JPH03112892A - ガス供給装置 - Google Patents
ガス供給装置Info
- Publication number
- JPH03112892A JPH03112892A JP1250025A JP25002589A JPH03112892A JP H03112892 A JPH03112892 A JP H03112892A JP 1250025 A JP1250025 A JP 1250025A JP 25002589 A JP25002589 A JP 25002589A JP H03112892 A JPH03112892 A JP H03112892A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- carrier gas
- raw material
- metal
- vibrator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims abstract description 85
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 claims abstract description 37
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims abstract description 24
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 9
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 54
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 54
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 6
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 27
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 23
- 239000010408 film Substances 0.000 description 21
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- TUTOKIOKAWTABR-UHFFFAOYSA-N dimethylalumane Chemical compound C[AlH]C TUTOKIOKAWTABR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 description 9
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 7
- 125000002524 organometallic group Chemical group 0.000 description 7
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 6
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 6
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 5
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- XCZXGTMEAKBVPV-UHFFFAOYSA-N trimethylgallium Chemical compound C[Ga](C)C XCZXGTMEAKBVPV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000004518 low pressure chemical vapour deposition Methods 0.000 description 4
- JLTRXTDYQLMHGR-UHFFFAOYSA-N trimethylaluminium Chemical compound C[Al](C)C JLTRXTDYQLMHGR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 3
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 3
- -1 TMG and TMA Chemical class 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 239000003574 free electron Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000010349 pulsation Effects 0.000 description 2
- 229910021332 silicide Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 2
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N Titanium nitride Chemical compound [Ti]#N NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001335 aliphatic alkanes Chemical class 0.000 description 1
- UQZIWOQVLUASCR-UHFFFAOYSA-N alumane;titanium Chemical compound [AlH3].[Ti] UQZIWOQVLUASCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CSDREXVUYHZDNP-UHFFFAOYSA-N alumanylidynesilicon Chemical compound [Al].[Si] CSDREXVUYHZDNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IEQUNHXCJVILJQ-UHFFFAOYSA-N aluminum palladium Chemical compound [Al].[Pd] IEQUNHXCJVILJQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 1
