JPH1160683A - Radiation-sensitive resin composition and cured film - Google Patents

Radiation-sensitive resin composition and cured film

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JPH1160683A
JPH1160683A JP24333597A JP24333597A JPH1160683A JP H1160683 A JPH1160683 A JP H1160683A JP 24333597 A JP24333597 A JP 24333597A JP 24333597 A JP24333597 A JP 24333597A JP H1160683 A JPH1160683 A JP H1160683A
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insulating layer
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epoxy
group
particulate rubber
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淳 塩田
Masako Suzuki
雅子 鈴木
Kazuaki Niwa
一明 丹羽
Hozumi Sato
穂積 佐藤
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a compsn. which can form an insulating layer having such a resolution as to enable the formation of photoviaholes with small-diameters at a high accuracy, capable of being developed with an aq. alkali soln., and excellent in adhesiveness and resistance to a plating liquid by incorporating an alkali-soluble resin, an epoxy compd. and a compd. having an oxetanyl or thiiranyl group in the molecule into the same. SOLUTION: This compsn. contains an alkali-soluble resin pref. a combination of polyvinylphenol with another phenol resin [e.g. poly(p-vinylphenol) and a cresol novolak resin]), an epoxy compd. [pref. an epoxy-modified particulate rubber (e.g. a compd. obtd. by reacting a particulate rubber obtd. from butadiene, methyl methacrylate. methacrylic acid and divinylbenzene with an epoxy compd.)], and a compd. having oxetanyl or thiiranyl group in the molecule e.g. 1,4-bis[(3-ethyl-3-oxetanylmethoxy)methyl]benzene).

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、感放射線性樹脂組
成物に関し、特に、積重して配置される2つの導体配線
の間に介在させる絶縁層を形成するための絶縁層形成材
料として好適な感放射線性樹脂組成物に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a radiation-sensitive resin composition, and more particularly to a radiation-sensitive resin composition suitable as an insulating layer forming material for forming an insulating layer interposed between two conductor wirings arranged in a stack. And a radiation-sensitive resin composition.

【0002】[0002]

【従来の技術】最近、プリント配線板の高密度化が要請
され、複数の導体配線層が絶縁層を介して積重された多
層配線板の需要が高まっている。この多層配線板を製造
する方法として、導体配線が基材上に形成されてなる配
線板の複数を、例えば、プリプレグと呼ばれる熱硬化性
樹脂含浸シートを介して積重し、その状態でプレス成形
することにより多層の積層構造とし、この多層積層体
に、当該積層体の全体を貫通するスルーホールと呼ばれ
る貫通孔をドリルなどによって形成し、このスルーホー
ルの内壁面にめっき処理を施して、積重配置された2つ
の導体配線を導通させるめっき層を形成することにより
製造する方法(以下、積層プレス方式ともいう。)が知
られている。しかし、この積層プレス方式では、配線パ
ターンの微細化が進むに従って、複数の配線板の位置合
わせが困難なこと、配線板の基材の収縮により配線の位
置ずれが発生すること、微細なパターンに応じたスルー
ホールの小径化が困難なこと及び製造工程が煩雑になる
ことなどの問題がある。
2. Description of the Related Art Recently, there is a demand for higher density printed wiring boards, and a demand for a multilayer wiring board in which a plurality of conductive wiring layers are stacked via an insulating layer is increasing. As a method of manufacturing this multilayer wiring board, a plurality of wiring boards each having conductor wiring formed on a base material are stacked, for example, via a thermosetting resin-impregnated sheet called a prepreg, and press-formed in that state. By doing so, a through-hole called a through-hole penetrating the whole of the laminated body is formed by a drill or the like on the multilayer laminated body, and the inner wall surface of the through-hole is subjected to a plating process, and 2. Description of the Related Art There is known a method of manufacturing by forming a plating layer for conducting two superposed conductive wires (hereinafter, also referred to as a lamination press method). However, in this lamination press method, it is difficult to align a plurality of wiring boards as the wiring pattern becomes finer, and a wiring misalignment occurs due to shrinkage of the base material of the wiring board. There are problems that it is difficult to reduce the diameter of the corresponding through hole and the manufacturing process becomes complicated.

【0003】一方、導体配線が形成された配線板上に絶
縁層を形成し、この絶縁層上に前記導体配線と導通する
別の導体配線を形成する工程を繰り返すことにより、目
的とする多層配線板を製造する方法(以下、積み上げ方
式ともいう。)が提案されている。この積み上げ方式に
より多層配線板を製造する場合に、絶縁層を介して積重
された2つの導体配線を導通させるためには、積層プレ
ス方式の場合と同様にスルーホールを形成してめっき処
理を施す手法のほか、一部の絶縁層のみを貫通するビア
ホールとも呼ばれる孔をドリルによって形成し、この孔
内にめっき処理を施す手法がある。また、絶縁層におけ
るスルーホールまたはビアホールの形成方法として、エ
キシマレーザを利用する方法、加工用レジストを用いて
所定のパターンを形成し、絶縁層を適宜の溶剤によりエ
ッチングする方法などが知られている。しかしながら、
これらの方法は、複数の孔を同時に形成することができ
なかったり、多くの工程が必要となるなど生産性の点か
ら好ましい方法ではなく、加工精度の点からも満足し得
る方法ではない。
On the other hand, an insulating layer is formed on a wiring board on which a conductive wiring is formed, and another conductive wiring conductive to the conductive wiring is formed on the insulating layer. A method of manufacturing a plate (hereinafter, also referred to as a stacking method) has been proposed. When a multilayer wiring board is manufactured by this stacking method, in order to conduct the two conductor wirings stacked through the insulating layer, a through hole is formed and plating is performed in the same manner as in the case of the lamination press method. In addition to the application method, there is a method in which a hole called a via hole penetrating only a part of the insulating layer is formed by a drill, and plating is performed in the hole. As a method for forming a through hole or a via hole in an insulating layer, a method using an excimer laser, a method of forming a predetermined pattern using a processing resist, and etching the insulating layer with an appropriate solvent are known. . However,
These methods are not preferable methods from the viewpoint of productivity because a plurality of holes cannot be formed at the same time or require many steps, and are not satisfactory methods from the viewpoint of processing accuracy.

【0004】かかる不都合を克服する手段として、導体
配線層の間に介在させる絶縁層を形成する材料として感
光性樹脂組成物を用い、フォトリソグラフィーによって
当該絶縁層に貫通孔を形成する方法が提案されている。
この方法によれば、複数の貫通孔を同時に形成すること
ができるので多層配線板の製造において高い生産効率が
得られ、しかも、従来の方法に比べて高い精度で貫通孔
を形成することができるので、微細な配線パターンを有
する多層配線板を製造する上で有利である。
As a means for overcoming such inconvenience, a method has been proposed in which a photosensitive resin composition is used as a material for forming an insulating layer interposed between conductive wiring layers, and a through hole is formed in the insulating layer by photolithography. ing.
According to this method, a plurality of through-holes can be formed at the same time, so that high production efficiency can be obtained in the production of a multilayer wiring board, and moreover, the through-holes can be formed with higher precision than the conventional method. This is advantageous in manufacturing a multilayer wiring board having a fine wiring pattern.

【0005】このような多層配線板に関して、感光性樹
脂組成物よりなる絶縁層に形成され、後にめっき処理が
施されて電気的な接続を達成するためのフォトビアホー
ルと呼ばれる貫通孔を形成させる多層配線板を積み上げ
方式により製造する方法が提案されている(特開平4−
148590号公報参照)。また、このような絶縁層を
形成するための感光性樹脂組成物として、感光性エポキ
シ樹脂を用いた応用例も提案されている(特開平5−2
73753号公報参照)。
[0005] With respect to such a multilayer wiring board, a multilayer is formed on an insulating layer made of a photosensitive resin composition, and is then subjected to a plating treatment to form a through hole called a photo via hole for achieving electrical connection. A method of manufacturing a wiring board by a stacking method has been proposed (Japanese Unexamined Patent Publication No.
148590). Further, as a photosensitive resin composition for forming such an insulating layer, an application example using a photosensitive epoxy resin has been proposed (Japanese Patent Laid-Open No. 5-2 / 1993).
73753).

【0006】このように、絶縁層の形成に感光性樹脂組
成物を用い、積み上げ方式により多層配線板を製造する
方法によれば、プレス処理を行うことなく多層の積層構
造を得ることができると共に、フォトリソグラフィーに
より十分に小径のフォトビアホールを高い精度で形成す
ることができるため、微細な配線パターンを有する多層
配線板を好適に製造することができる。
As described above, according to the method of manufacturing a multilayer wiring board by a stacking method using a photosensitive resin composition for forming an insulating layer, a multilayer laminated structure can be obtained without performing a press treatment. Since a photo via hole having a sufficiently small diameter can be formed with high precision by photolithography, a multilayer wiring board having a fine wiring pattern can be suitably manufactured.

【0007】しかして、積み上げ方式により多層配線板
を製造する場合の絶縁層の形成に用いられる感光性樹脂
組成物には、以下のような性能が要求される。 (1)得られる絶縁層が優れた解像性を有しているこ
と。これにより、微細なパターンに応じた小径のフォト
ビアホールを高い精度で形成することができる。 (2)得られる絶縁層が、導体配線の形成に使用される
物質、例えば無電解銅めっき液に対して十分に高い耐性
(耐めっき液性)を有すること。 (3)得られる絶縁層は、その表面に、例えば無電解銅
めっき処理により十分な密着性で導体配線を形成し得る
ものであること。ここに、銅めっきによる導体配線の密
着性を向上させるためには、当該絶縁層の表面が粗面化
されることが有効であり、粗面化された表面を有する絶
縁層は、そのアンカー効果により、導体配線の絶縁層に
対する密着性が大きなものとなる。 (4)フォトビアホールを形成するための現像液として
アルカリ水溶液の使用が可能であること。アルカリ水溶
液を現像液として使用できれば、人体や環境に与える悪
影響を抑制することができる。 (5)得られる絶縁層は、十分な電気的絶縁性を有する
ものであって高い信頼性が得られ、かつ高い耐熱性を有
すること。これにより、小型軽量化が進められている電
子機器の製造に有利に適用することが可能となる。
However, the photosensitive resin composition used for forming the insulating layer when a multilayer wiring board is manufactured by the stacking method is required to have the following performance. (1) The obtained insulating layer has excellent resolution. Thus, a small-diameter photo via hole corresponding to a fine pattern can be formed with high accuracy. (2) The obtained insulating layer has sufficiently high resistance (plating solution resistance) to a substance used for forming the conductor wiring, for example, an electroless copper plating solution. (3) The obtained insulating layer should be capable of forming conductive wiring on its surface with sufficient adhesion by, for example, electroless copper plating. Here, in order to improve the adhesion of the conductor wiring by copper plating, it is effective that the surface of the insulating layer is roughened, and the insulating layer having the roughened surface has an anchor effect. Thereby, the adhesion of the conductor wiring to the insulating layer becomes large. (4) An alkaline aqueous solution can be used as a developer for forming photo via holes. If an alkaline aqueous solution can be used as a developer, adverse effects on the human body and the environment can be suppressed. (5) The obtained insulating layer has a sufficient electrical insulating property, has high reliability, and has high heat resistance. Thus, the present invention can be advantageously applied to the manufacture of electronic devices that are being reduced in size and weight.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、例え
ば小径のフォトビアホールを高い精度で形成することが
できる優れた解像性を有し、アルカリ水溶液により現像
することができ、耐めっき液性および耐熱性が高く、し
かも導体配線が優れた密着性で形成される絶縁層を形成
することのできる感放射線性樹脂組成物を提供すること
にある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide, for example, an excellent resolution which can form a small-diameter photo via hole with high precision, which can be developed with an alkaline aqueous solution, An object of the present invention is to provide a radiation-sensitive resin composition having high heat resistance and heat resistance and capable of forming an insulating layer in which conductive wiring is formed with excellent adhesion.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明は、下記のA成分〜C成分を含有する感放
射線性樹脂組成物を提供する。 〔A成分〕アルカリ可溶性樹脂 〔B成分〕エポキシ化合物 〔C成分〕分子内にオキセタニル基及びチイラニル基か
らなる群から選ばれる基を有する化合物 本発明において、感放射線とは、放射線に感応して硬化
し得る性質をいう。放射線には、可視光線、紫外線、遠
紫外線、X線、電子線などを包含する。
In order to achieve the above object, the present invention provides a radiation-sensitive resin composition containing the following components A to C. [Component A] alkali-soluble resin [Component B] epoxy compound [Component C] a compound having a group selected from the group consisting of an oxetanyl group and a thiiranyl group in the molecule. In the present invention, radiation-sensitive is curing in response to radiation. The property that can be performed. Radiation includes visible light, ultraviolet light, far ultraviolet light, X-rays, and electron beams.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下、本発明の感放射線性樹脂組
成物について詳細に説明する。 〔A成分〕このA成分のアルカリ可溶性樹脂として代表
的なものとしては、例えば、ゲルパーミエイションクロ
マトクラフィー(GPC)で測定したポリスチレン換算
の重量平均分子量が200以上、好ましくは2,000
以上であるポリビニルフェノール、および同様のポリス
チレン換算の重量平均分子量が200以上、好ましくは
2000以上であるポリビニルフェノール以外のフェノ
ール樹脂(以下、特定のフェノール樹脂という。)を挙
げることができる。A成分として用いられるポリビニル
フェノールとしては、ビニルフェノール単量体を常法に
より重合させて得られるもの、あるいはフェノール性水
酸基を保護基により保護した状態で重合した後、当該保
護基を除去することによって得られるものなど、各種の
製法により得られるものを挙げることができる。また、
ビニルフェノール単量体に各種の置換基が導入された単
量体、例えばビニルクレゾール、2,4−ジメチルビニ
ルフェノール、フッ素化ビニルフェノール、クロル化ビ
ニルフェノール、臭素化ビニルフェノールなどから得ら
れる各種の置換ポリビニルフェノールも使用することが
できる。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, the radiation-sensitive resin composition of the present invention will be described in detail. [Component A] Typical examples of the alkali-soluble resin of the component A include polystyrene-equivalent weight average molecular weight of 200 or more, preferably 2,000, as measured by gel permeation chromatography (GPC).
Phenol resins other than polyvinylphenol having the above-mentioned weight and the same polystyrene-equivalent weight average molecular weight of 200 or more, preferably 2,000 or more (hereinafter referred to as a specific phenol resin) can be mentioned. The polyvinyl phenol used as the component A is obtained by polymerizing a vinyl phenol monomer by a conventional method, or by polymerizing a phenolic hydroxyl group in a state protected by a protecting group, and then removing the protecting group. Examples include those obtained by various production methods such as those obtained. Also,
Various monomers obtained by introducing various substituents into vinyl phenol monomers, for example, various types obtained from vinyl cresol, 2,4-dimethyl vinyl phenol, fluorinated vinyl phenol, chlorinated vinyl phenol, brominated vinyl phenol, etc. Substituted polyvinyl phenols can also be used.

【0011】このポリビニルフェノールの分子量は特に
制限されるものではないが、得られる絶縁層における解
像性、現像性、耐めっき液性などの観点から、重量平均
分子量が2000以上、特に2000〜20000の範
囲のものが好ましい。A成分として用いられる特定のフ
ェノール樹脂の代表例としては、ノボラック樹脂を挙げ
ることができる。
Although the molecular weight of the polyvinyl phenol is not particularly limited, the weight average molecular weight is 2,000 or more, particularly 2,000 to 20,000, from the viewpoints of resolution, developability, plating solution resistance and the like in the obtained insulating layer. Are preferred. A typical example of the specific phenol resin used as the component A is a novolak resin.

