JPH03113844A - 光記録媒体 - Google Patents
光記録媒体Info
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- JPH03113844A JPH03113844A JP1249099A JP24909989A JPH03113844A JP H03113844 A JPH03113844 A JP H03113844A JP 1249099 A JP1249099 A JP 1249099A JP 24909989 A JP24909989 A JP 24909989A JP H03113844 A JPH03113844 A JP H03113844A
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Landscapes
- Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は新規な光記録媒体、さらに詳しくは、単一ビー
ムのオーバーライドにおいても、ジッタの少ない良質な
再生信号が得られる上、繰り返し特性の良好な相変化型
光記録媒体に関するものである。
ムのオーバーライドにおいても、ジッタの少ない良質な
再生信号が得られる上、繰り返し特性の良好な相変化型
光記録媒体に関するものである。
従来の技術
レーザー光の照射によって、情報の記録再生を行う光記
録媒体としては種々のものが知られており、その中の1
つとして相変化型の記録層を用いた光記録媒体がある。
録媒体としては種々のものが知られており、その中の1
つとして相変化型の記録層を用いた光記録媒体がある。
この相変化型の記録層を用いた光記録媒体においては、
照射レーザーパワーのレベルを制御することによって、
記録層の結晶状態とアモルファス状態との間を可逆的に
相変化させて、情報の書換えが行われ、一方情報の読み
出しは、結晶状態とアモルファス状態の反射率の違いを
利用して行われる。
照射レーザーパワーのレベルを制御することによって、
記録層の結晶状態とアモルファス状態との間を可逆的に
相変化させて、情報の書換えが行われ、一方情報の読み
出しは、結晶状態とアモルファス状態の反射率の違いを
利用して行われる。
一般に、この種の光記録媒体においては、繰り返して使
用する際の記録層の変形や蒸発などを防止するために、
SiO□、5iNx1ZnSなどの材料から成る誘電体
層が該記録層の上下に設けられる。この場合の各誘電体
層の膜厚は、通常結晶状態とアモルファス状態の反射率
の差や記録層の光吸収率が大きくなるように適宜選ばれ
る。
用する際の記録層の変形や蒸発などを防止するために、
SiO□、5iNx1ZnSなどの材料から成る誘電体
層が該記録層の上下に設けられる。この場合の各誘電体
層の膜厚は、通常結晶状態とアモルファス状態の反射率
の差や記録層の光吸収率が大きくなるように適宜選ばれ
る。
ところで、最近In−5e−TQ系合金〔「アプライド
・フィジクス・レターズ(Appl、Phys、Let
t、) 」第50巻、第667ページ(1987年)〕
、Ge −Te −Sn −Au系合金(特開昭61−
270190号公報)、5b−Te−Ge系合金(特開
昭62−53886号公報)などの結晶化速度の速い記
録材料が見い出され、これらの材料を記録層に用いるこ
とにより、1つのレーザービームのみで重ね書きできる
、いわゆる単一ビームのオーバーライドが可能になって
きた。このオーバーライドは円形の1つのレーザービー
ムのパワーを記録レベルと消去レベルとの間で変調させ
、前の情報が書かれたトラックに直接新しい情報を重ね
書きするものである。
・フィジクス・レターズ(Appl、Phys、Let
t、) 」第50巻、第667ページ(1987年)〕
、Ge −Te −Sn −Au系合金(特開昭61−
270190号公報)、5b−Te−Ge系合金(特開
昭62−53886号公報)などの結晶化速度の速い記
録材料が見い出され、これらの材料を記録層に用いるこ
とにより、1つのレーザービームのみで重ね書きできる
、いわゆる単一ビームのオーバーライドが可能になって
きた。このオーバーライドは円形の1つのレーザービー
ムのパワーを記録レベルと消去レベルとの間で変調させ
、前の情報が書かれたトラックに直接新しい情報を重ね
書きするものである。
しかしながら、このような単一ビームでオーバーライド
を行う場合、アモルファス状態、すなわち記録ビットの
