JPH03126278A - Co↓2ガスレーザ制御装置 - Google Patents
Co↓2ガスレーザ制御装置Info
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- JPH03126278A JPH03126278A JP26436089A JP26436089A JPH03126278A JP H03126278 A JPH03126278 A JP H03126278A JP 26436089 A JP26436089 A JP 26436089A JP 26436089 A JP26436089 A JP 26436089A JP H03126278 A JPH03126278 A JP H03126278A
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- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims abstract description 32
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims abstract description 32
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 27
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims abstract description 17
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract description 7
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 abstract description 7
- 230000010354 integration Effects 0.000 abstract 1
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 22
- 238000000034 method Methods 0.000 description 16
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 7
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 5
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 5
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 3
- 210000003323 beak Anatomy 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/10—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
- H01S3/102—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling the active medium, e.g. by controlling the processes or apparatus for excitation
- H01S3/104—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling the active medium, e.g. by controlling the processes or apparatus for excitation in gas lasers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/09—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping
- H01S3/097—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping by gas discharge of a gas laser
- H01S3/0975—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping by gas discharge of a gas laser using inductive or capacitive excitation
-
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
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- H01S3/13—Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude
- H01S3/131—Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by controlling the active medium, e.g. by controlling the processes or apparatus for excitation
- H01S3/134—Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by controlling the active medium, e.g. by controlling the processes or apparatus for excitation in gas lasers
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明はCO2ガスレーザの制御装置に関し、特にRF
励起CO2ガスレーザのパルスモードおよびCWモード
のピーク値コントロール、フィードバック制御に関する
ものである。
励起CO2ガスレーザのパルスモードおよびCWモード
のピーク値コントロール、フィードバック制御に関する
ものである。
従来の技術
従来RF励起CO2ガスレーザのピーク値コントロール
、フィードバック制御については、レーザ出力の大きさ
を設定するパワー設定回路の出力と高周波出力の大きさ
を検出する電力検出回路の出力とを誤差増幅回路に入力
し、誤差増幅回路の出力を減衰回路の入力としていた。
、フィードバック制御については、レーザ出力の大きさ
を設定するパワー設定回路の出力と高周波出力の大きさ
を検出する電力検出回路の出力とを誤差増幅回路に入力
