JPH03147226A - 電界効果型電子放出素子及びその製造方法 - Google Patents
電界効果型電子放出素子及びその製造方法Info
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- JPH03147226A JPH03147226A JP1283105A JP28310589A JPH03147226A JP H03147226 A JPH03147226 A JP H03147226A JP 1283105 A JP1283105 A JP 1283105A JP 28310589 A JP28310589 A JP 28310589A JP H03147226 A JPH03147226 A JP H03147226A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、電界効果型電子放出素子及びその製造方法に
関し、特に電子放出部が複数の突起体から成る電界効果
型電子放出素子及びその製造方法に関する。
関し、特に電子放出部が複数の突起体から成る電界効果
型電子放出素子及びその製造方法に関する。
[従来の技術]
従来、電子放出源としては熱陰極型電子放出素子が多(
用いられていたが、熱電極を利用した電子放出は加熱に
よるエネルギーロスが大きく、予備加熱が必要等の問題
点を有していた。
用いられていたが、熱電極を利用した電子放出は加熱に
よるエネルギーロスが大きく、予備加熱が必要等の問題
点を有していた。
これらの問題点を解決すべく、冷陰極型の電子放出素子
が注目されており、いくつかの提案がなされている。そ
の中に、局部的に高電界を発生させ電界放出を行わせる
、電界効果型の電子放出素子がある。
が注目されており、いくつかの提案がなされている。そ
の中に、局部的に高電界を発生させ電界放出を行わせる
、電界効果型の電子放出素子がある。
第3図は、上記の電界効果型の電子放出素子の一例を示
す概略的部分断面図であり、第4図 (A)〜(D)は
、その製造方法を説明するための概略的工程図である。
す概略的部分断面図であり、第4図 (A)〜(D)は
、その製造方法を説明するための概略的工程図である。
第3図に示すように、Si等の基板1上にMo (モノ
ブデン)等から成る円錐形状の電極7を設け、かつ、こ
の電極7を中心として開口部が設けられたSiO□等の
絶縁層2が形成され、さらにこの上に、前記円錐形状電
極7の尖頭部の近傍にその端部が形成された引き出し電
極3を設ける。
ブデン)等から成る円錐形状の電極7を設け、かつ、こ
の電極7を中心として開口部が設けられたSiO□等の
絶縁層2が形成され、さらにこの上に、前記円錐形状電
極7の尖頭部の近傍にその端部が形成された引き出し電
極3を設ける。
かかる構造の電子放出素子において、基板1と引き出し
電極3との間に電圧を印加すると、電界強度の強い電極
7の尖頭部から電子が放出される。
電極3との間に電圧を印加すると、電界強度の強い電極
7の尖頭部から電子が放出される。
また、上述電子放出素子は次のような工程で作製される
。
。
先ず、第4図(A)に示すように、Si等の基板1上に
5iOa酸化膜等の絶縁層2を形成し、電子ビーム蒸着
法等によりMo層3を形成し、さらにバターニングを行
い、かかるMo層3を選択的にエツチングして第1の開
口部11、絶縁層2をエツチングして第2の開口部12
を各々形成する。
5iOa酸化膜等の絶縁層2を形成し、電子ビーム蒸着
法等によりMo層3を形成し、さらにバターニングを行
い、かかるMo層3を選択的にエツチングして第1の開
口部11、絶縁層2をエツチングして第2の開口部12
を各々形成する。
次に、第4図(B)に示すように、回転軸Xを中心とし
て基板lを回転させな、がら、一定の角度θ傾斜させて
Al1をMo層3の上面及び開口部側面に蒸着させて、
A11層4を形成する。
て基板lを回転させな、がら、一定の角度θ傾斜させて
Al1をMo層3の上面及び開口部側面に蒸着させて、
A11層4を形成する。
次に、第4図(C)に示すように、基板1に対して垂直
にMoを電子ビーム蒸着等によって蒸着する。このとき
、MoはAP層4上及び基板1上だけでなくAll’層
4の側面にも積層されるので、第1の開口部11の直径
はMo層9の堆積に伴って段々小さくなっていく。この
第1の開口部11の直径の減少に伴って基板1に堆積さ
