JPH03132012A - 半導体露光装置 - Google Patents

半導体露光装置

Info

Publication number
JPH03132012A
JPH03132012A JP1269141A JP26914189A JPH03132012A JP H03132012 A JPH03132012 A JP H03132012A JP 1269141 A JP1269141 A JP 1269141A JP 26914189 A JP26914189 A JP 26914189A JP H03132012 A JPH03132012 A JP H03132012A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser
wavelength
dye
harmonic
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1269141A
Other languages
English (en)
Inventor
Shoji Ishizaka
石坂 祥司
Hideo Hara
秀雄 原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP1269141A priority Critical patent/JPH03132012A/ja
Publication of JPH03132012A publication Critical patent/JPH03132012A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 り産業上の利用分野J 本発明は、レーザ光によりマスクのパターンを投影光学
系によって基板上に投影露光する半導体露光装置に関す
るものである。
[従来の技術] 半導体露光装置は、レジストが塗布された半導体基板(
例えばシリコンウェハ)にマスクを介して露光し、レジ
ストに所定のパターンを焼き付けるものである。その光
源としては従来水銀ランプを使用していたが、最近では
パターンの微細化が要求されることから特開昭61−8
2527号等に見られるように波長の短いレーザ光を使
用したものが提案実施されている。レーザ装置の代表的
なものとしては現在のところ、^−248,のKrFレ
ーザー、λ−255,,の銅蒸気レーザーの第2高調波
等がある。また、次世代の光源としてλ−193nsの
A、Fレーザーの使用も試みられている。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、A、Fレーザーを用いた露光装置は以下
に述べるような問題点があることが判明した、先ず、安
定化共振器型のエキシマレーザ−を考えると、このレー
ザーはスペクトル幅がΔλ0.4.、と広く(つまり草
色性が悪く)、光学系に使用する投影レンズは石英とホ
タル石による色消しレンズとすることが必須となる。し
かし、このレンズは色消しのため設計製造が著しく困難
で、且つ熱的に不安定で実用的でないと云う欠点を有す
る。これに対して、共振器中に分光素子を入れ、スペク
トル幅を狭くしたA、Fレーザーを使用することが提案
されている。この狭帯域化されたレーザーを用いると、
色消しレンズの必要がなく石英のみでレンズを製作する
ことができるため、製造が容易で珪つまた熱的に安定し
たレンズを得ることができるという利点を有する。
しかしながら、A、Fレーザー自体は液体窒素を使用し
ない限り寿命が短く、またλ−193゜。
という短波長でかつパルスレーザ−であるためにビーク
パワーが大きく、狭帯化用の分光素子(エソ1フン、グ
レーライング、プリズム等)のダメージが大きいと云う
問題があった。
したがって、本発明は上述したような従来の問題点に鑑
みてなされたもので、短波長でスペクトル幅の侠いレー
ザ光を得ることができ、また可視光のため分光素子の劣
化もない長が命、高効率な半導体露光装置を提供するこ
とにある。
[課題を解決するための手段] 本発明は上記目的を達成するためになされたもので、そ
の第1の発明は、レーザ装置から出力されたレーザ光に
より、マスクのパターンを投影光学系によって基板−F
に投影露光する半導体露光装置において、前記レーザ光
として色素レーザ光の高調波を使用するようにしたもの
である。
また第2の発明は色素レーザ光をエキシマレーザ−によ
って励起され、波長狭帯化された色素レーザ光としたも
のである。
また第3の発明は色素レーザ光の高調波を第2高調波と
したものである。
また第4の発明は前記高調波がβB■B2O4で発生せ
られ、かつその基本波が404.、−440゜、である
ようにしたものである。
[作用] 本発明において、色素レーザーは適切な色素と分光素子
を用いると、赤外から紫外まで発振させることができる
が、紫外では高強度の励起光源が少なく、また色素の劣
化も問題となるが、励起源としてXeClレーザーで色
素レーザー光源を励起するとこの問題を解消し得る。ま
た、色素レーザーは高強度ではあるが、可視光であるた
め、この段階で狭帯化を行っても分光素子の劣化はなく
、また色素レーザーのところで1−分に狭帯域化するの
で高調波変換後の狭帯域化は必要ない。