し、誤差増幅回路の出力を減衰回路の入力としていた。
以下、RF励起発振器の構成を第7図で、また、従来の
RF励起CO2ガスレーザ制御装置の構成および制御ブ
ロック図を第8図と第9図で説明する。
RF励起CO2ガスレーザ制御装置の構成および制御ブ
ロック図を第8図と第9図で説明する。
まず第7図において、第7図は一般的な高速軸流形RF
励起発振器の構成を示し、ガラスなどの誘電体よりなる
放電管2の外周上には金属の平行平板電FM3t 4が
密着して設けられている。平行平板電極3,4には高周
波電源1からの出力、例えば13.56 MHz、 2
.5 K W、 2〜3 K ”/が供給されている。
励起発振器の構成を示し、ガラスなどの誘電体よりなる
放電管2の外周上には金属の平行平板電FM3t 4が
密着して設けられている。平行平板電極3,4には高周
波電源1からの出力、例えば13.56 MHz、 2
.5 K W、 2〜3 K ”/が供給されている。
平行平板電極3,4にはさまれた放電管2内の放電空間
には矢印で示すような方向に放電5が行なわれる。
には矢印で示すような方向に放電5が行なわれる。
放電空間の両端に固定配置されたりアミラー(全反射鏡
)6と出力ミラー(部分反射鏡)7とは光共振器を形成
し、レーザ出力8は出力ミラー7より取り出される。
)6と出力ミラー(部分反射鏡)7とは光共振器を形成
し、レーザ出力8は出力ミラー7より取り出される。
レーザガス9は送気管10の中を循環しており、放電5
及びレーザガスを循環させるブロア(送風機)12によ
り温度上昇したレーザガス9は熱交換器11により冷却
される。
及びレーザガスを循環させるブロア(送風機)12によ
り温度上昇したレーザガス9は熱交換器11により冷却
される。
第7図の高周波電源1は第8図のRF電源13に相当し
、第8図について説明すると高周波出力を発生するRF
電源13の出力は同軸ケーブル14で負荷とのマツチン
グをとるためのマツチングボックス16に伝送される。
、第8図について説明すると高周波出力を発生するRF
電源13の出力は同軸ケーブル14で負荷とのマツチン
グをとるためのマツチングボックス16に伝送される。
マツチングボックス16の出力は並列負荷とのバランス
をとるために設けられたカップリングコンデンサ16〜
18に供給され、カップリングコンデンサ16〜18に
は放電管19〜21が振続されている。
をとるために設けられたカップリングコンデンサ16〜
18に供給され、カップリングコンデンサ16〜18に
は放電管19〜21が振続されている。
第9図について説明すると、発振回路23の出力はスイ
ッチ回路24を経た後RF小出力大きさをコントロール
する減衰回路25に入力される。
ッチ回路24を経た後RF小出力大きさをコントロール
する減衰回路25に入力される。
減衰回路25の出力はプリアンプ26に入力され、プリ
アンプ26の出力はドライバ27に入力される。ドライ
バ27の出力は真空管などを用いた増幅回路28に入力
され、増幅回路28の出力は同調回路(タンク回路)2
9に入力される。同調回路29の出力は電力検出回路3
oを経た後、同軸ケーブル用コネクタ31から外部に出
力される。
アンプ26の出力はドライバ27に入力される。ドライ
バ27の出力は真空管などを用いた増幅回路28に入力
され、増幅回路28の出力は同調回路(タンク回路)2
9に入力される。同調回路29の出力は電力検出回路3
oを経た後、同軸ケーブル用コネクタ31から外部に出
力される。
また、起動回路32の出力はパルスモードまたはCWモ
ードの波型設定回路33に入力され、波形設定回路33
からはパルスモード時のパルス周波数、パルス1隔が設
定された、あるいはCWモード時の通電、出力期間が設
定された信号が出力される。スイッチ回路24は波形設
定回路33の出力に連動して開閉し、スイッチ回路24
が開の場合はRF出力は瞬時に遮断、OFFする。
ードの波型設定回路33に入力され、波形設定回路33
からはパルスモード時のパルス周波数、パルス1隔が設
定された、あるいはCWモード時の通電、出力期間が設
定された信号が出力される。スイッチ回路24は波形設
定回路33の出力に連動して開閉し、スイッチ回路24
が開の場合はRF出力は瞬時に遮断、OFFする。
RF出力の大きさ、即ちレーザ出力の大きさを設定する
パワー設定回路36の出力は、誤差増幅回路34の非反
転端子に入力される。一方誤差増幅回路34の反転端子
には電力検出回路30の出力が入力され、誤差増幅回路
34の出力は減衰回路26に入力される。減衰回路25
の入力は0〜6vなどと変化し、入力が高い程RF出力
は大きく、RF出力をコントロールする。
パワー設定回路36の出力は、誤差増幅回路34の非反
転端子に入力される。一方誤差増幅回路34の反転端子
には電力検出回路30の出力が入力され、誤差増幅回路
34の出力は減衰回路26に入力される。減衰回路25
の入力は0〜6vなどと変化し、入力が高い程RF出力
は大きく、RF出力をコントロールする。
発明が解決しようとする課題
電力検出回路の出力とパワー設定回路の出力とを誤差増
幅回路に入力し、誤差増幅回路の出力を減衰回路に入力
してフィードバック制御する方法は、パルスモードまた
はCWモードの波形の立ち上げを高速に立ち上げ、しか
も波形立ち上げ時のオーバシュートを速く、小さな値に
抑え込むために、電力検出回路、誤差増幅回路のフィー
ドバック制御系を高応答にし、増幅度を上げると、波形
立ち上げ後の定常状態で、以下に示す問題が発生した。
幅回路に入力し、誤差増幅回路の出力を減衰回路に入力
してフィードバック制御する方法は、パルスモードまた
はCWモードの波形の立ち上げを高速に立ち上げ、しか
も波形立ち上げ時のオーバシュートを速く、小さな値に
抑え込むために、電力検出回路、誤差増幅回路のフィー
ドバック制御系を高応答にし、増幅度を上げると、波形
立ち上げ後の定常状態で、以下に示す問題が発生した。
即ち、フィードバック制御系を高応答にすると、位相補
償、即ち高周波出力などの出力の位相、または高周波出
力などを検出する検出回路の位相と、フィードバック制
御する誤差増幅回路の出力の位相が位相ずれを生じ、場
合によっては正帰還がかかり、ピーク出力がダンピング
、発振を生ずる場合がある。
償、即ち高周波出力などの出力の位相、または高周波出
力などを検出する検出回路の位相と、フィードバック制
御する誤差増幅回路の出力の位相が位相ずれを生じ、場
合によっては正帰還がかかり、ピーク出力がダンピング
、発振を生ずる場合がある。
また、誤差増幅回路の増幅度を上げた場合、電圧変動な
どの環境変動などの外乱をトリガにして、ピーク出力が
外乱による変動以上のダンピングを生ずる場合がある。
どの環境変動などの外乱をトリガにして、ピーク出力が
外乱による変動以上のダンピングを生ずる場合がある。