れていく蒸着物(Mo)の蒸着範囲も小さくなっていく
ために、基板1上には略円錐形状の電極8が形成される
。
にMoを電子ビーム蒸着等によって蒸着する。このとき
、MoはAP層4上及び基板1上だけでなくAll’層
4の側面にも積層されるので、第1の開口部11の直径
はMo層9の堆積に伴って段々小さくなっていく。この
第1の開口部11の直径の減少に伴って基板1に堆積さ
れていく蒸着物(Mo)の蒸着範囲も小さくなっていく
ために、基板1上には略円錐形状の電極8が形成される
。
最後に、第4図(D)に示すように、堆積したM。
層9及びA11層4を除去することにより略円錐形状の
電極8を有する電子放出素子が形成される。
電極8を有する電子放出素子が形成される。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、上記従来の電子放出素子は、その電子放
出部たる三角錐形状電極の高さ、角度。
出部たる三角錐形状電極の高さ、角度。
底面の直径等が第1の開口部11の大きさl Mo13
の厚さ、基板1と蒸着源との距離等の製造上の各種条件
で決定されるため、極めて再現性が悪(、特に複数個同
時に配列したマルチ電子源を形成する場合には、かかる
円錐形状のバラツキが大きいという問題点があった。
の厚さ、基板1と蒸着源との距離等の製造上の各種条件
で決定されるため、極めて再現性が悪(、特に複数個同
時に配列したマルチ電子源を形成する場合には、かかる
円錐形状のバラツキが大きいという問題点があった。
また、第4図にも示した様に、三角錐形状を製造する工
程が複雑であり、簡単な工程で作製できる電界効果型電
子放出素子の作製が望まれていた。
程が複雑であり、簡単な工程で作製できる電界効果型電
子放出素子の作製が望まれていた。
すなわち、本発明の目的とするところは、上述のような
問題点を解消した電界効果型電子放出素子及びその製造
方法を提供することにある。
問題点を解消した電界効果型電子放出素子及びその製造
方法を提供することにある。
[課題を解決するための手段及び作用]本発明の特徴と
するところは、電子放出部が、金属微粒子で形成された
複数の突起体から成る電界効果型電子放出素子としてい
る点にある。
するところは、電子放出部が、金属微粒子で形成された
複数の突起体から成る電界効果型電子放出素子としてい
る点にある。
また、電子放出部が、金属微粒子で形成された、複数の
突起体及び薄膜構造体から成る電界効果型電子放出素子
にも特徴がある。
突起体及び薄膜構造体から成る電界効果型電子放出素子
にも特徴がある。
さらに、上記素子の製造方法として、基板上に設けた金
属微粒子堆積体に、高エネルギー光を照射して該堆積体
を突起体又は突起体及び薄膜構造体に形成して電子放出
部を作製することをも特徴とするものである。
属微粒子堆積体に、高エネルギー光を照射して該堆積体
を突起体又は突起体及び薄膜構造体に形成して電子放出
部を作製することをも特徴とするものである。
すなわち、本発明の電界効果型電子放出素子は、電子放
出部となる電極を金属微粒子で形成される複数の突起体
、あるいは、金属微粒子で形成される複数の突起体及び
金属微粒子を含む薄膜体にて構成することにより、安定
な電子放出特性を得るとともに、かかる素子を作製して
マルチ化した場合にも、素子間のバラツキを小さくする
ことができるものである。
出部となる電極を金属微粒子で形成される複数の突起体
、あるいは、金属微粒子で形成される複数の突起体及び
金属微粒子を含む薄膜体にて構成することにより、安定
な電子放出特性を得るとともに、かかる素子を作製して
マルチ化した場合にも、素子間のバラツキを小さくする
ことができるものである。
また、本発明の電界効果型電子放出素子の製造方法は、
従来の薄膜形成やフォトリソグラフィーを使った複雑な
工程を必要とせず、基板上に蒸着法等によって設けた金
属微粒子の堆積体に、高エネルギー光を照射するという
簡単な工程により電子放出部を形成することを可能とす
るものである。
従来の薄膜形成やフォトリソグラフィーを使った複雑な
工程を必要とせず、基板上に蒸着法等によって設けた金
属微粒子の堆積体に、高エネルギー光を照射するという
簡単な工程により電子放出部を形成することを可能とす
るものである。
以上のように、電子放出部が複数の突起体を形成するた
め、突起体にかかる電界強度を強く、均一にし、複数の
突起体全体として、動作開始電圧の範囲のバラツキを抑
