JPH03152601A - セルフチューニング調節計 - Google Patents

セルフチューニング調節計

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JPH03152601A
JPH03152601A JP29081189A JP29081189A JPH03152601A JP H03152601 A JPH03152601 A JP H03152601A JP 29081189 A JP29081189 A JP 29081189A JP 29081189 A JP29081189 A JP 29081189A JP H03152601 A JPH03152601 A JP H03152601A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、少なくとも比例(P)、積分(1,)演算パ
ラメータを最適な値に自動的に調整するセルフチューニ
ング調節計に関し、更に詳しくは、制御するプロセスの
動特性を推定するプロセス推定手段を内部に有し、プロ
セスの推定結果に基づいてP、I演算パラメータを決定
するようにしたセルフチューニング調節計に関するもの
である。
〈従来の技術〉 フィードバック制御に用いられるプロセス用調節計とし
て、PI演算パラメータを自動的にチューニングするよ
うにしたセルフチューニング調節計が実用化されている
これまで提案されているセルフチューニング調節計の主
だったものを挙げれば次の通りである。
(1)補助コントローラを主コントローラに対して並列
的に接続し、補助コントローラのゲインを上げ、振動を
起こさせ、その振幅1周波数からZiegler、 N
 1cho Isによる所望Z−N限界感度法に基づい
てPI演算パラメータを決定するもの(昭和45年計測
自動制御学会論文集Vo1.6  限界感度法を利用し
た適応制御系の研究、北森敏行)。
(2)オン、オフ発生器を使用してリミットサイクルを
発生させ、その振幅などから最適なPI演算パラメータ
を決定するようにしたもの(昭和48年計測自動制御学
会第12回学術#I演会予稿集P617〜624  P
ID自動自動形アダプティブ・コントローラ 須見、福
田)。
(3)制御量の挙動をIt11察するパターン認識手段
を設け、ここでプロセスに外乱を与えることなく、ラン
ダムに発生ずる外乱等の制御系の乱れを認識し、この認
識結果からPI演算パラメータを決定するようにしたも
の(tJsP^T No、4,602,326) 。
(4)プロセスモデルを用意し、実際のプロセスからの
信号とプロセスモデルからの信号との誤差信号が最小に
なるようにプロセスモデルのパラメータを変更し、PI
演算パラメータを決定するもの(I SA Trans
actions Vol、22.No、3 P、50,
51 。
U 5PAT No、4,385,362) 。
前記した従来技術において、(1)項及び(2)項のも
のは、いずれもプロセスを振動状態にしたり、PI演算
パラメータの決定に際して制御系に強制的に外乱(同定
信号)を与える必要があり、このためにプロセスへ少な
からぬ影響を与えるという問題点があった。
【3)項のものは、同定信号を使用するものでないため
に、プロセスに何等の影響も与えないという点で優れて
いるが、制御系の乱れによる応答パターンを長時間にわ
たって認識する必要があるために、最適なPI演算パラ
メータの決定に時間を要するという間組点がある。
(4)項のものは、これらの問題点がない点で優れてい
る。
第6図は、USP^T No、4,385,362に開
示されているプロセスコントロールシステムの構成ブロ
ック図である。
図において、■は制御対象(フロセス)、2はプロセス
1からのプロセス量P■と制御目標値S■との偏差信号
Eに少なくとも比例(P)、積分(1)演算を行い得ら
れた操作信号をプロセス1に出力するPI制御手段、3
はPI制御手段2からの信号が、バイパスフィルタ41
を介して印加される前記プロセスをモデル化し、そのパ
ラメータが変更可能に構成されたプロセスモデルである
5はバイパスフィルタ42を経たプロセス1からの信号
と、プロセスモデル3からの信号との差を演算する差演
算手段、6は差演算手段5からの信号が最小になるパラ
メータを探索し、その探索したパラメータをプロセスモ
デル3のパラメータとして設定するモデル・パラメータ
探索手段である。
PI制御手段2は、モデル・パラメータ探索手段6で探
索された結果に基づいて、そのPI演算パラメータが設
定される。
〈発明が解決しようとする問題点〉 この様な構成のプロセスコントロールシステムは、自動
制御状態でPI制御手段の操作信号やプロセス量が変動
したい状態では、PI演算パラメータが変更されない、
この場合、良好な制御状態において演算パラメータが変
更されないのであれば問題がないが、誤った制御状態の