【0012】ノボラック樹脂は、例えばフェノール化合
物とアルデヒド化合物とを、好ましくはフェノール化合
物1モルに対してアルデヒド化合物0.7〜1モルの割
合で酸触媒を用いて付加縮合させることにより得られ
る。ここに、フェノール化合物の具体例としては、フェ
ノール、o−クレゾール、m−クレゾール、p−クレゾ
ール、o−エチルフェノール、m−エチルフェノール、
p−エチルフェノール、o−ブチルフェノール、m−ブ
チルフェノール、p−ブチルフェノール、2,3−キシ
レノール、2,4−キシレノール、2,5−キシレノー
ル、2,6−キシレノール、3,4−キシレノール、
3,5−キシレノール、3,6−キシレノール、2,
3,5−トリメチルフェノール、3,4,5−トリメチ
ルフェノール、p−フェニルフェノール、レゾルシノー
ル、ヒドロキノン、ヒドロキノンモノメチルエーテル、
ピロガロール、フロログリシノール、ヒドロキシジフェ
ニル、ビスフェノールA、没食子酸、没食子酸エステ
ル、α−ナフトール、β−ナフトールなどを挙げること
ができる。
The novolak resin is obtained, for example, by subjecting a phenol compound and an aldehyde compound to addition condensation using an acid catalyst, preferably in a ratio of 0.7 to 1 mol of the aldehyde compound to 1 mol of the phenol compound. Here, specific examples of the phenol compound include phenol, o-cresol, m-cresol, p-cresol, o-ethylphenol, m-ethylphenol,
p-ethylphenol, o-butylphenol, m-butylphenol, p-butylphenol, 2,3-xylenol, 2,4-xylenol, 2,5-xylenol, 2,6-xylenol, 3,4-xylenol,
3,5-xylenol, 3,6-xylenol, 2,
3,5-trimethylphenol, 3,4,5-trimethylphenol, p-phenylphenol, resorcinol, hydroquinone, hydroquinone monomethyl ether,
Examples include pyrogallol, phlorogrisinol, hydroxydiphenyl, bisphenol A, gallic acid, gallic acid ester, α-naphthol, β-naphthol and the like.

【0013】アルデヒド化合物の具体例としては、ホル
ムアルデヒド、パラホルムアルデヒド、フルフラール、
ベンズアルデヒド、ニトロベンズアルデヒド、アセトア
ルデヒドなどを挙げることができる。酸触媒としては、
例えば塩酸、硝酸、硫酸、蟻酸、蓚酸、酢酸などが使用
される。また、特定フェノール樹脂として好ましいもの
は、フェノール、o−クレゾール、m−クレゾール、p
−クレゾールから選ばれるフェノール化合物とホルムア
ルデヒド、パラホルムアルデヒドから選ばれるアルデヒ
ド化合物とを反応させて得られるものである。
Specific examples of the aldehyde compound include formaldehyde, paraformaldehyde, furfural,
Benzaldehyde, nitrobenzaldehyde, acetaldehyde and the like can be mentioned. As the acid catalyst,
For example, hydrochloric acid, nitric acid, sulfuric acid, formic acid, oxalic acid, acetic acid and the like are used. Preferred as the specific phenol resin are phenol, o-cresol, m-cresol, p
-It is obtained by reacting a phenol compound selected from cresol with an aldehyde compound selected from formaldehyde and paraformaldehyde.

【0014】A成分として用いられる特定のフェノール
樹脂は、得られる絶縁層の解像性、現像性、耐めっき液
性などの観点から、重量平均分子量が200以上である
ことが必要であり、特に200〜20000の範囲もの
が好ましい。
The specific phenol resin used as the component A must have a weight average molecular weight of 200 or more from the viewpoints of resolution, developability, plating solution resistance, and the like of the obtained insulating layer. Those in the range of 200 to 20,000 are preferred.

【0015】本発明において、A成分であるアルカリ可
溶性樹脂は、前記のポリビニルフェノールまたは特定の
フェノール樹脂の1種を単独で用いてもよいし、あるい
は2種以上を併用することもできるが、特にポリビニル
フェノールと特定のフェノール樹脂とを併用することが
好ましい。本発明の組成物において、A成分は、得られ
る絶縁層が十分なアルカリ可溶性を示す含有割合で使用
される。その含有割合は、通常、A成分〜C成分の合計
量に基づいて、30〜95重量%の範囲である。含有率
が少なすぎると得られる組成物による薄膜がアルカリ水
溶液による十分な現像性を有しないものとなり、一方、
多すぎると相対的に他の成分の割合が制限される結果、
得られる絶縁層が靱性、耐熱性および耐めっき液性が不
十分となり不都合である。好ましい含有量は、40〜9
0重量%であり、特に、実用上50〜85重量%が好ま
しい。
In the present invention, as the alkali-soluble resin as the component A, one of the above-mentioned polyvinyl phenol or the specific phenol resin may be used alone, or two or more of them may be used in combination. It is preferable to use polyvinyl phenol and a specific phenol resin in combination. In the composition of the present invention, the component A is used in such a content that the obtained insulating layer has sufficient alkali solubility. The content ratio is usually in the range of 30 to 95% by weight based on the total amount of the components A to C. If the content is too low, the resulting thin film of the composition will not have sufficient developability with an aqueous alkaline solution, while
If it is too large, the proportion of other components is relatively limited,
The resulting insulating layer is inconvenient because the toughness, heat resistance and plating solution resistance are insufficient. The preferred content is 40 to 9
0% by weight, and particularly preferably 50 to 85% by weight for practical use.

【0016】〔B成分〕B成分のエポキシ化合物として
は、例えば、グリシジルアクリレート、3,4−エポキ
シシクロヒキシルアクリレート、3,4−エポキシシク
ロヘキシルメタクリレート並びにこれらの重合体または
これらと他の重合性重結合を有する化合物との共重合
体、ビスフェノール型エポキシ樹脂、ノボラック型エポ
キシ樹脂,クレゾールノボラック型エポキシ樹脂等に代
表されるグリシジルエーテル型エポキシ樹脂類や、グリ
シジルエステル型エポキシ樹脂類、芳香族グルシジルア
ミン型エポキシ樹脂類、脂環式エポキシ樹脂類、複素環
式エポキシ樹脂類、液状ゴム変性エポキシ樹脂類、エポ
キシ基により化学的に変性処理された架橋重合体(以
下、該架橋重合体をエポキシ変性粒子状ゴムという)等
のオキシラン環含有化合物等が挙げられ、好ましくはエ
ポキシ変性粒子状ゴムである。
[Component B] As the epoxy compound of the component B, for example, glycidyl acrylate, 3,4-epoxycyclohexyl acrylate, 3,4-epoxycyclohexyl methacrylate, a polymer thereof, or a polymer or other polymerizable polymer may be used. Glycidyl ether type epoxy resins represented by copolymers with compounds having a bond, bisphenol type epoxy resins, novolak type epoxy resins, cresol novolak type epoxy resins, etc., glycidyl ester type epoxy resins, aromatic glycidylamine Epoxy resins, alicyclic epoxy resins, heterocyclic epoxy resins, liquid rubber-modified epoxy resins, crosslinked polymers chemically modified with epoxy groups (hereinafter referred to as epoxy-modified particles Oxirane ring Goods and the like, preferably epoxy modified particulate rubber.

【0017】このエポキシ変性粒子状ゴムを添加する
と、後述の、本発明の組成物から得られる絶縁層の粗面
化処理工程において絶縁層表面が十分に粗面化処理され
たものとなり、当該絶縁層上に形成される導体配線の密
着性が大きなものとなる。
When this epoxy-modified particulate rubber is added, the surface of the insulating layer is sufficiently roughened in the step of roughening the insulating layer obtained from the composition of the present invention, which will be described later. The adhesion of the conductor wiring formed on the layer becomes large.

【0018】このB成分とされるエポキシ変性粒子状ゴ
ムは、エポキシ基と反応する官能基、例えばカルボキシ
ル基を有する粒子状ゴム材を、適宜のエポキシ化合物に
よって化学的に変性処理することによって得られる、平
均粒子径が0.01〜20μm、好ましくは0.01〜
5.0μmのものである。このエポキシ変性粒子状ゴム
の詳細は、例えば特開平4−15830号公報に記載さ
れている。
The epoxy-modified particulate rubber used as the component B is obtained by chemically modifying a particulate rubber material having a functional group that reacts with an epoxy group, for example, a carboxyl group, with an appropriate epoxy compound. Having an average particle size of 0.01 to 20 μm, preferably 0.01 to 20 μm.
It is 5.0 μm. Details of the epoxy-modified particulate rubber are described in, for example, JP-A-4-15830.

【0019】B成分のエポキシ変性粒子状ゴムを得るた
めの粒子状ゴム材は、例えば下記(イ)〜(ハ)の単量
体を含有する単量体組成物を共重合させて得られる、カ
ルボキシル基を有する架橋重合体よりなるものである。 (イ)1分子内に複数の重合性二重結合を有する多官能
単量体 (ロ)多官能単量体(イ)と共重合可能な、カルボキシ
ル基を有する単量体(以下「カルボキシル基含有単量
体」という。) (ハ)多官能単量体(イ)と共重合可能な、上記(ロ)
以外の共重合性単量体 1分子内に複数の重合性二重結合を有する多官能単量体
(イ)としては、例えばエチレングリコールジ(メタ)
アクリレート、トリメチロールプロパンジ(メタ)アク
リレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリ
レート、プロピレングリコールジ(メタ)アクリレー
ト、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、
ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、
1,4−ブタンジオールジ(メタ)アクリレート、1,
6−ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、ジビニ
ルベンゼン、トリビニルベンゼンなどを挙げることがで
きる。これらの多官能重合性単量体は、その1種を単独
であるいは2種以上を併用することができる。
The particulate rubber material for obtaining the epoxy-modified particulate rubber of the component B is obtained, for example, by copolymerizing a monomer composition containing the following monomers (a) to (c). It consists of a crosslinked polymer having a carboxyl group. (A) a polyfunctional monomer having a plurality of polymerizable double bonds in one molecule; (b) a monomer having a carboxyl group copolymerizable with the polyfunctional monomer (a) (hereinafter referred to as “carboxyl group”). (C) The above (b) which is copolymerizable with the polyfunctional monomer (a)
Other polyfunctional monomers having a plurality of polymerizable double bonds in one molecule (a) include, for example, ethylene glycol di (meth)
Acrylate, trimethylolpropane di (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, propylene glycol di (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate,
Pentaerythritol tetra (meth) acrylate,
1,4-butanediol di (meth) acrylate, 1,
Examples thereof include 6-hexanediol di (meth) acrylate, divinylbenzene, and trivinylbenzene. One of these polyfunctional polymerizable monomers can be used alone, or two or more can be used in combination.

【0020】多官能単量体(イ)は、粒子状ゴム材を得
るための単量体組成物の全体に対して0.1〜20モル
%、好ましくは0.5〜10モル%の割合で用いられ
る。この割合が0.1モル%未満の場合には、組成物に
おいて粒子状ゴムの形状が十分に保持されないために絶
縁層の表面の粗面化を十分に達成することができず、ま
た絶縁層の現像性が劣ったものとなる。一方、この割合
が20モル%を超える場合には、粗面化処理において確
実に溶解しないために粗面化を十分に達成することがで
きず、また得られる粒子状ゴムの他の成分に対する親和
性が低くなって得られる組成物の加工性が悪化し、光硬
化処理後の絶縁層の強度が著しく低下し、形成されるめ
っき層の密着性が不十分なものとなる。
The polyfunctional monomer (a) is used in an amount of 0.1 to 20 mol%, preferably 0.5 to 10 mol%, based on the whole monomer composition for obtaining the particulate rubber material. Used in If this proportion is less than 0.1 mol%, the shape of the particulate rubber is not sufficiently maintained in the composition, so that the surface of the insulating layer cannot be sufficiently roughened. Is inferior in developability. On the other hand, when this proportion exceeds 20 mol%, the surface is not completely dissolved in the surface roughening treatment, so that the surface roughening cannot be sufficiently achieved, and the obtained particulate rubber has an affinity for other components. The workability of the resulting composition is deteriorated due to a decrease in the property, the strength of the insulating layer after the photocuring treatment is significantly reduced, and the adhesion of the formed plating layer becomes insufficient.

【0021】カルボキシル基含有単量体(ロ)の具体例
としては、アクリル酸、メタクリル酸、マレイン酸、フ
マル酸、イタコン酸、テトラコン酸;コハク酸、フマル
酸などのジカルボン酸と付加重合性基を有する不飽和ア
ルコールとのハーフエステルなどを挙げることができ
る。これらのカルボキシル基含有単量体(ロ)は、得ら
れる組成物の具体的な用途に応じて、任意のものを1種
または2種以上を選択して用いることができる。
Specific examples of the carboxyl group-containing monomer (b) include acrylic acid, methacrylic acid, maleic acid, fumaric acid, itaconic acid, and tetraconic acid; dicarboxylic acids such as succinic acid and fumaric acid and an addition polymerizable group. And a half ester with an unsaturated alcohol having the formula: These carboxyl group-containing monomers (b) can be used singly or in combination of two or more depending on the specific use of the obtained composition.

【0022】上記のカルボキシル基含有単量体(ロ)
は、粒子状ゴム材を得るための単量体組成物全体に対し
て0.1〜30モル%、好ましくは0.5〜20モル%
の割合で用いられる。この割合が0.1モル%未満の場
合には、エポキシ変性処理によって得られるエポキシ変
性粒子状ゴムが表面エポキシ基の少ないものとなるた
め、当該エポキシ変性粒子状ゴムの組成物に対する親和
性が低くて組成物中に均一に分散させることが困難とな
り、その結果良好な粗面化を達成することができず、ま
た得られる絶縁層は靭性および解像性が乏しいものとな
り、一方、この割合が30モル%を超える場合には、得
られる絶縁層が硬く脆いものとなり、いずれも好ましく
ない。
The above carboxyl group-containing monomer (b)
Is from 0.1 to 30 mol%, preferably from 0.5 to 20 mol%, based on the whole monomer composition for obtaining the particulate rubber material.
Used in the ratio of When this ratio is less than 0.1 mol%, the epoxy-modified particulate rubber obtained by the epoxy-modifying treatment has a small number of surface epoxy groups, and thus the affinity of the epoxy-modified particulate rubber for the composition is low. Therefore, it is difficult to uniformly disperse the composition in the composition, and as a result, good surface roughening cannot be achieved, and the obtained insulating layer has poor toughness and resolution. If it exceeds 30 mol%, the resulting insulating layer becomes hard and brittle, and both are not preferred.

【0023】上記の多官能単量体(イ)およびカルボキ
シル基含有単量体(ロ)と共に用いられる共重合性単量
体(ハ)としては、目的に応じて種々のラジカル重合性
単量体を用いることができる。
The copolymerizable monomer (c) used together with the polyfunctional monomer (a) and the carboxyl group-containing monomer (b) includes various radical polymerizable monomers depending on the purpose. Can be used.

【0024】この共重合性単量体としては、例えばブタ
ジエン、イソプレン、ジメチルブタジエン、クロロプレ
ンなどを挙げることができ、更にスチレン、αーメチル
スチレン、ビニルトルエン、アクリロニトリル、ビニル
クロリド、ビニリデンクロリド、(メタ)アクリルアミ
ド、メチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アク
リレート、nープロピル(メタ)アクリレート、2ーエ
チルヘキシル(メタ)アクリレートなどを挙げることが
できる。
Examples of the copolymerizable monomer include butadiene, isoprene, dimethylbutadiene, and chloroprene. Further, styrene, α-methylstyrene, vinyltoluene, acrylonitrile, vinyl chloride, vinylidene chloride, (meth) acrylamide , Methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, n-propyl (meth) acrylate, and 2-ethylhexyl (meth) acrylate.

