JPH03148657A - Alkaline developable photosetting type resin composition for solder mask - Google Patents

Alkaline developable photosetting type resin composition for solder mask

Info

Publication number
JPH03148657A
JPH03148657A JP28770989A JP28770989A JPH03148657A JP H03148657 A JPH03148657 A JP H03148657A JP 28770989 A JP28770989 A JP 28770989A JP 28770989 A JP28770989 A JP 28770989A JP H03148657 A JPH03148657 A JP H03148657A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
alkali
resin
solder mask
epoxy resin
resin composition
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP28770989A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yuji Koise
小伊勢 雄次
Kunihiko Iwasa
岩狹 国彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toa Paint Co Ltd
Original Assignee
Toa Paint Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toa Paint Co Ltd filed Critical Toa Paint Co Ltd
Priority to JP28770989A priority Critical patent/JPH03148657A/en
Publication of JPH03148657A publication Critical patent/JPH03148657A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Epoxy Resins (AREA)

Abstract

PURPOSE:To improve the storage stability, alkali developability and definition of the compsn. by incorporating a specific alkali-soluble resin into the compsn. CONSTITUTION:This compsn. is formed by incorporating the alkali-soluble epoxy resin (A) having a carboxyl group and/or hydroxyl group into the compsn. The resin A is produced by a method of adding an acid anhydride (e.g.: maleic anhydride) to a desired epoxy resin and half-esterifying the same. A photodecomposition type cation polymn. initiator is preferably incorporated in addition to the resin A into the compsn. Further, an alkali-insoluble resin (e.g.: epoxy resin) is preferably incorporated into the compsn.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

∪産業上の利用分野] 本発明はインキとしての安定性にすぐれ、電気的特性は
もとより解像性、耐久性などのきわめて良好な1波型の
ソルダーマスク用アルカリ現像性光硬化型樹脂組成物に
関する。 [従来の技術] 従来からプリント配線板の製造においては、配線板の用
途に応じて種々のソルダーマスク用樹脂組成物が使用さ
れてきている。 たとえば、民生用配線板では、アクリレート系樹脂を主
成分とした紫外線硬化型樹脂組成物やエポキシ・メラミ
ン樹脂を主成分とした熱硬化型樹脂組成物が主流であり
、これをスクリーン印刷法によって塗布し、パターン形
成することによりソルダーマスクを形成している。一方
、産業用配線板では、エポキシ樹脂とイミダゾ−ルやア
ミン系硬化剤とを組合わせた熱硬化型樹脂組成物が使用
されるばあいが多く、これをスクリーン印刷法によって
塗布し、パターン形成することによりソルダーマスクを
形成している。 しかし、これらの樹脂組成物からのソルダーマスクは、
スクリーン印刷法により形成されてい−るため解像性に
限界があり、プリント配線板の高密度化、表面実装化に
対応するファインパターンに追随できなくなってきてい
る。 また、一部の産業用配線板ではフィルムをラミネートし
、写真法によりパターン形成したソルダーマスクが・使
用されている。しかし、このようなソルダーマスクは写
真法でパターン形成を行なうので解像性はすぐれている
ものの、銅箔エブチング部の凹凸に対する追随性がわる
いため、微細なパターンでは密着不良やハンダ付は不良
がおこりやすくなる。 これらの欠点を改善したものとしては、解像性と銅箔エ
ッチング部への追随性のすぐれた写真現像可能な塗布型
ソルダーマスク用樹脂組成物がある。これは液状フォト
レジストと称され、高密度配線分野で使用されるように
なってきている。該液状フォトレジストのうちでも、と
(に設備コストと解像性の点から非接触露光型よりも・
接触露光型、コストと安全性の面から溶剤現像型よりも
アルカリ現像型のものの使用が増加してきている。 該液状フォトレジストは、エポキシ樹脂にラジカル重合
可能な不飽和基を導入して変性した樹脂に、紫外線増感
剤とエポキシ基を架橋させるためのイミダゾールなどと
を加えて液状としたものをバインダーとしたものである
。液状フォトレジストは、基板面に塗布後、パターンを
画いたフィルムを通して紫外線を照射して2重結合をラ
ジカル重合させ、架橋させたのち、非照射部分を溶解除
去することによりパターンを形成するもので、スクリー
ン印刷法に比べてすぐれた解像性を示す。
∪Industrial Application Fields] The present invention provides an alkali-developable photocurable resin composition for a single-wave solder mask that has excellent stability as an ink and has extremely good electrical properties as well as resolution and durability. Regarding. [Prior Art] In the production of printed wiring boards, various resin compositions for solder masks have been used depending on the purpose of the wiring board. For example, in consumer wiring boards, ultraviolet curable resin compositions mainly composed of acrylate resins and thermosetting resin compositions mainly composed of epoxy/melamine resins are mainstream, and these are applied by screen printing. Then, a solder mask is formed by patterning. On the other hand, industrial wiring boards often use thermosetting resin compositions that combine epoxy resin with imidazole or amine-based curing agents, and this is applied by screen printing to form patterns. By doing so, a solder mask is formed. However, solder masks made from these resin compositions are
Since it is formed by a screen printing method, there is a limit to its resolution, and it is no longer possible to keep up with the fine patterns required for higher density printed wiring boards and surface mounting. In addition, some industrial wiring boards use solder masks made by laminating films and forming patterns using a photographic method. However, although this kind of solder mask has excellent resolution because the pattern is formed using a photographic method, it has poor ability to follow the unevenness of the copper foil etching area, so fine patterns may cause poor adhesion or poor soldering. It becomes easier to get angry. As a solution to these drawbacks, there is a photo-developable resin composition for coated solder masks that has excellent resolution and followability to etched areas of copper foil. This is called a liquid photoresist, and it has come to be used in the field of high-density wiring. Among these liquid photoresists, the non-contact exposure type is preferred in terms of equipment cost and resolution.
The use of contact exposure type and alkali development type is increasing rather than solvent development type from the viewpoint of cost and safety. The liquid photoresist is made by adding an ultraviolet sensitizer and imidazole to crosslink the epoxy groups to a modified epoxy resin by introducing an unsaturated group capable of radical polymerization, and making the resin into a liquid state. This is what I did. Liquid photoresists are applied to the substrate surface, then irradiated with ultraviolet rays through a patterned film to radically polymerize and crosslink the double bonds, and then the non-irradiated areas are dissolved and removed to form a pattern. , which exhibits superior resolution compared to screen printing methods.

