JPH05188593A - Inproved composition for photoimaging - Google Patents

Inproved composition for photoimaging

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JPH05188593A
JPH05188593A JP10341192A JP10341192A JPH05188593A JP H05188593 A JPH05188593 A JP H05188593A JP 10341192 A JP10341192 A JP 10341192A JP 10341192 A JP10341192 A JP 10341192A JP H05188593 A JPH05188593 A JP H05188593A
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photoinitiator
weight
resin
resin system
epoxy
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Aldrich Card Norman Jr
ノーマン・オールドリツチ・カード・ジユニア
Richard A Dayan
リチヤード・アレン・デイ
Gosal Lamchrishner
ラムクリシユナ・ゴーサル
Herman Glatzel Donald
ドナルド・ハーマン・グラーツエル
John Russell David
デイビツド・ジヨン・ラツセル
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  • Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE: To provide an improved cationic polymerizable epoxy-base coating material capable of photoimaging. CONSTITUTION: This improved compsn. contains an epoxy resin system consisting essentially of about 10-80wt.% polyol resin as a condensation product of epichlorohydrin and bisphenol A and about 20-90wt.% epoxidized octafunctional bisphenol A-formaldehyde novolak resin or further contg. about 35-50wt.% epoxidized glycidyl ether of tetrabromobisphenol A if flame resistance is required and contains a cationic photoinitiator capable of initiating the polymn. of the epoxy resin system at the time of exposure with chemical radiation by about 0.1-15 pts.wt. per 100 pts.wt. of the resins. The epoxy resin system has light absorption of <0.1 in the region of 330-700nm in the case of 2.0mil (0.05mm) thickness of a film and contains an effective amt. of silica as a thixotropic agent.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【技術分野】本発明は一般的にフォトイメージ化可能な
組成物に関し、さらに詳細には光開始剤と場合により増
感剤とをもつカチオン重合可能なエポキシ樹脂系に関す
るもので、この樹脂系は改善されたレオロジー的特性と
改良されたフォトイメージング特性とを有するものであ
る。
TECHNICAL FIELD The present invention relates generally to photoimageable compositions, and more particularly to cationically polymerizable epoxy resin systems having a photoinitiator and optionally a sensitizer. It has improved rheological properties and improved photoimaging properties.

【0002】[0002]

【背景技術】フォトイメージ化可能な組成物が各種の産
業上のプロセスに利用されている多数の様々な実例があ
る。特定の方法の1つに、フォトイメージ可能な組成物
は、はんだマスクとして基底となっている印刷回路盤に
対して組成物を施用することによって利用されている。
はんだを各種のはんだ付け方法によって露出した構造に
対して施用できるように、基底の構造以外の部分をマス
キングする一方で、回路盤上の各種の基底構造を露見さ
せるために、フォトリソグラフィー技術が採用される。
はんだ付け工程に際し、はんだはこの露出した基底構造
部分に付着し、そしてはんだマスクとして残留材料が作
用する所では付着が妨げられるのである。
BACKGROUND OF THE INVENTION There are many different examples of photoimageable compositions being utilized in various industrial processes. In one particular method, the photoimageable composition has been utilized by applying the composition to the underlying printed circuit board as a solder mask.
Photolithography technology is used to expose various base structures on the circuit board while masking parts other than the base structure so that solder can be applied to exposed structures by various soldering methods. To be done.
During the soldering process, solder adheres to this exposed underlying structure and is prevented from adhering where the residual material acts as a solder mask.

【0003】はんだマスク用の材料は、例えばカーテン
塗布のような適切な方法で施用することができるように
処方することが肝要であり、効果的に塗布するためには
ある種のレオロジー的特性を要求されるものである。さ
らに、はんだマスクは塗布されている材料のどのような
厚みを通じても光開始剤が光分解できるように、光また
はその他の放射線の効率的な透過を与えるような特性を
もたねばならない。また当然に、材料をはんだマスクと
して用いるとき、このはんだマスクはマスクしている盤
の部分の被覆を維持し、著るしい劣化や変質をすること
なしにはんだ材料の施用に耐える適切な物理的および化
学的の特性をもたねばならない。もし別の目的に用いら
れるのであれば他の特性を必要とされよう。
Materials for solder masks must be formulated so that they can be applied by any suitable method, such as curtain coating, and certain rheological properties are required for effective coating. It is required. In addition, the solder mask must have the property of providing efficient transmission of light or other radiation so that the photoinitiator can photolyze through any thickness of the material being coated. And, of course, when the material is used as a solder mask, this solder mask maintains the coating on the part of the board being masked, and it has a suitable physical resistance to withstand the application of the solder material without significant deterioration or alteration. And must have chemical properties. Other properties may be needed if used for different purposes.

【0004】エポキシを利用する多くのものを含め、フ
ォトイメージ化可能な各種組成物について多数の先行技
術の提案がある。これらの実例は以下の各米国特許に見
られる:4,279,985号;4,548,890号;
4,351,708号;4,138,255号;4,069,
055号;4,250,053号;4,058,401号;
4,659,649号;4,544,623号;4,684,
671号;4,624,912号;4,175,963号;
4,081,276号;4,693,961号;および4,
442,197号などである。これらの各特許はフォト
イメージ可能な組成物に用いるために各種の樹脂と光開
始剤とを示しており、その多くははんだマスクとして有
用である。しかしながら、本発明の特定の組成を教示な
いし暗示しているものは1つもない。
There are numerous prior art proposals for various photoimageable compositions, including many that utilize epoxies. Examples of these can be found in the following US patents: 4,279,985; 4,548,890;
4,351,708; 4,138,255; 4,069,
055; 4,250,053; 4,058,401;
4,659,649; 4,544,623; 4,684,
671; 4,624,912; 4,175,963;
4,081,276; 4,693,961; and 4,
442,197, etc. Each of these patents describes various resins and photoinitiators for use in photoimageable compositions, many of which are useful as solder masks. However, none teaches or implies a particular composition of the invention.

【0005】[0005]

【発明の要点】本発明によれば改良されたフォトイメー
ジ化可能なカチオン重合性のエポキシベース塗布材料が
提供される。この材料は、エピクロヒドリンとビスフェ
ノールAとの縮合生成物で、分子量約40,000ない
し130,000のポリオールのような高分子量ポリオ
ール樹脂約10ないし80重量パーセント;分子量4,
000ないし10,000のエポキシ化された8官能性
ビスフェノールAノボラック樹脂のような中程度分子量
のポリエポキシ樹脂90重量パーセントまで;およびも
し難燃性を望むならば、好ましくは約90℃ないし11
0℃の融点および約600ないし2,500の分子量を
もつ、テトラブロモビスフェノールAのエポキシ化され
たグリシジルエーテルのような低分子量の臭素化エポキ
シ樹脂約35ないし90重量パーセントから本質的に構
成されるエポキシ樹脂系を包含している。この樹脂系に
対して、化学放射線に対する露光の際に前記のエポキシ
樹脂系の重合を開始しうるカチオン性光開始剤を樹脂1
00部当り約0.1〜15部添加し;場合により、所望
の波長において露光ないし強化するために増感剤を約1
0重量部まで添加することができ;そして光開始剤と増
感剤とを除いた樹脂系は、2.0ミル(0.05mm)厚み
のフィルムに対して330〜700nmの波長域中での吸
光度が0.1未満であるという特徴を更に有している。
SUMMARY OF THE INVENTION In accordance with the present invention, improved photoimageable, cationically polymerizable, epoxy-based coating materials are provided. This material is a condensation product of epichlorohydrin and bisphenol A, about 10 to 80 weight percent of a high molecular weight polyol resin such as a polyol having a molecular weight of about 40,000 to 130,000;
Up to 90 weight percent of a medium molecular weight polyepoxy resin such as 000 to 10,000 epoxidized octafunctional bisphenol A novolac resin; and, if flame retardancy is desired, preferably about 90 ° C to 11 ° C.
Consisting essentially of about 35 to 90 weight percent of a low molecular weight brominated epoxy resin, such as an epoxidized glycidyl ether of tetrabromobisphenol A, having a melting point of 0 ° C. and a molecular weight of about 600 to 2,500. Includes epoxy resin systems. To this resin system was added a cationic photoinitiator capable of initiating the polymerization of the epoxy resin system described above upon exposure to actinic radiation, Resin 1.
Add about 0.1 to 15 parts per 100 parts; optionally about 1 sensitizer to expose or enhance at the desired wavelength.
0 parts by weight can be added; and the resin system, excluding the photoinitiator and sensitizer, can be used in the wavelength range of 330 to 700 nm for 2.0 mil (0.05 mm) thick films. It further has a feature that the absorbance is less than 0.1.

【0006】 〔発明の具体的説明〕本発明はフォトイメージ化可能な
塗布材料を提供するものであり、これは光開始剤と場合
により増感剤とを含有するカチオン重合可能なエポキシ
樹脂系を混ぜたものである。1つの具体例として、この
系は、印刷回路基板上のはんだマスクとして使用するた
めおよびカーテン塗布技術による施工用に特別に開発さ
れた。しかしながら、この系はエッチマスクのような他
の用途に使用することができ、またローラー塗布のよう
な別の方法で塗布することもできる。他の具体例におい
て、この系はスクリーン塗布に特に採用されている。は
んだマスクの特定の利用の一つにおいて、フォトイメー
ジ化可能の材料は基板上に普通のカーテン塗布法によ
り、約0.5〜4.0ミル(0.013〜0.10mm)また
はこれ以上の厚みにカーテン塗布し、乾燥し、イメージ
化しそして現像される。現像された区域は基板の基底に
ある所望の金属化されている、はんだを施用すべき部分
を露見させ、残留するはんだマスク材料は硬化せしめら
れ、そして通常の技法によりはんだが施用される間、は
んだマスクとして基板上にとどまっている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention provides a photoimageable coating material which comprises a cationically polymerizable epoxy resin system containing a photoinitiator and optionally a sensitizer. It is a mixture. In one embodiment, this system was specially developed for use as a solder mask on printed circuit boards and for application by curtain coating techniques. However, this system can be used for other applications such as etch masks and can be applied by other methods such as roller coating. In another embodiment, this system is especially adapted for screen coating. In one particular application of the solder mask, the photoimageable material is about 0.5 to 4.0 mils (0.013 to 0.10 mm) or more by conventional curtain coating methods on the substrate. It is curtain coated to thickness, dried, imaged and developed. The developed area exposes the desired metallization at the base of the substrate where the solder should be applied, the remaining solder mask material is allowed to cure, and while solder is applied by conventional techniques, Remains on the substrate as a solder mask.

