JPH03112891A - ガス供給装置 - Google Patents
ガス供給装置Info
- Publication number
- JPH03112891A JPH03112891A JP25002489A JP25002489A JPH03112891A JP H03112891 A JPH03112891 A JP H03112891A JP 25002489 A JP25002489 A JP 25002489A JP 25002489 A JP25002489 A JP 25002489A JP H03112891 A JPH03112891 A JP H03112891A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- valve
- gas
- piping
- organometallic
- vessel
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 claims abstract description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 9
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 59
- 125000002524 organometallic group Chemical group 0.000 claims description 40
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims description 20
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 8
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 6
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims description 5
- 238000010926 purge Methods 0.000 abstract description 15
- 239000007788 liquid Substances 0.000 abstract description 13
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract description 4
- 238000003466 welding Methods 0.000 abstract description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 46
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 46
- 239000010408 film Substances 0.000 description 27
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 23
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 20
- 239000000463 material Substances 0.000 description 13
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 11
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 11
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 7
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 6
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 5
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- TUTOKIOKAWTABR-UHFFFAOYSA-N dimethylalumane Chemical compound C[AlH]C TUTOKIOKAWTABR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000004518 low pressure chemical vapour deposition Methods 0.000 description 4
- JLTRXTDYQLMHGR-UHFFFAOYSA-N trimethylaluminium Chemical compound C[Al](C)C JLTRXTDYQLMHGR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- ORVACBDINATSAR-UHFFFAOYSA-N dimethylaluminum Chemical compound C[Al]C ORVACBDINATSAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003574 free electron Substances 0.000 description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- CWEHKOAQFGHCFQ-UHFFFAOYSA-N methylalumane Chemical compound [AlH2]C CWEHKOAQFGHCFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 2
- 229910021332 silicide Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 2
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000427 thin-film deposition Methods 0.000 description 2