え、電子放出効率を向上させることを可能とする。
め、突起体にかかる電界強度を強く、均一にし、複数の
突起体全体として、動作開始電圧の範囲のバラツキを抑
え、電子放出効率を向上させることを可能とする。
以下、本発明を図面に基いて詳細に説明する。
第1図 (A)〜(D)は、本発明の電界効果型電子放
出素子の製造工程の一例を説明するための概略釣部分断
面図である。
出素子の製造工程の一例を説明するための概略釣部分断
面図である。
先ず、第1図(A)、 (B)は、第4図(A)、 (
B)に示す従来の製法と同じで、Si等の基板1上にS
in、 Ai)zOx、 Ta2’s等の酸化膜の絶縁
層2を厚さ1000人〜10μm程度に形成し、さらに
その上に、電子ビーム蒸着等によりMO等の金属層3を
厚さ500〜10000人程度形成する。その後、フォ
トリソグラフィーの手法を用い金属層3.絶縁層2をウ
ェットエツチングして孔径5000〜50000人の開
口部1.1.12を形成する。次に、回転軸Xを中心と
して基板1を回転させながら、一定の角度θ、例えば5
″〜20°傾斜させて大部分のAjllを金属層3の上
面に厚さ500〜3000人蒸着させてA2層4を形成
する。このとき、開口部内にAI!は、殆ど堆積されな
い。
B)に示す従来の製法と同じで、Si等の基板1上にS
in、 Ai)zOx、 Ta2’s等の酸化膜の絶縁
層2を厚さ1000人〜10μm程度に形成し、さらに
その上に、電子ビーム蒸着等によりMO等の金属層3を
厚さ500〜10000人程度形成する。その後、フォ
トリソグラフィーの手法を用い金属層3.絶縁層2をウ
ェットエツチングして孔径5000〜50000人の開
口部1.1.12を形成する。次に、回転軸Xを中心と
して基板1を回転させながら、一定の角度θ、例えば5
″〜20°傾斜させて大部分のAjllを金属層3の上
面に厚さ500〜3000人蒸着させてA2層4を形成
する。このとき、開口部内にAI!は、殆ど堆積されな
い。
次に、従来とは異なり第1図(C)に示すように、基板
lに対して垂直方向から金属微粒子をガス中蒸発法、ス
パッタ法等公知の方法によって厚さ0.1〜1.、Op
m堆積させる。このとき、金属微粒子は、A17層4上
だけでな(基板l上にも堆積体5として形成される。最
後に、後述する後処理によって、開口部に金属微粒子の
突起体が形成しないようにするため、第1図(D)に示
すように、A11層4とA47層上の金属微粒子5を除
去し、その後、高エネルギー光、例えば高効率、高出力
が期待できるエキシマレーザ−を照射することで、基板
1上の金属微粒子の堆積体5は、突起体6あるいは薄膜
構造体6′を形成する。
lに対して垂直方向から金属微粒子をガス中蒸発法、ス
パッタ法等公知の方法によって厚さ0.1〜1.、Op
m堆積させる。このとき、金属微粒子は、A17層4上
だけでな(基板l上にも堆積体5として形成される。最
後に、後述する後処理によって、開口部に金属微粒子の
突起体が形成しないようにするため、第1図(D)に示
すように、A11層4とA47層上の金属微粒子5を除
去し、その後、高エネルギー光、例えば高効率、高出力
が期待できるエキシマレーザ−を照射することで、基板
1上の金属微粒子の堆積体5は、突起体6あるいは薄膜
構造体6′を形成する。
ここで、突起体6を構成する微粒子の粒径は、数十人〜
1000人であり、また、薄膜構造体6′ としては、
上記微粒子の堆積膜やこれら微粒子が分散された薄膜等
が挙げられる。
1000人であり、また、薄膜構造体6′ としては、
上記微粒子の堆積膜やこれら微粒子が分散された薄膜等
が挙げられる。
ここで、本発明で用いられる金属微粒子材料としては、
非常に広い範囲に及んでいる。特に、低仕事関数、高融
点、低蒸気圧という性質を有する通常の陰極材料や2次
電子放出係数の大きな材料等が好適である。かかる材料
から必要とする目的に応じて適宜選んで微粒子として用
いることにより、所望の電界効果型電子放出素子を形成
することができる。
非常に広い範囲に及んでいる。特に、低仕事関数、高融
点、低蒸気圧という性質を有する通常の陰極材料や2次
電子放出係数の大きな材料等が好適である。かかる材料
から必要とする目的に応じて適宜選んで微粒子として用
いることにより、所望の電界効果型電子放出素子を形成
することができる。
具体的にはLaB5. CeBs、 YB4. GdB
4等の硼化物、TiC,ZrC,NbC,HfC,Ta
