JPH03125545A - 疑似呼試験方式 - Google Patents
疑似呼試験方式Info
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- JPH03125545A JPH03125545A JP26442689A JP26442689A JPH03125545A JP H03125545 A JPH03125545 A JP H03125545A JP 26442689 A JP26442689 A JP 26442689A JP 26442689 A JP26442689 A JP 26442689A JP H03125545 A JPH03125545 A JP H03125545A
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- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 16
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 8
- 238000004088 simulation Methods 0.000 abstract description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 101100075513 Oryza sativa subsp. japonica LSI3 gene Proteins 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 101001095320 Homo sapiens Serine/threonine-protein phosphatase PP1-beta catalytic subunit Proteins 0.000 description 1
- 102100037764 Serine/threonine-protein phosphatase PP1-beta catalytic subunit Human genes 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
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- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
本発明は、例えばプロセッサ化された電子交換機の試験
を行う疑似呼試験方式に関する。
を行う疑似呼試験方式に関する。
（従来の技術）
一般に電子交換機は、端末及び局線、専用線を直接制御
するための端末制御インタフェースカード部を持ち、こ
の端末制御インタフェースカード部は前記電子交換機外
部から信号を受信すると、前記電子交換機の総合的な制
御を行う中央処理カード部に対し信号送信したり、中央
処理カード部からの制御信号を受信し前記電子交換機外
部に信号送信をするインタフェース機能を持つ。
するための端末制御インタフェースカード部を持ち、こ
の端末制御インタフェースカード部は前記電子交換機外
部から信号を受信すると、前記電子交換機の総合的な制
御を行う中央処理カード部に対し信号送信したり、中央
処理カード部からの制御信号を受信し前記電子交換機外
部に信号送信をするインタフェース機能を持つ。
従来の技術では、電子交換機の機能を試験する場合、試
験機を前記端末及び局線、専用線に相当する部分に設置
していた。つまり、試験機は、前記端末制御インタフェ
ース部の位置に接続されていた。
験機を前記端末及び局線、専用線に相当する部分に設置
していた。つまり、試験機は、前記端末制御インタフェ
ース部の位置に接続されていた。
第３図はこのような従来の技術例を示したちのである。
電子交換機１は端末制御インタフェース部７と、それを
制御する中央処理カード２を有する中央処理カード部８
を内蔵しており、前記端末制御インタフェース部７は、
通常端末用インタフェースカード、局線用インタフェー
スカード、専用線用インタフェースカードからなる複数
の端末制御カード３によって構成されている。前記端末
制御インタフェースカード３には、それぞれ端末４や局
線、専用線５が接続されている。前記中央処理カード部
８は、前記電子交換機１の呼制御、保守制御等の中心的
な制御を行う。前記端末制御インタフェース部７は、前
記中央処理カード部８からの指示により、外部の端末４