【発明が解決しようとする課1i1 しかし、接触露光・アルカリ現像型の液状フォトレジス
トにも、 エポキシ基とイミダゾールなどとの室温での反応速度が
大きく、既調合しておくことが難かしいため、市販品は
すべて2波型である、2液混合後の粘度は一旦低下して
から上昇するので、塗布作業時の粘度管理が煩雑である
、塗布後の溶剤揮発温度・時間の適正範囲がせまく、乾
燥不良によるフィルムへの粘着、過乾燥による現像不良
を防ぐために、乾燥条件をきびしく管理しなければなら
ない などの問題があり、この点を改善するために反応速度の
遅い硬化剤を使用すると当然のことながら後硬化に高温
長時間が必要となるなどの間層が生じる。 さらに、二重結合をラジカル重合させて硬化させると、
その際の体積収縮により塗膜中に大きな歪が残留するた
め、基板に対する付着性などはまだ満足できるものでは
ない。 【課題を解決するための手段] 本発明者らは前記課題を解決するため、電気的特性や耐
熱性などにすぐれ、電気絶縁材料として多用されている
エポキシ樹脂に着目して鋭意研究を重ねた結果、エポキ
シ樹脂にカルボキシル基を導入し、さらに従来の液状フ
ォトレジストとは異なる反応機構、すなわちエポキシ基
のカチオン重合により架橋・硬化させることにより、貯
蔵安定性、加エニ程での熱履歴に対する安定性などの従
来の液状フォトレジストが有する問題をことごとく解決
しうるソルダーマスク用樹脂組成物を提供しうろことを
見出し、本発明を完成するに至った。 すなわち、、本発明は、カルボキシル基またはカルボキ
シル基とヒドロキシル基とを有するアルカリ可溶型エポ
キシ樹脂を含有してなるソルダーマスク用アルカリ現像
性光硬化型樹脂組成物に関する。 1実施例】 本発明にはアルカリ可溶型エポキシ樹脂が用いられるが
、該アルカリ可溶型とは、アルカリ金属水酸化物、アル
カリ金属炭酸塩などの無機アルカリや有機アミン類の水
溶液に室温または加温状態で溶解するもののことをいう
。 該アルカリ可溶型エポキシ樹脂はカルボキシル基を有し
ているが、その酸価は40〜140、さらには50〜1
10であるのが好ましい。酸価が40未満ではアルカリ
に対する溶解性が小さくなる傾向があり、140をこえ
ると硬化塗膜の耐水性、耐アルカリ性が低下する。 また、該アルカリ可溶型エポキシ樹脂中には溶解性を向
上させるためにカルボキシル基とともにヒドロキシル基
が存在していてもよく、そのばあいも酸価は50−11
0の範囲が好ましい。 前記アルカリ可溶型エポキシ樹脂の製法、すなわちエポ
キシ樹脂をアルカリ可溶性にするために、エポキシ樹脂
にカルボキシル基を導入する方法にはとくに限定はなく
、たとえば(イ)エポキシ樹脂に酸無水物を付加させ、
酸無水物を開環させて半エステル化する (口)アクリル酸のエポキシ樹脂へのグラフト重合 (ハ)多官能エポキシ樹脂のエポキシ基に、多塩基酸を
付加させる などの方法があげられる。 前記(イ)のエポキシ樹脂に酸無水物を付加させる方法
では、エポキシ樹脂に酸無水物を加えて加熱するだけで
容易に反応させることができ、エポキシ樹脂にカルボキ
シル基を導入することができる。 前記エポキシ樹脂にはとくに限定はなく、その具体例と
しては、たとえばビスフェノールA型、ビスフェノール
F型、臭素化ビスフェノールA型、水添ビスフェノール
A型などの分子中にヒドロキシル基を有するエポキシ樹
脂があげられる。 前記酸無水物にもとくに限定はなく、その具体例として
は、たとえば無水マレイン酸、無水コハク酸、無水イタ
コン酸、無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、無
水メチルナディック酸、無水クロレンディック酸、無水
ヘット酸などがあげられる。 ヒドロキシル基を含有するエポキシ樹脂と酸無水物との
割合は、アルカリに対する溶解性、反応速度、未反応物
を少なくすることなどの点からヒドロキシル基1モルに
対して酸無水物0.2〜0.9モル、さらには0.3〜
0.8モルが好ましい。開環速度は酸無水物の種類やヒ
ドロキシル基と酸無水物とのモル比によっても異なるが
、通常80〜180℃に加熱すると30分〜2時間で反
応は完了する。また開環反応は発熱反応であるので、反
応速度をコントロールするために、エポキシ基との反応
性がなく、開環反応、エステル化反応、エステル交換反
応に関与しない有機溶剤の中で加熱するとよい。このよ
うな有機溶剤としては、たとえば芳香族炭化水素、脂環
式炭化水素、ケトン類が好ましく、アルコール類、エス
テル類は好ましくない。 前記(ハ)の多官能エポキシ樹脂に多塩基酸を付加させ
る方法では、反応は酸無水物の開°環付加のばあいと同
様に80〜180℃で加熱することにより反応させるこ
とができ、エポキシ樹脂にカルボキシル基を導入するこ
とができる。 前記多官能エポキシ樹脂にはとくに限定はなく、その具
体例としては、たとえばクレゾールツボラフク型、フェ
ノールノボラック型、ポリブタジエンエボキサイドなど
のエポキシ樹脂があげられる。 また、多塩基酸にもとくに限定はなく、その具体例とし
ては、たとえばコハク酸、マレイン酸、イタコン酸、シ
ュウ酸、オルソフタル酸、イソフタル酸、テレフタル酸
などがあげられる。 これらのなかでも反応速度のコントロール、付加生成樹
脂の安定性などの点からは、多塩基酸のカルボキシル基
間の立体障害の大きいもの、たとえばオルソフタル酸の
ようなものが好ましい。 アルカリ可溶型エポキシ樹脂は、1種を用いてもよく、
2種以上併用してもよい。 アルカリ可溶型エポキシ樹脂は、本発明の組成物中の樹
脂固型分中、通常40%(重量%、以下同様)以上、さ
らには50%以上になるように使川される。該割合が4
0%未満ではアルカリ溶解性が低くなる傾向がある。 本発明のソルダーマスク用樹脂組成物には、綬化反応速
度、硬化してえられる樹脂の軟化温度、架橋密度などを
改善するためにアルカリ可溶型エポキシ樹脂の他に、ア
ルカリ非可溶型樹脂を配合し、バインダーとすることが
できる。 なお、アルカリ非可溶型樹脂の配合によってソルダーマ
スクのアルカリ現像性が低下することが予想されるが、
アルカリ可溶型エポキシ樹脂の酸価、親木基の含有量、
軟化温度などを選択することによってニアルカリ現像性
が実質的に阻害されないようにすることができる。 アルカリ非可溶型樹脂の具体例としては、たとえばアル
カリ非可溶性のあらゆるSt類のエポキシ樹脂のほかに
、ポリエステルポリオール、ポリエーテルポリオール、
脂環式ポリオール、ポリブタジエンポリオールなどのポ
リオール類、トリメチロールプロパンアクリレート、ペ
ンタエリドリフトアクリレートなどのアクリレート類や
ビニルエーテル類などがあげられる。これらのなかでは
エポキシ樹脂やカチオン重合時にエポキシ樹脂とともに
反応するポリオール類が、反応速度、架橋密度などの点
からとくに好ましい。 また、アルカリ非可溶型樹脂の配合割合にもとくに限定
はなく、要求される物性によって任意に選ぶことができ
るが、通常樹脂固型分中5D%以下である。 本発明のソルダーマスク用樹脂組成物には、光分解型カ
チオン重合開始剤が配合される。本発明の組成物はエポ
キシ基のカチオン重合により硬化するのて、従来のラジ
カル重合によるばあ・いにくらべて硬化反応による収縮
率が小さく、塗膜中に残留する歪が小さくなり、付着性
のよいソルダーマスクが形成される。 該開始剤にはとくに限定はなく、その具体例としては、
たとえばPFs  、SbFs (ell)eのスルθ フォニウム塩、ヨードニウム塩などがあげられる。 光分解型カチオン重合開始剤の配合割合は、樹脂固形分
に対し1〜8%が好ましく、さらには2〜7%が好まし
い。該割合が8%をこえると塗膜表面の硬化が急速にす
すむために内部硬化がおくれたり、解像性が低下するな
どの傾向があり、1%未満では硬化速度が低下したり、
硬化が不充分となる傾向がある。 さらに、本発明のソルダーマスク用樹脂組成物には、着
色用の顔料、塗布時の作業性のコントロール、硬化膜の
物性改善のための体質顔料が配合されていてもよい。 着色用の顔料としては、有機顔料、無機顔料のいずれも
用いることができるが、耐薬品性、耐熱性にすぐれ、透
明性の高いものが好ましい。 該着色川顔料の具体例としては、たとえばフタロシアニ
ングリーン、フタロシアニンブルー、キナクリドンレフ
トなどの有JllB料のほか、透明酸化鉄などの無機顔
料があげられる。 着色用顔料の配合割合は、通常固形分中の0.2〜2.
5%であり、0.5〜1.5%がさらに好ましい。該割
合が0.2%未満では着色力が不足しソルダーマスク塗
布時の識別がむずかしくなる傾向があり、2.5%をこ
えると紫外線の透過が阻害され塗膜内部の硬化が不充分
になる傾向がある。 前記体質顔料の具体例としては、たとえば耐薬品性があ
り、粒径が◎、1〜20.程度の硫酸バリウム、タルク
、シリ力、カオリンクレーなどがあげられる。 体質顔料の配合割合は、通常固形分中70%以下であり
、さらに10〜■%が好ましい。該割合が70%をこえ
ると紫外線透過率が低下する傾向がある。 本発明のソルダーマスク用樹脂組成物には、さらに粘性
制御剤、表面調整剤、消泡剤などを本発明の目的を損な
わない範囲内で適宜配合してもよい。 本発明のソルダーマスク用樹脂組成物の調製方法にはと
くに限定はなく、たとえば前記アルカリ可溶型エポキシ
樹脂の下記めごとき溶剤の溶液、光分解型カチオン重合
開始剤、さらにはアルカリ非可溶型樹脂、顔料などを添
加して、ロールミルなど通常の方法で分散させて調製す
ることができる。 前記溶剤としては、たとえばケトン類、エステル類、ア
ルコール類、グリコールエーテル類、芳香族炭化水素類
などが用いられる。溶剤の使用量は、組成物の粘度、固
形分量などにより適宜調節すればよいが、通常、本発明
の組成物中、10〜50%である。 このようにして調製された本発明の組成物は、可使用時
間が20℃でδ〜lh月と長く、貯蔵安定性にすぐれた
ものである。 つぎに本発明の樹脂組成物を用いてソルダーマスクを形
成する方法の一例について説明する。 まず、本発明の組成物を常法により基板上に塗布したの
ち、乾燥させ、厚さ15〜40.程度の塗膜を形成する
。該乾燥条件はとくにきびしく管理する必要はなく、た
とえば熱風循環炉中、70〜100℃、20〜60分間
のごとき条件でよい。 前記基板にと(に限定はなく、たとえばガラスエポキシ
基板、紙フェノール基板、セラミック基板、ポリイミド
基板など、いずれの基板においても本発明によってえら
れるソルダーマスクはすぐれた密着性を示す。 つぎにネガフィルムを密着させたのち、250〜400
nmの紫外線を照射する。なお、本発明の組成物の乾燥
塗膜は、軟化温度が50”C程度以上と高いので、この
際ネガフィルムに粘着することがない。 つぎに1%炭酸ソーダ水溶液、1%ジメチルエタノール
アミン水溶液、これらのアルカリ水溶液にグリコールエ
ーテルなどを0.5〜3.0%加えたものなどを現像液
とし、20〜50℃で1〜3分間浸漬などすることによ
り、未露光部を容品に除去することができ、鮮明なパタ
ーンをうろことができる。 ツキニ水洗シタノち、100−150c テ10〜40
分間の後硬化を行なうことにより、基板への付着性、電
気的特性、物理的特性、化学的特性にすぐれ、その性能
を長期にわたって保持しうるソルダーマスクをうろこと
ができる。 つぎに本発明を実施例に基づいてさらに詳細に説明する
が、本発明はかかる実施例に限定されるものではない。 実施例1 撹拌機および還流器を備えた反応器中に、エポトートY
DB−500(東部化成■製のエポキシ樹脂)284g
、シクロヘキサノン100gおよびキシレン100gを
入れ、加熱溶解して均一な溶液としたところへ、無水マ
レイン酸(試薬1級)36gを添加し、150− IG
Ocで40分間加熱した。冷却したのちセロソルブアセ
テート100gを添加して固形分50%溶液とした。樹
