JPH03148625A - Optical device - Google Patents

Optical device

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JPH03148625A
JPH03148625A JP28738389A JP28738389A JPH03148625A JP H03148625 A JPH03148625 A JP H03148625A JP 28738389 A JP28738389 A JP 28738389A JP 28738389 A JP28738389 A JP 28738389A JP H03148625 A JPH03148625 A JP H03148625A
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JP
Japan
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optical
refractive index
substrate
waveguides
waveguide
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Application number
JP28738389A
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Japanese (ja)
Inventor
Kenji Kono
健治 河野
Tsutomu Kito
勤 鬼頭
Toshinori Nozawa
野沢 敏矩
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Abstract

PURPOSE:To realize a fast, low-driving-voltage optical modulator by forming a material which reduces a refractive index by heat diffusion or embedding technique between Mach-Zehnder type optical waveguides formed on a substrate and coupling the waveguides roughly with each other. CONSTITUTION:On an LiNbO3 substrate 5, a pattern of Ti as a 1st diffused body is formed by a normal lift-off method. Namely, the substrate 5 is coated uniformly with photoresist, which is exposed by using a photomask and then developed to form a groove which is several mum wide in the same shape with the waveguide pattern. Further, Ti is vapor-deposited on the entire surface to hundreds of Angstrom and the resist is removed by a remover to form the waveguide pattern 3 of Ti. Then a low-refractive-index part 7 is formed between the optical waveguides 3 by diffusing MgO by the same method on the substrate 5 where the optical waveguides 3 are formed. Thus, the two optical waveguides which constitute the Mach-Zehnder optical waveguide 3 can be coupled roughly, so the gap between the two waveguides can be made narrow and the thickness D of a buffer layer is made large to realize band improvement.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は高速・低駆動電圧光変調素子に関するものであ
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a high speed, low driving voltage optical modulation element.

(従来の技術) 第6図は、Z−cut LiNbO,基板5を用いた従
来形構造のマツハツエンダ形光導波路(河野他:昭和6
3年電子情報通信学会秋期全国大会C−195)の一例
の構造図である。この図では、コプレーナウニ−ブガイ
ド((:P11)進行波電極の中心導体輻2wが8μm
、アース導体2とのギャップ2Gが34μm1バブファ
層4の厚みDを4000人としている。
(Prior art) Figure 6 shows a Matsuhatsu Enda optical waveguide with a conventional structure using Z-cut LiNbO and a substrate 5 (Kono et al.
It is a structural diagram of an example of the 3rd year IEICE Autumn National Conference C-195). In this figure, the central conductor radiation 2w of the coplanar nibe guide ((:P11) traveling wave electrode is 8 μm.
, the gap 2G with the ground conductor 2 is 34 μm, and the thickness D of the bubble layer 4 is 4000.

この構成では、帯域と駆動電圧の比を増大するためには
、バフファ層厚を大きくし、かつ2wが一定の場合、2
w/2Gを大きく、すなわちギャップを小さくすればよ
い。しかし2本のマツハツエンダ光導波路が互いに結合
するので、2本の光導波路は方向性結合器の特性を持ち
、マツハツエンダ光導波路としての動作が不可能になる
In this configuration, in order to increase the ratio between band and drive voltage, the buffer layer thickness must be increased, and when 2w is constant, 2
What is necessary is to increase w/2G, that is, to decrease the gap. However, since the two Matsuhatsu Enda optical waveguides are coupled to each other, the two optical waveguides have the characteristics of a directional coupler and cannot operate as a Matsuhatsu Enda optical waveguide.

また中心電極lとアース導体2とのギャップが極端に小
さい場合は、導体エツジへの電流集中が生じ、逆に3d
8光変調帯域Δfが狭くなってしまうという欠点があっ
た。
Furthermore, if the gap between the center electrode l and the ground conductor 2 is extremely small, current concentration will occur at the conductor edge, and conversely, the 3d
There was a drawback that the 8-light modulation band Δf became narrow.

第7図は従来形構造のマツハツエンダ形光導波路(H,
Haga etal−; IEεεJournal o
f QuantumElectronics、  vo
1. ロト22.  No、 6.  pp、  90
2−906゜1986)の他の例の構造を示しており、
電極として非対コプレーナストリップを用いている。
Figure 7 shows a Matsuhatsu Enda type optical waveguide (H,
Haga etal-; IEεεJournal o
f Quantum Electronics, vo
1. Lotto 22. No, 6. pp, 90
2-906゜1986) shows the structure of another example,
Unpaired coplanar strips are used as electrodes.