また、フィードバック制御系を高応答、高増幅度にした
場合、高応答、高増幅度であるので、部品バラツキより
ダンピング、発振を生じるものがある。
場合、高応答、高増幅度であるので、部品バラツキより
ダンピング、発振を生じるものがある。
また、波形立ち上げ時のオーバシュート、ダンピングを
より確実に速く、小さな値に抑え込みたいが、できない
場合があった。
より確実に速く、小さな値に抑え込みたいが、できない
場合があった。
また、波形立ち上げ時のオーバシュート波形が、その後
引き続きダンピングを生じた場合、特にパルス波形でパ
ルス幅が狭くなった場合、ピーク値の変動影響が犬とな
る。
引き続きダンピングを生じた場合、特にパルス波形でパ
ルス幅が狭くなった場合、ピーク値の変動影響が犬とな
る。
また、波形立ち上げ時のオーバシュートを確実になくし
たいが、できない。
たいが、できない。
本発明は従来の欠点を除去し、波形立ち上げ後の定常状
態でピーク値のダンピング、発振がない、また、波形立
ち上げ時のオーバシュート、ダンピンフカ小さい、また
、波形立ち上げ時のオーバシュートがない、安定したフ
ィードバック制御の方法およびその装置を提供するもの
である。
態でピーク値のダンピング、発振がない、また、波形立
ち上げ時のオーバシュート、ダンピンフカ小さい、また
、波形立ち上げ時のオーバシュートがない、安定したフ
ィードバック制御の方法およびその装置を提供するもの
である。
課題を解決するだめの手段
上記の課題を解決するために、本発明のCO2ガスレー
ザ制御装置は、高周波出力を検出する電力検出回路と、
該電力検出回路の出力をサンプルホールドするサンプル
ホールド回路と、該サンプルホールド回路のサンプリン
グ周波数を設定するクロック信号発生回路と、前記サン
プルホールド回路の出力を比例制御、積分制御、微分制
御するフィードバック制御回路に用いられるPID回路
と、レーザ出力の大きさを設定するパワー設定回路と、
該パワー設定回路で設定された大きさとなるように高周
波出力をフィードバック制御する誤差増幅回路とを具備
し、前記電力検出回路の出力と、前記クロック信号発生
回路の出力とを前記サンプルホールド回路に入力し、該
サンプルホールド回路の出力を前記PID回路に入力し
、該PID回路の出力と、前記パワー設定回路の出力と
を前記誤差増幅回路に入力してなるものである。
ザ制御装置は、高周波出力を検出する電力検出回路と、
該電力検出回路の出力をサンプルホールドするサンプル
ホールド回路と、該サンプルホールド回路のサンプリン
グ周波数を設定するクロック信号発生回路と、前記サン
プルホールド回路の出力を比例制御、積分制御、微分制
御するフィードバック制御回路に用いられるPID回路
と、レーザ出力の大きさを設定するパワー設定回路と、
該パワー設定回路で設定された大きさとなるように高周
波出力をフィードバック制御する誤差増幅回路とを具備
し、前記電力検出回路の出力と、前記クロック信号発生
回路の出力とを前記サンプルホールド回路に入力し、該
サンプルホールド回路の出力を前記PID回路に入力し
、該PID回路の出力と、前記パワー設定回路の出力と
を前記誤差増幅回路に入力してなるものである。
また、パルスモードまたはCWモードの波形を設定する
波形設定回路と、遅延回路とを具備し、前記波形設定回
路の出力と、前記クロック信号発生回路の出力とを前記
遅延回路に入力し、該遅延回路の出力全前記サンプルホ
ールド回路に入力してなるものである。
波形設定回路と、遅延回路とを具備し、前記波形設定回
路の出力と、前記クロック信号発生回路の出力とを前記
遅延回路に入力し、該遅延回路の出力全前記サンプルホ
ールド回路に入力してなるものである。
また、前記クロック信号発生回路の出力を分周回路に入
力し、該分周回路の出力を前記サンプルホールド回路ま
たは遅延回路に入力してなるものである。
力し、該分周回路の出力を前記サンプルホールド回路ま
たは遅延回路に入力してなるものである。
また、前記クロック信号発生回路の出力と前記波形設定
回路の出力とを同期回路に入力し、該同期回路の出力を
高周波出力を入−切するスイッチ回路と、前記遅延回路
とに入力してなるものである。
回路の出力とを同期回路に入力し、該同期回路の出力を
高周波出力を入−切するスイッチ回路と、前記遅延回路
とに入力してなるものである。
また、特許請求の範囲第1項記載のCO2ガスレーザ制
御方法およびその装置に、前記波形設定回路と、前記サ
ンプルホールド回路に1パルスのサンプルホールド信号
を入力する1パルスS/H信号回路とを具備し、前記波
形設定回路の出力を前記1パルス8 / H信号回路に
入力し、該1パルスS / H信号回路の出力と、前記
電力検出回路の出力とを前記サンプルホールド回路に入
力してなるものである。
御方法およびその装置に、前記波形設定回路と、前記サ
ンプルホールド回路に1パルスのサンプルホールド信号
を入力する1パルスS/H信号回路とを具備し、前記波
形設定回路の出力を前記1パルス8 / H信号回路に
入力し、該1パルスS / H信号回路の出力と、前記
電力検出回路の出力とを前記サンプルホールド回路に入
力してなるものである。
また、前記1パルスS/H信号回路の出力は、パルスモ
ードまたはCWモードの波形の立ち上り時、サンプルモ
ードから開始し、次にホールドモードにしてなるもので
ある。
ードまたはCWモードの波形の立ち上り時、サンプルモ
ードから開始し、次にホールドモードにしてなるもので
ある。
また、前記1パルスS/H信号回路の出力は、パルスモ
ードまたはCWモードの波形立ち上り時、ホールドモー
ドから開始し、次に波形立ち下り時点より決められた時
間前よりサンプルモードにし、その後波形室ち下り前に
再びホールドモードにしてなるものである。
ードまたはCWモードの波形立ち上り時、ホールドモー
ドから開始し、次に波形立ち下り時点より決められた時
間前よりサンプルモードにし、その後波形室ち下り前に
再びホールドモードにしてなるものである。
また、特許請求の範囲第1項記載のCO2ガスレーザ制
御方法およびその装置に、前記波形設定回路と、第2の
遅延回路と、前記誤差増幅回路の入力側に設けられた切
換スイッチ回路と、前記誤差増幅回路の出力と前記パワ
ー設定回路の出力とを加算する加算回路と、高周波出力
の大きさをコントロールする減衰回路とを具備し、前記
波形設定回路の出力を前記第2の遅延回路に入力し、該
第2の遅延回路の出力と前記パワー設定回路の出力と前
記PID回路の出力とを前記切換スイッチ回路に入力し
、該切換スイッチ回路の出力を前記誤差増幅回路に入力
し、該誤差増幅回路の出力と前記パワー設定回路の出力
とを前記加算回路に入力し、該加算回路の出力を前記減
衰回路に入力してなるものである。
御方法およびその装置に、前記波形設定回路と、第2の
遅延回路と、前記誤差増幅回路の入力側に設けられた切