C,CeC,、SiC,WC等の炭化物、TiN、 Z
rN、 HfN等の窒化物、Nb、 Mo。
4等の硼化物、TiC,ZrC,NbC,HfC,Ta
C,CeC,、SiC,WC等の炭化物、TiN、 Z
rN、 HfN等の窒化物、Nb、 Mo。
Rh、Hf、Ta、W、Re、 Ir、 Pt、T
i、Au、Ag、Cu。
i、Au、Ag、Cu。
Cr、 Ai’、 Go、 Ni、 Fe、 Pb、
Pd、 Cs、 Ba等の金属、In2O5,5nOi
、 5bzOs、 Cab、 Bad、 SrO,Th
at等の金属酸化物、SL、 Ge等の半導体、カーボ
ン、AgMg等を一例として挙げることができる。なお
、本発明は、上記材料に限定されるものではない。
Pd、 Cs、 Ba等の金属、In2O5,5nOi
、 5bzOs、 Cab、 Bad、 SrO,Th
at等の金属酸化物、SL、 Ge等の半導体、カーボ
ン、AgMg等を一例として挙げることができる。なお
、本発明は、上記材料に限定されるものではない。
また、突起体6については、上述した材料の微粒子ある
いは微粒子から成る構造体で形成される。すなわち、か
かる微粒子が前述したように数十人〜1000人程度の
粒径を持つため、複数あるいは単独の微粒子で突起体自
体が形成されることになり、その形状も特に樹木状乃至
尖状の構造をもつものが好ましい。形成される突起体6
の密度。
いは微粒子から成る構造体で形成される。すなわち、か
かる微粒子が前述したように数十人〜1000人程度の
粒径を持つため、複数あるいは単独の微粒子で突起体自
体が形成されることになり、その形状も特に樹木状乃至
尖状の構造をもつものが好ましい。形成される突起体6
の密度。
数、高さは特に問わないが、大きくなる程電子放出特性
は改善され易い。望ましくは、突起体先端部と谷の部分
との高低差が500Å以上で、かつ、開口部の高さの1
5〜80%であるものが良い。かかる突起体6の形成は
、金属微粒子あるいは金属微粒子の堆積体に高エネルギ
ー光、例えば高効率。
は改善され易い。望ましくは、突起体先端部と谷の部分
との高低差が500Å以上で、かつ、開口部の高さの1
5〜80%であるものが良い。かかる突起体6の形成は
、金属微粒子あるいは金属微粒子の堆積体に高エネルギ
ー光、例えば高効率。
高出力が期待できるエキシマレーザ−を照射することで
可能となる。エキシマレーザ−の種類、パワー、照射時
間等の条件は、照射される微粒子あるいは微粒子の堆積
体の厚み1種類、密度等により異なるが、その状況によ
り適宜選ぶことができる。例えば、大気中で紫外線レー
ザーを照射するといった簡単な工程を付加して、かかる
突起体を形成するだけで、従来に比べ電子放出特性の向
上した電子放出素子を得ることができる。
可能となる。エキシマレーザ−の種類、パワー、照射時
間等の条件は、照射される微粒子あるいは微粒子の堆積
体の厚み1種類、密度等により異なるが、その状況によ
り適宜選ぶことができる。例えば、大気中で紫外線レー
ザーを照射するといった簡単な工程を付加して、かかる
突起体を形成するだけで、従来に比べ電子放出特性の向
上した電子放出素子を得ることができる。
以上のようにして作製された電子放出部には、突起体が
複数あり、高電界強度がそれぞれにかかって全体として
大きな放出電流が得られていると考えられる。
複数あり、高電界強度がそれぞれにかかって全体として
大きな放出電流が得られていると考えられる。
[実施例]
以下に、本発明の実施例を詳述する。
支1皿ユ
本実施例での電界効果型電子放出素子は、次のような工
程で作製される。先ず、第1図(A)に示すように、S
Lの基板1上にSiO□膜の絶縁層2を2pm厚に形成
し、その上にMO層3を0.4μm厚形成する。次に、
PMMA (ポリメチルメタクリレート)の電子線レジ
ストをスピンコード法を用いて、MON3上に塗布する
。その後、電子ビームを照射してバターニングを行った
後、イソプロピルアルコール等で電子線レジストを部分
的に除去し、MO層3を選択的にエツチングして第1の
開口部11を形成する。電子線レジストを完全に除去し
たのちSiO□のエツチング液により絶縁層2をエツチ
ングして第2の開口部12を形成する。
程で作製される。先ず、第1図(A)に示すように、S
Lの基板1上にSiO□膜の絶縁層2を2pm厚に形成
し、その上にMO層3を0.4μm厚形成する。次に、
PMMA (ポリメチルメタクリレート)の電子線レジ