や局線、専用線５に呼出し信号等の制御信号を送信した
り、逆に前記端末４や局線、専用線５からオンフック信
号、オフフック信号、数字ダイヤル信号等の制御信号を
受信し、前記中央処理カード部８に報告する機能を持つ
。前記電子交換機１を試験する場合、試験機６は前記端
末制御カード３、つまり前記端末インタフェースカード
７に接続される。
制御する中央処理カード２を有する中央処理カード部８
を内蔵しており、前記端末制御インタフェース部７は、
通常端末用インタフェースカード、局線用インタフェー
スカード、専用線用インタフェースカードからなる複数
の端末制御カード３によって構成されている。前記端末
制御インタフェースカード３には、それぞれ端末４や局
線、専用線５が接続されている。前記中央処理カード部
８は、前記電子交換機１の呼制御、保守制御等の中心的
な制御を行う。前記端末制御インタフェース部７は、前
記中央処理カード部８からの指示により、外部の端末４
や局線、専用線５に呼出し信号等の制御信号を送信した
り、逆に前記端末４や局線、専用線５からオンフック信
号、オフフック信号、数字ダイヤル信号等の制御信号を
受信し、前記中央処理カード部８に報告する機能を持つ
。前記電子交換機１を試験する場合、試験機６は前記端
末制御カード３、つまり前記端末インタフェースカード
７に接続される。
通常は、前記端末制御インタフェース部７は、端末４及
び局線、専用線５という複数の種類のインタフェース制
御を行わなければならないため、カードもそれぞれ別の
種類を用意して制御を行っていた。従来の技術のように
端末制御インタフェース部７に試験機６を接続すると、
複数種類のインタフェースの疑似試験を行うためには、
試験機６を複数種類用意しなければならなかった。
び局線、専用線５という複数の種類のインタフェース制
御を行わなければならないため、カードもそれぞれ別の
種類を用意して制御を行っていた。従来の技術のように
端末制御インタフェース部７に試験機６を接続すると、
複数種類のインタフェースの疑似試験を行うためには、
試験機６を複数種類用意しなければならなかった。
（発明が解決しようとする課題）
上述したように従来の試験方式では、試験機を端末制御
インタフェースカード部と接続するため、試験準備に配
線作業か必要であると共に、別のインタフェースに対す
る試験を行う時にいちいちカードの抜き差しを行ってカ
ード種類を変えなければならないという問題があった。
インタフェースカード部と接続するため、試験準備に配
線作業か必要であると共に、別のインタフェースに対す
る試験を行う時にいちいちカードの抜き差しを行ってカ
ード種類を変えなければならないという問題があった。
また、数種類のインタフェースを用意した数種類の試験
機を用意しなければならないという問題もあった。
機を用意しなければならないという問題もあった。
本発明は、上記のような問題を解決するためになされた
ものであり、１種類の試験機カードを用意するだけで複
数種類のポート疑似試験ができること、従って別のイン
タフェースの試験を行う時いちいちハードウェア的な試
験構成を変えたり、配線準備の煩わしさをなくすことを
目的とする。
ものであり、１種類の試験機カードを用意するだけで複
数種類のポート疑似試験ができること、従って別のイン
タフェースの試験を行う時いちいちハードウェア的な試
験構成を変えたり、配線準備の煩わしさをなくすことを
目的とする。
［発明の構成］
（課題を解決するための手段）
上記従来の目的を達成する本発明の疑似呼試験方式は、
中央処理カード部と複数種類の端末制御インタフェース
カード部を持ち、前記中央処理カード部と前記端末制御
インタフェースカード部とのインタフェースが、どの端
末制御インフッニスカード部に対しても同じ／’％−ド
ウエアインクフェースである電子交換機に対し、疑似呼
を発生させ電子交換機の試験を行う疑似呼試験方式にお
いて、前記端末制御インタフェースカード部と交換で挿
入され、かつ前記中央処理カード部と端末制御インタフ
ェースカード部とのインタフェースを行うインタフェー
スＬＳＩと、プロセ・ソサを内蔵し、端末・局線・専用
線のそれぞれを疑似するプログラムにより制御される試
験機カードを備え、前記複数種類の前記端末制御インタ
フェースカド部のそれぞれを１種類の試験機カードで疑
似することを特徴とする。
中央処理カード部と複数種類の端末制御インタフェース
カード部を持ち、前記中央処理カード部と前記端末制御
インタフェースカード部とのインタフェースが、どの端
末制御インフッニスカード部に対しても同じ／’％−ド