脂酸価は85.1であった。 ついで前記樹脂液100g、硫酸バリウム粉(平均粒径
1副、以下同様) 30g 、タルク(平均粒径5a+
)5gおよびフタロシアニングリーン0.5gをロール
ミルで分散させたのち、光分解型カチオン重合開始剤と
してアデカオブトマーSP−150(旭電化工業■製)
2gを添加してソルダーマスク用樹脂組成物を調製した
。 えられた組成物を用いて下記の各評価試験を行なった。 結果を第1表に示す。 (貯蔵安定性) えられた組成物を40Cの恒温器中に保存し、粘度が保
存前の2倍に上昇するまでの期間で評価する。 (アルカリ現像性) えられた組成物を乾燥膜厚が15.となるように塗布し
、80℃で30分間乾燥したのち、ネガフィルムを密着
して80W/cIlの高圧水銀灯により500sJの紫
外線を照射する。つぎにネガフィルムを取り去り50”
Cの1%炭酸ソーダ水溶液に2分間浸漬したのち40〜
50℃の温水で洗浄して現像し、非露光部の溶出状態を
観察する。露光部の溶出がみられず、未露光部が溶出す
るばあいを良好とする。 (解像性) アルカリ現像後に露光部パターンの溶出の有無およびネ
ガフィルムパターン(露光部の幅150.、非露光部の
幅600aa)と比較したばあいの精度を観察する。非
溶解部分(露光部)の幅が200.をこえないばあいを
良好とする。 (付着性) ガラスエポキシ基板の銅箔を清浄にした面にえられた組
成物を膜厚が15.となるように塗布り、110℃で3
0分間乾燥したのち、IIOW /備の高圧水銀灯によ
りt、ooo■」の紫外線を照射する。つぎに120℃
で30分間加熱して硬化させる。このようにしてえられ
た試験片を用いてJIS K 5400塗料一般試験法
6.15基盤口試験に準じて付着性を調べ、はがれない
で残った口の数/ 100で評価する。 (硬 度) 付着性評価に用いるものと同様にして作製した試験片を
用いてJIS K 5400の6.14鉛筆引っかき試
験に準拠して評価する。 (耐酸性) 付着性評価に用いるものと同様にして作製した試験片を
10%硫酸に20℃で2時間浸漬したのち、フクレ、剥
離、亀裂、変色、軟化などの異状がないかどうか観察す
る。 (耐アルカリ性) 付着性評価に用いるものと同様にして作製した試験片を
5%力性ソーダ水溶液に20℃で2時間浸漬したのち、
フクレ、剥離、亀裂、変色、軟化などの異状がないかど
うか観察する。 (耐トリクロロエチレン性) 付着性評価に用いるものと同様にして作製した試験片を
トリクロロエチレンに20℃で2時間浸漬したのち、フ
クレ、剥離、亀裂、変色、軟化などの異状がないかどう
か観察する。 (ハンダ耐熱性) 付着性評価に用いるものと同様にして作製した試験片を
280℃に加熱したハンダ槽に!5秒浸漬したのち観察
し、フクレ、剥離、亀裂、変色、軟化のないばあいを合
格とする。 (絶縁抵抗) IPCSN−140Test coupon Bのパタ
ーンで測定する(IPCは、ザ インスティテュート 
フォア インターコネクティング アンド パッケージ
ング エレクトロニフク サーキッ′ソ (The  
Instltute  for  Interconn
ectingand Packaglng Elect
ronic Clreults)の制定規格)。 (耐湿試験後の絶縁抵抗■) IPC8M−840轟のクラス3のサイクル試験を行な
って評価する。 (耐湿試験後の絶縁抵抗■) IPC3M−1140轟のクラス2にしたがって評価す
る。 (破壊電圧) IPC3M−840Aにしたがって評価する。 (耐熱衝撃性) IPC5M−840Aにしたがって評価する。 (誘電率) JIS Z 6911にしたがって評価す慕。 (誘電正接) JIS Z 3197にしたがって評価する。 実施例2 撹拌機および還流器を備えた反応器にエポトートVDC
M−702(東部化成■製のエポキシ樹脂)225に、
メチルエチルケトンlongおよびトルエン100gを
入れ、加熱溶解後オルソフタル酸(試薬1級)45gを
添加して■〜85℃で6時間加熱した。冷却したのちシ
クロヘキサノン80gおよびイソプロピルアルコール2
0gを添加して固形分50%の溶液とした。樹脂酸価は
47.2であった。 ついで前記樹脂液40gと実施例1の樹脂液■gとの混
合物に、硫酸バリウム粉30g 、タルク5gおよびフ
タロシアニングリーン0.5gをロールミルで分散させ
たのち、光分解型カチオン重合開始剤としてアデカオブ
トマ−SP−140(旭電化工業■製)  1.2gを
添加してソルダーマスク用樹脂組成物を調製した。 えられた組成物を用いて、実施例1と同様にして各評価
試験を行なった。結果を第1表に示す。 実施例3 撹拌機および還流器を備えた反応器に、エピコートto
ot (シェル化学■製のエポキシ樹N)262.5g
 、シクロヘキサノン100gおよびキシレン!00g
を入れ、加熱溶解したのち、無水コハク酸(試薬1級)
3L5gを添加して155〜180”Cで90分間加熱
した。冷却したのちシクロヘキサノン80gおよびイソ
プロピルアルコール2[1gを添加して固形分50%の
溶液とした。樹脂酸価は66.4であった。 ついでこの樹脂液70gにエボトートYDCN 704
(東部化成■製)15gおよびシクロヘキサノン15g
を添加して溶解したものに、シリカ粉25g(平均粒径
5#II+)、タルク5gおよびフタロシアニングリー
ン0.5gをロールミルで分散させたのち、光分解型カ
チオン重合開始剤としてアデカオブトマーsp−tso
の2gを添加してソルダーマスク用樹脂組成物を巽製し
た。 えられた組成物を用いて、実施例1と同様にして各評価
試験を行なった。結果を第1表に示す。 実施例4 撹拌機および還流器を備えた反応器に、アラルダイト6
084 (チバガイギー社製のエポキシ樹脂) 252
gおよびシクロへキサノン200gを入れ、加熱溶解し
たのち、無水イタコン酸(試薬1級)48gを添加し、
155〜160℃で40分間加熱した。 冷却したのちシクロへキサノン80gおよびメタノール
20gを添加して固形分50%の溶液とした。 樹脂酸価は87.2であった。 ついでこの樹脂液65gにエポトー) VDCI−70
4を13g 、エビコー)1127(シェル化学製エポ
キシ樹脂)  4.5gおよびシフaへキサノンIT−
5gを添加して均一な溶液としたものに、シリカ粉25
g1タルクlOgおよびフタロシアニングリーン0.5
gをロールミルで分散させたのち、光分解型カチオン重
合開始剤としてアデヵオプトマ−SP−170(旭電化
工業■製)  1.2gを添加してソルダーマスク用樹
脂組成物をgWした。 えられた組成物を用いて、実施例1と同様にして各評価
試験を行なった。結果を第1表に示す。 実施例5 実施例4の樹脂液65g、エボトートYDCN−704
の10g 、デスモフエン800(住友バイエルウレタ
ン■製のポリエステル樹脂)  7.5gおよび酢酸ブ
チル17.5gを混合して均一な溶液としたものに、硫
酸バリウム粉log 、平均粒径10.catのカオリ
ンクレー15g 、平均粒径5jImのマイカ粉5gを
ロールミルで分散させ、そこへ光分解型カチオン重合開
始剤としてアデカオブトマ−SP−150を2g添加し
てソルダーマスク用樹脂組成物を調製した。 えられた組成物を用いて、実施例1と同様にして各評価
試験を行なった。結果を第1表に示す。 実施例5 実施例2の樹脂液30g、実施例4の樹脂”液40g1
エピコート1001を 10gおよびトリメチロールプ
ロパンアクリレート5gを混合して均一な溶液としたも
のにシリカ粉25g1タルク粉lOgおよびフタロシア
ニンブルー0.5gをロールミルで分散させ、光分解型
カチオン重合開始剤としてアデカオプトマ−SP−17
0を1.5gを添加してソルダーマスク用樹脂組成物を
調製した。 えられた組成物を用いて、実施例1と同様にして各評価
試験を行なった。結果を第1表に示す。 比較例1 エビコー) foolを 30g、エポトートVDCM
−704を20g、シクロヘキサノン25g1キシレン
lO区を混合して均一な溶液としたものに、硫酸バリウ
ム粉30g1タルク粉5gおよびフタロシアニンブルー
0.5gをロールミルで分散させたのち、光分解型カチ
オン重合開始剤としてアデカオプトマーSP−1502
,0gを添加してソルダーマスク用樹脂組成物を調製し
た。 えられた組成物を用いて、実施例1と同様にして各評価
試験を行なった。結果を第1表に示す。
[Issues to be solved by the invention 1i1 However, even in contact exposure/alkaline development type liquid photoresists, the reaction rate between epoxy groups and imidazole etc. at room temperature is high and it is difficult to prepare them in advance. All commercially available products are of the two-wave type.The viscosity after mixing the two liquids decreases and then increases, making viscosity control during coating work complicated.The appropriate range of solvent volatilization temperature and time after coating is narrow. There are problems such as sticking to the film due to poor drying and poor development due to overdrying, which requires strict control of drying conditions, and to improve this point, it is natural to use a curing agent with a slow reaction rate. However, post-curing requires high temperatures and long periods of time, resulting in an interlayer. Furthermore, when double bonds are radically polymerized and hardened,