【0007】このように、本発明の系はカーテン塗布ま
たはスクリーン塗布技法により施用するために充分なレ
オロジー的特性をもたねばならず、光開始剤が光活性で
ある領域内の放射線に対する露光に敏感でなければなら
ず、またはんだ付け工程中の劣化に抵抗するため必要な
物理的および化学的の諸特性をももたねばならない。従
来、はんだマスクははんだ付けの後も基板上にとどま
り、それ故に、多くの利用に対して、火または焔に耐え
るものでなければならない。このような塗料の処方に際
して、所望の最終製品を提供するために考慮しなければ
ならない多数の拮抗する考え方がある。各種の要求のす
べてを満たす特定のタイプの材料は見つかっていない
が、本発明による各種のエポキシ樹脂の組み合わせまた
は混合の処方は、塗布しうるフォトイメージ化可能な難
燃性のはんだマスク組成物用に必要とされる諸特性を備
えている。
Thus, the system of the present invention must have sufficient rheological properties to be applied by curtain coating or screen coating techniques, and exposure to radiation in the region where the photoinitiator is photoactive. It must be sensitive or have the necessary physical and chemical properties to resist degradation during the soldering process. Traditionally, solder masks must remain on the substrate after soldering and, therefore, must withstand fire or flame for many uses. In formulating such paints, there are a number of competing ideas that must be considered in order to provide the desired end product. Although no specific type of material has been found that meets all of the various requirements, the combination or blend formulation of various epoxy resins according to the present invention is suitable for photoimageable flame retardant solder mask compositions that can be applied. It has various characteristics required for.

【0008】一般的に、このエポキシ樹脂系はエピクロ
ヒドリンとビスフェノールAとの間の縮合生成物である
高分子量のフェノキシポリオール樹脂から本質的に構成
される。このタイプの適当な樹脂はPKHCの商標の下
にユニオンカーバイド社から販売されている。この樹脂
はkg当り約0.3当量のエポキサイド値、すなわちエポ
キサイド当り約37,000の重量、および約98℃の
Tg(ガラス転移温度)を有している。この系の第2の
樹脂は中程度の分子量をもつ、エポキシ化された8官能
性ビスフェノールAホルムアルデヒドノボラック樹脂の
ようなポリエポキシ樹脂である。このタイプの適当な樹
脂はエピレズ(EpiRez)SU−8の商標の下にローン−
プーラン社により販売されている。この樹脂はkg当り約
4.7当量のエポキサイド値、すなわちエポキサイド当
り約215の重量、および約82℃の融点を有してい
る。これらの2つの樹脂ははんだマスク用のカーテン塗
布に必要なレオロジー的、フォトリソグラフィー的およ
び物理的諸特性を備えている。
Generally, the epoxy resin system consists essentially of a high molecular weight phenoxypolyol resin which is the condensation product between epichlorohydrin and bisphenol A. A suitable resin of this type is sold by Union Carbide under the trademark PKHC. This resin has an epoxide value of about 0.3 equivalents per kg, that is, a weight of about 37,000 per epoxide, and a Tg (glass transition temperature) of about 98 ° C. The second resin of this system is a medium molecular weight, polyepoxy resin such as an epoxidized octafunctional bisphenol A formaldehyde novolac resin. A suitable resin of this type is loaned under the trademark EpiRez SU-8-
Sold by Poulin. This resin has an epoxide value of about 4.7 equivalents per kg, ie a weight of about 215 per epoxide and a melting point of about 82 ° C. These two resins have the rheological, photolithographic and physical properties necessary for curtain coating for solder masks.

【0009】多くの場合に難燃性は望ましいことである
が、これら2つの樹脂は各種の利用に対し適切な難燃性
を示さない。このような場合、この系中の第3の樹脂は
テトラブロモビスフェノールAのエポキシ化グリシジル
エーテルのような、低分子量の高軟化点臭素化エポキシ
樹脂である。このタイプの適当な樹脂もエピレズ518
3の商標名の下にローン−プーラン社から販売されてい
る。この樹脂はkg当り約1.5当量のエポキサイド値、
エポキサイド当り約675の重量、および約97℃の融
点を有している。一定の分子量の範囲内で選ばれる前記
のそれぞれのエポキシ樹脂がある割合で配合される。
Although flame retardancy is desirable in many cases, these two resins do not exhibit adequate flame retardancy for various applications. In such cases, the third resin in the system is a low molecular weight, high softening point brominated epoxy resin, such as the epoxidized glycidyl ether of tetrabromobisphenol A. Suitable resin of this type is also Epirez 518
It is sold by Loan-Poulin under the brand name of 3. This resin has an epoxide value of about 1.5 equivalents per kg,
It has a weight of about 675 per epoxide and a melting point of about 97 ° C. Each of the above epoxy resins selected within a certain molecular weight range is blended in a certain ratio.

【0010】化学放射線に対する適切な光応答を具備さ
せるために、スルホニウム塩、ヨードニウム塩、および
フェロセン塩のような各種の光開始剤がこの樹脂系に対
し添加される。この樹脂系はカチオン性光硬化が可能で
あるから、光開始剤は放射線に対する露光に際し樹脂の
カチオン重合を生じ得るものでなければならない。特に
好ましい光開始剤の一つは、UVE 1014の商標名
の下にゼネラルエレクトリック社により販売されてい
る、トリアリールスルホニウムヘキサフルオロアンチモ
ネート塩コンプレックスである。FX 512の商標名
の下に3M社により販売されている、トリフェニルスル
ホニウムヘキサフルオロホスフェート塩のような別の光
開始剤、およびジフェニルヨードニウムヘキサフルオロ
アンチモネートを使用することもできる。場合により、
アンスラセンまたはその誘導体もしくはペリレンまたは
その誘導体のような増感剤を添加することもでき、これ
によりフォトイメージングおよび/または波長感度性の
応答速度を増大させることができる。
Various photoinitiators such as sulfonium salts, iodonium salts, and ferrocene salts are added to the resin system to provide the appropriate photoresponse to actinic radiation. Since this resin system is cationically photocurable, the photoinitiator must be capable of causing cationic polymerization of the resin upon exposure to radiation. One particularly preferred photoinitiator is the triarylsulfonium hexafluoroantimonate salt complex sold by General Electric Company under the trade name UVE 1014. It is also possible to use another photoinitiator, such as the triphenylsulfonium hexafluorophosphate salt, sold by 3M under the trade name FX 512, and diphenyliodonium hexafluoroantimonate. In some cases
Sensitizers such as anthracene or its derivatives or perylene or its derivatives can also be added, which can increase the response speed of photoimaging and / or wavelength sensitivity.

【0011】ポリオール樹脂はその10ないし80%が
一般に40,000ないし130,000の分子量をもつ
のが好ましく、またエポキシ化されているノボラック樹
脂はその90%までが約4,000ないし10,000の
分子量をもつのが好ましいことが認められている。これ
は難燃性が問題とならないもっとも一般的な場合のこと
である。しかしながら、難燃性が要求特性でない場合は
しばしば望ましいものである。このような場合は、ポリ
オール樹脂は一般にその約20ないし40%好ましくは
25ないし35%が40,000ないし130,000の
分子量をもつもの、またさらに特定的かつ好ましくは6
0,000ないし90,000の分子量をもつものを使用
できることが認められている。エポキシ化ノボラック樹
脂はその約25ないし35%好ましくは25ないし30
%が一般に約4,000ないし10,000、好ましくは
約5,000ないし7,000の分子量をもつものを使用
することができる。エポキシ化されたブロム化ビスフェ
ノールAの約35ないし65%が、さらに好ましくは約
40ないし45%が一般的に約600ないし2,50
0、好ましくは1,000ないし1,700の分子量のも
のを用いることができる。光開始剤と、場合により望む
ならば光増感剤がこの樹脂系に添加される。樹脂系の1
00部を基準に約0.1ないし約15重量部の光開始剤
が普通であり、要求されてもなおかつ任意的なものとし
て樹脂系の100部を基準に約10重量部までの光増感
剤を使用することができる。
It is preferred that 10 to 80% of the polyol resins generally have a molecular weight of 40,000 to 130,000, and up to 90% of the epoxidized novolak resins are about 4,000 to 10,000. It has been found to be preferred to have a molecular weight of This is the most common case where flame retardancy is not an issue. However, if flame retardancy is not a required property, it is often desirable. In such a case, the polyol resin is generally one in which about 20 to 40%, preferably 25 to 35%, has a molecular weight of 40,000 to 130,000, and more particularly and preferably 6
It is recognized that ones having a molecular weight of 000 to 90,000 can be used. The epoxidized novolac resin is about 25 to 35% thereof, preferably 25 to 30%.
It is possible to use those in which the% generally has a molecular weight of about 4,000 to 10,000, preferably about 5,000 to 7,000. About 35 to 65%, more preferably about 40 to 45% of the epoxidized brominated bisphenol A is generally about 600 to 2,50.
It is possible to use those having a molecular weight of 0, preferably 1,000 to 1,700. A photoinitiator and optionally a photosensitizer are added to this resin system. Resin type 1
About 0.1 to about 15 parts by weight of photoinitiator based on 00 parts is common and, if required and optional, up to about 10 parts by weight photosensitization based on 100 parts of the resin system. Agents can be used.