- VOITXYVAKOUIBA-UHFFFAOYSA-N triethylaluminium Chemical compound CC[Al](CC)CC VOITXYVAKOUIBA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N Titanium nitride Chemical compound [Ti]#N NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- UQZIWOQVLUASCR-UHFFFAOYSA-N alumane;titanium Chemical compound [AlH3].[Ti] UQZIWOQVLUASCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CSDREXVUYHZDNP-UHFFFAOYSA-N alumanylidynesilicon Chemical compound [Al].[Si] CSDREXVUYHZDNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IEQUNHXCJVILJQ-UHFFFAOYSA-N aluminum palladium Chemical compound [Al].[Pd] IEQUNHXCJVILJQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- -1 aluminum silicon copper Chemical compound 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- YXTPWUNVHCYOSP-UHFFFAOYSA-N bis($l^{2}-silanylidene)molybdenum Chemical compound [Si]=[Mo]=[Si] YXTPWUNVHCYOSP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005380 borophosphosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 230000005587 bubbling Effects 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006555 catalytic reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- MGDOJPNDRJNJBK-UHFFFAOYSA-N ethylaluminum Chemical compound [Al].C[CH2] MGDOJPNDRJNJBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 229910021478 group 5 element Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229910021344 molybdenum silicide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000005416 organic matter Substances 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- FVBUAEGBCNSCDD-UHFFFAOYSA-N silicide(4-) Chemical compound [Si-4] FVBUAEGBCNSCDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000779 smoke Substances 0.000 description 1
- 238000002230 thermal chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910021341 titanium silicide Inorganic materials 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- WQJQOUPTWCFRMM-UHFFFAOYSA-N tungsten disilicide Chemical compound [Si]#[W]#[Si] WQJQOUPTWCFRMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021342 tungsten silicide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野〕
本発明は、ガス供給装置に関し、特にCVD法による堆
積膜形成装置に適用して好適な原料ガスの供給を行うガ
ス供給装置に関するものである。
積膜形成装置に適用して好適な原料ガスの供給を行うガ
ス供給装置に関するものである。
トリメチルアルミニウム(TM^)や、ジメチルアルミ
ニウムハイドライド(flMAH)等の有機金属は、化
学気相成長法(CVD法)により、^1薄膜を堆積する
ことができる。また、他の有機金属原料トリメチルアル
ミニウム(TMG) 、 )リエチルアルミニウム(T
EG) 、 トリエチルアルアルミニウム(TEA)は
広< GaAs、 GaAj! As等のIII −
V族化合物半導体薄膜の堆積に用いられている。上記、
有機金属原料(以下、MO原料ともいう)は、一般に、
室温で無色透明の液体である。
ニウムハイドライド(flMAH)等の有機金属は、化
学気相成長法(CVD法)により、^1薄膜を堆積する
ことができる。また、他の有機金属原料トリメチルアル
ミニウム(TMG) 、 )リエチルアルミニウム(T
EG) 、 トリエチルアルアルミニウム(TEA)は
広< GaAs、 GaAj! As等のIII −
V族化合物半導体薄膜の堆積に用いられている。上記、
有機金属原料(以下、MO原料ともいう)は、一般に、
室温で無色透明の液体である。
而して、ガス供給装置において、MO原料は、般に、第
5図に示すように金属製の容器1に貯留され、その容器
1には液中まで挿入され、入口バルブ2を有するバイブ
102と、液面から離れた位置に設けられ、出口バルブ
3を有するバイブ103とが組合されている。さらに人
口バルブ2と出口バルブ3とには、それぞれ、配管へ接
続するための継手5と6とが設けられている。これは、
例えば、WHITY社製swage−1ok 13手や
Nu!PRO社製VCR1手や東横化学MCG 41手
である。
5図に示すように金属製の容器1に貯留され、その容器
1には液中まで挿入され、入口バルブ2を有するバイブ
102と、液面から離れた位置に設けられ、出口バルブ
3を有するバイブ103とが組合されている。さらに人
口バルブ2と出口バルブ3とには、それぞれ、配管へ接
続するための継手5と6とが設けられている。これは、
例えば、WHITY社製swage−1ok 13手や
Nu!PRO社製VCR1手や東横化学MCG 41手
である。
有機金属を容器へ貯蔵するために、さらに別のバイブが
設けられている場合もあるが、ガスの輸送には木質的作
用はないので省略する。
設けられている場合もあるが、ガスの輸送には木質的作
用はないので省略する。
液体で貯蔵されている有機金属は、一般に次のようにし
て輸送される。
て輸送される。
人口バルブ2側から、H,、Ar、 N、等のキャリア
ガスを導入し、有機金属60中を泡状態で通過させ、出
口バルブ3から飽和蒸気正分だけ有機金属をキャリアガ
ス中に含ませて、出口バルブの後段に接続される堆積膜
形成装置の反応室(第5図9符号lOで示す)へ輸送さ
れる。
ガスを導入し、有機金属60中を泡状態で通過させ、出
口バルブ3から飽和蒸気正分だけ有機金属をキャリアガ
ス中に含ませて、出口バルブの後段に接続される堆積膜
形成装置の反応室(第5図9符号lOで示す)へ輸送さ
れる。
しかし、有機金属中を通過させるキャリアガス中にpp
o+のオーダの微量酸素や水分が残留していると、反応