光吸収率と結晶状態、すなわち記録ビット以外の部分の
光吸収率が異なるために、前の記録ビットとの重なり具
合によって、新しく書換えた記録ビットの形成される位
置に微妙なずれを生じ、再生信号が多くのジッタ(時間
軸方向の誤差)を含むようになる上、繰り返し特性に悪
影響を及ぼすという問題が生じる。この繰り返し特性の
悪影響は、同じようなレーザーパワーが照射されても、
光吸収率の高い相状態の部分が必要以上に高い温度にな
るために、多数回の繰り返しを行うと、記録層の劣化が
促進されるためである。
を行う場合、アモルファス状態、すなわち記録ビットの
光吸収率と結晶状態、すなわち記録ビット以外の部分の
光吸収率が異なるために、前の記録ビットとの重なり具
合によって、新しく書換えた記録ビットの形成される位
置に微妙なずれを生じ、再生信号が多くのジッタ(時間
軸方向の誤差)を含むようになる上、繰り返し特性に悪
影響を及ぼすという問題が生じる。この繰り返し特性の
悪影響は、同じようなレーザーパワーが照射されても、
光吸収率の高い相状態の部分が必要以上に高い温度にな
るために、多数回の繰り返しを行うと、記録層の劣化が
促進されるためである。
発明が解決しようとする課題
本発明は、このような従来の相変化型光記録媒体が有す
る問題を解決し、単一ビームのオーバーライドにおいて
もジッタの少ない良質な再生信号が得られる上、繰り返
し特性の良好な相変化を光記録媒体を提供することを目
的としてなされたものである。
る問題を解決し、単一ビームのオーバーライドにおいて
もジッタの少ない良質な再生信号が得られる上、繰り返
し特性の良好な相変化を光記録媒体を提供することを目
的としてなされたものである。
課題を解決するための手段
本発明者らは、前記の好ましい性質を有する相変化型光
記録媒体を開発すべく鋭意研究を重ねた結果、記録層の
結晶状態とアモルファス状態における光吸収率の差を特
定の値以下に規制することにより、その目的を達成しう
ろことを見い出し、この知見に基づいて本発明を完成す
るに至った。
記録媒体を開発すべく鋭意研究を重ねた結果、記録層の
結晶状態とアモルファス状態における光吸収率の差を特
定の値以下に規制することにより、その目的を達成しう
ろことを見い出し、この知見に基づいて本発明を完成す
るに至った。
すなわち、本発明は、基板上に、レーザー光を照射する
ことにより結晶状態とアモルファス状態との間の可逆的
相変化を誘起する記録層を設けた光記録媒体において、
該記録層の結晶状態におけるレーザー光波長に対する光
吸収率(%)とアモルファス状態におけるレーザー光波
長に対する光吸収率(%)の差を10%以下にしたこと
を特徴とする光記録媒体を提供するものである。
ことにより結晶状態とアモルファス状態との間の可逆的
相変化を誘起する記録層を設けた光記録媒体において、
該記録層の結晶状態におけるレーザー光波長に対する光
吸収率(%)とアモルファス状態におけるレーザー光波
長に対する光吸収率(%)の差を10%以下にしたこと
を特徴とする光記録媒体を提供するものである。
以下、本発明の詳細な説明する。
本発明の光記録媒体において、基板上に設けられる記録
層には、レーザー光を照射することにより結晶状態とア
モルファス状態との間の可逆的相変化を誘起する材料が
用いられる。このような材料としては、例えばTe−G
e5Te−Ge−5b、 TeOx −Pd、 Te−
Gs−TQ、 Te −In、 Te−Ge−5n、
Te−Ge −3n−Au、 Te−3n−Pb、 T
e−Ge−5e、 Se −In、 5e−In−TQ
なとの合金系が挙げられる。
層には、レーザー光を照射することにより結晶状態とア
モルファス状態との間の可逆的相変化を誘起する材料が
用いられる。このような材料としては、例えばTe−G
e5Te−Ge−5b、 TeOx −Pd、 Te−
Gs−TQ、 Te −In、 Te−Ge−5n、
Te−Ge −3n−Au、 Te−3n−Pb、 T
e−Ge−5e、 Se −In、 5e−In−TQ
なとの合金系が挙げられる。
本発明においては、記録層のレーザー光波長に対する結
晶状態(記録ピット以外の部分)の光吸収率とアモルフ
ァス状態(記録ビット)の光吸収率の差を10%以下に
抑制することが必要である。
晶状態(記録ピット以外の部分)の光吸収率とアモルフ
ァス状態(記録ビット)の光吸収率の差を10%以下に
抑制することが必要である。
これによって書換え前の状態にかかわらず、同等の昇温