ストをスピンコード法を用いて、MON3上に塗布する
。その後、電子ビームを照射してバターニングを行った
後、イソプロピルアルコール等で電子線レジストを部分
的に除去し、MO層3を選択的にエツチングして第1の
開口部11を形成する。電子線レジストを完全に除去し
たのちSiO□のエツチング液により絶縁層2をエツチ
ングして第2の開口部12を形成する。
次に第1図(B)に示すように、回転軸Xを中心にして
基板lを回転させながら、一定の角度θ=15°傾斜さ
せた方向からAρをMO層3の上面に蒸着させてAjJ
層4を0,3μmの厚さに形成する。
基板lを回転させながら、一定の角度θ=15°傾斜さ
せた方向からAρをMO層3の上面に蒸着させてAjJ
層4を0,3μmの厚さに形成する。
次に第1図(C)に示すように、基板lに対して垂直方
向から、MOの微粒子を第4図に示す真空装置によって
5基板及びA17層上に約1μm厚堆積させる。
向から、MOの微粒子を第4図に示す真空装置によって
5基板及びA17層上に約1μm厚堆積させる。
ここで用いる真空装置は、微粒子生成室21と微粒子堆
積室22及びその2室を継ぐ縮小拡大ノズル23から構
成され、微粒子堆積室22内の図中試料基板24の位置
に、前工程で得られた基板がセットされる。尚、実施に
当たっては排気系25で真空度をl X 10−’To
rr以下になるまで排気した後、Arガス26を微粒子
生成室21に140SCCM流した。この時、微粒子生
成室21の圧力は1.I Torr、微粒子堆積室22
の圧力はI X 1O−2Torrとなり、2ケタの真
空度の差を生じた。また、縮小拡大ノズル23の径は5
φであり、ノズル−基板間距離は60mmとした。
積室22及びその2室を継ぐ縮小拡大ノズル23から構
成され、微粒子堆積室22内の図中試料基板24の位置
に、前工程で得られた基板がセットされる。尚、実施に
当たっては排気系25で真空度をl X 10−’To
rr以下になるまで排気した後、Arガス26を微粒子
生成室21に140SCCM流した。この時、微粒子生
成室21の圧力は1.I Torr、微粒子堆積室22
の圧力はI X 1O−2Torrとなり、2ケタの真
空度の差を生じた。また、縮小拡大ノズル23の径は5
φであり、ノズル−基板間距離は60mmとした。
次いで、2インチφ(50,8mmφ)のMOツタ−ッ
ト27に投入電圧900■で直流スパッタを行った。
ト27に投入電圧900■で直流スパッタを行った。
この条件下で生成したMo微粒子を、ノズル23より吹
き出させて試料24上に堆積させる。このとき、微粒子
生成室21と微粒子堆積室22との圧力差のために、ノ
ズル23からMo微粒子を含むガスが高速ビームとなり
試料上に衝突し、Mo微粒子が固定化されつつ堆積する
。
き出させて試料24上に堆積させる。このとき、微粒子
生成室21と微粒子堆積室22との圧力差のために、ノ
ズル23からMo微粒子を含むガスが高速ビームとなり
試料上に衝突し、Mo微粒子が固定化されつつ堆積する
。
こうしてMo微粒子をlpm厚堆積させたが、このとき
Mo微粒子は、第1図(C)に示すように、基板1上だ
けでなくAj+層4上にも堆積される。この堆積物を高
分解能FE−3IEMで観察したところ、約30〜80
人の粒径をもち、中心粒径は約60人となっていた。
Mo微粒子は、第1図(C)に示すように、基板1上だ
けでなくAj+層4上にも堆積される。この堆積物を高
分解能FE−3IEMで観察したところ、約30〜80
人の粒径をもち、中心粒径は約60人となっていた。
次に、Ap層4とその上に堆積したMo微粒子を除去し
た後、かかる微粒子膜(堆積体)にLUMONICS社
製エキシマレーザ−HE−440により、ArF希ガス
ハロゲンエキシマレーザ−(波長192 nm)を大気
中でパルス幅14ns、パルス周波数10Hz、エネル
ギー密度0.06J/cm”の条件で20sec照射し
た。その結果、第1図(D)に示すような突起体6及び
薄膜構造体6′が形成された。突起の高さは、基板1上
面から約0.7pmで先端がやや尖っている樹木状の突
起体6として形成された。
た後、かかる微粒子膜(堆積体)にLUMONICS社
製エキシマレーザ−HE−440により、ArF希ガス
ハロゲンエキシマレーザ−(波長192 nm)を大気
中でパルス幅14ns、パルス周波数10Hz、エネル
ギー密度0.06J/cm”の条件で20sec照射し
た。その結果、第1図(D)に示すような突起体6及び