式(1)に示すように有機金属はアルコラードになり、
アルコラードになった有機金属を用いると堆積膜中へ酸
素が混入し、膜質低下を引き起してしまう。
o+のオーダの微量酸素や水分が残留していると、反応
式(1)に示すように有機金属はアルコラードになり、
アルコラードになった有機金属を用いると堆積膜中へ酸
素が混入し、膜質低下を引き起してしまう。
[有機金属] [アルコラード]ここで
R:アルキル基等のCを含む基M:金属原子(例えば、
III属元素八りへGa等) 従って、実際の堆積膜形成装置に有機金属容器を取付け
た場合は、第6図に示すように、バイパス用のバルブ(
バイパスバルブ)7を設けたバイパスライン107を構
成し、キャリアガスを十分パージした後に有機金属を輸
送する必要がある。
R:アルキル基等のCを含む基M:金属原子(例えば、
III属元素八りへGa等) 従って、実際の堆積膜形成装置に有機金属容器を取付け
た場合は、第6図に示すように、バイパス用のバルブ(
バイパスバルブ)7を設けたバイパスライン107を構
成し、キャリアガスを十分パージした後に有機金属を輸
送する必要がある。
すなわち、バイパスバルブ7を設けることにより、人口
バルブ2及び出口バルブ3を閉、バイパスバルブ7を開
とすることで配管ライン8内を十分パージする必要があ
る。そして、バイパスバルブ7を設けることにより、有
機金属容器1を取付けた際や、有機金属の輸送後に配管
内を十分パージすることが可能となる。
バルブ2及び出口バルブ3を閉、バイパスバルブ7を開
とすることで配管ライン8内を十分パージする必要があ
る。そして、バイパスバルブ7を設けることにより、有
機金属容器1を取付けた際や、有機金属の輸送後に配管
内を十分パージすることが可能となる。
上述のように、新しい有機金属容器1を配管ラインに装
着した場合、配管ライン8を十分パージし、残留酸素、
水分を取り除くことは、有機金属を用いる場合、必須の
工程であり、残留水分としては、露点−70℃以下、残
留酸素量lppm以下にすることが望ましく、さらに膜
中への酸素汚染をippm以下に減少させるためには、
露点−85℃以下、残留酸素Ji10.O5ppm以下
とすることが望ましく、少ない程良いのである。
着した場合、配管ライン8を十分パージし、残留酸素、
水分を取り除くことは、有機金属を用いる場合、必須の
工程であり、残留水分としては、露点−70℃以下、残
留酸素量lppm以下にすることが望ましく、さらに膜
中への酸素汚染をippm以下に減少させるためには、
露点−85℃以下、残留酸素Ji10.O5ppm以下
とすることが望ましく、少ない程良いのである。
従って、上述のように入口バルブ2及び出口バルブ3を
開、バイパスバルブ7を閉として有機金属を輸送した後
、配管ライン8をキャリアガスで十分パージし、配管ラ
イン中の有機金属を十分排出する必要があるが、配管ラ
イン中の残留有機金属の排出が不十分であると、特に配
管ラインに水素が残留すると、たとえ室温であっても有
機金属は、分解し、CJl、(m、n任意)等のCを含
む化合物、等が生成し、次回の成膜時のカーボン汚染の
原因となる。
開、バイパスバルブ7を閉として有機金属を輸送した後
、配管ライン8をキャリアガスで十分パージし、配管ラ
イン中の有機金属を十分排出する必要があるが、配管ラ
イン中の残留有機金属の排出が不十分であると、特に配
管ラインに水素が残留すると、たとえ室温であっても有
機金属は、分解し、CJl、(m、n任意)等のCを含
む化合物、等が生成し、次回の成膜時のカーボン汚染の
原因となる。
ところで、バイパスバルブ7の取付にあたっては、キャ
リアガスのパージや、有機金属ガス輸送後の残留有機金
属のパージが十分に行われることを考慮して、第6図に
おける配管内位置21と人口バルブ2との距離、配管内
位置21とバイパスバルブ7との距離、配管内位置22
と出口バルブ3との距離、および配管内位置22とバイ
パスバルブ7との距離を極力短くするのが強く望ましい
。−例として、配管をすべて外径174インチのバイブ
で構成し、配管内位置21と人口バルブ2との距離、お
よび配管内位置22と出口バルブ3との距離が40乃至
50cmもあるような配管を用いると、有機金属輸送後
に人口バルブ2および出口バルブ3を閉、バイパスバル
ブ7を開とし、N2もしくはN2を用いて流量路々50
0SCCM 、且つ配管を略々100℃で加熱しながら
一昼夜パージしても、有機金属容器1を配管8ラインか
ら取外すと、取外し部分から白煙が発生してしまう程配
管内に有機金属が残留しているからである。
リアガスのパージや、有機金属ガス輸送後の残留有機金
属のパージが十分に行われることを考慮して、第6図に
おける配管内位置21と人口バルブ2との距離、配管内
位置21とバイパスバルブ7との距離、配管内位置22
と出口バルブ3との距離、および配管内位置22とバイ
パスバルブ7との距離を極力短くするのが強く望ましい
。−例として、配管をすべて外径174インチのバイブ
で構成し、配管内位置21と人口バルブ2との距離、お
よび配管内位置22と出口バルブ3との距離が40乃至
50cmもあるような配管を用いると、有機金属輸送後
に人口バルブ2および出口バルブ3を閉、バイパスバル
ブ7を開とし、N2もしくはN2を用いて流量路々50
0SCCM 、且つ配管を略々100℃で加熱しながら
一昼夜パージしても、有機金属容器1を配管8ラインか
ら取外すと、取外し部分から白煙が発生してしまう程配
管内に有機金属が残留しているからである。
要は配管内位置21と人口バルブ2との距離、配管内位
置21とバイパスバルブ7との距離、配管内位置22と
出口バルブ3の距離、および配管内位置22とバイパス
バルブ7との距離が長いと大きなデッドゾーンが生じ、
バイパスバルブ7を介しただけのパージでは、配管内の
残留有機物を十分にパージし排出することができないの
である。
置21とバイパスバルブ7との距離、配管内位置22と
出口バルブ3の距離、および配管内位置22とバイパス
バルブ7との距離が長いと大きなデッドゾーンが生じ、
バイパスバルブ7を介しただけのパージでは、配管内の
残留有機物を十分にパージし排出することができないの
である。
そこで、第7図に示すように、バイパスバルブ7および
容器1近傍の配管を注意深く構成し、図示のようなT型
の継手105,108を用いてバイパス経路と金属容器
への経路とを分岐するとともに、継手5,105問およ
び継手6,106間を極力短くするように構成すること
は可能である。
容器1近傍の配管を注意深く構成し、図示のようなT型
の継手105,108を用いてバイパス経路と金属容器
への経路とを分岐するとともに、継手5,105問およ
び継手6,106間を極力短くするように構成すること
は可能である。
しかしながら、基本的に第4図に示すような構成を採る
限り、容器1を配管ライン8に結合するための継手、5
.6が存在しているため、デッドゾーンを減少するにも
限界がある。
限り、容器1を配管ライン8に結合するための継手、5
.6が存在しているため、デッドゾーンを減少するにも
限界がある。
また、第7図の様な配管系統を組むと、有機金属容器装
着時の継手105および106の部分のリークが発生す
るという問題も生ずる。ここに、継手部分でのリーク量
は、I X 10−gTorr ・II八へcが好まし