プロファイルが得られることにより、ジッタの少ない良
質な再生信号を得ることができる上、繰り返し特性を向
上させることができ、本発明の目的が達成される。
プロファイルが得られることにより、ジッタの少ない良
質な再生信号を得ることができる上、繰り返し特性を向
上させることができ、本発明の目的が達成される。
この記録層における結晶状態とアモルファス状態の光吸
収率は、例えば該記録層の上下に誘電体保護層を設け、
その膜厚によってコントロールすることができる。
収率は、例えば該記録層の上下に誘電体保護層を設け、
その膜厚によってコントロールすることができる。
前記記録層の形成方法については、特に制限はなく、公
知の方法、例えば蒸着、共蒸着、フラッシュ蒸着、スパ
ッタリング、反応性スパッタリング、イオンブレーティ
ングなどの中から任意の方法を選択して用いることがで
きる。また、該記録層の膜厚は、その組成により異なる
が、通常300〜1500人の範囲で選ばれる。
知の方法、例えば蒸着、共蒸着、フラッシュ蒸着、スパ
ッタリング、反応性スパッタリング、イオンブレーティ
ングなどの中から任意の方法を選択して用いることがで
きる。また、該記録層の膜厚は、その組成により異なる
が、通常300〜1500人の範囲で選ばれる。
本発明の光記録媒体においては、前記記録層の上下に、
繰り返して使用する際の記録層の変形や蒸発などを防止
するために、誘電体保護層を設けることが望ましい。こ
の誘電体保護層の材料としては、例えば金属又は半金属
の酸化物、窒化物、硫化物、あるいはこれらの混合物な
どが用いられる。具体例としては、 5i02、SiN
x%ZnSなどを好ましく挙げることができる。また、
該記録層には、その光入射側に反射防止層を設けてもよ
いし、光入射の反対側に反射層を設けてもよい。
繰り返して使用する際の記録層の変形や蒸発などを防止
するために、誘電体保護層を設けることが望ましい。こ
の誘電体保護層の材料としては、例えば金属又は半金属
の酸化物、窒化物、硫化物、あるいはこれらの混合物な
どが用いられる。具体例としては、 5i02、SiN
x%ZnSなどを好ましく挙げることができる。また、
該記録層には、その光入射側に反射防止層を設けてもよ
いし、光入射の反対側に反射層を設けてもよい。
これらの誘電体保護層、反射防止層及び反射層の形成方
法については特に制限はなく、公知の方法、例えば前記
記録層の形成の説明において例示した方法の中から目的
や材料などに応じて適宜選択して用いることができる。
法については特に制限はなく、公知の方法、例えば前記
記録層の形成の説明において例示した方法の中から目的
や材料などに応じて適宜選択して用いることができる。
さらに、本発明の光記録媒体においては、その最上層に
、例えば紫外線硬化樹脂などから成るオーバーコート層
を設けてもよい。
、例えば紫外線硬化樹脂などから成るオーバーコート層
を設けてもよい。
本発明の光記録媒体において、記録層が設けられる基板
としては、例えばガラス板やガラス板上に光硬化性樹脂
層を設けたもの、あるいはポリカーボネート、アクリル
樹脂、エポキシ樹脂、ポリスチレンなどのプラスチック
基板アルミニウム合金などの金属板などが用いられる。
としては、例えばガラス板やガラス板上に光硬化性樹脂
層を設けたもの、あるいはポリカーボネート、アクリル
樹脂、エポキシ樹脂、ポリスチレンなどのプラスチック
基板アルミニウム合金などの金属板などが用いられる。
これらの基板にはアドレス情報や、レーザー光がトラッ
キングを行うための溝などが形成されていてもよい。
キングを行うための溝などが形成されていてもよい。
第1図は本発明の光記録媒体の1例の構成を示す断面図
であって、基板1の上に誘電体保護層2を介して記録層
3が設けられ、さらに、この記録層3の上に誘電体保護
層4及びオーバーコート層5が順次設けられた構造を示
している。
であって、基板1の上に誘電体保護層2を介して記録層
3が設けられ、さらに、この記録層3の上に誘電体保護
層4及びオーバーコート層5が順次設けられた構造を示
している。
発明の効果
本発明によると、単一ビームのオーバーライドにおいて
も、ジッタの少ない良質な再生信号が得られる上、繰返
し特性の良好な相変化型光記録媒体を提供することがで
きる。
も、ジッタの少ない良質な再生信号が得られる上、繰返
し特性の良好な相変化型光記録媒体を提供することがで
きる。
実施例
次に、実施例により本発明をさらに詳細に説明するが、