【0025】粒子状ゴム材は、ラジカル開始剤を用いた
乳化重合法または懸濁重合法によって、直接的に粒子状
共重合体として製造することができるが、粒子のサイズ
およびその均一性が高いことから乳化重合法を用いるの
が好適である。
The particulate rubber material can be directly produced as a particulate copolymer by an emulsion polymerization method or a suspension polymerization method using a radical initiator, but the particle size and its uniformity are high. For this reason, it is preferable to use an emulsion polymerization method.

【0026】乳化重合法による場合には、上記の多官能
単量体(イ)と、カルボキシル基含有単量体(ロ)と、
共重合性単量体(ハ)とをラジカル乳化重合し、公知の
方法に従って、塩析、洗浄、乾燥すればよい。この場合
に、各単量体、ラジカル開始剤などの重合薬剤は、反応
開始時に全量を一括して添加してもよいし、任意に分け
て順次に添加してもよい。重合反応は温度0〜80℃に
おいて酸素を除去した反応器中で行われるが、反応の途
中で温度や攪拌などの操作条件を任意に変更することが
できる。重合方式は連続式、回分式のいずれでもよい。
In the case of the emulsion polymerization method, the above polyfunctional monomer (a), carboxyl group-containing monomer (b),
What is necessary is just to carry out radical emulsion polymerization of the copolymerizable monomer (C), salting out, washing and drying according to a known method. In this case, the polymerization agents such as each monomer and radical initiator may be added all at once at the start of the reaction, or may be arbitrarily divided and added sequentially. The polymerization reaction is carried out at a temperature of 0 to 80 ° C. in a reactor from which oxygen has been removed, and operating conditions such as temperature and stirring can be arbitrarily changed during the reaction. The polymerization system may be either a continuous system or a batch system.

【0027】しかし、電子部品の層間絶縁層を形成する
ための組成物の粒子状ゴムとしては、例えば特開平4−
15830号公報に示されている方法によって得られ
る、イオン含有割合の低い、具体的には、ナトリウム、
カリウム等の金属イオン含有量が200ppm以下の粒
子状ゴムを用いることが好ましく、これにより、良好な
電気絶縁性を有する絶縁層を形成することができる。
However, as a particulate rubber of a composition for forming an interlayer insulating layer of an electronic component, for example, Japanese Unexamined Patent Publication No.
No. 15,830, which has a low ion content, specifically, sodium,
It is preferable to use particulate rubber having a content of metal ions such as potassium of 200 ppm or less, whereby an insulating layer having good electric insulation can be formed.

【0028】上記の乳化重合法において、ラジカル開始
剤としては、ベンゾイルペルオキシド、クメンハイドロ
ペルオキシド、パラメンタンハイドロペルオキシド、ラ
ウロイルペルオキシドなどの有機過酸化物、アゾビスイ
ソブチロニトリルで代表されるジアゾ化合物、過硫酸カ
リウムで代表される無機化合物、有機化合物−硫酸鉄の
組合せで代表されるレドックス系触媒などが用いられ
る。
In the above-mentioned emulsion polymerization method, examples of the radical initiator include organic peroxides such as benzoyl peroxide, cumene hydroperoxide, paramenthane hydroperoxide and lauroyl peroxide; diazo compounds represented by azobisisobutyronitrile; An inorganic compound represented by potassium persulfate, a redox catalyst represented by a combination of an organic compound and iron sulfate, and the like are used.

【0029】上記のようにして得られる粒子状ゴム材
は、その表面にカルボキシル基が存在するものであり、
このカルボキシル基がエポキシ化合物によってエポキシ
化されることにより、本発明のB成分として用いられる
エポキシ変性された粒子状ゴムが得られる。
The particulate rubber material obtained as described above has a carboxyl group on its surface.
This carboxyl group is epoxidized with an epoxy compound, whereby an epoxy-modified particulate rubber used as the component B of the present invention is obtained.

【0030】エポキシ変性のためには、例えば粒子の表
面にカルボキシル基を有する粒子状ゴム材を、1分子内
に複数のエポキシ基を含有するエポキシ化合物、例えば
エポキシ樹脂と加熱して反応させることにより、粒子状
ゴム材の粒子表面に存在するカルボキシル基をエポキシ
基に変換することができる。具体的には、例えば、カル
ボキシル基を有する粒子状ゴム材とエポキシ樹脂とを、
例えば臭化テトラブチルアンモニウムなどの触媒を用い
て、温度40〜100℃の反応溶媒中で反応させればよ
い。ここに反応溶媒としては、当該反応に関与せず、反
応系を均一に保つことのできるものであれば特に限定さ
れず、用いるエポキシ化合物が液状である場合には反応
溶媒は不要である。
For the epoxy modification, for example, a particulate rubber material having a carboxyl group on the surface of the particle is heated and reacted with an epoxy compound containing a plurality of epoxy groups in one molecule, for example, an epoxy resin. A carboxyl group present on the particle surface of the particulate rubber material can be converted into an epoxy group. Specifically, for example, a particulate rubber material having a carboxyl group and an epoxy resin,
For example, the reaction may be performed in a reaction solvent at a temperature of 40 to 100 ° C. using a catalyst such as tetrabutylammonium bromide. The reaction solvent is not particularly limited as long as it does not participate in the reaction and can keep the reaction system uniform. When the epoxy compound to be used is in a liquid state, the reaction solvent is unnecessary.

【0031】粒子状ゴム材のエポキシ化合物による処理
においては、粒子状ゴム材をエポキシ化合物と混合し熱
反応させればよい。この反応における粒子状ゴム材とエ
ポキシ化合物の割合は、それぞれ10〜30重量%およ
び90〜70重量%であることが好ましい。粒子状ゴム
材の割合が30重量%を超える場合には、エポキシ変性
の程度が低くなるために粒子状ゴムを組成物中に均一に
分散させることがが困難となる。ここに使用されるエポ
キシ化合物としてはエポキシ樹脂を好ましく用いること
ができる。エポキシ樹脂は特に制限されるものではな
く、ビスフェノール型エポキシ樹脂、(クレゾール)ノ
ボラック型エポキシ樹脂、脂環型エポキシ樹脂などの各
種エポキシ樹脂を使用することができ、臭素化エポキシ
樹脂、ウレタン変性エポキシ樹脂などの各種変性エポキ
シ樹脂を使用することもできる。
In the treatment of the particulate rubber material with the epoxy compound, the particulate rubber material may be mixed with the epoxy compound and thermally reacted. The ratio of the particulate rubber material to the epoxy compound in this reaction is preferably 10 to 30% by weight and 90 to 70% by weight, respectively. When the proportion of the particulate rubber material exceeds 30% by weight, it becomes difficult to uniformly disperse the particulate rubber in the composition because the degree of epoxy modification is low. As the epoxy compound used here, an epoxy resin can be preferably used. The epoxy resin is not particularly limited, and various epoxy resins such as bisphenol type epoxy resin, (cresol) novolak type epoxy resin, and alicyclic type epoxy resin can be used. Brominated epoxy resin, urethane-modified epoxy resin And various modified epoxy resins.

【0032】ここに、エポキシ化合物の使用割合は、組
成物の全体における15重量%以下であることが好まし
く、15重量%を超える場合には、得られる絶縁層のア
ルカリ現像性が低下し、良好なプロファイルを得ること
が困難となる。
Here, the use ratio of the epoxy compound is preferably 15% by weight or less based on the whole of the composition, and if it exceeds 15% by weight, the alkali developability of the obtained insulating layer is lowered, and the epoxy compound is preferably used. It is difficult to obtain a proper profile.

【0033】また、粒子状ゴム材の表面に存在するカル
ボキシル基の全部がエポキシ基によって変性されること
は必要ではなく、その一部のみが変性され、他のカルボ
キシル基はそのままの状態で残存するものであってもよ
く、これにより良好な現像性が得られる可能性がある。
It is not necessary that all of the carboxyl groups present on the surface of the particulate rubber material be modified by the epoxy group, but only a part thereof is modified and other carboxyl groups remain as they are. It may be possible to obtain good developability.

【0034】上記のエポキシ変性粒子状ゴムよりなるB
成分は、本発明の組成物において均一に分散された状態
で存在し、当該組成物より形成される絶縁層の表面を粗
面化処理する工程において、強酸化性の粗面化処理液に
よって選択的に反応されて溶解し、これにより、絶縁層
の表面の粗面化が達成される。
B comprising the above-mentioned epoxy-modified particulate rubber
The components are present in a state of being uniformly dispersed in the composition of the present invention, and are selected by a strongly oxidizing roughening treatment solution in the step of roughening the surface of the insulating layer formed from the composition. Reacts and dissolves, whereby the surface of the insulating layer is roughened.

【0035】すなわち、当該粒子状ゴムは、エポキシ変
性されていることにより、他の成分に対して良好な親和
性を有するために本発明の当該組成物中に十分均一に分
散された状態で存在するようになる。そして、粗面化処
理において、強酸化性を有する粗面化処理液が絶縁層の
表面に存在するエポキシ変性粒子状ゴムに接触すること
により、当該エポキシ変性粒子状ゴムを構成する共重合
体の二重結合が切断されて当該共重合体が当該粗面化処
理液に溶解する結果、当該エポキシ変性粒子状ゴムが絶
縁層から消失しあるいは除去され、これにより絶縁層の
表面に微小な凹凸が形成されて粗面化される。
That is, since the particulate rubber is epoxy-modified, it has a good affinity for other components, so that it exists in a sufficiently uniformly dispersed state in the composition of the present invention. I will be. In the surface-roughening treatment, the surface-roughening treatment solution having strong oxidizing property is brought into contact with the epoxy-modified particulate rubber present on the surface of the insulating layer to form a copolymer of the epoxy-modified particulate rubber. As a result of the double bond being cut and the copolymer being dissolved in the surface-roughening treatment solution, the epoxy-modified particulate rubber disappears or is removed from the insulating layer, thereby causing minute irregularities on the surface of the insulating layer. It is formed and roughened.

【0036】これに対し、エポキシ変性されていない粒
子状ゴムを用いると、組成物において均一な分散状態が
得られないことから、結局、絶縁層の粗面化処理におい
て、その粗面化状態が均一とならず、ムラが生じた状態
となる。
On the other hand, if the particulate rubber which is not epoxy-modified is used, a uniform dispersion state cannot be obtained in the composition. It will not be uniform and will be uneven.

【0037】なお、粒子状ゴムのエポキシ変性に用いら
れるエポキシ樹脂などのエポキシ化合物を単独成分とし
て使用した場合にも、粒子状ゴムが十分均一に分散させ
ることができない。
It should be noted that even when an epoxy compound such as an epoxy resin used for epoxy modification of the particulate rubber is used as a single component, the particulate rubber cannot be dispersed sufficiently uniformly.

【0038】また、本発明の組成物から得られる絶縁層
の内部においては、上記のエポキシ変性粒子状ゴムが均
一に分散された状態で存在することから、当該絶縁層に
おいて露光や熱処理によって生じる収縮応力、基材との
熱膨張係数の差によって生じる熱応力などが緩和され、
その結果、多層配線板の寸法精度および絶縁層として高
い信頼性が得られる。さらに、エポキシ変性粒子状ゴム
を含有する組成物によれば、得られる絶縁層の靱性が向
上し、クラックの発生を防止することができる。
Further, since the above-mentioned epoxy-modified particulate rubber is present in a uniformly dispersed state inside the insulating layer obtained from the composition of the present invention, shrinkage caused by exposure or heat treatment in the insulating layer is caused. Stress, thermal stress caused by the difference of the coefficient of thermal expansion with the substrate, etc. are alleviated,
As a result, dimensional accuracy of the multilayer wiring board and high reliability as an insulating layer can be obtained. Further, according to the composition containing the epoxy-modified particulate rubber, the toughness of the obtained insulating layer is improved, and the occurrence of cracks can be prevented.

【0039】本発明の組成物において、B成分の割合
は、A成分〜C成分の合計量に対して通常1〜50重量
%、好ましくは5〜40重量%で、さらに好ましくは、
10〜30重量%である。この割合が少なすぎると、十
分な粗面化処理を達成することができず、得られる絶縁
層が靱性、耐熱性および耐めっき液性が不十分なものと
なるおそれがあり、一方、この割合が多すぎると、得ら
れる組成物による薄膜が十分な現像性を有しないものと
なるおそれがある。
In the composition of the present invention, the proportion of the component B is usually 1 to 50% by weight, preferably 5 to 40% by weight, more preferably 5 to 40% by weight, based on the total amount of the components A to C.
It is 10 to 30% by weight. If this ratio is too small, sufficient surface roughening treatment cannot be achieved, and the resulting insulating layer may have insufficient toughness, heat resistance, and plating solution resistance. If the content is too large, a thin film obtained from the composition may not have sufficient developability.

【0040】 〔C成分〕本発明におけるC成分は、1分
子内にオキセタニル基及びチイラニル基から選ばれる基
を有するオキセタンまたはチイラン化合物である。代表
的なものは、分子内にオキセタニル基を有する化合物及
びチイラニル基を有する化合物である。 オキセタニル基含有化合物 オキセタニル基を分子内に1個以上有する化合物の例と
しては、下記の式(A)、式(B)および式(C)で示
される化合物を挙げることができる。
[0040] [C component] The C component in the present invention is 1 minute.
A group selected from oxetanyl and thiiranyl groups
An oxetane or thiirane compound having the formula: representative
Compounds include oxetanyl groups in the molecule and
And a compound having a thiiranyl group. Oxetanyl group-containing compounds Examples of compounds having one or more oxetanyl groups in the molecule
The following equations (A), (B) and (C)
Compounds to be used can be mentioned.

【0041】[0041]

【化1】 〔式(A)、(B)および(C)の各々において、R1
はメチル基、エチル基、プロピル基などのアルキル基で
あり、R2は、メチレン基、エチレン基、プロピレン基
などのアルキレン基であり、R3は、メチル基、エチル
基、プロピル基、ヘキシル基等のアルキル基;フェニル
基、キシリル基等のアリール基;式:
Embedded image [In each of the formulas (A), (B) and (C), R 1
Is an alkyl group such as a methyl group, an ethyl group, and a propyl group; R 2 is an alkylene group such as a methylene group, an ethylene group and a propylene group; and R 3 is a methyl group, an ethyl group, a propyl group, and a hexyl group. An alkyl group such as a phenyl group and an xylyl group; a formula:

【0042】[0042]

【化2】 (ここで、xは0〜50の整数である)で表わされるジ
メチルシロキサン残基、R2に関して例示したと同様の
アルキレン基、フェニレン基、または下記の式(1)〜
(5)で表わされる基を示し、
Embedded image (Where x is an integer of 0 to 50), a dimethylsiloxane residue represented by the same formula, an alkylene group, a phenylene group, or a phenylene group as exemplified for R 2 ;
A group represented by (5),

【0043】[0043]

【化3】 (ここでyは1〜50の整数である)、Embedded image (Where y is an integer from 1 to 50),

【0044】[0044]

【化4】 (ここで、xは単結合または−CH2−、−C(CH3
2−、−C(CF32−、もしくは−SO2−で示される
2価の基である)、
Embedded image (Where, x is a single bond or -CH 2 -, - C (CH 3)
2- , -C (CF 3 ) 2- or -SO 2- ).