- YXTPWUNVHCYOSP-UHFFFAOYSA-N bis($l^{2}-silanylidene)molybdenum Chemical compound [Si]=[Mo]=[Si] YXTPWUNVHCYOSP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005380 borophosphosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- CWEHKOAQFGHCFQ-UHFFFAOYSA-N methylalumane Chemical compound [AlH2]C CWEHKOAQFGHCFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 1
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 1
- 239000003595 mist Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229910021344 molybdenum silicide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 1
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 1
- 230000027756 respiratory electron transport chain Effects 0.000 description 1
- FVBUAEGBCNSCDD-UHFFFAOYSA-N silicide(4-) Chemical compound [Si-4] FVBUAEGBCNSCDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical group N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000006557 surface reaction Methods 0.000 description 1
- 238000002230 thermal chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000000427 thin-film deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910021341 titanium silicide Inorganic materials 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- WQJQOUPTWCFRMM-UHFFFAOYSA-N tungsten disilicide Chemical compound [Si]#[W]#[Si] WQJQOUPTWCFRMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021342 tungsten silicide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、ガス供給装置に関し、特に化学気相成長法(
CVD法)による薄膜堆積装置において有機金属を含む
原料ガス等を供給するために適用して好適なガス供給装
置に関するものである。
CVD法)による薄膜堆積装置において有機金属を含む
原料ガス等を供給するために適用して好適なガス供給装
置に関するものである。
(従来の技術〕
有機金属を用いる化学気相成長法は、金属薄11fi
、 III −V族化合物半導体薄膜の堆積に広く用い
られている。一般に用いられている有機金属原料トリメ
チルガリウム(TMG) 、 トリメチルアルミニウム
(TMA)は室温で液体である。そして、液体である有
機金属中に管を挿入し、これに計等のキャリアガスを流
し、有機金属を気化させた状態で堆積膜形成用空間を構
成する反応容器へ輸送する。
、 III −V族化合物半導体薄膜の堆積に広く用い
られている。一般に用いられている有機金属原料トリメ
チルガリウム(TMG) 、 トリメチルアルミニウム
(TMA)は室温で液体である。そして、液体である有
機金属中に管を挿入し、これに計等のキャリアガスを流
し、有機金属を気化させた状態で堆積膜形成用空間を構
成する反応容器へ輸送する。
第4図は有機金属を含むガス(原料ガス)の輸送を行う
ための従来のガス供給装置を示し、有機金属2は、金属
製の容器1に液体状態で貯えられている。そして、有機
金属2中に挿入された金属製のパイプ41に計等のキャ
リアガス6を流し、液中に気泡として噴出させる。さら
に気泡中に取込まれて飽和蒸気状態になった有機金属を
液体中に挿入されていない金属製のパイプ42から原料
ガス7として反応容器(図示せず)へ輸送する。例えば
、挿入バイブ31の径が174インチで、キャリアガス
量が略1〜11005ccの場合、TMGやTMA等の
有機金属の場合、出口バイブ42から出てくるキャリア
ガスに飽和蒸気正分のTMG、TMAが含まれて輸送可
能である。
ための従来のガス供給装置を示し、有機金属2は、金属
製の容器1に液体状態で貯えられている。そして、有機
金属2中に挿入された金属製のパイプ41に計等のキャ
リアガス6を流し、液中に気泡として噴出させる。さら
に気泡中に取込まれて飽和蒸気状態になった有機金属を
液体中に挿入されていない金属製のパイプ42から原料
ガス7として反応容器(図示せず)へ輸送する。例えば
、挿入バイブ31の径が174インチで、キャリアガス
量が略1〜11005ccの場合、TMGやTMA等の
有機金属の場合、出口バイブ42から出てくるキャリア
ガスに飽和蒸気正分のTMG、TMAが含まれて輸送可
能である。
しかしながら量産性を考慮した場合、すなわち複数枚の