換スイッチ回路と、前記誤差増幅回路の出力と前記パワ
ー設定回路の出力とを加算する加算回路と、高周波出力
の大きさをコントロールする減衰回路とを具備し、前記
波形設定回路の出力を前記第2の遅延回路に入力し、該
第2の遅延回路の出力と前記パワー設定回路の出力と前
記PID回路の出力とを前記切換スイッチ回路に入力し
、該切換スイッチ回路の出力を前記誤差増幅回路に入力
し、該誤差増幅回路の出力と前記パワー設定回路の出力
とを前記加算回路に入力し、該加算回路の出力を前記減
衰回路に入力してなるものである。
また、前記パワー設定回路の出力と、該パワー設定回路
の出力の大きさに応じて前記電力検出回路から得られる
出力、または前記サンプルホールド回路から得られる出
力、または前記PID回路から得られる出力とを同一値
となるようにしてなるものである。
の出力の大きさに応じて前記電力検出回路から得られる
出力、または前記サンプルホールド回路から得られる出
力、または前記PID回路から得られる出力とを同一値
となるようにしてなるものである。
また、前記加算回路の増幅度を1としてなるものである
。
。
また、前記電力検出回路に替えて、前記レーザ出力、レ
ーザパワーの大きさを検出するレーザパワー検出回路を
用いてなるものである。
ーザパワーの大きさを検出するレーザパワー検出回路を
用いてなるものである。
作用
上記の手段において、波形立ち上げ後の定常状態で、サ
ンプルホールド回路を用いであるのでホールド期間中は
PID回路の入力が変動せず、従って、PID回路の出
力、即ち誤差増幅回路の入力は僅かに変動、あるいはほ
とんど変動しないので出力はほとんど変動しない。
ンプルホールド回路を用いであるのでホールド期間中は
PID回路の入力が変動せず、従って、PID回路の出
力、即ち誤差増幅回路の入力は僅かに変動、あるいはほ
とんど変動しないので出力はほとんど変動しない。
従って、位相補償の問題、位相ずれはホールド期間中に
その都度断ち切ることができ、ダンピング、発振は生じ
ない。
その都度断ち切ることができ、ダンピング、発振は生じ
ない。
また、同じくサンプルホールド回路を用いであるのでホ
ールド期間中は外乱を受は付けず、誤差増幅回路の出力
はほとんど変動しないので、外乱をトリガにしてダンピ
ングを生じない。
ールド期間中は外乱を受は付けず、誤差増幅回路の出力
はほとんど変動しないので、外乱をトリガにしてダンピ
ングを生じない。
サンプル期間中に外乱を受は付けても外乱による変動以
上のダンピングは生じない。また、クロック信号回路の
出力を分周回路に入力し、分周回路の出力をサンプルホ
ールド回路のサンプリング周波数とすれば確実に外乱に
よる変動は受は付けない。同様の理由でサンプルホール
ド回路を用いであるので部品バラツキによるダンピング
、発振は生じない。
上のダンピングは生じない。また、クロック信号回路の
出力を分周回路に入力し、分周回路の出力をサンプルホ
ールド回路のサンプリング周波数とすれば確実に外乱に
よる変動は受は付けない。同様の理由でサンプルホール
ド回路を用いであるので部品バラツキによるダンピング
、発振は生じない。
また、サンプルホールド回路以外に比例制御、積分制御
、微分制御し、高帯域の周波数に対するゲインを確保す
るPID回路も、位相補償の問題、外乱の問題、部品バ
ラツキの問題は悪くはならず確実ではないが大幅に改善
される。また、一方波形立ち上げ時のオーバシュート5
.ダンピングについては、PID回路を用いであるので
、高速に誤差増幅回路の出力が変化し、従って、オーバ
シュートビーク値を高速に抑え込みにかかり、小さ;な
値にすることができる。
、微分制御し、高帯域の周波数に対するゲインを確保す
るPID回路も、位相補償の問題、外乱の問題、部品バ
ラツキの問題は悪くはならず確実ではないが大幅に改善
される。また、一方波形立ち上げ時のオーバシュート5
.ダンピングについては、PID回路を用いであるので
、高速に誤差増幅回路の出力が変化し、従って、オーバ
シュートビーク値を高速に抑え込みにかかり、小さ;な
値にすることができる。
また、遅延回路を設け、波形立ち上げ時、サンプルホー
ルドするのを遅らせることにより、PID回路の作用を
より生かすことができ、しかも、波形立ち上り後はサン
プルホールド回路で前述の問題に対応することができ、
両回路とも長所を最大限に生かすことができる。
ルドするのを遅らせることにより、PID回路の作用を
より生かすことができ、しかも、波形立ち上り後はサン
プルホールド回路で前述の問題に対応することができ、
両回路とも長所を最大限に生かすことができる。
また、波形立ち上げ時、オーバシュート波形に引き続く
ダンピングで、パルス幅が狭くなった場合、ピーク値の
変動影響が大となる問題についてゝ\ ν1.は、1パルスS/H信号回路を用いることにより
、1パルスS/H信号回路のサンプル期間からホールド
に切換わるタイミングをダンピングが開始する前とすれ
ばホールド期間中は前述のごとく誤差増幅回路の出力は
ほとんど変動しないので、ピーク値の変動影響が大とな
る問題は解決できる。
ダンピングで、パルス幅が狭くなった場合、ピーク値の
変動影響が大となる問題についてゝ\ ν1.は、1パルスS/H信号回路を用いることにより
、1パルスS/H信号回路のサンプル期間からホールド
に切換わるタイミングをダンピングが開始する前とすれ
ばホールド期間中は前述のごとく誤差増幅回路の出力は
ほとんど変動しないので、ピーク値の変動影響が大とな
る問題は解決できる。
また、パルス幅が狭く、パルス周波数が高い場合は、サ
ンプルホールド素子のドループレイトV/Sは一般的な
ものでよく、安価に実現できる。
ンプルホールド素子のドループレイトV/Sは一般的な
ものでよく、安価に実現できる。
また、波形立ち上げ時のオーバシュートを確実になくす
ることについては、第2の遅延回路と、切換スイッチ回
路と、誤差増幅回路と、加算回路とを用いれば実現でき
る。
ることについては、第2の遅延回路と、切換スイッチ回
路と、誤差増幅回路と、加算回路とを用いれば実現でき
る。
即ち、波形立ち上げ時点より第2の遅延回路でカウント
される時間中は、切換スイッチ回路の切換スイッチが開
で誤差増幅回路の反転、非反転端子への入力は零ボルト
であるので、誤差増幅回路の出力も零ポルトとなり、従
って加算回路の増幅度は1であるので、加算回路の出力
は、パワー設定回路で設定された値となシ、減衰回路へ
の入力は過大とならずオーバシュー・ト波形は発生しな
い。
される時間中は、切換スイッチ回路の切換スイッチが開
で誤差増幅回路の反転、非反転端子への入力は零ボルト
であるので、誤差増幅回路の出力も零ポルトとなり、従
って加算回路の増幅度は1であるので、加算回路の出力
は、パワー設定回路で設定された値となシ、減衰回路へ