【0045】[0045]

【化5】 nは、R3の価数に等しく、1〜4の整数である。〕 これらの式(A)〜式(C)で表わされる化合物の具体
例としては、ビス〔(3−エチル−3−オキセタニルメ
トキシ)メチル〕ベンゼン(商品名「XDO」東亜合成
社製)、ビス〔(3−エチル−3−オキセタニルメトキ
シ)メチル−フェニル〕メタン、ビス〔(3−エチル−
3−オキセタニルメトキシ)メチル−フェニル〕エーテ
ル、ビス〔(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)
メチル−フェニル〕プロパン、ビス〔(3−エチル−3
−オキセタニルメトキシ)メチル−フェニル〕スルホ
ン、ビス〔(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)
メチル−フェニル〕ケトン、ビス〔(3−エチル−3−
オキセタニルメトキシ)メチル−フェニル〕ヘキサフロ
ロプロパン、トリ〔(3−エチル−3−オキセタニルメ
トキシ)メチル〕ベンゼン、テトラ〔(3−エチル−3
−オキセタニルメトキシ)メチル〕ベンゼン、並びに下
記の化学式(D)〜(H)で示される化合物を挙げるこ
とができる。
Embedded image n is equal to the valence of R 3 and is an integer of 1 to 4. Specific examples of the compounds represented by the formulas (A) to (C) include bis [(3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) methyl] benzene (trade name “XDO” manufactured by Toa Gosei Co., Ltd.), [(3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) methyl-phenyl] methane, bis [(3-ethyl-
3-oxetanylmethoxy) methyl-phenyl] ether, bis [(3-ethyl-3-oxetanylmethoxy)
Methyl-phenyl] propane, bis [(3-ethyl-3
-Oxetanylmethoxy) methyl-phenyl] sulfone, bis [(3-ethyl-3-oxetanylmethoxy)
Methyl-phenyl] ketone, bis [(3-ethyl-3-
Oxetanylmethoxy) methyl-phenyl] hexafluoropropane, tri [(3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) methyl] benzene, tetra [(3-ethyl-3
-Oxetanylmethoxy) methyl] benzene, and compounds represented by the following chemical formulas (D) to (H).

【0046】[0046]

【化6】 Embedded image

【0047】以上の他、高分子量の多価オキセタン環を
有する化合物も用いることができ、その具体例として
は、例えばオキセタンオリゴマー(商品名「Oligo
−OXT」東亞合成社製)並びに下記の化学式(I)〜
(K)で示される化合物などを挙げることができる。
In addition to the above, compounds having a high molecular weight polyvalent oxetane ring can also be used. Specific examples thereof include oxetane oligomers (trade name: Oligo)
-OXT "manufactured by Toagosei Co., Ltd.) and the following chemical formulas (I) to
The compound represented by (K) can be mentioned.

【0048】[0048]

【化7】 Embedded image

【0049】〔これらの式中、p、qおよびsは、1〜
10,000の整数である。〕チイラニル基含有化合物 チイラニル基含有化合物は、分子中にチイラニル基を1
個以上有する化合物である。該化合物は分子中にチイラ
ニル基以外の官能基を有していてもよい。また、その分
子量は、特に限定されないが、通常、70〜20,00
0の範囲である。
[Wherein p, q and s are from 1 to
It is an integer of 10,000. ] Thiranyl group-containing compound Thiylanyl group-containing compound has one or more thiiranyl groups in the molecule.
Compounds. The compound may have a functional group other than a thiiranyl group in the molecule. The molecular weight is not particularly limited, but is usually 70 to 20,000.
It is in the range of 0.

【0050】チイラニル基含有化合物は、専ら、オキシ
ラン含有化合物中のオキシラン環の酸素原子を硫黄原子
に置換することにより合成されるが、その方法は、例え
ば、J.M.Charlesworth J. Polym. Sc. Polym.Phys. 17
329 (1979)に示される方法等によりチオシアン酸塩を
用いて、また、 R. D. Schuetz et al., J. Org. Chem.
26 3467 (1961) に示される方法などによりチオ尿素を
用いて合成することができる。また、環状カーボネート
からの合成方法も、S.Seales et al. J. Org.Chem., 27
2832 (1962) 等に示されている。
The compound containing a thiiranyl group is synthesized exclusively by substituting the oxygen atom of the oxirane ring in the oxirane-containing compound with a sulfur atom. The method is described in, for example, JM Charlesworth J. Polym. Sc. Polym. Phys. . 17
329 (1979), using thiocyanate, and RD Schuetz et al., J. Org.
26 3467 (1961), etc., using thiourea. The synthesis method from cyclic carbonate is also described in S. Seales et al. J. Org. Chem., 27
2832 (1962).

【0051】本発明に用いられるチイラン化合物の例と
して、M. Sander, Chem. Rev. 66 297 (1966)中の Tabl
e-Iに示されているチイラン化合物および、例えば、グ
リシジルアクリレート、グリシジルメタクリレート、
3,4−エポキシシクロヘキシルアクリレート、3,4
−エポキシシクロヘキシルメタクリレート、並びにこれ
らの重合体または他の重合性2結合を有する化合物と共
重合体、ビスフェノール型エポキシ樹脂、ノボラック型
エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂等
に代表されるグリシジルエーテル型エポキシ樹脂類や、
グリシジルエステル型エポキシ樹脂類、芳香族グリシジ
ルアミン型エポキシ樹脂類、脂環式エポキシ樹脂類、複
素環式エポキシ樹脂類、液状ゴム変性エポキシ樹脂類等
のオキシラン環含有化合物のオキシラン環中の酸素原子
を硫黄原子に置換したチイラン化合物を挙げることがで
きる。良好な架橋構造を得るためには、これらのチイラ
ン化合物うち分子中に2個以上のチイラニル基を有する
化合物が好ましく用いられる。中でも特に好ましいチイ
ラニル基含有化合物の例としては、ビスフェノール型エ
ポキシ樹脂、ノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノ
ボラック型エポキシ樹脂等に代表されるグリシジルエー
テル型エポキシ樹脂類や、グリシジルエステル型エポキ
シ樹脂類、芳香族グリシジルアミン型エポキシ樹脂類、
オキシラン環含有化合物のオキシラン環中の酸素原子を
硫黄原子に置換したチイラン化合物が挙げられる。
Examples of the thiirane compound used in the present invention include Tabl in M. Sander, Chem. Rev. 66 297 (1966).
thiirane compounds shown in eI and, for example, glycidyl acrylate, glycidyl methacrylate,
3,4-epoxycyclohexyl acrylate, 3,4
-Epoxycyclohexyl methacrylate, and glycidyl ether type epoxy resins represented by these polymers or other compounds having a polymerizable two bond and copolymer, bisphenol type epoxy resin, novolak type epoxy resin, cresol novolak type epoxy resin, etc. Kind,
The oxygen atom in the oxirane ring of the oxirane ring-containing compound such as glycidyl ester type epoxy resin, aromatic glycidylamine type epoxy resin, alicyclic epoxy resin, heterocyclic epoxy resin, liquid rubber modified epoxy resin, etc. Thiirane compounds substituted with a sulfur atom can be mentioned. In order to obtain a good crosslinked structure, of these thiirane compounds, a compound having two or more thiylanyl groups in a molecule is preferably used. Among them, particularly preferred examples of the thiyanyl group-containing compound include glycidyl ether type epoxy resins represented by bisphenol type epoxy resin, novolak type epoxy resin, cresol novolak type epoxy resin and the like, glycidyl ester type epoxy resin, aromatic glycidyl Amine type epoxy resins,
Thiirane compounds in which an oxygen atom in the oxirane ring of the oxirane ring-containing compound is substituted with a sulfur atom.

【0052】本発明の組成物において、C成分であるオ
キセタニル基含有化合物及びチイラニル基含有化合物か
ら選ばれる化合物の配合の割合は、通常、A成分〜C成
分の合計に対して0.5〜40重量%、好ましくは3〜
30重量%である。C成分は、光暴露時に速やかに重合
する成分であり、露光部分の形状保持に効果を発揮す
る。特に、ビアホール形成後の後ベーク時に樹脂が軟化
する事により発生する熱ダレ現象の防止に効果がある。
したがって、C成分の割合が少なすぎると、熱ダレ防止
に効果が無い。また、このC成分は、硬化後の吸水性の
低下ならびに硬化時の硬化収縮の抑制にも効果がある
が、得られる絶縁層は吸水性が十分に低いものとなら
ず、また得られる硬化収縮の程度が十分に小さいものと
ならない。一方、この割合が多すぎると、得られる組成
物による薄膜が十分な現像性を有するものとならないお
それがある。
In the composition of the present invention, the compounding ratio of the compound selected from the oxetanyl group-containing compound and the thiiranyl group-containing compound as the component C is usually 0.5 to 40 with respect to the total of the components A to C. % By weight, preferably 3 to
30% by weight. The component C is a component that rapidly polymerizes upon exposure to light, and has an effect on maintaining the shape of the exposed portion. In particular, it is effective in preventing the heat sagging phenomenon caused by the softening of the resin during the baking after the formation of the via hole.
Therefore, if the proportion of the C component is too small, there is no effect in preventing heat sag. The C component is also effective in lowering water absorption after curing and suppressing curing shrinkage during curing, but the resulting insulating layer does not have sufficiently low water absorption, and the resulting curing shrinkage does not occur. Is not small enough. On the other hand, if this ratio is too large, a thin film of the obtained composition may not have sufficient developability.

【0053】〔その他の成分〕本発明の組成物には、前
記A成分ないしC成分のほかに、必要に応じて種々の任
意的な成分を配合することができる。いずれの配合成分
の場合も本発明の目的を損なわない範囲で配合される。
[Other Components] In addition to the above components A to C, various optional components can be added to the composition of the present invention, if necessary. Any of the components is blended within a range that does not impair the purpose of the present invention.

【0054】架橋剤 本発明の組成物はA成分のアルカリ可溶性樹脂と反応し
て架橋構造を形成する架橋剤を含むことが好ましい。該
架橋剤として代表的なものは、1分子内に複数の活性メ
チロール基を有するアミノ樹脂である。このようなアミ
ノ樹脂として、例えば、(ポリ)メチロール化メラミ
ン、(ポリ)メチロール化グリコールウリル、(ポリ)
メチロール化ベンゾグアナミン、(ポリ)メチロール化
ウレアなどの、1分子内に複数個の活性メチロール基を
有する含窒素化合物を挙げることができる。そのメチロ
ール基は、水酸基の水素原子がメチル基やブチル基など
のアルキル基によって置換された化合物であってもよ
く、またはそのような置換化合物の複数を混合した混合
物であってもよい。また、該架橋剤は、これらの化合物
が一部自己縮合してなるオリゴマー成分を含むものであ
ってもよい。
Crosslinking Agent The composition of the present invention preferably contains a crosslinking agent which reacts with the alkali-soluble resin of component A to form a crosslinked structure. A typical example of the crosslinking agent is an amino resin having a plurality of active methylol groups in one molecule. Examples of such amino resins include (poly) methylolated melamine, (poly) methylolated glycoluril, (poly)
Examples include nitrogen-containing compounds having a plurality of active methylol groups in one molecule, such as methylolated benzoguanamine and (poly) methylolated urea. The methylol group may be a compound in which a hydrogen atom of a hydroxyl group is substituted by an alkyl group such as a methyl group or a butyl group, or may be a mixture of a plurality of such substituted compounds. Further, the crosslinking agent may include an oligomer component formed by partially condensing these compounds.

【0055】該アミノ樹脂の具体例としては、ヘキサメ
トキシメチル化メラミン(三井サイアナミッド(株)製
「サイメル300」)、テトラブトキシメチル化グリコ
ールウリル(三井サイアナミッド(株)製「サイメル1
170」)などのサイメルシリーズの商品、マイコート
シリーズの商品、UFRシリーズの商品、その他を用い
ることができる。これらのアミノ樹脂は、一種単独で
も、あるいは2種以上を組み合わせて使用することがで
きる。特に好ましいB成分は、ヘキサメトキシメチル化
メラミンである。
Specific examples of the amino resin include hexamethoxymethylated melamine (“Cymel 300” manufactured by Mitsui Cyanamid Co., Ltd.) and tetrabutoxymethylated glycoluril (“Symel 1” manufactured by Mitsui Cyanamid Co., Ltd.)
170 "), a product of the my coat series, a product of the UFR series, and the like. These amino resins can be used alone or in combination of two or more. A particularly preferred B component is hexamethoxymethylated melamine.

【0056】本発明の組成物において、架橋剤の含有量
は、当該組成物による薄膜が光重合開始剤および熱の作
用によって十分に硬化する範囲が好ましい。通常、A成
分〜C成分の合計量に対して1〜50重量%、好ましく
は、5〜30重量%である。
In the composition of the present invention, the content of the crosslinking agent is preferably in a range where a thin film of the composition is sufficiently cured by the action of a photopolymerization initiator and heat. Usually, it is 1 to 50% by weight, preferably 5 to 30% by weight, based on the total amount of the components A to C.

【0057】液状ゴム 好ましい配合成分として、数平均分子量が1,000〜
100,000、好ましくは、1,000〜60,00
0である。この液状ゴムを含有することにより、本発明
の組成物は、めっき処理によって形成される導体配線の
絶縁層に対する密着性が良好となり、特に高温下でも十
分に大きな密着性が得られる。該液状ゴムは、A成分、
B成分及びC成分との相溶性または親和性が高いもので
あることが必要であり、これらとの相溶性または親和性
が低いものを用いると、得られる組成物は粘着性が高い
ものとなって取扱いにくくなることがある。
As a preferable compounding component of the liquid rubber , the number average molecular weight is from 1,000 to 1,000.
100,000, preferably 1,000 to 60,00
0. By containing the liquid rubber, the composition of the present invention has good adhesion to the insulating layer of the conductor wiring formed by the plating treatment, and particularly, sufficiently high adhesion can be obtained even at a high temperature. The liquid rubber comprises an A component,
It is necessary to have a high compatibility or affinity with the B component and the C component, and if a low compatibility or affinity with these components is used, the resulting composition has a high tackiness. May be difficult to handle.

【0058】好適な液状ゴムとしては公知の各種合成ゴ
ムを挙げることができるができ、A成分などに対して高
い相溶性が得られることから、アクリルゴム(AC
M)、アクリロニトリル・ブタジエンゴム(NBR)、
アクリロニトリル・アクリレート・ブタジエンゴム(N
BA)が好ましく、さらに必要に応じて、エポキシ基、
水酸基、カルボキシル基、アミノ基より選ばれる少なく
とも1種の官能基を有するものも使用することができ
る。実際上、エポキシ基、カルボキシル基または水酸基
を有するものが好ましく、特にカルボキシル基または水
酸基を有するブタジエン系共重合体よりなる液状ゴムが
好ましい。
Suitable liquid rubbers include various known synthetic rubbers. Acrylic rubber (AC) can be used because it has high compatibility with the component A and the like.
M), acrylonitrile-butadiene rubber (NBR),
Acrylonitrile acrylate butadiene rubber (N
BA) is preferable, and if necessary, an epoxy group,
Those having at least one functional group selected from a hydroxyl group, a carboxyl group, and an amino group can also be used. Actually, those having an epoxy group, a carboxyl group or a hydroxyl group are preferable, and a liquid rubber made of a butadiene copolymer having a carboxyl group or a hydroxyl group is particularly preferable.