【0012】所望の特性値に最適合化するため、特定の
組成が選定される。例えば、PKHCは塗布される材料
のレオロジーを調整し、エピレズ5183は材料に難燃
性を付与し、そしてエピレズSU−8は迅速な感光速度
を与えかつ解像性を改善する。それぞれの樹脂の特定の
分量の選定に際して、樹脂のどれか1つの濃度の増加は
それに関連する性質が増大するものと当然に理解される
が、特定の樹脂のどれか1つの増加は残る樹脂の1つま
たは2つの濃度は減少を必要とし、これはこれらのもの
に関連した特定の特性の機能の減少を招くであろう。前
記した広い範囲のパーセント以下へいずれかの樹脂が減
少すると、カーテン塗布可能なまたはスクリーン塗布可
能な、難燃性で高解像度の、フォトイメージ化可能なは
んだマスク材料の特定の目的には受け入れ難い性質を招
来するであろう。
A particular composition is chosen to optimize the desired characteristic values. For example, PKHC adjusts the rheology of the applied material, Epirez 5183 imparts flame retardancy to the material, and Epirez SU-8 provides fast photosensitivity and improved resolution. It will be appreciated that in selecting a particular amount of each resin, increasing the concentration of any one of the resins will increase the properties associated with it, while increasing any one of the specific resins will result in One or two concentrations will require a reduction, which will result in a decrease in the function of certain properties associated with them. Reduction of either resin below the broad range of percentages mentioned above is unacceptable for the specific purpose of flame-retardant, high-resolution, photoimageable solder mask materials that are curtain coatable or screen coatable. Will invite nature.

【0013】PKHC量を減少するにつれて、得られる
レオロジー性は材料を施用するとき被覆性の低下を来た
し、得られる材料は極めてもろくなる。エピレズ518
3の減少により、得られる系は難燃特性が減少し、そし
てもし特定されている広い範囲の下限以下となると、難
燃特性は特定の工業的な要件、例えばUL 94 VO燃
焼性要件に合致しなくなろう。しかしながら、エピレズ
5183はどのような量でもいくらかの難燃特性を与え
るものである。エピレズSU−8濃度を減少したとき
は、よりおそい感光速度と低い解像力とが材料の処方の
バランスをとる結果となり、これらの要件はすべて考慮
されねばならず、また所望の結果を得るために、満足な
特性値を与えるよう、最終製品は最適化されねばならな
い。
As the amount of PKHC is reduced, the rheological properties obtained lead to a lower coverage when the material is applied, and the resulting materials become very brittle. Epiles 518
A reduction of 3 reduces the flame-retardant properties of the resulting system, and if below the specified broad range lower limit, the flame-retardant properties meet certain industrial requirements, such as UL 94 VO flammability requirements. I will not do it. However, Epirez 5183 does provide some flame retardant properties in any amount. When Epirez SU-8 concentration is reduced, a slower photospeed and lower resolution result in a balance of material prescriptions, all of these requirements must be considered and to obtain the desired result, The final product must be optimized to give satisfactory property values.

【0014】以下の各処方ははんだマスク組成物として
非常に良好に機能することが認められた。
The following formulations have been found to work very well as solder mask compositions.

【0015】[0015]

【表1】 注: * 重量% ** 樹脂100部当りの重量部 (a) 1インチ(2.5cm)間隔の平行板についてレオ
メトリー粘弾性分光器、7700型により測定 (b) パーキン−エルマーDSC7を用いて測定 (c) 100℃での蓄積弾性率の対数
[Table 1] Note: *% by weight ** parts by weight per 100 parts of resin (a) Measured with a rheometry viscoelastic spectrometer, Model 7700, for parallel plates with 1-inch (2.5 cm) intervals (b) Measured using Perkin-Elmer DSC7 (c) Logarithm of accumulated elastic modulus at 100 ° C

【0016】各実施例はプロピレングリコールモノメチ
ルエーテルアセテート(PGMEA)溶剤中に混合し、
これらの処方はPGMEA中固体分約40%である。こ
の溶剤中のこれらの各処方は回路盤上に非常に良好に塗
布される。しかしながら、その他の中程度極性の溶剤、
例えばプロピレングリコールモノメチルエーテル、2−
メトキシエタノール、2−メトキシエチルアセテート、
2−エトキシエチルアセテート、N−メチルピロリド
ン、プロピレンカーボネート、またはガンマブチロラク
トンなどを使用することができる。
Each of the examples was mixed in a propylene glycol monomethyl ether acetate (PGMEA) solvent,
These formulations are approximately 40% solids in PGMEA. Each of these formulations in this solvent is applied very well on the circuit board. However, other moderately polar solvents,
For example, propylene glycol monomethyl ether, 2-
Methoxyethanol, 2-methoxyethyl acetate,
2-Ethoxyethyl acetate, N-methylpyrrolidone, propylene carbonate, gamma butyrolactone or the like can be used.

【0017】はんだマスクとして好ましい処方は実施例
4にある。
The preferred formulation for the solder mask is in Example 4.

【0018】自由落下する材料の「カーテン」を通過し
て基板に対するフォトイメージ化可能な材料の施用に関
して、以下のカーテン塗布技法が使用された。基板がこ
のカーテンを通過すると材料で塗布される。カーテン塗
布装置はパン、ポンプ、粘度コントローラ、および塗布
ヘッドを含んでいる。塗布用材料はパンから塗布ヘッド
にポンプで送られ、カーテンが形成される。このカーテ
ンはパン中に落下して戻り、いつもこれをくり返す。た
だし基板がこのカーテンを通過するときはその上に材料
を沈着させる。塗布液の粘度範囲は200ないし2,0
00cpsで、また基板上に沈着したフィルムの乾燥厚み
は一般に0.5ないし4.0ミル(0.013〜0.10m
m)の範囲である。
The following curtain coating techniques were used for the application of photoimageable material to a substrate through a "curtain" of free-falling material. The material is coated as the substrate passes through this curtain. The curtain coating device includes a pan, a pump, a viscosity controller, and a coating head. The coating material is pumped from the pan to the coating head to form the curtain. This curtain falls back into the pan and returns, always repeating this. However, as the substrate passes through this curtain, material is deposited on it. Viscosity range of coating liquid is 200 to 2.0
At 00 cps, the dry thickness of the film deposited on the substrate is generally 0.5 to 4.0 mils (0.013 to 0.10 m).
m) range.

【0019】ロール塗布およびワイヤ巻き付けロッド塗
布のような別の形式の塗布も用いることができる。スク
リーン塗布用の特定の処方についてはいずれ説明しよ
う。
Other types of coating such as roll coating and wire wound rod coating can also be used. We will discuss the specific formulation for screen coating in due course.

【0020】エポキシ樹脂と光開始剤とのこれら特定の
各配合物は、スペースまたはギャップなしにカーテン塗
布法により極めて良好に塗布され、約2ミル(0.05m
m)の厚みに回路盤を被覆する。フォトイメージング中
に、光は基板の基底の構造にまで塗膜を通し、本質的に
完全に透過する;したがって光開始剤と増感剤とを除い
た塗膜は特殊な光に対し透明であり、すなわち2.0ミ
ル(0.05mm)厚みのフィルムに対し0.1未満の吸収
率を有している。
Each of these particular blends of epoxy resin and photoinitiator were applied very well by the curtain coating process with no spaces or gaps, about 2 mils (0.05 m).
Cover the circuit board to the thickness of m). During photoimaging, light passes through the coating to the underlying structure of the substrate and is essentially completely transmitted; thus the coating, excluding the photoinitiator and sensitizer, is transparent to the particular light. That is, it has an absorption of less than 0.1 for a 2.0 mil (0.05 mm) thick film.

【0021】はんだマスク材料は中圧水銀ランプからの
UV放射線に露光される。UV放射線ははんだマスクが
除去されるべき区域で不透明な原板を通過させられる。
UV放射線に露光した後、回路盤はスルホニウム塩の光
分解生成物により開始された架橋化反応を促進するため
に短時間ベークされる。ベーク温度は100°ないし1
50℃、ベーク時間は2ないし20分間である。はんだ
マスクはついで未露光の材料を容易に溶解する溶剤を使
用して現像される。このような現像液の1つはチバ−ガ
イギー社により販売されているDY90で、これはブチ
ロラクトン、プロピレンカーボネート、およびジグライ
ムを含むものであるが、ブチロラクトン単独でも現像液
として充分に役立つものである。スプレー現像装置およ
びその他の現像液の物理的な撹拌手段も使用される。は
んだマスクの硬化は放射線にはんだマスクを露光し、つ
いで150℃のオーブンでベークすることにより達成さ
れる。UV光照射は1ないし4J/cm2に変化させ、ベ
ーク時間は30ないし90分に変化させる。塗布しそし
て硬化したもののTg値はいくつかの試料について表1中
に示してある。
The solder mask material is exposed to UV radiation from a medium pressure mercury lamp. UV radiation is passed through the opaque master in the areas where the solder mask is to be removed.
After exposure to UV radiation, the circuit board is briefly baked to facilitate the crosslinking reaction initiated by the photolysis products of the sulfonium salt. Bake temperature is 100 ° to 1
The baking time is 2 to 20 minutes at 50 ° C. The solder mask is then developed using a solvent that readily dissolves the unexposed material. One such developer is DY90 marketed by Ciba-Geigy, which contains butyrolactone, propylene carbonate, and diglyme, but butyrolactone alone is fully useful as a developer. Spray-developers and other means of physical stirring of the developer are also used. Curing of the solder mask is accomplished by exposing the solder mask to radiation and then baking in an oven at 150 ° C. The UV light irradiation is changed to 1 to 4 J / cm 2 , and the baking time is changed to 30 to 90 minutes. The coated and cured Tg values are shown in Table 1 for some samples.

【0022】うすいHCl洗浄などによって表面の酸化
物を除き、そしてベンゾトリアゾールのような抗酸化剤
を適用した後、回路盤は各種の方法を用いてはんだ付け
することができる。ここで説明するはんだマスクを用い
て行われる方法のうちの2つは流動はんだ付けと蒸気相
はんだ付けとである。
After removing surface oxides, such as with a light HCl wash, and applying an antioxidant such as benzotriazole, the circuit board can be soldered using a variety of methods. Two of the methods performed using the solder masks described herein are flow soldering and vapor phase soldering.