ウエアインクフェースである電子交換機に対し、疑似呼
を発生させ電子交換機の試験を行う疑似呼試験方式にお
いて、前記端末制御インタフェースカード部と交換で挿
入され、かつ前記中央処理カード部と端末制御インタフ
ェースカード部とのインタフェースを行うインタフェー
スＬＳＩと、プロセ・ソサを内蔵し、端末・局線・専用
線のそれぞれを疑似するプログラムにより制御される試
験機カードを備え、前記複数種類の前記端末制御インタ
フェースカド部のそれぞれを１種類の試験機カードで疑
似することを特徴とする。
（作 用）
以上のように疑似試験機を構成することによって、複数
種類のインタフェースの試験を行う場合、複数種類の試
験機を用意しなくてもよ（、試験機カード上のソフトウ
ェアを変えるだけで、異なったインタフェースに対する
試験にそのままＸ＝１応することができる。
種類のインタフェースの試験を行う場合、複数種類の試
験機を用意しなくてもよ（、試験機カード上のソフトウ
ェアを変えるだけで、異なったインタフェースに対する
試験にそのままＸ＝１応することができる。
（実施例）
以下、本発明の一実施例について図面を参照して詳細に
説明する。
説明する。
第１図は本発明の疑似試験方式の一実施例を示す。電子
交換機１７は、マルチプロセッサ化されており、交換機
制御は分散化されている。制御系の構成は以下のように
なっている。電子交換機１７には、まずメイン中央制御
装置であるＭＣＰＵｌｌが設けられている。ＭＣＰＵＩ
Ｉは呼制御、保守制御筒、電子交換機］−７の中心的な
処理を行う。ポート制御装置であるＰＰ１３は、直接ホ
トを、つまり端末１６、局線や専用線１５のノ＼−ドウ
エア制御を行う。ローカル中央制御装置であるＬＣＰＵ
ｌ２は、ＭＣＰＵＩＩとＰＰ１３とのインタフェースを
行う。複数のＬＣＰＵＩ ２によりＭＣＰＵＩＩの負担
を軽減させる役目をする。
交換機１７は、マルチプロセッサ化されており、交換機
制御は分散化されている。制御系の構成は以下のように
なっている。電子交換機１７には、まずメイン中央制御
装置であるＭＣＰＵｌｌが設けられている。ＭＣＰＵＩ
Ｉは呼制御、保守制御筒、電子交換機］−７の中心的な
処理を行う。ポート制御装置であるＰＰ１３は、直接ホ
トを、つまり端末１６、局線や専用線１５のノ＼−ドウ
エア制御を行う。ローカル中央制御装置であるＬＣＰＵ
ｌ２は、ＭＣＰＵＩＩとＰＰ１３とのインタフェースを
行う。複数のＬＣＰＵＩ ２によりＭＣＰＵＩＩの負担
を軽減させる役目をする。
第１図の中央処理カード部８は、Ｍ ＣＰ Ｕ １−１
とＬＣＰＵＩ ２に相当し、端末制御インフッニスカー
ド部７は、ＰＰ１３に相当することになる。
とＬＣＰＵＩ ２に相当し、端末制御インフッニスカー
ド部７は、ＰＰ１３に相当することになる。
Ｍ ＣＰ Ｕ １１、Ｌ ＣＰ Ｕ ］、 ２、ＰＰ］
３は、それぞれ１種類のカードであり、それぞれプロセ
・ソサを内蔵し、相互的に非同期の独立したソフトウェ
アによって制御されている。ＭＣＰＵＩＩとＬＣＰＵＩ
２の間は、パラレルのシステムバスによって通信を行
い、ＬＣＰＵｌ２とＰＰ１３の間はデータハイウェイ］
４というシリアルな特殊インタフェースによって接続さ
れている。
３は、それぞれ１種類のカードであり、それぞれプロセ
・ソサを内蔵し、相互的に非同期の独立したソフトウェ
アによって制御されている。ＭＣＰＵＩＩとＬＣＰＵＩ
２の間は、パラレルのシステムバスによって通信を行
い、ＬＣＰＵｌ２とＰＰ１３の間はデータハイウェイ］
４というシリアルな特殊インタフェースによって接続さ
れている。
以上のような電子交換機コ−７の疑似呼試験をする場合
、従来では機能試験として、オフフック信号、ダイヤル
信号、オンフック信号、その他の制御信号をある手順に
従って疑似送信し、それに対する電子交換機１７からの
応答を検出確認したり、負荷試験として、複数の試験機
１８によって、通話、応答、切断の手順を複数呼複数回
数繰返すことにより、電子交換機１７に対して負荷をか
けるといった試験を行う。
、従来では機能試験として、オフフック信号、ダイヤル
信号、オンフック信号、その他の制御信号をある手順に
従って疑似送信し、それに対する電子交換機１７からの
応答を検出確認したり、負荷試験として、複数の試験機
１８によって、通話、応答、切断の手順を複数呼複数回
数繰返すことにより、電子交換機１７に対して負荷をか
けるといった試験を行う。
本発明では、試験機１８をＰＰ１３に接続するのではな
く、第２図のようにＰＰ１３の位置に試験機カード１９
