JPH03115805A - Ｃｔ式計測装置 - Google Patents
Ｃｔ式計測装置Info
- Publication number
- JPH03115805A JPH03115805A JP25241689A JP25241689A JPH03115805A JP H03115805 A JPH03115805 A JP H03115805A JP 25241689 A JP25241689 A JP 25241689A JP 25241689 A JP25241689 A JP 25241689A JP H03115805 A JPH03115805 A JP H03115805A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image data
- cross
- data
- sectional
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000013461 design Methods 0.000 abstract description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 2
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
この発明は、ＣＴ （Ｃｏｍｐｕ ｔ ｅ ｒ Ｔ。
ｍｏｇｒａｐｈｙ）産業分野に応用して各種物品の寸法
、形状を測定するＣＴ式計測装置に関する。
、形状を測定するＣＴ式計測装置に関する。
（従来の技術）
例えば成形品の内部形状を非破壊的に調べる手段として
、従来からいわゆる産業用ＣＴによりワークの断面画像
を生成することが行われている。
、従来からいわゆる産業用ＣＴによりワークの断面画像
を生成することが行われている。
このＣＴ断面画像をハードコピー化し、そのＣＴ断面図
と前記ワークの設計図とを照らし合わせ、ワークが設計
図どおりに仕上っているかどうか等を調べる。
と前記ワークの設計図とを照らし合わせ、ワークが設計
図どおりに仕上っているかどうか等を調べる。
（発明が解決しようとする課題）
ハードコピー化したＣＴ断面図と設計図とを照らし合わ
せる作業は、デバイダや物差し等の製図用具を用いた完
全な人手作業であり、非常に能率が悪いとともに、測定
精度が人によってバラツキやすいという問題があった。
せる作業は、デバイダや物差し等の製図用具を用いた完
全な人手作業であり、非常に能率が悪いとともに、測定
精度が人によってバラツキやすいという問題があった。
この発明は前述した従来の問題点に鑑みなされたもので
、その目的は、ワークのＣＴ断面画像データとそのワー
クの設計図とを比較対照する寸法計ｎ１を自動化するこ
とにある。
、その目的は、ワークのＣＴ断面画像データとそのワー
クの設計図とを比較対照する寸法計ｎ１を自動化するこ
とにある。
［発明の構成］
（課題を解決するための手段）
この発明に係るＣＴ式計測装置は、ワークの所定部位の
断面画像データを得るＣＴと、前記ワークの所定部位の
設計図画像データを入力する手段と、前記ＣＴ断面画像
データと前記設計図画像データの縮尺率を合致させる手
段と、前記ＣＴ断面画像データと前記設計図画像データ
とを特徴点を基準に位置、方向を合わせて等価的に重ね
合わせる手段と、重ね合わされた前記ＣＴ断面画像デー
タと前記設計図画像データとの差分を演算して表示する
手段とを備えたものである。
断面画像データを得るＣＴと、前記ワークの所定部位の
設計図画像データを入力する手段と、前記ＣＴ断面画像
データと前記設計図画像データの縮尺率を合致させる手
段と、前記ＣＴ断面画像データと前記設計図画像データ
とを特徴点を基準に位置、方向を合わせて等価的に重ね
合わせる手段と、重ね合わされた前記ＣＴ断面画像デー
タと前記設計図画像データとの差分を演算して表示する
手段とを備えたものである。
（作用）
ＣＴにより得られた断面画像データと別に入力した設計
図画像データとが装置内のメモリ上にてパターンマツチ
ングに似た手法で処理され、両画像データを重ね合わせ
たときの差分が表示されるとともに、その差分の寸法等
が定量化される。
図画像データとが装置内のメモリ上にてパターンマツチ
ングに似た手法で処理され、両画像データを重ね合わせ
たときの差分が表示されるとともに、その差分の寸法等
が定量化される。
（実施例）
第１図は本発明の一実施例によるＣＴ式計測装置の概略
構成を示す。この装置は、周知のＸ線によるＣＴスキャ
ナ１と、ＣＴスキャナ１で採取された投影データから断
面画像データを合成するＣＴ画像合成部２と、用紙上の
設計図のイメージを光電的に読み取るイメージリーダ３
と、各種コマンドやデータを入力するためのキーボード
やポインティングデバイス（マウス）等を含むコンソー
ル４と、当該装置の各部を統括するメインプロセッサ５
と、画像データを格納するための大容量の画像メモリ６
と、メモリ６上の画像データを処理する画像プロセッサ
７と、デイスプレィ９に関する制御を行うデイスプレィ
コントｌ：Ｆ−ラ８ト、プリンタ１１に関する制御を行
うプリンタコントローラ１０を備えている。
構成を示す。この装置は、周知のＸ線によるＣＴスキャ
ナ１と、ＣＴスキャナ１で採取された投影データから断
面画像データを合成するＣＴ画像合成部２と、用紙上の
設計図のイメージを光電的に読み取るイメージリーダ３
と、各種コマンドやデータを入力するためのキーボード
やポインティングデバイス（マウス）等を含むコンソー
ル４と、当該装置の各部を統括するメインプロセッサ５
と、画像データを格納するための大容量の画像メモリ６
と、メモリ６上の画像データを処理する画像プロセッサ
７と、デイスプレィ９に関する制御を行うデイスプレィ
