JPH03110370U - - Google Patents

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JPH03110370U
JPH03110370U JP1984790U JP1984790U JPH03110370U JP H03110370 U JPH03110370 U JP H03110370U JP 1984790 U JP1984790 U JP 1984790U JP 1984790 U JP1984790 U JP 1984790U JP H03110370 U JPH03110370 U JP H03110370U
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  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の実施例1を示す図、第2図は
本考案の実施例2を示す図である。 1……プローブカード基板、2……エポキシ樹
脂、3,6……プローブニードル、4……コンタ
クトパターン、5……凹状曲面部、7……鋭角溝

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 プローブカードのコンタクトパターンに電気的
    にコンタクトさせるプローブニードルであつて、 該プローブニードルは、先端径がプローブカー
    ドのコンタクトパターン幅より大きく、プロービ
    ング時のすべり方向に対して垂直方向に凹状曲面
    又は鋭角溝状に形成された先端部を有することを
    特徴とするプローブカード用プローブニードル。
JP1990019847U 1990-02-28 1990-02-28 プローブカード用プローブニードル Expired - Lifetime JP2524148Y2 (ja)

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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5679863U (ja) * 1979-11-27 1981-06-29
JPS59208469A (ja) * 1983-05-13 1984-11-26 Hitachi Micro Comput Eng Ltd プロ−ブカ−ド
JPS6112069U (ja) * 1984-06-27 1986-01-24 三菱製鋼株式会社 スプリングコンタクトプロ−ブ
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JPH01219566A (ja) * 1988-02-26 1989-09-01 Nec Corp プローブ・カード

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