く理想的には、2 x 10−”Torr−42/se
e以下である。そして、継手としては、上述したような
金属製継手が用いられているが、上記リーク量を達成す
るためには、バイパスバルブ7を含む配管系統構成時に
第7図中の継手105−106間距!! t、 Iを、
±0.5mm以下の精度で、入口バルブ2と出口バルブ
3との間の距離に一致させなければならない。しかし、
入口ライン配管111および出口ライン配管12は、バ
イパスバルブを含む堅牢なSUS製パイプで接続されて
いるので、実際の配管を精度良く行うことは非常に困難
である。
着時の継手105および106の部分のリークが発生す
るという問題も生ずる。ここに、継手部分でのリーク量
は、I X 10−gTorr ・II八へcが好まし
く理想的には、2 x 10−”Torr−42/se
e以下である。そして、継手としては、上述したような
金属製継手が用いられているが、上記リーク量を達成す
るためには、バイパスバルブ7を含む配管系統構成時に
第7図中の継手105−106間距!! t、 Iを、
±0.5mm以下の精度で、入口バルブ2と出口バルブ
3との間の距離に一致させなければならない。しかし、
入口ライン配管111および出口ライン配管12は、バ
イパスバルブを含む堅牢なSUS製パイプで接続されて
いるので、実際の配管を精度良く行うことは非常に困難
である。
従来のガス供給装置は、以上のように構成されていたの
で、キャリアガスのパージや有機金属輸送後の残留有機
金属(原料ガス)のパージが十分行えないどう問題、お
よび有機金属をキャリアガス配管へ接続する際にリーク
が発生するという配管施行時の問題があフた。
で、キャリアガスのパージや有機金属輸送後の残留有機
金属(原料ガス)のパージが十分行えないどう問題、お
よび有機金属をキャリアガス配管へ接続する際にリーク
が発生するという配管施行時の問題があフた。
本発明は、このような問題点を解決するためになされた
もので、有機金属輸送のためのキャリアガスのパージ、
有機金属輸送後の残留有機金属のパージを容易に行える
とともにリーク発生のない有機金属容器の取付けを可能
とし、もって高品質・高純度の薄膜堆積を行うことが可
能となるガス供給装置を提供することを目的とする。
もので、有機金属輸送のためのキャリアガスのパージ、
有機金属輸送後の残留有機金属のパージを容易に行える
とともにリーク発生のない有機金属容器の取付けを可能
とし、もって高品質・高純度の薄膜堆積を行うことが可
能となるガス供給装置を提供することを目的とする。
そのために、本発明は、ガス輸送経路に着脱可能で、化
学気相成長法による堆積膜形成装置に用いられて原料ガ
スを供給するためのガス供給装置であって、キャリアガ
スを導入して有機金属を含む前記原料ガスを排出するた
めに設けられた有機金属の貯留手段と、前記ガス輸送経
路への着脱部より前記貯留手段側の前記貯留手段の直近
に設けられ、前記キャリアガスを前記貯留手段に導ぎ、
前記原料ガスを排出させる経路と、前記キャリアガスを
前記貯留手段を介さずに排出側にバイパスさせる経路と
に、ガスの流れを切換える切換え手段とを具えたことを
特徴とする。
学気相成長法による堆積膜形成装置に用いられて原料ガ
スを供給するためのガス供給装置であって、キャリアガ
スを導入して有機金属を含む前記原料ガスを排出するた
めに設けられた有機金属の貯留手段と、前記ガス輸送経
路への着脱部より前記貯留手段側の前記貯留手段の直近
に設けられ、前記キャリアガスを前記貯留手段に導ぎ、
前記原料ガスを排出させる経路と、前記キャリアガスを
前記貯留手段を介さずに排出側にバイパスさせる経路と
に、ガスの流れを切換える切換え手段とを具えたことを
特徴とする。
本発明によれば、上記デッドゾーンが減少するので、キ
ャリアガスのパージや有機金属輸送後の残留有機金属の
パージを確実かつ短時間で行うことができる。
ャリアガスのパージや有機金属輸送後の残留有機金属の
パージを確実かつ短時間で行うことができる。
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。
。
第1図は本発明の一実施例に係るガス供給装置を示し、
金属製の有機金属容器1に貯留されている有機金属液6
0に挿入されたパイプ202に人口バルブ2が取り付け
られること、有機金属容器1内に接続されているが有機
金属液60中には挿入されていないバイブ203に出口
バルブ3が取付けられること、および継手5,6でキャ
リアガスの流れる配管に接続されることについては第5
図と同様である。しかし本例ではバイパスバルブ4が設
けられるバイパスライン204を、継手5と入口バルブ
2とを結ぶ配管と、継手6と出口バルブ3とを結ぶ配管
との間に設けである。各バルブ間のデッドゾーンを極力
小さくするために、本例では各バルブ2,3.4間の配
管は継手を用いずに溶接により直接接続しである。バル
ブには、リーク量の少ないベロー型もしくはダイヤフラ
ム型バルブを用いることが望ましい。なお、継手5,6
には上記WHITY社製Swaqe−1ok継手、NI
IPRO社製VCR継手、東横化学製MCG継手等を用
いることができるが、脱着の容易性、リーク発生の防止
を考慮して金属ガスケットや金属リングを用いるVCR
,MCG 11手が好ましく用いられ、本実施例ではv
CR11手を用いた。また、有機金属原料を容器1内へ
貯蔵させるために、他のバイブ及びバルブ等が取付けら
れていても良い。これら上記容器のバルブ等は、金属製
であることが望ましく、5O5304もしくは5O33
16材で形成されていることが更に望ましい。
金属製の有機金属容器1に貯留されている有機金属液6
0に挿入されたパイプ202に人口バルブ2が取り付け
られること、有機金属容器1内に接続されているが有機
金属液60中には挿入されていないバイブ203に出口
バルブ3が取付けられること、および継手5,6でキャ
リアガスの流れる配管に接続されることについては第5
図と同様である。しかし本例ではバイパスバルブ4が設
けられるバイパスライン204を、継手5と入口バルブ
2とを結ぶ配管と、継手6と出口バルブ3とを結ぶ配管
との間に設けである。各バルブ間のデッドゾーンを極力
小さくするために、本例では各バルブ2,3.4間の配
管は継手を用いずに溶接により直接接続しである。バル
ブには、リーク量の少ないベロー型もしくはダイヤフラ
ム型バルブを用いることが望ましい。なお、継手5,6
には上記WHITY社製Swaqe−1ok継手、NI
IPRO社製VCR継手、東横化学製MCG継手等を用
いることができるが、脱着の容易性、リーク発生の防止
を考慮して金属ガスケットや金属リングを用いるVCR
,MCG 11手が好ましく用いられ、本実施例ではv
CR11手を用いた。また、有機金属原料を容器1内へ
貯蔵させるために、他のバイブ及びバルブ等が取付けら
れていても良い。これら上記容器のバルブ等は、金属製
であることが望ましく、5O5304もしくは5O33
16材で形成されていることが更に望ましい。
有機金属は、水素ガス雰囲気下では、SUS表面での触
媒反応等により室温においてわずかずつではあるが分解
するため、有機金属容器2の内面は、絶縁物でコーティ
ングすることが望ましい。
媒反応等により室温においてわずかずつではあるが分解