Because large distortions remain in the coating film due to the volumetric shrinkage at that time, the adhesion to the substrate is still not satisfactory. [Means for Solving the Problems] In order to solve the above problems, the present inventors have conducted intensive research focusing on epoxy resin, which has excellent electrical properties and heat resistance, and is widely used as an electrical insulating material. As a result, by introducing a carboxyl group into the epoxy resin and crosslinking and curing it using a reaction mechanism different from that of conventional liquid photoresists, that is, cationic polymerization of the epoxy group, it has improved storage stability and stability against thermal history during the annealing process. The present inventors have discovered that it is possible to provide a resin composition for a solder mask that can solve all of the problems of conventional liquid photoresists, such as properties, and have completed the present invention. That is, the present invention relates to an alkali-developable photocurable resin composition for a solder mask containing an alkali-soluble epoxy resin having a carboxyl group or a carboxyl group and a hydroxyl group. 1 Example] An alkali-soluble epoxy resin is used in the present invention. A substance that dissolves when heated. The alkali-soluble epoxy resin has a carboxyl group, but its acid value is 40 to 140, more preferably 50 to 1.
Preferably it is 10. If the acid value is less than 40, the solubility in alkali tends to decrease, and if it exceeds 140, the water resistance and alkali resistance of the cured coating film will decrease. In addition, in the alkali-soluble epoxy resin, a hydroxyl group may be present together with a carboxyl group in order to improve solubility, and in that case, the acid value is 50-11.
A range of 0 is preferred. The method for producing the alkali-soluble epoxy resin, that is, the method for introducing carboxyl groups into the epoxy resin in order to make the epoxy resin soluble in alkali, is not particularly limited. For example, (a) adding an acid anhydride to the epoxy resin. ,
Methods include (1) graft polymerization of acrylic acid to an epoxy resin, (3) adding a polybasic acid to the epoxy group of a polyfunctional epoxy resin, and the like by ring-opening an acid anhydride to half-esterify it. In the method (a) of adding an acid anhydride to an epoxy resin, the reaction can be easily carried out by simply adding the acid anhydride to the epoxy resin and heating, and a carboxyl group can be introduced into the epoxy resin. The epoxy resin is not particularly limited, and specific examples thereof include epoxy resins having a hydroxyl group in the molecule, such as bisphenol A type, bisphenol F type, brominated bisphenol A type, and hydrogenated bisphenol A type. . The acid anhydride is not particularly limited, and specific examples thereof include maleic anhydride, succinic anhydride, itaconic anhydride, phthalic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, methylnadic anhydride, and chlorendic anhydride. , het acid anhydride, etc. The ratio of the epoxy resin containing a hydroxyl group to the acid anhydride is 0.2 to 0 per mole of the hydroxyl group from the viewpoint of solubility in alkali, reaction rate, and reduction of unreacted substances. .9 mol, even 0.3~
0.8 mol is preferred. Although the ring-opening rate varies depending on the type of acid anhydride and the molar ratio of hydroxyl group to acid anhydride, the reaction is usually completed in 30 minutes to 2 hours when heated to 80 to 180°C. In addition, since the ring-opening reaction is an exothermic reaction, in order to control the reaction rate, it is recommended to heat it in an organic solvent that has no reactivity with epoxy groups and does not participate in the ring-opening reaction, esterification reaction, or transesterification reaction. . As such organic solvents, aromatic hydrocarbons, alicyclic hydrocarbons, and ketones are preferable, and alcohols and esters are not preferable. In the method (c) of adding a polybasic acid to a polyfunctional epoxy resin, the reaction can be carried out by heating at 80 to 180 ° C. in the same manner as in the case of ring-opening addition of acid anhydrides. Carboxyl groups can be introduced into epoxy resins. The polyfunctional epoxy resin is not particularly limited, and specific examples thereof include epoxy resins such as cresol tuborafuku type, phenol novolac type, and polybutadiene epoxide. Further, the polybasic acid is not particularly limited, and specific examples thereof include succinic acid, maleic acid, itaconic acid, oxalic acid, orthophthalic acid, isophthalic acid, and terephthalic acid. Among these, polybasic acids with large steric hindrance between carboxyl groups, such as orthophthalic acid, are preferred from the viewpoint of controlling the reaction rate and stability of the addition-produced resin. One type of alkali-soluble epoxy resin may be used,
Two or more types may be used in combination. The alkali-soluble epoxy resin is used in an amount of usually 40% (wt%) or more, preferably 50% or more of the resin solid content in the composition of the present invention. The ratio is 4
If it is less than 0%, the alkali solubility tends to be low. In addition to an alkali-soluble epoxy resin, the resin composition for a solder mask of the present invention includes an alkali-insoluble epoxy resin in order to improve the ribboning reaction rate, the softening temperature of the cured resin, the crosslinking density, etc. A resin can be blended to form a binder. Furthermore, it is expected that the alkali developability of the solder mask will decrease due to the addition of the alkali-insoluble resin.