基体に対して薄膜を堆積できるように堆積膜形成装置を
構成する場合には、それに応じて大量の原料ガスが必要
とされることになる。しかし第4図のように1木の金属
バイブ41から、1〜10u/分もの大流量のキャリア
ガスを流すと、気泡中に有機金属が十分飽和しなくなり
、キャリアガス量を増大させても輸送される有機金属量
が増大しないことになる。特に、粘性の高い有機金属を
用いる場合には、金属バイブ41からの気泡が犬となっ
て排出ガス流に脈流が生じたり、液面までつながる程大
きなものとなることがある。すなわち金属バイブ41の
先端から、液面上部まで、筒状のキャリアガス流路が形
成されてしまうことがある。例えば、金属バイブ41が
174インチ径のパイプである場合、キャリアガス量路
100cc/分で、気泡ではなく筒状となり、輸送され
る有機金属量は、キャリアガス量に比例しなくなってし
まうことがあった。
基体に対して薄膜を堆積できるように堆積膜形成装置を
構成する場合には、それに応じて大量の原料ガスが必要
とされることになる。しかし第4図のように1木の金属
バイブ41から、1〜10u/分もの大流量のキャリア
ガスを流すと、気泡中に有機金属が十分飽和しなくなり
、キャリアガス量を増大させても輸送される有機金属量
が増大しないことになる。特に、粘性の高い有機金属を
用いる場合には、金属バイブ41からの気泡が犬となっ
て排出ガス流に脈流が生じたり、液面までつながる程大
きなものとなることがある。すなわち金属バイブ41の
先端から、液面上部まで、筒状のキャリアガス流路が形
成されてしまうことがある。例えば、金属バイブ41が
174インチ径のパイプである場合、キャリアガス量路
100cc/分で、気泡ではなく筒状となり、輸送され
る有機金属量は、キャリアガス量に比例しなくなってし
まうことがあった。
そのため、大流量輸送においては、複数の有機金属容器
を用いる方法があるが、例えば、1個の容器当り100
cc/分のキャリアガスを流せるとしてb、1〜b 場合には容器の数は10〜100個となり、規模の大型
化、価格の増大およびメンテナンスの煩雑化などの問題
が生じる。
を用いる方法があるが、例えば、1個の容器当り100
cc/分のキャリアガスを流せるとしてb、1〜b 場合には容器の数は10〜100個となり、規模の大型
化、価格の増大およびメンテナンスの煩雑化などの問題
が生じる。
一方、例えば、特開昭62−33769号には、金属管
の先端に、多数個の小孔をあける方法が示されている。
の先端に、多数個の小孔をあける方法が示されている。
しかしながらこれはTMGのような粘性の低い、有機金
属の場合、有効に作用すると考えられるが、粘性の高い
有機金属を用いる場合には、必ずしも有効とは言えない
。
属の場合、有効に作用すると考えられるが、粘性の高い
有機金属を用いる場合には、必ずしも有効とは言えない
。
また、特開昭82−207870号には、有機金属容器
に磁歪振動子を有する超音波発生器を取りつける方法が
示されている。
に磁歪振動子を有する超音波発生器を取りつける方法が
示されている。
そして、キャリアガス導入用の金属バイブが容器内の気
相部に挿入されている実施例が示されているが、有機金
属中には、一般にキャビテーション作用を引ぎ起す気体
がほとんど含まれていないので、超音波の効果によるミ
ストの発生はほとんど期待できない。また、キャリア導
入用の金属バイブを有機金属中に挿入しても良いとの記
載も見受けられるが、粘性の高い有機金属の場合、キャ
リアガス流量が多いと、先に述べたように気泡が発生し
にくくなるので、十分なキャビチーシコン効果を期待す
ることができない。
相部に挿入されている実施例が示されているが、有機金
属中には、一般にキャビテーション作用を引ぎ起す気体
がほとんど含まれていないので、超音波の効果によるミ
ストの発生はほとんど期待できない。また、キャリア導
入用の金属バイブを有機金属中に挿入しても良いとの記
載も見受けられるが、粘性の高い有機金属の場合、キャ
リアガス流量が多いと、先に述べたように気泡が発生し
にくくなるので、十分なキャビチーシコン効果を期待す
ることができない。
以上のように、粘性の高い有機金属を用いて多量の原料
ガスを輸送するガス供給装置は現在まで十分なものはな
かった。
ガスを輸送するガス供給装置は現在まで十分なものはな
かった。
本発明の目的は、規模の大型化等の問題を生じることな
く、粘性の高い有機金属を用いる場合にも大量の原料ガ
ス輸送を行うことのできるガス供給装置を提供すること
にある。
く、粘性の高い有機金属を用いる場合にも大量の原料ガ
ス輸送を行うことのできるガス供給装置を提供すること
にある。
そのために、本発明は、化学気相成長法による堆積膜形
成装置に用いられて原料ガスを供給するためのガス供給
装置において、キャリアガスを導入して有機金属を含む
前記原料ガスを排出するために設けられた有機金属の貯
留手段と、該貯留手段内に前記キャリアガスを導入する
ために設けられた複数のガス導入部材と、該複数のガス
導入部材に対してのキャリアガスの供給路をオン/オフ
し、当該供給路がオンとされているガス導入部材にキャ
リアガスを分配して供給するガス切換手段とを具えたこ
とを特徴とする。
成装置に用いられて原料ガスを供給するためのガス供給
装置において、キャリアガスを導入して有機金属を含む
前記原料ガスを排出するために設けられた有機金属の貯
留手段と、該貯留手段内に前記キャリアガスを導入する
ために設けられた複数のガス導入部材と、該複数のガス
導入部材に対してのキャリアガスの供給路をオン/オフ
し、当該供給路がオンとされているガス導入部材にキャ
リアガスを分配して供給するガス切換手段とを具えたこ
とを特徴とする。
本発明では、複数のガス等の部材のそれぞれから導入さ
れるキャリアガスの流量を適切に選択し、それぞれには
時間的にパルス状にしてキャリアガスを供給することに
より、各導入口からの気泡が小さくなるのでガス中への
有機金属の気化が十分に行われ、かつ全体として、大量
の原料ガスを排出することができる。
れるキャリアガスの流量を適切に選択し、それぞれには
時間的にパルス状にしてキャリアガスを供給することに
より、各導入口からの気泡が小さくなるのでガス中への
有機金属の気化が十分に行われ、かつ全体として、大量
の原料ガスを排出することができる。
以下、図面を参照して本発明の一実施例を詳細に説明す
る。
る。