下で演算パラメータが変更されないような場合、PI演
演算ラメータか変更されないことがかえって不具合を生
ずる。
また、プロセスモデルやモデル・パラメータ探索手段で
の演算は、常時性われるために全体での演算量が増大し
、マイクロプロセッサでこれらの各手段を実現する場合
において、その負担が重くなる不具合もある。
本発明は、これらの点に鑑みてなされたもので、その目
的は、自動調節状態において、操作量をステップ状に変
更し、プロセス量の応答を観測して演算パラメータを最
適な値に変更することを可能にしたセルフチューニング
調節計を実現することにある。また、本発明の他の目的
は、プロセス推定手段での演算量を少なくすることがで
きるセルフチューニング調節計を実現することにある。
く問題点を解決するための手段〉 前記した目的を達成する本発明は、 プロセスからのプロセス量と制御目標値との偏差信号に
少なくとも比例(P)、積分(1)演算を行い得られた
操作信号を前記プロセスに出力するP I $lJ御手
段と、 PI制御手段からの操作信号とプロセスからのプロセス
量を所定の時間収集するデータ収集手段と、 内部にプロセスをモデル化したプロセスモデルを含みデ
ータ収集手段から操作信号とプロセス量を入力しその応
答波形からプロセス動特性を推定するプロセス推定手段
と、 このプロセス推定手段での推定結果に基づいて前記PI
制御手段のPIパラメータを演算し、設定するPIパラ
メータ演算手段と、 前記PI制御手段による自動制御状態において外部から
の指令を受けPIfam手段の出力に所定幅のステップ
状信号を印加するステップ信号印加手段と5 Plff、IJt!it手段からの操作信号とプロセス
からのプロセス量を入力し、これらの信号のいずれかが
変化した時トリガ信号を出力するトリガ発生手段を設け
て構成される。
く作 用〉 ステップ信号発生手段は、外部からの指令を受けてプロ
セス量を変動させる。
トリガ発生手段は、プロセスからのグロセス値P■に関
連する信号の変動を監視しており、ステップ状信号の印
加によるプロセス量の変動をとらえトリ力信号を発生す
る。
プロセス推定手段およびPIパラメータ演算手段は、い
ずれもトリガ発生手段からのトリガ信号が印加されない
場合、計算を行わず、トリガ信号を受けデータ収集手段
で収集されたデータを用いてプロセスの動特性推定の動
作を行う。
〈実施例〉 以下図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。
第1図は、本発明の一実施例の構成ブロック図である0
図において、■はプロセス(制御対象)で、生産量の変
化、制御目標値の変更、外乱等によってその動特性が変
化するものとする。2はプロセス1からのプロセス量P
■と、制御目標値SVとの偏差信号DVに少なくとも比
例(P)、積分(1)演算を行い得られた操作信号MV
を前記プロセス1に出力するPI制御手段である。
3はデータ収集手段で、P I I制御手段2からの操
作信号MVとプロセス1からのプロセス量PVを所定の
時間収集する。
4はデータ収集手段3を経て操作信号MVとプロセス量
Pvを入力し、その応答波形からプロセス1の動特性を
推定するプロセス推定手段である。
このプロセス推定手段は、内部にプロセス1をモデル化
し、パラメータが変更可能に構成されたプロセスモデル
41と、プロセスからのプロセス量とプロセスモデルか
らの信号の差を求める比較部42と、比較部42からの
信号が最小になるバラメータを探索し、当該探索したパ
ラメータに基づいてプロセスモデル41のパラメータを
可変にするモデル・パラメータ探索手段43とを含んで
構成されている。
5はPIパラメータ演算手段で、プロセス推定手段4で
の推定結果に基づいて、PI制御手段2のPI演算パラ
メータを演算し、設定する。
6は21制御手段2からの操作信号MVとプロセス1か
らのプロセス量Pvを入力し、これらの信号のいずれか
が変化した時トリガ信号を出力するトリガ発生手段、3
1はデータ収集手段3で収集されたデータをモデル推定
手段4に印加するためのスイッチ手段である。
トリガ発生手V16からのトリガ信号は、スイッチ手段
31、モデル推定手段4及びPIパラメータ演算手段5
に印加され、データ収集手段3で収集されたデータをプ
ロセス推定手段4に印加し、プロセス推定手段4及びP
Iパラメータ演算手段5の動作を起動する。
7はPI制御手段2による自動制御状態において、例え
ば手動操作のような外部指令手段8からの指令を受け、
PI制御手段2の操作出力MVに所定幅のステップ状信
号を印加するステップ信号印加手段である。
PI制御手段2からの操作信号MVが印加される前記制
御対象1をモデル化し、そのパラメータが変更可能に構
成されたプロセスモデルである。
プロセス推定手段4において、プロセスモデル41は、
データ収集手段3から操作信号MVを入力し、モデル出