【0023】流動はんだ付けは、回路盤上に各部品を配
置し、はんだ付けされるべき金属表面にフラックスを塗
り、そしてこの組立て物を溶融したはんだの連続する流
動液中を通過させることからなっている。蒸気相はんだ
付けは、スクリーニング技法またはその他の適当な技法
で、基板上の露出された金属表面に固体はんだとフラッ
クスとを施用することにより行われる。回路盤上に各部
品を配置した後、この組立て物をはんだの溶融点以上の
温度に保った蒸気中を通過させる。
Fluid soldering consists of placing each component on a circuit board, applying a flux to the metal surface to be soldered, and passing the assembly through a continuous stream of molten solder. ing. Vapor phase soldering is performed by applying solid solder and flux to the exposed metal surface on the substrate by screening techniques or other suitable techniques. After placing the components on the circuit board, the assembly is passed through steam maintained at a temperature above the melting point of the solder.

【0024】試料4は以下の「はんだ付けショック」テ
ストを使用して慣用の方法ではんだ付け能力をテストし
た。この方法は産業プロセスで見られる、代表的なはん
だ付けのストレス下のはんだマスクの挙動をテストする
一般的なものである。
Sample 4 was tested for solderability in the conventional manner using the "Soldering Shock" test below. This method is common in testing the behavior of solder masks under the stress of typical soldering found in industrial processes.

【0025】塗布済みの基板はフォトイメージングし、
現像をし、そして充分に硬化させる。この部品を500
°F±25°(260℃±13.9°)で、10ないし
20秒間溶融はんだ中に浸漬した。このはんだ中に浸し
た後、部品を室温にまで放冷して検査した。ひび割れ、
薄片状のはがれ、火ぶくれ、または材料の著しい劣化な
どの目視検査を行った。目視検査により確認されるよう
に、もしはんだ付けショックが材料を物理的に劣化しな
いならば、このはんだマスクはショックテストの基準に
合格である。
Photo-imaging the coated substrate,
Develop and fully cure. This part is 500
Dipped in molten solder for 10 to 20 seconds at ° F ± 25 ° (260 ° C ± 13.9 °). After soaking in this solder, the parts were allowed to cool to room temperature and inspected. crack,
A visual inspection was performed for flaking flakes, blisters, or significant deterioration of the material. If the soldering shock does not physically degrade the material, as confirmed by visual inspection, the solder mask passes the shock test criteria.

【0026】若干の応用のため配合物に対しある種の添
加剤が望まれることがある。例えば、検査又は美粧用に
ケイ光剤または色素を加えることができる。これには普
通100重量部当り約0.001ないし約1重量部の分
量で含有される。使用されてきたこの種のものは例えば
マラカイトグリーンオキザレート、エチルバイオレッ
ト、およびローダミンBなどである。この他ある種の塗
布のために、例えば3M社で販売しているフルオラド
(Fluorad)FC430のような、界面活性剤を使用す
ることが望ましい。界面活性剤は普通100重量部当り
0.01ないし1重量部の分量で含有されるであろう。
この添加剤が塗膜の他の特性を著しく劣化させてはなら
ないことは当然に理解されよう。
Certain additives may be desired for formulations for some applications. For example, fluorescent agents or dyes can be added for inspection or cosmetics. It normally contains a quantity of about 0.001 to about 1 part by weight per 100 parts by weight. Such species that have been used are, for example, malachite green oxalate, ethyl violet, and rhodamine B. For some other applications it is desirable to use a surfactant, such as Fluorad FC430 sold by 3M. Surfactants will normally be included in amounts of 0.01 to 1 part by weight per 100 parts by weight.
It will of course be understood that this additive should not significantly degrade the other properties of the coating.

【0027】以下の表2は各種添加剤を有する好ましい
具体例のいくつかを示すものである。
Table 2 below shows some of the preferred embodiments with various additives.

【0028】[0028]

【表2】 注: a−重量% b−樹脂100重量部当りの重量部 c−フルオラドFC430 * マラカイトグリーン ** エチルバイオレット[Table 2] Note: a-wt% b-parts by weight per 100 parts by weight of resin c-fluorad FC430 * malachite green ** ethyl violet

【0029】表3はPKHCとSU−8とを使用した3
つの例を示している。これらは難燃性を必要としない場
合に有用である。
Table 3 shows 3 using PKHC and SU-8.
Two examples are shown. These are useful when flame retardancy is not needed.

【0030】[0030]

【表3】 [Table 3]

【0031】実施例10と11とはカーテン塗布のため
の良好な特性をもちはんだマスクとして使用される。こ
れに反し実施例12は一般的に良好な性質をもつが10
0℃におけるLog G′がやや低い。この低い値によりこ
れは適応性が低下しているから、はんだマスクの応用に
は特に有用ではないが他の利用に用途が見出されよう。
Examples 10 and 11 have good properties for curtain coating and are used as solder masks. On the other hand, Example 12 has good properties in general, but 10
Log G'at 0 ° C is slightly low. This low value makes it less adaptable, so it will find particular use in solder mask applications, but may find use in other applications.

【0032】各種の他のタイプの樹脂処方は、カーテン
塗布しうるフォトイメージ化可能なはんだマスクとして
は、レオロジー的および/またはリソグラフ的のいずれ
かで不適当であることが認められた。
Various other types of resin formulations have been found to be unsuitable, either rheologically and / or lithographically, as photoimageable solder masks that can be curtain coated.

【0033】本発明はカーテン塗布用のはんだマスク材
料として特にこれまで述べられていた。しかしながら、
他の目的のためにも使用することができ、またローラー
塗布のような各種の他の方法で施用することもできるの
である。異なる用途および塗布技法が利用される場合、
好ましい材料の一定の改質が異なる要請に合致させるた
めに必要となろう。例えば、ローラー塗布またはスプレ
ー塗布のためにはカーテン塗布とちがって異なる溶剤ま
たは粘度が所望されようし、またレオロジー的性質も別
のタイプの使用のためにはカーテン塗布用に最適のもの
から変えられることとなろう。
The present invention has been particularly described above as a solder mask material for curtain coating. However,
It can be used for other purposes and can be applied by various other methods such as roller coating. If different applications and application techniques are used,
Certain modifications of the preferred materials may be necessary to meet different needs. For example, different solvents or viscosities may be desired, unlike curtain coating, for roller or spray coating, and rheological properties may be altered from those optimal for curtain coating for other types of use. That will be the case.

【0034】このタイプのフォトイメージ化可能な材料
のスクリーン塗布が必要とされるならば、この材料に対
しチクソトロピー剤を添加することによりそのレオロジ
ーを変更し、そしてこれを普通のスクリーン技法を使用
して基板上にスクリーンがけするのに適したようにする
ことにより、もっとも良く達成できるのが認められた。
所要の他の特性を備えた組成物にチクソトロピー剤を添
加すると、これが剪断力下にあるとき比較的にうすい流
動可能な物質となり、また剪断力がないかまたは非常に
小さな剪断力のときはこい、さらにゲル状の物質とな
る。各種の異なるタイプのチクソトロピー剤を用いるこ
とができるが、好ましいものは粒子径が約5.0μm未満
の、好ましくは約2.0μm未満のそしてさらに好ましく
は約0.001ないし0.5μmの直径をもつ無定形の二
酸化シリコンである。
If screen coating of this type of photoimageable material is required, its rheology is modified by the addition of a thixotropic agent to this material and this is done using conventional screen techniques. It has been found that this is best achieved by making the screen suitable for wiping on the substrate.
When a thixotropic agent is added to a composition with the other properties required, it becomes a relatively thin flowable material when under shear and also when it has no or very little shear. , And becomes a gel-like substance. Although a variety of different types of thixotropic agents can be used, preferred ones have a particle size of less than about 5.0 μm, preferably less than about 2.0 μm, and more preferably about 0.001 to 0.5 μm. It is amorphous silicon dioxide.

【0035】スクリーン塗布技法は全面的なスクリーン
がけで行われ、これにより材料は基板上に連続的な状態
に塗布され、続いてはんだが施用される場所を明けるよ
うに画像状にフォトイメージ化される。一方、材料はそ
れを必要としない場所を明けてマスクされるように、基
板上にパターン状にスクリーンがけすることもできる。
当業者にはこれらの2つの方法は異なる最適粘度とチク
ソトロピー指数との材料を必要とすることが理解されよ
う。添加されるチクソトロピー剤の分量は所要のスクリ
ーニング特性に応じて広く変わるであろう。シリカの場
合これは約20重量%までとすることができる。無定形
シリカについて好ましい範囲は約1ないし約12%であ
る。
The screen coating technique is a full screen screen whereby the material is applied in a continuous manner onto the substrate and subsequently imagewise photoimaged to reveal where solder is to be applied. It Alternatively, the material can be screened in a pattern on the substrate so that it is masked open up where it is not needed.
Those skilled in the art will appreciate that these two methods require materials with different optimum viscosities and thixotropic indices. The amount of thixotropic agent added will vary widely depending on the screening characteristics required. For silica this can be up to about 20% by weight. The preferred range for amorphous silica is from about 1 to about 12%.

【0036】さらに、前記したように乾燥したフィルム
に必要とされる特性の1つは、光がフィルムの厚みを通
る径路のすべての光開始剤を活性化するよう充分に光が
貫通できるために、光開始剤を活性化する領域内で充分
に低い光吸収を有することである。さらに正確には光開
始剤の光活性域内での光エネルギーの充分に高い透過と
見ることができるが、日常的には分光光学で測定した吸
収率で特性値化することができる。分光光度計で測定し
たフィルムの吸収率は、光開始剤の光活性域内の光でフ
ィルムの厚み1ミル(0.025mm)当り約2.0未満で
なければならない。
In addition, one of the properties required for a dried film, as described above, is that the light can penetrate enough to activate all photoinitiators in the path through the thickness of the film. , Having a sufficiently low light absorption within the region that activates the photoinitiator. More precisely, it can be regarded as a sufficiently high transmission of light energy within the photoactive region of the photoinitiator, but it can be routinely characterized by the absorptance measured by spectroscopic optics. The absorptance of the film, measured by a spectrophotometer, should be less than about 2.0 per mil (0.025 mm) of film thickness with light in the photoactive region of the photoinitiator.