するため、有機金属容器2の内面は、絶縁物でコーティ
ングすることが望ましい。
例えば、酸化シリコン、窒化シリコン膜でコーティング
することが望ましい。本実施例では、酸化シリコン膜を
コーティングした。
することが望ましい。本実施例では、酸化シリコン膜を
コーティングした。
第2図は、第1図示の装置を配管ライン8に接続した状
態を示す。
態を示す。
入口配管11と出口配管12とは第1図の装置を除けば
互いに全く独立であり、第7図の従来例のように堅牢な
金属パイプ107およびバルブ7で固定されていないの
で、継手間圧a L +は非常に融通性に富み、各部の
設計の自由度が高く、配管工程も容易である。従って、
金属容器1を入口配管11と出口配管12とに対して2
x 10−” torr−fl、 /sec以下のリ
ーク量で再現性良く且つ容易に接続できるようになった
。
互いに全く独立であり、第7図の従来例のように堅牢な
金属パイプ107およびバルブ7で固定されていないの
で、継手間圧a L +は非常に融通性に富み、各部の
設計の自由度が高く、配管工程も容易である。従って、
金属容器1を入口配管11と出口配管12とに対して2
x 10−” torr−fl、 /sec以下のリ
ーク量で再現性良く且つ容易に接続できるようになった
。
有機金属の輸送は、次のようにおこなう。
まず有機金属容器1全体を継手5および6を介して人口
配管11および12に接続する。配管内のすべてをリー
クチエツクし、すべての継手、バルブからのリーク量が
2 x 10−”torri/sec以下であることを
確認する。このとき、バイパスバルブ4は、必要に応じ
て開いても良い。但し人口バルブ2および3は、閉のま
まにしておく。
配管11および12に接続する。配管内のすべてをリー
クチエツクし、すべての継手、バルブからのリーク量が
2 x 10−”torri/sec以下であることを
確認する。このとき、バイパスバルブ4は、必要に応じ
て開いても良い。但し人口バルブ2および3は、閉のま
まにしておく。
配管内を真空に排気しつつ配管をベーキングしても良い
が、容器温度は、貯蔵されている有機金属1の分解温度
より低くなくてはならない0次いで、N2もしくはN2
等のキャリアガスを人口配管11からバルブ4を介して
直接出口配管12へ流し、配管内のパージを行なう。こ
のとき、N2もしくは、■、ガスの露点を略々−85℃
以下、残留酸素を0、O5ppm以下にすることが望ま
しい。
が、容器温度は、貯蔵されている有機金属1の分解温度
より低くなくてはならない0次いで、N2もしくはN2
等のキャリアガスを人口配管11からバルブ4を介して
直接出口配管12へ流し、配管内のパージを行なう。こ
のとき、N2もしくは、■、ガスの露点を略々−85℃
以下、残留酸素を0、O5ppm以下にすることが望ま
しい。
従来の第5図の装置を用いた第7図示の配管では、有機
金属容器1の装着後、露点および残留酸素が上記値にな
るまで略100時間要したが、本実施例では略12時間
で上記値に到達した。
金属容器1の装着後、露点および残留酸素が上記値にな
るまで略100時間要したが、本実施例では略12時間
で上記値に到達した。
その後、薄膜の堆積時にバルブ4を閉、バルブ2および
3を開としてキャリアガスを導入し、容器内を通すこと
により有機金属が堆積膜形成装置の反応室10(第6図
参照)へ輸送される。
3を開としてキャリアガスを導入し、容器内を通すこと
により有機金属が堆積膜形成装置の反応室10(第6図
参照)へ輸送される。
このような有機金属の輸送後に、バルブ2および3を閉
、バルブ4を開として、配管内に残留した有機金属をパ
ージする。このように有機金属輸送後にバルブ2および
バルブ3を閉とし、バルブ4を開としたとき、入口配管
11からバイパスバルブ4を介して出口配管12に流れ
るN2またはN2ガス中の残留有機金属分圧が輸送時の
有機金属分圧の17100になるまでの時間は、N2ま
たはN2パージガス流量にも依存するが、従来の配管の
場合と比較して1/10〜1/looに減少した。
、バルブ4を開として、配管内に残留した有機金属をパ
ージする。このように有機金属輸送後にバルブ2および
バルブ3を閉とし、バルブ4を開としたとき、入口配管
11からバイパスバルブ4を介して出口配管12に流れ
るN2またはN2ガス中の残留有機金属分圧が輸送時の
有機金属分圧の17100になるまでの時間は、N2ま
たはN2パージガス流量にも依存するが、従来の配管の
場合と比較して1/10〜1/looに減少した。
本例にかかるガス供給装置を用い、第2図の出口配管1
2を反応容器(第3図参照)へ接続し、有機金属として
ジメチルアルミニウム(化学式^j2 (CH3)2.
DMA)、トリメチルアルミニウム(化学式^It(C
H3) 3. TMA) 、モノメチルアルミニウムハ
イドライド(化学式^j2 N2CH3,MMH2)ジ
メチルアルミニウムハイドライド(化学式へ立H(C)
13) 2 、 DMA)()等を用いてへ1薄膜堆積
をおこなうことができる。
2を反応容器(第3図参照)へ接続し、有機金属として
ジメチルアルミニウム(化学式^j2 (CH3)2.
DMA)、トリメチルアルミニウム(化学式^It(C
H3) 3. TMA) 、モノメチルアルミニウムハ
イドライド(化学式^j2 N2CH3,MMH2)ジ
メチルアルミニウムハイドライド(化学式へ立H(C)
13) 2 、 DMA)()等を用いてへ1薄膜堆積
をおこなうことができる。
例えば、TM八を用いる場合には反応容器内において高
周波プラズマ中でTM^を励起・分解して、加熱された
基体上に輸送する。基体、例えば^λの選択堆積を行う
ために使用されるもの(後に詳述する)としては、5i
n2膜(looo人)をSiウェハ上に形成し、フォト
リソグラフィ技術、ドライエツチング技術を用いて一辺
0.25μmから100μmの各種開孔を形成し、選択
堆積を行うべくSt表面を露出したものが用いられる。
周波プラズマ中でTM^を励起・分解して、加熱された
基体上に輸送する。基体、例えば^λの選択堆積を行う
ために使用されるもの(後に詳述する)としては、5i
n2膜(looo人)をSiウェハ上に形成し、フォト
リソグラフィ技術、ドライエツチング技術を用いて一辺
0.25μmから100μmの各種開孔を形成し、選択
堆積を行うべくSt表面を露出したものが用いられる。
反応ガスには11□を用い、プラズマ電力密度を略々0
.03〜o、oew/Cω3、基体温度略々 180°
〜350℃としたところ、Si露出部のみに選択的に八
1が堆積した。
.03〜o、oew/Cω3、基体温度略々 180°
〜350℃としたところ、Si露出部のみに選択的に八
1が堆積した。
従来型構造(第7図)の場合、選択性を維持してA℃を
堆積させることのできる時間が略々1時間であったが、
例に係るガス供給装置を適用したプラズマCVD法によ
る堆積膜形成装置を用いると、選択性が維持される時間
が略々2時間と長くなった。
堆積させることのできる時間が略々1時間であったが、
例に係るガス供給装置を適用したプラズマCVD法によ
る堆積膜形成装置を用いると、選択性が維持される時間
が略々2時間と長くなった。
また、このようなプラズマCVD法による堆積膜形成装
置のみならず、減圧CVD法による堆積膜形成装置にも
本例は有効に適用できる。