力MOを得るための演算を行う。
この演算は、プロセスモデルによって異なるが、n回目
のモデル演算出力をMOnとすれば、例えば(1)式の
演算式にしたがって行われる。
MOn=βm−MOn−1 +(1−βm) ・Km −MV (n−Lm)・・・
 (1) Km:プロセスモデルのゲイン Lm:プロセスモデルの無駄時間 βm:プロセスモデルの一次遅れ係数 MV (n−Lm): Lm時刻前のMVの値このよう
に構成した装置の動作を次に説明する。
第2図は、自動制御状態において、一定周期で起動され
るPI演算パラメータのチューニング動作を示すフロー
チャートである。
はじめに、ステ・y 7”信号発生の指令があるかどう
か判断しくステップ1)、指令がある場合、ステップ信
号発生手段7から所定幅のステップ状信号を、PI制御
手段2の操作信号MVに印加する(ステップ2)、指令
が無い場合、ステップ2はスキップする。
第3図は、操作信号MVにステップ状信号を印加した場
合の操作信号と、これに対応するプロセス量PVの変化
を示す波形図である。
プロセス量PVは、(a)に示すステップ状に変化する
操作信号を受け、(b)に示すようにその動特性に応じ
た応答を行う。
データ収集手段3は操作信号MVとプロセス量Pvとを
入力し、一定時間これらのデータを時系列データとして
保持する(ステップ3)。
トリガ発生手段6は、操作信号MVとプロセス量PVを
読み込み、同定周期毎にそれらの変動があらかじめ定め
た値より大きいかを監視する(ステップ5)。
変動があらかじめ定めた所定の値より小さい場合、制御
が良好であると判断して、トリガ信号を発生することな
く終了する。この様な判断は、第4図に示すように、操
作信号MV及びプロセス量PVの定常状態からの偏差を
所定の時間積分することにより、その面積(斜線部)を
演算し、その大きさにより判断するようにしている。こ
こで、ステップ状信号が印加された場合、操作信号MV
及びプロセス量PVの変動が大きくなり、トリガ信号T
RGを出力することになる。
このトリガ信号TRGを受けたプロセス推定子¥li4
は、データ収集手段3から送られる一定時間の操作信号
の変化及びプロセス1からのプロセス量pvの応答波形
を用いてプロセス1の動特性を推定する為の動作を行う
(ステップ6〜9)。
すなわち、ステップ3で収集された操作信号MVとプロ
セス量Pvの時系列データを読み込み、プロセスモデル
41はモデル出力MOの演算を、(1)式に従って行う
(ステップ6)、また、モデルパラメータ探索手段43
は、プロセスモデルからの出力M Oとデータ収集手段
3がらのプロセスlpvとの差が最小になるプロセスモ
デル41のパラメータを探索するための演算を行う(ス
テップ7)。
この演算は、例えば(2)式で示されるゲインKm、評
4fIJ関数CRI 1’を求める演算である。
KトΣ(NO(n)−PV(n))/Σ1HOfn))
C[T= 1−Σ(NO(n)11PV(n))2/Σ(NO(n
)”  *ΣPV[n)   )          
       −−−−(2)さらに、(2)式で示さ
れる評価関数cRITを最小とするモデルの時定数T 
m、モデル無駄時間1.mの組み合わせを捜し出す調整
動作を行う(ステップ9)。
プロセスモデル41からの出力MOがプロセス1からの
プロセス量P■に十分近付くまで(プロセスモデルの誤
差が所定の値より小さくなるまで)、プロセスモデル4
1のゲインKm、無駄時間Lm、−次遅れ係数βmをそ
れぞれ調整する動作を繰り返し、プロセスモデルの誤差
が小さくなった時点におけるプロセスモデル41のパラ
メータから、プロセス1の動特性を推定する。
第5図は、モデル推定4において、比較部42が入力す
る、プロセスモデル41がらの出力MOと、プロセス1
lPVの時系列データを示している。
モデルパラメータ探索手段43は、プロセスモデルの出
力MOが、プロセス量P■に近付くように、即ち、破線
で示す出力MOが、矢印A方向に移動して両者の差が小
さくなるように、プロセスモデル41のゲインKrn、
無駄時間Lm、−次遅れ係数βmをそれぞれ調整して行
く。
ステップ8において、モデル誤差が小さくなったと判断
されると、即ち、プロセスモデル41の出力MOが、プ
ロセス量P■とほぼ一致したと判断されると、PI演算
パラメータ演算手段5は、求められたプロセスモデル4
1のパラメータから、例えばZiegler−Nich
ols法により、比例(PB)、積分(’T”I)、微
分(TD)演算パラメータを、(3)式に従ってそれぞ
れ演算し、得られた演算パラメータをPI制御手段2に
設定する(ステップ10.11)。
(PB/にn)=a(Ln/Tn)2+b(Lm/Tm
)+cfTl/Tn)=d(In/TI)z   −c
(Ln/Tm)+fIO=0.2*TI ・・・ (3) PI制御手段2は、新たに設定された演算パラメータを