【0037】シリカ粒子、特に直径の大きなものを含む
フィルムの吸収率測定値のいくらかは、分子的または原
子的の吸収よりも実際は光散乱によるものであることを
当業者は理解しよう。別の表現で、これはフィルムが厚
み1ないし2ミル(0.025〜0.05mm)の範囲内で
あるとき、フィルムの厚み1ミル当り少なくとも約1%
の光透過率でなければならないことを意味している。し
かしながら、もしフィルムがもっと厚いものならば、フ
ィルムの厚み全体を適切に露光するためにはより大きな
透過率、つまりより小さい吸収率を必要としよう。この
ことは日常の実験で確かめることができる。前記したよ
うに、この透過率または吸収率は光開始剤を活性化する
ため必要な波長にのみ関連している。UVE1014は
単独で200ないし370nmの波長の放射線に対し感受
性がある。しかしながら、アートワークの大部分のガラ
スまたはその他の基板は約320nm以下のエネルギーを
すべて吸収する。この場合アートワークを通じて露光さ
れるフィルムは320ないし370nmの放射線に対し感
光性となろう。他の光開始剤とアートワーク基板に対し
て、露光エネルギーの臨界的範囲は異なってこよう。
It will be appreciated by those skilled in the art that some of the absorptivity measurements of films containing silica particles, especially those of large diameter, are due to light scattering rather than molecular or atomic absorption. In other words, this is at least about 1% per mil of film thickness when the film is in the range of 1 to 2 mils (0.025 to 0.05 mm) thick.
It means that it must have a light transmittance of. However, if the film were thicker, it would require a higher transmission, or lower absorption, to properly expose the entire thickness of the film. This can be confirmed by routine experiments. As mentioned above, this transmission or absorption is only related to the wavelength required to activate the photoinitiator. UVE 1014 alone is sensitive to radiation at wavelengths of 200 to 370 nm. However, most glass or other substrates in artwork absorb all energy below about 320 nm. In this case the film exposed through the artwork will be sensitive to radiation of 320 to 370 nm. For other photoinitiators and artwork substrates, the critical range of exposure energy will be different.

【0038】この吸収率測定は基板上に塗られた後の乾
燥したフィルムについて測定され、従って樹脂とチクソ
トロピー剤同じく光開始剤を含んで測定されたものであ
ることが理解される。別の方法で表現すると、2.0ま
たはこれ以下でなければならないという吸収率はこれら
すべての成分、つまり樹脂系、光開始剤、およびチクソ
トロピー剤の累積的な効果であり、それら個々のいずれ
か1つのものではない。
It is understood that this absorptivity measurement was made on the dried film after it had been coated on the substrate, and thus included the photoinitiator as well as the resin and thixotropic agent. Expressed in another way, the absorptivity, which must be 2.0 or less, is the cumulative effect of all these components, the resin system, the photoinitiator, and the thixotropic agent, either of them individually. Not one thing.

【0039】フォトイメージ化可能な材料の各種の特性
に及ぼす効果を実証するために、種種のタイプのチクソ
トロピー剤の種々分量を標準的の樹脂系の各種濃度の溶
液に添加した。標準樹脂系は以下のものである。標準樹脂系 PKHC 28.54% エピレズ 5183 42.81% エピレズ SU−8 23.79% UVE 1014 4.76% エチルバイオレット 0.07% FC−430 0.03%
To demonstrate the effect on various properties of the photoimageable material, various amounts of various types of thixotropic agents were added to solutions of standard resin systems at various concentrations. The standard resin system is as follows. Standard resin type PKHC 28.54% Epirez 5183 42.81% Epirez SU-8 23.79% UVE 1014 4.76% Ethyl violet 0.07% FC-430 0.03%

【0040】この標準樹脂系を、いくつかの異なるタイ
プと量のチクソトロピー剤をもつ各種の溶剤%のスクリ
ーン塗布可能な材料を作るのに使用し、この材料はつぎ
に粘度とフォトイメージング性とをテストした。以下の
表4は、PGMEA中に溶解したこの標準樹脂系に、デ
グサ社からアエロジルA380の商品名のもとに販売さ
れている無定形の煙霧二酸化シリコンをチクソトロピー
剤として添加したものの、6種の別個のバッチを示して
ある。樹脂系、無定形シリカのチクソトロピー剤および
光開始剤を含む全固形物のパーセントは、固形物約50
%と溶剤約50%である。粘度はNo.7スピンドルを用
いてブルックフィールドRTV粘度計で、1ないし10
0rpmsの回転数で25℃において測定した。これらの4
バッチのそれぞれについてのチクソトロピー指数が示し
てある。これら各バッチの指数は25℃、5rpmでの粘
度を25℃、50rpmでの粘度で除したものとして定義
したが、別の比を使用することもできる。
This standard resin system was used to make various solvent% screen coatable materials with several different types and amounts of thixotropic agents, which were then tested for viscosity and photoimaging properties. did. Table 4 below shows that six of these standard resin systems dissolved in PGMEA, to which amorphous fumed silicon dioxide sold under the tradename Aerosil A380 by Degussa, was added as a thixotropic agent, Separate batches are shown. The percent of total solids including the resin system, the amorphous silica thixotropic agent and the photoinitiator is about 50 solids.
% And solvent about 50%. Viscosity is 1 to 10 with Brookfield RTV viscometer using No.7 spindle
The measurement was performed at 25 ° C. at a rotation speed of 0 rpms. These four
The thixotropic index is shown for each of the batches. The index for each of these batches was defined as the viscosity at 25 ° C, 5 rpm divided by the viscosity at 25 ° C, 50 rpm, although other ratios can be used.

【0041】[0041]

【表4】 注:1 すべての試料はPGMEAに溶解した標準樹脂
系に全体(溶剤も含め)の3%のアエロジルA380を
加えたものを用い、また樹脂系、光開始剤およびチクソ
トロピー剤を含む全固形物は50%、溶剤が50%のも
のである 2 粘度測定時のブルックフィールドRTV粘度計No.
7スピンドルの回転数
[Table 4] Note: All samples used were standard resin system dissolved in PGMEA plus 3% of total (including solvent) Aerosil A380, and all solids including resin system, photoinitiator and thixotropic agent were used. 50% solvent and 50% solvent 2 Brookfield RTV viscometer No.
7 spindle revolutions

【0042】表4は低および高rpm測定間にチクソトロ
ピー性のある量の変化があることと、またチクソトロピ
ー指数が同じ分量の成分を名目的に含む各バッチについ
て同一であることを示している。この変化は異なる混合
条件と同様に材料中の固有的な変化に起因させうる。
Table 4 shows that there is a thixotropic amount of change between the low and high rpm measurements, and that the thixotropic index is the same for each batch nominally containing the same amount of components. This change may be due to the inherent changes in the material as well as the different mixing conditions.

【0043】以下の表5は、3.5%のアエロジルA3
80を有するが、樹脂系、光開始剤およびチクソトロピ
ー剤を含む全固形物が約47%で溶剤が約53%であ
る、同じ好ましい樹脂系バッチを示している。3.0%
から3.5%にチクソトロピー剤の量を増加し、また固
形物の全量を減少した表5で見られるように、低rpmに
おける実際の粘度の顕著な増加と高rpmにおける減少と
があり、同様にチクソトロピー指数は8.3に増大し
た。
Table 5 below shows 3.5% of Aerosil A3
The same preferred resinous batch having 80, but about 47% total solids including resin system, photoinitiator and thixotropic agent and about 53% solvent is shown. 3.0%
There was a significant increase in the actual viscosity at low rpm and a decrease at high rpm, as seen in Table 5, which increased the amount of thixotropic agent to 3.5% and also decreased the total amount of solids. The thixotropy index increased to 8.3.

【0044】[0044]

【表5】 [Table 5]

【0045】表4と表5の組成物は全面的スクリーン塗
布にいずれも一般に適している。実施例19はパターン
状のスクリーンがけのためには表4中の各例のものより
も好ましい。パターン状のスクリーンがけの場合、所望
のパターンは基板上にスクリーンがけされ、このパター
ン状の塗膜はついで乾燥し硬化される。
Both the compositions of Tables 4 and 5 are generally suitable for blanket screen coating. Example 19 is preferred over each of the examples in Table 4 for patterned screening. In the case of patterned screening, the desired pattern is screened onto the substrate and the patterned coating is then dried and cured.

【0046】標準的樹脂系を少々変更したものに、異な
るタイプのチクソトロピー剤を種々のパーセント添加し
た組成物が以下の表6中に示してある(この樹脂系で、
色素としてマラカイトグリーンオキザレートをエチルバ
イオレットに置き換えたが、光開始剤を含めた他の添加
剤とともに樹脂も前述の標準的樹脂系とあらゆる面で同
じであった)。これら組成物のそれぞれにおいて、基本
的な配合で固体としてUVE1014は4.76%であ
り、また樹脂系、光開始剤およびPMGEA溶剤を含む
全系の%として示した添加チクソトロピー剤のパーセン
トとともに全固体は41%であった。表6に各添加物の
パーセントを示す。
Compositions of the standard resin system with minor modifications are shown in Table 6 below, with varying percentages of different types of thixotropic agents added.
(Although malachite green oxalate was replaced with ethyl violet as the dye, the resin was in all respects the same as the standard resin system described above, along with other additives, including photoinitiators). In each of these compositions the UVE 1014 was 4.76% as solids in the basic formulation and also the total solids with the percentage of added thixotropic agent shown as% of the total system including the resin system, photoinitiator and PMGEA solvent. Was 41%. Table 6 shows the percentage of each additive.