後述のように、本発明者らは、ジメチルアルミニウムハ
イドライド(DMAI)は、112を反応ガスとして用
いると、高品質A℃もしくは八で一5i合金を、熱反応
のみで電子供与性材料表面に堆積させることができる。
イドライド(DMAI)は、112を反応ガスとして用
いると、高品質A℃もしくは八で一5i合金を、熱反応
のみで電子供与性材料表面に堆積させることができる。
そのDMAHの蒸気圧は、室温で略々ITorrであり
、従来AI!、CVD原料として用いられているTIB
A (室温での蒸気圧二略0.ITorr )より大き
いので輸送が容易である。
、従来AI!、CVD原料として用いられているTIB
A (室温での蒸気圧二略0.ITorr )より大き
いので輸送が容易である。
しかしながら、量産を自損した減圧cvD法による堆積
膜形成装置の場合、キャリアガス量は、1〜lOβ/分
と大量になる。しかしDMAHは粘性が高いために、輸
送されるガス流が脈流となり易いため連続輸送が行われ
なくなったり、上記のように筒状となってしまうという
問題点がある。
膜形成装置の場合、キャリアガス量は、1〜lOβ/分
と大量になる。しかしDMAHは粘性が高いために、輸
送されるガス流が脈流となり易いため連続輸送が行われ
なくなったり、上記のように筒状となってしまうという
問題点がある。
そこで、本例では以下のような構成を採用した。
第1図は、本発明ガス供給装置の構成の一例を示す。
ここで、lOは金属製容器である。この金属製容器lO
は、SuS製であるが、DMA)I、 TM八等の有機
金属は、H2存在下において室温であっても金属表面で
分解し、不要なCH4等のアルカンを形成してしまう。
は、SuS製であるが、DMA)I、 TM八等の有機
金属は、H2存在下において室温であっても金属表面で
分解し、不要なCH4等のアルカンを形成してしまう。
そこで、金属製容器内表面には、5i02等のコーティ
ングを施しておくことが望ましい。
ングを施しておくことが望ましい。
2は有機金属、3は人口バイブ4より流入したキャリア
ガス6により生ずる気泡である。そして、気化した有機
金属は、キャリアガスとともに出口バイブ5より反応容
器(第3図参照)へ輸jスされる。
ガス6により生ずる気泡である。そして、気化した有機
金属は、キャリアガスとともに出口バイブ5より反応容
器(第3図参照)へ輸jスされる。
19は有機金属中へ挿入されたパイプ11N17へのガ
ス導入経路を切換えるためのガス切換器であり、人口バ
イブ4より流入したキャリアガスを時間的にタイミング
をずらしてパルス状にパイプ11〜17へ導入する。こ
のガス切換器の構成としては、例えば各パイプ接続部分
に配置された弁体と、その弁の作動体と、その作動体を
制御する手段等で構成できる。なお、第1図は、パイプ
が7木の例を示しているが、キャリアガスの流量により
その数は、これより多くても少なくても良い 第2図は、パイプ11−17へのキャリアガス導入タイ
ミングの一例を示す。
ス導入経路を切換えるためのガス切換器であり、人口バ
イブ4より流入したキャリアガスを時間的にタイミング
をずらしてパルス状にパイプ11〜17へ導入する。こ
のガス切換器の構成としては、例えば各パイプ接続部分
に配置された弁体と、その弁の作動体と、その作動体を
制御する手段等で構成できる。なお、第1図は、パイプ
が7木の例を示しているが、キャリアガスの流量により
その数は、これより多くても少なくても良い 第2図は、パイプ11−17へのキャリアガス導入タイ
ミングの一例を示す。
第2図において、斜線部が当該パイプにキャリアガスが
流れている時間である。各パイプに流れる流量は、任意
の時刻で等しくなるようにする。
流れている時間である。各パイプに流れる流量は、任意
の時刻で等しくなるようにする。
第2図のタイミングチャートでは、最も簡単な例として
任意の時刻に6木のパイプからキャリアガスが流されて
いる。すなわち、人口バイブ4より流入するキャリアガ
ス量を6等分した量のガスを各バイブ11〜17のうち
の6木のそれぞれに分配すればよい。
任意の時刻に6木のパイプからキャリアガスが流されて
いる。すなわち、人口バイブ4より流入するキャリアガ
ス量を6等分した量のガスを各バイブ11〜17のうち
の6木のそれぞれに分配すればよい。
各バイブ11〜17に流すキャリアガス量は、DMA+
+の場合、100cc/分以下にすることが望ましい。
+の場合、100cc/分以下にすることが望ましい。
流量の少ない分には、いくらでもよい。しかし各11〜
17のバイブの先端を1つの孔とするのではなく、複数
個の小孔を設けると、各バイブ11〜17へ流すキャリ
アガスの量は、100cc/分より大きくすることがで
きる。各バイブに設ける小孔の数をn個とすると各バイ
ブへ流せる流量はn X ]0Occ/分となるが、各
バイブの11−17の径が378インチもしくは174
インチの場合、10個以下が望ましい。
17のバイブの先端を1つの孔とするのではなく、複数
個の小孔を設けると、各バイブ11〜17へ流すキャリ
アガスの量は、100cc/分より大きくすることがで
きる。各バイブに設ける小孔の数をn個とすると各バイ
ブへ流せる流量はn X ]0Occ/分となるが、各
バイブの11−17の径が378インチもしくは174
インチの場合、10個以下が望ましい。
これより大きいと各小孔から発生する気泡が合体してし
まうことがある。いずれにせよ、要は、各バイブの先端
からの気泡がつながって有機金属中で筒状になってしま
わなければよいわけである。
まうことがある。いずれにせよ、要は、各バイブの先端
からの気泡がつながって有機金属中で筒状になってしま
わなければよいわけである。
第1図の装置を用いると、各バイブ11−17から順次
気泡が生じ、全体としてほぼ連続的に気泡が生じるので
、・出口バイブ5から流出する原料ガス7に脈流が生じ
ない。
気泡が生じ、全体としてほぼ連続的に気泡が生じるので
、・出口バイブ5から流出する原料ガス7に脈流が生じ
ない。
次に、第1図のような装置を用いてガス輸送を試験した
実施例について述べる。
実施例について述べる。
(実施例1)
第1図の有機金属容器10に、金属バイブ4からL s
ccmの水素ガスを流す。ガス切換器19によって、各
バイブ11〜17へ(L/6) sccmの水素ガスを
、第2図示のタイミングでパルス状に供給した。各バイ