として直接挿入することにより、試験を行いたい対象で
ある］１、ＬＣＰＵＩ ２のうちのＬＣＰＵｌ２と直接
通信することができるように構成しである。
く、第２図のようにＰＰ１３の位置に試験機カード１９
として直接挿入することにより、試験を行いたい対象で
ある］１、ＬＣＰＵＩ ２のうちのＬＣＰＵｌ２と直接
通信することができるように構成しである。
第２図は試験機カード１９とＬＣＰＵｌ２との通信のハ
ードウェア詳細構成を示したものである。
ードウェア詳細構成を示したものである。
ＬＣＰＵｌ、２は、プログラム２４によりプロセッサ２
２で制御されている。ＰＰ１３は、プログラム２９によ
りプロセッサ２７で制御されている。
２で制御されている。ＰＰ１３は、プログラム２９によ
りプロセッサ２７で制御されている。
また、ＰＰ１Ｂは電子交換機外部の端末１６、その他の
局線や専用線１５を制御するためのＩ１０装置３０を有
しており、しかもこれらの各インクフェースに対応する
ためにＩ１０装置３０はノ１−ドウエア的に別の種類で
あり、従ってＰ Ｐ ］、 ３は数種類用意されている
。
局線や専用線１５を制御するためのＩ１０装置３０を有
しており、しかもこれらの各インクフェースに対応する
ためにＩ１０装置３０はノ１−ドウエア的に別の種類で
あり、従ってＰ Ｐ ］、 ３は数種類用意されている
。
ＬＣＰＵｌ２とＰ Ｐ １−３との通信は、データハイ
ウェイ１４という時分割のシリアルインクフェースによ
り行われる。この通信を行うため、ＬＣＰＵｌ２ではマ
スク用インタフェースＬＳＩ２３、ＰＰ１３ではスレー
ブ用インタフェースＬＳＩ２８という特殊なインタフェ
ースＬＳＩを使用する。
ウェイ１４という時分割のシリアルインクフェースによ
り行われる。この通信を行うため、ＬＣＰＵｌ２ではマ
スク用インタフェースＬＳＩ２３、ＰＰ１３ではスレー
ブ用インタフェースＬＳＩ２８という特殊なインタフェ
ースＬＳＩを使用する。
接続は、データハイウェイ１４１本に対し、マスタ用イ
ンタフェースＬＳＩ２３が１個、スレーブ用インタフェ
ースＬＳ１２８か複数個接続可能で、従って、ＬＣＰＵ
ｌ２１枚に対し複数のＰＰ１３が接続通信できることに
なる。スレーブ用インクフェースＬＳ Ｉ ２８はマス
ク用インタフェースＬＳＩ２３に対してのみ通信可能で
、マスク用インタフェースＬＳ Ｉ ２３はスレーブ用
インタフェースＬＳ ！ ２８に対して何れとも通信可
能で、またスレーブ用インタフェースＬＳＩ２８全てに
対しての同報機能も備えている。
ンタフェースＬＳＩ２３が１個、スレーブ用インタフェ
ースＬＳ１２８か複数個接続可能で、従って、ＬＣＰＵ
ｌ２１枚に対し複数のＰＰ１３が接続通信できることに
なる。スレーブ用インクフェースＬＳ Ｉ ２８はマス
ク用インタフェースＬＳＩ２３に対してのみ通信可能で
、マスク用インタフェースＬＳ Ｉ ２３はスレーブ用
インタフェースＬＳ ！ ２８に対して何れとも通信可
能で、またスレーブ用インタフェースＬＳＩ２８全てに
対しての同報機能も備えている。
試験機カード１９はプログラム３６によりプロセッサ３
４で制御される。本発明においては、試験機カード１９
にＰＰ１３と同様のスレーブ用インタフェースＬＳＩ３
５を内蔵し、ＰＰ１３と同等の位置に置くことによって
、マスク用インタフェースＬＳＩ２３と通信可能となる
。しかも、プログラム３６で端末１６、局線や専用線１
５を模擬した信号をスレーブ用インタフェースＬＳＩ３
５を通して、マスク用インタフェースＬＳ １２３、Ｌ
ＣＰ Ｕ １．２に送信することができる。ＬＣＰＵ
ｌ２からは試験機カード１９の位置に、あたかもＰＰ１
３が設置されているかのように見える。
４で制御される。本発明においては、試験機カード１９
にＰＰ１３と同様のスレーブ用インタフェースＬＳＩ３
５を内蔵し、ＰＰ１３と同等の位置に置くことによって
、マスク用インタフェースＬＳＩ２３と通信可能となる
。しかも、プログラム３６で端末１６、局線や専用線１
５を模擬した信号をスレーブ用インタフェースＬＳＩ３
５を通して、マスク用インタフェースＬＳ １２３、Ｌ
ＣＰ Ｕ １．２に送信することができる。ＬＣＰＵ
ｌ２からは試験機カード１９の位置に、あたかもＰＰ１
３が設置されているかのように見える。
従って、試験機カード１９のプログラム３６のみで端末
１６、局線や専用線１５に対応するため、ＰＰ１３のよ
うに数種類ではなく、１種類の試験機カード１９を用意
するだけでよくなる。
１６、局線や専用線１５に対応するため、ＰＰ１３のよ
うに数種類ではなく、１種類の試験機カード１９を用意