置のみならず、減圧CVD法による堆積膜形成装置にも
本例は有効に適用できる。
この場合、例えば堆積膜の構成要素となる原子を少なく
とも1つ含む原料ガスとして有機金属であるジメチルア
ルミニウムハイドライド(DMAII)またはモノメチ
ルアルミニウムハイドライド(MMAH2) と、原料
ガスとしてのSi原子を含むガスとを使用し、かつ反応
ガスとしてH2を使用し、これらの混合ガスによる気相
成長により基体上に例えば選択的にAl1[を形成する
ことができる。
とも1つ含む原料ガスとして有機金属であるジメチルア
ルミニウムハイドライド(DMAII)またはモノメチ
ルアルミニウムハイドライド(MMAH2) と、原料
ガスとしてのSi原子を含むガスとを使用し、かつ反応
ガスとしてH2を使用し、これらの混合ガスによる気相
成長により基体上に例えば選択的にAl1[を形成する
ことができる。
そのような選択堆積のために適用可能な基体は、 A4
の堆積する表面を形成するための第1の基体表面材料と
、A1の堆積しない表面を形成するための第2の基体表
面材料とを有するものである。そして、第1の基体表面
材料としては、電子供与性を有する材料を用いる。
の堆積する表面を形成するための第1の基体表面材料と
、A1の堆積しない表面を形成するための第2の基体表
面材料とを有するものである。そして、第1の基体表面
材料としては、電子供与性を有する材料を用いる。
この電子供与性について詳細に説明する。
電子供与性材料とは、基体中に自由電子が存在している
か、もしくは自由電子を意図的に生成せしめだかしたも
ので、例えば基体表面上に付着した原料ガス分子との電
子授受により化学反応が促進される表面を有する材料を
いう。例えば、一般に金属や半導体がこれに相当する。
か、もしくは自由電子を意図的に生成せしめだかしたも
ので、例えば基体表面上に付着した原料ガス分子との電
子授受により化学反応が促進される表面を有する材料を
いう。例えば、一般に金属や半導体がこれに相当する。
金属もしくは半導体表面に薄い酸化膜が存在しているも
のも含まれる。それは基体と付着原料分子間で電子授受
により化学反応が生ずるからである。
のも含まれる。それは基体と付着原料分子間で電子授受
により化学反応が生ずるからである。
具体的には、単結晶シリコン、多結晶シリコン、非晶質
シリコン等の半導体、III族元素としてのGa、In
、八1とV族元素としてのP、^s、Nとを組合せて成
る二元系もしくは三元系もしくは四元系III −V族
化合物半導体、タングステン、モリブデン、タンタル、
タングステンシリサイド、チタンシリサイド、アルミニ
ウム、アルミニウムシリコン、チタンアルミニウム、チ
タンナイトライド。
シリコン等の半導体、III族元素としてのGa、In
、八1とV族元素としてのP、^s、Nとを組合せて成
る二元系もしくは三元系もしくは四元系III −V族
化合物半導体、タングステン、モリブデン、タンタル、
タングステンシリサイド、チタンシリサイド、アルミニ
ウム、アルミニウムシリコン、チタンアルミニウム、チ
タンナイトライド。
銅、アルミニウムシリコン銅、アルミニウムパラジウム
、チタン、モリブデンシリサイド、タンタルシリサイド
等の金属1合金およびそれらのシリサイド等を含む。
、チタン、モリブデンシリサイド、タンタルシリサイド
等の金属1合金およびそれらのシリサイド等を含む。
これに対して、LJ2が選択的に堆積しない表面を形成
する材料、すなわち非電子供与性材料としては、熱酸化
、 CVO等により酸化シリコン、 BSG。
する材料、すなわち非電子供与性材料としては、熱酸化
、 CVO等により酸化シリコン、 BSG。
PSG、BPSG等のガラスまたは酸化膜、熱CVD
、ブラズvcvo、減圧CVD 、 ECR−CVD法
等によるシリコン窒化膜等である。
、ブラズvcvo、減圧CVD 、 ECR−CVD法
等によるシリコン窒化膜等である。
このような構成の基体に対して、lは原料ガスとH7と
の反応系において単純な熱反応のみで堆積する0例えば
DMAHとH2との反応系における熱反応は基本的に と考えられる。DMAHは室温で二量体構造をとってい
る。MMAH2によっても下記実施例に示すように、熱
反応により高品質へβが堆積可能であった。
の反応系において単純な熱反応のみで堆積する0例えば
DMAHとH2との反応系における熱反応は基本的に と考えられる。DMAHは室温で二量体構造をとってい
る。MMAH2によっても下記実施例に示すように、熱
反応により高品質へβが堆積可能であった。
MM八へ2は蒸気圧が室温で0.01〜0.ITorr
と低いために多量の原料輸送が難しく、堆積速度は数百
入/分が本発明における上限値であり、好ましくは室温
で蒸気圧が1TorrであるDMAHを使用することが
最も望ましい。
と低いために多量の原料輸送が難しく、堆積速度は数百
入/分が本発明における上限値であり、好ましくは室温
で蒸気圧が1TorrであるDMAHを使用することが
最も望ましい。
第3図は本例を適用した減圧CVD法による堆積膜形成
装置を示す模式図である。
装置を示す模式図である。
ここで、501はへ1膜を形成するための基体である。
基体501は、同図に対して実質的に閉じられた堆積膜
形成用の空間を形成するための反応管502の内部に設
けられた基体ホルダ503上に載置される0反応管50
2を構成する材料としては石英が好ましいが、金属製で
あってもよい。この場合には反応管を冷却することが望
ましい。また、基体ホルダ503は金属製であり、載置
される基体を加熱できるようにヒータ504が設けられ
ている。
形成用の空間を形成するための反応管502の内部に設
けられた基体ホルダ503上に載置される0反応管50
2を構成する材料としては石英が好ましいが、金属製で
あってもよい。この場合には反応管を冷却することが望
ましい。また、基体ホルダ503は金属製であり、載置
される基体を加熱できるようにヒータ504が設けられ
ている。
そしてヒータ504の発熱温度を制御して基体温度を制
御することができるよう構成されている。
御することができるよう構成されている。
ガスの供給系は以下のように構成されている。
505はガスの混合器であり、原料ガスと反応ガスとを
混合させて反応管2内に供給する。506は原料ガスと
して有機金属を気化させるために設けられた第1図のよ
うなガス供給装置である。
混合させて反応管2内に供給する。506は原料ガスと
して有機金属を気化させるために設けられた第1図のよ
うなガス供給装置である。
すなわち、上述のように有機金属は室温で液体状である
ので、容器1内でキャリアガスを有機金属の液体中を通
して飽和蒸気となし、混合器505へ導入する。
ので、容器1内でキャリアガスを有機金属の液体中を通
して飽和蒸気となし、混合器505へ導入する。
排気系は以下のように構成される。
507はゲートバルブであり、堆積膜形成前に反応管5
02内部を排気する時など大容量の排気を行う際に開か
れる。508はスローリークバルブであり、堆積膜形成
時の反応管502内部の圧力を調整する時など小容量の
排気を行う際に用いられる。
02内部を排気する時など大容量の排気を行う際に開か
れる。508はスローリークバルブであり、堆積膜形成
時の反応管502内部の圧力を調整する時など小容量の
排気を行う際に用いられる。