薄膜構造体6′が形成された。突起の高さは、基板1上
面から約0.7pmで先端がやや尖っている樹木状の突
起体6として形成された。
こうして作製された試料に対し、真空度l0−6Tor
rでMo層3と微粒子突起体6の間で10’〜’ V/
amの電圧を印加し、試料垂直方向3mm離した位置に
被照射体を置いたところ、0.6篩の安定な電子放出を
確認した。
rでMo層3と微粒子突起体6の間で10’〜’ V/
amの電圧を印加し、試料垂直方向3mm離した位置に
被照射体を置いたところ、0.6篩の安定な電子放出を
確認した。
之較■ユ
実施例1に於いてArF希ガスハロゲンエキシマレーザ
−を照射しなかった以外は、実施例1と同様にして素子
の評価を行ったが、電子放出は確認されなかった。
−を照射しなかった以外は、実施例1と同様にして素子
の評価を行ったが、電子放出は確認されなかった。
夫j1吐ヱ
実施例1に於いてMo微粒子の替わりにW微粒子を0.
8p、tn厚堆積させ、その堆積体にKrF希ガスハロ
ゲンレーザー(波長248nm )を大気中でパルス幅
]、5ns、パルス周波数10Hz、エネルギー密度0
.07J/−cm”の条件で100sec照射した以外
は、実施例1と同様に作製した。その結果、基板1上面
から約0.7pmの高さの樹木状突起体が形成された。
8p、tn厚堆積させ、その堆積体にKrF希ガスハロ
ゲンレーザー(波長248nm )を大気中でパルス幅
]、5ns、パルス周波数10Hz、エネルギー密度0
.07J/−cm”の条件で100sec照射した以外
は、実施例1と同様に作製した。その結果、基板1上面
から約0.7pmの高さの樹木状突起体が形成された。
レーザー照射前のW微粒子を高分解能FE−3EMで観
察したところ、40〜80人の粒径をもち、中心粒径は
約70人となっていた。次に、実施例1と同様に評価し
たところ、0.7.Aの安定な電子放出を確認した。
察したところ、40〜80人の粒径をもち、中心粒径は
約70人となっていた。次に、実施例1と同様に評価し
たところ、0.7.Aの安定な電子放出を確認した。
比J口糺旦
実施例2に於いてKrF希ガスハロゲンエキシマレーザ
−を照射しなかった以外は、実施例2と同様にして素子
の評価を行ったが、電子放出は確認されなかった。
−を照射しなかった以外は、実施例2と同様にして素子
の評価を行ったが、電子放出は確認されなかった。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明の電界効果型電子放出素子
及びその製造方法によれば、金属微粒子の堆積体に高エ
ネルギー光を照射するという、簡素な工程で作製できる
ばかりでなく、素子の形成に際しその再現性が良く、素
子間のバラツキが少ないことから、マルチ構造にも適し
た素子を提供することが可能となる。
及びその製造方法によれば、金属微粒子の堆積体に高エ
ネルギー光を照射するという、簡素な工程で作製できる
ばかりでなく、素子の形成に際しその再現性が良く、素
子間のバラツキが少ないことから、マルチ構造にも適し
た素子を提供することが可能となる。
第1図(A)〜(D)は、本発明の電界効果型電子放出
素子の一製造工程例を説明するための概略的工程図を示
すものである。 第2図は、微粒子を試料上に堆積させるための一実施例
の真空装置図である。 第3図は、従来の電界効果型電子放出素子の一例を示す
概略的部分断面図である。 第4図は、従来の電界効果型電子放出素子の製法を説明
するための概略的工程図である。 1・・・基板 2・・・絶縁層 3.4.9・・・金属層 5・・・微粒子堆積体 6・・・突起体 6′・・・薄膜構造体 7.8・・・尖頭部を有する電極 11、12・・・開口部 21・・・微粒子生成室 22・・・微粒子堆積室 23・・・縮小拡大ノズル 24・・・試料 25・・・排気系 26・・・導入ガス(Ar) 27・・・ターゲット
素子の一製造工程例を説明するための概略的工程図を示
すものである。 第2図は、微粒子を試料上に堆積させるための一実施例
の真空装置図である。 第3図は、従来の電界効果型電子放出素子の一例を示す
概略的部分断面図である。 第4図は、従来の電界効果型電子放出素子の製法を説明
するための概略的工程図である。 1・・・基板 2・・・絶縁層 3.4.9・・・金属層 5・・・微粒子堆積体 6・・・突起体 6′・・・薄膜構造体 7.8・・・尖頭部を有する電極 11、12・・・開口部 21・・・微粒子生成室 22・・・微粒子堆積室 23・・・縮小拡大ノズル 24・・・試料 25・・・排気系 26・・・導入ガス(Ar) 27・・・ターゲット