[実施例] 以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて詳細に説明
する。
添付図面は本発明に係る半導体露光装置の一実施例を示
す光学系の構成図である。同図において、1はXeCl
エキシマレーザ−12はXeClエキシマレーザ−1に
よる光励起によって動作しエキシマレーザ−励起色素レ
ーザ光を発する色素レーザーである。、X、CIエキシ
マレーザ−1から出力されたレーザ光(308,)LB
oはアッテネータ3、シャツ4、ビーム整形器5を経た
後ビームスプリッタ6によって透過光束と反射光束との
分岐され、透過光束が第1色素セル8Aを、反射光束が
ミラー7を経て第2色素セル8Bをそれぞれ照射して色
素レーザー2を励起する。色素レーザー2の発振波長域
は、適当な色素、濃度等を選択することにより404−
〜440..の範囲に設定される。また、第1色素セル
8Aを挟んでフロントミラーとしてのビームスプリッタ
つと回折格子10とを対向配置し、これらによって適当
な波長選択性をもった共振器を構成することにより、本
実施例では409.6n、の波長を選択して狭帯化して
いる。なお、第2色素セル8Bはここでは増幅器として
作用する。そしてこの色素レーザー2から出力された4
09.6.、のレーザ光LB1を非線型結晶βB■B2
O4  (以下FJBOとも呼ぶ)11に入れることに
より第2高調波〈λ204 、  s nmm ) L
 B 2を選択する。
この場合、409.6.の第2高調波204゜81.は
波長248□のkrFレーザー、銅蒸気レーザーの第2
高調波(波長255゜、)の次世代光源として十分に短
い波長である。また、βB■B2O411にとってもこ
の波長は位相整合の収り易い波長であるので高い効率で
第2高調波を発生できる0本実験ではX、Clエキシマ
レーザ−1で励起すると、基本波(BBOIIへの入射
光波長)が404.、〜440..の波長域において1
0〜20%の高い効率の出力を得ることができた。
同時に、404〜4−’10.の波長域はBBOIIに
とって入射ビームの入射角度の設定精度がそれほど必要
とされない範囲である。
前記βB■B2O411によって選択された第2高調波
からなるレーザ光LB2はビームスプリッタI2によっ
て反射光束LB3と透過光束LB4に分岐され、反射光
束LB、はアライメント光学系13に、透過光束LB、
は投影光学系14に導かれる。
前記アライメント光学系13は、マスクやレチクル(以
下総称してマスクと呼ぶ)Mに設けた位置合わせ用マー
クとウェハWに設けたアライメントマークとを一致させ
ウェハWを位置決めするためのもので、ミラー15.1
6、送光光学系17、ビームスプリッタ18、受光系1
9、アライメント用対物レンズ20、ミラー21等で構
成されている。送光光学系17を通りビームスプリッタ
18を透過した透過光は対物レンズ20によって絞られ
、ミラー21で下方に反射してマスクMの位置合わせ用
マークを照射する。そして、この照射光は投影レンズP
Lによって集光され瞳ト〕pを通ってウェハW上のアラ
イメントマーク部を照射し、その反射光が同一光路を通
って戻り、ビームスプリッタ18に当たって反射し、受
光部19に導かれる。また、ウェハw−hのアライメン
トマークからの光線は前記反射光と同一光路、すなわち
瞳Ep−投影しンズPL−レチクルM−ミラー21対物
レンズ20を経てビームスプリッタ18で反射し、前記
受光部19に入射する。そこで、受光部19に入射した
マスクMのマーク像(またはマーク反射光)と、ウェハ
Wのアライメントマーク像(または反射光)とを観察し
、ウェハWのアライメントマーク像がマスクMのマーク
像と一致するようウェハWのステージST(またはレチ
クルステージ)を移動調整し、重なった時ウェハWのア
ライメントを完了する。
前記照射光学系14は前記ビームスプリッタ12を透過
した透過光束LB4のビーム径を拡大するビームエクス
パンダ25を備え、これによって拡大された透過光束は
ピエゾ素子、磁石等のミラー駆動系26によって振動さ
れる振動ミラー27で反射し、リレーレンズ28を経て
フライアイレンズ29に入射し、その出射面側に多数の
2次光源像(投影レンズPLの瞳Epと共役)を形成す
る。フライアイレンズ29を用いることによって瞳Ep
内に形成される点光源像群が大幅に増加する(面光源化
する)ことになり、光学系によって作られる様々のゴー
ストの低減と後の光学系のダメージを解消する機能を持
っている。フライアイレンズ29を通過した光はリレー
レンズ30によって平行光束とされ、可変照明視野絞り
(レチクルブラインド)31の開口を通った後、リレー
レンズ32、ダイクロイックミラー33、結像レンズ3
4を経て前記マスクMを均一な光強度で照射する。ダイ
クロイックミラー33は感光剤の露光に有利な単波長の
露光光は反射し、それよりも波長の長い光を透過させる
分光特性を有している。
マスクMには透光部と不透光部とからなる回路パターン
等が形成されている。したがって、このマスクMを透過
する光を前記投影レンズPLによって集光し、ウェハW
上に結像すると、マスクMの回路パターン等に対応した
縮小像が前記ウェハWの感光層上に転写される。
また上記構成において、振動ミラー27の振れ原点はフ
ライアイレンズ29の入射面とほぼ共役に設定されてい
るため、振動ミラー27を一定範囲内で振らせつつX、