【0059】液状ゴムはいずれの方法で製造されたもの
であってもよく、その製造には乳化重合、溶液重合、塊
状重合、懸濁重合などの各種の方法を用いることがで
き、重合方式もバッチ式、回分式、連続式のいずれでも
よい。液状ゴムは、これに含有されるイオン成分の割合
が低いことが好ましく、これにより、得られる絶縁層は
十分な絶縁性を有するものとなる。液状ゴムを得るため
の単量体組成物にジエン系単量体が含有される場合に
は、当該組成物の重合は乳化重合法によって容易に実行
することができるが、特に特開昭62−74908号公
報に示された方法により、イオン成分の含有割合の低い
液状ゴムを得ることができる。本発明の組成物における
該液状ゴムの割合は、通常、A成分〜C成分の合計量に
基づいて1〜40重量%、好ましくは5〜25重量%で
ある。
The liquid rubber may be produced by any method, and various methods such as emulsion polymerization, solution polymerization, bulk polymerization and suspension polymerization can be used for the production, and the polymerization method is also Any of a batch system, a batch system, and a continuous system may be used. The liquid rubber preferably has a low proportion of the ionic component contained therein, whereby the resulting insulating layer has a sufficient insulating property. When the diene monomer is contained in the monomer composition for obtaining the liquid rubber, the polymerization of the composition can be easily carried out by an emulsion polymerization method. According to the method disclosed in Japanese Patent No. 74908, a liquid rubber having a low content ratio of an ionic component can be obtained. The proportion of the liquid rubber in the composition of the present invention is usually 1 to 40% by weight, preferably 5 to 25% by weight based on the total amount of the components A to C.

【0060】放射線重合開始剤 本発明の組成物には通常放射線重合開始剤が配合され
る。該放射線重合開始剤としては、一般に光カチオン重
合開始剤としてして知られているものが好ましく、具体
的には、ジアゾニウム塩である「アデカウルトラセット
PP−33」〔旭電化工業(株)製〕、スルホニウム塩
である「OPTOMER SP−150」、「OPTO
MER SP−170」、「OPTOMER SP17
1」〔旭電化工業(株)製〕、メタロセン化合物である
「IRGACURE261」〔チバガイギー社製〕、ト
リアジン化合物である「トリアジンB」、「トリアジン
PMS」、「トリアジンPP」〔日本シイベルヘグナー
(株)製〕などを挙げることができる。
Radiation Polymerization Initiator The composition of the present invention usually contains a radiation polymerization initiator. As the radiation polymerization initiator, those generally known as a cationic photopolymerization initiator are preferable, and specifically, a diazonium salt “ADEKA ULTRASET PP-33” [manufactured by Asahi Denka Kogyo Co., Ltd.] ], Sulfonium salts "OPTOMER SP-150", "OPTO
MER SP-170 "," OPTOMER SP17 "
1 "(manufactured by Asahi Denka Kogyo KK), a metallocene compound" IRGACURE 261 "(manufactured by Ciba Geigy), and a triazine compound" triazine B "," triazine PMS "," triazine PP "[manufactured by Nihon Siber Hegner Co., Ltd.] And the like.

【0061】本発明の組成物における放射線重合開始剤
の配合割合は、A成分〜C成分の合計に対して0.01
〜5重量%であることが好ましく、更に好ましくは0.
02〜2重量%である。この割合が0.01重量%未満
である場合には、得られる絶縁層は酸素などの周囲の環
境の影響による感度低下が著しいものとなり、一方、5
重量%を超えると他の成分との相溶性に劣り、組成物の
保存安定性が低下する。
The mixing ratio of the radiation polymerization initiator in the composition of the present invention is 0.01 to the total of the components A to C.
To 5% by weight, more preferably 0.1 to 5% by weight.
02 to 2% by weight. If this proportion is less than 0.01% by weight, the resulting insulating layer will have a remarkable decrease in sensitivity due to the influence of the surrounding environment such as oxygen.
If the amount is more than 10% by weight, the compatibility with other components is inferior, and the storage stability of the composition decreases.

【0062】その他の任意成分 本発明の組成物には、当該組成物が適用される基材に対
する接着性を向上させるための接着助剤を含有させるこ
とができる。この接着助剤としては、官能性シランカッ
プリング剤が有効である。ここで、官能性シランカップ
リング剤とは、カルボキシル基、メタクリロイル基、イ
ソシアネート基、エポキシ基などの反応性置換基を有す
るシランカップリング剤を意味し、その例としてはトリ
メトキシシリル安息香酸、γ−メタクリロキシプロピル
トリメトキシシラン、ビニルトリアセトキシシラン、ビ
ニルトリメトキシシラン、γ−イソシアナトプロピルト
リエトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメト
キシシラン、β−(3,4−エポキシシクロヘキシル)
エチルトリメトキシシランなどを挙げることができ、そ
の配合割合は、A成分〜C成分の合計量に対して2重量
%以下が好ましい。
Other Optional Ingredients The composition of the present invention may contain an adhesion aid for improving the adhesion to the substrate to which the composition is applied. As this adhesion aid, a functional silane coupling agent is effective. Here, the functional silane coupling agent means a silane coupling agent having a reactive substituent such as a carboxyl group, a methacryloyl group, an isocyanate group, or an epoxy group, and examples thereof include trimethoxysilylbenzoic acid, γ -Methacryloxypropyltrimethoxysilane, vinyltriacetoxysilane, vinyltrimethoxysilane, γ-isocyanatopropyltriethoxysilane, γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, β- (3,4-epoxycyclohexyl)
Ethyltrimethoxysilane and the like can be mentioned, and the blending ratio is preferably 2% by weight or less based on the total amount of the components A to C.

【0063】本発明の組成物には、必要に応じて充填
材、着色剤、粘度調整剤、レベリング剤、消泡剤、その
他の添加剤を含有させることができる。充填材として
は、シリカ、アルミナ、タルク、炭酸カルシウム、ベン
トナイト、ジルコニウムシリケート、粉末ガラスなどを
挙げることができる。着色剤としては、アルミナ白、ク
レー、炭酸バリウム、硫酸バリウムなどの耐湿顔料;亜
鉛華、鉛白、黄鉛、鉛丹、群青、紺青、酸化チタン、ク
ロム酸亜鉛、ベンガラ、カーボンブラックなどの無機顔
料;ブリリアントカーミン6B、パーマネントレッド6
B、パーマネントレッドR、ベンジジンイエロー、フタ
ロシアニンブルー、フタロシアニングリーンなどの有機
顔料;マゼンタ、ローダミンなどの塩基性染料;ダイレ
クトスカーレット、ダイレクトオレンジなどの直接染
料;ローセリン、メタニルイエローなどの酸性染料、そ
の他を挙げることができる。粘度調整剤としては、ベン
トナイト、シリカゲル、アルミニウム粉末などを挙げる
ことができる。レベリング剤としては、各種シリコーン
系化合物、ポリアルキレンオキシド系化合物などを挙げ
ることができる。消泡剤としては、表面張力の低いシリ
コーン系化合物、フッ素系化合物などを挙げることがで
きる。これらの添加剤は、本発明の目的を損なわない範
囲で、好ましくはA〜C成分の合計の50重量%以下の
量で使用される。
The composition of the present invention can contain a filler, a coloring agent, a viscosity modifier, a leveling agent, an antifoaming agent, and other additives as necessary. Examples of the filler include silica, alumina, talc, calcium carbonate, bentonite, zirconium silicate, and powdered glass. Coloring agents include moisture-resistant pigments such as alumina white, clay, barium carbonate, and barium sulfate; inorganic materials such as zinc white, lead white, graphite, lead red, ultramarine blue, navy blue, titanium oxide, zinc chromate, red iron oxide, and carbon black Pigment: Brilliant Carmine 6B, Permanent Red 6
B, permanent red R, organic pigments such as benzidine yellow, phthalocyanine blue, and phthalocyanine green; basic dyes such as magenta and rhodamine; direct dyes such as direct scarlet and direct orange; Can be mentioned. Examples of the viscosity modifier include bentonite, silica gel, and aluminum powder. Examples of the leveling agent include various silicone compounds and polyalkylene oxide compounds. Examples of the antifoaming agent include a silicone compound and a fluorine compound having a low surface tension. These additives are used in an amount not to impair the purpose of the present invention, and preferably in an amount of 50% by weight or less of the total of the components A to C.

【0064】〔組成物の調製〕本発明の組成物を調製す
るためには、充填材、顔料を添加しない場合には各成分
を通常の方法で混合、攪拌するだけでよく、充填材、顔
料を添加する場合にはディゾルバー、ホモジナイザー、
3本ロールミルなどの分散機を用いて分散、混合すれば
よい。また、必要に応じて、メッシュ、メンブレンフィ
ルターなどを用いてろ過することもできる。
[Preparation of Composition] In order to prepare the composition of the present invention, when no filler or pigment is added, it is only necessary to mix and stir the respective components by a usual method. When adding a dissolver, a homogenizer,
What is necessary is just to disperse and mix using a disperser, such as a three-roll mill. If necessary, filtration can be performed using a mesh, a membrane filter, or the like.

【0065】本発明の組成物には、粘度調整を目的とし
て、N−メチルホルムアミド、N,N−ジメチルホルム
アミド、N−メチルホルムアニリド、N−メチルアセト
アミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチルピ
ロリドン、ジメチルスルホキシド、ベンジルエチルエー
テル、ジヘキシルエーテル、アセトニルアセトン、イソ
ホロン、カプロン酸、カプリル酸、1−オクタノール、
1−ノナノール、ベンジルアルコール、酢酸ベンジル、
安息香酸エチル、乳酸エチル、シュウ酸ジエチル、マレ
イン酸ジエチル、γ−ブチロラクトン、シクロヘキサノ
ン、炭酸エチレン、炭酸プロピレン、フェニルセロソル
ブアセテート、メトキシメチルプロピオネート、エトキ
シエチルプロピオネート、ジエチレングリコールジメチ
ルエーテル、ジエチレングリコールメチルエチルエーテ
ル、トリエチレングリコールジメチルエーテル、トリエ
チレングリコールメチルエチルエーテルなどの高沸点溶
剤を添加することもできる。
The composition of the present invention contains N-methylformamide, N, N-dimethylformamide, N-methylformanilide, N-methylacetamide, N, N-dimethylacetamide, N-methyl Pyrrolidone, dimethyl sulfoxide, benzyl ethyl ether, dihexyl ether, acetonylacetone, isophorone, caproic acid, caprylic acid, 1-octanol,
1-nonanol, benzyl alcohol, benzyl acetate,
Ethyl benzoate, ethyl lactate, diethyl oxalate, diethyl maleate, γ-butyrolactone, cyclohexanone, ethylene carbonate, propylene carbonate, phenyl cellosolve acetate, methoxymethyl propionate, ethoxyethyl propionate, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol methyl ethyl ether And a high boiling point solvent such as triethylene glycol dimethyl ether and triethylene glycol methyl ethyl ether.

【0066】これらの溶剤の使用量は、組成物の用途や
用いる塗布の方法に応じて変更することができ、組成物
を均一な状態とすることができれば特に限定されるもの
ではないが、得られる液状組成物において5〜60重量
%、好ましくは10〜40重量%となる量である。
The amount of these solvents to be used can be changed according to the use of the composition or the method of coating used, and is not particularly limited as long as the composition can be brought into a uniform state. The amount is 5 to 60% by weight, preferably 10 to 40% by weight in the obtained liquid composition.

【0067】〔組成物の使用〕本発明の組成物を基材に
塗布するための塗布方法は特に限定されるものではな
く、一般的な感光性材料の塗布方法を利用することがで
きる。具体的には、スクリーン印刷法、ロールコート
法、バーコート法、ディップコート法、カーテンコート
法、スピンコート法などを挙げることができる。また、
本発明の組成物をフィルム状に成形した後、これをラミ
ネーターを用いて基材に密着させて用いることもでき
る。本発明の組成物は上記のような方法により基材に塗
布された後、乾燥し、紫外線を照射し、さらに加熱する
ことにより、硬化膜とすることができる。ここで、乾燥
条件、紫外線照射条件、加熱条件は、後述する(1)薄
膜形成工程、(2)露光処理工程および(3)反応促進
用加熱工程にそれぞれ記載された条件と同様である。本
発明の硬化膜はアルカリ水溶液に不溶である。ここでア
ルカリ水溶液に不溶とは、20℃の0.75重量%のテ
トラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液中に180
〜300秒間浸漬した後の残膜率が90%以上であるこ
とを意味する。
[Use of Composition] The method of applying the composition of the present invention to a substrate is not particularly limited, and a general method of applying a photosensitive material can be used. Specific examples include a screen printing method, a roll coating method, a bar coating method, a dip coating method, a curtain coating method, and a spin coating method. Also,
After the composition of the present invention is formed into a film, the composition can be used in close contact with a substrate using a laminator. After the composition of the present invention is applied to a substrate by the above method, it is dried, irradiated with ultraviolet rays, and further heated to form a cured film. Here, the drying conditions, ultraviolet irradiation conditions, and heating conditions are the same as those described in (1) a thin film forming step, (2) an exposure processing step, and (3) a heating step for promoting a reaction, respectively. The cured film of the present invention is insoluble in an aqueous alkaline solution. Here, the term “insoluble in an aqueous alkali solution” means that 180% aqueous solution of tetramethylammonium hydroxide at 20 ° C.
It means that the residual film ratio after dipping for ~ 300 seconds is 90% or more.

【0068】本発明の組成物を用いて多層配線板を製造
する場合には、導体配線が表面に形成された配線板の当
該表面に、本発明の組成物よりなる薄膜を形成し、この
薄膜に露光処理および現像処理を施すことにより、例え
ば前記導体配線に至る貫通孔が形成されてこれにより当
該導体配線が露出された状態の絶縁層を形成し、この絶
縁層の表面に、前記導体配線と導通する新たな導体配線
を形成する一連の工程を1回または複数回繰り返せばよ
い。すなわち、n番目の導体配線が表面に形成された配
線板に、本発明の組成物による絶縁層を形成し、この絶
縁層の表面に、n番目の導体配線と導通する(n+1)
番目の導体配線を、めっき処理などによって形成する工
程が含まれる。ここに、nは1以上の整数である。本発
明の組成物によれば、このような方法により、信頼性の
高い、高密度で高精度の耐熱性多層配線板を高い効率で
製造することができる。以下に、本発明の組成物を用い
て多層配線板を製造する方法について、工程順に具体的
に説明する。
When a multilayer wiring board is manufactured using the composition of the present invention, a thin film made of the composition of the present invention is formed on the surface of the wiring board on which the conductor wiring is formed, and this thin film is formed. Is subjected to an exposure treatment and a development treatment, for example, a through hole is formed to reach the conductor wiring, thereby forming an insulating layer in a state where the conductor wiring is exposed, and the conductor wiring is formed on the surface of the insulating layer. A series of steps of forming a new conductor wiring that conducts with the semiconductor device may be repeated once or a plurality of times. That is, an insulating layer made of the composition of the present invention is formed on the wiring board having the n-th conductive wiring formed on the surface, and the surface of the insulating layer is electrically connected to the n-th conductive wiring (n + 1).
Forming a third conductive wiring by plating or the like. Here, n is an integer of 1 or more. According to the composition of the present invention, a highly reliable, high-density, high-precision heat-resistant multilayer wiring board can be manufactured with high efficiency by such a method. Hereinafter, a method for producing a multilayer wiring board using the composition of the present invention will be specifically described in the order of steps.

【0069】(1)薄膜形成工程 この薄膜形成工程においては、例えば導体配線が基板の
表面に形成されてなる配線板の当該表面上に、当該導体
配線が覆われるように本発明の組成物を塗布し、乾燥処
理して組成物中の溶剤を加熱除去することにより薄膜を
形成する。
(1) Thin Film Forming Step In the thin film forming step, for example, the composition of the present invention is coated on the surface of a wiring board having conductive wiring formed on the surface of a substrate so that the conductive wiring is covered. A thin film is formed by applying, drying and removing the solvent in the composition by heating.