この構造では、低屈折率層として溝6をRIB(リアク
ティブイオンエッチング)により形成しているので、製
作が容易でない。また光導波路の極めて近くまでエッチ
ングすると、エッチング壁による導波光の散乱損失が増
加してしまう。
In this structure, since the grooves 6 are formed as a low refractive index layer by RIB (reactive ion etching), manufacturing is not easy. Furthermore, if the etching is performed very close to the optical waveguide, the scattering loss of the guided light due to the etched wall will increase.

また、バッファ層を用いていないので、電極によるマイ
クロ波の伝ばん損失が大きく、中心導体1とアース導体
2を近づけると急激にマイクロ波伝ばん損失が増大し、
高速化が図れないという欠点があった。
In addition, since no buffer layer is used, the microwave propagation loss due to the electrodes is large, and when the center conductor 1 and the ground conductor 2 are brought close together, the microwave propagation loss increases rapidly.
The drawback was that it was not possible to increase the speed.

(発明が解決しようとする課題) 本発明はマツハツエンダ光導波路間の結合に起因する問
題を解決した高速・低駅動電圧光導波路を提供すること
にある。
(Problems to be Solved by the Invention) An object of the present invention is to provide a high-speed, low-stationary dynamic voltage optical waveguide that solves the problems caused by coupling between Matsuhatsu Enda optical waveguides.

(課題を解決するための手段) 本発明の光デバイスは、マツハツエンダ形光導波路の間
に光の屈折率を低減する物質を拡散等により形成する。
(Means for Solving the Problems) In the optical device of the present invention, a substance that reduces the refractive index of light is formed between Matsuhatsuenda-shaped optical waveguides by diffusion or the like.

すなわち本発明は、光変調を行うデバイスにおいて、基
板上に第1の物質を、熱拡散または埋め込み技術により
形成したマツハツエンダ形光導波路の導波路間に、屈折
率を低減する第2の物質を熱拡散もしくは埋め込み技術
により形成し、前記導波路間の結合を疎にしたマツハツ
エンダ形光導波路と光変調用電極を具備する。
That is, in a device that performs optical modulation, the present invention provides a first material on a substrate and a second material that reduces the refractive index between the waveguides of a Matsuhatsu-Enda-shaped optical waveguide formed by thermal diffusion or embedding technology. It is provided with a Matsuhatsu Enda-shaped optical waveguide formed by diffusion or embedding technology and with loose coupling between the waveguides, and an electrode for optical modulation.

従来の技術とは低屈折率層の形成技術およびバッファ層
の厚み等が異なる。
This method differs from the conventional technology in the formation technology of the low refractive index layer, the thickness of the buffer layer, etc.

(実施例) 以下、図面により本発明の実施例を詳細に説明する。(Example) Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

第1図は本発明の第1の実施例を示す図であって、lは
中心電極、2はアース導体、3はマツハツエンダ光導波
路、4はバッファ層、5はZ−cutLINbOs基板
である。ここで7は職0を熱拡散して形成した低屈折率
層である。以下この光導波路部分についての製造方法を
説明する。
FIG. 1 is a diagram showing a first embodiment of the present invention, where l is a center electrode, 2 is a ground conductor, 3 is a Matsuhatsu Enda optical waveguide, 4 is a buffer layer, and 5 is a Z-cutLINbOs substrate. Here, 7 is a low refractive index layer formed by thermally diffusing SiO. The manufacturing method for this optical waveguide portion will be explained below.

まず、LiNb口、基板5上に通常のリフトオフ法によ
り第1の拡散物質としてTiのパターンを形成する。す
なわち、例えばLiNbOs基板5中にフォトレジスト
を一様にスピナーで塗布し、フォトマスクを用いて上記
レジストを露光した後、現像することにより導波路パタ
ーンと同形の幅数μmの溝を形成する。さらに全面にT
iを数100人蒸着した後、レジストをリムーバで除去
すればTiの導波路パターンが形成される。その後、数
時間にわたり温度を約1000℃程度に上げ、TiをL
iNbOs基板5中に拡散させる。
First, a pattern of Ti as a first diffusion material is formed on the LiNb opening and the substrate 5 by a normal lift-off method. That is, for example, a photoresist is uniformly applied onto the LiNbOs substrate 5 using a spinner, the resist is exposed to light using a photomask, and then developed to form a groove with a width of several μm having the same shape as the waveguide pattern. Further T on the entire surface
After several hundred deposits of Ti, the resist is removed using a remover to form a Ti waveguide pattern. After that, the temperature was raised to about 1000℃ for several hours, and the Ti
It is diffused into the iNbOs substrate 5.