ブにガスを流す時間をTI、流さない時間をT2とし、
TI、 T2を変化させて、出口バイブ5から流れ出す
ガス7中に含まれるDMA8分圧を測定した6表1に示
すように、600secmの水素ガスを流しても流出す
る水素ガス中にDMAHは室温での飽和状気圧に等しい
ITorrの分圧で含まれていた。また、流出する水素
ガス流量の変動は1%以内であった。
ccmの水素ガスを流す。ガス切換器19によって、各
バイブ11〜17へ(L/6) sccmの水素ガスを
、第2図示のタイミングでパルス状に供給した。各バイ
ブにガスを流す時間をTI、流さない時間をT2とし、
TI、 T2を変化させて、出口バイブ5から流れ出す
ガス7中に含まれるDMA8分圧を測定した6表1に示
すように、600secmの水素ガスを流しても流出す
る水素ガス中にDMAHは室温での飽和状気圧に等しい
ITorrの分圧で含まれていた。また、流出する水素
ガス流量の変動は1%以内であった。
(実施例2)
実施例1と同様の測定を水素の代わりにArガスを用い
て行った。測定結果は、表1と同様、600sec+n
まで流しても、流出するArガス中に飽和状気圧に等し
いDM^IIを含んで輸送することができた。
て行った。測定結果は、表1と同様、600sec+n
まで流しても、流出するArガス中に飽和状気圧に等し
いDM^IIを含んで輸送することができた。
(実施例3)
バイブ11〜I7の先端に5個の小孔のあいた金属バイ
ブを用い、第1図の金属容器10に対し、金属バイブロ
からL sccmの水ガスを流す。ガス切換器19によ
って各バイブ11〜17へ(L/6)sccmの水素ガ
スを、第2図のタイミングでパルス状に供給した。各バ
イブに流す時間をTI、流さない時間をT2とし、TI
、 T2を変化させて、出口バイブ7から流れ出す水素
ガス中に含まれるDMA8分圧を測定した。
ブを用い、第1図の金属容器10に対し、金属バイブロ
からL sccmの水ガスを流す。ガス切換器19によ
って各バイブ11〜17へ(L/6)sccmの水素ガ
スを、第2図のタイミングでパルス状に供給した。各バ
イブに流す時間をTI、流さない時間をT2とし、TI
、 T2を変化させて、出口バイブ7から流れ出す水素
ガス中に含まれるDMA8分圧を測定した。
表2に示すように、3000secmの水素ガスを流し
ても流出する水素ガス中に、DMAHは室温での飽和状
気圧に等しいITorrの分圧で含まれていた。また、
流出する水素ガス流量の変動は1%以内であった。
ても流出する水素ガス中に、DMAHは室温での飽和状
気圧に等しいITorrの分圧で含まれていた。また、
流出する水素ガス流量の変動は1%以内であった。
(表1)
(表2)
以上のようなガス供給装置は、例えば導電性堆積膜とし
て良質の八1もしくはAn −5i膜を基体上に選択的
に堆積させるために減圧CVD法を用いる堆積膜形成装
置に適用できる。
て良質の八1もしくはAn −5i膜を基体上に選択的
に堆積させるために減圧CVD法を用いる堆積膜形成装
置に適用できる。
すなわち、堆積膜の構成要素となる原子を少なくとも1
つ含む原料ガスとして有機金属であるジメチルアルミニ
ウムハイドライド(DMAH)またはモノメチルアルミ
ニウムハイドライド(MMAH2) を含むガスを使用し、もしくは原料ガスとしてのSi原
子を含むガスも使用し、さらに反応ガスとして+12を
使用し、これらの混合ガスによる気相成長により基体上
に選択的にA1もしくはへρ−5i膜を形成する。
つ含む原料ガスとして有機金属であるジメチルアルミニ
ウムハイドライド(DMAH)またはモノメチルアルミ
ニウムハイドライド(MMAH2) を含むガスを使用し、もしくは原料ガスとしてのSi原
子を含むガスも使用し、さらに反応ガスとして+12を
使用し、これらの混合ガスによる気相成長により基体上
に選択的にA1もしくはへρ−5i膜を形成する。
このために適用可能な基体は、Au2もしくは^β−5
iの堆積する表面を形成するための第1の基体表面材料
と、 八℃もしくはA4−5iの堆積しない表面を形成
するための第2の基体表面材料とを有するものである。
iの堆積する表面を形成するための第1の基体表面材料
と、 八℃もしくはA4−5iの堆積しない表面を形成
するための第2の基体表面材料とを有するものである。
そして、第1の基体表面材料としては、電子供与性を有
する材料を用いる。
する材料を用いる。
この電子供与性について以下詳細に説明する。
電子供与性材料とは、基体中に自由電子が存在している
か、もしくは自由電子を意図的に生成せしめたかしたも
ので、例えば基体表面上に付着した原料ガス分子との電
子授受により化学反応が促進される表面を有する材料を
いう。例えば、一般に金属や半導体がこれに相当する。
か、もしくは自由電子を意図的に生成せしめたかしたも
ので、例えば基体表面上に付着した原料ガス分子との電
子授受により化学反応が促進される表面を有する材料を
いう。例えば、一般に金属や半導体がこれに相当する。
金属もしくは半導体表面に薄い酸化膜が存在しているも
のも含まれる。それは基体と付着原料分子間で電子授受
により化学反応が生ずるからである。
のも含まれる。それは基体と付着原料分子間で電子授受
により化学反応が生ずるからである。
具体的には、単結晶シリコン、多結晶シリコン、非晶質
シリコン等の半導体、In族元素としてのGa、In、
八℃とV族元素としてのP、As、Nとを組合せて成る
二元系もしくは三元系もしくは四元系III −V族化
合物半導体、タングステン、モリブデン、タンタル、タ
ングステンシリサイド、チタンシリサイド、アルミニウ
ム、アルミニウムシリコン、チタンアルミニウム、チタ
ンナイトライド。
シリコン等の半導体、In族元素としてのGa、In、
八℃とV族元素としてのP、As、Nとを組合せて成る
二元系もしくは三元系もしくは四元系III −V族化
合物半導体、タングステン、モリブデン、タンタル、タ
ングステンシリサイド、チタンシリサイド、アルミニウ
ム、アルミニウムシリコン、チタンアルミニウム、チタ
ンナイトライド。
銅、アルミニウムシリコン銅、アルミニウムパラジウム
、チタン、モリブデンシリサイド、タンタルシリサイド
等の金属1合金およびそれらのシリサイド等を含む。
、チタン、モリブデンシリサイド、タンタルシリサイド
等の金属1合金およびそれらのシリサイド等を含む。