コントｌ：Ｆ−ラ８ト、プリンタ１１に関する制御を行
うプリンタコントローラ１０を備えている。
第２図は本装置の主要な動作の概略を示すフローチャー
トである。
トである。
まずＣＴスキャナ１によりワークの所定部位を走査しく
ステップ２０１）、その走査データをＣＴ画像合成部２
で処理してワークの断面画像データを生成し、その画像
データをメモリ６に格納するとともに、デイスプレィ９
にそのＣＴ断面画像を表示する（ステップ２０２）。
ステップ２０１）、その走査データをＣＴ画像合成部２
で処理してワークの断面画像データを生成し、その画像
データをメモリ６に格納するとともに、デイスプレィ９
にそのＣＴ断面画像を表示する（ステップ２０２）。
次に、前記ワークの所定部位の設計図をイメージリーダ
３で読み取り、その設計図画像データをメモリ６に格納
するとともに、デイスプレィ９に表示する（ステップ２
０３）。なお、ｃＴ断面画像と設計図画像の表示色を異
ならせて区別できるようにする。
３で読み取り、その設計図画像データをメモリ６に格納
するとともに、デイスプレィ９に表示する（ステップ２
０３）。なお、ｃＴ断面画像と設計図画像の表示色を異
ならせて区別できるようにする。
次に、ＣＴ断面画像データと設計図画像データとが同じ
縮尺率になるように、画像プロセッサ７によりメモリ６
における両画像データの少なくとも一方に拡大または縮
小の処理を施し、その処理後の両画像データをデイスプ
レィ９に表示する（ステップ２０４）。
縮尺率になるように、画像プロセッサ７によりメモリ６
における両画像データの少なくとも一方に拡大または縮
小の処理を施し、その処理後の両画像データをデイスプ
レィ９に表示する（ステップ２０４）。
次に、前記両画像の特徴点（予め定めたワーク上の点、
画像の重心等）を基準にし、両画像が重なり合うように
、画像プロセッサ７によりメモリ６における両画像デー
タの少なくとも一方に平行移動および回転の処理を施し
、その処理後の両画像データをデイスプレィ９に表示す
る（ステップ２０５）。これによりデイスプレィ９上に
おける両画像が前記特徴点を基準にして重ね合わされる
。
画像の重心等）を基準にし、両画像が重なり合うように
、画像プロセッサ７によりメモリ６における両画像デー
タの少なくとも一方に平行移動および回転の処理を施し
、その処理後の両画像データをデイスプレィ９に表示す
る（ステップ２０５）。これによりデイスプレィ９上に
おける両画像が前記特徴点を基準にして重ね合わされる
。
次に、前述のようにメモリ６上で等価的に重ね合わされ
ている両画像データの差分を画像プロセッサ７で演算し
、その差分の寸法を定量的に求めて出力するとともに、
デイスプレィ９上で差分が明瞭に分かるような形態で表
示する（ステップ２０６）。
ている両画像データの差分を画像プロセッサ７で演算し
、その差分の寸法を定量的に求めて出力するとともに、
デイスプレィ９上で差分が明瞭に分かるような形態で表
示する（ステップ２０６）。
［発明の効果］
以上詳細に説明したように、この発明のＣＴ式計測装置
によれば、ワークの断面形状を非破壊的に計測できるだ
けでなく、そのＣＴ断面とそのワークの設計図とを比較
対照して誤差寸法を計測する作業がＣＴ断面画像データ
と設計図画像データのレベルでコンピュータ処理によっ
て行えるので、従来のように人手処理による方法に比べ
て高能率、高精度になる。
によれば、ワークの断面形状を非破壊的に計測できるだ
けでなく、そのＣＴ断面とそのワークの設計図とを比較
対照して誤差寸法を計測する作業がＣＴ断面画像データ
と設計図画像データのレベルでコンピュータ処理によっ
て行えるので、従来のように人手処理による方法に比べ
て高能率、高精度になる。
第１図は本発明の一実施例によるＣＴ式計測装置の概略
構成ブロック図、第２図同上装置の主要な動作の概略フ
ローチャートである。
構成ブロック図、第２図同上装置の主要な動作の概略フ
ローチャートである。
Claims (1)
- ワークの所定部位の断面画像データを得るＣＴと、前記
ワークの所定部位の設計図画像データを入力する手段と
、前記ＣＴ断面画像データと前記設計図画像データの縮
尺率を合致させる手段と、前記ＣＴ断面画像データと前
記設計図画像データとを特徴点を基準に位置、方向を合
わせて等価的に重ね合わせる手段と、重ね合わされた前
記ＣＴ断面画像データと前記設計図画像データとの差分
を演算して表示する手段とを備えたＣＴ式計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25241689A JP2667019B2 (ja) | 1989-09-29 | 1989-09-29 | Ｃｔ式計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25241689A JP2667019B2 (ja) | 1989-09-29 | 1989-09-29 | Ｃｔ式計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03115805A true JPH03115805A (ja) | 1991-05-16 |
| JP2667019B2 JP2667019B2 (ja) | 1997-10-22 |
Family
ID=17237051
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25241689A Expired - Lifetime JP2667019B2 (ja) | 1989-09-29 | 1989-09-29 | Ｃｔ式計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2667019B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004132944A (ja) * | 2002-08-16 | 2004-04-30 | Foundation For The Promotion Of Industrial Science | 製造誤差評価システム及び方法並びにプログラム |