【0070】ここに、導体配線が形成される基板の材質
は特に限定されるものでなく、例えばガラスエポキシ樹
脂、紙補強フェノール樹脂、セラミック、ガラス、シリ
コンウエハなどを挙げることができる。塗布方法として
は、例えばスピンコート法、ロールコート法、カーテン
コート法、スクリーン印刷法、アプリケーター法などを
採用することができる。また、本発明の組成物を基体フ
ィルム上に製膜し乾燥させて、いわゆるドライフィルム
を作製し、これをラミネーターなどによって基板に貼り
合わせることにより薄膜を形成してもよい。この基体フ
ィルムとしては、透光性を有する、例えばポリエチレン
テレフタレート、ポリブチレンテレフタレートなどのポ
リエステル系フィルム、延伸ポリプロピレン、ポリスチ
レンなどのポリオレフィン系フィルムを使用することが
できる。ここに、基体フィルムが透光性を有するもので
ある場合には、当該基体フィルムを通して光照射して当
該薄膜を光硬化させることが可能となる。
Here, the material of the substrate on which the conductor wiring is formed is not particularly limited, and examples thereof include glass epoxy resin, paper-reinforced phenol resin, ceramic, glass, and silicon wafer. As a coating method, for example, a spin coating method, a roll coating method, a curtain coating method, a screen printing method, an applicator method, or the like can be adopted. Alternatively, the composition of the present invention may be formed on a base film and dried to form a so-called dry film, which may be laminated to a substrate by a laminator or the like to form a thin film. As the substrate film, a translucent polyester film such as polyethylene terephthalate or polybutylene terephthalate, or a polyolefin film such as stretched polypropylene or polystyrene can be used. Here, when the base film has a light-transmitting property, the thin film can be photo-cured by irradiating light through the base film.

【0071】塗布後における乾燥の条件は、本発明の組
成物に含まれる各成分の種類、配合割合、膜厚などによ
っても異なるが、通常、70〜130℃の温度で1〜4
0分間程度である。乾燥が不十分であると、残留する溶
剤によって薄膜の表面にべとつきが生じ、また、基板に
対する絶縁層の密着性が低下する。一方、乾燥が過度に
なされると、熱かぶりによって解像性の低下を招く。こ
の薄膜の乾燥は、オーブンやホットプレートなどの通常
の装置を用いて行われる。
The conditions for drying after coating vary depending on the type, blending ratio, film thickness and the like of each component contained in the composition of the present invention.
It takes about 0 minutes. If the drying is insufficient, the remaining solvent will cause the surface of the thin film to become sticky and reduce the adhesion of the insulating layer to the substrate. On the other hand, if drying is excessive, thermal fogging causes a reduction in resolution. The drying of the thin film is performed using a usual device such as an oven or a hot plate.

【0072】上記の薄膜形成工程において形成される薄
膜の乾燥後の膜厚は、例えば5〜100μmであり、1
0〜70μmであることが好ましい。膜厚が過少である
と十分な絶縁性を有する絶縁層を形成することができ
ず、一方、膜厚が多すぎると解像性の低下を招く。
The thickness of the thin film formed in the thin film forming step after drying is, for example, 5 to 100 μm.
It is preferably from 0 to 70 μm. If the film thickness is too small, an insulating layer having a sufficient insulating property cannot be formed, while if the film thickness is too large, the resolution is lowered.

【0073】(2)露光処理工程 この露光処理工程においては、薄膜形成工程によって配
線板上に形成された薄膜に所定のパターンのマスクを介
して波長200〜500nmの紫外線または可視光線を
照射して、薄膜の光照射領域(露光領域)を光硬化させ
る。露光処理装置としては、フュージョン、コンタクト
アライナー、ステッパー、ミラープロジェクターなどを
使用することができる。また露光処理に使用される光源
としては、例えば低圧水銀灯、高圧水銀灯、超高圧水銀
灯、メタルハライドランプ、アルゴンガスレーザ、X線
発生装置、電子線発生装置などを挙げることができる。
薄膜に対する露光量は、薄膜を構成する組成物における
各成分の種類、配合割合、膜厚などによっても異なる
が、例えば高圧水銀灯を使用する場合において100〜
2000mJ/cm2 である。
(2) Exposure Processing Step In this exposure processing step, the thin film formed on the wiring board in the thin film forming step is irradiated with ultraviolet light or visible light having a wavelength of 200 to 500 nm through a mask having a predetermined pattern. Then, the light irradiation area (exposure area) of the thin film is light-cured. As an exposure processing apparatus, a fusion, a contact aligner, a stepper, a mirror projector, or the like can be used. Examples of the light source used for the exposure treatment include a low-pressure mercury lamp, a high-pressure mercury lamp, an ultra-high-pressure mercury lamp, a metal halide lamp, an argon gas laser, an X-ray generator, and an electron beam generator.
The amount of exposure to the thin film varies depending on the type of each component in the composition constituting the thin film, the mixing ratio, the film thickness, and the like.
2000 mJ / cm 2 .

【0074】(3)反応促進用加熱工程 この反応促進用加熱工程においては、露光処理工程の後
の当該薄膜を、通常、温度70〜130℃で1〜20分
間程度加熱し、これにより、露光処理工程における光反
応による硬化に加えて、熱反応による薄膜の硬化を促進
させる。この加熱が過度であると熱かぶりによって解像
性の低下を招く。この加熱は、オーブンやホットプレー
トなどの通常の装置を用いて行われる。ただし、本発明
の組成物は、光硬化速度が大きく、しかも硬化性が優れ
ているので、この工程を省略することも可能である。
(3) Reaction-Promoting Heating Step In this reaction-promoting heating step, the thin film after the exposure treatment step is usually heated at a temperature of 70 to 130 ° C. for about 1 to 20 minutes, whereby In addition to curing by a light reaction in the processing step, the curing of the thin film by a thermal reaction is promoted. If the heating is excessive, thermal fogging causes a reduction in resolution. This heating is performed using a usual device such as an oven or a hot plate. However, since the composition of the present invention has a high photocuring rate and excellent curability, this step can be omitted.

【0075】(4)現像処理工程 この現像処理工程においては、非露光領域における組成
物を、アルカリ水溶液よりなる現像液に溶解させて除去
し、露光領域における組成物のみを残存させることによ
り、パターン形成を行う。ここに、現像液としては、例
えば水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウ
ム、ケイ酸ナトリウム、メタケイ酸ナトリウム、アンモ
ニア、エチルアミン、n−プロピルアミン、ジエチルア
ミン、ジ−n−プロピルアミン、トリエチルアミン、メ
チルジエチルアミン、ジメタノール・エタノールアミ
ン、トリエタノールアミン、テトラメチルアンモニウム
ヒドロキシド、テトラエチルアンモニウムヒドロキシ
ド、ピロール、ピペリジン、1,8−ジアザビシクロ
〔5.4.0〕−7−ウンデセン、1,5−ジアザビシ
クロ〔4.3.0〕−5−ノナンなどのアルカリ化合物
の水溶液を用いることができる。また、上記のアルカリ
類の水溶液にメチルアルコール、エチルアルコールなど
の水溶性有機溶剤や界面活性剤を適当量添加した水溶
液、または本発明の組成物を溶解する各種有機溶剤を現
像液として使用することができる。好ましい現像液とし
ては、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリ
ウム、テトラメチルアンモニウムヒドロキシドなどの、
濃度0.1〜6.0重量%の水溶液、特に0.5〜3.
0重量%の水溶液が好ましい。
(4) Developing Step In the developing step, the composition in the non-exposed area is removed by dissolving it in a developing solution composed of an aqueous alkali solution, and only the composition in the exposed area is left. Perform formation. Here, examples of the developer include sodium hydroxide, potassium hydroxide, sodium carbonate, sodium silicate, sodium metasilicate, ammonia, ethylamine, n-propylamine, diethylamine, di-n-propylamine, triethylamine, and methyldiethylamine. Dimethanol / ethanolamine, triethanolamine, tetramethylammonium hydroxide, tetraethylammonium hydroxide, pyrrole, piperidine, 1,8-diazabicyclo [5.4.0] -7-undecene, 1,5-diazabicyclo [4 .3.0] -5-nonane. Further, an aqueous solution obtained by adding an appropriate amount of a water-soluble organic solvent such as methyl alcohol or ethyl alcohol or a surfactant to the aqueous solution of the above alkalis, or various organic solvents that dissolve the composition of the present invention is used as a developer. Can be. Preferred developers include sodium hydroxide, potassium hydroxide, sodium carbonate, tetramethylammonium hydroxide, and the like.
An aqueous solution having a concentration of 0.1 to 6.0% by weight, particularly 0.5 to 3.
A 0% by weight aqueous solution is preferred.

【0076】現像方法としては、液盛り法、ディッピン
グ法、パドル法、スプレー、シャワー現像法などを挙げ
ることができる。現像処理後には、例えば流水洗浄を行
い、エアーガンなどを用いてあるいはオーブン内におい
て乾燥させる。この現像処理工程によって薄膜の一部が
除去されて例えば貫通孔が形成され、基板表面の導体配
線の一部が露出される結果、フォトビアホールを有する
絶縁層が形成される。
Examples of the developing method include a puddle method, a dipping method, a paddle method, a spray, and a shower developing method. After the development processing, for example, washing with running water is performed, and drying is performed using an air gun or the like or in an oven. In the development process, a part of the thin film is removed to form, for example, a through hole, and a part of the conductor wiring on the substrate surface is exposed. As a result, an insulating layer having a photo via hole is formed.

【0077】(5)熱硬化・後露光工程 本発明の組成物は光硬化性および熱硬化性の両方の性質
を有しており、この熱硬化・後露光工程において熱硬化
処理および/または後露光処理が行われることにより、
フォトビアホールを有する絶縁層の硬化が更に促進され
る。従って、この熱硬化・後露光工程は、絶縁層が十分
な硬化状態にあるときは不要となる工程である。熱硬化
処理は、ホットプレート、オーブン、赤外線オーブンな
どを用いて、絶縁層が熱劣化を起こさない温度条件、好
ましくは120〜180℃で30分間〜5時間程度の適
当な時間が選択されて行われる。また、後露光処理は、
露光処理工程で使用されるものと同様の光源および装置
を用いて、例えば100〜4000mJ/cm2 の露光
量で行うことができる。
(5) Thermosetting / Post-exposure Step The composition of the present invention has both photocuring and thermosetting properties. By performing the exposure process,
Curing of the insulating layer having photovia holes is further promoted. Therefore, this thermal curing / post-exposure step is unnecessary when the insulating layer is in a sufficiently cured state. The heat curing treatment is performed by using a hot plate, an oven, an infrared oven, or the like, at a temperature condition under which the insulating layer does not undergo thermal deterioration, preferably at 120 to 180 ° C. for an appropriate time of about 30 minutes to 5 hours. Will be Also, the post-exposure processing
Using the same light source and apparatus as those used in the exposure processing step, the exposure can be performed, for example, at an exposure amount of 100 to 4000 mJ / cm 2 .

【0078】(6)平坦化処理工程 この平坦化処理工程は、例えば平坦でない基板上に形成
された絶縁層を研磨処理することによって平坦化するた
めの任意の工程であり、平坦化されることによって、当
該絶縁層の表面に導体配線を形成する場合における回路
加工の精度を向上させることができる。ここに、研磨手
段としては、例えばバフロール、ナイロンブラシ、ベル
トサンダーなどの研磨手段を使用することができる。
(6) Flattening Step This flattening step is an optional step for flattening, for example, by polishing an insulating layer formed on a non-flat substrate. Thereby, the accuracy of circuit processing in the case of forming conductor wiring on the surface of the insulating layer can be improved. Here, as the polishing means, for example, a polishing means such as a baffle, a nylon brush, a belt sander or the like can be used.

【0079】(7)スルーホール形成工程 このスルーホール形成工程は、部品の挿入や他の配線板
との接続すなわち層間接続を達成するためにスルーホー
ルが必要とされる場合において、数値制御型ドリルマシ
ンなどを用いて機械的に穿孔加工を行う工程である。な
お、本発明の組成物を用いた製造方法によれば、フォト
ビアホールによって層間接続を行うことができるので、
このスルーホール形成工程は必要がある場合にのみ行わ
れる任意の工程である。
(7) Step of Forming Through Hole This step of forming a through hole is performed by a numerical control type drill when a through hole is required to insert a component or establish a connection with another wiring board, that is, an interlayer connection. This is a step of mechanically punching using a machine or the like. According to the manufacturing method using the composition of the present invention, interlayer connection can be performed by a photo via hole,
This through hole forming step is an optional step performed only when necessary.

【0080】(8)粗面化処理工程 この粗面化処理工程においては、上記の絶縁層の表面に
形成される導体配線の密着性を向上させるために、当該
絶縁層の表面が粗面化処理液によって粗面化される。粗
面化処理液としては、過マンガン酸カリウム水溶液、過
マンガン酸カリウムと水酸化ナトリウムとの混合水溶液
などのアルカリ性の処理液、無水クロム酸と硫酸との混
酸、その他の強酸化性を有するものが用いられる。これ
らのうち、過マンガン酸カリウムと水酸化ナトリウムと
の混合水溶液が特に好ましい。処理方法としては、50
〜90℃に加温した処理液中に5〜130分間絶縁層を
浸漬させればよい。なお、粗面化処理後においては、必
要に応じてシュウ酸などの弱酸水溶液により中和した
後、流水洗浄を十分に行うことが必要である。この粗面
化処理工程によって、絶縁層の表面、フォトビアホール
の側壁面およびスルーホールの側壁面は、例えば0.0
1〜10μmの凹凸形状を有する粗面状態となり、アン
カー効果によって導体配線を構成する銅めっき層に対し
て強固な密着力が発揮される。
(8) Surface Roughening Step In this surface roughening step, the surface of the insulating layer is roughened in order to improve the adhesion of the conductor wiring formed on the surface of the insulating layer. The surface is roughened by the processing liquid. Examples of the surface roughening treatment liquid include alkaline treatment liquids such as an aqueous solution of potassium permanganate, a mixed aqueous solution of potassium permanganate and sodium hydroxide, a mixed acid of chromic anhydride and sulfuric acid, and other substances having strong oxidizing properties. Is used. Among these, a mixed aqueous solution of potassium permanganate and sodium hydroxide is particularly preferred. The processing method is 50
What is necessary is just to immerse the insulating layer in the treatment liquid heated to 90 degreeC for 5-130 minutes. After the surface-roughening treatment, it is necessary to neutralize with a weak acid aqueous solution such as oxalic acid if necessary, and then sufficiently wash with running water. By the roughening process, the surface of the insulating layer, the side wall surface of the photo via hole, and the side wall surface of the through hole are reduced to, for example, 0.0%.
It becomes a rough surface state having an uneven shape of 1 to 10 μm, and a strong adhesion to the copper plating layer constituting the conductor wiring is exerted by the anchor effect.

【0081】(9)触媒処理工程 この触媒処理工程は、絶縁層の表面およびホールの内壁
表面に、次工程において無電解銅めっき処理を行う際の
析出核となるめっき触媒を担持させる工程である。ここ
に、めっき触媒としては、例えばパラジウムなどの金属
コロイドを使用することができ、当該金属コロイドが媒
体中に分散されてなる各種公知の処理液中に絶縁層を浸
漬させることにより、触媒の担持は達成される。なお、
本発明の組成物中には、めっき触媒を含有させることが
でき、この場合には、この工程を省略することができ
る。
(9) Catalyst Treatment Step This catalyst treatment step is a step in which a plating catalyst serving as a deposition nucleus when performing electroless copper plating in the next step is carried on the surface of the insulating layer and the inner wall surface of the hole. . Here, as the plating catalyst, for example, a metal colloid such as palladium can be used. By immersing the insulating layer in various known treatment liquids in which the metal colloid is dispersed in a medium, the catalyst is supported. Is achieved. In addition,
In the composition of the present invention, a plating catalyst can be contained, and in this case, this step can be omitted.