の入力は過大とならずオーバシュー・ト波形は発生しな
い。
また、第2の遅延回路でカウントされる期間中は、電力
検出回路などを含んだフィードバック制御系は切シ離さ
れるので、波形立ち上げ時のダンピングは発生しなく、
波形立ち上げ時、オープンループ制御を行ない、電源電
圧変動値などが規定値内であれば実用上問題とはならな
い。
検出回路などを含んだフィードバック制御系は切シ離さ
れるので、波形立ち上げ時のダンピングは発生しなく、
波形立ち上げ時、オープンループ制御を行ない、電源電
圧変動値などが規定値内であれば実用上問題とはならな
い。
さらに、同期回路を用いることにより、スイッチ回路の
投入による電力投入タイミングと、遅延回路の遅延時間
を同期をとってカウントするようにしたのでより確実に
前述のオーバシュート波形、ダンピング波形のくり返し
波形が同一のものとなる。
投入による電力投入タイミングと、遅延回路の遅延時間
を同期をとってカウントするようにしたのでより確実に
前述のオーバシュート波形、ダンピング波形のくり返し
波形が同一のものとなる。
実施例
第1図〜第4図は本発明の制御装置の制御ブロック図の
一実施例を示し、第6図は第1図の要部波形図である。
一実施例を示し、第6図は第1図の要部波形図である。
第6図については従来の制御方法による出力波形、およ
び従来の制御方法にPより回路を追加し7た場合の出力
波形、および第1図〜第4図の本発明の制御方法による
出力波形を比較し、オーバシュートピーク値の大きさ、
定常状態ピークリップル値の大きさ、遅延回路の遅延時
間TD1およびTD2の大きさについて明らかにした出
力波形比較説明図である。
び従来の制御方法にPより回路を追加し7た場合の出力
波形、および第1図〜第4図の本発明の制御方法による
出力波形を比較し、オーバシュートピーク値の大きさ、
定常状態ピークリップル値の大きさ、遅延回路の遅延時
間TD1およびTD2の大きさについて明らかにした出
力波形比較説明図である。
従来の第9図と本発明の第1図〜第4図で同一のものに
ついては同一番号を付与しである。
ついては同一番号を付与しである。
第1図と第5図の要部波形図とを対比させて説明すると
、まず、第6図(イ)に示すような波形設定回路33の
出力が立ち上ると、電力検出回路30の出力はサンプル
ホールド回路36に入力され、第6図使)に示すような
りロック信号発生回路37の出力でサンプルホールドさ
れ、サンプルホールド回路36の出力には第6図(ハ)
に示すような波形が得られる。
、まず、第6図(イ)に示すような波形設定回路33の
出力が立ち上ると、電力検出回路30の出力はサンプル
ホールド回路36に入力され、第6図使)に示すような
りロック信号発生回路37の出力でサンプルホールドさ
れ、サンプルホールド回路36の出力には第6図(ハ)
に示すような波形が得られる。
この場合、電力検出回路3oに替えて、レーザパワーの
大きさを検出する高応答のレーザパワー検出回路を用い
てもよい。
大きさを検出する高応答のレーザパワー検出回路を用い
てもよい。
また、サンプルホールド回路36の出力はPID回路3
8に入力され、PID回路38の出力には第6図に)に
示すような波形が得られる。
8に入力され、PID回路38の出力には第6図に)に
示すような波形が得られる。
PID回路38の出力波形は、サンプルホールド回路3
6の出力波形をフィルタ回路に通した後の波形と似てい
ると云える。
6の出力波形をフィルタ回路に通した後の波形と似てい
ると云える。
第5図(ホ)は高周波出力波形を示し、第1図の同軸ケ
ーブルコネクタ31から得られる波形を示す。
ーブルコネクタ31から得られる波形を示す。
また、第1図のクロック信号発生回路37の出力を、別
途設けた分周回路に入力し、分周回路の出力とクロック
信号発生回路37の出力とをAND素子に入力し、AN
D素子の出力をサンプルホールド回路36に入力しても
よい。また、分周回路の中にムND素子などの論理回路
を含んでも、含まなくてもよい。
途設けた分周回路に入力し、分周回路の出力とクロック
信号発生回路37の出力とをAND素子に入力し、AN
D素子の出力をサンプルホールド回路36に入力しても
よい。また、分周回路の中にムND素子などの論理回路
を含んでも、含まなくてもよい。
具体的なサンプリン、グについては、サンプル時間1.
s psea 、ホールド時間1.5μ85B)、ある
いは、サンプル時間1.5μsec 、ホールド時間3
μsec 、あるいは、サンプル時間3μsec 、ホ
ールド時間3μ!!Ooなどが一例として考えられる。
s psea 、ホールド時間1.5μ85B)、ある
いは、サンプル時間1.5μsec 、ホールド時間3
μsec 、あるいは、サンプル時間3μsec 、ホ
ールド時間3μ!!Ooなどが一例として考えられる。
第2図について説明すると、第2図は第1図に遅延回路
’rD13eを追加したもので、遅延回路T0139内
には計時回路と論理回路とが内蔵されており、第6図に
)のTD165に示すように波形立ち上げ時、遅延時間
T0165期間中は遅延回路a s TDlの出力はサ
ンプルホールド回路3eにサンプル期間のコントロール
信号を出力し、その後、サンプルホールドを開始する。
’rD13eを追加したもので、遅延回路T0139内
には計時回路と論理回路とが内蔵されており、第6図に
)のTD165に示すように波形立ち上げ時、遅延時間
T0165期間中は遅延回路a s TDlの出力はサ
ンプルホールド回路3eにサンプル期間のコントロール
信号を出力し、その後、サンプルホールドを開始する。
従って、遅延時間TD165期間中はサンプルホールド
回路36は通常のOPアンプとして動作し、PID回路
38により波形立ち上げ時のオーバシュート、ダンピン
グを高速に抑え込む。遅延回路TD139にはクロック
信号発生回路37の出力と、波形設定回路33の出力と
が入力され、遅延回路τD139の出力はサンプルホー
ルド回路36に入力され、サンプルホールドを行なうが
、第1図で述べたごとく、分周回路の出力を遅延回路T
D139に入力してもよいことは云うまでもない。
回路36は通常のOPアンプとして動作し、PID回路
38により波形立ち上げ時のオーバシュート、ダンピン
グを高速に抑え込む。遅延回路TD139にはクロック
信号発生回路37の出力と、波形設定回路33の出力と
が入力され、遅延回路τD139の出力はサンプルホー
ルド回路36に入力され、サンプルホールドを行なうが
、第1図で述べたごとく、分周回路の出力を遅延回路T
D139に入力してもよいことは云うまでもない。
第3図について説明すると、第3図は第1図に対し第1
図のクロック信号発生回路37がなく、第3図の1パル
スS/H信号回路40が追加されたものである。波形設
定回路33の出力が立ち上ると、1パルスS、/H信号