次に、このようにして光導波路3を形成したLiNbO
3基板5中に再度レジストを一様に塗布した後、光導波
路30間以外の部分のレジストを同様の手法で除去する
。さらに、例えば第2の拡散物質としてのMgOを全面
に蒸着した後、レジストをリムーバで除去し、MgOの
薄膜パターンを形成する。
Next, the LiNbO which formed the optical waveguide 3 in this way
3. After uniformly coating the resist on the substrate 5 again, the resist in areas other than between the optical waveguides 30 is removed using the same method. Furthermore, for example, after MgO as a second diffusion substance is vapor-deposited over the entire surface, the resist is removed with a remover to form a thin film pattern of MgO.

この後、このLiNb口、基板を数100℃(例えば9
00℃程度)に上げることにより、第1図に示すように
、前もって拡散したTiの分布を変えることなく 、M
gOを光導波路3の間に拡散して低屈折率部7を設ける
ことができる。
After this, the LiNb opening and the substrate are heated to several hundred degrees Celsius (for example, 90 degrees Celsius).
As shown in Figure 1, M
The low refractive index portion 7 can be provided by diffusing gO between the optical waveguides 3 .

第2図(3)、 (b)、 (C)はその結果生じる屈
折率差八〇の分布を示す。第2図(2)はTiのみを熱
拡散した場合の屈折率差Δnの分布を示し、横軸のXは
距離を示す。また、第2図面はMgOのみを熱拡散した
場合の屈折率差Δnの分布を示し、MgOが拡散された
部分の屈折率差Δnは負となっていることがわかる。第
2図(C)はTiとMgOの双方を拡散した場合の屈折
率差Δnの分布を示し、第2図(a)と第2図(社)と
を重畳したものとなってふり、Ti部分において現れる
屈折率差Δnのピーク値とそのわきのMgO部分におい
て現れる最小値との差は、Tiのみを熱拡散した第2図
(a)の場合と比較して大きくなっている。
FIGS. 2(3), (b), and (C) show the resulting distribution of the refractive index difference 80. FIG. 2 (2) shows the distribution of the refractive index difference Δn when only Ti is thermally diffused, and X on the horizontal axis indicates distance. Further, the second drawing shows the distribution of the refractive index difference Δn when only MgO is thermally diffused, and it can be seen that the refractive index difference Δn in the portion where MgO is diffused is negative. Figure 2 (C) shows the distribution of the refractive index difference Δn when both Ti and MgO are diffused, and it is a superposition of Figure 2 (a) and Figure 2 (Company). The difference between the peak value of the refractive index difference Δn appearing in a portion and the minimum value appearing in an adjacent MgO portion is larger than in the case of FIG. 2(a) in which only Ti is thermally diffused.

つまり第2図(C)かられかるように、マツハツエンダ
光導波路3を構成する二つの光導波路間の結合を疎にす
ることができるので、二つの導波路間のギャップを近づ
けることができる。なお、導波路幅が6μmのとき、従
来の構成では、導波路間の結合を避けるため、ギャップ
は15μm程度が限界であった。つまり2N/2G=0
.53であった。
In other words, as can be seen from FIG. 2(C), since the coupling between the two optical waveguides constituting the Matsuhatsu Enda optical waveguide 3 can be made loose, the gap between the two waveguides can be brought closer. Note that when the waveguide width is 6 μm, in the conventional configuration, the gap is limited to about 15 μm in order to avoid coupling between the waveguides. In other words, 2N/2G=0
.. It was 53.

第3図(a)、(6)は、それぞれ2N/2Gに対する
オプティカル3dB帯域とエレクトリカル3dB帯域示
す。
FIGS. 3(a) and 3(6) show an optical 3 dB band and an electrical 3 dB band for 2N/2G, respectively.

ここで駆動電圧は一定としている。パラメータとしては
バッファ層の厚みDを用いている。
Here, the driving voltage is kept constant. The thickness D of the buffer layer is used as a parameter.