本発明はこれらの例によってなんら限定されるものでは
ない。
本発明はこれらの例によってなんら限定されるものでは
ない。
実施例1
レーザー光案内溝を設けた直径130+m、厚さ1.2
朋のポリカーボネート基板1上に、ZnSから成る下層
誘電体保護層2.5b−Te−Ge系合金から成る膜厚
80nmの記録層3及びZnSから成る上層誘電体保護
層4をスパッタ法により順次設けたのち、さらに最上層
に紫外線硬化樹脂から成る膜厚50nmのオーバーコー
ト層5を設け、上下誘電体保護層の膜厚の異なる第11
1に示す構造の各種光記録媒体を作成した。
朋のポリカーボネート基板1上に、ZnSから成る下層
誘電体保護層2.5b−Te−Ge系合金から成る膜厚
80nmの記録層3及びZnSから成る上層誘電体保護
層4をスパッタ法により順次設けたのち、さらに最上層
に紫外線硬化樹脂から成る膜厚50nmのオーバーコー
ト層5を設け、上下誘電体保護層の膜厚の異なる第11
1に示す構造の各種光記録媒体を作成した。
前記上下誘電体保護層の膜厚を変化させることによって
、記録層におけるアモルファス状態の光吸収率と結晶状
態の光吸収率の差を変えることができる。
、記録層におけるアモルファス状態の光吸収率と結晶状
態の光吸収率の差を変えることができる。
第1表に光記録媒体における各種の膜厚構成を、第2表
にそれぞれの膜厚構成における記録層のアモルファス状
態の反射率、光吸収率、結晶状態の反射率、光吸収率及
び前記2種の状態の光吸収率の差を示す。
にそれぞれの膜厚構成における記録層のアモルファス状
態の反射率、光吸収率、結晶状態の反射率、光吸収率及
び前記2種の状態の光吸収率の差を示す。
第 1 表
なお、本実施例では、誘電体保護層ZnS及びオーバー
コート層は共にレーザー光を吸収しないので、記録層に
おける光吸収率Vは、η−1−R−Tで定義されるもの
である。ここでR及びTはそれぞれ反射率及び透過率で
ある。ただし反射層を設けた構造では反射層自身もレー
ザー光を吸収するので、記録層の光吸収率は多層膜の光
学計算によって求めた値とする。
コート層は共にレーザー光を吸収しないので、記録層に
おける光吸収率Vは、η−1−R−Tで定義されるもの
である。ここでR及びTはそれぞれ反射率及び透過率で
ある。ただし反射層を設けた構造では反射層自身もレー
ザー光を吸収するので、記録層の光吸収率は多層膜の光
学計算によって求めた値とする。
特性評価としては、線速7.5m/sで、1.5T(3
,70MHz記録パルス幅90nsec)の信号を記録
したトラックに4.0T (1,39MHz記録パルス
輻90 n5ec)の信号をオーバーライドしたときの
、4.0Tの信号のジッタ測定及び1.5Tの信号と4
.0Tの信号を交互に繰り返しオーバーライドしたとき
のビットエラーの測定を行った。用いたレーザーパワー
レベルは、記録レベル14.0mW、消去レベル6.0
mWである。
,70MHz記録パルス幅90nsec)の信号を記録
したトラックに4.0T (1,39MHz記録パルス
輻90 n5ec)の信号をオーバーライドしたときの
、4.0Tの信号のジッタ測定及び1.5Tの信号と4
.0Tの信号を交互に繰り返しオーバーライドしたとき
のビットエラーの測定を行った。用いたレーザーパワー
レベルは、記録レベル14.0mW、消去レベル6.0
mWである。
第2図に、各種膜厚構成における4、OT倍信号ジッタ
を光吸収率の差に対してプロットした結果を示す。図中
の番号は、各膜厚構成No、に対応する番号である。ま
た、第3図に膜厚構成No、2(A)、No。
を光吸収率の差に対してプロットした結果を示す。図中
の番号は、各膜厚構成No、に対応する番号である。ま
た、第3図に膜厚構成No、2(A)、No。
5(B)及びNo、6(C)の書換え回数とピットエラ
ーレートとの関係をグラフとして示す。これら第2図、
第3図からアモルファス状態の光吸収率と結晶状態の光
吸収率の差を10%以下にすれば、単一ビームオーバー
ライトでもジッタを3Qnsec以下に抑制することが
でき、さらに繰り返し特性も向上できることが分る。
ーレートとの関係をグラフとして示す。これら第2図、
第3図からアモルファス状態の光吸収率と結晶状態の光
吸収率の差を10%以下にすれば、単一ビームオーバー
ライトでもジッタを3Qnsec以下に抑制することが
でき、さらに繰り返し特性も向上できることが分る。
第1図は本発明の光記録媒体の1例の構成を示す断面図