Acid value of alkali-soluble epoxy resin, parent wood group content,
By selecting the softening temperature, etc., it is possible to prevent the near-alkali developability from being substantially inhibited. Specific examples of alkali-insoluble resins include all alkali-insoluble St epoxy resins, as well as polyester polyols, polyether polyols,
Examples include polyols such as alicyclic polyols and polybutadiene polyols, acrylates such as trimethylolpropane acrylate and pentaerydrift acrylate, and vinyl ethers. Among these, epoxy resins and polyols that react together with the epoxy resin during cationic polymerization are particularly preferred from the viewpoint of reaction rate, crosslinking density, and the like. Further, the blending ratio of the alkali-insoluble resin is not particularly limited and can be arbitrarily selected depending on the required physical properties, but is usually 5D% or less in the resin solid content. A photodegradable cationic polymerization initiator is blended into the resin composition for a solder mask of the present invention. Since the composition of the present invention is cured by cationic polymerization of epoxy groups, the shrinkage rate due to the curing reaction is smaller than that caused by conventional radical polymerization, and the strain remaining in the coating film is small, resulting in improved adhesion. A good solder mask is formed. The initiator is not particularly limited, and specific examples include:
Examples include PFs, sulfonium salts of SbFs(ell)e, and iodonium salts. The blending ratio of the photodegradable cationic polymerization initiator is preferably 1 to 8%, more preferably 2 to 7%, based on the resin solid content. When the ratio exceeds 8%, the curing of the coating film surface progresses rapidly, which tends to delay internal curing and reduce resolution, while when it is less than 1%, the curing speed decreases,
Curing tends to be insufficient. Furthermore, the resin composition for a solder mask of the present invention may contain a pigment for coloring, an extender pigment for controlling workability during application, and improving the physical properties of a cured film. As the pigment for coloring, both organic pigments and inorganic pigments can be used, but those having excellent chemical resistance, heat resistance, and high transparency are preferred. Specific examples of the colored pigments include organic pigments such as phthalocyanine green, phthalocyanine blue, and quinacridone left, as well as inorganic pigments such as transparent iron oxide. The blending ratio of the coloring pigment is usually 0.2 to 2.0% of the solid content.
5%, more preferably 0.5 to 1.5%. If the proportion is less than 0.2%, the coloring power is insufficient and it tends to be difficult to identify when applying the solder mask, and if it exceeds 2.5%, the transmission of ultraviolet rays is inhibited and the inside of the coating film is not sufficiently cured. Tend. Specific examples of the extender pigment include those having chemical resistance and a particle size of ◎, 1 to 20. Examples include barium sulfate, talc, silica, and kaolin clay. The blending ratio of the extender pigment is usually 70% or less based on the solid content, and preferably 10 to 1%. When the ratio exceeds 70%, the ultraviolet transmittance tends to decrease. The resin composition for a solder mask of the present invention may further contain a viscosity control agent, a surface conditioner, an antifoaming agent, etc. as appropriate within a range that does not impair the object of the present invention. The method for preparing the resin composition for a solder mask of the present invention is not particularly limited, and includes, for example, a solution of the alkali-soluble epoxy resin in the following solvent, a photodegradable cationic polymerization initiator, and an alkali-insoluble type. It can be prepared by adding a resin, pigment, etc. and dispersing it by a normal method such as a roll mill. Examples of the solvent used include ketones, esters, alcohols, glycol ethers, and aromatic hydrocarbons. The amount of the solvent to be used may be appropriately adjusted depending on the viscosity, solid content, etc. of the composition, but is usually 10 to 50% in the composition of the present invention. The composition of the present invention prepared in this way has a long pot life of δ to lh months at 20° C. and has excellent storage stability. Next, an example of a method for forming a solder mask using the resin composition of the present invention will be explained. First, the composition of the present invention is applied onto a substrate by a conventional method, and then dried to a thickness of 15 to 40 mm. Forms a coating film of some degree. The drying conditions do not need to be particularly strictly controlled, and may be, for example, in a hot air circulation oven at 70 to 100°C for 20 to 60 minutes. The solder mask obtained by the present invention exhibits excellent adhesion to any substrate, including but not limited to, glass epoxy substrates, paper phenol substrates, ceramic substrates, polyimide substrates, etc. Next, a negative film is applied. 250~400 after applying