これらの図かられかるように、バッファ層の厚みDを厚
くすることにより、帯域の極大を与える2N/2Gの比
が存在することになる。従っ、てエレクトリカル3dB
帯域に着目すると、バッファ層を厚くし、かつ2w/2
Gを1程度、すなわち従来よりも大きくすることにより
、大幅な帯域改善ができる。
As can be seen from these figures, by increasing the thickness D of the buffer layer, a ratio of 2N/2G exists that provides the maximum band. Therefore, electrical 3dB
Focusing on the bandwidth, the buffer layer is made thicker and 2w/2
By increasing G to about 1, that is, larger than before, a significant improvement in bandwidth can be achieved.

第4図は本発明の第2の実施例を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a second embodiment of the present invention.

シールド導体を用いることにより、マイクロ波と光との
位相速度を整合し広帯域化が図れるシールド形位相速度
整合光導波路(河野他: 1988年電子情報通信学会
春季全国大会)に本発明を適用すれば、さらに高速・低
駆動電圧動作が可能となることは明らかである。ここで
8はシールド導体である。
If the present invention is applied to a shielded phase velocity matching optical waveguide (Kono et al., 1988 Institute of Electronics, Information and Communication Engineers Spring National Conference), which can match the phase velocities of microwave and light and achieve broadband by using a shielded conductor, It is clear that even higher speed and lower driving voltage operation becomes possible. Here, 8 is a shield conductor.

第5図は本発明を、高誘電率媒質であるオーバレイ11
を用いてマイクロ波と光の位相速度を整合するオーバレ
イ形半導体光導波路(河野他:特願昭62−29195
9)に適用した第3の実施例を示す図である。第5図に
おいて、10は半導体基板9に形成した光導波路であり
、11はマイクロ波と光との位相速度を整合するための
オーバレイであり、12は低屈折率部である。
FIG.
Overlay type semiconductor optical waveguide that matches the phase velocity of microwave and light using
9) is a diagram showing a third embodiment applied to the above. In FIG. 5, 10 is an optical waveguide formed on the semiconductor substrate 9, 11 is an overlay for matching the phase velocity of microwave and light, and 12 is a low refractive index portion.

本発明により高速・低駆動電圧動作が可能となる。The present invention enables high speed and low drive voltage operation.

なお本発明はx−cut LiNbO,基板やLiTa
O,等を用いた場合にも有効である。また、光スイッチ
も実現可能である。
Note that the present invention uses x-cut LiNbO, substrates, and LiTa.
It is also effective when using O, etc. An optical switch is also possible.

(発明の効果) 以上説明したように、本発明の光デバイスは、マツハツ
エンダ光導波路間のギャップを近づけることができるの
で、帯域を拡大できる。
(Effects of the Invention) As described above, in the optical device of the present invention, the gap between the Matsuhatsu Enda optical waveguides can be made closer, so the band can be expanded.

また帯域を一定とすれば、従来形構成と比較して、電極
との相互作用長を長くできるので、駆動電圧を低減でき
る利点がある。
Furthermore, if the band is constant, the interaction length with the electrode can be made longer than in the conventional configuration, which has the advantage of reducing the driving voltage.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の第1の実施例を示す図、第2図は本発
明の原理を説明する図、 第3図(a)、(6)は本発明の効果を表わす図、第4
図および第5図は本発明の第2の実施例および第3の実
施例を示す図、 第6図は従来形光導波路の一例を示す図、第7図は従来
形光導波路の他の例を示す図である。 l・・・中心電極     2−・・アース導体3−・
・マツハツエンダ光導波路 4・・・バッファ層    5・・・LtNbOs基板
ロー・・溝 フー・・Mg口拡散による低屈折率部 8・・・シールド導体   9−・・半導体基板10・
・・半導体光導波路  11−・・オーバレイ12・・
・低屈折率部 特許出願人 日本電信電話株式会社 代理人弁理士 杉  村  暁  秀 同   弁理士  杉   村   興   作21 
−2ロー2W、2σ   12 1−一一中心電極 7−−−M10を広量tSよ3廁\屑↑汀作音β第2図 7g7   .ル涜1表4析卑分4(1シの好)10J
        1皐 7TjM絋散覇の杓Oj幣ンN
                   八     
    1′″   l              
  /X12W/2(1; 第3図 一 ・−11 「      ゝ・\ 1 2W/Z& 第5図 、71 //% 12−り皓l臣す斤早奮β 第6図 第7図 ロー溝
FIG. 1 is a diagram showing the first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram explaining the principle of the present invention, FIGS. 3(a) and (6) are diagrams showing the effects of the present invention, and FIG.
5 and 5 show the second and third embodiments of the present invention, FIG. 6 shows an example of a conventional optical waveguide, and FIG. 7 shows another example of a conventional optical waveguide. FIG. l... Center electrode 2-... Earth conductor 3-...
・Matsuhatsu Enda optical waveguide 4...Buffer layer 5...LtNbOs substrate row...Groove hole...Low refractive index part by Mg mouth diffusion 8...Shield conductor 9-...Semiconductor substrate 10.
...Semiconductor optical waveguide 11-...Overlay 12...
・Low refractive index section patent applicant Nippon Telegraph and Telephone Corporation Representative Patent Attorney Hidetoshi Sugimura Patent Attorney Oki Sugimura 21
-2 row 2W, 2σ 12 1-11 center electrode 7 --- M10 is wide tS 3 廁\屑↑汀净音β Fig. 2 7g7. 1 table 4 analysis base 4 (1 shi no good) 10J
1 甐 7TjM 絋三波の沓Ojhein N
Eight
1′″l
/X12W/2 (1; Fig. 3 1 ・-11 ゝ・\ 1 2W/Z & Fig. 5, 71 //% 12-Reduction of weight β Fig. 6 Fig. 7 Low groove