509は排気ユニットであり、ターボ分子ポンプ等の排
気用のポンプ等で構成される。
気用のポンプ等で構成される。
基体501の搬送系は以下のように構成される。
510は堆積膜形成前および堆積膜形成後の基体を収容
可能な基体搬送室であり、バルブ511を開いて排気さ
れる。512は搬送室を排気する排気ユニットであり、
ターボ分子ポンプ等の排気用ポンプで構成される。
可能な基体搬送室であり、バルブ511を開いて排気さ
れる。512は搬送室を排気する排気ユニットであり、
ターボ分子ポンプ等の排気用ポンプで構成される。
バルブ513は基体501を反応室と搬送空間で移送す
る時のみ開かれる。
る時のみ開かれる。
第3図に示すように、原料ガスを生成するためのガス供
給装置506においては、室温に保持されている液体状
のDM^)(に対しキャリアガスとしてのH2もしくは
^「(もしくは他の不活性ガス)でバブリングを行い、
気体状DMA)Iを生成し、これを混合器505に輸送
する。反応ガスとしてのH7は別経路から混合器505
に輸送される。ガスはそれぞれその分圧が所望の値とな
るように流量が調整されている。
給装置506においては、室温に保持されている液体状
のDM^)(に対しキャリアガスとしてのH2もしくは
^「(もしくは他の不活性ガス)でバブリングを行い、
気体状DMA)Iを生成し、これを混合器505に輸送
する。反応ガスとしてのH7は別経路から混合器505
に輸送される。ガスはそれぞれその分圧が所望の値とな
るように流量が調整されている。
原料ガスとしては、MMAH2でもよいが、蒸気圧が室
温でITorrとなるのに十分なりMAHが最も好まし
い、また、DMAHとMMAH2を混合させて用いても
よい。
温でITorrとなるのに十分なりMAHが最も好まし
い、また、DMAHとMMAH2を混合させて用いても
よい。
例えばDMAHの場合、反応ガスとしてH2を用いると
反応管502内の加熱された基体501上で3℃が堆積
する。上述の5in2をバターニングしたSt基体上に
、略々160−450℃の基体温度で、Siの露出した
表面のみにAJ2が選択的に堆積した。
反応管502内の加熱された基体501上で3℃が堆積
する。上述の5in2をバターニングしたSt基体上に
、略々160−450℃の基体温度で、Siの露出した
表面のみにAJ2が選択的に堆積した。
なお、ガスの流れを、金属容器1を介した流れとバイパ
スラインを介した流れとに切換える手段の構成は、必ず
しも上記3つのバルブ2〜4を用いたものでなくてもよ
い。例えば、人口側パイプと出口側パイプとに対してそ
れぞれ三方向バルブを配設し、これらをバイパスライン
で連絡することにより、ガスの流れの切換えを行うこと
もできる。
スラインを介した流れとに切換える手段の構成は、必ず
しも上記3つのバルブ2〜4を用いたものでなくてもよ
い。例えば、人口側パイプと出口側パイプとに対してそ
れぞれ三方向バルブを配設し、これらをバイパスライン
で連絡することにより、ガスの流れの切換えを行うこと
もできる。
また、第1図は、単体バルブの組合せで構成した実施例
であった。従って、第1図において人口バルブ2又は出
口バルブ3とバイパスバルブ4を溶接で接続するため、
人口バルブ2及びバイパスバルブ4との間、出口バルブ
3とバイパスバルブ4との間には、若干の(1〜5c+
n)デッドゾーンが生じることはさけられない。
であった。従って、第1図において人口バルブ2又は出
口バルブ3とバイパスバルブ4を溶接で接続するため、
人口バルブ2及びバイパスバルブ4との間、出口バルブ
3とバイパスバルブ4との間には、若干の(1〜5c+
n)デッドゾーンが生じることはさけられない。
これに対し、第4図(^)は、デッドゾーンを更に低減
させた装置構成例を示す。第4図(B)は、同図(A)
のバルブ部分の構成を示した模式図で、破線で囲まれる
範囲が同図(A)の破線で示すブロックに対応している
。
させた装置構成例を示す。第4図(B)は、同図(A)
のバルブ部分の構成を示した模式図で、破線で囲まれる
範囲が同図(A)の破線で示すブロックに対応している
。
第4図(B)の構成では、バルブ45を閉、バルブ46
を開とするとき、ガスは51側から53側へ流れる。そ
の際配管内位置47とバルブ45との間のデッドゾーン
が生じない構造となっている。同様に、バルブ46を閉
、バルブ45を開とすると、配置位置47とバルブ46
との間のデッドゾーンも生じない。
を開とするとき、ガスは51側から53側へ流れる。そ
の際配管内位置47とバルブ45との間のデッドゾーン
が生じない構造となっている。同様に、バルブ46を閉
、バルブ45を開とすると、配置位置47とバルブ46
との間のデッドゾーンも生じない。
このような構成には例えば、本山製作所製二連バルブを
適用することができる。
適用することができる。
そして、第4図(B)のバルブを2個組み合せて第4図
(^)のようなガス供給装置を構成することができる。
(^)のようなガス供給装置を構成することができる。
第4図(A)の場合、バルブ41と42の2個を第1図
の実施例のバイパスバルブ4とみなせば、上述の実施例
と同様の用い方で、キャリアガスのパージ、有機金属の
輸送をおこなうことができる。なお人口バルブ、出口バ
ルブ、バイパスバルブを1つの金属ブロックに構成して
も良い。
の実施例のバイパスバルブ4とみなせば、上述の実施例
と同様の用い方で、キャリアガスのパージ、有機金属の
輸送をおこなうことができる。なお人口バルブ、出口バ
ルブ、バイパスバルブを1つの金属ブロックに構成して
も良い。
〔発明の効果)
以上説明したように、本発明によれば、液体状の有機金
属を気化して輸送するCVD法による堆積膜形成法にお
いて、キャリアガスのパージ、有機金属輸送後の配管内
残留有機金属の排出を、短時間でおこなうことができる
。
属を気化して輸送するCVD法による堆積膜形成法にお
いて、キャリアガスのパージ、有機金属輸送後の配管内
残留有機金属の排出を、短時間でおこなうことができる
。
本発明にかかる有機金属容器は、液体状である原料なら
ば、有機金属以外の5iCj24等の材料でも用いるこ
とができる。
ば、有機金属以外の5iCj24等の材料でも用いるこ
とができる。
特に、有機金属は、キャリアガス中の微量の水分、酸素
と反応してしまうので、本有機金属容器は有効である。
と反応してしまうので、本有機金属容器は有効である。
更に、微量水分、酸素との反応の激しいトリメチルアル
ミニウム、ジメチルアルミニウム等を用い酸素汚染のな
い高品質へn膜堆積に果す効果は大きい。
ミニウム、ジメチルアルミニウム等を用い酸素汚染のな
い高品質へn膜堆積に果す効果は大きい。
第1図は本発明の一実施例に係るガス供給装置の模式的
斜視図、 第2図はその装置をガス供給ラインに結合した状態を示
す模式図、 第3図はその装置を組込んだ減圧CVD法による堆積膜
形成装置の一例を示す模式図、 第4図(^)および(B)は本発明の他の実施例に係る
ガス供給装置を説明するための模式図、第5図は従来の
ガス供給装置を示す模式的斜視図、 第6図はその装置をガス供給ラインに結合した状態を示
す模式図、 第7図は第5図示の装置とガス供給ラインとの従来の接
続状態を示す模式図である。 1・・・有機金属容器、 2・・・人口バルブ、 3・・・出口バルブ、 4、7.41.42・・・バイパスバルブ、5.6・・