Irradiate with nanometer ultraviolet light. The dried coating film of the composition of the present invention has a high softening temperature of about 50"C or more, so it does not stick to the negative film. Next, a 1% aqueous solution of sodium carbonate and a 1% aqueous dimethylethanolamine solution were prepared. The unexposed areas are removed from the container by immersing it for 1 to 3 minutes at 20 to 50°C using a developing solution such as one in which 0.5 to 3.0% of glycol ether or the like is added to these alkaline aqueous solutions. You can move around in a clear pattern.
By post-curing for a few minutes, a solder mask with excellent adhesion to the substrate, electrical properties, physical properties, and chemical properties, and which can maintain its performance for a long period of time, can be obtained. Next, the present invention will be explained in more detail based on examples, but the present invention is not limited to these examples. Example 1 In a reactor equipped with a stirrer and a reflux device, Epotote Y
DB-500 (epoxy resin manufactured by Tobu Kasei ■) 284g
, 100 g of cyclohexanone and 100 g of xylene were added, heated and dissolved to form a homogeneous solution, and 36 g of maleic anhydride (1st grade reagent) was added to 150-IG.
Heated for 40 minutes at Oc. After cooling, 100 g of cellosolve acetate was added to obtain a solution with a solid content of 50%. The resin acid value was 85.1. Next, 100 g of the resin liquid, 30 g of barium sulfate powder (average particle size 1 sub, the same applies hereinafter), talc (average particle size 5a +
) and 0.5 g of phthalocyanine green were dispersed in a roll mill, and then Adeka Buttomer SP-150 (manufactured by Asahi Denka Kogyo ■) was added as a photodegradable cationic polymerization initiator.
2 g was added to prepare a resin composition for a solder mask. The following evaluation tests were conducted using the obtained composition. The results are shown in Table 1. (Storage Stability) The obtained composition is stored in a thermostat at 40C, and evaluated for the period until the viscosity increases to twice that before storage. (Alkali developability) The resulting composition has a dry film thickness of 15. After drying at 80° C. for 30 minutes, a negative film was adhered and 500 sJ of ultraviolet rays was irradiated using a high-pressure mercury lamp of 80 W/cIl. Next, remove the negative film and
After 2 minutes of immersion in 1% sodium carbonate aqueous solution of C.
Wash with warm water at 50°C, develop, and observe the state of elution in the non-exposed areas. A case where no elution is observed in the exposed area and elution is observed in the unexposed area is considered good. (Resolution) After alkali development, the presence or absence of elution of the pattern in the exposed area and the accuracy when compared with a negative film pattern (width of the exposed area: 150 mm, width of the non-exposed area: 600 aa) are observed. The width of the undissolved part (exposed part) is 200. It is considered good if it does not exceed. (Adhesion) The composition obtained on the cleaned surface of the copper foil of the glass epoxy substrate was coated to a film thickness of 15. 3 at 110℃.
After drying for 0 minutes, ultraviolet rays of t,ooo■'' are irradiated using a high-pressure mercury lamp manufactured by IIOW. Next 120℃
Heat for 30 minutes to harden. Using the test piece thus obtained, the adhesion is examined according to JIS K 5400 Paint General Test Method 6.15 Substrate Mouth Test, and evaluated as the number of spots remaining without peeling/100. (Hardness) Evaluation is performed in accordance with JIS K 5400 6.14 pencil scratch test using test pieces prepared in the same manner as those used for adhesion evaluation. (Acid resistance) A test piece prepared in the same manner as that used for adhesion evaluation is immersed in 10% sulfuric acid at 20°C for 2 hours, and then observed for abnormalities such as blistering, peeling, cracking, discoloration, and softening. . (Alkali resistance) A test piece prepared in the same manner as that used for adhesion evaluation was immersed in a 5% aqueous sodium hydroxide solution at 20°C for 2 hours.
Observe for any abnormalities such as blistering, peeling, cracking, discoloration, or softening. (Trichlorethylene resistance) A test piece prepared in the same manner as that used for adhesion evaluation is immersed in trichlorethylene at 20°C for 2 hours, and then observed for abnormalities such as blistering, peeling, cracking, discoloration, and softening. (Solder heat resistance) A test piece prepared in the same manner as that used for adhesion evaluation was placed in a solder bath heated to 280°C! After dipping for 5 seconds, observe the sample and pass if there is no blistering, peeling, cracking, discoloration, or softening. (Insulation resistance) Measure with the pattern of IPCSN-140Test coupon B (IPC is The Institute
Fore Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (The
Instrument for Interconn
ectingand Packaglng Elect