するだけでよくなる。
［発明の効果］
以上説明したように本発明によれば、複数種類のポート
疑似試験を行う場合に、１種類の試験機カードで疑似で
きるようになる。従って、異なり０ たボート試験でいちいちハードウェア的な試験構成を変
える必要がなくなる。
疑似試験を行う場合に、１種類の試験機カードで疑似で
きるようになる。従って、異なり０ たボート試験でいちいちハードウェア的な試験構成を変
える必要がなくなる。
また、試験機を試験機カードとして電子交換機内部のス
ロットに挿入することにより、電子交換機から試験機へ
の複雑で数の多い配線をする必要がなくなる。
ロットに挿入することにより、電子交換機から試験機へ
の複雑で数の多い配線をする必要がなくなる。
第１図は本発明の疑似呼試験方式を適用する電子交換機
のブロック図、第２図は試験機カードとＬＣＰＵとのハ
ードウェア構成の詳細を示すブロック図、第３図は従来
の疑似呼試験方式を示すブロック図である。 ・・・プロセッサ、２３・・・マスク用インタフェース
ＬＳＩ、２８．３５・・・スレーブ用インタフェースＬ
ＳＩ、２４，２９．３６・・・プログラム。
のブロック図、第２図は試験機カードとＬＣＰＵとのハ
ードウェア構成の詳細を示すブロック図、第３図は従来
の疑似呼試験方式を示すブロック図である。 ・・・プロセッサ、２３・・・マスク用インタフェース
ＬＳＩ、２８．３５・・・スレーブ用インタフェースＬ
ＳＩ、２４，２９．３６・・・プログラム。
Claims (1)
- 中央処理カード部と複数種類の端末制御インタフェース
カード部を持ち、前記中央処理カード部と前記端末制御
インタフェースカード部とのインタフェースが、どの端
末制御インタフェースカード部に対しても同じハードウ
ェアインタフェースである電子交換機に対し、疑似呼を
発生させ電子交換機の試験を行う疑似呼試験方式におい
て、前記端末制御インタフェースカード部と交換で挿入
され、かつ前記中央処理カード部と端末制御インタフェ
ースカード部とのインタフェースを行うインタフェース
ＬＳＩと、プロセッサを内蔵し、端末・局線・専用線の
それぞれを疑似するプログラムにより制御される試験機
カードを備え、前記複数種類の前記端末制御インタフェ
ースカード部のそれぞれを１種類の試験機カードで疑似
することを特徴とする疑似呼試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26442689A JPH03125545A (ja) | 1989-10-11 | 1989-10-11 | 疑似呼試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26442689A JPH03125545A (ja) | 1989-10-11 | 1989-10-11 | 疑似呼試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03125545A true JPH03125545A (ja) | 1991-05-28 |
Family
ID=17403015
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26442689A Pending JPH03125545A (ja) | 1989-10-11 | 1989-10-11 | 疑似呼試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03125545A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0685926A (ja) * | 1992-01-27 | 1994-03-25 | American Teleph & Telegr Co <Att> | 付属処理装置を有する電気通信交換システム及びその付属処理装置 |
-
1989
- 1989-10-11 JP JP26442689A patent/JPH03125545A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0685926A (ja) * | 1992-01-27 | 1994-03-25 | American Teleph & Telegr Co <Att> | 付属処理装置を有する電気通信交換システム及びその付属処理装置 |
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