Clレーザ光源1をパルス発振させると、フライアイレ
ンズ29へのビーム入射角が逐次変化する。
一般にレーザ光のコヒーレンシイが高まると、フライア
イレンズ29の各エレメントレンズの射出端に集光した
2次光源(スポット光)からの光同士の干渉現象が無視
し得ないことがある。それはレチクルMまたはウェハW
上に1次元、または2次元の干渉縞(規則的な干渉パタ
ーン)が重畳することである。そこで、ウェハW上の1
つのショット領域に対する露光動作中、振動ミラー27
を揺動させてレチクルMまたはウェハW七の干渉縞を1
次元または2次元に振動させて、露光終了後ではレジス
トによる時間的な平均化効果で、あたかも干渉縞が存在
しなかったように−様な照度分布の露光が行われる。
ところで、本実施例では可視域の波長409゜6゜、で
狭帯化するために、第1色素セル8Aからなる色素レー
ザ光源には回折格子10が設けられている。この回折格
子IOは色素セル8Aからのビームを波長分布に応じた
異なる角度で回折するものであり、ビームの入射角をv
&Wすることで、狭帯化する中心波長をシフトさせるこ
とができる。
そこで、中心波長を安定化するために、ビームスプリッ
タ9を射出したビーム(波長409.6nm)の一部、
第2色素セル8Bを射出したビームLB1 (波長40
9.6゜、)の一部、あるいはBBoilを射出したビ
ームLB2 (波長204゜81.)の一部をビームス
プリッタで分割して波長モニター手段に導き、目標中心
波長からのずれ量を求め、このずれ量が許容値以内にな
るように回折格子10の傾きをピエゾ素子等で微調する
波長安定化フィードバック系を組込むことが望ましい。
なお、狭帯化の方式としては、回折格子以外にエタロン
を用いた方式、プリズムと回折格子とを組み合わせた方
式等が利用できる。
以上の構成から明らかなように、BBOIIに入射する
基本波(波長409.6゜、)は、その時点で十分に狭
帯化されているが、Br1OL1に入射させて第2高調
波(波長204.8.)のビームに変換されると、さら
にビームのコヒーレンシイ〈単色性、スペクトル幅等)
は良好なものになる。また0色素レーザ光源のところで
狭帯化が行われるため、狭帯化に必要な各種光学素子(
回折格子等)が遠紫外用の硝材等に限られることなく自
由に選定でき、しかも409.6゜での狭帯化幅は、波
長204.8゜での狭帯化幅の2倍でよいといった利点
がある。
なお、本実施例は2つの色素セル8A、8Bを設けたが
、本発明はこれに特定されるものではなく、例えば3つ
以上であってもよい、また、アライメント光学系13、
照射光学系14等についても種々の変形、変更が可能で
ある。
し発明の効果] 以上述べたように本発明に係る半導体露光装置は、露光
用光源光として色素レーザ光の高調波を使用するように
構成したので、短波長でスペクトル幅の狭いレーザ光を
、短波長用の分光素子を用いることなく得ることができ
、また励起用レーザーとしてXeClレーザーを用いる
と、波長変換効率が高く、長n命で稼働率の高い高解像
度の露光装置を提供できる。さらに、非線型結晶βB。
B204を用いているので、色素レーザーのところで狭
帯域化でき、高調波変換後の狭帯域化が不要である。
【図面の簡単な説明】
添付図面は本発明に係る半導体露光装置の一実施例を示
す光学系の構成図である。 ■・・・XeC+レーザー、2・・・色素レーザー、8
A、8B・・・色素セル、13・・・アライメント光学
系、14・・・照射光学系、M・・・ウェハ、ST・・
・ステージ。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)レーザ装置から出力されたレーザ光により、マス
    クのパターンを投影光学系によって基板上に投影露光す
    る半導体露光装置において、 前記レーザ光として色素レーザ光の高調波を使用するこ
    とを特徴とする半導体露光装置。
  2. (2)請求項1において、色素レーザ光がエキシマレー
    ザーによって励起され、波長狭帯化された色素レーザ光
    であることを特徴とする半導体露光装置。
  3. (3)請求項1において、前記高調波が第2高調波であ
    ることを特徴とする半導体露光装置。
  4. (4)請求項3において、前記高調波がβB_■B_2
    O_4で発生せられ、かつその基本波が404nm〜4
    40nmであることを特徴とする半導体露光装置。
JP1269141A 1989-10-18 1989-10-18 半導体露光装置 Pending JPH03132012A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1269141A JPH03132012A (ja) 1989-10-18 1989-10-18 半導体露光装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1269141A JPH03132012A (ja) 1989-10-18 1989-10-18 半導体露光装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH03132012A true JPH03132012A (ja) 1991-06-05