であって、図中符号lは基板、2は下層誘電体保護層、
3は記録層、4は上層誘電体保護層、5はオーバーコー
ト層である。 第2図は光記録媒体の記録層におけるアモルファス状態
と結晶状態の光吸収率の差とジッタとの関係の1例を示
すグラフ、第3図は各膜厚構成の光記録媒体における書
換え回数とピットエラーレートとの関係を示すグラフで
ある。 第1 図 第2 図 5 0 5 光吸収率の差〔ηC−ηC〕 (%)
であって、図中符号lは基板、2は下層誘電体保護層、
3は記録層、4は上層誘電体保護層、5はオーバーコー
ト層である。 第2図は光記録媒体の記録層におけるアモルファス状態
と結晶状態の光吸収率の差とジッタとの関係の1例を示
すグラフ、第3図は各膜厚構成の光記録媒体における書
換え回数とピットエラーレートとの関係を示すグラフで
ある。 第1 図 第2 図 5 0 5 光吸収率の差〔ηC−ηC〕 (%)
Claims (1)
- 1 基板上に、レーザー光を照射することにより結晶状
態とアモルファス状態との間の可逆的相変化を誘起する
記録層を設けた光記録媒体において、該記録層の結晶状
態におけるレーザー光波長に対する光吸収率(%)とア
モルファス状態におけるレーザー光波長に対する光吸収
率(%)の差を10%以下にしたことを特徴とする光記
録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1249099A JPH03113844A (ja) | 1989-09-27 | 1989-09-27 | 光記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1249099A JPH03113844A (ja) | 1989-09-27 | 1989-09-27 | 光記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03113844A true JPH03113844A (ja) | 1991-05-15 |
Family
ID=17187952
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1249099A Pending JPH03113844A (ja) | 1989-09-27 | 1989-09-27 | 光記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03113844A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5424106A (en) * | 1992-04-17 | 1995-06-13 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical information recording medium and method of designing its structure |
US5681632A (en) * | 1995-02-13 | 1997-10-28 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical information recording medium |
US6268034B1 (en) | 1998-08-05 | 2001-07-31 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical information recording medium and method for producing the same, method for recording and reproducing information thereon and recording/reproducing apparatus |
US6343062B1 (en) | 1997-09-26 | 2002-01-29 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd | Optical disk device and optical disk for recording and reproducing high-density signals |
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