【0047】[0047]

【表6】 注:1 A380はデグサ社で販売している煙霧シリカ 2 A300はデグサ社で販売している煙霧シリカ 3 R974は表面疎水化処理をした煙霧シリカ 4 R972は表面疎水化処理をした煙霧シリカ、R9
74よりも粒子サイズが大きい 5 R202は表面疎水化処理をした煙霧シリカ 6 TS720は表面疎水化処理をした煙霧シリカ(カ
ボット社製) 7 TS710はシランで表面疎水化処理をした煙霧シ
リカ(カボット社製) 8 HDK−N20は煙霧シリカ 9 全溶液(固体+溶剤)に対して添加したパーセント
[Table 6] Note: 1 A380 is fumed silica sold by Degussa 2 A300 is fumed silica sold by Degussa 3 R974 is fumed silica surface-hydrophobicized 4 R972 is fumed silica surface-hydrophobicized, R9
Particle size larger than 74 5 R202 is fumed silica with surface hydrophobization 6 TS720 is fumed silica with surface hydrophobization (made by Cabot) 7 TS710 is fumed silica with surface hydrophobized with silane (cabot) 8) HDK-N20 is a fumed silica 9 Percentage added to the total solution (solid + solvent)

【0048】以下の表7は1rpm、100rpm、および1
rpmにおいて回転粘度計で測定した実施例20〜32の
粘度を示している。回転の順序は1rpmから100rpmに
増加され、ついで回復をチェックするため1rpmに減少
させた。
Table 7 below shows 1 rpm, 100 rpm, and 1 rpm.
3 shows the viscosities of Examples 20-32 measured with a rotational viscometer at rpm. The rotation sequence was increased from 1 rpm to 100 rpm and then reduced to 1 rpm to check recovery.

【0049】[0049]

【表7】 [Table 7]

【0050】すべての前記の塗膜はフォトイメージング
性をまず評価した。実施例20、23、25および27
はからくも認め得る程度のフォトイメージング性を有
し、それ故他の試料がより良かったためスクリーン塗布
テストでの評価は行わなかった。実施例21、22、2
4、26、28、29、30、31および32はフォト
イメージ解像性とスクリーン塗布特性とを評価した。解
像性とフォトイメージング性に関して実施例21、2
2、23、24、26、30および31は他のものより
好ましいものであった。スクリーン塗布性については実
施例21、24、26、29および30が他の例よりも
好ましいものであった。
All the above coatings were first evaluated for photoimaging. Examples 20, 23, 25 and 27
It was not appraised in a screen coating test as it had a measurable degree of photoimaging and was therefore better than the other samples. Examples 21, 22, 2
4, 26, 28, 29, 30, 31 and 32 were evaluated for photo image resolution and screen coating properties. Examples 21 and 2 regarding resolution and photo-imaging property
2, 23, 24, 26, 30 and 31 were preferred over the others. Regarding screen coatability, Examples 21, 24, 26, 29 and 30 were more preferable than the other examples.

【0051】スクリーン特性と写真処理性の両者および
その他の各特性に基づいた全般的な評価は、実施例30
が最良、21がそのつぎ、28が第3番であった。
A general evaluation based on both the screen characteristics and the photographic processability and each of the other characteristics is made in Example 30.
Was best, 21 was second, and 28 was third.

【0052】別の実験において、チクソトロピー剤が約
2.5〜3.5%の範囲であるとき、樹脂系、光開始剤、
およびチクソトロピー剤を含む全固形物量は約53%を
超すべきではなく、そうしないとスクリーニング工程の
成果と塗膜の質とが低下することが認められた。反対
に、全固形物量は約40%を下廻ってはならない。
In another experiment, when the thixotropic agent was in the range of about 2.5-3.5%, the resin system, photoinitiator,
It has been found that the total solids content, including the thixotropic agent and the thixotropic agent, should not exceed about 53%, otherwise the performance of the screening process and the quality of the coating will be reduced. On the contrary, the total solids content should not fall below about 40%.

【0053】従って、適切な分量のチクソトロピー剤の
添加と、溶液中の固形物パーセントとこの適切なチクソ
トロピー剤との間のバランスを適当に選びかつコントロ
ールすることにより、基板にスクリーン塗布しついでフ
ォトイメージ化と現像することのできる材料が得られ
る。
Accordingly, by adding an appropriate amount of a thixotropic agent and appropriately selecting and controlling the balance between the percent solids in solution and the appropriate thixotropic agent, the substrate can be screened and then photoimaged. A material is obtained which can be processed and developed.

【0054】フォトイメージング組成物の露光と現像は
前記したようにして実質的に行うことができる。スクリ
ーン塗布したものの露光とイメージング化の好ましい技
法は以下のとおりである:材料を基板上にスクリーンか
けした後、前記したように約88℃で約15分間乾燥
し、固体フィルムの本質的に連続的な塗膜であって、本
質的に粘着性のない固体フィルムが得られる。ついでこ
の塗膜は低圧Hgアーク燈からの約1500mJ/cm2の光
で画像状に露光し、つぎに普通のバッチオーブン中約1
20℃で約12分間焼付けをする。露光しかつ焼付けさ
れた塗膜はパターンを現像するために、ガンマブチロラ
クトンを約3.5バールの圧力で滞留時間約4分約28
℃でスプレーすることにより現像される。パターン状に
現像された塗膜はつぎに約4J/cm2の紫外光に露光
し、ついで約150℃で約60分間オーブンで焼付けす
る。得られる回路盤上のパターン化されかつ現像された
塗膜は、はんだマスクとして使用し、そして前記の方法
によりテストすると、優れたはんだ抵抗特性を示す。
Exposure and development of the photoimaging composition can be accomplished essentially as described above. A preferred technique for exposing and imaging the screened material is as follows: the material is screened onto a substrate and then dried at about 88 ° C. for about 15 minutes as described above to give an essentially continuous solid film. A solid film is obtained, which is essentially a tack free coating. The coating is then imagewise exposed to about 1500 mJ / cm 2 of light from a low pressure Hg arc lamp and then about 1 in a conventional batch oven.
Bake at 20 ° C. for about 12 minutes. The exposed and baked coating is coated with gamma-butyrolactone at a pressure of about 3.5 bar and a residence time of about 4 minutes to about 28 to develop the pattern.
Developed by spraying at ° C. The patterned developed coating is then exposed to about 4 J / cm 2 of ultraviolet light and then baked in an oven at about 150 ° C. for about 60 minutes. The resulting patterned and developed coating on the circuit board shows excellent solder resistance properties when used as a solder mask and tested by the methods described above.

【0055】1) 約40,000ないし約130,00
0の分子量を有するエピクロヒドリンとビスフェノール
Aとの縮合生成物であるポリオール約20ないし約60
重量%;約4,000ないし約10,000の分子量を有
するエポキシ化されている8官能性ビスフェノールAホ
ルムアルデヒドノボラック樹脂約35重量%まで;およ
び約60°ないし約110℃の軟化点をもちかつ約60
0ないし約2,500の分子量を有するテトラブロモビ
スフェノールAのエポキシ化されたグリシジルエーテル
約35ないし約80重量%とから本質的に構成されるエ
ポキシ樹脂系;化学放射線への露光の際に前記エポキシ
樹脂系の重合を開始しうるカチオン性光開始剤の約0.
1ないし約15重量部;ここで前記した樹脂系と光開始
剤とは溶剤中で処置されるものとし;そして前記の樹脂
系と光開始剤とともに溶剤中に分散されるチクソトロピ
ー剤として約20%までの効果的量のシリカ;とからな
るイメージング系であって、前記のイメージング系をフ
ィルムに乾燥させたとき、フィルムの厚み1ミル(0.
025mm)当り2.0未満の光吸収率を光開始剤の光活
性域内に有することをさらに特徴とする、感光性のカチ
オン重合可能なエポキシベースのイメージング系。
1) About 40,000 to about 130,000
About 20 to about 60 polyols, which are condensation products of epichlorohydrin having a molecular weight of 0 and bisphenol A
% By weight; up to about 35% by weight of epoxidized octafunctional bisphenol A formaldehyde novolac resin having a molecular weight of about 4,000 to about 10,000; and having a softening point of about 60 ° to about 110 ° C. and about 60
An epoxy resin system consisting essentially of about 35 to about 80% by weight of an epoxidized glycidyl ether of tetrabromobisphenol A having a molecular weight of 0 to about 2,500; said epoxy upon exposure to actinic radiation. About 0.1 of the cationic photoinitiators that can initiate the polymerization of the resin system.
1 to about 15 parts by weight; where the resin system and photoinitiator described above are to be treated in a solvent; and about 20% as a thixotropic agent dispersed in the solvent with the resin system and photoinitiator. An effective amount of silica up to 1; a film thickness of 1 mil (0.1%) when the imaging system is dried onto a film.
Photosensitive cationically polymerizable epoxy-based imaging system further characterized by having a light absorption coefficient of less than 2.0 per 025 mm) within the photoactive region of the photoinitiator.

【0056】2) イメージング系が約25ないし35
%のポリオール樹脂、約20ないし30%のエポキシ化
8官能性ビスフェノールAホルムアルデヒドノボラック
樹脂、約40ないし45%のテトラブロモビスフェノー
ルAのエポキシ化グリシジルエーテル、および約2ない
し5重量部のカチオン性光開始剤である、前項1記載の
発明。
2) The imaging system is about 25 to 35
% Polyol resin, about 20 to 30% epoxidized octafunctional bisphenol A formaldehyde novolac resin, about 40 to 45% epoxidized glycidyl ether of tetrabromobisphenol A, and about 2 to 5 parts by weight cationic photoinitiator. The invention according to item 1, which is an agent.