Claims (3)
- (1)電子放出部が、金属微粒子で形成された複数の突
起体から成ることを特徴とする電界効果型電子放出素子
。 - (2)電子放出部が、金属微粒子で形成された、複数の
突起体及び薄膜構造体から成ることを特徴とする電界効
果型電子放出素子。 - (3)基板上に設けた金属微粒子堆積体に、高エネルギ
ー光を照射して該堆積体を突起体又は薄膜構造体に形成
して電子放出部を作製することを特徴とする電界効果型
電子放出素子の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1283105A JPH03147226A (ja) | 1989-11-01 | 1989-11-01 | 電界効果型電子放出素子及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1283105A JPH03147226A (ja) | 1989-11-01 | 1989-11-01 | 電界効果型電子放出素子及びその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03147226A true JPH03147226A (ja) | 1991-06-24 |
Family
ID=17661284
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1283105A Pending JPH03147226A (ja) | 1989-11-01 | 1989-11-01 | 電界効果型電子放出素子及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03147226A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0660804A (ja) * | 1992-04-14 | 1994-03-04 | Micron Technol Inc | 自己整合高エネルギー融蝕により製造される電界放出ディスプレイ用スペーサー |
WO2002037518A1 (fr) * | 2000-11-06 | 2002-05-10 | Fujitsu Limited | Cathode a emission de champ et son procede de production |
KR100785028B1 (ko) * | 2006-11-06 | 2007-12-12 | 삼성전자주식회사 | 전계방출소자의 제조방법 |
-
1989
- 1989-11-01 JP JP1283105A patent/JPH03147226A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0660804A (ja) * | 1992-04-14 | 1994-03-04 | Micron Technol Inc | 自己整合高エネルギー融蝕により製造される電界放出ディスプレイ用スペーサー |
WO2002037518A1 (fr) * | 2000-11-06 | 2002-05-10 | Fujitsu Limited | Cathode a emission de champ et son procede de production |
US7030545B2 (en) | 2000-11-06 | 2006-04-18 | Fujitsu Limited | Field emission cathode with emitters formed of acicular protrusions with secondary emitting protrusions formed thereon |
KR100701476B1 (ko) * | 2000-11-06 | 2007-03-29 | 후지쯔 가부시끼가이샤 | 전계 방출 음극과 그 제조 방법 |
KR100785028B1 (ko) * | 2006-11-06 | 2007-12-12 | 삼성전자주식회사 | 전계방출소자의 제조방법 |
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