これに対して5.1もしくは八n−5rが選択的に堆積
しない表面を形成する材料、すなわち非電子供与性材料
としては、熱酸化、 CVD等により酸化シリコン、
BSG、PSG、BPSG等のガラスまたは酸化膜、熱
CVD 、プラズマCVD 、減圧CVD 、ECR−
CVD法等によるシリコン窒化膜等である。
しない表面を形成する材料、すなわち非電子供与性材料
としては、熱酸化、 CVD等により酸化シリコン、
BSG、PSG、BPSG等のガラスまたは酸化膜、熱
CVD 、プラズマCVD 、減圧CVD 、ECR−
CVD法等によるシリコン窒化膜等である。
このような構成の基体に対して、+lもしくはΔ1t−
Siは原料ガスとH2との反応系において単純な熱反応
のみで堆積する。例えばDMA!IとH2との反応系に
おける熱反応は基本的に と考えられる。DMAHは室温で二量体構造をとってい
る。また、5iJa等の添加により Au2−5i合金
が形成されるのは基体表面に到達した5i2H,が表面
化学反応により分解し、Siが膜中に取り込まれること
による。MMAH2によっても、熱反応により高品質へ
1が堆積可能であったが、MMAH2は蒸気圧が室温で
0.O2N2.ITorrと低いために多量の原料輸送
が難しく、堆積速度は数百人/分が上限値であったので
、室温で蒸気圧がITorrであるDMAHが好ましく
使用できる。
Siは原料ガスとH2との反応系において単純な熱反応
のみで堆積する。例えばDMA!IとH2との反応系に
おける熱反応は基本的に と考えられる。DMAHは室温で二量体構造をとってい
る。また、5iJa等の添加により Au2−5i合金
が形成されるのは基体表面に到達した5i2H,が表面
化学反応により分解し、Siが膜中に取り込まれること
による。MMAH2によっても、熱反応により高品質へ
1が堆積可能であったが、MMAH2は蒸気圧が室温で
0.O2N2.ITorrと低いために多量の原料輸送
が難しく、堆積速度は数百人/分が上限値であったので
、室温で蒸気圧がITorrであるDMAHが好ましく
使用できる。
そして、第1図のようなガス供給装置は、多数枚のウェ
ハ(基体)を同時に装填して八℃もしくはAu2−5i
を堆積することのできる減圧CVD装置に適用して好適
なものである。AIlもしくはAu−5t堆積は加熱さ
れた電子供与性基体表面での表面反応を用いているため
、基体のみが加熱されるホットウォール型減圧CvD法
であれはDMAHとH2により(もしくはさらに5i2
If6等のSi原料ガスを添加することにより)八℃も
しくは八j2−5iを堆積させることがてきる。
ハ(基体)を同時に装填して八℃もしくはAu2−5i
を堆積することのできる減圧CVD装置に適用して好適
なものである。AIlもしくはAu−5t堆積は加熱さ
れた電子供与性基体表面での表面反応を用いているため
、基体のみが加熱されるホットウォール型減圧CvD法
であれはDMAHとH2により(もしくはさらに5i2
If6等のSi原料ガスを添加することにより)八℃も
しくは八j2−5iを堆積させることがてきる。
反応管圧力は1O−3〜760Torr 、基体温度は
270℃〜350℃、DMA0分圧は反応管内圧力の1
×10−5倍〜1.3 Xl0−3倍であり(もしくは
さらに、5i2116分圧は反応管内圧力のI X 1
0−’〜I X 10−’倍であり)、iもしくはAI
2−5iが電子供与性基体上にのみ100〜200人堆
積する。ウェハ内の膜厚均一性向上のためには、反応管
内圧力は5xlO−2〜5Torr 、 DMA0分圧
はその1.3 Xl0−5〜1.3X 10−’倍が望
ましい。表面マイグレーションを抑制しつつ、かつ10
0−200人でも連続膜とするためのより好ましい基体
温度は270℃〜300℃である。
270℃〜350℃、DMA0分圧は反応管内圧力の1
×10−5倍〜1.3 Xl0−3倍であり(もしくは
さらに、5i2116分圧は反応管内圧力のI X 1
0−’〜I X 10−’倍であり)、iもしくはAI
2−5iが電子供与性基体上にのみ100〜200人堆
積する。ウェハ内の膜厚均一性向上のためには、反応管
内圧力は5xlO−2〜5Torr 、 DMA0分圧
はその1.3 Xl0−5〜1.3X 10−’倍が望
ましい。表面マイグレーションを抑制しつつ、かつ10
0−200人でも連続膜とするためのより好ましい基体
温度は270℃〜300℃である。
第3図はかかる本発明を適用可能な堆積膜形成装置を示
す模式図である。
す模式図である。
57はiもしくは八J2−5iliを形成するための基
体である。50は周囲に対して実質的に閉じられた堆積
膜形成用の空間を形成する石英製の外側反応管、51は
外側反応管50内のガスの流れを分離するために設置さ
れる石英製の内側反応管、54は外側反応管50の開口
部を開閉するための金属製のフランジであり、基体57
は内側反応管51内部に設けられた基体保持具56内に
設置される。なお、基体保持具56は石英製とするのが
望ましい。
体である。50は周囲に対して実質的に閉じられた堆積
膜形成用の空間を形成する石英製の外側反応管、51は
外側反応管50内のガスの流れを分離するために設置さ
れる石英製の内側反応管、54は外側反応管50の開口
部を開閉するための金属製のフランジであり、基体57
は内側反応管51内部に設けられた基体保持具56内に
設置される。なお、基体保持具56は石英製とするのが
望ましい。
また、本装置はヒータ部59により基体温度を制御する
ことができる。反応管50内部の圧力は、ガス排気口5
3を介して結合された排気系によって制御できるように
構成されている。
ことができる。反応管50内部の圧力は、ガス排気口5
3を介して結合された排気系によって制御できるように
構成されている。
また、第1図示の装置60からの第1のガス系、■2等
の第2のガス系、あるいはさらに5i2)1.等の第3
のガス系に結合したおよび混合器61を有し、混合され
た原料ガスは原料ガス導入管52より反応管50内部に
導入される。原料ガスは、第3図中矢印58で示すよう
に、内側反応管51内部を通過する際、基体57の表面
において反応し、 八℃もしくはAn−5iを基体表面
に堆積する。反応後のガスは、内側反応管51と外側反
応管50とによって形成される間隙部を通り、ガス排気
口53から排気される。
の第2のガス系、あるいはさらに5i2)1.等の第3