用いて、操作信号MVを演算する。
なお、プロセスモデル41は、必ずしも前記(1)式で
示される1次遅れ系でなくともよい。
また、プロセスモデル出力を得るための計算は、内部パ
ラメータであるところのゲインKm、無駄時間Lm、−
次遅れ係数βmの全てについてその値を少しずつ変化し
て繰り返して演算することになる。ここで、例えばゲイ
ンKmをプロセス量とプロセスゲインを「1」にしたと
きのプロセスモデルの出力の積算比からはじめに求め、
その後に無駄時間Lm、および一次遅れ係数βmを繰り
返し探索法を用いて求めるようにしてもよい。
無駄時間1.、 m 、および−次遅れ係数βmを求め
るための繰り返し探索方法としては、例えばシンブレッ
クス法を用いることができる。この方法は、例えば日科
技達から出版されている「非線形計画法」今野浩、山王
浩著の284頁〜287頁に記載されている。
なお、この様な演算は、トリガ発生手段6からトリガ信
号T RGが発せられたときだけ、行われるので、全体
として演算時間が多くかかることはない。
また、ステップ信号発生手段7は、プロセス(制御対象
)が不定位系(積分性プロセス)の場合には、ステップ
信号に代えてパルス信号を印加するものとする。
〈発明の効果〉 以上詳細に説明したように、本発明によれば、第6図に
示す従来公知の制御システムに比べて、以下に述べるよ
うな特長を有する。
(a)自動制御状態において、指令信号により操作信号
にスデップ状の信号を印加することで、必要に応して任
意にPI演算パラメータを最適な値に設定することがで
き、操作性を向上させることができる。
(b)プロセス推定手段でのプロセスモデル出力を得る
計算やパラメータを探索する計算は、トリガ発生手段か
らのトリガ信号に従って行うもので、全体としての計算
量を少なくすることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成ブロック図、第212
?lは一定周期で起動される制御動作を示すフローチャ
ート、第3図はステップ信号発生手段の動作を示す波形
図、第4図はトリガ発生手段の動作を示す波形図、第5
図はモデルパラメータ探索手段の動作を示す波形図、第
6図は従来装置の一例を示す構成ブロック図である。 4・・・プロセス推定手段 41・・・プロセスモデル 42・・・比較部43・・
・モデルパラメータ探索手段 5・・・PIパラメータ演算手段 6・・・トリガ発生手段 7・・・ステップ信号発生手段 8・・・指令手段 1・・・プロセス  2・・・PI制御手段3・・・デ
ータ収集手段 情シ 2 図 第 図 第 図 第 図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)プロセスからのプロセス量と制御目標値との偏差
    信号に少なくとも比例(P)、積分(I)演算を行い得
    られた操作信号を前記プロセスに出力するPI制御手段
    と、 PI制御手段からの操作信号とプロセスからのプロセス
    量を所定の時間収集するデータ収集手段と、 内部にプロセスをモデル化したプロセスモデルを含みデ
    ータ収集手段から操作信号とプロセス量を入力しその応
    答波形からプロセス動特性を推定するプロセス推定手段
    と、 このプロセス推定手段での推定結果に基づいて前記PI
    制御手段のPIパラメータを演算し、設定するPIパラ
    メータ演算手段と、 前記PI制御手段による自動制御状態において外部から
    の指令を受けPI制御手段の出力に所定幅のステップ状
    信号を印加するステップ信号印加手段と、 PI制御手段からの操作信号とプロセスからのプロセス
    量を入力し、これらの信号のいずれかが変化した時トリ
    ガ信号を出力するトリガ発生手段を設け、 データ収集手段は前記トリガ発生手段からのトリガ信号
    を受け収集したデータをプロセス推定手段に印加し、プ
    ロセス推定手段及びPIパラメータ演算手段は、前記ト
    リガ発生手段からのトリガ信号を受けて起動されること
    を特徴とするセルフチューニング調節計。
  2. (2)プロセス推定手段は、 PI制御手段からの信号が印加されパラメータが変更可
    能に構成されたプロセスモデルと、プロセスからのプロ
    セス量とプロセスモデルからの信号の差が最小になるパ
    ラメータを探索し、当該探索したパラメータに基づいて
    前記プロセスモデルのパラメータを可変にするモデル・
    パラメータ探索手段とを含み、 PIパラメータ演算手段はモデル・パラメータ探索手段
    で探索された結果に基づいて、PI制御手段のPIパラ
    メータを演算し、設定する請求項1記載のセルフチュー
    ニング調節計。
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