【0057】3) ポリオール樹脂の分子量が約60,
000ないし90,000であり、エポキシ化8官能性
ビスフェノールAホルムアルデヒドノボラック樹脂の分
子量が約5,000ないし7,000であり、そしてテト
ラブロモビスフェノールAのエポキシ化グリシジルエー
テルの分子量が約1,000ないし1,700である、前
項1記載の発明。 4) 10%までの光開始剤の効果的量を含む、前項1
記載の発明。 5) 光開始剤が330〜370nmの領域に光活性を有
するスルホニウム塩である、前項1記載の発明。 6) 前記溶剤がプロピレングリコールモノメチルエー
テルアセテートである、前項1記載の発明。 7) シリカが約5μm未満の粒子直径を有する無定形
シリカである、前項1記載のイメージング系。
3) The molecular weight of the polyol resin is about 60,
000 to 90,000, the epoxidized octafunctional bisphenol A formaldehyde novolac resin has a molecular weight of about 5,000 to 7,000, and the epoxidized glycidyl ether of tetrabromobisphenol A has a molecular weight of about 1,000 to The invention according to item 1, which is 1,700. 4) Includes an effective amount of photoinitiator up to 10%, the preceding 1
The invention described. 5) The invention according to item 1, wherein the photoinitiator is a sulfonium salt having photoactivity in the region of 330 to 370 nm. 6) The invention according to item 1, wherein the solvent is propylene glycol monomethyl ether acetate. 7) The imaging system according to item 1, wherein the silica is amorphous silica having a particle diameter of less than about 5 μm.

【0058】8) シリカの粒子直径が約2.0μm未満
である、前項7記載のイメージング系。 9) シリカの粒子直径が約0.001ないし0.5μm
である、前項7記載のイメージング系。 10) シリカの分量が約1ないし12%間である、前
項7記載のイメージング系。
8) The imaging system as described in 7 above, wherein the particle diameter of silica is less than about 2.0 μm. 9) Silica particle diameter is about 0.001 to 0.5 μm
The imaging system according to item 7 above. 10) The imaging system according to item 7, wherein the amount of silica is between about 1 and 12%.

【0059】11) 約40,000ないし約130,0
00の分子量を有するエピクロヒドリンとビスフェノー
ルAとの縮合生成物であるポリオール約10ないし約8
0重量%;約4,000ないし約10,000の分子量を
有するエポキシ化されている8官能性ビスフェノールA
ホルムアルデヒドノボラック樹脂約20ないし約90重
量%とから本質的に構成されるエポキシ樹脂系;活性放
射線への露光の際に前記のエポキシ化樹脂系の重合を開
始しうるカチオン性光開始剤の約0.1ないし約15重
量部;ここで前記の樹脂系と光開始剤とは溶剤中で処置
されるものとし;そして前記の樹脂系と光開始剤ととも
に溶液中に分散されるチクソトロピー剤として約20%
までの効果的量のシリカ;とからなるイメージング系で
あって、前記のイメージング系をフィルムに乾燥させた
とき、フィルムの厚み1ミル(0.025mm)当り2.0
未満の光吸収率を光開始剤の光活性域内に有することを
さらに特徴とする、感光性のカチオン重合可能なエポキ
シベースのイメージング系。
11) About 40,000 to about 130,0
About 10 to about 8 polyols which are condensation products of epichlorohydrin having a molecular weight of 00 and bisphenol A
0% by weight; epoxidized octafunctional bisphenol A having a molecular weight of about 4,000 to about 10,000
An epoxy resin system consisting essentially of from about 20 to about 90% by weight formaldehyde novolac resin; about 0 of a cationic photoinitiator capable of initiating the polymerization of said epoxidized resin system upon exposure to actinic radiation. .1 to about 15 parts by weight; wherein the resin system and photoinitiator are to be treated in a solvent; and about 20 as a thixotropic agent dispersed in a solution with the resin system and photoinitiator. %
An effective amount of silica; up to 2.0 per mil (0.025 mm) of film thickness when the imaging system is dried onto a film.
A photosensitive, cationically polymerizable, epoxy-based imaging system, further characterized by having a light absorption of less than less than within the photoactive region of the photoinitiator.

【0060】12) さらにテトラブロモビスフェノー
ルAのエポキシ化されたグリシジルエーテル樹脂の約5
0重量パーセントの効果的量を特徴とする、前項11記
載の発明。 13) ポリオール樹脂の分子量が約60,000ない
し90,000であり、エポキシ化されている8官能性
ビスフェノールAホルムアルデヒドノボラック樹脂の分
子量が約5,000ないし7,000である、前項11記
載の発明。 14) 10%までの増感剤の効果的量を含む、前項1
1記載の発明。 15) 光開始剤が200ないし370nmの領域に光活
性を有するスルホニウム塩である、前項11記載の発
明。 16) 溶剤がプロピレングリコールモノメチルエーテ
ルアセテートである、前項11記載の発明。 17) シリカが約5.0μm未満の粒子直径を有する無
定形シリカである、前項11記載のイメージング系。
12) Further, about 5 parts of epoxidized glycidyl ether resin of tetrabromobisphenol A is added.
The invention of claim 11 characterized by an effective amount of 0 weight percent. 13) The invention according to item 11, wherein the polyol resin has a molecular weight of about 60,000 to 90,000 and the epoxidized octafunctional bisphenol A formaldehyde novolac resin has a molecular weight of about 5,000 to 7,000. .. 14) Includes an effective amount of sensitizer up to 10%, and
Invention of 1. 15) The invention described in 11 above, wherein the photoinitiator is a sulfonium salt having photoactivity in a region of 200 to 370 nm. 16) The invention described in 11 above, wherein the solvent is propylene glycol monomethyl ether acetate. 17) The imaging system according to item 11, wherein the silica is an amorphous silica having a particle diameter of less than about 5.0 μm.

【0061】18) シリカの粒子直径が2.0μm未満
である、前項17記載のイメージング系。 19) シリカの粒子直径が約0.001ないし0.5μ
mである、前項17記載のイメージング系。 20) シリカの分量が約1ないし12%間である、前
項17記載のイメージング系。
18) The imaging system according to item 17, wherein the particle diameter of silica is less than 2.0 μm. 19) The particle diameter of silica is about 0.001 to 0.5μ.
18. The imaging system according to item 17, which is m. 20) The imaging system according to item 17 above, wherein the amount of silica is between about 1 and 12%.

【0062】21) エポキシ官能をもつ高分子量のポ
リオール樹脂約10ないし80重量%と;中程度分子量
のポリエポキシ樹脂約20ないし90重量%とから構成
される固体のエポキシベース樹脂系;活性放射線への露
光の際に前記のエポキシ化樹脂系の重合を開始しうるカ
チオン性光開始剤の約50重量%までの効果的量;ここ
で前記の樹脂系と光開始剤とは溶剤中で処置されるもの
とし;そして前記の樹脂系と光開始剤とともに溶剤中に
分散されるチクソトロピー剤として約20%までの効果
的量のシリカ;とからなるイメージング系であって、前
記のイメージング系をフィルムに乾燥させたとき、フィ
ルムの厚み1ミル(0.025mm)当り2.0未満の光吸
収率を光開始剤の光活性域内に有することをさらに特徴
とする、感光性のカチオン重合可能なエポキシベースの
イメージング系。
21) Solid epoxy base resin system consisting of about 10 to 80% by weight of high molecular weight polyol resin having epoxy functionality; about 20 to 90% by weight of medium molecular weight polyepoxy resin; to actinic radiation An effective amount of up to about 50% by weight of a cationic photoinitiator capable of initiating polymerization of the epoxidized resin system upon exposure to light; wherein the resin system and photoinitiator are treated in a solvent. And an effective amount of silica up to about 20% as a thixotropic agent dispersed in a solvent together with the above resin system and a photoinitiator; The photosensitive coating is further characterized in that it has a light absorptivity of less than 2.0 per mil (0.025 mm) of film thickness when dried within the photoactive region of the photoinitiator. On polymerizable epoxy based imaging system.

【0063】22) 溶剤がプロピレングリコールモノ
メチルエーテルアセテートである、前項21記載のイメ
ージング系。 23) シリカが約5.0μm未満の粒子直径を有する無
定形シリカである、前項21記載のイメージング系。 24) シリカの粒子直径が約2.0μmより小さい、前
項23記載のイメージング系。 25) シリカの粒子直径が約0.001ないし0.5μ
mである、前項23記載のイメージング系。 26) シリカの分量が約1ないし12%である、前項
23記載のイメージング系。
22) The imaging system as set forth above in 21, wherein the solvent is propylene glycol monomethyl ether acetate. 23) The imaging system of item 21 above, wherein the silica is amorphous silica having a particle diameter of less than about 5.0 μm. 24) The imaging system according to the above item 23, wherein the particle diameter of silica is smaller than about 2.0 μm. 25) Silica particle diameter is about 0.001 to 0.5μ.
24. The imaging system according to item 23 above, which is m. 26) The imaging system according to item 23 above, wherein the amount of silica is about 1 to 12%.