【0082】(10)新たな導体配線の形成工程 この新たな導体配線の形成工程は、例えば無電解銅めっ
き処理を行うことにより、フォトビアホールおよびスル
ーホールを介して、基板表面に既に形成されていた導体
配線(第1の導体配線)との電気的接続を実現しなが
ら、絶縁層の表面に新たな導体配線(第2の導体配線)
を形成する工程である。新たな導体配線の形成方法とし
ては、例えば以下に示す方法〜を挙げることができ
る。
(10) Step of Forming New Conductor Wiring In the step of forming a new conductor wiring, for example, an electroless copper plating process is performed to form a new conductor wiring on the substrate surface via photo via holes and through holes. New conductive wiring (second conductive wiring) on the surface of the insulating layer while realizing electrical connection with the conductive wiring (first conductive wiring)
Is a step of forming As a method for forming a new conductor wiring, for example, the following methods can be mentioned.

【0083】方法 触媒が担持された絶縁層表面の全域に無電解銅めっき処
理を行って銅めっき層を形成し、必要に応じて、当該銅
めっき層を電極とする電解銅めっき処理により所望の厚
みを有する銅金属層を形成し、この銅金属層上にレジス
トパターンを形成し、次いで銅金属層をエッチングして
導体パターンを形成する。ここで、レジストパターン
は、第2の導体配線が形成される領域のほかに、第1の
導体配線と第2の導体配線と間の層間接続用導体が形成
される層間接続用フォトビアホールの位置、すなわち導
体ランドが形成されるべき領域にも形成される。この導
体ランドの径は、位置ずれ誤差を考慮してフォトビアホ
ールの径よりも大きくすることが好ましい。レジストパ
ターンは、通常、フォトレジストを用いたフォトリソグ
ラフィーによって形成される。また、銅金属層のエッチ
ングは、過硫酸アンモニウム水溶液やアンモニア錯体系
のエッチング液により行われる。銅金属層のエッチング
が行われた後、レジストパターンは所定の方法で剥離除
去される。フォトレジストは、必要な解像性およびエッ
チング液に対する耐性を有し、後に除去できるものであ
ればよい。このようにして、基板の表面の第1の導体配
線と導通する第2の導体配線が絶縁層の上に形成され
る。
Method A copper plating layer is formed by performing electroless copper plating on the entire surface of the insulating layer on which the catalyst is supported, and a desired copper plating layer is formed by electrolytic copper plating using the copper plating layer as an electrode, if necessary. A copper metal layer having a thickness is formed, a resist pattern is formed on the copper metal layer, and then the copper metal layer is etched to form a conductor pattern. Here, in addition to the region where the second conductor wiring is formed, the resist pattern is located at the position of the interlayer connection photovia hole where the interlayer connection conductor between the first conductor wiring and the second conductor wiring is formed. That is, it is also formed in a region where a conductor land is to be formed. It is preferable that the diameter of the conductor land is larger than the diameter of the photo via hole in consideration of a displacement error. The resist pattern is usually formed by photolithography using a photoresist. The etching of the copper metal layer is performed using an ammonium persulfate aqueous solution or an ammonia complex-based etchant. After the copper metal layer is etched, the resist pattern is stripped and removed by a predetermined method. The photoresist only needs to have the required resolution and resistance to the etchant, and can be removed later. In this way, the second conductor wiring that is electrically connected to the first conductor wiring on the surface of the substrate is formed on the insulating layer.

【0084】方法 触媒が担持された絶縁層表面における新たな導体配線を
形成すべき領域以外の領域にレジストパターンを形成し
た後、無電解銅めっき処理および必要に応じて電解銅め
っき処理を行うことにより、絶縁層表面における新たな
導体配線を形成し、かつフォトビアホールの内壁表面に
銅めっき層を形成して、レジストパターンを剥離除去す
る。この方法においても、導体配線の幅をフォトビアホ
ールの径よりも大きくすることが好ましい。
Method: After forming a resist pattern in a region other than a region where a new conductor wiring is to be formed on the surface of the insulating layer carrying the catalyst, electroless copper plating and, if necessary, electrolytic copper plating are performed. Thus, a new conductor wiring is formed on the surface of the insulating layer, and a copper plating layer is formed on the inner wall surface of the photo via hole, and the resist pattern is peeled off. Also in this method, it is preferable that the width of the conductor wiring is larger than the diameter of the photo via hole.

【0085】方法 触媒が担持された絶縁層の表面全面に、めっき触媒を含
有していない感光性樹脂組成物を塗布して被覆層を形成
し、この被覆層をパターンマスクを通して露光して現像
することにより、当該被覆層にフォトビアホールを形成
すると共にそれに連続する第2の導体配線となる個所の
被覆層部分を除去し、その上で無電解銅めっきのみを行
う。この方法においても、導体配線の幅をフォトビアホ
ールの径よりも大きくすることが好ましい。また、被覆
層の厚さは、銅めっきによる銅金属層の厚さと同じか、
やや大きめであることが好ましい。この方法によれば、
形成される第2の導体配線は、被覆層の除去部分に形成
されると共に、残存被覆層による絶縁膜が絶縁層の上に
残存し、しかもこの残存被覆層と銅金属層の厚さが、通
常近似したものとなるため、外表面を平坦性に優れたも
のとすることができる。なお、以上の被覆層を形成する
ための感光性樹脂組成物として、本発明の組成物を用い
ることができる。
Method A coating layer is formed by applying a photosensitive resin composition containing no plating catalyst over the entire surface of the insulating layer supporting the catalyst, and the coating layer is exposed to light through a pattern mask and developed. As a result, a photovia hole is formed in the coating layer, and the coating layer portion that is to be the second conductor wiring following the photovia hole is removed, and only electroless copper plating is performed thereon. Also in this method, it is preferable that the width of the conductor wiring is larger than the diameter of the photo via hole. Also, the thickness of the coating layer is the same as the thickness of the copper metal layer by copper plating,
It is preferable that it is slightly larger. According to this method,
The formed second conductor wiring is formed in the portion where the coating layer is removed, and the insulating film of the remaining coating layer remains on the insulating layer, and the thickness of the remaining coating layer and the copper metal layer is reduced. Since the values are generally similar, the outer surface can have excellent flatness. The composition of the present invention can be used as a photosensitive resin composition for forming the above coating layer.

【0086】以上の工程(1)〜(10)を繰り返すこ
とにより、さらに多層化することができる。この場合に
おいて、新たな導体配線の形成工程(10)を実施する
際には、方法〜方法を組み合わせて多層化すること
もできる。
By repeating the above steps (1) to (10), a further multilayer can be obtained. In this case, when the step (10) of forming a new conductor wiring is performed, a multilayer can be formed by combining the methods.

【0087】なお、多層配線板の最上層となる絶縁層の
表面に導体配線を形成した後に、当該絶縁層と導体配線
との密着性を向上させる観点から、ポストベークを行う
ことが好ましい。最上層となるもの以外の絶縁層および
それに係る導体配線に対しては、その後の絶縁層の形成
における加熱工程において加熱されるため、特に単独の
工程としてポストベークを行う必要はない。
After the conductor wiring is formed on the surface of the insulating layer which is the uppermost layer of the multilayer wiring board, it is preferable to perform post-baking from the viewpoint of improving the adhesion between the insulating layer and the conductor wiring. Since the insulating layer other than the uppermost layer and the conductor wiring related thereto are heated in the subsequent heating step of forming the insulating layer, it is not particularly necessary to perform post-baking as a single step.

【0088】[0088]

【実施例】以下、本発明の実施例を具体的に説明する
が、本発明はこれらに限定されるものではない。また、
特に明示する場合を除き、「部」は「重量部」を、
「%」は「重量%」を示す。 〔A成分〕次の7種を用意した。
EXAMPLES Examples of the present invention will be specifically described below, but the present invention is not limited to these examples. Also,
Unless otherwise specified, "parts" refers to "parts by weight"
“%” Indicates “% by weight”. [Component A] The following seven types were prepared.

【0089】A1:クレゾールノボラック樹脂〔m−ク
レゾール:p−クレゾール=6:4(モル比)、重量平
均分子量Mw=11000〕 A2:クレゾールキシレノールノボラック樹脂〔m−ク
レゾール:p−クレゾール:3,5−キシレノール=
6:3:4(モル比)、重量平均分子量Mw=800
0〕 A3:フェノールノボラック樹脂〔重量平均分子量Mw
=6000〕 A4:ポリ(p−ビニルフェノール)〔丸善石化製、重
量平均分子量Mw=3000〕 A5:ポリ(臭素化p−ビニルフェノール)〔丸善石化
製「マルカリンカーMB」、重量平均分子量Mw=40
00〕 A6:ポリ(m−ビニルフェノール)〔重量平均分子量
Mw=3000〕
A1: Cresol novolak resin [m-cresol: p-cresol = 6: 4 (molar ratio), weight average molecular weight Mw = 11000] A2: Cresol xylenol novolak resin [m-cresol: p-cresol: 3,5] -Xylenol =
6: 3: 4 (molar ratio), weight average molecular weight Mw = 800
0] A3: phenol novolak resin [weight average molecular weight Mw
A4: Poly (p-vinylphenol) [Maruzensekika, weight average molecular weight Mw = 3000] A5: Poly (brominated p-vinylphenol) [Maruzenishika's “Marcalinker MB”, weight average molecular weight Mw = 40
A6: poly (m-vinylphenol) [weight average molecular weight Mw = 3000]

【0090】〔B成分〕次の3種のエポキシ変性粒子状
ゴムB1〜B3を製造した。 粒子状ゴムB1 ブタジエンと、メタクリル酸メチルと、メタクリル酸
と、ジビニルベンゼンとを重量比で70:25:4:1
の割合で混合してなる単量体組成物を乳化重合すること
により、平均粒径が0.058μmのカルボキシル基を
有する架橋重合体よりなる粒子状ゴム材M1を調製し、
この粒子状ゴム材10部に対して、エポキシ樹脂「エピ
コート828」(油化シェルエポキシ(株)製)100
部を、変性反応触媒として粒子状ゴム材に対して1%の
トリフェニルフォスフィンと共に添加し、90℃で約2
時間混合・攪拌することにより、エポキシ変性処理され
た粒子状ゴムB1を得た。
[Component B] The following three types of epoxy-modified particulate rubbers B1 to B3 were produced. Particulate Rubber B1 Butadiene, methyl methacrylate, methacrylic acid, and divinylbenzene are in a weight ratio of 70: 25: 4: 1.
By emulsion polymerization of the monomer composition obtained by mixing at a ratio of the above, a particulate rubber material M1 comprising a crosslinked polymer having a carboxyl group having an average particle size of 0.058 μm was prepared,
Epoxy resin “Epicoat 828” (manufactured by Yuka Shell Epoxy Co., Ltd.) 100 parts
Parts as a modification reaction catalyst together with 1% of triphenylphosphine based on the particulate rubber material, and added at 90 ° C. to about 2 parts.
By mixing and stirring for a time, an epoxy-modified particulate rubber B1 was obtained.

【0091】なお、この粒子状ゴムB1をテトラヒドロ
フランに溶解し、残存カルボキシル基(カルボン酸)を
フェノールフタレインを指示薬とした酸−塩基滴定法に
より定量したところ、カルボン酸は検出されず、当該粒
子状ゴムB1は表面のカルボキシル基がすべてエポキシ
基に変換されているものであった。 粒子状ゴムB2 ブタジエンと、アクリロニトリルと、メタクリル酸と、
ジビニルベンゼンとを重量比で67:30:2:1の割
合で混合してなる単量体組成物を乳化重合することによ
り、平均粒径が0.070μmのカルボキシル基を有す
る架橋重合体よりなる粒子状ゴム材を調製し、この粒子
状ゴム材15部に対して、エポキシ樹脂「EP−410
0E」(旭電化工業(株)製)100部を、変性反応触
媒として粒子状ゴム材に対して1%のトリフェニルフォ
スフィンと共に添加し、90℃で約2時間混合・攪拌す
ることにより、エポキシ変性処理された粒子状ゴムB2
を得た。 粒子状ゴムB3 ブタジエンと、アクリロニトリルと、メタクリル酸と、
ジビニルベンゼンとを重量比で77:19:3:1の割
合で混合してなる単量体組成物を乳化重合することによ
り、平均粒径が0.062μmのカルボキシル基を有す
る架橋重合体よりなる粒子状ゴム材を調製し、この粒子
状ゴム材10部に対して、エポキシ樹脂「EP−410
0E」(旭電化工業(株)製)100部を、変性反応触
媒として粒子状ゴム材に対して1%のトリフェニルフォ
スフィンと共に添加し、90℃で約2時間混合・攪拌す
ることにより、エポキシ変性処理された粒子状ゴムB3
を得た。
Incidentally, the particulate rubber B1 was dissolved in tetrahydrofuran, and the residual carboxyl group (carboxylic acid) was quantified by an acid-base titration method using phenolphthalein as an indicator. The rubber-like rubber B1 had all carboxyl groups on the surface converted to epoxy groups. Particulate rubber B2 butadiene, acrylonitrile, methacrylic acid,
Emulsion polymerization of a monomer composition obtained by mixing divinylbenzene with a weight ratio of 67: 30: 2: 1 results in a crosslinked polymer having a carboxyl group having an average particle size of 0.070 μm. A particulate rubber material was prepared, and an epoxy resin "EP-410" was added to 15 parts of the particulate rubber material.
0E "(manufactured by Asahi Denka Kogyo Co., Ltd.) as a modification reaction catalyst together with 1% of triphenylphosphine based on the particulate rubber material, and mixed and stirred at 90 ° C. for about 2 hours. Epoxy-modified particulate rubber B2
I got Particulate rubber B3 butadiene, acrylonitrile, methacrylic acid,
Emulsion polymerization of a monomer composition obtained by mixing divinylbenzene with a weight ratio of 77: 19: 3: 1 results in a crosslinked polymer having a carboxyl group having an average particle size of 0.062 μm. A particulate rubber material was prepared, and an epoxy resin “EP-410” was added to 10 parts of the particulate rubber material.
0E "(manufactured by Asahi Denka Kogyo Co., Ltd.) as a modification reaction catalyst together with 1% of triphenylphosphine based on the particulate rubber material, and mixed and stirred at 90 ° C. for about 2 hours. Epoxy-modified particulate rubber B3
I got

【0092】〔C成分〕オキセタニル基含有化合物とし
て次の2種類を用意した。 C1:1,4−ビス〔(3−エチル−3−オキセタニル
メトキシ)メチル〕ベンゼン C2:3−メチル−3−グリシジルオキシメチルオキセ
タンと3−フェニル−3−グリシジルオキシメチルオキ
セタンのアニオン共重合物(数平均分子量Mn=100
00) チイラニル基含有化合物として次の1種類を用意した。 C3:2,2‘−[(1−メチルエチリデン)ビス
(4,1−フェニレンオキシメチレン)]ビスチイラン
[Component C] The following two types of oxetanyl group-containing compounds were prepared. C1: 1,4-bis [(3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) methyl] benzene C2: Anion copolymer of 3-methyl-3-glycidyloxymethyloxetane and 3-phenyl-3-glycidyloxymethyloxetane ( Number average molecular weight Mn = 100
00) The following one kind was prepared as a thiiranyl group-containing compound. C3: 2,2 '-[(1-methylethylidene) bis (4,1-phenyleneoxymethylene)] bisthiirane

【0093】〔D成分〕次のアミノ樹脂2種を用意し
た。 D1:ヘキサメトキシメチル化メラミン D2:テトラメトキシメチル化グリコールウリル
[Component D] The following two amino resins were prepared. D1: Hexamethoxymethylated melamine D2: Tetramethoxymethylated glycoluril

【0094】〔E成分〕次の液状ゴム3種を用意した。 E1:ブタジエン−アクリロニトリル−メタクリル酸共
重合体〔ブタジエン:アクリロニトリル:メタクリル酸
=60:35:5(モル比)、数平均分子量Mn=60
00、ガラス転移点Tg−39℃〕 E2:ブタジエン−アクリロニトリル−ヒドロキシエチ
ルアクリレート−メタクリル酸共重合体〔ブタジエン:
アクリロニトリル:ヒドロキシエチルアクリレート=5
5:30:15(モル比)、数平均分子量Mn=800
0、ガラス転移点Tg−25℃〕 E3:ブタジエン−アクリロニトリル−ヒドロキシエチ
ルアクリレート−メタクリル酸共重合体〔ブタジエン:
アクリロニトリル:ヒドロキシエチルアクリレート:メ
タクリル酸=60:25:10:5(モル比)、数平均
分子量Mn=4500、ガラス転移点Tg−30℃〕
[Component E] The following three types of liquid rubber were prepared. E1: Butadiene-acrylonitrile-methacrylic acid copolymer [butadiene: acrylonitrile: methacrylic acid = 60: 35: 5 (molar ratio), number average molecular weight Mn = 60
E2: Butadiene-acrylonitrile-hydroxyethyl acrylate-methacrylic acid copolymer [butadiene:
Acrylonitrile: hydroxyethyl acrylate = 5
5:30:15 (molar ratio), number average molecular weight Mn = 800
E3: butadiene-acrylonitrile-hydroxyethyl acrylate-methacrylic acid copolymer [butadiene:
Acrylonitrile: hydroxyethyl acrylate: methacrylic acid = 60: 25: 10: 5 (molar ratio), number average molecular weight Mn = 4500, glass transition point Tg-30 ° C.]