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、光変調を行う光デバイスにおいて、基板上に第1の
物質を、熱拡散または埋め込み技術により形成したマッ
ハツェンダ形光導波路の導波路間に、屈折率を低減する
第2の物質を熱拡散もしくは埋め込み技術により形成し
、前記導波路間の結合を疎にしたマッハツェンダ形光導
波路と光変調用電極を有することを特徴とする光デバイ
ス。 2、特許請求の範囲第1項記載の光デバイスにおいて、
前記光変調用電極を伝ぱんするマイクロ波実効屈折率が
光導波路を伝ぱんする光の実効屈折率に近づくように、
前記光変調用電極と前記導波路を具備した基板との間に
設けられたバッファ層を厚くしたことを特徴とする光デ
バイス。 3、特許請求の範囲第1項記載の光デバイスにおいて、
前記光変調用電極を伝ぱんするマイクロ波の実効屈折率
が光導波路を伝ぱんする光の実効屈折率に近づくようオ
ーバレイ層を設けたことを特徴とする光デバイス。 4、特許請求の範囲第2項記載の光デバイスにおいて、
前記光変調用電極を伝ぱんするマイクロ波の実効屈折率
が光導波路を伝ぱんする光の実効屈折率に近づくように
、前記光変調用電極と前記導波路を具備した基板との間
に設けられたバッファ層を厚くするとともに、シールド
導体を前記光変調用電極の近くに設けたことを特徴とす
る光デバイス。
[Claims] 1. In an optical device that performs optical modulation, a second material for reducing the refractive index is placed between the waveguides of a Mach-Zehnder optical waveguide formed by thermal diffusion or embedding technology on a first material on a substrate. What is claimed is: 1. An optical device comprising a Mach-Zehnder type optical waveguide formed by thermal diffusion or embedding technology using a material described above, and having a Mach-Zehnder optical waveguide with loose coupling between the waveguides and an optical modulation electrode. 2. In the optical device according to claim 1,
so that the effective refractive index of the microwave propagating through the light modulation electrode approaches the effective refractive index of the light propagating through the optical waveguide,
An optical device characterized in that a buffer layer provided between the light modulation electrode and the substrate provided with the waveguide is thickened. 3. In the optical device according to claim 1,
An optical device characterized in that an overlay layer is provided so that the effective refractive index of microwaves propagating through the light modulation electrode approaches the effective refractive index of light propagating through the optical waveguide. 4. In the optical device according to claim 2,
Provided between the light modulation electrode and the substrate provided with the waveguide so that the effective refractive index of the microwave propagating through the light modulation electrode approaches the effective refractive index of the light propagating through the optical waveguide. 1. An optical device characterized in that the buffer layer is thickened and a shield conductor is provided near the light modulation electrode.
JP28738389A 1989-11-06 1989-11-06 Optical device Pending JPH03148625A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002258067A (en) * 2001-02-28 2002-09-11 Mitsubishi Cable Ind Ltd Optical fiber wiring board
US7310453B2 (en) 2002-08-30 2007-12-18 Sumitomo Osaka Cement Co., Ltd. Optical modulator
US7463808B2 (en) 2006-07-18 2008-12-09 Fujitsu Limited Optical waveguide, optical device, and manufacturing method of the optical waveguide

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