【0064】本発明は、請求項中に限定したような本発
明の範囲から逸脱することなく各種の適応や改変をなし
得るものである。
The present invention is capable of various adaptations and modifications without departing from the scope of the present invention as defined in the claims.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ノーマン・オールドリツチ・カード・ジユ ニア アメリカ合衆国ニユーヨーク州14859.ロ ツクウツド.メインストリート.ボツクス 62 (72)発明者 リチヤード・アレン・デイ アメリカ合衆国ニユーヨーク州13862.ホ イツトニーポイント.アール・デイー・ナ ンバー1.ボツクス320エイ (72)発明者 ラムクリシユナ・ゴーサル アメリカ合衆国ニユーヨーク州12065.ク リフトンパーク.カシードラルコート10 (72)発明者 ドナルド・ハーマン・グラーツエル アメリカ合衆国ペンシルベニア州18834. ニユーミルフオード.アール・デイー・ナ ンバー2.ボツクス274 (72)発明者 デイビツド・ジヨン・ラツセル アメリカ合衆国ニユーヨーク州13732.ア パラチン.リリーヒルロード1913 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Norman Old Ritchie Cards, Georgia 14859, New York, USA. Locked wood. main Street. Box 62 (72) Inventor Richard Allen Day USA New York 13862. White Tony Point. Earl Day Number 1. Box 320 A (72) Inventor Ramkuri Shiuna Gosal 12065, New York, USA. Clifton Park. Cathedral Court 10 (72) Inventor Donald Herman Grazell, Pennsylvania, USA 18834. New Milford. Earl Day Number 2. Box 274 (72) Inventor David Jyon Rutsel 13732, New York, USA. Apalachin. Lily Hill Road 1913

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 約40,000ないし約130,000の
分子量を有するエピクロヒドリンとビスフェノールAと
の縮合生成物であるポリオール約20ないし約60重量
%;約4,000ないし約10,000の分子量を有する
エポキシ化されている8官能性ビスフェノールAホルム
アルデヒドノボラック樹脂約35重量%まで;および約
60°ないし約110℃の軟化点をもちかつ約600な
いし約2,500の分子量を有するテトラブロモビスフ
ェノールAのエポキシ化されたグリシジルエーテル約3
5ないし約80重量%とから本質的に構成されるエポキ
シ樹脂系;および化学放射線への露光の際に前記エポキ
シ樹脂系の重合を開始しうるカチオン性光開始剤の約
0.1ないし約15重量部;ここで前記した樹脂系と光
開始剤とは溶剤中で処置されるものとし;そして前記の
樹脂系と光開始剤とともに溶剤中に分散されるチクソト
ロピー剤として約20%までの効果的量のシリカ;とか
らなるイメージング系であって、前記のイメージング系
をフィルムに乾燥させたとき、フィルムの厚み1ミル
(0.025mm)当り2.0未満の光吸収率を光開始剤の
光活性域内に有することをさらに特徴とする、感光性の
カチオン重合可能なエポキシベースのイメージング系。
1. A polyol, which is a condensation product of epichlorohydrin having a molecular weight of about 40,000 to about 130,000 and bisphenol A, of about 20 to about 60% by weight; a molecular weight of about 4,000 to about 10,000. Epoxidized octafunctional bisphenol A formaldehyde novolac resin having up to about 35% by weight; and of tetrabromobisphenol A having a softening point of about 60 ° to about 110 ° C and a molecular weight of about 600 to about 2,500. About 3 epoxidized glycidyl ethers
An epoxy resin system consisting essentially of from 5 to about 80% by weight; and from about 0.1 to about 15 of a cationic photoinitiator capable of initiating polymerization of said epoxy resin system upon exposure to actinic radiation. Parts by weight; where the resin system and photoinitiator described above are to be treated in a solvent; and effective up to about 20% as a thixotropic agent dispersed in the solvent with the resin system and photoinitiator. An amount of silica; wherein the imaging system, when dried on a film, has a light absorptivity of less than 2.0 per 1 mil (0.025 mm) of film thickness of the photoinitiator. A photosensitive cationically polymerizable epoxy-based imaging system, further characterized by having in the active region.
【請求項2】 約40,000ないし約130,000の
分子量を有するエピクロヒドリンとビスフェノールAと
の縮合生成物であるポリオール約10ないし約80重量
%;約4,000ないし約10,000の分子量を有する
エポキシ化されている8官能性ビスフェノールAホルム
アルデヒドノボラック樹脂約20ないし約90重量%と
から本質的に構成されるエポキシ樹脂系;活性放射線へ
の露光の際に前記のエポキシ化樹脂系の重合を開始しう
るカチオン性光開始剤の約0.1ないし約15重量部;
ここで前記の樹脂系と光開始剤とは溶剤中で処置される
ものとし;そして前記の樹脂系と光開始剤とともに溶液
中に分散されるチクソトロピー剤として約20%までの
効果的量のシリカ;とからなるイメージング系であっ
て、前記のイメージング系をフィルムに乾燥させたと
き、フィルムの厚み1ミル(0.025mm)当り2.0未
満の光吸収率を光開始剤の光活性域内に有することをさ
らに特徴とする、感光性のカチオン重合可能なエポキシ
ベースのイメージング系。
2. A polyol, which is a condensation product of epichlorohydrin having a molecular weight of about 40,000 to about 130,000 and bisphenol A, of about 10 to about 80% by weight; a molecular weight of about 4,000 to about 10,000. An epoxy resin system consisting essentially of from about 20 to about 90% by weight of an epoxidized octafunctional bisphenol A formaldehyde novolac resin having a polymerization of the epoxidized resin system upon exposure to actinic radiation. From about 0.1 to about 15 parts by weight of the cationic photoinitiator which can be initiated;
Wherein the resin system and photoinitiator are to be treated in a solvent; and an effective amount of silica up to about 20% as a thixotropic agent dispersed in a solution with the resin system and photoinitiator. And an imaging system comprising the following: when the imaging system is dried on a film, a light absorptivity of less than 2.0 per 1 mil (0.025 mm) of film thickness is within the photoactive region of the photoinitiator. A photosensitive, cationically polymerizable, epoxy-based imaging system, further comprising:
【請求項3】 エポキシ官能をもつ高分子量のポリオー
ル樹脂約10ないし80重量%と;中程度分子量のポリ
エポキシ樹脂約20ないし90重量%とから構成される
固体のエポキシベース樹脂系;活性放射線への露光の際
に前記のエポキシ化樹脂系の重合を開始しうるカチオン
性光開始剤の約50重量%までの効果的量;ここで前記
の樹脂系と光開始剤とは溶剤中で処置されるものとし;
そして前記の樹脂系と光開始剤とともに溶剤中に分散さ
れるチクソトロピー剤として約20%までの効果的量の
シリカ;とからなるイメージング系であって、前記のイ
メージング系をフィルムに乾燥させたとき、フィルムの
厚み1ミル(0.025mm)当り2.0未満の光吸収率を
光開始剤の光活性域内に有することをさらに特徴とす
る、感光性のカチオン重合可能なエポキシベースのイメ
ージング系。
3. A solid epoxy-based resin system comprising about 10 to 80% by weight of a high molecular weight polyol resin having epoxy functionality; and about 20 to 90% by weight of a medium molecular weight polyepoxy resin; to actinic radiation. An effective amount of up to about 50% by weight of a cationic photoinitiator capable of initiating polymerization of the epoxidized resin system upon exposure to light; wherein the resin system and photoinitiator are treated in a solvent. Shall be;
And an imaging system comprising the resin system and an effective amount of silica up to about 20% as a thixotropic agent dispersed in a solvent together with the photoinitiator, when the imaging system is dried on a film. , A photosensitive cationically polymerizable epoxy-based imaging system further characterized by having a light absorptivity of less than 2.0 per mil (0.025 mm) of film thickness within the photoactive region of the photoinitiator.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07166117A (en) * 1993-12-16 1995-06-27 Somar Corp Photo-setting resist ink composition
JP2001048706A (en) * 1999-06-02 2001-02-20 Earth Chem Corp Ltd Pest-controlling preparation
WO2005093514A1 (en) * 2004-03-26 2005-10-06 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. Photosensitive resin composition and method of forming pattern with the composition
WO2007119391A1 (en) * 2006-03-22 2007-10-25 San-Apro Limited Actinic energy radiation negative-working photoresist composition and cured product thereof
WO2009116258A1 (en) * 2008-03-18 2009-09-24 住友ベークライト株式会社 Photosensitive resin composition, film for photosensitive resin spacer, and semiconductor device

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5790072A (en) * 1980-11-25 1982-06-04 Hitachi Ltd Resist ink composition for chemical plating
JPS58176254A (en) * 1982-04-09 1983-10-15 Hitachi Ltd Plating-resistant solder resist ink composition
JPS59213779A (en) * 1983-04-22 1984-12-03 Meidensha Electric Mfg Co Ltd Ultraviolet-curing solder resist ink
JPS6291934A (en) * 1985-10-18 1987-04-27 Toyo Ink Mfg Co Ltd Solder resist composition
JPH01126362A (en) * 1987-11-11 1989-05-18 Nippon Soda Co Ltd Epoxy resin composition for image-forming
JPH02279718A (en) * 1989-03-03 1990-11-15 Internatl Business Mach Corp <Ibm> Epoxy resin base composition that forms latent image
JPH03148657A (en) * 1989-11-04 1991-06-25 Toa Paint Kk Alkaline developable photosetting type resin composition for solder mask

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5790072A (en) * 1980-11-25 1982-06-04 Hitachi Ltd Resist ink composition for chemical plating
JPS58176254A (en) * 1982-04-09 1983-10-15 Hitachi Ltd Plating-resistant solder resist ink composition
JPS59213779A (en) * 1983-04-22 1984-12-03 Meidensha Electric Mfg Co Ltd Ultraviolet-curing solder resist ink
JPS6291934A (en) * 1985-10-18 1987-04-27 Toyo Ink Mfg Co Ltd Solder resist composition
JPH01126362A (en) * 1987-11-11 1989-05-18 Nippon Soda Co Ltd Epoxy resin composition for image-forming
JPH02279718A (en) * 1989-03-03 1990-11-15 Internatl Business Mach Corp <Ibm> Epoxy resin base composition that forms latent image
JPH03148657A (en) * 1989-11-04 1991-06-25 Toa Paint Kk Alkaline developable photosetting type resin composition for solder mask

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07166117A (en) * 1993-12-16 1995-06-27 Somar Corp Photo-setting resist ink composition
JP2001048706A (en) * 1999-06-02 2001-02-20 Earth Chem Corp Ltd Pest-controlling preparation
WO2005093514A1 (en) * 2004-03-26 2005-10-06 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. Photosensitive resin composition and method of forming pattern with the composition
WO2007119391A1 (en) * 2006-03-22 2007-10-25 San-Apro Limited Actinic energy radiation negative-working photoresist composition and cured product thereof
JPWO2007119391A1 (en) * 2006-03-22 2009-08-27 サンアプロ株式会社 Active energy ray negative photoresist composition and cured product thereof
WO2009116258A1 (en) * 2008-03-18 2009-09-24 住友ベークライト株式会社 Photosensitive resin composition, film for photosensitive resin spacer, and semiconductor device

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