回路40内のコンデンサ41、抵抗42で決められた時
間をカウントする。
図のクロック信号発生回路37がなく、第3図の1パル
スS/H信号回路40が追加されたものである。波形設
定回路33の出力が立ち上ると、1パルスS、/H信号
回路40内のコンデンサ41、抵抗42で決められた時
間をカウントする。
インバータ素子43、AND素子44で構成された論理
回路により、1パルスS/H信号回路4゜の出力は、波
形設定回路33の出力が立ち上がった時点よりコンデン
サ41、抵抗42で決められた時間レベルで、その後H
レベルとなる。
回路により、1パルスS/H信号回路4゜の出力は、波
形設定回路33の出力が立ち上がった時点よりコンデン
サ41、抵抗42で決められた時間レベルで、その後H
レベルとなる。
即ち、波形立ち上げ時、サンプルホールド回路36をサ
ンプルモードで一定時間コントロールし、次にホールド
モードにする。
ンプルモードで一定時間コントロールし、次にホールド
モードにする。
また、サンプルとホールドは一つのパルス波形に対して
1パルスである。
1パルスである。
第3図の制御方法は、パルス幅が狭い場合特に有効でピ
ーク値の変動影響を大幅に改善できる。
ーク値の変動影響を大幅に改善できる。
コンデンサ41、抵抗42による時間は、オーバシュー
ト後に引き続くダンピングが開始する前に設定すればホ
ールド期間中は誤差増幅回路34の出力はほとんど変動
しないのでダンピングは生じない。
ト後に引き続くダンピングが開始する前に設定すればホ
ールド期間中は誤差増幅回路34の出力はほとんど変動
しないのでダンピングは生じない。
第4図について説明すると、第4図は第1図に対し、第
2の遅延回路62と、切換スイッチ回路45と、第1図
の誤差増幅回路34とは構成が異なる誤差増幅回路46
と、加算回路47とが追加されており、波形設定回路3
3の出力が立ち上り、第2の遅延回路TD252に入力
されると、第2の遅延回路TD252は時間をカウント
開始する。
2の遅延回路62と、切換スイッチ回路45と、第1図
の誤差増幅回路34とは構成が異なる誤差増幅回路46
と、加算回路47とが追加されており、波形設定回路3
3の出力が立ち上り、第2の遅延回路TD252に入力
されると、第2の遅延回路TD252は時間をカウント
開始する。
第2の遅延回路T、252時間カウント中は、切換スイ
ッチ回路45の切換スイッチ48.49は開で、従って
誤差増幅回路46の誤差アンプ60の反転、非反転端子
の入力は零ボルトであるので、誤差アンプ6oの出力は
零ボルトである。
ッチ回路45の切換スイッチ48.49は開で、従って
誤差増幅回路46の誤差アンプ60の反転、非反転端子
の入力は零ボルトであるので、誤差アンプ6oの出力は
零ボルトである。
従って、加算回路47の加算アンプ51の反転端子は零
ボルトで、非反転端子にはパワー設定回路35の出力の
みが与えられており、加算アンプ61の増幅度は1であ
るので、減衰回路26への入力はパワー設定回路36で
設定された値となり、減衰回路26へは過大入力が与え
られず、第6図(ホ)に示すごとく、波形立ち上げ時の
オーバシュート波形をなくすることができる。第6図(
ホ)の第2の遅延時間TD266は第2の遅延回路’r
D2s2で設定された時間である。
ボルトで、非反転端子にはパワー設定回路35の出力の
みが与えられており、加算アンプ61の増幅度は1であ
るので、減衰回路26への入力はパワー設定回路36で
設定された値となり、減衰回路26へは過大入力が与え
られず、第6図(ホ)に示すごとく、波形立ち上げ時の
オーバシュート波形をなくすることができる。第6図(
ホ)の第2の遅延時間TD266は第2の遅延回路’r
D2s2で設定された時間である。
第2の遅延回路TD252の時間がカウントアツプする
と、第2の遅延回路でD262の出力がHとなり、切換
スイッチ48.49は閉となる。切換スイッチ48.4
9が閉となると、誤差アンプ6oの反転端子にはパワー
設定回路36の出力が、非反転端子にはPID回路38
の出力が入力され、フィードバック制御を開始する。
と、第2の遅延回路でD262の出力がHとなり、切換
スイッチ48.49は閉となる。切換スイッチ48.4
9が閉となると、誤差アンプ6oの反転端子にはパワー
設定回路36の出力が、非反転端子にはPID回路38
の出力が入力され、フィードバック制御を開始する。
即ち、波形設定回路33の出力が立ち上り、高周波出力
が立ち上り、電力立ち上げ系の遅れ時間と電力検出回路
3O−PID回路38のフィードバック制御系の遅れ時
間を合計した値より僅かに大きな値を目安に第2の遅延
回路52の時間は設定される。
が立ち上り、電力立ち上げ系の遅れ時間と電力検出回路
3O−PID回路38のフィードバック制御系の遅れ時
間を合計した値より僅かに大きな値を目安に第2の遅延
回路52の時間は設定される。
即ち、フィードバック制御するための検出出力が十分立
ち上った後にフィードバック制御系を閉じ、フィードバ
ック制御系を閉じるまではオープンループで制御しよう
とするものである。
ち上った後にフィードバック制御系を閉じ、フィードバ
ック制御系を閉じるまではオープンループで制御しよう
とするものである。
第6図の出力波形比較説明図について説明すると、第6
図(イ)は従来の第9図の制御方法による出力波形で、
波形立ち上げ時のオーバシュートピーク値pp1esa
も、波形立ち上げ後の定常状態でのピークリップル値Δ
Pr154も大きな値である。
図(イ)は従来の第9図の制御方法による出力波形で、
波形立ち上げ時のオーバシュートピーク値pp1esa
も、波形立ち上げ後の定常状態でのピークリップル値Δ
Pr154も大きな値である。
それに対し、第6図幹)は従来の第9図の電力検出回路
30の出力をPID回路38に入力し、PID回路38
の出力を誤差増幅回路34に入力したもので、波形立ち
上げ時のオーバシュートピーク値P P255、定常状
態でのピークリップル値ΔPf256も第6図(イ)よ
り大幅に改善される。
30の出力をPID回路38に入力し、PID回路38
の出力を誤差増幅回路34に入力したもので、波形立ち
上げ時のオーバシュートピーク値P P255、定常状
態でのピークリップル値ΔPf256も第6図(イ)よ
り大幅に改善される。
PID回路を用いると第6図(ロ)に示すごとく、位相
補償の問題、位相ずれも多少改善され、ΔPr256と
なる。
補償の問題、位相ずれも多少改善され、ΔPr256と
なる。
第6図eつは本発明の第4図の制御方法による出力波形
で、定常状態でのピークリップル値ΔPr558はサン
プルホールド回路36を用いたのでほぼ零に近いものに
することができる。
で、定常状態でのピークリップル値ΔPr558はサン
プルホールド回路36を用いたのでほぼ零に近いものに
することができる。