Family

ID=17468258

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1269141A Pending JPH03132012A (ja) 1989-10-18 1989-10-18 半導体露光装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH03132012A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011223027A (ja) * 1992-06-26 2011-11-04 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体膜の作製方法及び電子機器

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011223027A (ja) * 1992-06-26 2011-11-04 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体膜の作製方法及び電子機器

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6128030A (en) Semiconductor exposure device
US5473409A (en) Semiconductor light exposure device
JP2004086193A (ja) 光源装置及び光照射装置
JP3269231B2 (ja) 露光方法、光源装置、及び露光装置
US7397598B2 (en) Light source unit and light irradiation unit
JP3175180B2 (ja) 露光方法及び露光装置
JP2001085313A (ja) 露光方法及び装置、並びにデバイスの製造方法
JP5256606B2 (ja) レーザ装置、エキシマレーザ装置、光照射装置及び露光装置、並びに光発生方法、エキシマレーザ光発生方法、光照射方法、露光方法及びデバイス製造方法
US5198837A (en) Laser beam harmonics generator and light exposing device
US6836592B2 (en) Method and apparatus for fiber Bragg grating production
JP3452057B2 (ja) レーザ光の高調波発生装置、及びそれを用いた露光装置、並びにレーザ光の高調波発生方法、及びそれを用いた露光方法、それを用いたデバイス製造方法
JPWO2002065597A1 (ja) 光源装置及び光照射装置、並びにデバイス製造方法
JP2003163393A (ja) 光源装置及び光照射装置
JPH01119020A (ja) 露光装置
JPH03132012A (ja) 半導体露光装置
JP2008171961A (ja) レーザ装置、露光方法及び装置、並びにデバイス製造方法
JP2003161974A (ja) 光源装置及び光照射装置
JP2008124321A (ja) レーザ装置、光照射装置及び露光装置、並びに光生成方法、光照射方法、露光方法及びデバイス製造方法
JPH07170010A (ja) 光源装置
JPH07142805A (ja) 半導体露光装置及び露光方法
JP3312447B2 (ja) 半導体露光装置
JP2008124318A (ja) レーザ装置、光照射装置及び露光装置、並びに光生成方法、光照射方法、露光方法及びデバイス製造方法
JP3287334B2 (ja) レーザ光の高調波発生装置、露光装置、レーザ光の高調波発生方法、それを用いた露光方法、及びそれを用いたデバイス製造方法
JPH03225914A (ja) 露光装置
JP2001085306A (ja) 光源装置、露光装置及び露光方法、並びにデバイス及びその製造方法