・継手、 8・・・配管ライン、 10・・・反応容器、 11・・・人口配管、 12・・・出口配管、 45、46・・・バルブ、 60・・・有機金属、 506・・・ガス供給装置。 第 1 図 第 図 第 図 第 図 第 5 図 第 図
斜視図、 第2図はその装置をガス供給ラインに結合した状態を示
す模式図、 第3図はその装置を組込んだ減圧CVD法による堆積膜
形成装置の一例を示す模式図、 第4図(^)および(B)は本発明の他の実施例に係る
ガス供給装置を説明するための模式図、第5図は従来の
ガス供給装置を示す模式的斜視図、 第6図はその装置をガス供給ラインに結合した状態を示
す模式図、 第7図は第5図示の装置とガス供給ラインとの従来の接
続状態を示す模式図である。 1・・・有機金属容器、 2・・・人口バルブ、 3・・・出口バルブ、 4、7.41.42・・・バイパスバルブ、5.6・・
・継手、 8・・・配管ライン、 10・・・反応容器、 11・・・人口配管、 12・・・出口配管、 45、46・・・バルブ、 60・・・有機金属、 506・・・ガス供給装置。 第 1 図 第 図 第 図 第 図 第 5 図 第 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ガス輸送経路に着脱可能で、化学気相成長法による堆積
膜形成装置に用いられて原料ガスを供給するためのガス
供給装置であって、 キャリアガスを導入して有機金属を含む前記原料ガスを
排出するために設けられた有機金属の貯留手段と、 前記ガス輸送経路への着脱部より前記貯留手段側の前記
貯留手段の直近に設けられ、前記キャリアガスを前記貯
留手段に導き、前記原料ガスを排出させる経路と、前記
キャリアガスを前記貯留手段を介さずに排出側にバイパ
スさせる経路とに、ガスの流れを切換える切換え手段と を具えたことを特徴とするガス供給装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25002489A JPH03112891A (ja) | 1989-09-26 | 1989-09-26 | ガス供給装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25002489A JPH03112891A (ja) | 1989-09-26 | 1989-09-26 | ガス供給装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03112891A true JPH03112891A (ja) | 1991-05-14 |
Family
ID=17201707
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25002489A Pending JPH03112891A (ja) | 1989-09-26 | 1989-09-26 | ガス供給装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03112891A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009263791A (ja) * | 2008-04-11 | 2009-11-12 | Praxair Technol Inc | 試薬送出装置と送出方法 |
-
1989
- 1989-09-26 JP JP25002489A patent/JPH03112891A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009263791A (ja) * | 2008-04-11 | 2009-11-12 | Praxair Technol Inc | 試薬送出装置と送出方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN100523289C (zh) | 输送前体物质的方法和容器 | |
US4699805A (en) | Process and apparatus for the low pressure chemical vapor deposition of thin films | |
TW399237B (en) | Film forming method and apparatus | |
JP4480516B2 (ja) | バリア膜の形成方法 | |
US20070237895A1 (en) | Method and system for initiating a deposition process utilizing a metal carbonyl precursor | |
KR100256669B1 (ko) | 화학기상증착 장치 및 그를 이용한 구리 박막 형성 방법 | |
WO2004007795A1 (ja) | 半導体処理用の成膜方法 | |
JP2006506811A (ja) | 汎用金属送出源(gmds)を提供し、汎用金属送出源を原子層堆積(ald)と一体化する方法および装置 | |
JPH04175294A (ja) | 気相成長装置 | |
JP6041464B2 (ja) | 金属薄膜の製膜方法、および金属薄膜の製膜装置 | |
JPH03112891A (ja) | ガス供給装置 | |
JP4418056B2 (ja) | 化学気相堆積装置、および化学気相堆積方法 | |
US20060141152A1 (en) | CVD apparatus and manufacturing method of semiconductor device using the same | |
US20040112289A1 (en) | Thin-film deposition apparatus and method for rapidly switching supply of source gases | |
TW201825508A (zh) | 用於過渡金屬的金屬、金屬氮化物,及金屬氧化物系膜的沉積之前驅物 | |
US20060231026A1 (en) | Vapor deposition systems having separate portions configured for purging using different materials | |
JP4326285B2 (ja) | 反応室及び処理装置 | |
JP2001073147A (ja) | 化学蒸着装置及び化学蒸着方法 | |
JPH0689874A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP2744746B2 (ja) | タングステンシリサイドの成膜方法および成膜装置 | |
JPH05144747A (ja) | Cvd装置及びかかる装置を用いた薄膜形成方法 | |
JPH08104984A (ja) | ガス導入装置及び方法及びタングステン薄膜の形成方法 | |
KR100304821B1 (ko) | Pt계 박막의 제조방법 | |
JP2773918B2 (ja) | ガス供給装置 | |
JP2005197541A (ja) | 基板処理装置 |