ただし、オーバシュートピーク値PP557は波形立ち
上げ時よりサンプルホールドを開始してbるので、PI
D回路のみ用いた第6図(ロ)のpp2ssより大きい
ものとなる。それに対して、第6図(ハ)のビークリッ
プル値PP557が(鵠のp、2ssより大きい欠点を
改善したものがに)で、本発明の第2図の制御方法によ
る出力波形である。波形立ち上げ時、遅延回路TD13
9の遅延時間TD166期間中はPより回路で波形の立
ち上げ時のオーバシュートを高速に抑え込み、その後サ
ンプルホールドを開始するようにしたもので、PID回
路と、サンプルホールド回路の長所を両方共最大限生か
したものであると云える。
上げ時よりサンプルホールドを開始してbるので、PI
D回路のみ用いた第6図(ロ)のpp2ssより大きい
ものとなる。それに対して、第6図(ハ)のビークリッ
プル値PP557が(鵠のp、2ssより大きい欠点を
改善したものがに)で、本発明の第2図の制御方法によ
る出力波形である。波形立ち上げ時、遅延回路TD13
9の遅延時間TD166期間中はPより回路で波形の立
ち上げ時のオーバシュートを高速に抑え込み、その後サ
ンプルホールドを開始するようにしたもので、PID回
路と、サンプルホールド回路の長所を両方共最大限生か
したものであると云える。
第6図(ホ)は、波形立ち上げ時のオーバシュートをな
くした本発明の第4図の制御方法による出力波形で、回
路は多少複雑になるが確実にオーバシュートをなくする
ことができる。
くした本発明の第4図の制御方法による出力波形で、回
路は多少複雑になるが確実にオーバシュートをなくする
ことができる。
第2の遅延回路TD252の遅延時間TD266期間中
はオープンルーズで制御し、オーバシュートをなくシ、
その後フィードバック制御系を閉じ、サンプルホールド
を開始するようにしたものである。
はオープンルーズで制御し、オーバシュートをなくシ、
その後フィードバック制御系を閉じ、サンプルホールド
を開始するようにしたものである。
また、第6図(へ)は本発明の第3図の制御方法による
出力波形で、波形立ち上げ時、決められた時間のダンピ
ングを開始する前まではブンプルモードで、(ロ)、に
)と同様にPID回路で波形立ち上げ時のオーバシュー
トを高速に抑え込み、その後ホールドモードのみとした
ものであり、パルス幅が狭い場合特に有効で、ピーク値
の変動影響を大幅に改善できる。
出力波形で、波形立ち上げ時、決められた時間のダンピ
ングを開始する前まではブンプルモードで、(ロ)、に
)と同様にPID回路で波形立ち上げ時のオーバシュー
トを高速に抑え込み、その後ホールドモードのみとした
ものであり、パルス幅が狭い場合特に有効で、ピーク値
の変動影響を大幅に改善できる。
第6図(へ)の定常状態ビークリップル値△Pr6e4
は、ホールドモードのみで制御されているので(ハ)。
は、ホールドモードのみで制御されているので(ハ)。
に)、(ホ)のΔP r55 B 、ΔPr460.△
Pr562よりも小さい値となる。
Pr562よりも小さい値となる。
また、(へ)のオーバシュートピーク値Pp6e3は。
(藺のPp255*(に)のPP459と同じ値である
。(ホ)のオーバシュートピーク値PP561は最も小
さい値で、定常状態のピーク値とほぼ同じ値となる。
。(ホ)のオーバシュートピーク値PP561は最も小
さい値で、定常状態のピーク値とほぼ同じ値となる。
これらのことを、1項67.2項68,3項69にまと
めて示した。
めて示した。
以上の説明で明らかなように、前述の作用の項目でも述
べたが、サンプルホールド回路を用いることにより、位
相補償の問題、位相ずれを断ち切り、また、外乱による
ダンピング、部品バラツキによるダンピング、発振も同
様に位相ずれを断ち切ることで解決できる。
べたが、サンプルホールド回路を用いることにより、位
相補償の問題、位相ずれを断ち切り、また、外乱による
ダンピング、部品バラツキによるダンピング、発振も同
様に位相ずれを断ち切ることで解決できる。
また、PID回路も位相ずれを大幅に改善すると共に特
に波形立ち上げ時のオーバシュート、ダンピングに対し
て効果を発揮する。他、サンプルホールド回路の長所と
PID回路の長所を最大限生かすために遅延回路を設け
たが、これも効果がある。
に波形立ち上げ時のオーバシュート、ダンピングに対し
て効果を発揮する。他、サンプルホールド回路の長所と
PID回路の長所を最大限生かすために遅延回路を設け
たが、これも効果がある。
また、1パルスS/H切換回路を用いる方法、第2の遅
延回路を設けてオーバシュートを確実になくする方法も
大なな効果があり、本発明の制御方法を用いれば、高応
答、高ゲインの安定したフィードバック制御が実現でき
る。
延回路を設けてオーバシュートを確実になくする方法も
大なな効果があり、本発明の制御方法を用いれば、高応
答、高ゲインの安定したフィードバック制御が実現でき
る。
発明の効果
以上のように本発明においては、サンプルホールド回路
とPID回路とを用いることにより、従来の欠点が全て
解決でき、高応答、高ゲインの安定したフィードバック
制御が確実に実現できる。
とPID回路とを用いることにより、従来の欠点が全て
解決でき、高応答、高ゲインの安定したフィードバック
制御が確実に実現できる。
図面は本発明の一実施例を示し、第1図はRF励起発振
器の構成を示し、第2図と第3図は従来のRF励起CO
2ガスレーザ制御装置の構成およびその制御ブロック図
を示す。 遺今→−第4図は、本発明の各実施例の制御装置の制御
ブロック図、第6図は第1図の要部の信号波形図、第6
図は各実施例の制御方法による出力波形比較説明図、第
7図は一般的なRF励起発振器の斜視図、第8図は従来
のRF励起CO2ガスレーザ制御装置の構成図、第9図
は同制御ブロック図である。 36・・・・・・サンプルホールド回路、37・・・・
・・クロック信号発生回路、38・・・・・・PID回
路。
器の構成を示し、第2図と第3図は従来のRF励起CO
2ガスレーザ制御装置の構成およびその制御ブロック図
を示す。 遺今→−第4図は、本発明の各実施例の制御装置の制御
ブロック図、第6図は第1図の要部の信号波形図、第6
図は各実施例の制御方法による出力波形比較説明図、第
7図は一般的なRF励起発振器の斜視図、第8図は従来
のRF励起CO2ガスレーザ制御装置の構成図、第9図
は同制御ブロック図である。 36・・・・・・サンプルホールド回路、37・・・・
・・クロック信号発生回路、38・・・・・・PID回
路。
Claims (11)
- (1)高周波出力を放電管に注入し、高周波放電によっ
て励起されたガスからレーザ光を発生させるようにした
CO_2ガスレーザの制御装置において、高周波出力を
検出する電力検出回路と、該電力検出回路の出力をサン
プルホールドするサンプルホールド回路と、該サンプル
