求め、この比ｋを演算手
段例えばマイクロコンピュータに入力しておき、マイク
ロメータを水平状態にもどし、計測点の移動の観察を開
始させると、それ以後演算手段は、この比にと撮像素子
上の被測定物の計測点の変位による移動量とを乗算して
被測定物の基準点の実際の変位を算出する。

前記比には、以上のように対物レンズから被測定物まで
の距離や合焦レンズの位置とは無関係に決定される。

（実施例） 以下本発明の実施例を図面につき説明する。

第１図、第２図及び第３図は、本発明の１実施例を示す
。同図において、１は自動補正機構を内蔵した水準測量
機すなわち自動レベルの本体である。この自動レベル本
体１は、第３図に示すように対物レンズ２及び接眼レン
ズ３と第１図に示すようにその間に配設された合焦レン
ズ１２、自動補正機構１３及び焦点板１４を備えており
、このものは周知のものである。４は対物レン〜ズ２の
前方に取付けられた光学式マイクロメータ、５はアタッ
チメント６を介して接眼レンズ３に取付けられた撮像デ
バイスの撮像素子である。この撮像デバイスの撮′像素
子５としては例えばＣＣＤ撮像素子が使用され、制御装
置７を経て演算ユニット８に接続される。制御装置７は
、例えばＣＣＤ撮像素子の水平、高度駆動回路や増゛幅
回路、タイミングコントロール回路等を内蔵しており、
演算ユニット８にビデオ信号を出力するものである。演
算ユニット８は例えばマイクロコンピュータから成り、
制御装置７から出力したビデオ信号よりＣＣＤ撮像素子
に投影された視野から被測定物例えば大型構造物９に設
けたターゲット１０の指標１１を抽出し、指標１１の位
置を前述のようにして演算する。演算結果は、内部記憶
装置に内蔵するかＣＲＴ上に表示するようになっている
。

この実施例の装置を作動させるには、変位量を求めたい
例えば大型構造物９に対峙させて装置を据付ける。次に
大型構造物９のターゲットｌＯの計測点１１が焦点板の
十字線の交点位置の近くになるように装置をセットする
。そしてこのときの計測点ｌｌの位置を撮像デバイス５
で撮像し、このときの計測点１１の撮像素子５上の位置
を演算ユニット８に記憶させる。次に光学式マイクロメ
ータ４の平行平面ガラス（第１図）を―迷のように傾動
させて計測点を水平視準位・置（即ち十字線の交点）ま
で移動させる。即ち、マイクロメータの零目盛に合わせ
る。このときの水平規準位置までの計測点りの移動量に
対する撮影素子５上の計測点りの移動量を演算ユニット
９のデイスプレィ上で読みとる。これより計測点の水平
規準位置までの移動量と撮像素子ｓ上の計＃１点１１の
移動量の比ｋが求まる。この比ｋを演算ユニット９に入
力し、記憶させておく。かくして演算ユニット８は所定
時間毎に撮像素子５上の計ｉＨ点１１の像の位置からそ
の移動量を求め、その移動量に比ｋを乗じて計ｎ１点１
１の移動量すなわち大型構造物９の所定位置の変位を算
出する。

（発明の効果） 本発明は、上述の通りに構成されているから、計ｎｊ点
から離れた不動点から常時観測要員を必要としないで、
計測点の変位データを長時間に亘って集録することが可
能であり、また対物レンズから被測定物までの距離や合
焦レンズの位置に無関係に測定できるので測定作業が簡
単である。更に計測点が所定の長さ以上に移動しても、
装置の校正が容易にできる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の１実施例の光学系を示す図、第２図は
その１実施例の斜面図、第３図はその要部の分解側面図
、第４図、第５図及び第６図はいずれも従゛来の計測法
の説明図である。 １・・・自動レベル本体　　　　　２・・・対物レンズ
４・・・光学式マイクロメータ ５・・・演算ユニット ５・・・影像素子 ９・・・大型構造物 第１図 第４図 第５図 第６図 ７７

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 自動補正機構を内蔵した水準測量機の規準光学系に被測
   定物の計測点の位置を撮像するように撮像デバイスの撮
   像素子を配設するとともに、該水準測量機の対物レンズ
   の前方に光学式マイクロメータを配設し、該光学式マイ
   クロメータの平行平面ガラスを傾けて計測点を光学式マ
   イクロメータによって焦点板の十字線の交点まで移動し
   たときの光学式マイクロメータの移動量とこのときの前
   記撮像素子上に撮像される計測点の十字線の交点までの
   移動量との比と、前記撮像素子上の被測定物の計測点の
   変位による移動量とを乗算して被測定物の計測点の実際
   の変位を算出する演算手段を設けたことを特徴とする計
   測装置。