ronic Clreults). (Insulation resistance after moisture test (■)) Evaluated by conducting IPC8M-840 Todoroki class 3 cycle test. (Insulation resistance after moisture test (■)) Evaluated according to IPC3M-1140 Todoroki Class 2. (Breakdown voltage) Evaluated according to IPC3M-840A. (Thermal shock resistance) Evaluated according to IPC5M-840A. (Permittivity) Evaluated according to JIS Z 6911. (Dielectric loss tangent) Evaluated according to JIS Z 3197. Example 2 Epototo VDC in a reactor equipped with a stirrer and a refluxer
M-702 (epoxy resin manufactured by Tobu Kasei ■) 225,
Methyl ethyl ketone (long) and 100 g of toluene were put therein, and after heating and dissolving, 45 g of orthophthalic acid (1st grade reagent) was added and heated at ~85°C for 6 hours. After cooling, add 80 g of cyclohexanone and 2 g of isopropyl alcohol.
0 g was added to make a solution with a solid content of 50%. The resin acid value was 47.2. Next, 30 g of barium sulfate powder, 5 g of talc, and 0.5 g of phthalocyanine green were dispersed in a mixture of 40 g of the resin liquid and 1 g of the resin liquid of Example 1 using a roll mill. A resin composition for a solder mask was prepared by adding 1.2 g of SP-140 (manufactured by Asahi Denka Kogyo ■). Each evaluation test was conducted in the same manner as in Example 1 using the obtained composition. The results are shown in Table 1. Example 3 Epicoat to
ot (epoxy tree N manufactured by Shell Kagaku ■) 262.5g
, 100g of cyclohexanone and xylene! 00g
After heating and dissolving, add succinic anhydride (1st grade reagent).
After cooling, 80 g of cyclohexanone and 2 [1 g of isopropyl alcohol] were added to make a solution with a solid content of 50%. The resin acid value was 66.4. Next, add Evototo YDCN 704 to 70g of this resin liquid.
(manufactured by Tobu Kasei ■) 15g and cyclohexanone 15g
After adding and dissolving 25 g of silica powder (average particle size 5 #II+), 5 g of talc, and 0.5 g of phthalocyanine green using a roll mill, Adeka Butomer sp-tso was added as a photodegradable cationic polymerization initiator.
A resin composition for a solder mask was prepared by adding 2 g of the following. Each evaluation test was conducted in the same manner as in Example 1 using the obtained composition. The results are shown in Table 1. Example 4 Araldite 6 was added to a reactor equipped with a stirrer and a reflux device.
084 (Epoxy resin manufactured by Ciba Geigy) 252
g and 200 g of cyclohexanone were added, heated and dissolved, and then 48 g of itaconic anhydride (1st grade reagent) was added.
Heated at 155-160°C for 40 minutes. After cooling, 80 g of cyclohexanone and 20 g of methanol were added to make a solution with a solid content of 50%. The resin acid value was 87.2. Next, add Epote to 65g of this resin liquid) VDCI-70
13g of 4, 4.5g of Ebiko) 1127 (epoxy resin manufactured by Shell Chemical Co., Ltd.) and Schiff a hexanone IT-
Add 5g of silica powder to make a homogeneous solution, add 25g of silica powder
g1 Talc lOg and Phthalocyanine Green 0.5
g was dispersed in a roll mill, and then 1.2 g of Adeka Optomer SP-170 (manufactured by Asahi Denka Kogyo ■) was added as a photodegradable cationic polymerization initiator to prepare a solder mask resin composition. Each evaluation test was conducted in the same manner as in Example 1 using the obtained composition. The results are shown in Table 1. Example 5 65 g of resin liquid of Example 4, Evototo YDCN-704
To a homogeneous solution obtained by mixing 10 g of Desmofene 800 (polyester resin manufactured by Sumitomo Bayer Urethane ■) and 17.5 g of butyl acetate, was added 10 g of barium sulfate powder with an average particle size of 10.5 g. A resin composition for a solder mask was prepared by dispersing 15 g of kaolin clay (Cat) and 5 g of mica powder with an average particle size of 5jIm using a roll mill, and adding thereto 2 g of ADEKA BUTOMER SP-150 as a photodegradable cationic polymerization initiator. Each evaluation test was conducted in the same manner as in Example 1 using the obtained composition. The results are shown in Table 1. Example 5 30 g of resin liquid of Example 2, 40 g of resin liquid of Example 4
10 g of Epicoat 1001 and 5 g of trimethylolpropane acrylate were mixed to make a homogeneous solution, and 25 g of silica powder, 10 g of talcum powder, and 0.5 g of phthalocyanine blue were dispersed using a roll mill, and Adeka Optoma-SP was added as a photodegradable cationic polymerization initiator. -17
A resin composition for a solder mask was prepared by adding 1.5 g of 0. Each evaluation test was conducted in the same manner as in Example 1 using the obtained composition. The results are shown in Table 1. Comparative Example 1 30g of Ebiko) fool, Epotote VDCM
20g of -704, 25g of cyclohexanone, 10g of xylene were mixed to make a homogeneous solution, and 30g of barium sulfate powder, 5g of talcum powder, and 0.5g of phthalocyanine blue were dispersed in a roll mill, and then the photodegradable cationic polymerization initiator As Adeka Optomer SP-1502
, 0g was added to prepare a resin composition for a solder mask. Each evaluation test was conducted in the same manner as in Example 1 using the obtained composition. The results are shown in Table 1.