| JP2009109416A (ja) * | 2007-10-31 | 2009-05-21 | Hitachi Ltd | 組立品の検査方法及び検査システム |
| JP2020008360A (ja) * | 2018-07-04 | 2020-01-16 | 国立大学法人 東京大学 | Ｘ線ｃｔ装置により得られる投影像を用いた寸法測定方法 |
-
1989
- 1989-09-29 JP JP25241689A patent/JP2667019B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004132944A (ja) * | 2002-08-16 | 2004-04-30 | Foundation For The Promotion Of Industrial Science | 製造誤差評価システム及び方法並びにプログラム |
| JP2009109416A (ja) * | 2007-10-31 | 2009-05-21 | Hitachi Ltd | 組立品の検査方法及び検査システム |
| JP2020008360A (ja) * | 2018-07-04 | 2020-01-16 | 国立大学法人 東京大学 | Ｘ線ｃｔ装置により得られる投影像を用いた寸法測定方法 |
| US11561091B2 (en) | 2018-07-04 | 2023-01-24 | The University Of Tokyo | Dimension measurement method using projection image obtained by X-ray CT apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2667019B2 (ja) | 1997-10-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3057960B2 (ja) | 三次元形状加工物の評価装置 | |
| JP7170023B2 (ja) | 損傷データ編集装置、損傷データ編集方法、プログラム、およびシステム | |
| JP2000241120A (ja) | 計測装置 | |
| JP6619516B2 (ja) | 損傷図編集装置及び損傷図編集方法 | |
| JP2001241941A (ja) | 幾何要素測定装置及び方法 | |
| Son et al. | Path planning of multi-patched freeform surfaces for laser scanning | |
| JPH01503560A (ja) | 物品の寸法の測定のための方法および装置 | |
| JPH06229942A (ja) | ピンホール検査装置 | |
| US6683977B1 (en) | Method of taking three-dimensional measurements of object surfaces | |
| JPH03115805A (ja) | Ｃｔ式計測装置 | |
| JPH07114180B2 (ja) | 半導体露光パタンデータ検査方法及び検査装置 | |
| Baldo et al. | Proposition and experimental evaluation of a point-based compensation approach to reduce systematic errors in CT measurements | |
| JPH0545347A (ja) | 自動超音波探傷方法 | |
| JPH09250909A (ja) | 非接触画像計測方法及びシステム | |
| JP2002277236A (ja) | 公差判定方法 | |
| JPH0636048A (ja) | ボリュームデータクリッピング方式 | |
| JP6664073B2 (ja) | 測定支援方法、三次元測定機、及び測定支援プログラム | |
| JP2001099641A (ja) | 表面形状測定方法 | |
| JP2005025605A (ja) | 物理データフィッティング係数生成システムおよび方法 | |
| JP2592952B2 (ja) | 検査支援装置 | |
| JP4360994B2 (ja) | 密度分析方法、密度分析方法を実装したコンピュータプログラムおよび密度分析システム | |
| JPS6275775A (ja) | 画像処理装置 | |
| JPH1027253A (ja) | 画像処理方法 | |
| JP2879357B2 (ja) | 形状判定方法 | |
| JP2928375B2 (ja) | 画像処理装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080627 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090627 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100627 Year of fee payment: 13 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100627 Year of fee payment: 13 |