ホールド回路のサンプリング周波数を設定するクロック
信号発生回路と、前記サンプルホールド回路の出力を比
例制御、積分制御、微分制御するフィードバック制御回
路に用いられるPID回路と、レーザ出力の大きさを設
定するパワー設定回路と、該パワー設定回路で設定され
た大きさとなるように高周波出力をフィードバック制御
する誤差増幅回路とを具備し、前記電力検出回路の出力
と、前記クロック信号発生回路の出力とを前記サンプル
ホールド回路に入力し、該サンプルホールド回路の出力
を前記PID回路に入力し、該PID回路の出力と、前
記パワー設定回路の出力とを前記誤差増幅回路に入力し
、高周波出力をサンプルホールド回路とPID回路とを
用いてフィードバック制御するようにしたことを特徴と
するCO_2ガスレーザ制御装置。 - (2)パルスモードまたはCWモードの波形を設定する
波形設定回路と、遅延回路とを具備し、前記波形設定回
路の出力と、前記クロック信号発生回路の出力とを前記
遅延回路に入力し、該遅延回路の出力を前記サンプルホ
ールド回路に入力し、高周波出力をサンプルホールド回
路とPID回路とを用いてフィードバック制御するのを
、サンプルホールドを遅れて開始するようにしたことを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載のCO_2ガスレ
ーザ制御装置。 - (3)前記クロック信号発生回路の出力を分周回路に入
力し、該分周回路の出力を前記サンプルホールド回路ま
たは遅延回路に入力し、サンプルホールド回路のサンプ
リング周波数に分周回路を用いたことを特徴とする特許
請求の範囲第1項または第2項記載のCO_2ガスレー
ザ制御装置。 - (4)前記クロック信号発生回路の出力と前記波形設定
回路の出力とを同期回路に入力し、該同期回路の出力を
高周波出力を入−切するスイッチ回路と、前記遅延回路
とに入力し、高周波出力を同期をとって投入すると共に
、遅延回路の遅延時間を同期をとってカウントするよう
にしたことを特徴とする特許請求の範囲第1項または第
2項または第3項記載のCO_2ガスレーザ制御装置。 - (5)特許請求の範囲第1項記載のCO_2ガスレーザ
制御装置に、前記波形設定回路と、前記サンプルホール
ド回路に1パルスのサンプルホールド信号を入力する1
パルスS/H信号回路とを具備し、前記波形設定回路の
出力を前記1パルスS/H信号回路に入力し、該1パル
スS/H信号回路の出力と、前記電力検出回路の出力と
を前記サンプルホールド回路に入力し1パルスのサンプ
ルホールドでパルスモードまたはCWモードの波形のピ
ーク値を制御するようにしたことを特徴とする特許請求
の範囲第1項記載のCO_2ガスレーザ制御装置。 - (6)前記1パルスS/H信号回路の出力は、パルスモ
ードまたはCWモードの波形の立ち上り時、サンプルモ
ードから開始し、次にホールドモードにすることを特徴
とする特許請求の範囲第1項または第5項記載のCO_
2ガスレーザ制御装置。 - (7)前記1パルスS/H信号回路の出力は、パルスモ
ードまたはCWモードの波形立ち上り時、ホールドモー
ドから開始し、次に波形立ち下り時点より決められた時
間前よりサンプルモードにし、その後波形立ち下り前に
再びホールドモードにすることを特徴とする特許請求の
範囲第1項または第5項または第6項記載のCO_2ガ
スレーザ制御装置。 - (8)特許請求の範囲第1項記載のCO_2ガスレーザ
制御装置に、前記波形設定回路と、第2の遅延回路と、
前記誤差増幅回路の入力側に設けられた切換スイッチ回
路と、前記誤差増幅回路の出力と前記パワー設定回路の
出力とを加算する加算回路と、高周波出力の大きさをコ
ントロールする減衰回路とを具備し、前記波形設定回路
の出力を前記第2の遅延回路に入力し、該第2の遅延回
路の出力と前記パワー設定回路の出力と前記PID回路
の出力とを前記切換スイッチ回路に入力し、該切換スイ
ッチ回路の出力を前記誤差増幅回路に入力し、該誤差増
幅回路の出力と前記パワー設定回路の出力とを前記加算
回路に入力し、該加算回路の出力を前記減衰回路に入力
し、誤差増幅回路と、加算回路と、切換スイッチ回路と
、第2の遅延回路とを用い、高周波出力をサンプルホー
ルド回路と、PID回路とを用いてフィードバック制御
するのを遅れて開始するようにしたことを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載のCO_2ガスレーザ制御装置
。 - (9)前記パワー設定回路の出力と、該パワー設定回路
の出力の大きさに応じて前記電力検出回路から得られる
出力、または前記サンプルホールド回路から得られる出
力、または前記PID回路から得られる出力とを同一値
となるようにすることを特徴とする特許請求の範囲第1
項または第8項記載のCO_2ガスレーザ制御装置。 - (10)前記加算回路の増幅度を1とすることを特徴と
する特許請求の範囲第1項または第8項または第9項記
載のCO_2ガスレーザ制御装置。 - (11)前記電力検出回路に替えて、前記レーザ出力、
レーザパワーの大きさを検出するレーザパワー検出回路
を用いたことを特徴とする特許請求の範囲第1項乃至第
10項のいずれかに記載のCO_2ガスレーザ制御装置
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26436089A JPH03126278A (ja) | 1989-10-11 | 1989-10-11 | Co↓2ガスレーザ制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26436089A JPH03126278A (ja) | 1989-10-11 | 1989-10-11 | Co↓2ガスレーザ制御装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03126278A true JPH03126278A (ja) | 1991-05-29 |
Family
ID=17402076
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26436089A Pending JPH03126278A (ja) | 1989-10-11 | 1989-10-11 | Co↓2ガスレーザ制御装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03126278A (ja) |
-
1989
- 1989-10-11 JP JP26436089A patent/JPH03126278A/ja active Pending
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