【発明の効果】【Effect of the invention】

本発明のアルカリ現像型のソルダーマスク用樹脂組成物
は、カルボキシル基を導入したエポキシ樹脂を含有する
ので、アルカリ現像性にすぐれている。また、熱安定性
にすぐれており、貯蔵中の粘度上昇が少ないので塗布時
の管理が容易である。また、露光時の温度上昇や現像ま
での放置による未露光部の硬化反応が進行しに((、現
像残りの不良が生じに(い。 さらに本発明のソルダーマスク用樹脂組成物は、エポキ
シ基のカチオン重合により架橋せしめられるため、ラジ
カル重合型に比べて硬化時の収縮が小さく基材への付着
性がきわめてすぐ鶏でおり、100.am以下の細いパ
ターンでも充分な付着性を有している。またエポキシ樹
脂が有する電気的特性、耐熱性、耐薬品性などの特長を
充分保持していることはいうまでもない。
The alkali-developable solder mask resin composition of the present invention contains an epoxy resin into which a carboxyl group has been introduced, and therefore has excellent alkali-developability. In addition, it has excellent thermal stability and little increase in viscosity during storage, making it easy to control during application. In addition, the curing reaction in unexposed areas may progress due to temperature rise during exposure or left unused until development ((), and defects due to undeveloped areas may occur). Because it is crosslinked by cationic polymerization, it shrinks less during curing than radical polymerization types, and it adheres to substrates very quickly, and has sufficient adhesion even with thin patterns of 100 am or less. Needless to say, it fully retains the characteristics of epoxy resins, such as electrical properties, heat resistance, and chemical resistance.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 カルボキシル基またはカルボキシル基とヒドロキシ
ル基とを有するアルカリ可溶型エポキシ樹脂を含有して
なるソルダーマスク用アルカリ現像性光硬化型樹脂組成
物。 2 請求項1記載のアルカリ可溶型エポキシ樹脂の1種
または2種以上と、光分解型カチオン重合開始剤とを含
有してなるソルダーマスク用アルカリ現像性光硬化型樹
脂組成物。 3 請求項1記載のアルカリ可溶型エポキシ樹脂の1種
または2種以上と、アルカリ非可溶型樹脂と、光分解型
カチオン重合開始剤とを含有してなるソルダーマスク用
アルカリ現像性光硬化型樹脂組成物。 4 顔料を含有する請求項2または3記載の樹脂組成物
[Scope of Claims] 1. An alkali-developable photocurable resin composition for a solder mask comprising an alkali-soluble epoxy resin having a carboxyl group or a carboxyl group and a hydroxyl group. 2. An alkali-developable photocurable resin composition for a solder mask, comprising one or more of the alkali-soluble epoxy resins according to claim 1 and a photodegradable cationic polymerization initiator. 3. An alkaline-developable photocurable solder mask comprising one or more of the alkali-soluble epoxy resins according to claim 1, an alkali-insoluble resin, and a photodegradable cationic polymerization initiator. mold resin composition. 4. The resin composition according to claim 2 or 3, containing a pigment.
JP28770989A 1989-11-04 1989-11-04 Alkaline developable photosetting type resin composition for solder mask Pending JPH03148657A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28770989A JPH03148657A (en) 1989-11-04 1989-11-04 Alkaline developable photosetting type resin composition for solder mask

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28770989A JPH03148657A (en) 1989-11-04 1989-11-04 Alkaline developable photosetting type resin composition for solder mask

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH03148657A true JPH03148657A (en) 1991-06-25

Family

ID=17720727

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28770989A Pending JPH03148657A (en) 1989-11-04 1989-11-04 Alkaline developable photosetting type resin composition for solder mask

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH03148657A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05188593A (en) * 1991-07-15 1993-07-30 Internatl Business Mach Corp <Ibm> Inproved composition for photoimaging
US5712022A (en) * 1992-09-14 1998-01-27 Yoshino Kogyosho Co., Ltd. Printed thermoplastic resin products and method for printing such products

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05188593A (en) * 1991-07-15 1993-07-30 Internatl Business Mach Corp <Ibm> Inproved composition for photoimaging
US5712022A (en) * 1992-09-14 1998-01-27 Yoshino Kogyosho Co., Ltd. Printed thermoplastic resin products and method for printing such products

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI565589B (en) Preparation method for dry film solder resist and film laminate used therein
TWI584070B (en) Photosensitive resin composition, photosensitive film, permanent mask resist and method for manufacturing permanent mask resist
JP5501672B2 (en) Photosensitive polyimide, photosensitive polyimide ink composition, and insulating film
JPS61243869A (en) Resist ink composition
JP6359814B2 (en) Photosensitive resin composition, dry film, cured product, and printed wiring board
JP3391896B2 (en) Heat resistant photosensitive resin composition
JP2008015285A (en) Photosensitive thermosetting resin composition
JP3750101B2 (en) Photosensitive resin composition and printed wiring board
TW201809864A (en) Photosensitive resin composition dry film and method for producing printed wiring board
JPH09235356A (en) Epoxy resin composition and solder-resistant photoink, and printed circuit board and its production
JP2002145999A (en) Photopolymerizable unsaturated resin and photosensitive resin composition containing the resin
TW200843587A (en) Methods of forming printed circuit boards having optical functionality
CN104246613A (en) Method of processing a photosensitive structure
JP3672414B2 (en) Photosensitive resin composition
JP2000227665A (en) Pattern forming method
JPH1165116A (en) Radiation sensitive resin composition
JP2003076009A (en) Photosensitive thermosetting resin composition
JP2019168613A (en) Photosensitive resin composition
JPH1160683A (en) Radiation-sensitive resin composition and cured film
JP2004138752A (en) Photosensitive resin composition and printed wiring board
JPH08301990A (en) Resin composition, resist ink composition, and cured product thereof
JPH03148657A (en) Alkaline developable photosetting type resin composition for solder mask
JP4325238B2 (en) Photosensitive film for permanent resist, method for forming resist pattern, and printed wiring board
JPH08272095A (en) Composition for soldering photoresist ink
JP7298079B2 (en) Curable resin composition, dry film, cured product and electronic parts