【0095】〔F成分〕次の光重合開始剤3種を用意し
た。 F1:2,4−トリクロロメチル(4’−メトキシフェ
ニル)−6−トリアジン F2:2,4−トリクロロメチル(4’−メトキシスチ
リル)−6−トリアジン F3:ジフェニルヨードニウム−9,10−ジメトキシ
アントラセンスルホネート
[F Component] The following three photopolymerization initiators were prepared. F1: 2,4-trichloromethyl (4′-methoxyphenyl) -6-triazine F2: 2,4-trichloromethyl (4′-methoxystyryl) -6-triazine F3: diphenyliodonium-9,10-dimethoxyanthracene sulfonate

【0096】〔溶剤〕次の有機溶剤4種を用意した。 MMP:3−メトキシプロピオン酸メチル DAA:ジアセチルアセトン PGMEA:プロピレングリコールモノメチルエーテル
アセテート EEP:3−エトキシプロピオン酸エチル
[Solvent] The following four kinds of organic solvents were prepared. MMP: Methyl 3-methoxypropionate DAA: Diacetylacetone PGMEA: Propylene glycol monomethyl ether acetate EEP: Ethyl 3-ethoxypropionate

【0097】<実施例1〜10、比較例1〜7(組成物
の調製)>下記表1または表2に示す処方に従って、上
記のA成分〜F成分並びに必要に応じて溶剤を配合し、
得られた配合物の各々を、ヘンシェルミキサーにより混
合・攪拌を行うことにより、各例の感光性樹脂組成物を
調製した。
<Examples 1 to 10 and Comparative Examples 1 to 7 (Preparation of Composition)> According to the formulation shown in Table 1 or 2, the above components A to F and, if necessary, a solvent were blended.
Each of the obtained blends was mixed and stirred with a Henschel mixer to prepare a photosensitive resin composition of each example.

【0098】<組成物の性能評価および多層配線板の製
造> (1)感光特性評価テスト基板の作製および評価 銅金属層が一面に形成されたガラスエポキシ樹脂よりな
る板状体をテストピースとして用い、その当該一面上
に、実施例1〜10および比較例1〜7により調製され
た組成物の各々をスピンコータを用いて塗布し、熱風オ
ーブン内において90℃で10分間乾燥することによ
り、乾燥後の膜厚が約50μmの薄膜を形成した。
<Evaluation of Composition Performance and Production of Multilayer Wiring Board> (1) Preparation and Evaluation of Photosensitive Property Evaluation Test Board A plate made of glass epoxy resin having a copper metal layer formed on one surface is used as a test piece. On each of the surfaces, each of the compositions prepared in Examples 1 to 10 and Comparative Examples 1 to 7 was applied using a spin coater, and dried at 90 ° C. for 10 minutes in a hot air oven. A thin film having a thickness of about 50 μm was formed.

【0099】ここに得られたテストピースの各々につい
て、その薄膜に対し、直径がそれぞれ25μm、50μ
m、75μm、100μm、150μmおよび200μ
mの穿孔パターンが形成されたテスト用フィルムマスク
を介して露光を行った。露光処理は、オーク製作所製H
MW321B型露光装置を用い、コンタクトで1000
mJ/cm2 の露光量で行った。露光処理後のテストピ
ースを120℃で5分間加熱処理した後、0.75%の
テトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液中に表3
または表4に示す時間浸漬して揺動させることにより現
像処理を行い、銅金属層に至る貫通孔すなわちフォトビ
アホールを有する絶縁層を形成した。その後、当該絶縁
層が形成されたテストピースの各々を水洗し乾燥した。
Each of the test pieces obtained here had a diameter of 25 μm and 50 μm, respectively, with respect to the thin film.
m, 75 μm, 100 μm, 150 μm and 200 μ
Exposure was performed through a test film mask on which a perforated pattern of m was formed. The exposure process is H
Using MW321B type exposure equipment, 1000
The exposure was performed at an exposure amount of mJ / cm 2 . The test piece after the exposure treatment was heat-treated at 120 ° C. for 5 minutes, and then placed in a 0.75% tetramethylammonium hydroxide aqueous solution.
Alternatively, development processing was performed by immersing and rocking for the time shown in Table 4 to form an insulating layer having a through-hole reaching the copper metal layer, that is, a photo-via hole. Thereafter, each of the test pieces on which the insulating layer was formed was washed with water and dried.

【0100】解像性 ここに得られたテストピースの各々について解像性の評
価を行った。解像性の評価は、種々の大きさの径のフォ
トビアホールが形成されるようにフォトリソグラフィー
を実行し、その結果、銅金属層が露出されていることが
確認されたフォトビアホールのうち最小のものの直径
(これを「貫通孔最小径」という。)を測定することに
より行った。この貫通孔最小径の値が小さいものほど解
像性に優れていることを意味する。結果を表3および表
4に示す。熱ダレ・粗面状態 次に、絶縁層が形成されたテストピースの各々を、熱風
オーブン内において温度150℃で60分間加熱するこ
とにより硬化させた。この時のフォトビアホールの縁の
形状変化を電子顕微鏡にて観察し、熱ダレの有無を確認
した。その後、熱硬化したテストピースを、温度65℃
に維持された過マンガン酸カリウム−水酸化ナトリウム
水溶液(過マンガン酸カリウム濃度3%、水酸化ナトリ
ウム濃度2%)中に10分間浸漬することにより、絶縁
層の表面に対して粗面化処理を行い、その後、濃度5%
のシュウ酸水溶液中に室温で5分間浸漬することにより
中和処理し、さらに十分に水洗した。このテストピース
の各々について、絶縁層の表面状態を走査型電子顕微鏡
により観察してその粗面化処理の状態を評価した。結果
を表3および表4に示す。評価の方法は、当該表面が十
分に粗面化されて微細な凹凸が形成されている場合を
「良好」とし、それ以外を「不良」とした。
Resolution The resolution of each of the test pieces obtained here was evaluated. For the evaluation of resolution, photolithography was performed so that photovia holes of various sizes were formed, and as a result, the smallest of the photovia holes in which it was confirmed that the copper metal layer was exposed was confirmed. The measurement was performed by measuring the diameter of the object (this is referred to as “the minimum diameter of the through hole”). The smaller the value of the minimum diameter of the through hole, the better the resolution. The results are shown in Tables 3 and 4. Heat drooping-roughened state Next, each test piece which an insulating layer is formed and cured by heating for 60 minutes at a temperature 0.99 ° C. in a forced air oven. At this time, the shape change of the edge of the photo via hole was observed with an electron microscope, and the presence or absence of heat sag was confirmed. Thereafter, the heat-cured test piece was heated to a temperature of 65 ° C.
10 minutes in a potassium permanganate-sodium hydroxide aqueous solution (potassium permanganate concentration 3%, sodium hydroxide concentration 2%) maintained for 10 minutes to roughen the surface of the insulating layer. Done, then 5% concentration
Of oxalic acid at room temperature for 5 minutes for neutralization treatment, and further sufficiently washed with water. For each of the test pieces, the surface state of the insulating layer was observed with a scanning electron microscope to evaluate the state of the surface roughening treatment. The results are shown in Tables 3 and 4. The evaluation method was “good” when the surface was sufficiently roughened and fine irregularities were formed, and “poor” otherwise.

【0101】ピール強度 また、テストピースの各々を塩化パラジウム系の触媒液
中に室温下6分間浸漬することにより、粗面化された絶
縁層の表面および貫通孔の内面にめっき触媒を担持さ
せ、さらに触媒活性化液中に室温で8分間浸漬してめっ
き触媒を活性化させた。その後、テストピースの各々を
水洗した後、室温で20分間にわたって無電解銅めっき
処理を行った。この処理では、触媒液、触媒活性化液お
よび無電解銅めっき液として「OPCプロセスMシリー
ズ」(奥野製薬(株)製)のものを用いた。次に、硫酸
銅−硫酸水溶液(硫酸銅濃度210g/L、硫酸濃度5
2g/L、pH=1.0)よりなる電解銅めっき液を用
い、3.0mA/dmの電流密度で電解銅めっき処理を
行い、合計の厚みが約20μmの銅金属層を絶縁層の表
面全体にわたって形成し、その後、当該テストピースを
150℃で1時間加熱処理した。これらのテストピース
の表面に1cm間隔の切り込みを形成し、端面から、ピ
ールテスターで剥離させることにより、銅金属層のピー
ル強度(JIS C 6481)を測定した。このピー
ル強度は、10cm引き剥がした中での最頻値である。
結果を表3および表4に示す。
Peel strength Each of the test pieces was immersed in a palladium chloride-based catalyst solution at room temperature for 6 minutes to allow the plating catalyst to be carried on the surface of the roughened insulating layer and the inner surface of the through hole. The plating catalyst was activated by immersing it in a catalyst activating solution at room temperature for 8 minutes. Thereafter, each of the test pieces was washed with water, and then subjected to electroless copper plating at room temperature for 20 minutes. In this treatment, "OPC Process M Series" (manufactured by Okuno Pharmaceutical Co., Ltd.) was used as a catalyst solution, a catalyst activation solution and an electroless copper plating solution. Next, a copper sulfate-sulfuric acid aqueous solution (copper sulfate concentration 210 g / L, sulfuric acid concentration 5
(2 g / L, pH = 1.0), using an electrolytic copper plating solution with a current density of 3.0 mA / dm, to form a copper metal layer having a total thickness of about 20 μm on the surface of the insulating layer. The test piece was heat-treated at 150 ° C. for 1 hour. Cuts at 1 cm intervals were formed on the surfaces of these test pieces, and the test pieces were peeled from the end faces with a peel tester to measure the peel strength (JIS C 6481) of the copper metal layer. This peel strength is the mode value after peeling off 10 cm.
The results are shown in Tables 3 and 4.

【0102】(2)ガラス転移点の測定 ポリエチレンテレフタレートフィルムの一面に離型剤を
塗布し、その一面上に上記(1)と同様の方法により厚
さ50μmの薄膜を形成し、この薄膜の全体に対して1
000mJ/cm2 の露光量で露光処理した後、150
℃で2時間加熱して硬化させて本発明の組成物によるフ
ィルムを形成し、ポリエチレンテレフタレートフィルム
から剥離してテストフィルムを得た。このテストフィル
ムについて、弾性率測定装置「レオバイブロンRHEO
−1021」(オリエンテック社)により周波数10H
zにて弾性率変化を測定し、tanδのピークトップを
ガラス転移点の値として求めた。結果を表3および表4
に示す。
(2) Measurement of glass transition point A release agent was applied to one surface of a polyethylene terephthalate film, and a thin film having a thickness of 50 μm was formed on one surface by the same method as in the above (1). 1 for
After exposure at an exposure of 000 mJ / cm 2 ,
A film was formed by heating at 2 ° C. for 2 hours to form a film of the composition of the present invention, and peeled from the polyethylene terephthalate film to obtain a test film. About this test film, the elastic modulus measuring device “Rheoviblon RHEO”
-1021 "(Orientec) with frequency 10H
The change in elastic modulus was measured at z, and the peak top of tan δ was determined as the value of the glass transition point. Tables 3 and 4 show the results.
Shown in

【0103】[0103]

【表1】 [Table 1]

【0104】[0104]

【表2】 [Table 2]

【0105】[0105]

【表3】 [Table 3]

【0106】[0106]

【表4】 [Table 4]

【0107】[0107]

【発明の効果】本発明に係る感放射線性樹脂組成物は、
小径のフォトビアホールを高い精度で形成することがで
きる優れた解像性を有し、アルカリ水溶液により現像す
ることができ、耐めっき液性および導体配線の密着性に
優れた絶縁層を形成することができる。特に現像処理後
の絶縁層の熱ダレが起こりがたいので高精度のパターン
が得られる。従って当該組成物を使用することにより、
信頼性の高い多層配線板を効率よく製造することができ
る。
The radiation-sensitive resin composition according to the present invention comprises:
Forming an insulating layer with excellent resolution that can form small-diameter photo via holes with high precision, that can be developed with an alkaline aqueous solution, and that has excellent plating solution resistance and adhesion of conductor wiring Can be. In particular, since heat sagging of the insulating layer after the development processing hardly occurs, a highly accurate pattern can be obtained. Therefore, by using the composition,
A highly reliable multilayer wiring board can be manufactured efficiently.

─────────────────────────────────────────────────────
────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成9年11月14日[Submission date] November 14, 1997

【手続補正1】[Procedure amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0046[Correction target item name] 0046

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【0046】[0046]

【化6】 Embedded image

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐藤 穂積 東京都中央区築地二丁目11番24号 日本合 成ゴム株式会社内 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (72) Inventor Hozumi Sato 2--11-24 Tsukiji, Chuo-ku, Tokyo Inside Nippon Gosei Rubber Co., Ltd.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 下記のA成分〜C成分を含有することを
特徴とする感放射線性樹脂組成物。 〔A成分〕アルカリ可溶性樹脂 〔B成分〕エポキシ化合物 〔C成分〕分子内にオキセタニル基及びチイラニル基か
らなる群から選ばれる基を有する化合物
1. A radiation-sensitive resin composition comprising the following components A to C: [Component A] Alkali-soluble resin [Component B] epoxy compound [Component C] Compound having a group selected from the group consisting of an oxetanyl group and a thiiranyl group in the molecule
【請求項2】請求項1記載の組成物を硬化してなるアル
カリ水溶液に不溶である硬化膜。
2. A cured film obtained by curing the composition according to claim 1, which is insoluble in an aqueous alkali solution.
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