のガス系に結合したおよび混合器61を有し、混合され
た原料ガスは原料ガス導入管52より反応管50内部に
導入される。原料ガスは、第3図中矢印58で示すよう
に、内側反応管51内部を通過する際、基体57の表面
において反応し、 八℃もしくはAn−5iを基体表面
に堆積する。反応後のガスは、内側反応管51と外側反
応管50とによって形成される間隙部を通り、ガス排気
口53から排気される。
基体の出し入れに際しては、金属製フランジ54をエレ
ベータ(図示せず)により基体保持具56基体57とと
もに降下させ、所定の位置へ移動させて基体の着脱を行
う。
ベータ(図示せず)により基体保持具56基体57とと
もに降下させ、所定の位置へ移動させて基体の着脱を行
う。
かかる装置を用い、前述した条件で堆積膜を形成するこ
とにより、装置内の総てのウェハにおいて良質な八J2
もしくはAI!、−5t膜を同時に形成することができ
る。
とにより、装置内の総てのウェハにおいて良質な八J2
もしくはAI!、−5t膜を同時に形成することができ
る。
このように、本発明に係るガス供給装置は、D M A
I(のように粘性の高い有機金属を大量に用いて堆積膜
を形成する装置に適用して特に好適なものであるが、用
いる有機金属の種類、適用対象となる堆積膜形成装置の
構成等は上側にのみ限られないのは勿論である。
I(のように粘性の高い有機金属を大量に用いて堆積膜
を形成する装置に適用して特に好適なものであるが、用
いる有機金属の種類、適用対象となる堆積膜形成装置の
構成等は上側にのみ限られないのは勿論である。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明によれば、規模の大型化等
の問題を生じることなく、粘性の高い有機金属を用いる
場合にも大量の原料ガス輸送を行うことができる。
の問題を生じることなく、粘性の高い有機金属を用いる
場合にも大量の原料ガス輸送を行うことができる。
第1図は本発明ガス供給装置の構成の一例を示す模式図
、 第2図はその駆動態様の一例を示すタイミングチャート
、 第3図は第1図示の装置を適用可能な堆積膜形成装置の
一例を示す模式図、 第4図は従来のガス供給装置を示す模式図である。 1.10・・・容器、 2・・・有機金属、 3・・・気泡、 4.41・・・人口バイ 5.42・・・出口パイ 11N17・・・バイブ、 19・・・ガス切換器。 ブ、 ブ、 3 第4図 第2図 0 第3図
、 第2図はその駆動態様の一例を示すタイミングチャート
、 第3図は第1図示の装置を適用可能な堆積膜形成装置の
一例を示す模式図、 第4図は従来のガス供給装置を示す模式図である。 1.10・・・容器、 2・・・有機金属、 3・・・気泡、 4.41・・・人口バイ 5.42・・・出口パイ 11N17・・・バイブ、 19・・・ガス切換器。 ブ、 ブ、 3 第4図 第2図 0 第3図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)化学気相成長法による堆積膜形成装置に用いられて
原料ガスを供給するためのガス供給装置において、 キャリアガスを導入して有機金属を含む前記原料ガスを
排出するために設けられた有機金属の貯留手段と、 該貯留手段内に前記キャリアガスを導入するために設け
られた複数のガス導入部材と、 該複数のガス導入部材に対してのキャリアガスの供給路
をオン/オフし、当該供給路がオンとされているガス導
入部材にキャリアガスを分配して供給するガス切換手段
と を具えたことを特徴とするガス供給装置。 2)前記複数のガス導入部材に対するキャリアガスの供
給路のオン/オフはタイミングをずらして行われること
を特徴とする請求項1に記載のガス供給装置。 3)前記複数のガス導入部材のそれぞれは前記有機金属
中への複数のガス導入口を有することを特徴とする請求
項1に記載のガス供給装置。
Priority Applications (11)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1250025A JPH03112892A (ja) | 1989-09-26 | 1989-09-26 | ガス供給装置 |
SG1996006330A SG45405A1 (en) | 1989-09-26 | 1990-09-25 | Gas feeding device and deposition film forming apparatus employing the same |
AT90310507T ATE139580T1 (de) | 1989-09-26 | 1990-09-25 | Gasversorgungsvorrichtung und ihre verwendung für eine filmabscheidungsanlage |
DE69027496T DE69027496T2 (de) | 1989-09-26 | 1990-09-25 | Gasversorgungsvorrichtung und ihre Verwendung für eine Filmabscheidungsanlage |
EP90310507A EP0420596B1 (en) | 1989-09-26 | 1990-09-25 | Gas feeding device and deposition film forming apparatus employing the same |
MYPI90001661A MY107421A (en) | 1989-09-26 | 1990-09-26 | Gas feeding device and deposition film forming apparatus employing the same. |
PT95432A PT95432B (pt) | 1989-09-26 | 1990-09-26 | Dispositivo de alimentacao de gas e aparelho para producao de uma pelicula por deposicao empregando o mesmo |
KR1019900015298A KR940005276B1 (ko) | 1989-09-26 | 1990-09-26 | 가스공급장치 및 이 공급장치의 부설된 퇴적막 형성장치 |
US08/232,431 US5476547A (en) | 1989-09-26 | 1994-04-21 | Gas feeding device for controlled vaporization of an organometallic compound used in deposition film formation |
US08/439,459 US5755885A (en) | 1989-09-19 | 1995-05-11 | Gas feeding device for controlled vaporization of an organometallic compound used in deposition film formation |
US08/439,516 US5779804A (en) | 1989-09-26 | 1995-05-11 | Gas feeding device for controlled vaporization of an organanometallic compound used in deposition film formation |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1250025A JPH03112892A (ja) | 1989-09-26 | 1989-09-26 | ガス供給装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03112892A true JPH03112892A (ja) | 1991-05-14 |
Family
ID=17201722
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1250025A Pending JPH03112892A (ja) | 1989-09-19 | 1989-09-26 | ガス供給装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03112892A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0555614A1 (en) * | 1992-02-13 | 1993-08-18 | International Business Machines Corporation | Metal-organic gas supply for MOVPE and MOMBE |
-
1989
- 1989-09-26 JP JP1250025A patent/JPH03112892A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0555614A1 (en) * | 1992-02-13 | 1993-08-18 | International Business Machines Corporation | Metal-organic gas supply for MOVPE and MOMBE |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0420596B1 (en) | Gas feeding device and deposition film forming apparatus employing the same | |
US6579372B2 (en) | Apparatus and method for depositing thin film on wafer using atomic layer deposition | |
JP4214795B2 (ja) | 成膜方法 | |
EP1643004B1 (en) | Treating device using raw material gas and reactive gas | |
JP4994551B2 (ja) | 薄膜を成長させる、改良された装置および方法 | |
JP2637265B2 (ja) | 窒化珪素膜の形成方法 | |
US20040101622A1 (en) | Method of depositing thin film using aluminum oxide | |
JP5185486B2 (ja) | 基質上へのフィルムの蒸着法 | |
EP1593755A1 (en) | Film forming apparatus and method | |
JP4191617B2 (ja) | リモートプラズマを利用してウェーハに薄膜を蒸着する装置及び方法 | |
US20190067015A1 (en) | Film-Forming Method and Film-Forming Apparatus | |
CN109576674B (zh) | 原子层沉积设备 | |
US20110318505A1 (en) | Method for forming tantalum nitride film and film-forming apparatus for forming the same | |
TW202146701A (zh) | 氣相沉積系統、在基材上形成氮化釩層之方法、直接液體注入系統 | |
JPH03112892A (ja) | ガス供給装置 | |
JP2776913B2 (ja) | ガス供給装置 | |
CN111560601B (zh) | 基板处理方法和基板处理装置 | |
JP2773918B2 (ja) | ガス供給装置 | |
JP2001214274A (ja) | デュプレックスゾーンシャワーヘッド及びこれを適用するケミカルエンハンストcvd装置 | |
KR20010090666A (ko) | 리모트 플라즈마를 이용한 원자층 형성장치의 기체이송장치 | |
US11447854B2 (en) | Process for film deposition on a substrate with non-uniform overlapping subpulses of a precursor | |
KR100995236B1 (ko) | 박막의 적층 구조, 그 형성 방법, 성막 장치 및 기억 매체 | |
KR20100068845A (ko) | 텅스텐 박막 증착방법 | |
JPH03112891A (ja) | ガス供給装置 |